JPS5910038B2 - Xセンソウチ - Google Patents
XセンソウチInfo
- Publication number
- JPS5910038B2 JPS5910038B2 JP13470275A JP13470275A JPS5910038B2 JP S5910038 B2 JPS5910038 B2 JP S5910038B2 JP 13470275 A JP13470275 A JP 13470275A JP 13470275 A JP13470275 A JP 13470275A JP S5910038 B2 JPS5910038 B2 JP S5910038B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- ray
- circuit
- grid
- tetrode
- Prior art date
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は四極真空管を用いてX線管々電圧を制御するこ
とにより、高応答速度で且つ低電力で曝射X線量の制御
を行なうことができるX線装置に関するものである。
とにより、高応答速度で且つ低電力で曝射X線量の制御
を行なうことができるX線装置に関するものである。
周知のようにX線装置を用いて被写体のX線透視あるい
はX線シネ撮影等を行なう場合、被写体の透視、撮影部
位を移動させ、種々の角度からのX線像を得ることがし
ばしば行なわれる。
はX線シネ撮影等を行なう場合、被写体の透視、撮影部
位を移動させ、種々の角度からのX線像を得ることがし
ばしば行なわれる。
この場合、被写体の各部位の厚みに伴って曝射X線量を
制御し、例えば透視用の表示装置であるところのX線蛍
光増倍管の出力輝度を一定にすることが要求されている
。
制御し、例えば透視用の表示装置であるところのX線蛍
光増倍管の出力輝度を一定にすることが要求されている
。
このような制御動作は一般にABC (. Au ta
m t i cBrightness Control
:自動輝度調整)と称され、従来より幾つかの方法が
実用に供されており、その代表的な制御方式として次に
述べる2つがある。
m t i cBrightness Control
:自動輝度調整)と称され、従来より幾つかの方法が
実用に供されており、その代表的な制御方式として次に
述べる2つがある。
(1)高圧発生のトランスの1次電圧を単巻摺動変圧器
とサーボモータとによって自動制御し、X線管電圧を制
御する方式。
とサーボモータとによって自動制御し、X線管電圧を制
御する方式。
(2)X線管のフィラメント電流を自動制御し、X線管
々電流を制御する方式。
々電流を制御する方式。
しかしながら上述した2つの方法は何れも応答速度が遅
いという欠点がある。
いという欠点がある。
即ち上記(1)の方法ではサーボモータの応答速度が遅
く、(2)の方法ではフィラメント電流を変えてもフィ
ラメント熱はこの電流変化に追従せず時間遅れが生ずる
。
く、(2)の方法ではフィラメント電流を変えてもフィ
ラメント熱はこの電流変化に追従せず時間遅れが生ずる
。
更に上記2つの方法はいずれもその制御に大電力を要す
ると言う欠点がある。
ると言う欠点がある。
そこで本発明は上記した事情に鑑みなされたものであり
、従来単にスイッチング素子としてのみ用いられていた
四極真空管( Tetrode:以下テトロードと称す
)をX線曝射用のスイッチ及びX線管管電圧制御用素子
として用いる事により制御応答速度を速めると共に、低
電力制御を可能とし、有効なるABC動作をおこなう事
のできるX線装置を提供する事を目的とする。
、従来単にスイッチング素子としてのみ用いられていた
四極真空管( Tetrode:以下テトロードと称す
)をX線曝射用のスイッチ及びX線管管電圧制御用素子
として用いる事により制御応答速度を速めると共に、低
電力制御を可能とし、有効なるABC動作をおこなう事
のできるX線装置を提供する事を目的とする。
第1図は本発明装置の概要を示しており、ここで1は高
圧発生器であり、この高圧発生器1は図示しないたとえ
ば三相交流電源(3ψAC)がその一次捲線に与えられ
、交流電源電圧を昇圧する高圧発生トランス2、この高
圧発生トランス2の出力を整流する高圧整流回路3、詳
細を後述するテトロード制御ユニット4,5から構成さ
れている。
圧発生器であり、この高圧発生器1は図示しないたとえ
ば三相交流電源(3ψAC)がその一次捲線に与えられ
、交流電源電圧を昇圧する高圧発生トランス2、この高
圧発生トランス2の出力を整流する高圧整流回路3、詳
細を後述するテトロード制御ユニット4,5から構成さ
れている。
ここでテトロード制御ユニット4,5は全く同一構成の
ものであって夫々X線管球6のアノード側、カンード側
に直列に挿入されテトロード1,8の電気的耐圧を持た
せるようにしている。
ものであって夫々X線管球6のアノード側、カンード側
に直列に挿入されテトロード1,8の電気的耐圧を持た
せるようにしている。
また9は図示しないX線曝射信号を受けてX線曝射時間
を制御するタイマ回路で、第6図にそのブロック図を示
す。
を制御するタイマ回路で、第6図にそのブロック図を示
す。
10は前記X線管球6の管電圧を制御する為の前記テト
ロード7,8のバイアス( Eg2)自動制御回路で詳
細は第3図で説明する。
ロード7,8のバイアス( Eg2)自動制御回路で詳
細は第3図で説明する。
次にX線管6より曝射されたX線は被写体11を透過し
てX線蛍光増倍管12に入射される。
てX線蛍光増倍管12に入射される。
而してX線蛍光増倍管12の出力蛍光面に前記透過X線
の可視光像が結ばれ、この可視光像は光学分配器13に
よってテレビカメラ14、およびシネカメラ15に分配
される。
の可視光像が結ばれ、この可視光像は光学分配器13に
よってテレビカメラ14、およびシネカメラ15に分配
される。
一方、前記光学分配器13には、例えば光電子増倍管な
どより構成される輝度検出器16が内蔵されており、こ
の輝度検出器16によりX線蛍光増倍管12の出力輝度
が電気信号に変換され、前記自動制御回路10に与えら
れるようになっている。
どより構成される輝度検出器16が内蔵されており、こ
の輝度検出器16によりX線蛍光増倍管12の出力輝度
が電気信号に変換され、前記自動制御回路10に与えら
れるようになっている。
−4、テトロード制御ユニット4,5は第2図に示すよ
うに構成されており、前述した如く、このユニット4,
5は同一に構成されている事から同一部分には同一符号
を付してその詳細を説明する。
うに構成されており、前述した如く、このユニット4,
5は同一に構成されている事から同一部分には同一符号
を付してその詳細を説明する。
入力端子A,Bには前記タイマ回路9の出力信号が導入
されており、高耐圧トランス17により適宜調整される
。
されており、高耐圧トランス17により適宜調整される
。
この高耐圧トランス17はタイマ回路9からのX線曝射
信号に対する応答性をよくするため、フエライトコアで
構成されたトランスを用いるのが適当である。
信号に対する応答性をよくするため、フエライトコアで
構成されたトランスを用いるのが適当である。
而して、前記高耐圧トランス17の2次電圧が全波整流
回路18で整流され、抵抗19、コンデンサ20よりな
る平滑回路を介してスイッチング用トランジスタ21の
ペースにベース電流として与えられる。
回路18で整流され、抵抗19、コンデンサ20よりな
る平滑回路を介してスイッチング用トランジスタ21の
ペースにベース電流として与えられる。
又、入力端子C,Dには常時一定電圧、例えば交流10
0Vが与えられており、この電圧が高耐圧トランス22
を介してトランス23の一次捲線に供給される。
0Vが与えられており、この電圧が高耐圧トランス22
を介してトランス23の一次捲線に供給される。
このトランス23の2次捲線は第1グリッドバイアス供
給捲線24とフィラメント電圧供給線25ならびに第2
グリッドバイアス供給捲線26を有し、前記捲線24に
発生した2次電圧は全波整流回路27で整流されたのち
抵抗28、コンデンサ29により成る平滑回路で直流化
され、その正側がテトロード7,8のカソ一ドに負側か
抵抗30を介して前記テトロードの第1グリッドに接続
される。
給捲線24とフィラメント電圧供給線25ならびに第2
グリッドバイアス供給捲線26を有し、前記捲線24に
発生した2次電圧は全波整流回路27で整流されたのち
抵抗28、コンデンサ29により成る平滑回路で直流化
され、その正側がテトロード7,8のカソ一ドに負側か
抵抗30を介して前記テトロードの第1グリッドに接続
される。
なお、前記平滑回路の正側は前記トランジスタ21のコ
レクタにも接続され、このトランジスタ21の電源電圧
ともなっている。
レクタにも接続され、このトランジスタ21の電源電圧
ともなっている。
すなわち、トランジスタ21は前記テトロードのカソー
ドと第1グリッドの間に接続されており、通常はオフ状
態にある。
ドと第1グリッドの間に接続されており、通常はオフ状
態にある。
入力端子A,Bに前記タイマ回路9からのX線曝射信号
が与えられた時、トランジスタ21はオンとなり、テト
ロードのカソードー第1グリッド間を短絡するためテト
ロードもオンする。
が与えられた時、トランジスタ21はオンとなり、テト
ロードのカソードー第1グリッド間を短絡するためテト
ロードもオンする。
又、前記捲線25は直接前記テトロード7,8のカソー
ドに接続されており、そのフィラメント加熱電源となっ
ている。
ドに接続されており、そのフィラメント加熱電源となっ
ている。
更に前記捲線26に発生した電圧は全波整流回路27に
よって整流され、直列に挿入されたトランジスタ28を
介して抵抗29およびコンデンサ30から構成される平
滑回路と、前記テ}o−ド7,8の第2グリッドに接続
されている。
よって整流され、直列に挿入されたトランジスタ28を
介して抵抗29およびコンデンサ30から構成される平
滑回路と、前記テ}o−ド7,8の第2グリッドに接続
されている。
又、トランジスタ28のベースにはシリコン光検出ダイ
オード(太陽電池)31が接続されており、後述するグ
ラスファイバ(ライトガイド)32からの光信号によっ
て自己起電力を発生し前記トランジスタ28のベースに
電流を流しトランジスタ28をオンするように動作する
。
オード(太陽電池)31が接続されており、後述するグ
ラスファイバ(ライトガイド)32からの光信号によっ
て自己起電力を発生し前記トランジスタ28のベースに
電流を流しトランジスタ28をオンするように動作する
。
次に33は例えば発光ダイオードからなる光変調素子で
、後述する自動制御回路10からのパルス信号によって
発光し、前記グラスファイバ32を通過して前記シリコ
ン光検出ダイオード31に入光する構造によっている。
、後述する自動制御回路10からのパルス信号によって
発光し、前記グラスファイバ32を通過して前記シリコ
ン光検出ダイオード31に入光する構造によっている。
なお、前記発光ダイオード33グラスファイバ32、シ
リコン光検出ダイオード31は塩化ビニールなどからな
る絶縁パイプ34に封入されて、絶縁オイルの侵油を防
ぐ構造になっている。
リコン光検出ダイオード31は塩化ビニールなどからな
る絶縁パイプ34に封入されて、絶縁オイルの侵油を防
ぐ構造になっている。
次に上記構成の動作について、第4図ないし第6図を参
照に力1えて説明する。
照に力1えて説明する。
入力端子G,Hには常時交流電圧、たとえばAC I
OOVが印加されており、トランス35の1次捲線に供
給されている。
OOVが印加されており、トランス35の1次捲線に供
給されている。
このトランス35の2次出力は全波整流回路36によっ
て整流され、抵抗37を介して定電圧ダイオード38に
加えられる。
て整流され、抵抗37を介して定電圧ダイオード38に
加えられる。
この定電圧ダイオード38の波形は第4図示Bに示すも
ので、すなわち交流波形第4図示Aの零位相パルスであ
る。
ので、すなわち交流波形第4図示Aの零位相パルスであ
る。
この零位相パルス第4図示Bは抵抗39を介してトラン
ジスタ40、抵抗41から構成されるインバータ回路に
導ひかれ、ワンショットマルチ回路42のトリガ信号と
なる。
ジスタ40、抵抗41から構成されるインバータ回路に
導ひかれ、ワンショットマルチ回路42のトリガ信号と
なる。
ワンショットマルチ回路42は、コンデンサ43、抵抗
44の時定数で発振するが、パルス幅制御端子PMを有
し、このパルス幅制御端子PMに印力目する信号レベル
によってパルス幅が調整できるものである。
44の時定数で発振するが、パルス幅制御端子PMを有
し、このパルス幅制御端子PMに印力目する信号レベル
によってパルス幅が調整できるものである。
このワンショットマルチ回路42の出力信号パルスは第
4図のCに示すもので、トランジスタ45のベースに力
■えられる。
4図のCに示すもので、トランジスタ45のベースに力
■えられる。
トランジスタ45のエミツタは出力端子I,Jを介して
前記発光ダイオード33に接続される。
前記発光ダイオード33に接続される。
すなわち発光ダイオード33はワンショットマルチ回路
42で位相制御されたパルス第4図示Cの時間だけ発光
する。
42で位相制御されたパルス第4図示Cの時間だけ発光
する。
一方、パルス幅制御端子PMには差動増幅器46の出力
電圧が印力目されるように接続されており、フィードバ
ック系を構成している。
電圧が印力目されるように接続されており、フィードバ
ック系を構成している。
すなわち、前記輝度検出器16によって変換された輝度
信号は入力端子Kを介して抵抗47、コンデンサ48か
ら成る平滑回路によって直流化され前記差動増幅器46
の入力信号となる。
信号は入力端子Kを介して抵抗47、コンデンサ48か
ら成る平滑回路によって直流化され前記差動増幅器46
の入力信号となる。
又、差動増幅器46のもう一方の入力信号は、輝度レベ
ルを設定する可変抵抗器49からのものである。
ルを設定する可変抵抗器49からのものである。
可変抵抗器49で設定された輝度レベルに対して前記輝
度検出器16によって検出された実測輝度の差の電圧第
4図示Dが前記ワンショットマルチ回路42のパルス幅
制御端子PMにフイードツクされ、出力パルス第4図示
Cのパルス幅tを可変するよう動作する。
度検出器16によって検出された実測輝度の差の電圧第
4図示Dが前記ワンショットマルチ回路42のパルス幅
制御端子PMにフイードツクされ、出力パルス第4図示
Cのパルス幅tを可変するよう動作する。
パルス第4図示Cによって発光させた発光ダイオード3
3の光は第2図に示すグラスファイバ32でシリコン光
検出ダイオード31に導ひかれ、トランジスタ28がオ
ンし、平滑された電圧第4図示Eがテトロード7,8の
第2グリッドのバイアス電圧として与えられている。
3の光は第2図に示すグラスファイバ32でシリコン光
検出ダイオード31に導ひかれ、トランジスタ28がオ
ンし、平滑された電圧第4図示Eがテトロード7,8の
第2グリッドのバイアス電圧として与えられている。
従って、この第2グリッドに与えられる電圧値に応じて
テトロード7,8のカソード、プレート間電圧が制御さ
れる事になる。
テトロード7,8のカソード、プレート間電圧が制御さ
れる事になる。
ここで、第2図に示す回路を等価的に書替えると第5図
に示すようになる。
に示すようになる。
即ち、第2図に示すトランジスタ21、整流回路18、
抵抗19、コンデンサ20よりなるスイッチング回路が
スイッチS1に、捲線26、整流回路27、トランジス
タ28、抵抗29、コンデンサ30からなる第2グリッ
ドバイアス回路がEg2に、更に捲線24、整流回路2
7、抵抗28、コンデンサ29よりなる第1グリッドバ
イアス回路がEg,に相当する事になり、タイマ回路6
からのX線曝射信号が与えられると前記スイッチS1が
閉成され、テトロード7,8が導通してその内部電圧降
下vTが前記第2グリッドバイアス電圧Eg2により決
定されることになる。
抵抗19、コンデンサ20よりなるスイッチング回路が
スイッチS1に、捲線26、整流回路27、トランジス
タ28、抵抗29、コンデンサ30からなる第2グリッ
ドバイアス回路がEg2に、更に捲線24、整流回路2
7、抵抗28、コンデンサ29よりなる第1グリッドバ
イアス回路がEg,に相当する事になり、タイマ回路6
からのX線曝射信号が与えられると前記スイッチS1が
閉成され、テトロード7,8が導通してその内部電圧降
下vTが前記第2グリッドバイアス電圧Eg2により決
定されることになる。
即ち、テトロードにあっては周知の如く、その特性上プ
レート電流IP,第1グリッド電圧Egtt一定とすれ
ば内部電圧降下■Tは第2グリッド電圧Eg2に依存す
る事となり、従って前記第2グリッド電圧Eg2を変化
させることにより、テトロードの内部降下電圧vTを制
御することができる。
レート電流IP,第1グリッド電圧Egtt一定とすれ
ば内部電圧降下■Tは第2グリッド電圧Eg2に依存す
る事となり、従って前記第2グリッド電圧Eg2を変化
させることにより、テトロードの内部降下電圧vTを制
御することができる。
従って、高圧整流回路の3の整流出力電圧を■HT,X
線管6に印カロする管電圧を■XとすればvX=■HT
−2vTとなる。
線管6に印カロする管電圧を■XとすればvX=■HT
−2vTとなる。
即ち、テトロード7,8の内部電圧降下を制御すること
によって、X線管々電圧(Vx)を制御することになる
。
によって、X線管々電圧(Vx)を制御することになる
。
尚、前記タイマ回路9(第6図に詳細を示す)は、入力
端子GにX線曝射信号が与えられると、この曝射信号を
トリガ信号としてワンショットマルチバイブレークOM
が駆動される。
端子GにX線曝射信号が与えられると、この曝射信号を
トリガ信号としてワンショットマルチバイブレークOM
が駆動される。
ところでこのワンショットマルチバイブレークOMは、
今対象としている被写体の診断部位に応じた曝射時間が
設定される、曝射時限設定器XTSにより出力パルス幅
が制御されたパルス信号が発生し、このパルス信号がゲ
ート回路Gに与えられて、前記パルスが存在する間ゲー
ト回路Gが開く。
今対象としている被写体の診断部位に応じた曝射時間が
設定される、曝射時限設定器XTSにより出力パルス幅
が制御されたパルス信号が発生し、このパルス信号がゲ
ート回路Gに与えられて、前記パルスが存在する間ゲー
ト回路Gが開く。
一方、前記ゲート回路Gには正弦波発振回路OSよりの
出力が与えられており、ゲートが開いている間前記発振
回路OSの出力正弦波信号が増幅器APに与えられ、適
宜増幅されて出力トランスPTを介して前記制御ユニッ
ト4,5の入力端子ABに与えられる。
出力が与えられており、ゲートが開いている間前記発振
回路OSの出力正弦波信号が増幅器APに与えられ、適
宜増幅されて出力トランスPTを介して前記制御ユニッ
ト4,5の入力端子ABに与えられる。
上記のように本発明によれば、X線管と直列に接続した
高圧テトロードの第2グリッド電圧を制御することによ
って、X線管々電圧制御することができるため従来の方
式よりレスポンスが速く、かつ低電力で制御ができる。
高圧テトロードの第2グリッド電圧を制御することによ
って、X線管々電圧制御することができるため従来の方
式よりレスポンスが速く、かつ低電力で制御ができる。
また、発光ダイオード、グラスファイバ、シリコン光検
出ダイオードの組合せによる光伝導機構と、位相制御パ
ルスによる発光ダイオード制御を組合せることによって
低圧部→高圧部への電圧制御が可能となるため、従来の
高絶縁トランスを使用した方式に比べ小形かつ高絶縁化
が実現できる。
出ダイオードの組合せによる光伝導機構と、位相制御パ
ルスによる発光ダイオード制御を組合せることによって
低圧部→高圧部への電圧制御が可能となるため、従来の
高絶縁トランスを使用した方式に比べ小形かつ高絶縁化
が実現できる。
これは、X線透視あるいはX線シネ撮影における応答性
の良い自動輝度制御に応用できる。
の良い自動輝度制御に応用できる。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、例
えば上記実施例においては発光素子として発光ダイオー
ド、光電素子としてシリコン光検出ダイオード(いわゆ
るフォトダイオード)を用いたが、発生光素子としてラ
ンプ、また光電素子としてフォトトランジスタに代えて
もよい等、要旨を変更しない範囲内で適宜変形して実施
し得ることは勿論である。
えば上記実施例においては発光素子として発光ダイオー
ド、光電素子としてシリコン光検出ダイオード(いわゆ
るフォトダイオード)を用いたが、発生光素子としてラ
ンプ、また光電素子としてフォトトランジスタに代えて
もよい等、要旨を変更しない範囲内で適宜変形して実施
し得ることは勿論である。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図、第3
図は第1図における要部の詳細を示す構成図、第4図は
第1図ないし第3図における動作を説明するための信号
波形図、第5図はテトロード制御ユニット4,5の等価
回路図、第6図はタイマ回路9の詳細を示すブロック図
である。 4,5・・・・・・テトロード制御ユニット、γ,8・
・・・・・テトロード、9・・・・・・タイマ回路、1
0・・・・・・自動制御回路、31・・・・・・シリコ
ン光検出ダイオード、32・・・・・・グラスファイバ
、33・・・・・・発光ダイオード。
図は第1図における要部の詳細を示す構成図、第4図は
第1図ないし第3図における動作を説明するための信号
波形図、第5図はテトロード制御ユニット4,5の等価
回路図、第6図はタイマ回路9の詳細を示すブロック図
である。 4,5・・・・・・テトロード制御ユニット、γ,8・
・・・・・テトロード、9・・・・・・タイマ回路、1
0・・・・・・自動制御回路、31・・・・・・シリコ
ン光検出ダイオード、32・・・・・・グラスファイバ
、33・・・・・・発光ダイオード。
Claims (1)
- 1 X線管に印加すべき高電圧を発生する高圧発生器の
出力端とX線管との間に直列に接続された四極真空管と
、X線曝射信号が与えられると前記四極真空管を導通さ
せるべくその第1グリッドのバイアス電圧を制御する第
1グリッドバイアス回路と、前記四極真空管の内部電圧
降下を制御すべくその第2グリッドのバイアス電圧を制
御する第2グリッドバイアス回路と、前記X線管から曝
射されるX線量に応じて発光する発光素子と、この発光
素子からの前記発光量を光電変換する光電素子とを具備
し、前記第2グリッドバイアス回路のバイアス電圧を前
記光電素子の出力によって制御するようにしたことを特
徴としたX線装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13470275A JPS5910038B2 (ja) | 1975-11-11 | 1975-11-11 | Xセンソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13470275A JPS5910038B2 (ja) | 1975-11-11 | 1975-11-11 | Xセンソウチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5259594A JPS5259594A (en) | 1977-05-17 |
| JPS5910038B2 true JPS5910038B2 (ja) | 1984-03-06 |
Family
ID=15134587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13470275A Expired JPS5910038B2 (ja) | 1975-11-11 | 1975-11-11 | Xセンソウチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5910038B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54102994A (en) * | 1978-01-31 | 1979-08-13 | Toshiba Corp | X-ray controlling unit |
| JPS57162298A (en) * | 1981-03-28 | 1982-10-06 | Toshiba Corp | X-ray controlling apparatus |
| JPS58165895U (ja) * | 1982-04-30 | 1983-11-04 | 株式会社日立メデイコ | テトロ−ド制御形x線発生装置 |
-
1975
- 1975-11-11 JP JP13470275A patent/JPS5910038B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5259594A (en) | 1977-05-17 |
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