JPS5851386B2 - Semiconductor device manufacturing equipment - Google Patents
Semiconductor device manufacturing equipmentInfo
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- JPS5851386B2 JPS5851386B2 JP51106538A JP10653876A JPS5851386B2 JP S5851386 B2 JPS5851386 B2 JP S5851386B2 JP 51106538 A JP51106538 A JP 51106538A JP 10653876 A JP10653876 A JP 10653876A JP S5851386 B2 JPS5851386 B2 JP S5851386B2
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は半導体装置の製造装置、特に半導体基板にイ
オンを注入して半導体装置を製造する装置に関するもの
である。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an apparatus for manufacturing a semiconductor device, and particularly to an apparatus for manufacturing a semiconductor device by implanting ions into a semiconductor substrate.
半導体装置の製造技術としてイオン注入法が現今広く実
用化されていることは周知のと釦りである。It is well known that ion implantation is now widely used as a manufacturing technology for semiconductor devices.
そのための製造装置は、高真空化された注入室が用意さ
れ、そのなかに搬入された半導体基板にイオン源から発
生したイオンのうちから分析された所要のイオンを加速
して注入するように構成されている。The manufacturing equipment for this purpose is configured to accelerate and implant the required ions, which are analyzed from among the ions generated from the ion source, into the semiconductor substrate carried into the highly vacuumed implantation chamber. has been done.
ところでこの種の注入室は高真空の維持が必要であるが
、半導体基板の搬入、搬出の都度、注入室の内部が大気
に開放されるようにしであると、いったん大気に開放さ
れた注入室を再び高真空化するためには、約30分乃至
1時間を要し、生産性が著るしく悪い。By the way, this type of implantation chamber requires maintenance of a high vacuum, but if the inside of the implantation chamber is opened to the atmosphere each time a semiconductor substrate is loaded or unloaded, the interior of the implantation chamber once opened to the atmosphere It takes about 30 minutes to 1 hour to bring the vacuum to a high level again, and productivity is extremely poor.
これを解決するために、注入室に隣接して搬入用及び搬
出用の真空予備室を配置し、各真空予備室と注入室との
間をゲートパルプを介して連通自在とした構成が別途提
案されてかり、これによれば搬入側の真空予備室に半導
体基板を挿入して(このとき真空予備室は大気に開放さ
れる。In order to solve this problem, we have separately proposed a configuration in which vacuum preliminary chambers for loading and unloading are placed adjacent to the injection chamber, and each vacuum preliminary chamber and the injection chamber are freely communicated via a gate pulp. According to this method, a semiconductor substrate is inserted into a vacuum preliminary chamber on the loading side (at this time, the vacuum preliminary chamber is opened to the atmosphere).
)から密閉し、内部を成る程度真空化(この真空度は注
入室のよれより遥かに低い。), and the inside is evacuated to a certain degree (this degree of vacuum is much lower than the curvature of the injection chamber).
)してからゲートパルプを開き、外部からの操作によっ
て動作する搬送用の駆動機構によって半導体基板を注入
室に導き、ここで所要のイオン処理をほどこす。), the gate pulp is opened, and the semiconductor substrate is guided into the injection chamber by a transport drive mechanism operated by an external operation, where the required ion processing is performed.
その処理を終えたのち注入室と搬出側の真空予備室(こ
れは予め搬入側の真空予備室と同じ程度に真空化されて
いる。After the process is completed, the injection chamber and the vacuum preliminary chamber on the carry-out side (this has been evacuated in advance to the same degree as the vacuum preliminary chamber on the carry-in side).
)との間のゲートバルブを開いて注入室内の半導体基板
を前記したと同様の搬出用の駆動機構によって真全予備
室内に搬出し、前記ゲートパルプを閉じてのち、真空予
備室内の半導体基板をとり出す。), the semiconductor substrate in the injection chamber is transported into the vacuum preparation chamber by the same transport drive mechanism as described above, and after closing the gate pulp, the semiconductor substrate in the vacuum preparation chamber is removed. Take it out.
このような構成によれば、注入室は大気に開放されるこ
とがなく、単に真空予備室に連通されるだけであるから
、その連通後の高真空化に要する時間は、これを大気に
開放したのちの高真空化に要する時間より遥かに短かく
なり、したがってそれだけ生産性が向上することになる
。According to this configuration, the injection chamber is not opened to the atmosphere and is simply communicated with the vacuum preparatory chamber, so the time required to create a high vacuum after communication is the time required to open it to the atmosphere. This is much shorter than the time required to create a high vacuum afterwards, and therefore productivity is improved accordingly.
しかしこのような構成に釦いては、半導体基板を箱入側
の予備真空室から注入室に搬入するために、及び注入室
から搬出側の予備真空室に搬出するために外部(大気側
)から操作される駆動機構が必要不可欠である。However, in such a configuration, in order to carry the semiconductor substrate from the preliminary vacuum chamber on the loading side to the injection chamber, and to carry it out from the injection chamber to the preliminary vacuum chamber on the unloading side, it is necessary to An actuated drive mechanism is essential.
又との種部動機構のために、真空をそこなうことのない
ようにOリングなり金属ベローズ等のシール材がどうし
ても必要となることにより、装置全体が大型化かつ高価
格化され、又前記のようなシール材の寿命の点で信頼度
に問題が生ずるといった欠点がある。Due to the seed part movement mechanism of the rod, a sealing material such as an O-ring or a metal bellows is required to prevent damage to the vacuum, making the entire device larger and more expensive. However, there are disadvantages in that reliability problems arise in terms of the lifespan of such sealing materials.
この発明は外部からの操作を必要とするような、半導体
基板の搬入、搬出のための駆動機構を省略し、もって装
置全体の大型化、高価格化を改善することを目的とする
。An object of the present invention is to omit a drive mechanism for loading and unloading semiconductor substrates, which requires an external operation, thereby reducing the size and cost of the entire device.
この発明では、注入室に隣接して搬入側の真空予備室及
び搬出側の真空予備室をゲートバルブを介してそれぞれ
配置し、搬入側の真空予備室から注入室へ及び注入室か
ら搬出側の真空予備室への半導体基板の搬送は半導体基
板の自然滑降によるようにしたことを特徴とする。In this invention, a vacuum preliminary chamber on the carry-in side and a vacuum preliminary chamber on the carry-out side are arranged adjacent to the injection chamber via gate valves, and a vacuum preliminary chamber on the carry-in side is connected to the injection chamber, and a vacuum preliminary chamber on the carry-out side is connected to the injection chamber, and from the injection chamber to the carry-out side. The present invention is characterized in that the semiconductor substrate is transferred to the vacuum preliminary chamber by natural sliding of the semiconductor substrate.
実際には半導体基板の複数を同時に搬送するのが普通で
あるから、これらを並置して収納するカートリッジを上
記のように自然滑降させる。In practice, it is common for a plurality of semiconductor substrates to be transported at the same time, so the cartridges that house them side by side are allowed to slide down naturally as described above.
このような自然滑降により搬送させれば、上記のような
駆動機構は一切省略できることになる。If the object is conveyed by such natural sliding, the above-mentioned drive mechanism can be completely omitted.
注入室に搬入されたカートリッジは、イオン処理の際、
個々に半導体基板をカートリッジからとり出して注入位
置に転送させる必要があり、その転送機構のため、カー
トリッジを個々の半導体基板につき処理を終えたときは
定ピツチだけ移送させる必要がある。The cartridge carried into the injection chamber is subjected to ion processing.
It is necessary to take out the semiconductor substrates individually from the cartridge and transfer them to the injection position, and because of the transfer mechanism, it is necessary to transfer the cartridge by a fixed pitch when processing is completed for each semiconductor substrate.
そのため注入室に移送されるカートリッジは同室内に釦
ける定位置で停止させなげればならない。Therefore, the cartridge transferred to the injection chamber must be stopped at a fixed position within the same chamber.
そのためこの発明では、注入室内に搬入されるカートリ
ッジは同室内の定位置でその自然滑降を停止させるよう
にすることをも目的とする。Therefore, another object of the present invention is to stop the natural sliding of the cartridge carried into the injection chamber at a fixed position within the same chamber.
このような定位置での停止は以後のイオン処理位置への
個々の半導体基板の転送が確実に行なわれることになる
。Stopping at such a fixed position ensures that the individual semiconductor substrates are subsequently transferred to the ion processing position.
この発明を図面に基いて説明すると、注入室10両側に
搬入側の予備真空室2及び搬出側の予備真空室3が、そ
れぞれゲートパルプ4,5を介して連通自在に配置され
である。The present invention will be described with reference to the drawings. On both sides of the injection chamber 10, a preliminary vacuum chamber 2 on the carry-in side and a preliminary vacuum chamber 3 on the discharge side are arranged in communication with each other via gate pulps 4 and 5, respectively.
注入室1はその本体1人とその上端を気密に密閉する蓋
1Bとにより構成され、本体1Aの一部にイオン投射窓
6を備え、図示したいイオン源からの所要のイオンが分
析加速されて、この投射窓に投射されている。The injection chamber 1 is composed of a main body and a lid 1B that hermetically seals the upper end of the chamber.An ion projection window 6 is provided in a part of the main body 1A, and the required ions from the ion source shown in the figure are analyzed and accelerated. , is projected onto this projection window.
したがって個々の半導体基板をこの投射窓6に対面させ
ることによって所要のイオン注入が行なわれるようにな
る。Therefore, by facing each semiconductor substrate to the projection window 6, the required ion implantation can be performed.
別に半導体基板ホールド機構1が設置されてあって、開
口部8を通って挿入された送り装置(図示しない。A semiconductor substrate holding mechanism 1 is separately installed, and a feeding device (not shown) is inserted through an opening 8.
)によって、挿入されてきたカートリッジに収納された
半導体基板の1枚1枚を前記ホールド機構7に送る。), the semiconductor substrates housed in the inserted cartridge are sent one by one to the holding mechanism 7.
このホールド機構1は送られてきた半導体基板をホール
ドして前記投射窓6に相列する位置1で往復運搬する。This holding mechanism 1 holds the semiconductor substrate sent and reciprocates it at a position 1 aligned with the projection window 6.
前記送り装置は処理されてホールド機構の最初のホール
ド位置にもどってきた半導体基板を再びカートリッジ内
にもどす。The feeding device returns the semiconductor substrate that has been processed and returned to the initial holding position of the holding mechanism into the cartridge.
送り装置は定位置にあるので、1枚の半導体基板が処理
されてカートリッジにもどってくる都度、カートリッジ
は次の半導体基板が送り装置によってホールド機構の位
置筺で送られることができるように移送される。Since the feeder is in a fixed position, each time one semiconductor substrate is processed and returned to the cartridge, the cartridge is transferred so that the next semiconductor substrate can be fed by the feeder into the holding mechanism's position box. Ru.
この移送のためにカートリッジの移送方向に沿って配置
された送りネジ軸9にめネジ10を螺合し、とのめネジ
10を送り台11を固定して釦き、この送り台11に図
のようにカートリッジ12がのるようにしてあり、前記
送りネジ軸9は回転駆動軸13の回転がギヤユニット1
4を介して伝達されることによって回転するようになっ
てかり、この回転によって送り台11.したがってカー
トリッジ12が移送されるようにたる。For this transfer, a female screw 10 is screwed into the feed screw shaft 9 arranged along the transfer direction of the cartridge, and the female screw 10 is fixed to the feed base 11 and pressed. The cartridge 12 is mounted on the feed screw shaft 9 as shown in FIG.
4, and this rotation causes the feed table 11. The barrel 12 is therefore transported.
回転駆動軸130回転回数を適宜制御することによって
送り台11は定ピツチに移送されるようになる。By appropriately controlling the number of rotations of the rotary drive shaft 130, the feed table 11 can be transferred at a fixed pitch.
ゲートパルプ4,5はいずれもバルブ本体4A。Gate pulps 4 and 5 are both valve bodies 4A.
5A及び連結リンク4B、5Bからなり、適当な駆動機
構によって連結リンク4B、5Bが動作してバルブ本体
4A、5Aが本体1人の搬入口15、排出口16を開放
し及び気密的に閉塞する。5A and connecting links 4B, 5B, the connecting links 4B, 5B are operated by an appropriate drive mechanism, and the valve bodies 4A, 5A open and airtightly close the inlet port 15 and outlet port 16 of one main body. .
な1注入室1には真空排気系(図示しない。The injection chamber 1 includes a vacuum exhaust system (not shown).
)が連結されてあり、注入処理時にはたとえば5X10
’T orr以下の圧力に保持されるようになって
いる。) are connected, and during injection processing, for example, 5X10
The pressure is kept below 'T orr.
真空予備室2には内部にカー) IJツジ12を入れる
ための入口並びにこれを気密に閉塞する扉が又真空予備
室3には内部のカートリッジを取出すための出口並びに
これを気密に閉塞する扉(それぞれ図示していない。The vacuum preliminary chamber 2 has an inlet for inserting the IJ screw 12 and a door that hermetically closes it, and the vacuum preliminary chamber 3 has an outlet for taking out the internal cartridge and a door that hermetically closes it. (Each not shown.
)が設けである。両真空予備室2,3内にはレール21
.22が敷設されてありしかしてこの発明にしたがい真
空予備室2内のレール21は注入室1に向かって降下す
るように傾斜させてあり、又真空予備室3内のレール2
2は注入室1側からその反対側に向かって降下するよう
に傾斜させてあり、送り台11も同方向に傾斜させであ
る。) is provided. There are rails 21 inside both vacuum preliminary chambers 2 and 3.
.. According to the invention, the rails 21 in the vacuum prechamber 2 are inclined so as to descend toward the injection chamber 1, and the rails 21 in the vacuum prechamber 3 are laid down.
2 is inclined so as to descend from the injection chamber 1 side to the opposite side, and the feed table 11 is also inclined in the same direction.
図の例は両真空予備室2,3及び注入室1の全体を傾斜
させることによってレール21.22及び送り台11が
水平線に対して実質的に傾斜させている。In the illustrated example, the entirety of both the vacuum preparatory chambers 2, 3 and the injection chamber 1 is inclined, so that the rails 21, 22 and the feed table 11 are substantially inclined with respect to the horizontal line.
したがって送りネジ軸9もこれにならって同方向に傾斜
している。Therefore, the feed screw shaft 9 is also inclined in the same direction.
しかしこれに限られず、少くともレール21.22及び
送り台11カー傾斜していれば足りる。However, the present invention is not limited to this, and it is sufficient that at least the rails 21 and 22 and the feed platform 11 cars are inclined.
この傾斜によって、真空予備室2に入れられたカー)
IJツジ12はレール21上を注入室1に向かって自然
滑降していくし又注入室1から真空予備室3に送られた
カー) IJツジ12は真空予備室3内をレール22に
沿って自然滑降する。Due to this inclination, the car was placed in the vacuum preliminary chamber 2)
The IJ tube 12 naturally slides down the rail 21 toward the injection chamber 1, and the car sent from the injection chamber 1 to the vacuum preliminary chamber 3) The IJ tube 12 slides along the rail 22 inside the vacuum preliminary chamber 3. Natural downhill.
この自然滑降を円滑にするためには、レール21.22
として摩擦係数の小さな材料で製作するのが望渣しく、
たとえばフッ素系樹脂、ガラスなどによるものが好まし
い。In order to make this natural downhill slide smoothly, rails 21.22
It is desirable to make it from a material with a small coefficient of friction.
For example, those made of fluororesin, glass, etc. are preferable.
又レール21から送り台11に、又送り台11からレー
ル22にカートリッジ12が円滑に移り得るこうに各間
にコロ23を設置してDくとよい。Further, it is preferable to install rollers 23 between the rails 21 and the feed stand 11 and from the feed stand 11 to the rail 22 so that the cartridge 12 can be smoothly transferred.
又レール21.22に代えてコロを利用してもよい。Also, rollers may be used in place of the rails 21, 22.
カー) IJツジ12は第2図にその一部を示すように
、両側壁31の内面に断面が三角状の溝32が多数形成
されてあり、この溝32に周辺が挾持されるように半導
体基板33が支持収納されである。As part of the IJ joint 12 is shown in FIG. A substrate 33 is supported and housed.
レール21の先端(注入室1例の端部)に軸34を中心
にして揺動自在の爪35が装備されてあり、しかしてこ
の爪35は注入室1側の端部35aが常時下降するよう
に傾動力が生ずるようにしである。A claw 35 that can swing freely around a shaft 34 is provided at the tip of the rail 21 (the end of one example of the injection chamber), and the end 35a of this claw 35 on the side of the injection chamber 1 is always lowered. This is so that a tilting force is generated.
そのため35a側b″−反対側の端部35a側より重量
的に重くしであるか、或いはバネによって偏倚させるよ
うにしである。Therefore, the end portion 35a side 35a side b'' - the opposite end portion 35a side is made heavier in weight, or it is biased by a spring.
な釦一定角以上の傾動を拘束するためピン36を設けて
釦〈。A pin 36 is provided to restrain the button from tilting beyond a certain angle.
この傾動によって端部35bはレール21を自然滑降し
てきたカートリッジ12の先端に当接し、これによって
カートリッジ12は自然滑降するにしても爪35の設置
位置、つ1り定位置で停止されることになる。Due to this tilting, the end portion 35b comes into contact with the tip of the cartridge 12 that has slid down the rail 21 naturally, so that even if the cartridge 12 slides down naturally, it is stopped at the fixed position where the claw 35 is installed. Become.
この停止の解除のために送り台11の後端(予備真空室
12側の端部)にピン37が固定されてあり、レール2
1上のカートリッジ12を送り台11上に受は入れるた
めに、送りネジ軸90回転によって送り台11が予備真
空室2側に向かって移動するとき、ピン37が爪35の
端部35aをすくい上げる(第4図参照)。To release this stop, a pin 37 is fixed to the rear end of the feed table 11 (the end on the preliminary vacuum chamber 12 side), and the rail 2
When the feed table 11 moves toward the preliminary vacuum chamber 2 side by 90 rotations of the feed screw shaft in order to receive the cartridge 12 on the feed table 11, the pin 37 scoops up the end 35a of the claw 35. (See Figure 4).
これによって他方の端部35aとカートリッジ12との
当接は解除し、カートリッジ12は再び自然滑降して送
り台11の上にのり、その上を更に自然滑降していく。As a result, the contact between the other end 35a and the cartridge 12 is released, and the cartridge 12 again naturally slides down onto the feed table 11, and further naturally slides down thereon.
送り台11の先端(真空予備室2側の端部)には、前記
した爪35と同様の爪41カー、又レール22の後端(
注入室1側の端部)には前記したピン37と同様のピン
42がそれぞれ設置しである。At the tip of the feed table 11 (the end on the vacuum preliminary chamber 2 side) there is a claw 41 similar to the claw 35 described above, and at the rear end of the rail 22 (
A pin 42 similar to the pin 37 described above is installed at the end on the injection chamber 1 side.
したがって上記のように送り台11上を自然滑降したカ
ートリッジ12の先端は爪35に当接して停止する。Therefore, the leading end of the cartridge 12 which has naturally slid down on the feed base 11 as described above comes into contact with the claw 35 and is stopped.
爪35は送り台11の定位置に設置しであるから、結局
カートリッジ12は注入室1内にわいて定位置で停止さ
れることになる。Since the claw 35 is installed at a fixed position on the feed table 11, the cartridge 12 ends up in the injection chamber 1 and stopped at the fixed position.
カートリッジ12内の半導体基板のすべてがイオン処理
を完了して送り台11が予備真空室3に向かって送られ
るとレール22のピン42が爪41をすぐい上げてそれ
1でとは逆方向に傾動させてカートリッジ12との当接
を解除する。When all of the semiconductor substrates in the cartridge 12 have completed ion processing and the feed table 11 is sent toward the preliminary vacuum chamber 3, the pin 42 of the rail 22 immediately lifts the claw 41 and moves it in the opposite direction. It is tilted to release contact with the cartridge 12.
するとカートリッジ12は送り台11からレール22の
上に向かって自然滑降して真空予備室3内に入る。Then, the cartridge 12 naturally slides down from the feed table 11 onto the rail 22 and enters the vacuum preliminary chamber 3.
注入室1内にカートリッジ12を搬入するにはゲートパ
ルプ4,5を閉じてわいてから、注入室1内を5X10
’Torr以下の圧力となる程度に高真空化し、又
予備真空室3内も5X10−2Torr程度の圧力とな
る程度に粗引き真空化されろ。To carry the cartridge 12 into the injection chamber 1, close the gate pulps 4 and 5, and then move the inside of the injection chamber 1 using a 5x10
Make a high vacuum to the extent that the pressure is below Torr, and roughly vacuum the inside of the preliminary vacuum chamber 3 to the extent that the pressure is about 5 x 10-2 Torr.
これは真空排気系52によって行なわれる。This is done by a vacuum evacuation system 52.
つぎに予備真空室2内に半導体基板の複数を収納したカ
ートリッジ12を収納してから密閉する。Next, the cartridge 12 containing a plurality of semiconductor substrates is placed in the preliminary vacuum chamber 2 and then sealed.
このときカートリッジ12はレール21上を自然滑降し
て爪35に当接する。At this time, the cartridge 12 naturally slides down on the rail 21 and comes into contact with the claw 35.
つぎに予備真空室2内を5xlO”Torr程度の圧力
となる程度に粗引き真空化(これは真空排気系51によ
り行なう。Next, the inside of the preliminary vacuum chamber 2 is roughly evacuated to a pressure of about 5×1 O” Torr (this is performed by the evacuation system 51).
)し、最初にゲートパルプ4を開放する。) and first open the gate pulp 4.
そして送り台11を予備真空室2に向けて送る。Then, the feed table 11 is sent toward the preliminary vacuum chamber 2.
この送りによつて爪35による係合が解けてカートリッ
ジ12は送り台11内にのり、爪41に当接して停止す
る。As a result of this feeding, the engagement by the pawl 35 is released, the cartridge 12 rides on the feed base 11, and comes into contact with the pawl 41 and stops.
ついで送り台11を注入室1内に引き入れてからゲート
バルブ4を閉じて注入室1を再度高真空化する。Next, the feed table 11 is drawn into the injection chamber 1, and the gate valve 4 is closed to bring the injection chamber 1 into high vacuum again.
前記のようにゲートバルブ4を開放したことによって注
入室1と予備真空室2とは連通し合うため、注入室1内
の真空は低下するが、大気に開放されたわけではないの
で、ゲートバルブ4を閉じたのちの、注入室1の高真空
化に要する時間は大気に開放されたときからの時間に比
較すれば遥かに短かくてすむ。When the gate valve 4 is opened as described above, the injection chamber 1 and the preliminary vacuum chamber 2 are communicated with each other, so the vacuum inside the injection chamber 1 is lowered, but the gate valve 4 is not opened to the atmosphere. The time required to create a high vacuum in the injection chamber 1 after closing the injection chamber 1 is much shorter than the time required from the time it is opened to the atmosphere.
すべての半導体基板のイオン処理がすんだときはゲート
バルブ5を開放し、送り台11を予備真空室3側に向け
て移送する。When all the semiconductor substrates have been ion-processed, the gate valve 5 is opened and the feed table 11 is moved toward the preliminary vacuum chamber 3 side.
この過程で爪41がピン42によって逆方向に傾動して
カートリッジ12との保合が解かれカートリッジ12は
送り台11からレール22に自然滑降して予備真空室3
内に入る。During this process, the claw 41 is tilted in the opposite direction by the pin 42 and is released from the cartridge 12, so that the cartridge 12 naturally slides down from the feed table 11 to the rail 22 and enters the preliminary vacuum chamber 3.
Go inside.
その後ゲートバルブ5を閉じてから、予備真空室3の扉
を開いて内部のカートリッジ12を取出す。Thereafter, after closing the gate valve 5, the door of the preliminary vacuum chamber 3 is opened and the cartridge 12 inside is taken out.
ゲートバルブ5を開いたことにより注入室1は予備真空
室3と連通ずるが、予備真空室3はあらかじめ粗引きさ
れているため大気に開放されたわけではないので、以後
の注入室1の高真空化に要する時間は、前述したと同様
に短時間ですむ。By opening the gate valve 5, the injection chamber 1 is communicated with the pre-vacuum chamber 3, but since the pre-vacuum chamber 3 has been roughly evacuated in advance and is not open to the atmosphere, the high vacuum of the injection chamber 1 thereafter The time required for conversion is short, as described above.
以上の説明は、半導体基板にイオンを注入する場合の半
導体装置の製造についてであったが、これに限られず、
たとえば半導体基板の表面に蒸着、スパッタリングなど
によって薄膜を生成して半導体装置を製造する場合でも
、この発明は適用される。The above explanation was about manufacturing a semiconductor device when ions are implanted into a semiconductor substrate, but it is not limited to this.
For example, the present invention is applicable even when a semiconductor device is manufactured by forming a thin film on the surface of a semiconductor substrate by vapor deposition, sputtering, or the like.
この場合の真空室が図の実施例に釦ける注入室に対応す
ることは言う1でもない。It goes without saying that the vacuum chamber in this case corresponds to the injection chamber in the illustrated embodiment.
以上詳述したように、この発明によれば本真空室に搬入
側及び排出側の各予備真空室を連設する構成に釦いて各
真空室間の、半導体基板を収納するカートリッジの移送
を自然滑降によるようにしたので従来のように移送のた
めの駆動機構は省略されることによって大型化、高価格
化は極力回避され、及び真空洩れの恐れのある部分がそ
れだけ少なくなることによって信頼性は向上されるよう
になるなどの効果がある。As described in detail above, according to the present invention, the main vacuum chamber is configured with the preliminary vacuum chambers on the loading side and the discharge side, so that it is possible to naturally transfer the cartridge containing the semiconductor substrate between the vacuum chambers. Since the system is operated by sliding downhill, the conventional drive mechanism for transport is omitted, thereby avoiding an increase in size and cost as much as possible, and reliability is improved by reducing the number of parts where there is a risk of vacuum leakage. It has the effect of making you feel better.
第1図はこの発明の実施例を示す側断面図、第2図は一
部の平面図、第3図は第2図の側断面図、第4図は第3
図に対応する動作状態を異にする側断面図である。
1・・・・・・主真空室(注入室)、2・・・・・・搬
入側の予備真空室、3・・・・・・搬出側の予備真空室
、4.5・・・・・・ゲートバルブ、11・・・・・・
送り台、12・・・・・・カートリッジ、21.22・
・・・・・レール、23・・・・・・コロ35・・・・
・・爪、37・・・・・・ピン。Fig. 1 is a side sectional view showing an embodiment of the invention, Fig. 2 is a partial plan view, Fig. 3 is a side sectional view of Fig. 2, and Fig. 4 is a third sectional view.
FIG. 4 is a side sectional view showing different operating states corresponding to the figures; 1...Main vacuum chamber (injection chamber), 2...Preliminary vacuum chamber on the carry-in side, 3...Preliminary vacuum chamber on the carry-out side, 4.5... ...Gate valve, 11...
Feeding base, 12... Cartridge, 21.22.
...Rail, 23...Roll 35...
...Claw, 37...Pin.
Claims (1)
隣接する搬入側及び搬出側の予備真空室と、前記主真空
室内に配置された送り台と、搬入側の予備真空室から前
記送り台に、及び前記送り台から搬出側の予備真空室に
複数の半導体基板を収納するカートリッジを自然滑降に
より移送する移送装置と、前記カートリッジを搬入側の
予備真空室から前記送り台に移送する移送装置による移
送路上に配置されであるカートリッジの自然滑降を定位
置で停止する停止装置と、前記送り台の搬入側の予備真
空室側への移送によって前記停止装置による停止を定位
置で解除する解除装置とからなる半導体装置の製造装置
。 2 停止装置が、定位置に設置されてあって一端がカー
トリッジの端部に当接するように偏倚傾動されである爪
であり、かつ解除装置は送り台に装備されてあり、前記
水をその偏倚に抗して傾動させるべく爪の他端をすくい
上げるピンである特許請求の範囲第1項記載の半導体装
置。[Scope of Claims] 1. A main vacuum chamber, preliminary vacuum chambers on the carry-in side and carry-out side adjacent to the main vacuum chamber via a gate valve, a feed stage arranged in the main vacuum chamber, and a preliminary vacuum chamber on the carry-in side. a transfer device for transferring cartridges storing a plurality of semiconductor substrates from the preliminary vacuum chamber to the conveying table and from the conveying table to the preliminary vacuum chamber on the carry-out side by natural sliding; A stop device is arranged on a transfer path by a transfer device that transfers the cartridge to the feed table, and stops the natural sliding of the cartridge at a fixed position, and the stop device stops the cartridge by transferring it to the preliminary vacuum chamber side on the carry-in side of the feed table. A semiconductor device manufacturing device comprising a release device that releases at a fixed position. 2. The stop device is a pawl installed in a fixed position and biased and tilted so that one end abuts the end of the cartridge, and the release device is mounted on the feed platform and causes the water to be deflected by the bias. 2. The semiconductor device according to claim 1, wherein the semiconductor device is a pin that scoops up the other end of the claw so as to be tilted against the pressure.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51106538A JPS5851386B2 (en) | 1976-09-06 | 1976-09-06 | Semiconductor device manufacturing equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51106538A JPS5851386B2 (en) | 1976-09-06 | 1976-09-06 | Semiconductor device manufacturing equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5331962A JPS5331962A (en) | 1978-03-25 |
| JPS5851386B2 true JPS5851386B2 (en) | 1983-11-16 |
Family
ID=14436151
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51106538A Expired JPS5851386B2 (en) | 1976-09-06 | 1976-09-06 | Semiconductor device manufacturing equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5851386B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60214526A (en) * | 1984-04-11 | 1985-10-26 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | Manufacturing equipment of semiconductor |
-
1976
- 1976-09-06 JP JP51106538A patent/JPS5851386B2/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5331962A (en) | 1978-03-25 |
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