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JPS58821B2 - electronic microscope - Google Patents
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JPS58821B2 - electronic microscope - Google Patents

electronic microscope

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Publication number
JPS58821B2
JPS58821B2 JP52029009A JP2900977A JPS58821B2 JP S58821 B2 JPS58821 B2 JP S58821B2 JP 52029009 A JP52029009 A JP 52029009A JP 2900977 A JP2900977 A JP 2900977A JP S58821 B2 JPS58821 B2 JP S58821B2
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JP
Japan
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sample
coordinates
observation
observed
position coordinates
Prior art date
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Application number
JP52029009A
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Japanese (ja)
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JPS53114344A (en
Inventor
小原洋一
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Jeol Ltd
Original Assignee
Nihon Denshi KK
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Publication date
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Expired legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子顕微鏡に関し、特に試料の複数箇所を選ん
で繰り返し観察するのに適した電子顕微鏡に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an electron microscope, and more particularly to an electron microscope suitable for selecting and repeatedly observing multiple locations on a sample.

電子顕微鏡を用いて生物試料を観察する場合においては
、試料中の種々の部分を観察した後、最初に観察した部
分をもう一度観察し、改めて検討したい場合がある。
When observing a biological sample using an electron microscope, after observing various parts of the sample, there are cases where it is desired to observe the initially observed part again and examine it again.

このような場合、従来の装置においては螢光面上に表示
される試料像を見ながら、試料位置変更用のつまみを手
動で回転させ、再び観察したい試料部分を捜し出すよう
にしている。
In such a case, in conventional apparatuses, the user manually rotates a knob for changing the sample position while looking at the sample image displayed on the fluorescent surface to find the part of the sample to be observed again.

このような装置においては試行錯誤で捜し出すため手間
がか\ると共に、本来の観察しようとする試料部分を正
確に捜し出すことは困難である。
In such an apparatus, searching is done through trial and error, which is time-consuming, and it is difficult to accurately locate the sample portion to be observed.

本発明は、このような従来の電子顕微鏡の欠点に鑑みな
されたもので、最初に観察した試料部分の中から任意の
部分を選択して、必要に応じて自動的に再観察し得るよ
うにした電子顕微鏡を提供するものであり、以下図面に
基づき本発明の一実施例を詳述する。
The present invention was developed in view of the shortcomings of conventional electron microscopes, and it is possible to select any part of the sample initially observed and re-observe it automatically if necessary. An embodiment of the present invention will be described in detail below based on the drawings.

第1図は、本発明の基本的実施例を示すための図面であ
り、図面中1は、電子顕微鏡筐体である。
FIG. 1 is a drawing for showing a basic embodiment of the present invention, and numeral 1 in the drawing is an electron microscope housing.

該筐体中には電子銃2より発生した電子線を収束するた
めの収束レンズ3、試料が載置される試料台4、対物レ
ンズ5、投影レンズ6及び試料像を映し出すための螢光
板7が配置されている。
The housing includes a converging lens 3 for converging the electron beam generated by the electron gun 2, a sample stage 4 on which a sample is placed, an objective lens 5, a projection lens 6, and a fluorescent plate 7 for projecting an image of the sample. is located.

前記試料台4は、試料の観察部分を変更するため試料台
駆動用のX方向駆動パルスモータ−8によってX軸に沿
って移動し得るようにされているとNもにY方向駆動用
パルスモータ−9によってY軸に沿って移動し得るよう
にされている。
The sample stage 4 is movable along the X-axis by an X-direction drive pulse motor 8 for driving the sample stage in order to change the observation part of the sample, and a Y-direction drive pulse motor 8 for driving the sample stage. −9 allows movement along the Y axis.

該両パルスモータ−8,9は中央演算処理装置10より
供給され各々駆動回路11.12において増幅されたパ
ルス信号によって駆動される。
Both pulse motors 8 and 9 are driven by pulse signals supplied from the central processing unit 10 and amplified by respective drive circuits 11 and 12.

13は前記中央演算処理装置と駆動回路を接続するため
のインターフェースである。
13 is an interface for connecting the central processing unit and the drive circuit.

該中央演算処理装置はインターフェース14f:介して
操作卓15に接続されている。
The central processing unit is connected to the console 15 via an interface 14f.

該操作卓には、試料の観察位置座標のうち各々X方向位
置座標及びX方向位置座標を制御するため各々X方向位
置制御部16及びY方向位置制御部17’に有している
The console has an X-direction position control section 16 and a Y-direction position control section 17', respectively, for controlling the X-direction position coordinate and the X-direction position coordinate among the observation position coordinates of the sample.

18は前記中央演算処理装置10に接続された一時記憶
装置である。
18 is a temporary storage device connected to the central processing unit 10.

前記操作卓には記憶装置制御部19が備えられている。The console is equipped with a storage device control section 19.

該記憶装置制御部19は観察位置を変更していづて再観
察したいと思った部分があった場合に、その時の観察位
置座標X、Yを表わすデジタル信号を中央演算処理装置
10より一時記憶装置1Bに供給することにより前記座
標を記憶させるための指令を与えると5もに、再観察時
に該記憶装置18に記憶されていた観察位置座標X、Y
を前記中央演算処理装置10内に読み出させるための指
令を与える部分である。
The storage device control unit 19 stores a digital signal representing the observation position coordinates X and Y at that time from the central processing unit 10 in a temporary storage device when there is a part that you want to re-observe after changing the observation position. When a command is given to store the coordinates by supplying them to 1B, the observation position coordinates X, Y stored in the storage device 18 at the time of re-observation are
This is a part that gives a command to read the data into the central processing unit 10.

更に該操作卓には、該記憶装置制御部19によって伝達
された指令によって読み出された前記座標X、Yに対応
した試料部分が観察し得るよう前記中央演算処理装置よ
りの信号によって試料台4を自動的に所定位置まで移動
させるための指令を与える自動試料位置制御部20を備
えている。
Further, the operation console is equipped with a sample stage 4 in response to a signal from the central processing unit so that the sample portion corresponding to the coordinates The sample position controller 20 is provided with an automatic sample position control section 20 that gives a command to automatically move the sample to a predetermined position.

演算処理装置10は上述した如き操作卓15よりの指命
信号に基づいて前記演算処理装置等が所定の動作を行な
わせしめるためのプログラムが記憶されているプログラ
ム記憶用の記憶装置21に接続されている。
The arithmetic processing device 10 is connected to a storage device 21 for storing programs in which a program for causing the arithmetic processing device, etc. to perform a predetermined operation based on a command signal from the operation console 15 as described above is stored. There is.

更に該中央演算処理装置10はインターフェース22を
介して陰極線管制御回路23及び該回路に接続された陰
極線管24に接続されている。
Further, the central processing unit 10 is connected via an interface 22 to a cathode ray tube control circuit 23 and a cathode ray tube 24 connected to the circuit.

該陰極線管は、試料の観察位置が試料上のどのような位
置にあるのかを表示するためのものであり、陰極線管管
面上の各点と試料表面上の各点とが対応するようにされ
ており、観察位置座標に対応した陰極線管面上の点が輝
点として表示される。
The cathode ray tube is used to display the observation position of the sample on the sample, so that each point on the cathode ray tube surface corresponds to each point on the sample surface. The point on the cathode ray tube surface corresponding to the observation position coordinates is displayed as a bright spot.

詳細には、これら輝点のうち現在観察中の位置座標X。Specifically, the position coordinates X of these bright spots that are currently being observed.

、Yoに対応した陰極線管面上の点は例えば点滅する輝
点として表示され、又、再観察のために一時記憶装置1
8に記憶された観察位置座標に対応する点は陰極線管面
上に中輝度の輝点として更に又再観察時に前記一時記憶
装置18より中央演算処理装置10に読み出されてきた
位置座標に対応する点は高輝度の輝点として表示される
, Yo on the cathode ray tube surface are displayed, for example, as blinking bright spots, and are also stored in the temporary storage device 1 for re-observation.
The point corresponding to the observation position coordinates stored in 8 is a bright spot of medium brightness on the surface of the cathode ray tube, and also corresponds to the position coordinates read out from the temporary storage device 18 to the central processing unit 10 at the time of re-observation. The points that appear are displayed as high-intensity bright spots.

陰極線管制御回路23は中央演算処理装置よりの信号に
基づいて、上記の如き輝点の表示を行なわせしめるため
のものであり、記憶手段及び輝点表示のための映像信号
発生手段等を有している。
The cathode ray tube control circuit 23 is for displaying the bright spots as described above based on signals from the central processing unit, and has storage means, video signal generation means for displaying the bright spots, and the like. ing.

上述した如き構成において、オペレーターは螢光板7を
観察しつ5、前記操作卓のX方向位置制御部16及びY
方向位置制御部17を操作する。
In the configuration described above, the operator observes the fluorescent plate 7 and controls the X-direction position control section 16 and the Y-direction position control section 5 of the console
Operate the direction and position control section 17.

その結果、該操作によって順次指定された試料部分が観
察されるように、中央演算処理装置10よりのパルス信
号に基づいて前記試料台4が駆動され、螢光板7上に投
影された試料像は順次変化して行く。
As a result, the sample stage 4 is driven based on the pulse signal from the central processing unit 10 so that the sample portions specified by the operation are observed sequentially, and the sample image projected onto the fluorescent plate 7 is It changes sequentially.

この時同時に陰極線管24の管面上には、現在観察位置
を表わす第2図においてAで示すような点滅する輝点が
表示され、該輝点も観察位置の移動につれて同図におい
て矢印Bで示すように陰極線管面上を移動して行く。
At this time, a flashing bright spot as shown by A in FIG. 2 representing the current observation position is displayed on the tube surface of the cathode ray tube 24, and as the observation position moves, the bright spot also appears as indicated by arrow B in the same figure. It moves on the cathode ray tube surface as shown.

オペレーターは螢光板7を観察し、再観察したい部分が
螢光板7上に投影された時に操作卓15上の記憶装置制
御部19を操作してこの時の観察位置座標を表わす信号
を一時記憶装置18内に供給して記憶せしめる。
The operator observes the fluorescent plate 7, and when the part he wants to re-observe is projected onto the fluorescent plate 7, he operates the storage device control unit 19 on the console 15 to temporarily store a signal representing the observation position coordinates at this time. 18 and stored.

然る後、更にX方向位置制御部16及びY方向位置制御
部17を操作すれば更に試料台4が駆動されて試料上の
観察部分は変化して行く。
Thereafter, by further operating the X-direction position control section 16 and the Y-direction position control section 17, the sample stage 4 is further driven and the observed portion on the sample changes.

これに伴い陰極線管面上の点滅する輝点も中央演算処理
装置10よりの信号に基づいて順次移動していく。
Along with this, the blinking bright spots on the surface of the cathode ray tube also move sequentially based on signals from the central processing unit 10.

このとき、前述した再観察のために一時記憶装置18内
に記憶された観察位置座標に対応する点は第2図におい
てCで示すように中輝度の輝点Cとして表示される。
At this time, the point corresponding to the observation position coordinates stored in the temporary storage device 18 for the aforementioned re-observation is displayed as a bright spot C of medium brightness, as shown by C in FIG.

このような操作を続行すれば、更に何点かの再観察しよ
うとする点の位置座標が一時記憶装置18内に記憶され
、このとき陰極線管24上にも第2図においてC□、C
2で示すようなこれら位置座標に対応した点が中輝度の
点として表示される。
If such operations are continued, the position coordinates of several more points to be re-observed will be stored in the temporary storage device 18, and at this time, the coordinates of C□, C in FIG.
Points corresponding to these position coordinates as indicated by 2 are displayed as points of medium brightness.

斯くして、オペレーターは前記操作卓の記憶装置制御部
19を操作して、再観察しようとする観察位置座標が既
に、一時記憶装置18内に記憶された試料位置座標のう
ちのどれにあたるのかを指定する。
In this way, the operator operates the storage device control unit 19 of the console to determine which of the sample position coordinates already stored in the temporary storage device 18 corresponds to the observation position coordinates to be re-observed. specify.

これにより該指定された位置座標に対応する陰極線管面
上に中輝度で示された輝点のうち指定された輝点が、高
輝度の輝点として表示され、この時同時に該指定された
点の位置座標が一時記憶装置18から中央演算処理装置
10内に読み出される。
As a result, the specified bright point among the bright points shown with medium brightness on the cathode ray tube surface corresponding to the specified position coordinates is displayed as a high brightness bright point, and at the same time, the specified point The position coordinates of are read out from the temporary storage device 18 into the central processing unit 10.

次いで、操作卓15の自動試料位置制御部20を操作し
て、観察位置座標が前記読み出された指定位置座標に一
致するまで中央演算処理装置10より、水平、垂直、駆
動用パルスモータ−8,9にパルスを供給する。
Next, by operating the automatic sample position control section 20 of the operation console 15, the central processing unit 10 controls the horizontal, vertical, and drive pulse motors 8 until the observation position coordinates match the read specified position coordinates. , 9.

その結果、観察位置座標は前記指定された座標に自動的
に変更され、この時同時に陰極線管面上の現在観察位置
を示す点滅する輝点は速やかに移動していき、高輝度の
輝点に一致することになる。
As a result, the observation position coordinates are automatically changed to the specified coordinates, and at the same time, the blinking bright spot indicating the current observation position on the cathode ray tube surface quickly moves and becomes a high-brightness bright spot. It will match.

斯くして、螢光板7上には再観察しようとした影像が投
影され、該投影像を再度検討することができる。
In this way, the image to be re-observed is projected onto the fluorescent plate 7, and the projected image can be examined again.

全く同様に、前記記憶装置制御部19を操作して、他の
観察位置座標に対応した像を得ようとするときには、該
座標を中央演算処理装置10内に読み出して来、更に自
動試料位置制御部20を操作して指令を与えることによ
り、予め記憶された他の観察位置座標に対応した投影像
を再観察することができる。
In exactly the same way, when attempting to obtain an image corresponding to another observation position coordinate by operating the storage device control section 19, the coordinate is read out into the central processing unit 10, and further automatic sample position control is performed. By operating the unit 20 and giving a command, it is possible to re-observe a projected image corresponding to another pre-stored observation position coordinate.

上述したように、本発明により最初に観察した試料部分
の中から任意の部分を選択して、自動的にしかも簡単に
再観察することができる電子顕微鏡が提供される。
As described above, the present invention provides an electron microscope that can automatically and easily re-observe any part of a sample that is initially observed by selecting it.

又、本発明においては記憶手段に記憶された位置座標と
現在観察中の位置座標とを互いに弁別可能に陰極線管に
輝点表示するようにしているので、現在観察している位
置座標を再観察すべきか否か判断するに際して、既に再
観察すべく記憶した観察位置との関係を直線的に把握し
ながら判断を行うことができ、又既に記憶した複数の座
標のうちから現在観察しようとしている座標の次にどの
座標位置の観察をすべきか選択する際には現在の観察位
置との相互関係を直観的に把握しながら選択を行うこと
ができる。
Furthermore, in the present invention, since the position coordinates stored in the storage means and the position coordinates currently being observed are displayed as bright spots on the cathode ray tube so as to be distinguishable from each other, it is possible to re-observe the position coordinates currently being observed. When deciding whether or not to re-observe, it is possible to make a judgment while linearly grasping the relationship with the observation position that has already been memorized for re-observation, and also to select the coordinate that is currently being observed from among the multiple coordinates that have already been memorized. When selecting which coordinate position should be observed next, the selection can be made while intuitively grasping the correlation with the current observation position.

尚、上述した実施例においては、観察位置座標のみを記
憶させて、該記憶された位置座標に基づいて再観察像を
得るようにしたが、実際の観察条件のなかには試料台の
高さや、試料台の傾き、成るいは観察倍率等も重要な役
割を有しているので、これらの条件も必要に応じて記憶
できるように構成し、再観察時にはこれら記憶されてい
た数値を読み出して各部を制御する様にすることが好ま
しい0
In the above-mentioned embodiment, only the observation position coordinates are stored and a re-observation image is obtained based on the stored position coordinates, but the actual observation conditions include the height of the sample stage and the The inclination of the table, observation magnification, etc. also play an important role, so the configuration is designed so that these conditions can be memorized as needed, and when re-observation, these stored values can be read out and each part It is preferable to control 0

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を例示するための図面であり
、第2図は第1図に示した実施例装置に於ける陰極線管
24の表示画面を例示するための図面である。 1・・・・・・電子顕微鏡筐体、2・・・・・・電子銃
、3・・・・・・収束レンズ、4・・・・・・試料台、
5・・・・・・対物レンズ、6・・・・・・投影レンズ
、7・・・・・・螢光板、8・・・・・・X方向駆動用
パルスモータ−19・・・・・・Y方向駆動用パルスモ
ータ−110・・・・・・中央演算処理装置、11゜1
2・・・・・・1駆動回路、13,14,22・・・・
・・インターフェース、15・・・・・・操作卓、16
・・・・・・X方向位置制御部、17・・・・・・Y方
向位置制御部、18・・・・・・1時記憶装置、19・
・・・・・記憶装置制御部、20・・・・・山動試料位
置制御部、21・・・・・・プログラム記憶用記憶装置
、23・・・・・・陰極線管制御回路、24・・・・・
・陰極線管。
FIG. 1 is a drawing for illustrating an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a drawing for illustrating a display screen of a cathode ray tube 24 in the embodiment shown in FIG. 1... Electron microscope housing, 2... Electron gun, 3... Converging lens, 4... Sample stage,
5... Objective lens, 6... Projection lens, 7... Fluorescent plate, 8... Pulse motor for driving in the X direction -19...・Y-direction drive pulse motor 110...Central processing unit, 11゜1
2...1 drive circuit, 13, 14, 22...
...Interface, 15...Operation console, 16
......X direction position control section, 17...Y direction position control section, 18...1 o'clock storage device, 19.
...Storage device control unit, 20...Mountain motion sample position control section, 21...Storage device for program storage, 23...Cathode ray tube control circuit, 24.・・・・・・
・Cathode ray tube.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1試料台と、該試料台上に載置される試料の投影拡大像
を得るための電子光学手段と、前記試料の観察位置座標
を変化させるため試料台を駆動させるための駆動手段と
、該試料の観察位置座標を表すデジタル信号の供給によ
り該座標を記憶する記憶手段と、試料上の各観測位置座
標を画面上の各点に対応させて表示するための陰極線管
と、該陰極線管に前記記憶手段に記憶された位置座標と
現在観察中の位置座標とを互いに弁別可能に輝点表示す
るための手段と、前記記憶手段によって記憶された座標
を読み出して試料の観察座標がこの座標に一致するよう
に前記駆動手段を制御するための手段を備えることを特
徴とする電子顕微鏡。
1 a sample stage, an electron optical means for obtaining a projected enlarged image of a sample placed on the sample stage, a driving means for driving the sample stage to change observation position coordinates of the sample; a storage means for storing the coordinates of the observed position on the sample by supplying a digital signal; a cathode ray tube for displaying the coordinates of each observed position on the sample in correspondence with each point on the screen; means for displaying bright spots to distinguish the position coordinates stored in the storage means and the position coordinates currently being observed; and a means for reading out the coordinates stored by the storage means so that the observation coordinates of the sample are set to these coordinates. An electron microscope, characterized in that it comprises means for controlling said drive means so as to coincide.
JP52029009A 1977-03-16 1977-03-16 electronic microscope Expired JPS58821B2 (en)

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JPS53114344A JPS53114344A (en) 1978-10-05
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020145529A1 (en) * 2019-01-09 2020-07-16 오스템임플란트 주식회사 Modified hydrogel and gingiva extension device comprising same

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