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JPS5835432B2 - Telephone exchange testing method - Google Patents
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JPS5835432B2 - Telephone exchange testing method - Google Patents

Telephone exchange testing method

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Publication number
JPS5835432B2
JPS5835432B2 JP13154677A JP13154677A JPS5835432B2 JP S5835432 B2 JPS5835432 B2 JP S5835432B2 JP 13154677 A JP13154677 A JP 13154677A JP 13154677 A JP13154677 A JP 13154677A JP S5835432 B2 JPS5835432 B2 JP S5835432B2
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JP
Japan
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test
signal
wave
telephone
telephone exchange
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JP13154677A
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Japanese (ja)
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JPS5465408A (en
Inventor
賢一 佐々木
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/24Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation
    • H04M3/244Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation for multiplex systems

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
  • Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はパルス符号変調PCM技術と時分割信号多重T
DM技術を利用した電話交換機通話路系における帯域制
限回路や符号器復号器回路等の電子回路素子の動作特性
試験を行う場合のディジタル符号化試験信号の構成方法
に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention utilizes pulse code modulation PCM technology and time division signal multiplexing T.
The present invention relates to a method of configuring a digitally encoded test signal when testing the operating characteristics of electronic circuit elements such as band limiting circuits and encoder/decoder circuits in a telephone exchange channel system using DM technology.

PCM電話交換機は、従来の空間分割スイッチを主体と
する電話交換機とは異り、パルス符号変調PCMと時分
割信号多重TDMの両技術を駆使し、アクティブ電子回
路素子を組合せて実現される電子交換機である。
Unlike telephone exchanges that are based on conventional space division switches, PCM telephone exchanges are electronic exchanges that are realized by combining active electronic circuit elements, making full use of both pulse code modulation PCM and time division signal multiplexing TDM technologies. It is.

このようなPCM交換機は電話利用者に対して便利で多
彩なサービスを容易に提供できるという点において画期
的であり、かつ、PCM伝送路を介して相互接続ができ
るために通信網の総合化が可能であるという点において
将来の発展が嘱望されているものである。
These PCM exchanges are revolutionary in that they can easily provide convenient and diverse services to telephone users, and because they can be interconnected via the PCM transmission path, they have helped integrate communications networks. There is hope for future development in that it is possible.

このような通信装置には、電子回路素子の故障や特性劣
下による予・期せぬ障害が起シ得る。
In such communication devices, unexpected failures may occur due to failures or deterioration of characteristics of electronic circuit elements.

そのため、障害個所を早期に発見り、 Lかも、自動
的に発見することが太いに望1れる。
Therefore, it is highly desirable to discover failure points early and automatically discover failure points.

第1図は1本発明を実施するPCM交換機の基本構成図
である。
FIG. 1 is a basic configuration diagram of a PCM switch implementing the present invention.

第1図において、置は電話機(#1〜#に〜#n)、5
DSWは空間分割集線スイッチ、HViハイブリッド回
路網、AsおよびARViそれぞれ送受信系の電子回路
(増幅器。
In Figure 1, the positions are telephones (#1 to #n), 5
DSW is a space division concentrator switch, HVi hybrid circuit network, As and ARVi transmission and reception electronic circuits (amplifiers).

p波器等)、Gは標本化回路、DVi分配回路、C0D
ECは符号器復号器(特に区別する場合。
p wave generator, etc.), G is sampling circuit, DVi distribution circuit, C0D
EC is an encoder-decoder (especially when distinguishing.

CODは符号器、DECは復号器とする)、#Sおよび
HWRViそれぞれ送受信系の共通線、HWSWは共通
線スイッチ、JlおよびJ2はジャンフタである。
COD is an encoder, DEC is a decoder), #S and HWRVi are common lines for the transmitting/receiving system, HWSW is a common line switch, and Jl and J2 are jumpers.

筐た。第1図は、PCM信号の時分割多重数がm(CH
I 、CH2、曲−、CHmと表わしている)の場合を
示り、 ]組の符号器復合器C0DECIが扉側の通
話で多重使用されていることを例示している。
It was a cabinet. Figure 1 shows that the number of time-division multiplexing of PCM signals is m(CH
1, CH2, song -, CHm), and illustrates that the encoder/decoder C0DECI of the set ] is used multiplex in the call on the door side.

ここで、第1図により、PCM交換機の動作について説
明する。
Here, the operation of the PCM switch will be explained with reference to FIG.

5DSWは、n個の電話機回線と後述するTEST系回
線を任意の時分割チャンネル系(CHI 、CH2、−
−−−CHm)に接続するスイッチ網であり1例えば#
1の置と#にの置が通話する場合、置#]V′1SDS
Wの経路R1を通じてCHI系に接続され、置#にはS
D SWの経路R2を通じてCH2系に接続されてい
る。
The 5DSW connects n telephone lines and a TEST line (described later) to any time-division channel system (CHI, CH2, -
---CHm) is a switch network that connects to 1, for example #
When a call is made between the location 1 and the location #, the location #]V'1SDS
It is connected to the CHI system through route R1 of W, and S
It is connected to the CH2 system through route R2 of the DSW.

置#]の送信音声は、CHI系のHから経路P5.As
、Gを経由してC0DIに入り、PCM符号化される。
The transmitted audio from CHI system H to route P5. As
, G, and enters C0DI, where it is PCM encoded.

このPCM信号は。HWs 、スイッチa釦よびす、H
WRを経由してDECIに入り復号化される。
This PCM signal. HWs, switch a button, H
It enters DECI via WR and is decoded.

この復合化された音声信号は、CH2系のり、AR,、
H2を経由して、置#にの受信音声となる。
This decoded audio signal is transmitted to the CH2 system, AR,...
The received audio goes through H2 and is placed at #.

T E L+ kからの送信音声も同様に、C0DEC
]を経由して置#Iの受信音声となる。
Similarly, the transmitted audio from T E L + k is C0DEC
] and becomes the received audio of position #I.

また、他の通話が。C0DEC2、スイッチ点ci−よ
びdを経由して、行われる場合も同様である。
Also, there are other calls. The same applies to the case where it is performed via C0DEC2 and switch points ci- and d.

つぎに、通話路系の動作試験方法について説明する。Next, a method for testing the operation of the communication path system will be explained.

PCM交換機には多くの複雑な電子回路素子が通話路系
に用いられているが、設置設計にあたっては充分な信頼
性金もつように考慮されるべきであることは言う1でも
ない。
Although many complex electronic circuit elements are used in the communication path system of a PCM switch, consideration must be given to ensuring sufficient reliability when designing the installation.

しかし、予期せぬ障害に、対しては、その障害が早期発
見できるよう考慮もなされていなければならない。
However, consideration must also be given to the early detection of unexpected obstacles.

障害の発生を発見するためには、平常時でも、常時、何
らかの方法で試験を行わなければならず、通常は。
In order to detect the occurrence of a failure, testing must be performed in some way at all times, even under normal circumstances.

試験により゛正常の確認″を得るということになる。The test will provide ``confirmation of normality''.

つ1り大部分の試験の結果は”異常なL jjというこ
とKなり、もL″′′正常認′”が得られない場合が゛
異常″ということになる。
The result of most of the tests is ``abnormal L jj,'' and the case where L''''normal recognition'' is not obtained is ``abnormal.''

従って“正常の確認″(”異常なL″)を得る試験に対
しては、簡単で短時間(試験制御系の必要ステップ数が
少い)な方法75りまれる。
Therefore, for a test to obtain "confirmation of normality"("abnormalL"), a simple and short-time method 75 (requiring a small number of steps in the test control system) is required.

PCM交換機は1本質的に四線方式(送信系と受信系が
独立の通話路系で構成されている)であジ、その通話路
系試験のためには一通話路らたジ、送信系と受信系を別
々に扱うことが一般的である。
A PCM switch is essentially a four-wire system (the transmitting system and the receiving system are composed of independent communication path systems), and for the communication path system test, one communication path and one transmission system are required. It is common to treat the receiving system and the receiving system separately.

Lかじ、送受信系を同時に試験することができれば、前
述の目的(゛正常の確認″を簡単に行うこと)にかなう
ものである。
If it is possible to test the L steering wheel and the transmitting/receiving system at the same time, the above-mentioned purpose (to easily confirm normality) can be achieved.

第1図において、試験装置TEST 、および。In FIG. 1, a test device TEST, and.

TESTK付随する信号経路が本発明の主要な動作を行
う部分である。
The TESTK associated signal path is the main operational part of the present invention.

−例として、CHI系試験時の信号経路について説明す
る。
- As an example, the signal path during CHI system testing will be explained.

試験信号は、PCM符号形式でTESTの点Xから出力
され。
The test signal is output from point X of TEST in PCM code format.

HWs 、スイッチ点eおよびfを経由して。HWs, via switch points e and f.

DECIに供給される。Supplied to DECI.

試験信号は、DEClで復号されり、及びARを経由り
、′CHに供給される。
The test signal is decoded by DECl and provided to 'CH via AR.

このとき、あらかじめ、CHI系のHは、5DSWの経
路R3を通じてTESTK接続されていて。
At this time, CHI system H is connected to TESTK through path R3 of 5DSW in advance.

復号化された試験信号はTESTに供給され。The decoded test signal is provided to TEST.

TESTで折り返されて再度、経路R3を通じてHに返
送される。
It is looped back at TEST and sent back to H via route R3.

この試験信号は、CHI系の〜。及びGを経由してCO
D]に供給され、PCM符号化される。
This test signal is of the CHI system. and CO via G
D] and PCM encoded.

さらに、この符号化された試験信号は、スイッチ点aお
よびg金経由して、TESTに供給される。
Furthermore, this encoded test signal is supplied to TEST via switch points a and g.

同様にCH2系を試験する場合は、CH2系のHが5D
SWの経路4を通じてTESTに接続される。
Similarly, when testing CH2 system, H of CH2 system is 5D
Connected to TEST through path 4 of SW.

つぎに、第2図により、試験装置TESTの動作につい
て説明する。
Next, the operation of the test apparatus TEST will be explained with reference to FIG.

Htはハイブリッド回路網。COD、は符号器、DEC
tは復号器、A1.A2゜A3は増幅器、sl、s2.
s3,54Viスイツチ。
Ht is a hybrid circuit network. COD, is encoder, DEC
t is a decoder, A1. A2゜A3 is an amplifier, sl, s2.
s3,54Vi switch.

5GVi試験信試験集器、DETは試験信号受信器であ
る。
5GVi test signal test concentrator, DET is test signal receiver.

試験時は、51tS2.S3.S4は第2図に示す経路
に固定されてbるものとする。
During the test, 51tS2. S3. It is assumed that S4 is fixed to the path shown in FIG.

TESTのSGから供給されるPCM符号形式の試験信
号は、端子XからHWs(第1図)に供給され、交換機
のHWSW、HWRを経由してDECIに供給され、こ
こでアナログ信号に復調される。
The test signal in PCM code format supplied from the SG of TEST is supplied to the HWs (Figure 1) from terminal .

DEClの出力はCHIのり、AR,Hを経由し、さら
に5DSWの経路R3を経由してTESTの端子qに印
加される。
The output of DECl is applied to the terminal q of TEST via CHI, AR, H, and route R3 of 5DSW.

TESTは端子qの信号をHl。So、A1.S2.H
lを経由して5DSWを返送し、経路R3を経由してC
HIのH,As 、Gを通ってC0DIに印加される。
TEST sets the signal at terminal q to Hl. So, A1. S2. H
5DSW is returned via route R3, and C is sent via route R3.
It is applied to C0DI through H, As, and G of HI.

信号はここでPCM信号に再たびコード化され、HWs
The signal is now encoded again into a PCM signal and sent to the HWs.
.

HWSW、HWR全経由してTESTの端子yに印カロ
され、交換機を一巡した試験信号がTESTのDETに
供給される。
The test signal, which is printed on terminal y of TEST via HWSW and HWR and has gone around the exchange, is supplied to DET of TEST.

被試験系の電子回路素子の動作および電気的特性が“正
常″′の場合、DETで検出される信号は。
If the operation and electrical characteristics of the electronic circuit element in the system under test are "normal", the signal detected by the DET will be:

SGから送出される試験信号ときわめてよく一致するは
ずであり、DETViその一致の程度を検定する機能を
もっている。
It should match the test signal sent from the SG extremely well, and DETVi has a function to verify the degree of matching.

通常は大部分の通話路系が正常動作をしているはずであ
り、各チャンネルについて、順次、゛正常”の確認が得
られることになる。
Normally, most communication channels should be operating normally, and each channel will be confirmed to be "normal" one after another.

Lかり、 もり、CHI系の試験によって6異常”が
認められた場合、障害の可能性は、(])CHIの送信
系(ks、G)、(2)CODI系、(3)DECI系
、(4)CHIの受信系(D t AR) 、にあるこ
とになる。
If 6 abnormalities are found in the CHI system test, the possibility of failure is (]) CHI transmission system (ks, G), (2) CODI system, (3) DECI system, (4) CHI reception system (D t AR).

この場合は、CH2(CH3〜CHmで、もよい)系の
試験を行い、障害の可能性の細分化を行うことになる。
In this case, the CH2 (or CH3 to CHm) system will be tested and the possibility of failure will be subdivided.

つ1す、CH2系の試験が1正常″であれば、(2)
、 (3)Vi“正常″″であり、(1)か(4)に゛
異常′″の可能+’IEがあることになる((5))。
If the CH2 test is 1 normal, then (2)
, (3) Vi is “normal”, and there is a possibility of “abnormal” + “IE” in (1) or (4) ((5)).

もり、CH2系の試験が゛異常″であれば、(2)か(
3)に”異常″′の可能性があることになる((6))
If the CH2 system test is "abnormal", either (2) or (
There is a possibility that 3) is “abnormal” ((6))
.

したがって、いずれの場合も、CHI系の送信系か受信
系のいずれかを独立に試験することを試みなければなら
ない。
Therefore, in either case, an attempt must be made to independently test either the transmitting system or the receiving system of the CHI system.

第3図は、このような試験を行うために用いられる試験
信号の一例である。
FIG. 3 is an example of a test signal used to perform such a test.

アナログ的に表現される試験信号波形をf。The test signal waveform expressed in analog form is f.

とすると、この信号は、三種類の正弦波f1+f3yf
、の加算′8−戎波で表わされる。
Then, this signal consists of three types of sine waves f1+f3yf
, is represented by the addition '8--shape wave.

三周波の選定の方法として、flを低域周波領域の試験
用、 f3を中域周波領域の試験用、f、を高域周波領
域の試験用、とするととU)が効果的であり、かつ、三
周波の間に簡単な整数比があり(ロ)、音声信号の標本
化周波数である8KHzとの間にも簡単な整数比がある
こと(ハ)、とすることが、SGの構成を簡単(よジ具
体的には、後述する第4図のROMの容量を減少)化す
るために効果的である。
As a method for selecting the three frequencies, U) is effective if fl is used for testing the low frequency region, f3 is used for testing the mid frequency region, and f is used for testing the high frequency region. In addition, the configuration of the SG is such that there is a simple integer ratio between the three frequencies (b), and there is also a simple integer ratio between the three frequencies and 8KHz, which is the sampling frequency of the audio signal (c). This is effective for simplifying (specifically, reducing the capacity of the ROM shown in FIG. 4, which will be described later).

これらの条件(イ22ロ、ハを満足する為に、従来はf
lを333.3333Hzの正弦波s f3を1000
.0Hzの正弦波、f9を3000.0Hzの正弦波と
して用いられている。
In order to satisfy these conditions (A, 22, B, and C), conventionally f
l is 333.3333Hz sine wave s f3 is 1000
.. A 0 Hz sine wave is used, and f9 is used as a 3000.0 Hz sine wave.

PCM符号形式の試験信号をf。The test signal in PCM code format is f.

pとすると、fopは、f、を第3図のように、時間軸
上で0〜23の各点で標本化し、各標本値をPCM符号
化して得られる。
Assuming p, fop is obtained by sampling f at each point from 0 to 23 on the time axis as shown in FIG. 3, and PCM encoding each sample value.

これらのPCM符号化標本値は、第3図に示す基本周期
を一周期としてくりかえされるものであり、実際の発生
方法としては、これらの24種類のPCM符号を読み出
し専用メモリ(後述する第4図におけるROM)から循
環的に読み出すことによって得られるものである。
These PCM encoded sample values are repeated using the basic cycle shown in Figure 3 as one cycle, and the actual generation method is to store these 24 types of PCM codes in a read-only memory (see Figure 4, which will be described later). This is obtained by cyclically reading data from the ROM).

このような試験信号f。Such a test signal f.

pは、第2図におけるSGの出力として表われ、DEC
に供給される場合には、DEC1の出刃には試験信号f
、が表われる。
p appears as the output of SG in Figure 2, and DEC
, the test signal f is supplied to the cutting edge of DEC1.
, appears.

しかし、実際には、第1図におけるC0DECの動作は
、圧伸特性(PCM通信の分野では、μ法、A法という
標準法則が一般的である)をもっているため、f、(!
:f、 の間にもその圧伸特性をカロ味した関係がな
ければならない。
However, in reality, the operation of the CODEC shown in FIG. 1 has a companding characteristic (in the field of PCM communication, the standard laws of μ law and A law are common), so f, (!
:f, There must also be a relationship that reflects the companding characteristics.

第3図には、foがfl、f3.f9の加算合成波とし
て表わされる場合を例示したが、試験信号としては、f
l、f3.f9それぞれの単−正弦波金PCM符号化し
て用いても目的を遂行することができる。
In FIG. 3, fo is fl, f3. Although we have illustrated the case where it is expressed as an addition composite wave of f9, as a test signal, f
l, f3. The purpose can also be achieved by using f9 single-sine wave gold PCM encoding.

しかし、カロ算合戊波を用いることにより。三周波につ
いての試験全同時に行うことが可能となり、試験に要す
る時間を短縮することができる。
However, by using the Calo calculation summation wave. It becomes possible to perform tests for all three frequencies simultaneously, and the time required for testing can be shortened.

つぎに、試1験信号f。Next, test 1 test signal f.

、の具体的な発生方法について説明する。We will explain the specific method of occurrence of .

第4図は、第2図におけるSGの部分の詳細図である。FIG. 4 is a detailed diagram of the SG portion in FIG. 2.

CNTsV′i標本化周期クロックを計数するカウンタ
、ROMViCNTsの内容でアドレス指定される“読
み出し専用メモリである。
CNTsV'i is a counter that counts the sampling period clock, and is a "read-only memory" addressed by the contents of ROMViCNTs.

ROMには、あらかじめ、第3図に示される24種類の
PCM符号が記憶されていて、CNTsからのアドレス
指定によシ、順次、該PCM符号を出力する。
The 24 types of PCM codes shown in FIG. 3 are stored in advance in the ROM, and the PCM codes are sequentially output according to address designations from the CNTs.

これらの符号系列が試験信号f。。となる。These code sequences are the test signal f. . becomes.

つぎに、試験信号受信器DETについて説明する。Next, the test signal receiver DET will be explained.

DETの基本的動作は、離散的フーリエ変換DFT、ま
たはディジタル流液DFを行うことによシ、受信された
試験信号に三周波成分が規定の信号レベル範囲内に存在
するか否かを検定することである。
The basic operation of DET is to test whether three frequency components exist within a specified signal level range in the received test signal by performing discrete Fourier transform DFT or digital flow DF. That's true.

第5図aViDFT手法によりDETを構成する方法で
あり、第5図すはDF手法によりDETを構成する方法
である。
FIG. 5 a shows a method of configuring a DET using the ViDFT method, and FIG. 5 shows a method of configuring a DET using the DF method.

NLは、非直線圧伸符号化されているPCM符号を直線
符号化形式に変換する符号変換器、DFTCU、PCM
符号系列からf□y f3 y f9の周波数成分の検
出を行う離散的フーリエ変換回路、DFCもDFTCと
同一の機能を実行するディジタル済波回路、DCNij
、各周波数成分が規定レベル変動内で検出されたかどう
かの判定を行う判定器である。
NL is a code converter that converts a PCM code encoded by non-linear companding into a linear encoded format, DFTCU, PCM
A discrete Fourier transform circuit that detects frequency components of f□y f3 y f9 from a code sequence, DFC is also a digital wave circuit that performs the same function as DFTC, DCNij
, is a determiner that determines whether each frequency component is detected within a specified level fluctuation.

LかLながら従来の試験信号(fl、f3.f、)には
次のごとき欠点がある。
Although the signal is low, the conventional test signals (fl, f3.f,) have the following drawbacks.

すなわち従来の試験信号では通話路系の高調波歪(障害
により発生する)成分が試験信号酸分と同一となってし
一!、うことがあり、試験信号の復調信号のオシロスコ
ープによる目視試験が困難であり、さらKCODECの
量子化レベル上条くとることが出来ない。
In other words, in conventional test signals, the harmonic distortion components (generated by disturbances) in the communication line system are the same as the test signal acid content! , it is difficult to visually test the demodulated test signal using an oscilloscope, and furthermore, the quantization level of the KCODEC cannot be exceeded.

すなわち従来の技術によると、fl:fs二f9−1=
3二9であり、試験信号自体が奇数調波関係にあるため
、ひずみ成分と試験信号の分離がむずかしい。
That is, according to the conventional technology, fl:fs2f9-1=
329, and since the test signal itself has an odd harmonic relationship, it is difficult to separate the distortion component and the test signal.

昔た。A long time ago.

第3図のf。の波形の特徴が明確でないため、波形のひ
ずみを目視によって評価することがむずかしい。
f in Figure 3. Because the characteristics of the waveform are not clear, it is difficult to visually evaluate the waveform distortion.

さらに、標本数が少く(第3図の場合は24 )、C0
DECの量子化ステップ数(通常、8ビット符号化の場
合Vi256)K比べてはるかに少い。
Furthermore, the number of samples is small (24 in the case of Figure 3), and C0
The number of quantization steps in DEC (usually Vi256 for 8-bit encoding) is much smaller than K.

なおL記標本数は、fl:f3:f、が簡単な整数比で
ある為合成液の基本周期が短か<、8KHzで標本化し
たとき(周期125μs)1合成液の周期が125μS
X24=3mSであることを意味する。
In addition, the number of samples in L is a simple integer ratio, fl: f3: f, so the basic period of the synthetic liquid is short <, When sampling at 8 KHz (period 125 μs), the period of one synthetic liquid is 125 μS
This means that X24=3mS.

従って1本発明は従来の技術のE記欠点を改善するもの
で、上述の12口及びハの条件に、ざらに1通話路系の
高調波ひずみ(障害により発生する)成分が試験信号成
分と同一とならないように試験信号の周波数成分を選定
することに)、試験信号の復調信号をオシロスコープ等
で目視試験する場合にある程度の評価ができるような波
形を用いること(ホ)、及びC0DECの量子化レベル
をなるべく多くとり得るようにすること(へ)、の3つ
の条件を満足する試験信号により交換機を試験する方法
を提供することにある。
Therefore, the present invention improves the drawback described in E of the prior art, and under the above-mentioned conditions of 12 ports and C, the harmonic distortion component (generated due to disturbance) of the 1-channel system becomes the test signal component. Select the frequency components of the test signal so that they are not the same), use a waveform that allows a certain degree of evaluation when visually testing the demodulated signal of the test signal with an oscilloscope, etc. (e), and select the frequency components of the C0DEC. The object of the present invention is to provide a method for testing an exchange using a test signal that satisfies the following three conditions: (1) to enable as many conversion levels as possible;

本発明によると、アナログ的に表現される試験信号波形
x(t)ld次のとおりである。
According to the present invention, the test signal waveform x(t)ld expressed in analog form is as follows.

x(t)= sin 2πfat−5in2πf bt
+ sin 2πfat(1) −Lcos2π(f b−f a) t−−cos 2
π(fb+fa)t2 2 (1)′ −)−sin2πfat 一方1式(1)の第一項は−faを変調波、fbを搬送
波とする搬送波抑圧振幅変調波でちり1式(2)第二項
は、変調波そのものである。
x(t) = sin 2πfat-5in2πf bt
+ sin 2πfat(1) −Lcos2π(f b−f a) t−−cos 2
π(fb+fa)t2 2 (1)' -)-sin2πfat On the other hand, the first term of Equation 1 (1) is a carrier suppressed amplitude modulated wave with -fa as the modulating wave and fb as the carrier wave. The term is the modulated wave itself.

ここで変調波と上側帯波が電話の通過帯域内でその下限
及びと限の近傍となるととくfa及びfbが選択される
Here, fa and fb are selected especially when the modulated wave and the upper side band are near the lower limit and the upper limit of the passband of the telephone.

例えば、faを312.5Hz、 f bを3078.
125HzとすることによりL側帯波が3390.62
5Hzとなり1条件イ及び二が満たされる。
For example, fa is 312.5Hz, fb is 3078.
By setting it to 125Hz, the L sideband wave is 3390.62
5Hz, and conditions 1 and 2 are satisfied.

lた。この場合、標本数が512となり条件へか満たさ
れる。
It was. In this case, the number of samples is 512, which satisfies the condition.

さらに1式(1)の包絡線が第6図のように表されるよ
うな特徴がちり1通話路系の振幅ひずみと位相ひずみに
対して波形ひずみに大きく影響することが特徴であるの
で条件ホが満たされる。
Furthermore, the characteristic that the envelope of Equation (1) is expressed as shown in Figure 6 is characterized by the fact that it has a large effect on waveform distortion with respect to the amplitude distortion and phase distortion of the communication channel system. Ho is satisfied.

なおL記各数値は8000X が整数の約数をも
たな12 いように扉を決定して得られたものであるので標本数5
12が周期となる。
Note that each numerical value in L was obtained by determining the door so that 8000X has no integer divisor, so the number of samples is 5.
12 is the period.

式(1)は、第6図かられかるどおり、0レベル近傍に
振幅値の確率分布が多いことが特徴であう。
As can be seen from FIG. 6, Equation (1) is characterized by a large probability distribution of amplitude values near the 0 level.

圧伸特性をもつ非直線C0DEC(0レベル近傍に量子
化ステップが集中している)の試験のためには、条件へ
をより元分満たすことになる。
In order to test a non-linear CODEC with companding characteristics (quantization steps are concentrated near the 0 level), the conditions must be satisfied by more elements.

以り説明したように1本発明によれば通話路系の高調波
ひずみ(障害により発生する)成分が試験信号成分と同
一となることがなく、曾た試験信号の復調信号をオシロ
スコープ等で目視試験する場合にある程度の評価ができ
るような波形を用いることができ、更KCODECの量
子化レベルを多くと9得ることができるという効果が得
られる。
As explained above, according to the present invention, the harmonic distortion components (generated due to disturbances) in the communication line system are not the same as the test signal components, and the demodulated signal of the test signal can be visually observed with an oscilloscope or the like. It is possible to use a waveform that can be evaluated to a certain extent when testing, and it is also possible to obtain the effect that the quantization level of KCODEC can be as high as 9.

従って1本発明による試験方法を適用することにより、
PCM交換機が動作中であっても、非通話中のナヤネル
から順次自動試験を行うことにより、障害個所の早期発
見を行なうことが出来る。
Therefore, by applying the test method according to the present invention,
Even if the PCM switch is in operation, faults can be detected early by sequentially performing automatic tests starting from non-calling nodes.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はPCM交換機の基本構成図、第2図は試験装置
の一実施例を示す構成図、第3図は従来の試験信号の一
例全示す波形図、第4図は試験信号発生器の構成図、第
5図a及びbVi試験信号受信器の構成図、第6図は本
発明による試験信号の包絡線の波形図である。
Figure 1 is a basic configuration diagram of a PCM switch, Figure 2 is a configuration diagram showing an example of a test device, Figure 3 is a waveform diagram showing all examples of conventional test signals, and Figure 4 is a diagram of a test signal generator. 5A and 5B are block diagrams of a Vi test signal receiver, and FIG. 6 is a waveform diagram of an envelope of a test signal according to the present invention.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 パルス符号変調技術PCMと時分割信号多重技術T
DMを基本とする電話交換機の通話路系試験のために、
ディジタル符号化された試験信号を発生して電話交換機
に入力として供給し、該ディジクル符号に対応して電話
交換機から出力されるアナログ形式の信号を折り返して
再度電話交換機に入力り、 を話交換機の中で再度ディ
ジタル符号化された信号を電話交換機から出力として受
けとり、入力と出力の一致の程度を検出するごとき電話
交換機の試験方法において、前記のディジタル化された
試験信号が、正弦波を変調波とする搬送波抑圧振幅変調
波と変調波の加算合成波から、8KHzの間隔で標本化
、量子化及び符号化されたものであシ、変調波及び上側
帯波が電話信号の通過帯域内でかつ通過帯域の下限及び
上限の周波数の近傍となるごとく変調波及び搬送波の周
波数が選択されることを特徴とする。 電話交換機の試験方法。 2 変調波と搬送波の周波数が各々312.5Hzと3
078.125Hzである特許請求の範囲第1項記載の
電話交換機の試験方法。
[Claims] 1. Pulse code modulation technology PCM and time division signal multiplexing technology T
For communication path system testing of telephone exchanges based on DM,
A digitally coded test signal is generated and supplied as an input to the telephone exchange, and an analog format signal output from the telephone exchange corresponding to the digital code is looped back and inputted to the telephone exchange again. In a method for testing telephone exchanges, the digitally encoded signal is received again as an output from the telephone exchange as an output, and the degree of coincidence between the input and output is detected. It is sampled, quantized, and encoded at an interval of 8 kHz from the additive composite wave of a carrier suppressed amplitude modulated wave and a modulated wave, and the modulated wave and upper sideband are within the passband of the telephone signal and It is characterized in that the frequencies of the modulated wave and the carrier wave are selected so as to be close to the lower and upper limits of the passband frequency. Test methods for telephone exchanges. 2 The frequencies of the modulating wave and carrier wave are 312.5Hz and 3, respectively.
The method for testing a telephone exchange according to claim 1, wherein the frequency is 078.125Hz.
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