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JPS5840891B2 - data processing circuit - Google Patents
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JPS5840891B2 - data processing circuit - Google Patents

data processing circuit

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Publication number
JPS5840891B2
JPS5840891B2 JP53072531A JP7253178A JPS5840891B2 JP S5840891 B2 JPS5840891 B2 JP S5840891B2 JP 53072531 A JP53072531 A JP 53072531A JP 7253178 A JP7253178 A JP 7253178A JP S5840891 B2 JPS5840891 B2 JP S5840891B2
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JP
Japan
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circuit
time
output
data
result
Prior art date
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耕二 前田
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 、本発明は異常状態を検出するためのデータ処理回路に
関し、特に電力系統の電圧、電流等をサンプリングして
得たデータからその異常状態を検出してリレーを作動さ
せるためのデータ処理回路に関する。
[Detailed Description of the Invention] The present invention relates to a data processing circuit for detecting an abnormal state, and in particular, detects the abnormal state from data obtained by sampling voltage, current, etc. of a power system and operates a relay. The present invention relates to a data processing circuit for use in a computer.

電力系統の電圧、電流等は一定の周期でサンプリングさ
れ、デジタル量のデータに変換された後、デジタル的に
処理され、その結果に電力系統の異常が検出されれば、
しかるべき保護措置を行う。
The voltage, current, etc. of the power system are sampled at regular intervals, converted to digital data, and then digitally processed. If an abnormality in the power system is detected as a result,
Take appropriate protective measures.

この場合、データの誤り及び異常を検出するとき、デー
タ処理回路の動作に誤りがあれば、その結果は誤った保
護措置、即ち誤動作となる。
In this case, when detecting data errors and abnormalities, if there is an error in the operation of the data processing circuit, the result will be an incorrect protection measure, ie, a malfunction.

一般に誤動作には、本来動作すべきを動作することなく
見逃してしまうものと、本来動作しなくてよいものを動
作するという2種類がある。
In general, there are two types of malfunctions: those in which something that should have been operated is missed without operating, and one in which something that should not be operated is operated.

通常、電力系統においては、このような誤動作を防止す
るため、データにつき所定の処理をし、その結果を例え
ば3回照合して、これらが全て同一であれば真であると
して次の処理に入るようにしている。
Normally, in an electric power system, in order to prevent such malfunctions, the data is processed in a certain way, the results are checked, for example, three times, and if they are all the same, it is assumed to be true and the next process begins. That's what I do.

以下、第1図を参照して従来回路の動作を説明する。The operation of the conventional circuit will be explained below with reference to FIG.

第1図)ま横軸に時間tをとり、一定の間隔で電力系統
の電流をサンプリングする時刻t1〜t15を示しであ
る。
FIG. 1) The horizontal axis represents time t, and shows times t1 to t15 at which the current in the power system is sampled at regular intervals.

サンプリングされた電流inは、次式のものである。The sampled current in is of the following equation.

ここで、n=1.、2 、3・・・hはサンプリングの
時間幅で、例えば60Hzのとき電気角30°毎、即ち
1.39m5である。
Here, n=1. , 2, 3...h is the sampling time width, which is, for example, every 30 degrees of electrical angle at 60 Hz, that is, 1.39 m5.

そして過電流としてリレーを作動(トリップ)させる条
件は、次式の関係による。
The conditions for activating (tripping) the relay due to overcurrent are based on the relationship of the following equation.

ここでNは任意数であり、1n−NはNサンプリング前
のデータ即ち電流を示し、T はタップ値を示す。
Here, N is an arbitrary number, 1n-N indicates data before N samplings, that is, current, and T indicates the tap value.

例えば、N=3とすると、3ωh=90″であり、 となる。For example, if N=3, 3ωh=90″, becomes.

リレーをトリップさせるのは■2≧T2のときであり、
■2〈T 2のときはトリップさせない。
The relay is tripped when ■2≧T2,
■2〈Do not trip when T2.

再び第1図を参照する。式(2)の処理により時刻t1
及びt4のサンプリングで結果a1を得、以下同様にし
て順次結果a2.a3・・・を得る。
Referring again to FIG. By processing equation (2), time t1
and t4 sampling results a1 are obtained, and in the same manner, results a2 . Obtain a3...

いま、時刻t4から系統異常(第1図にFで示す)が発
生すると、これが結果a4. a5. a(5に影響を
与えるので、時刻t、で初めて3回照合が得らヘトリッ
プ信号Tが出力される。
Now, if a system abnormality (indicated by F in FIG. 1) occurs from time t4, this will be the result a4. a5. a(5), so three verifications are obtained for the first time at time t, and the hetrip signal T is output.

以後(a5゜a6j 27)t (a6t a7.ag
)”’によってh時間毎にトリップ信号Tが出力される
From then on (a5゜a6j 27)t (a6t a7.ag
)"', the trip signal T is output every h hours.

ところで、電力系統のデータの誤りは、例えば各相の電
流l71tIB+IC2Igの間にI、+I B+I
c−3Io=0の関係があることに基づき検出される。
By the way, an error in the power system data is caused by, for example, I, +I B + I between the currents l71tIB + IC2Ig of each phase.
This is detected based on the relationship c-3Io=0.

従って、時刻t9のデータに誤りがあったときは、結果
a6及びa9は本質的に誤りがあり、用いることができ
ない。
Therefore, when there is an error in the data at time t9, results a6 and a9 essentially have errors and cannot be used.

結局連続的な3回照合を行う従来回路では、結果a10
1 all l a12で初めて3回照合が得られる。
In the end, in the conventional circuit that performs three consecutive verifications, the result is a10
1 all l a12, we get 3 matches for the first time.

つまり、トリップ信号Tは、電源系統に異常が発生した
時刻t4から11サンプル時間後の時刻t15になって
、初めてトリップ信号Tが出る。
That is, the trip signal T is not output until time t15, which is 11 sample times after time t4 when an abnormality occurs in the power supply system.

このように従来回路は、電源系統の異常を検出するのに
、一時的なデータ誤りがあっても相当に遅れるという欠
点があった。
As described above, the conventional circuit has the disadvantage that even if there is a temporary data error, there is a considerable delay in detecting an abnormality in the power supply system.

このような従来の欠点は、3回照合を行なうのに連続的
な結果を用いるという制約によることは明らかである。
It is clear that these conventional drawbacks are due to the constraint of using consecutive results to perform three checks.

3回照合は、連続する結果an。an−)−t+ ”n
−4−2+ an+3において、例えば結果an+2に
誤りがある場合、結果an。
Three matching results in consecutive results an. an-)-t+ ”n
-4-2+ In an+3, for example, if the result an+2 has an error, the result an.

an+1jan+3を用いて行えば、十分その精神つま
り高精度の確認を保持できると共に照合結果を得るまで
の時間も短縮できるものである。
If an+1jan+3 is used, the spirit of the verification, that is, high precision verification, can be sufficiently maintained, and the time required to obtain a verification result can be shortened.

即ち、本発明は、前述の点で着目して従来の欠点を改善
するためになされたものである。
That is, the present invention has been made in order to improve the conventional drawbacks by paying attention to the above-mentioned points.

本発明の目的は、例えは電力系統の異常状態を電圧、電
流等をサンプリングして得たデータから高い信頼性をも
ってしかも速やかに検出するようにしたデータ処理回路
を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a data processing circuit that can detect an abnormal state of a power system, for example, with high reliability and quickly from data obtained by sampling voltage, current, etc.

、本発明のデータ処理回路は、例えば電力系統の電圧、
電流等のアナログ量を遂次サンプリングして得たデータ
に基づき、例えば3サンプリング時間隔ったデータ間で
その異常状態を検出する演算を行9た結果antan+
11”n−1−2,an+3・・・が遂次1人力される
とき、K回、1例えば3回照合を、結果a。
, the data processing circuit of the present invention can, for example, calculate the voltage of the power system,
Based on the data obtained by successively sampling analog quantities such as current, an operation is performed to detect an abnormal state between data separated by, for example, three sampling times, and the result is antan+.
When 11"n-1-2, an+3... are input by one person one after another, verification is performed K times, for example 3 times, and the result is a.

を基準にN個1例えば4個の結果anyan+t+an
+z lan+3から選択した3組の結果(arl’
an+1 y an−1−2)+an + an+ I
t an+3 )+ (an+”n+2+an+3)
において行うものである。
Based on N numbers 1, for example, 4 results anyan+t+an
3 sets of results selected from +z lan+3 (arl'
an+1 y an-1-2)+an + an+ I
t an+3 )+ (an+”n+2+an+3)
This will be done at

このため、本発明のデータ処理回路は、前記3組の照合
をそれぞれ行う3個の照合回路と、前記照合回路の各出
力を論理和で出力する論理和回路と、前記論理和回路の
出力を複数サンプル時間持続して出力するワンショット
回路とを備えることで前記目的を連取する。
Therefore, the data processing circuit of the present invention includes three collation circuits that perform each of the three sets of collations, an OR circuit that outputs each output of the collation circuit as a logical sum, and an OR circuit that outputs the outputs of the OR circuit as a logical sum. By providing a one-shot circuit that outputs data continuously for a plurality of sample times, the above-mentioned objective can be achieved in succession.

以下、本発明の一実施例を示す第2図のブロック図を参
照して説明する。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be explained with reference to the block diagram of FIG. 2.

まず、入力端子1は、演算した結果anが遂次入力され
るもので、照合回路2−1 、2−2 、2−3に接続
されている。
First, the input terminal 1 is connected to the collation circuits 2-1, 2-2, and 2-3, to which the calculated results an are successively input.

照合回路2−1 、2−2 、2−3は記憶及び照合の
機能を有する。
The verification circuits 2-1, 2-2, and 2-3 have storage and verification functions.

即ち、照合回路2−1は結果an + an+t、t
an+2による3回照合を行い、一致が得られた場合、
例えば′1°′の出力をする。
That is, the matching circuit 2-1 returns the result an+an+t, t
If a match is obtained after 3 times of matching using an+2,
For example, it outputs '1°'.

同様にして、照合回路2−2の結果an l an+2
jan+3’n+2+an+3’照a。
Similarly, the result of the matching circuit 2-2 is an l an+2
jan+3'n+2+an+3'tera.

、ar1+1゜an+3による3回照合を行い、一致が
あれば?1191の出力をする。
, ar1+1゜an+3 is performed three times, and if there is a match? Outputs 1191.

照合回路2−1.2−2゜2−3の出力は3人力の論理
和回路3に入力され、通常の論理和が実行される。
The outputs of the collation circuits 2-1, 2-2 and 2-3 are input to a three-man OR circuit 3, where a normal OR operation is performed.

論理和回路3から出力されるパルス信号Pは、いわゆる
ワンショット・マルチバイブレークであるワンショット
回路4に入力され、ここで2サンプリング周期2hの入
力保持を行う。
The pulse signal P output from the OR circuit 3 is input to a one-shot circuit 4, which is a so-called one-shot multi-by-break circuit, where the input is held for two sampling periods of 2h.

つまり、ワンショット回路4は、′1゛のパルス信号P
が入力されれば、2h時間のパルスを端子5に供給する
In other words, the one-shot circuit 4 receives the pulse signal P of '1'.
is input, a 2h time pulse is supplied to terminal 5.

次に第3図を参照して動作を説明する。Next, the operation will be explained with reference to FIG.

第3図は、電力系統から一定のサンプリング周期りで得
たデータ列を示すものである。
FIG. 3 shows a data string obtained from the power system at a constant sampling period.

以下同図において、C,印は電力系統が正常状態にある
ときのデータ、○印は電力系統が異常状態にあるときの
データ、×印は誤りのあるデータ、P印はパルス信号P
の発生、T印はトリップ信号Tの発生をそれぞれ示す。
In the figure below, C and marks are data when the power grid is in a normal state, ○ marks are data when the power grid is in an abnormal state, × marks are erroneous data, and P marks are pulse signal P.
The occurrence of the trip signal T and the T mark indicate the occurrence of the trip signal T, respectively.

まずイは、時刻t1で異常状態のデータがサンプリング
され始め、時刻t4から結果a1.a2゜a3・・・が
入力端子1に入力され始めることを示す。
First, at time t1, abnormal state data begins to be sampled, and from time t4, the result a1. This indicates that a2, a3, . . . begin to be input to input terminal 1.

従って、時刻t6から照合回路2−1は、3回照合が得
られるので、″′l゛レベルの信号を出力し、次いで論
理和回路3はパルス信号Pを時刻t6から繰返し出力す
る。
Therefore, since the verification circuit 2-1 obtains verification three times from time t6, it outputs a signal of level "'l", and then the OR circuit 3 repeatedly outputs the pulse signal P from time t6.

これによって、ワンショット回路4及び論理和回路5も
”1゛レベルの信号を出力する。
As a result, the one-shot circuit 4 and the OR circuit 5 also output signals at the "1" level.

即ち、端子5はトリップ信号Tを時刻t6カ)ら出力す
る。
That is, the terminal 5 outputs the trip signal T from time t6).

次に用t1時刻t1に誤ったデータがあったために1サ
ンプリング周期りだけ遅れて時刻t7からパルス信号P
及びトリップ信号Tを出力するのを示す。
Next, since there was incorrect data at time t1, the pulse signal P starts from time t7 with a delay of one sampling period.
and trip signal T are output.

この場合は、異常状態が時刻t2から始まったことと実
質的に同じである。
In this case, it is substantially the same as if the abnormal state started from time t2.

第3の(ハ)は、時刻t2に誤ったデータが存在したた
め、結果a2が使用不能となり、結果a4が入力される
時刻t7において、最初照合回路2−3が″1°゛レベ
ルのは号を出力し、これに応じてトリップ信号Tも出力
されるのを示す。
The third (c) is that the result a2 becomes unusable due to the existence of incorrect data at time t2, and at time t7 when the result a4 is input, the verification circuit 2-3 first detects the "1°" level signal. , and a trip signal T is also output accordingly.

時刻t8以降からのパルス信号P及びトリップ信号Tの
出力は、イ及び口と同じように照合回路2−1の出力に
基づく。
The output of the pulse signal P and trip signal T from time t8 onward is based on the output of the matching circuit 2-1 in the same way as A and A.

第4の二は、時刻t3にデータの誤りがあったため、結
果a2が使用不能となる。
In the fourth case, the result a2 becomes unusable because there is a data error at time t3.

従って、結果a4が入力される時刻t7からパルス信号
P及びトリップ信号Tが出力される。
Therefore, the pulse signal P and the trip signal T are output from time t7 when the result a4 is input.

第5のホは、時刻t4にデータの誤りがあったため、結
果a1及びa4が使用不能となる。
In the fifth example E, since there was a data error at time t4, results a1 and a4 become unusable.

従って、結果a5が入力される時刻t8からトリップ信
号が出力される。
Therefore, a trip signal is output from time t8 when result a5 is input.

第6のへ1は、時刻t5にデータの誤りがあったため、
結果a2及びa5が使用不能となる。
In the sixth step 1, there was a data error at time t5, so
As a result, a2 and a5 become unusable.

従って、結果a4が入力される時刻t7において最初照
合回路2−3が“I Mレベルの信号を出力する。
Therefore, at time t7 when the result a4 is input, the collation circuit 2-3 first outputs a signal at the "IM" level.

しかし、結果a5が入力される時刻t8では、再び照合
回路2−1.2−2.2−3の出力が”0”レベルとな
り、パルス信号Pが出力されないが、ワンショット回路
4の出力が”1”レベルにあるため、トリップ信号Tは
時刻t7より継続的に出力されている。
However, at time t8 when the result a5 is input, the output of the matching circuit 2-1.2-2.2-3 becomes "0" level again, and the pulse signal P is not output, but the output of the one-shot circuit 4 is Since it is at the "1" level, the trip signal T has been continuously output from time t7.

このようなデータの誤りは、3個以上連続しない限り、
ワンショット回路4の2h時間の設定で補償される。
Unless there are three or more consecutive data errors,
This is compensated by the 2h time setting of the one-shot circuit 4.

これは、いわゆるチャックリング又はバウンシング現象
を除去するものである。
This eliminates the so-called chuckling or bouncing phenomenon.

第7のトは、時刻t6.にデータの誤りがあったため、
結果a3及びa6が使用不能となり、時刻t9でパルス
信号Pが出力されないが、トリップ信号Tは時刻t7か
ら継続的に出力される。
The seventh point is at time t6. Because there was an error in the data,
As a result, a3 and a6 become unusable, and the pulse signal P is not output at time t9, but the trip signal T is continuously output from time t7.

第8のチは、時刻t7にデータの誤りがあったため、時
刻t7及びttoでパルス信号Pが出力されないが、ト
リップ信号Tは時刻t7から継続的に出力される。
In the eighth case, since there was a data error at time t7, pulse signal P is not output at time t7 and tto, but trip signal T is continuously output from time t7.

第4図は第2図に示した照合回路2−1.2−2.2−
3の詳細を説明するブロック図である。
Figure 4 shows the matching circuit 2-1.2-2.2- shown in Figure 2.
FIG. 3 is a block diagram illustrating details of FIG.

照合回路2−1において、入力端子1から導かれた線1
aにメモリ7及び8が接続され、メモリ7は1サンプル
分の結果anを記憶し、メモリ8は2サンプル分の結果
a。
In the matching circuit 2-1, the line 1 led from the input terminal 1
Memories 7 and 8 are connected to a, the memory 7 stores the result an for one sample, and the memory 8 stores the result a for two samples.

、an+、を記憶するもので、例えばそれぞれ1桁及び
2桁のシフト・レジスタで構成される。
, an+, and are constructed of, for example, one-digit and two-digit shift registers, respectively.

メモリ7及び8の出力端と、線1aは論理積回路9aに
導かれ、これらによって供給される3人力の論理積をと
る。
The outputs of the memories 7 and 8 and the line 1a are led to an AND circuit 9a, which performs the AND of the three inputs supplied by these.

これは、例えばlla、メモリ7及びメモリ8からそれ
ぞれ供給される結果a。
This is, for example, result a supplied from lla, memory 7 and memory 8, respectively.

+2.an+1及びa。の論理積をとることである。+2. an+1 and a. It is to take the logical product of .

照合回路2−2及び2−3も照合回路2−1と同じよう
な構成にあり、メモリ10は、3サンプル分の結果al
l、an+1jan+2を記憶するもので、例えば3桁
のシフト・レジスタで構成される。
The matching circuits 2-2 and 2-3 have the same configuration as the matching circuit 2-1, and the memory 10 stores the results of three samples.
1, an+1jan+2, and is composed of, for example, a 3-digit shift register.

従って、照合回路2−2における論理積回路9bでは結
果a。
Therefore, the AND circuit 9b in the matching circuit 2-2 produces the result a.

+an+2及びan十sの論理積をとる。+an+2 and an+s are logically ANDed.

また、照合回路2−3における論理積回路9cでは結果
a。
Further, the AND circuit 9c in the matching circuit 2-3 produces the result a.

、ao+1及びa。+3の論理積をとる。, ao+1 and a. Take the AND of +3.

このような本発明の動作を一般化すると、結果an y
an+t s an+2t an+a、から3つの
結果を選択する組合せで3回照合を行うものであり、時
間軸上で遅くとも結果a が得られたn+a 時点で3回照合が実行されてトリップ信号Tが高い信頼
性をもって出力される。
When the operation of the present invention is generalized, the result is any
The verification is performed three times with a combination of selecting three results from an+t s an+2t an+a, and the verification is performed three times at the time n+a when the result a is obtained at the latest on the time axis, and the trip signal T is highly reliable. It is output with specificity.

また一旦トリップ信号Tが出力されると、連続して2回
以上の3回照合が不能とCらない限り、連続的なレベル
を有する即ちチャックのないトリップ信号が連続的に出
力される。
Furthermore, once the trip signal T is output, a trip signal having a continuous level, that is, without a chuck, is continuously output unless verification is impossible two or more times three times in a row.

勿論、連続して2回以上の3回照合が得られない場合の
条件は、ワンショット回路4の保持時間を更に長いもの
とすれば、変更可能なものであり、より多い回数の条件
とすることができる。
Of course, the condition when verification cannot be obtained two or more times in a row can be changed by making the holding time of the one-shot circuit 4 longer, and the condition is set to a larger number of times. be able to.

なお、以上の説明では4個の結果から3回照合を行う例
を示したが、本発明はN個の結果からに回照合(N>K
、に≧3)を行うものであり、それぞれの構成(1例
示するまでもなく当業者において明らかである。
In addition, in the above explanation, an example was shown in which verification is performed three times from four results, but in the present invention, verification is performed three times from N results (N>K
, ≧3), and the respective configurations (one example does not need to be given and are obvious to those skilled in the art).

以上説明したように本発明によれば、電力系統の異常状
態をに回照合で検出する際、正しいデータが連続するこ
とを条件とすることなく、真とするに十分な個数のデー
タが与えられることを条件としたので、高い信頼性を失
うことなく、速やかな検出が保証され、しかもチャック
リングも除去できる効果がある。
As explained above, according to the present invention, when detecting an abnormal state in an electric power system by multiple verifications, a sufficient number of pieces of data are given to make it true without requiring that correct data be consecutive. This condition ensures prompt detection without losing high reliability, and also has the effect of eliminating chuck rings.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は電力系統の電流をサンプリングするタイミング
図、第2図は本発明の一実施例を示すブロック図、第3
図は第2図の動作を説明する図、第4図は照合回路の詳
細なブロック図である。 2−1.2−2 、2−3・・・・・・照合回路、3,
5・・・・・・論理和回路、4・・・・・・ワンショッ
ト回路、7,810・・・・・・メモリ、9・・・・・
・論理積回路。
FIG. 1 is a timing diagram for sampling current in the power system, FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG.
This figure is a diagram explaining the operation of FIG. 2, and FIG. 4 is a detailed block diagram of the matching circuit. 2-1.2-2, 2-3... Verification circuit, 3,
5...OR circuit, 4...One-shot circuit, 7,810...Memory, 9...
・Logic product circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 アナログ量を遂次サンプリングして得たデータで所
定の演算を行い、その結果が遂次入力され、前記結果の
に回照合(K2S)を行うデータ処理回路において、遂
次入力されるN個(N>K )の結果からに個の結果を
互に異なった組合せとなるように選択してに回照合を行
う複数個の照合回路と、前記照合回路の各出力を入力す
る論理和回路と、前記論理和回路の出力を入力して複数
のサンプリング時間保持するワンショット回路とを備え
たことを特徴とするデータ処理回路。 ゛
[Claims] 1. In a data processing circuit that performs predetermined calculations on data obtained by successively sampling analog quantities, the results are successively inputted, and the results are collated twice (K2S). Next, a plurality of collation circuits select N results from the inputted N results (N>K) so as to form mutually different combinations and collate them several times, and each output of the collation circuit is 1. A data processing circuit comprising: an input OR circuit; and a one-shot circuit that inputs the output of the OR circuit and holds the output for a plurality of sampling times.゛
JP53072531A 1978-06-14 1978-06-14 data processing circuit Expired JPS5840891B2 (en)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
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JP53072531A JPS5840891B2 (en) 1978-06-14 1978-06-14 data processing circuit

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GB2081994B (en) * 1980-08-11 1983-04-07 South Eastern Elec Board Pulse sampled e l c b

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JPS54163329A (en) 1979-12-25

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