JPS5853311B2 - Zanriyujikisokuteisouchi - Google Patents
ZanriyujikisokuteisouchiInfo
- Publication number
- JPS5853311B2 JPS5853311B2 JP2158375A JP2158375A JPS5853311B2 JP S5853311 B2 JPS5853311 B2 JP S5853311B2 JP 2158375 A JP2158375 A JP 2158375A JP 2158375 A JP2158375 A JP 2158375A JP S5853311 B2 JPS5853311 B2 JP S5853311B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetometer
- magnetic
- circuit
- measured
- magnetic field
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 claims description 11
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 claims description 5
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 10
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 8
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は被測定物の残留磁気をバックグラウンドの磁界
に影響されることなく検出しうるようにした残留磁気測
定装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a residual magnetism measuring device capable of detecting residual magnetism of an object to be measured without being influenced by a background magnetic field.
被測定物の残留磁気が非常に弱い場合には被測定物がお
かれている環境の周辺磁界のため残留磁気を磁力計でそ
のまま測定することは困難である。When the residual magnetism of the object to be measured is very weak, it is difficult to directly measure the residual magnetism with a magnetometer due to the surrounding magnetic field of the environment in which the object to be measured is placed.
それゆえ、周辺磁界を検出して、その磁界に等しい磁界
をヘルムホルツコイルにて発生させることによりバック
グランドの磁界を打消す装置が必要であった。Therefore, there is a need for a device that detects the surrounding magnetic field and cancels the background magnetic field by generating a magnetic field equal to the detected magnetic field in a Helmholtz coil.
しかるに本発明の目的は、地磁気などのバックグランド
による磁界の影響を除去するために、まず被測定物を一
方向に着磁した後、バックグランドの磁界と被測定物よ
り発する磁界を同時に測定したときの測定値と、次に、
前記方向とは逆方向より着磁した後、バックグランドの
磁界と被測定物より発する逆極性の磁界を同時に測定し
たときの測定値との測定値比較により被測定物の残留磁
気だけを測定しうるようにしたことを特徴とする残留磁
気測定装置の提供にある。However, the purpose of the present invention is to first magnetize the object to be measured in one direction, and then simultaneously measure the background magnetic field and the magnetic field emitted from the object to be measured, in order to eliminate the influence of the magnetic field due to the background such as earth's magnetism. The measured value when and then,
After magnetizing from the opposite direction to the above direction, only the residual magnetism of the object to be measured is measured by comparing the measured value with the measured value when the background magnetic field and the magnetic field of opposite polarity emitted from the object to be measured are simultaneously measured. An object of the present invention is to provide a residual magnetism measuring device characterized in that the residual magnetism can be measured.
以下、図面にて説明する。This will be explained below with reference to the drawings.
第1図は本発明装置のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of the apparatus of the present invention.
10は直流電源で、被測定物110を着磁するために必
要な電流を着磁コイル30に流すものである。Reference numeral 10 denotes a DC power supply that supplies current necessary for magnetizing the object to be measured 110 to the magnetizing coil 30.
20は着磁コイル30に流す電流の方向を切換えるため
の極性切換回路であり、極性切換回路20の中のスイッ
チsw1.sw3はタイミングコントロール回路50の
指令によってON。20 is a polarity switching circuit for switching the direction of the current flowing through the magnetizing coil 30, and the switch sw1. sw3 is turned ON by a command from the timing control circuit 50.
OFFする。Turn off.
40は磁力計で、残留磁気を測定するために使用する。40 is a magnetometer used to measure residual magnetism.
この磁力計40には各種フラックスゲート形磁力計、各
種磁性薄膜磁力計、各種フラックスゲート形磁性薄膜マ
グネットメータがありその他、磁性薄膜磁力計、磁気マ
ルチ形磁力計、ホール素子などもある。The magnetometer 40 includes various fluxgate type magnetometers, various types of magnetic thin film magnetometers, and various types of fluxgate type magnetic thin film magnetometers, and also includes magnetic thin film magnetometers, magnetic multi-type magnetometers, Hall elements, and the like.
60は選択回路で、磁力計40にて測定された磁界が電
気信号となり、この電気信号の送り先はタイミングコン
トロール回路50の指令により決定される。Reference numeral 60 denotes a selection circuit, in which the magnetic field measured by the magnetometer 40 becomes an electrical signal, and the destination of this electrical signal is determined by a command from the timing control circuit 50.
選択回路60の中に含まれているスイッチSW2.SW
4は磁力計40の出力を第1ホールド回路70へ送り出
すか第2ホールド回路80に送り出すかを決定する。Switch SW2 included in the selection circuit 60. SW
4 determines whether the output of the magnetometer 40 is sent to the first hold circuit 70 or the second hold circuit 80.
90は演算器で、第1ホールド回路70の出力と第2ホ
ールド回路80の出力との差又は和を演算する。A computing unit 90 computes the difference or sum between the output of the first hold circuit 70 and the output of the second hold circuit 80.
そして、その演算結果は表示回路100に入力されて、
そのまま表示されるかあるいは公知の微分回路、フィル
ター回路、同調増巾器を通って信号処理された後表示さ
れる。Then, the calculation result is input to the display circuit 100,
The signal may be displayed as is, or it may be displayed after signal processing through a known differentiation circuit, filter circuit, or tuning amplifier.
次に、測定要領について第2図に示す動作順序説明図を
参考にしながら説明する。Next, the measurement procedure will be explained with reference to the operation sequence explanatory diagram shown in FIG. 2.
第2図に示す周期的に繰り返されるパルス列P1〜P4
はタイミングコントロール回路50から出る指令パルス
を時間軸上に並べたものである。Periodically repeated pulse train P1 to P4 shown in FIG.
The command pulses output from the timing control circuit 50 are arranged on the time axis.
図かられかるようにまず、始めに指令パルスP1が出る
とスイッチSW1が導通状態ONになる。As can be seen from the figure, first, when a command pulse P1 is issued, the switch SW1 is turned on.
このことは直流電源10と着磁コイル30が接続された
状態にあることを示し、ここではこの状態をN方向の着
磁と呼ぶことにする。This indicates that the DC power supply 10 and the magnetizing coil 30 are in a connected state, and this state will be referred to herein as N-direction magnetization.
ところが、N方向に着磁された被測定物110の磁束レ
ベルはスイッチSW1が不導通OFFになると、残留磁
束値にまでさがる。However, the magnetic flux level of the object to be measured 110 magnetized in the N direction decreases to the residual magnetic flux value when the switch SW1 is turned off.
そして、この時の磁束値をBrとおく。The magnetic flux value at this time is set as Br.
次に、指令パルスP2によって、SW2がONになり磁
力計40が測定した周辺磁界Hsと被測定物110から
発する磁界Hrとの和Hs+Hrに対応する電気信号は
第1ホールド回路70に入力されスイッチSW2がOF
Fになった後もその値をホールド或は記憶している。Next, SW2 is turned ON by the command pulse P2, and an electric signal corresponding to the sum Hs+Hr of the surrounding magnetic field Hs measured by the magnetometer 40 and the magnetic field Hr emitted from the object to be measured 110 is input to the first hold circuit 70 and switched SW2 is OF
Even after reaching F, the value is held or stored.
次に指令パルスP3によって極性切換回路20のスイッ
チSW8がONになると、スイッチSW1がONの場合
とは逆の方向に電流が流れるように直流電源10と着磁
コイル30は接続されるので、被測定物110は逆方向
に着磁されることになる。Next, when the switch SW8 of the polarity switching circuit 20 is turned ON by the command pulse P3, the DC power supply 10 and the magnetizing coil 30 are connected so that the current flows in the opposite direction to that when the switch SW1 is ON. The measurement object 110 will be magnetized in the opposite direction.
そしてこれをS方向の着磁と呼ぶことにする。This will be referred to as S-direction magnetization.
スイッチSW3がOFFになるとS方向の着磁は完了し
、次に指令パルスP4によってスイッチSW4はONに
なる。When the switch SW3 is turned OFF, magnetization in the S direction is completed, and then the switch SW4 is turned ON by the command pulse P4.
この場合、磁力計40が測定する磁界はHs−Hrとな
る。In this case, the magnetic field measured by the magnetometer 40 is Hs-Hr.
そして、これに対応する電気信号は第2ホールド回路8
0に入力される。The electrical signal corresponding to this is then sent to the second hold circuit 8.
It is input to 0.
例えば、演算器90が減算器である場合には、その出力
において(Hs+Hr )−(Hs−Hr )=2Hr
に対応する電気信号が得られることになる。For example, if the arithmetic unit 90 is a subtracter, at its output (Hs+Hr)-(Hs-Hr)=2Hr
An electrical signal corresponding to this will be obtained.
この2Hrは残留磁束値の2倍、即ち2Brと相関関係
にあることよりこの電気信号に対して、所要の較正をす
れば周辺磁界Hsに無関係にBrを正確に測定できるこ
とになる。Since this 2Hr has a correlation with twice the residual magnetic flux value, that is, 2Br, it is possible to accurately measure Br regardless of the surrounding magnetic field Hs by performing the necessary calibration for this electric signal.
第3図は本発明に使用する磁力計40のひとつとして磁
気発振形磁力計の回路について示している。FIG. 3 shows the circuit of a magnetic oscillation type magnetometer as one of the magnetometers 40 used in the present invention.
この磁気発振形磁力計は、磁心1とスイッチングトラン
ジスタQ1あるいはQl、Q2からなる回路においてス
イッチングトランジスタのON。This magnetic oscillation type magnetometer has a circuit consisting of a magnetic core 1 and switching transistors Q1, Ql, and Q2, in which the switching transistors are turned on.
OFFを磁心1の不飽和領域における非線形特性によっ
て行なわせ、この回路に挿入したダミー抵抗Roの端子
間電圧eoutより磁心1に印加する磁界Hs±Hrに
関する情報を検出しうるようにした磁力計である。This magnetometer is configured to turn off by nonlinear characteristics in the unsaturated region of the magnetic core 1, and to detect information regarding the magnetic field Hs±Hr applied to the magnetic core 1 from the voltage eout between the terminals of a dummy resistor Ro inserted in this circuit. be.
第3図aは単一のスイッチングトランジスタによって構
成された磁気発振形磁力計を示す。FIG. 3a shows a magnetic oscillation type magnetometer constructed by a single switching transistor.
磁心1の磁束レベルは磁界Hs±Hrによって規定され
ることは明らかである。It is clear that the magnetic flux level of the magnetic core 1 is defined by the magnetic field Hs±Hr.
そこで、まず電源Edが印加されると、電流はEdの正
極よりバイアス用抵抗RB5を通ってトランジスタQ1
のペースに流れ、ダミー抵抗ROを通ってEdの負極に
入る。Therefore, when the power supply Ed is first applied, the current flows from the positive terminal of Ed through the bias resistor RB5 to the transistor Q1.
flows at the pace of , passes through the dummy resistor RO and enters the negative electrode of Ed.
この電流によってコレクタ電流がQ1→RO→Ed→コ
イル3を通って流れて、コイル2に電圧が誘起され、そ
の結果、トランジスタQ1のベース電流を増加させる。This current causes a collector current to flow through Q1→RO→Ed→coil 3, and a voltage is induced in coil 2, thereby increasing the base current of transistor Q1.
即ち、正帰還作用によってトランジスタQ1のコレクタ
電流は急増しトランジスタQ、は導通ずる。That is, due to the positive feedback effect, the collector current of the transistor Q1 increases rapidly, and the transistor Q becomes conductive.
ところが磁心1は不飽和領域における非線形特性である
ためコレクタ電流の増加にともなって磁心1の微分透磁
率の値は次第に小さくなり、コイル2における誘起電圧
は低くなってトランジスタQ1のコレクタ電流は減少し
、ついにはトランジスタQ1は不導通となる。However, since the magnetic core 1 has nonlinear characteristics in the unsaturated region, the value of the differential permeability of the magnetic core 1 gradually decreases as the collector current increases, the induced voltage in the coil 2 decreases, and the collector current of the transistor Q1 decreases. , finally transistor Q1 becomes non-conductive.
そして、この時点ではコレクタ電流は流れていないため
、磁心1の磁束レベルは最初の磁束レベルに戻ることに
なる。Since no collector current is flowing at this point, the magnetic flux level of the magnetic core 1 returns to the initial magnetic flux level.
以上のサイクルを周期的に繰り返えすことにより磁気発
振が生起する。Magnetic oscillation occurs by periodically repeating the above cycle.
そして、この磁気発振回路では、被測定磁界のレベル変
動がダミー抵抗ROの端子間電圧eoutの平均値の変
化に変換される特徴があるので、eoutの平均値より
磁界Hs±Hrの強さと極性を知ることができるのであ
る。In this magnetic oscillation circuit, the level fluctuation of the magnetic field to be measured is converted into a change in the average value of the voltage eout between the terminals of the dummy resistor RO, so the strength and polarity of the magnetic field Hs±Hr are It is possible to know.
第3図すは2個のトランジスタQl、Q2を用いた磁気
発振形磁力計の実施例を示す。FIG. 3 shows an embodiment of a magnetic oscillation type magnetometer using two transistors Ql and Q2.
磁界Hs±Hrは図に示す方向より磁心1に印加される
ようにする。The magnetic field Hs±Hr is applied to the magnetic core 1 from the direction shown in the figure.
第3図Cは第3図すに示す回路において4個のコイル2
,3,4,5を2個のコイル2,3に減じた場合の実施
例である。Figure 3C shows four coils 2 in the circuit shown in Figure 3S.
, 3, 4, 5 are reduced to two coils 2, 3.
尚、磁気発振動作はトランジスタQ1.Q1が交互にO
N、OFFを繰り返すところだけを注意すれば第3図a
の動作説明によって容易に理解できるので省く。Note that the magnetic oscillation operation is performed by the transistor Q1. Q1 is alternately O
If you pay attention only to repeating N and OFF, Figure 3a
It is omitted because it can be easily understood by explaining the operation.
以上の説明から明らかなように本発明装置は残留磁束値
による品質管理、ステンレス鋼材中のフェライト量の測
定、異材識別あるいは検出、磁性非磁性の識別などに広
く応用できる。As is clear from the above description, the apparatus of the present invention can be widely applied to quality control based on residual magnetic flux values, measurement of the amount of ferrite in stainless steel materials, discrimination or detection of foreign materials, discrimination of magnetic and non-magnetic materials, etc.
第1図は本発明装置のブロック図、第2図は本発明装置
の動作説明図、第3図は本発明装置の実施に使用する磁
力計の実施例を示し、第3図aは単一のスイッチングト
ランジスタによって構成した場合の磁気発振形磁力計、
第3図すは2個のスイッチングトランジスタによって構
成した場合の磁気発振形磁力計、第3図Cは第3図すの
実施例における4個のコイルを2個にして構成した場合
の磁気発振形磁力計を夫々示すものである。
10は直流電源、60は選択回路、20は極性切換回路
、30は着磁コイル、40は磁力計、50はタイミング
コントロール回路、10は第1ホールド回路、80は第
2ホールド回路、90は演算器、100は表示回路、1
10は被測定物。Fig. 1 is a block diagram of the device of the present invention, Fig. 2 is an explanatory diagram of the operation of the device of the present invention, Fig. 3 shows an embodiment of a magnetometer used in implementing the device of the present invention, and Fig. 3a shows a single A magnetic oscillation magnetometer configured with switching transistors,
Figure 3 shows a magnetic oscillation type magnetometer configured with two switching transistors, and Figure 3C shows a magnetic oscillation type magnetometer configured with two instead of the four coils in the embodiment shown in Figure 3. Each shows a magnetometer. 10 is a DC power supply, 60 is a selection circuit, 20 is a polarity switching circuit, 30 is a magnetizing coil, 40 is a magnetometer, 50 is a timing control circuit, 10 is a first hold circuit, 80 is a second hold circuit, 90 is a calculation 100 is a display circuit, 1
10 is the object to be measured.
Claims (1)
と、着磁方向を切換えるための極性切換回路と、着磁後
の磁気を測定するための磁力計と、この磁力計の出力を
仕分けするための選択回路と前記磁力計の測定値を記憶
するための第1及び第2ホールド回路と、この2個のホ
ールド回路の出力を演算するための演算器と、この演算
器の出力を表示するための表示回路と、上記各回路の動
作順序を制御するためのタイミングコントロール回路と
により構成されたことを特徴とする残留磁気測定装置。1. A DC power supply for magnetizing the object to be measured, a magnetizing coil, a polarity switching circuit for switching the magnetization direction, a magnetometer for measuring the magnetism after magnetization, and the output of this magnetometer. a selection circuit for sorting, first and second hold circuits for storing the measured values of the magnetometer, an arithmetic unit for calculating the outputs of these two hold circuits, and an output of this arithmetic unit. What is claimed is: 1. A residual magnetism measuring device comprising: a display circuit for displaying the above information; and a timing control circuit for controlling the order of operation of each of the above circuits.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2158375A JPS5853311B2 (en) | 1975-02-21 | 1975-02-21 | Zanriyujikisokuteisouchi |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2158375A JPS5853311B2 (en) | 1975-02-21 | 1975-02-21 | Zanriyujikisokuteisouchi |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5196364A JPS5196364A (en) | 1976-08-24 |
| JPS5853311B2 true JPS5853311B2 (en) | 1983-11-28 |
Family
ID=12059046
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2158375A Expired JPS5853311B2 (en) | 1975-02-21 | 1975-02-21 | Zanriyujikisokuteisouchi |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5853311B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63165716U (en) * | 1987-04-17 | 1988-10-28 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2512159B2 (en) * | 1989-07-05 | 1996-07-03 | 株式会社日立製作所 | Foreign matter inspection device |
-
1975
- 1975-02-21 JP JP2158375A patent/JPS5853311B2/en not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63165716U (en) * | 1987-04-17 | 1988-10-28 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5196364A (en) | 1976-08-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4515905B2 (en) | Magnetic bridge type current sensor, magnetic bridge type current detection method, and magnetic bridge used in the sensor and detection method | |
| US4859944A (en) | Single-winding magnetometer with oscillator duty cycle measurement | |
| EP0376977A4 (en) | Frequency difference digital compass and magnetometer | |
| CN103529267A (en) | Current transducer for measuring a current | |
| GB2324609A (en) | System of determining a magnetic characteristic of a sample of material | |
| US20190331714A1 (en) | Current sensing method and current sensor | |
| JPS5853311B2 (en) | Zanriyujikisokuteisouchi | |
| JP2013015351A (en) | Magnetic field detecting device, and ambient magnetic field cancelling method | |
| US3349323A (en) | Apparatus and methods employing magnetic reed switches and static and varying bias fields for detecting magnetic phenomena | |
| JP3318762B2 (en) | Electronic compass | |
| US6538432B1 (en) | Hysteresis loop tracer with symmetric balance coil | |
| JP2617570B2 (en) | Magnetic measuring device | |
| JPH09105772A (en) | Magnetic detection device and magnetic detection method | |
| JPS625173A (en) | Method and apparatus for mixing amount in paramagnetic substance base | |
| JP3666464B2 (en) | Proximity sensor | |
| USH471H (en) | Remnant field detector | |
| SU873101A1 (en) | Automatic ferro-probe coecimeter | |
| US20180364081A1 (en) | Magneto-inductive flow measuring device | |
| JPS6411149B2 (en) | ||
| JPH0732565U (en) | Eddy current flaw detector | |
| SU1204973A1 (en) | Apparatus for measuring magnetic characteristics of magneto-rigid coatings | |
| JPH0247557A (en) | Current detecting apparatus | |
| SU1700491A1 (en) | Device for measuring direct current | |
| JP2000329835A (en) | Magnetic detection device and magnetic detection method | |
| SU516007A1 (en) | Magnetometer |