JPS5841473B2 - シユウハスウトクセイソクテイソウチ - Google Patents
シユウハスウトクセイソクテイソウチInfo
- Publication number
- JPS5841473B2 JPS5841473B2 JP47050344A JP5034472A JPS5841473B2 JP S5841473 B2 JPS5841473 B2 JP S5841473B2 JP 47050344 A JP47050344 A JP 47050344A JP 5034472 A JP5034472 A JP 5034472A JP S5841473 B2 JPS5841473 B2 JP S5841473B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- measuring device
- frequency characteristic
- filter
- order
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は通信回線における回線の振幅又は遅延の周波
数特性を正弦波又は余弦波により周波数る掃引し、オシ
ログラフによって表示する周波数特性測定装定装置に関
するものである。
数特性を正弦波又は余弦波により周波数る掃引し、オシ
ログラフによって表示する周波数特性測定装定装置に関
するものである。
通信回線の総合の振幅及び遅延特性は回線の各部の振幅
及び遅延の合成であり、一般に一次傾斜及び高次傾斜の
歪を有し、回線の伝送特性に劣化を与える。
及び遅延の合成であり、一般に一次傾斜及び高次傾斜の
歪を有し、回線の伝送特性に劣化を与える。
特にディジタル通信システムにおいては振幅及び遅延の
一次傾斜の歪による伝送特性の劣化は他の高次の歪によ
る劣化に比べて大きい。
一次傾斜の歪による伝送特性の劣化は他の高次の歪によ
る劣化に比べて大きい。
このため−次傾斜歪用等化器を設は歪の補償を行い劣化
を少なくしている。
を少なくしている。
従来の周波数特性装置は歪の一次傾斜量と高次傾斜量を
別々に測定することが出来なかったため等化器の調整に
長時間を要していた。
別々に測定することが出来なかったため等化器の調整に
長時間を要していた。
本発明はこのような欠点を除去するため、周波数特性測
定装置の受信部のオシログラフの垂直軸人力部に通過域
が掃引周波数であるフィルタと、このフィルタを挿入又
は外すための切替スイッチを設け、総合周波数特性及び
総合周波数特性の次傾斜量を選択して表示できるように
したものであり、その目的は伝送路の周波数特性の評価
及び等化器の調整を容易にすることにある。
定装置の受信部のオシログラフの垂直軸人力部に通過域
が掃引周波数であるフィルタと、このフィルタを挿入又
は外すための切替スイッチを設け、総合周波数特性及び
総合周波数特性の次傾斜量を選択して表示できるように
したものであり、その目的は伝送路の周波数特性の評価
及び等化器の調整を容易にすることにある。
−次及び高次の歪を有する特性から一次傾斜量のみを測
定する原理について述べる。
定する原理について述べる。
振幅及び遅延については全く同じであるので以下に遅延
特性についてのみ述べる。
特性についてのみ述べる。
角周波数の掃引幅を２ｊω。掃引周期をＴとし、中心周
波数をω。
波数をω。
とすると、時間ｔにおける角周波数ωは式（１）で与え
られる。
られる。
測定帯域内での遅延周波数特性τ（Ｏ））は一般式（２
）のように多項式で表わすことができる。
）のように多項式で表わすことができる。
ここでτｉはｉ次遅延の係数である。
又ｉ＝０はＯ次遅延即ち、周波数特性を持たない項であ
るので省略する。
るので省略する。
式（１）及び式（２）より、式（３）を得る。式（３）
における余弦関数のべき％ｏｓ （２π；７）１ ′ｔ−ＪｆＲＩＣ定数９・８期”゛丁７余弦波ゝ０８０
高調波で表わされる。
における余弦関数のべき％ｏｓ （２π；７）１ ′ｔ−ＪｆＲＩＣ定数９・８期”゛丁７余弦波ゝ０８０
高調波で表わされる。
周期が↑の掃引周波数成分は式（３）において奇数次項
より発生するが、次数が高くなる程絶対値が小さくなる
。
より発生するが、次数が高くなる程絶対値が小さくなる
。
このため三次以上の項から発生するものを無視すると、
掃引周波数成分は式（３）の−次の項から発生するもの
だけとなり式（４）となる。
掃引周波数成分は式（３）の−次の項から発生するもの
だけとなり式（４）となる。
従って、測定値から掃引周波数成分のみをとりだ腰これ
をオシログラフの垂直軸に、また水平軸には掃引周波数
の余弦波を加え、リサージュ図形を描かせることにより
一次傾斜量に相当する一次遅延係数τ１を測定すること
ができる。
をオシログラフの垂直軸に、また水平軸には掃引周波数
の余弦波を加え、リサージュ図形を描かせることにより
一次傾斜量に相当する一次遅延係数τ１を測定すること
ができる。
以下図面を用いて動作を説明する。
。第１図は本発明の一実施例であり、１は周波数特性測
定装置送信部、２は伝送部、３は周波数特性測定装置受
信部、４は振幅又は遅延特性検波器、５はフィルタ、６
は表示器である。
定装置送信部、２は伝送部、３は周波数特性測定装置受
信部、４は振幅又は遅延特性検波器、５はフィルタ、６
は表示器である。
第２図はフィルタを挿入しない従来の特性であり、第３
図はフィルタを挿入して測定した一次傾斜量である。
図はフィルタを挿入して測定した一次傾斜量である。
伝送路２の周波数特性を測定するには送信部１より周波
数が掃引された信号を伝送路２に送信する。
数が掃引された信号を伝送路２に送信する。
受信部３では振幅又は遅延特性検波器４により検波し表
示器６のオシログラフの垂直軸■に加える。
示器６のオシログラフの垂直軸■に加える。
水平軸Ｈには振幅又は遅延特性検波器４により得た掃引
周波数の正弦波を加える。
周波数の正弦波を加える。
伝送路の周波数特性は各部の不整合によるリップルや分
散特性によりフィルタ５を挿入しない場合には表示器６
のオシログラフのブラウン管には第２図に示すような特
性が表示される１、 前述したように等化器の調整においては第２図の特性の
一次傾斜量が必要であるので、通過域が掃引周波数であ
るフィルタ５を柄入すると第３図に示す如く一次傾斜量
のみが測定出来る。
散特性によりフィルタ５を挿入しない場合には表示器６
のオシログラフのブラウン管には第２図に示すような特
性が表示される１、 前述したように等化器の調整においては第２図の特性の
一次傾斜量が必要であるので、通過域が掃引周波数であ
るフィルタ５を柄入すると第３図に示す如く一次傾斜量
のみが測定出来る。
なお二次傾斜量を表示したい場合にはフィルタの通過域
周波数を掃引周波数の２倍にすればよく、またリップル
のみを表示したい場合にはそのリップルに相当する周波
数のフィルタを用いれば良い。
周波数を掃引周波数の２倍にすればよく、またリップル
のみを表示したい場合にはそのリップルに相当する周波
数のフィルタを用いれば良い。
なおフィルタの位相特性は切替スイッチを切替えた時に
オシログラフの垂直軸と水平軸の位相が変わらないよう
にするため通過帯域において入力端と出力端で同相であ
ることが望ましい。
オシログラフの垂直軸と水平軸の位相が変わらないよう
にするため通過帯域において入力端と出力端で同相であ
ることが望ましい。
本発明は以上述べた如く必要とする情報を選択して測定
することができるため、特性の評価がきわめて容易に行
え、歪等化器の調整が迅速に行える特長がある。
することができるため、特性の評価がきわめて容易に行
え、歪等化器の調整が迅速に行える特長がある。
第１図は本発明の一実施例であり、１は周波数特性測定
装置送信部、２は伝送路、３は周波数特性測定装置受信
部、４は振幅又は遅延特性検波器、５はフィルタ、６は
表示器である。 第２図はフィルタを挿入しない従来の特性であり、第３
図はフィルタを挿入して測定した一次傾斜量である。
装置送信部、２は伝送路、３は周波数特性測定装置受信
部、４は振幅又は遅延特性検波器、５はフィルタ、６は
表示器である。 第２図はフィルタを挿入しない従来の特性であり、第３
図はフィルタを挿入して測定した一次傾斜量である。
Claims (1)
- １ 正弦波又は余弦波により周波数を掃引し、オシログ
ラフにより周波数特性を表示する周波数特性測定装置に
おいて、該測定装置の該オシログラフの垂直軸入力部に
該測定装置の掃引周波数を通過域とし、かつ掃引周波数
における位相特性が入力端と出力端で同相であるフィル
タ及び該フィルタを回路中に挿入又は外す切替スイッチ
を設け、被測定回線の総合周波数特性及び総合周波数特
性の一次傾斜量を該スイッチの切替により選択して表示
させることを特徴とする周波数特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP47050344A JPS5841473B2 (ja) | 1972-05-23 | 1972-05-23 | シユウハスウトクセイソクテイソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP47050344A JPS5841473B2 (ja) | 1972-05-23 | 1972-05-23 | シユウハスウトクセイソクテイソウチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS4917122A JPS4917122A (ja) | 1974-02-15 |
| JPS5841473B2 true JPS5841473B2 (ja) | 1983-09-12 |
Family
ID=12856286
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP47050344A Expired JPS5841473B2 (ja) | 1972-05-23 | 1972-05-23 | シユウハスウトクセイソクテイソウチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5841473B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0486997U (ja) * | 1990-12-05 | 1992-07-28 |
-
1972
- 1972-05-23 JP JP47050344A patent/JPS5841473B2/ja not_active Expired
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT#N4=1971 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS4917122A (ja) | 1974-02-15 |
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