JPS58659B2 - 質量分析計用イオン源およびその製作方法 - Google Patents
質量分析計用イオン源およびその製作方法Info
- Publication number
- JPS58659B2 JPS58659B2 JP51044493A JP4449376A JPS58659B2 JP S58659 B2 JPS58659 B2 JP S58659B2 JP 51044493 A JP51044493 A JP 51044493A JP 4449376 A JP4449376 A JP 4449376A JP S58659 B2 JPS58659 B2 JP S58659B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion source
- electrode
- ionization chamber
- glass
- ion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は質量分析計用イオン源の改良とその製作方法に
関するものである。
関するものである。
従来使用されている質量分析計用イオン源は各種電極板
間を電気的に絶縁するためのスペーサーを挾み絶縁され
た支柱で連結して1体に構成したものであった。
間を電気的に絶縁するためのスペーサーを挾み絶縁され
た支柱で連結して1体に構成したものであった。
第1図、第2図はその1例を示す図で、第1図はその正
面図、第2図は第1図のA−A’断面図である。
面図、第2図は第1図のA−A’断面図である。
第1図において、イオン化室1内で試料気体が電子衝撃
によってイオン化され、引出し電極2によって引き出さ
れてイオンビーム12を生ずる。
によってイオン化され、引出し電極2によって引き出さ
れてイオンビーム12を生ずる。
このイオンビームは加速電極3、アース電極4で加速集
束され出射スリット5から出て質量分析計の分析管内を
進む。
束され出射スリット5から出て質量分析計の分析管内を
進む。
第2図に示すように、上記各電極や出射スリットは各々
2個の取付用円孔をもっている半円形の不銹鋼板(非磁
性材)で作られており、その対向する辺には刃先を設け
ていた。
2個の取付用円孔をもっている半円形の不銹鋼板(非磁
性材)で作られており、その対向する辺には刃先を設け
ていた。
」1記出射スリツト5には電圧を印加する必要はないが
、その他の電極板には所定の電圧が加えられる。
、その他の電極板には所定の電圧が加えられる。
特に、引出し電極2の左右電極板には異なる電圧が印加
できそれを調節してイオンビート12の出射方向を微調
整するようにしている。
できそれを調節してイオンビート12の出射方向を微調
整するようにしている。
別型式のイオン源においては出射スリット5を分離して
設置するものもあるが、イオン源全体としての構成作用
は同じである。
設置するものもあるが、イオン源全体としての構成作用
は同じである。
上記イオン源を組立てるには、まず、イオン化室1、各
種電極2,3.4および出射スリット5の孔にねじを切
った金属支柱6を入れ、この支柱に更に細長い碍子管9
をはめ込む。
種電極2,3.4および出射スリット5の孔にねじを切
った金属支柱6を入れ、この支柱に更に細長い碍子管9
をはめ込む。
次に、各板の間に所要寸法の高さをもち上記碍子管9に
はめこむこ吉ができる絶縁材よりなるスペーサー8を夾
む。
はめこむこ吉ができる絶縁材よりなるスペーサー8を夾
む。
イオン化室1および出射スリット5の外側には適当な高
さの絶縁管Tを挾みワッシャ10を介してナツト11で
締め付ける。
さの絶縁管Tを挾みワッシャ10を介してナツト11で
締め付ける。
このとき各刃先の間隙の中心は一致し、刃先の段差喰い
違いが生じないように調節組立てる。
違いが生じないように調節組立てる。
このイオン源は支柱6を利用して質量分析計の分析部に
取付けられる。
取付けられる。
第3図は質量分析δ1−のイオン光学系を説明する図で
ある。
ある。
イオン源より発生したイオンビーム12は、図示を省略
している分析管内を進むと磁場13でその軌道が曲げら
れ、分析管の他端にあるコレクタースリット16から取
り出され検知される。
している分析管内を進むと磁場13でその軌道が曲げら
れ、分析管の他端にあるコレクタースリット16から取
り出され検知される。
質量分析計における分析性能(感度、分解能、M/e範
囲)を設計値通りに発揮するのは磁場とスリットの関係
位置が理論値通りに糾み立てられており、これに対し入
射するイオンビームは正規のイオン軌道14の方向に入
ったときである。
囲)を設計値通りに発揮するのは磁場とスリットの関係
位置が理論値通りに糾み立てられており、これに対し入
射するイオンビームは正規のイオン軌道14の方向に入
ったときである。
もしイオン源の組立てが不良であるかその取付は調整法
が不十分で出射されたイオンが外れたイオン軌道15を
通るときは所期の分析性能を得ることができない。
が不十分で出射されたイオンが外れたイオン軌道15を
通るときは所期の分析性能を得ることができない。
上記従来の質量分析計のイオン源は、各電極板等を正確
な厚さと平行度をもつように作っておかないとスリット
刃先が喰い違ってイオンビームを偏向させることになる
。
な厚さと平行度をもつように作っておかないとスリット
刃先が喰い違ってイオンビームを偏向させることになる
。
また、上記電極等の厚さを等しくしたとしてもその間に
挾むスペーサーの寸法と平行度が揃っていなければなら
ない。
挾むスペーサーの寸法と平行度が揃っていなければなら
ない。
特にこのスペーサーは外径が10mm以下の小さい環状
のものであるので、その両端面の平行度と高さの等しい
ものを選別して組立てなければならないし、この作業に
は多大の労力と経験を要する。
のものであるので、その両端面の平行度と高さの等しい
ものを選別して組立てなければならないし、この作業に
は多大の労力と経験を要する。
もし上記電極板とスペーサーの誤差が積み重なってスリ
ット刃先の段差が大きくなったときは、イオン源全体の
取付けや引出し電極の左右電極板に加える電圧を加減し
てももはやイオンビーム出射方向を修正することができ
なくなるからである。
ット刃先の段差が大きくなったときは、イオン源全体の
取付けや引出し電極の左右電極板に加える電圧を加減し
てももはやイオンビーム出射方向を修正することができ
なくなるからである。
以−ヒのように従来のイオン源は構成部品の工作とその
組立て調整に多大の経費を要していた。
組立て調整に多大の経費を要していた。
また、イオン源は実験している間に試料の分解物が付着
して汚染するので、イオン源を取りはずして洗浄除去1
.なければならない。
して汚染するので、イオン源を取りはずして洗浄除去1
.なければならない。
完全に洗浄するときは一旦イオン源を解体し再組立てす
るが、そのとき初期の組立て精度を再現することは困難
であった。
るが、そのとき初期の組立て精度を再現することは困難
であった。
本発明のL1的は上記従来のイオン源の欠点を除き、加
工度の少い安価な部品を使用し、組立調整が容易でかつ
高精度である質量分析計用イオ゛ン源とその製法を提供
するにある。
工度の少い安価な部品を使用し、組立調整が容易でかつ
高精度である質量分析計用イオ゛ン源とその製法を提供
するにある。
本発明の要点は、薄い不銹鋼状から正確な形状で互換性
ある各種電極板を作り、その時電極板等に設けた共通の
孔に組立て用治具を通ずと共に、各電極板間には所定の
間隔を保持させるための雇いブロックを挿入しこの状態
で各電極板を支持部利である金属線とガラスとを用いて
融着固定するものである。
ある各種電極板を作り、その時電極板等に設けた共通の
孔に組立て用治具を通ずと共に、各電極板間には所定の
間隔を保持させるための雇いブロックを挿入しこの状態
で各電極板を支持部利である金属線とガラスとを用いて
融着固定するものである。
電極板とガラスを直接固定することは両者の膨張係数が
大きく異なり、直接融着させることはできないので、ガ
ラスと融着可能な金属線を電極に溶接しておきその金属
線を棒状ガラスに融着させるようにしてイオン源を構成
させるもので、その後使用した治具や雇いブロックは取
りはずす。
大きく異なり、直接融着させることはできないので、ガ
ラスと融着可能な金属線を電極に溶接しておきその金属
線を棒状ガラスに融着させるようにしてイオン源を構成
させるもので、その後使用した治具や雇いブロックは取
りはずす。
以上のようにすれば互換性ある高精度のイオン源が安価
に製作できることになり、このイオン源が汚染したとき
は使い捨て交換して実験能率を高めるということもげ能
となる。
に製作できることになり、このイオン源が汚染したとき
は使い捨て交換して実験能率を高めるということもげ能
となる。
以F本発明のイオン源の構成および製作法を図によって
説明する。
説明する。
第4図は本発明1実施例であるイオン源の構造を示す正
面図であり、第5図はそのB−B’断面図である。
面図であり、第5図はそのB−B’断面図である。
突出部内にイオンを発生させる機構をもつイオン化室2
1の下に引出し電極22があり、これは2片に分離して
スリットを形成している。
1の下に引出し電極22があり、これは2片に分離して
スリットを形成している。
次に、加速電極23、アース電極24は各々その中央に
孔29をもっている1枚の板であり、出射スリット板2
5は中央に狭いスリット孔30をもつ1枚の板である。
孔29をもっている1枚の板であり、出射スリット板2
5は中央に狭いスリット孔30をもつ1枚の板である。
以上のイオン化室、各種電極板および出射スリット板は
すべて非磁性体である不銹鋼板、例えばSUS 304
の0.2朋程度の薄板で作られている。
すべて非磁性体である不銹鋼板、例えばSUS 304
の0.2朋程度の薄板で作られている。
上記各電極板等には金属線27が各々溶接されており、
この金属線2Tは4本のガラス支柱26に融着して1体
のイオン源を形成している。
この金属線2Tは4本のガラス支柱26に融着して1体
のイオン源を形成している。
上記ガラス支柱26のガラス種類と金属線27の材質は
その膨張係数の関係から下記の絹合わせが用いられる。
その膨張係数の関係から下記の絹合わせが用いられる。
例えば、フエルニコガラスとフエルニコ合金線、硬質ガ
ラスとモリブデン線、タングステンガラスとタングステ
ン線等である。
ラスとモリブデン線、タングステンガラスとタングステ
ン線等である。
しかし、以上の糾合わせに限るものではなく、不銹鋼板
番こ溶接可能で各種ガラスに融着できる金属線または金
属板であれば電極板等とガラス支柱を接続固定するため
に用いることが可能である。
番こ溶接可能で各種ガラスに融着できる金属線または金
属板であれば電極板等とガラス支柱を接続固定するため
に用いることが可能である。
更に、−上記金属線を1種類の材質のものでなく、例え
ばニッケル線とフエルニコ合金線を途中で接続したもの
を用い、電極板−ニッケル線−フエルニコ合金線−フエ
ルニコガラスの組合わせにしても差支えない。
ばニッケル線とフエルニコ合金線を途中で接続したもの
を用い、電極板−ニッケル線−フエルニコ合金線−フエ
ルニコガラスの組合わせにしても差支えない。
一上記各電極板等にはすべて共通した治具挿入孔28が
あけられ、イオン化室21、引出し電極22を除いて各
電極板23.24にはイオンビーム仕29が、出射スリ
ット板25にはスリット30が開けられている。
あけられ、イオン化室21、引出し電極22を除いて各
電極板23.24にはイオンビーム仕29が、出射スリ
ット板25にはスリット30が開けられている。
これらの孔の工作および外形の寸法を揃えるには専用の
金型を用いて打抜いて製作するか、あるいは所定の図形
を印刷した後その図形を化学的に腐蝕させる方法によっ
て同寸法に精密に加圧できるのでq換性あるものが製作
できる。
金型を用いて打抜いて製作するか、あるいは所定の図形
を印刷した後その図形を化学的に腐蝕させる方法によっ
て同寸法に精密に加圧できるのでq換性あるものが製作
できる。
各電極板の型針は1〜2g程度であるので、それを支持
する上記金属線27の線径は0、51nm程度の剛性細
線で十分に支持固定することができる。
する上記金属線27の線径は0、51nm程度の剛性細
線で十分に支持固定することができる。
また、引出し電極22は左右極板に異なる電圧を印加す
る心安上別個に取付けられるが、各柱板の重さは1g以
下−であるので、2本の金属線27で固定すれば十分安
定に支持できることを実験によって確かめている。
る心安上別個に取付けられるが、各柱板の重さは1g以
下−であるので、2本の金属線27で固定すれば十分安
定に支持できることを実験によって確かめている。
第6図は本発明のイオン源を治具を用いて組立て製作す
る方法を示す正面図であり、第1図はその平面図である
。
る方法を示す正面図であり、第1図はその平面図である
。
まず、金属製の台31上に両端にねじを切った4本の金
属製の軸33を立てる。
属製の軸33を立てる。
この軸の外径は第5図に示すイオン源のイオン化室、各
種電極板、イオン化室等が具えている孔28の径よりわ
ずかに小さく、ガタつくことなく嵌め込まれるように作
られている。
種電極板、イオン化室等が具えている孔28の径よりわ
ずかに小さく、ガタつくことなく嵌め込まれるように作
られている。
次に、出射スリット25を軸33を通して台31上に押
し込み、その上に出射スリット板とアース電極の間隔と
等しい厚さに製作された雇いブロック36を第7図のよ
うに左右1組載せる。
し込み、その上に出射スリット板とアース電極の間隔と
等しい厚さに製作された雇いブロック36を第7図のよ
うに左右1組載せる。
その−トにアース電極24を軸を通して雇いブロック3
6−Lに載せる。
6−Lに載せる。
このようにして各種電極間隔と等しい厚さの雇いブロッ
クと各種電極板およびイオン化室を置き、最後に、押え
板32を載せてワッシャ35を介してナツト34で締め
Hける。
クと各種電極板およびイオン化室を置き、最後に、押え
板32を載せてワッシャ35を介してナツト34で締め
Hける。
各電極板等には金属線27が溶接しであるので、この金
属線にガラス支柱26を近づけて小さな炎で加熱して金
属線とガラスとを融着させる。
属線にガラス支柱26を近づけて小さな炎で加熱して金
属線とガラスとを融着させる。
このときガラス棒を用いずに各金属線間を軟化したガラ
スによって順次連結してガラス支柱26を形成させるよ
うにしても良い。
スによって順次連結してガラス支柱26を形成させるよ
うにしても良い。
以上のごとく1体のイオン源を構成させたならば、ナツ
ト34、ワッシャ35、押え板32を取りはずし、各雇
いブロック36を横方向に抜き取ってイオン源をガラス
支柱26を持って引上げれば第4図、第5図に示オーイ
オン源が得られる。
ト34、ワッシャ35、押え板32を取りはずし、各雇
いブロック36を横方向に抜き取ってイオン源をガラス
支柱26を持って引上げれば第4図、第5図に示オーイ
オン源が得られる。
なお、上記イオン源を質量分析計の分析管部に取付ける
には、例えば出射スリット25に支持金具を取りつけて
この支持金具を分析管内部に固定する。
には、例えば出射スリット25に支持金具を取りつけて
この支持金具を分析管内部に固定する。
以上本実施例のイオン源は、イオン化室、各種電極板、
出射スリンl[i等の各部品が統 した寸法に精度良く
作られており、その組立法も治具、雇い等を使用してい
るので高精度に製作することができる。
出射スリンl[i等の各部品が統 した寸法に精度良く
作られており、その組立法も治具、雇い等を使用してい
るので高精度に製作することができる。
また、その製作費は成程度箭産されれば安価であるとい
う効果がある。
う効果がある。
実際にこのイオン源を質量分析計に組込んで使用すると
きは、各種電極間は開放空間になっているので、従来の
イオン源に比べてガス通路を隋書するものがなく排気効
率が良いという利点も併せもっている。
きは、各種電極間は開放空間になっているので、従来の
イオン源に比べてガス通路を隋書するものがなく排気効
率が良いという利点も併せもっている。
第8図は本発明の他の実施例であるイオン源の正面図、
第9図は第8図のC−C’断面図である。
第9図は第8図のC−C’断面図である。
本実施例のイオン源はイオン化室21、各種電極22.
23.24および出射スリット25は上記第4図と同一
部品を使用し、イオン化室から加速電極までは上記実施
例と同じ方法で治具等を使用して1体化したものである
。
23.24および出射スリット25は上記第4図と同一
部品を使用し、イオン化室から加速電極までは上記実施
例と同じ方法で治具等を使用して1体化したものである
。
そして加速電極から出射スリットまでは従来の方法であ
る絶縁スベ、−サー8、碍子管9および支柱6を用いて
組立てたものである。
る絶縁スベ、−サー8、碍子管9および支柱6を用いて
組立てたものである。
なお、上記硝子管9の外径は上記加速電極板、アース電
極板および出射スリット板が持っている孔28に隙間な
く嵌合するごとく作られている。
極板および出射スリット板が持っている孔28に隙間な
く嵌合するごとく作られている。
以上本実施例のイオン源の効果は、イオン化室に近く最
も汚染し易い部分を交換し易くシ、この部分の洗浄再使
用あるいは使い捨て交換も考慮した安価なイオン源とし
た点にある。
も汚染し易い部分を交換し易くシ、この部分の洗浄再使
用あるいは使い捨て交換も考慮した安価なイオン源とし
た点にある。
上記2つの実施例は3枚以上の極板をガラス支柱で1体
化したものであるが、例えばイオン化室21と引出し電
極22だけを1体化し、この部分を交換容易にしたもの
でも良い。
化したものであるが、例えばイオン化室21と引出し電
極22だけを1体化し、この部分を交換容易にしたもの
でも良い。
以上本発明は一様に加工された互換性ある部品を半ば量
産し、組立治具を用いて熟練を要せずに支持部材によっ
て組立調整できる高精度で安価な質量分析用用イオン源
を製作するに顕著な効果をもっている。
産し、組立治具を用いて熟練を要せずに支持部材によっ
て組立調整できる高精度で安価な質量分析用用イオン源
を製作するに顕著な効果をもっている。
更に、上記安価なイオン源を提供することによって汚染
した部分を交換し質量分析計による実験能率を向上させ
るという効果も生ずる1
した部分を交換し質量分析計による実験能率を向上させ
るという効果も生ずる1
第1図は従来の質量分析計のイオン源の正面図第2図は
第1図のA−A、’断面図、第3図は質量分析計のイオ
ン光学系の説明図、第4図は本発明の1実施例であるイ
オン源の正面図、第5図は第4図のB−B’断面図、第
6図は第4図のイオン源の組立て法を示す正面図、第7
図は第6図の平面図、第8図は本発明の他の実施例であ
るイオン源の正面図、第9図は第8図のc−c’断面図
である。 符号の説明1.1,21・・・・・・イオン化室、2゜
22・・・・・・引出し電極、3,23・・・・・・加
速電極、4゜24・・・・・・アース電極、5.25・
・・・・・出射スリット、6・・・・・・支柱、7・・
・・・・絶縁管、8・・・・・・スペーサー、9・・・
・・・碍子管、35.10・・・・・・ワッシャ、34
゜11・・・・・・ナツト、12・・・・・・イオンビ
ーム、13・・・・・・磁場、14・・・・・・正規の
イオン軌道、15・・・・・・外れたイオン軌道、16
・・・・・・コレクタースリット、26・・・・・・ガ
ラス支柱、2γ・・・・・・金属線、28・・・・・・
孔、30・・・・・・スリット、31・・・・・・台、
32・・・・・・押え板、33・・・・・・軸、36.
・・・・・雇いブロック。
第1図のA−A、’断面図、第3図は質量分析計のイオ
ン光学系の説明図、第4図は本発明の1実施例であるイ
オン源の正面図、第5図は第4図のB−B’断面図、第
6図は第4図のイオン源の組立て法を示す正面図、第7
図は第6図の平面図、第8図は本発明の他の実施例であ
るイオン源の正面図、第9図は第8図のc−c’断面図
である。 符号の説明1.1,21・・・・・・イオン化室、2゜
22・・・・・・引出し電極、3,23・・・・・・加
速電極、4゜24・・・・・・アース電極、5.25・
・・・・・出射スリット、6・・・・・・支柱、7・・
・・・・絶縁管、8・・・・・・スペーサー、9・・・
・・・碍子管、35.10・・・・・・ワッシャ、34
゜11・・・・・・ナツト、12・・・・・・イオンビ
ーム、13・・・・・・磁場、14・・・・・・正規の
イオン軌道、15・・・・・・外れたイオン軌道、16
・・・・・・コレクタースリット、26・・・・・・ガ
ラス支柱、2γ・・・・・・金属線、28・・・・・・
孔、30・・・・・・スリット、31・・・・・・台、
32・・・・・・押え板、33・・・・・・軸、36.
・・・・・雇いブロック。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 試料気体を電子で衝撃してイオン化するイオン化室
と、このイオン化室内に発生したイオンビームを取出す
引出し電極と、上記イオンビームを加速集束する加速電
極およびアース電極と、上記イオン化室および上記各種
電極を電気的に絶縁支持する支持部材とを具えた質量分
析計用イオン源において、上記支持部材を上記各種電極
の外側に設けたガラス支柱と、そのガラス支柱と上記電
極とを接続する中間部材とで構成したことを特徴とする
質量分析用イオン源。 2、特許請求の範囲第1項において、上記各種電極の中
小なくとも2種の電極板を」二記ガラス支柱とh部中間
部材とで一体化したことを特徴とする質量分析計用イオ
ン源。 3 特許請求の範囲第1項において、上記イオン化室お
よび各種電極板を不銹鋼製とし、−上記ガラス支柱と上
記不銹鋼板との間に、上記ガラスとは融着可能で上記不
銹鋼板とは溶接可能な金属線を介して一体化したことを
特徴とする質量量分析語用イオン源。 4 試料気体を電子で衝撃してイオン化するイオン化室
と、このイオン化室内に発生したイオンビームを取出す
引出し電極と、上記イオンビームを加速集束する加速電
極およびアース電極と、上記各種電極を電気的に絶縁支
持する支持部材とを具えた質量分析計用イオン源の製作
方法において、上記各種電極の位置および間隔を治具お
よび雇いブロックを使用して所定の位置間隔を保持し、
上記各電極の外側に予め溶接した中間部材にガラスを融
着連結してイオン源を構成した後、上記治具および雇い
ブロックを除去することを特徴とする質量分析計用イオ
ン源の製作方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51044493A JPS58659B2 (ja) | 1976-04-21 | 1976-04-21 | 質量分析計用イオン源およびその製作方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51044493A JPS58659B2 (ja) | 1976-04-21 | 1976-04-21 | 質量分析計用イオン源およびその製作方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS52128193A JPS52128193A (en) | 1977-10-27 |
| JPS58659B2 true JPS58659B2 (ja) | 1983-01-07 |
Family
ID=12693069
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51044493A Expired JPS58659B2 (ja) | 1976-04-21 | 1976-04-21 | 質量分析計用イオン源およびその製作方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58659B2 (ja) |
-
1976
- 1976-04-21 JP JP51044493A patent/JPS58659B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS52128193A (en) | 1977-10-27 |
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