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JPS5913696B2 - Atomic analyzer - Google Patents
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JPS5913696B2 - Atomic analyzer - Google Patents

Atomic analyzer

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JPS5913696B2
JPS5913696B2 JP585177A JP585177A JPS5913696B2 JP S5913696 B2 JPS5913696 B2 JP S5913696B2 JP 585177 A JP585177 A JP 585177A JP 585177 A JP585177 A JP 585177A JP S5913696 B2 JPS5913696 B2 JP S5913696B2
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light
light source
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J61/00Gas-discharge or vapour-discharge lamps
    • H01J61/64Cathode glow lamps
    • H01J61/66Cathode glow lamps having one or more specially shaped cathodes, e.g. for advertising purposes alphanumeric

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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は原子分析装置に係り、特に原子スペクトルを発
生する光源部を備えた新規な原子分析装)置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an atomic analyzer, and more particularly to a novel atomic analyzer equipped with a light source section that generates an atomic spectrum.

近年の公害防止関連技術の中で特に微量な有害金属元素
等を定量分析するというニーズのもとに原子分析装置が
注目されている。
Among recent pollution prevention-related technologies, atomic analyzers have attracted particular attention due to the need for quantitative analysis of minute amounts of harmful metal elements.

原子分析装置としては、原子吸光光度計、原子けい光光
度計、ゼ”5−マン効果を利用した原子吸光光度計、コ
ーヒレント前方散乱を利用する原子分析装置等がある。
これらの原子分析装置の原子スペクトルを発生する光源
部としては、従来大別して二つに別けられる。一つは無
極放電管であり、他は有極放電管である。さらに有極放
電管は、対向電極型とホローカソード型に別けられる。
無極放電管は、特定の元素を有する物質を加熱させ原子
蒸気を得て、この原子蒸気に高周波コイルから高周波を
印加することにより原子スペクトルを得るものである。
Examples of atomic analyzers include atomic absorption spectrometers, atomic fluorescence photometers, atomic absorption spectrometers that utilize the Ze'5-Mann effect, and atomic analyzers that utilize coherent forward scattering.
Conventionally, the light source section for generating the atomic spectrum of these atomic analyzers can be broadly classified into two types. One is a non-polar discharge tube and the other is a polarized discharge tube. Polarized discharge tubes are further divided into counter electrode types and hollow cathode types.
A non-polar discharge tube heats a substance containing a specific element to obtain atomic vapor, and obtains an atomic spectrum by applying high frequency waves to the atomic vapor from a high-frequency coil.

しかしながら、元素を有する物質を加熱して使用するこ
とから、放電管の部材として耐熱性が要求されるが、こ
の耐熱限界を越えるような融点を有する金属元素、すな
わち、例えばタングステン、チタン、バナジウム、シリ
コンなどの元素に対する原子スペクトルを得ることがで
きる無極放電管は実質上製作できない。対向電極型の有
極放電管は、放向電極の間に直流若しくは低周波電力又
は高周波電力を印加する。この場合は、高融点の金属元
素に対する原子スペクトルを得ることはできるが、光強
度が弱いという問題点がある。すなわち、直流若しくは
低周波電力を印加することによつて、電極上の特定元素
の原子がスパツタリングされ、原子化するが、励起が充
分に行なわれないためである。また、高周波電力を印加
することによつて、励起はされ得るが、スパッタリング
による原子の発生が少いためである。そのために、直流
若しくは低周波電力および高周波電力を重畳して印加す
るものがあるが、直流等によつてスパツタリングされた
原子のすべてを充分に励起することができない。そこで
、光強度はある程度得られるが、スパツタリングによる
電極の消費が激しく、寿命が痛いという問題点がある。
′ ホロカソード型の有極放電管は、ホローカソードと陽極
の間に直流を印加するものであるが、寿命が短いという
問題点がある。
However, since materials containing elements are heated and used, heat resistance is required for discharge tube members, but metal elements with melting points exceeding this heat resistance limit, such as tungsten, titanium, vanadium, It is virtually impossible to produce a polarless discharge tube that can obtain atomic spectra for elements such as silicon. In the opposed electrode type polarized discharge tube, direct current or low frequency power or high frequency power is applied between the discharge electrodes. In this case, although it is possible to obtain an atomic spectrum for a metal element with a high melting point, there is a problem in that the light intensity is low. That is, by applying direct current or low frequency power, atoms of a specific element on the electrode are sputtered and atomized, but the excitation is not sufficiently performed. Further, although it can be excited by applying high-frequency power, fewer atoms are generated by sputtering. For this purpose, some methods apply direct current or low frequency power and high frequency power in a superimposed manner, but it is not possible to sufficiently excite all of the atoms sputtered by the direct current or the like. Therefore, although a certain level of light intensity can be obtained, there is a problem that the electrodes are heavily consumed due to sputtering and their lifespan is shortened.
' A hollow cathode type polarized discharge tube applies a direct current between the hollow cathode and the anode, but it has the problem of a short lifespan.

以上のように、従来の原子スペクトルを発生する光源は
、いずれも発光強度が弱いか、寿命が短いという問題点
がある。
As described above, all conventional light sources that generate atomic spectra have problems such as low emission intensity or short lifetime.

また、原子分析装置の中でも特にゼーマン効果を利用す
る原子吸光光度計については、ゼーマン効果を与えるた
めの磁場を印加する方法として、光源部に印加する方法
と原子化部に印加する方法とがあり。
Among atomic analyzers, especially atomic absorption spectrometers that utilize the Zeeman effect, there are two ways to apply a magnetic field to give the Zeeman effect: one is to apply it to the light source part, and the other is to apply it to the atomization part. .

光源部に磁場を印加する方法の場合の光源部として、無
極放電管を用いた場合には、10kG程度の磁場中でも
安定に放電する。
When a non-polar discharge tube is used as the light source in the method of applying a magnetic field to the light source, stable discharge occurs even in a magnetic field of about 10 kG.

しかしながら、前記した如く、高融点金属元素に対して
原子スベクトルを得ることができる無極放電管は実質上
不可能である。また、対向電極型の有極放電管を用いた
場合には、印加する磁場の強度が高くなればなる程、放
電維持電圧を高くする必要がある。
However, as described above, it is virtually impossible to create a non-polar discharge tube that can obtain atomic vectors for high melting point metal elements. Furthermore, when a facing electrode type polarized discharge tube is used, the higher the intensity of the applied magnetic field, the higher the discharge sustaining voltage needs to be.

ここで、放電維持電圧は、10kGの磁場中では異常に
高いものとなる。このように、放電維持電圧が高い場合
には、スパッタリングを行うための、イオンの加速スピ
ードが高くなり、それによつて、スパツタリングの量が
増すため、電極の消費が早く、寿命が極端に短くなると
いう問題点がある。ちなみに平常の磁場を印加しない場
合の放電維持電圧に対して、10kGの磁場を印加した
場合の放電維持電圧は約5倍以上となる。次に、ホロー
カソード型の有極放電管の場合には、磁場を印加すると
放電が持続されないという問題点がある。
Here, the discharge sustaining voltage becomes abnormally high in a 10 kG magnetic field. In this way, when the discharge sustaining voltage is high, the acceleration speed of ions for sputtering increases, which increases the amount of sputtering, resulting in faster electrode consumption and extremely shortened lifespan. There is a problem. Incidentally, the discharge sustaining voltage when a 10 kG magnetic field is applied is about five times or more as compared to the discharge sustaining voltage when no normal magnetic field is applied. Next, in the case of a hollow cathode type polarized discharge tube, there is a problem that the discharge is not sustained when a magnetic field is applied.

以上のように、光源部に磁場を印加してゼーマン効果を
利用する原子吸光光度計のための光源部として適当なも
のがない。
As described above, there is no suitable light source section for an atomic absorption spectrophotometer that utilizes the Zeeman effect by applying a magnetic field to the light source section.

そこで、光源部ではなく、原子化部に磁場を印加する方
法がある。
Therefore, there is a method of applying a magnetic field to the atomization section instead of the light source section.

本来、原子化部としては、安定度の面からバーナ型の原
子化部が適当ではあるが、バーナ型の原子化部に磁場を
印加することが難しく、グラフアイトセルの原子化部が
用いられている。しかしながら、グラフアイトセルの原
子化部に磁場を印加する方法は、再現性が悪いという問
題点がある。本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
ので、その目的は、性能の高い原子分析装置を提供する
にある。
Originally, a burner-type atomization unit is appropriate from the standpoint of stability, but it is difficult to apply a magnetic field to a burner-type atomization unit, so a graphite cell atomization unit is used. ing. However, the method of applying a magnetic field to the atomization part of a graphite cell has a problem of poor reproducibility. The present invention has been made in view of the above problems, and its purpose is to provide an atomic analyzer with high performance.

本発明の望ましい実施例によれば性能の高いゼーマン効
果を利用した原子分析装置が提供される。
According to a preferred embodiment of the present invention, an atomic analysis device utilizing the Zeeman effect with high performance is provided.

本発明は、原子分析装置の光源部の電極の一方と他方を
違つた形状にするとともに、上記電極と他方の電極とに
高周波電力だけを印加し、上記電極と他方の電極の間に
高周波放電を維持するようにしたものである。本発明の
一実施例について、第1図を用いて説明する。
In the present invention, one and the other of the electrodes of the light source section of an atomic analyzer are made to have different shapes, and only high-frequency power is applied to the above-mentioned electrode and the other electrode, and a high-frequency discharge is generated between the above-mentioned electrode and the other electrode. It was designed to maintain the An embodiment of the present invention will be described using FIG. 1.

この場合は、光源部に磁場を印加してゼーマン効果を利
用する原子吸光光度計の例である。まず、光源部30に
ついて説明する。放電維持ガスである希ガス(ネオン、
アルゴン、ヘリウム、クリプトン等)が2T0rrから
10T0rr程度封入してある管体5は、光を取出すた
めの光取出し窓8を有している。管体5の径の小さい部
分の内部に第1の電極6および第2の電極7が対向配置
されている。第1の電極6のホーロ部61には所望の元
素のスペクトルを発生する元素物質を有している。第2
の電極7はリング型である。高周波電源3からの高周波
電力を供給する供給線1,2はそれぞれ第1の電極6、
第2の電極7に接続されており、供給線2は接地されて
いる。第1の電極6と第2の電極7の間の高周波放電に
よつて生じた原子蒸気の存在する場所には、磁石9,1
0によつて磁場が形成されている。高周波放電により管
体5の中の希ガスがイオン化し、このイオンが第1の電
極6のホロ一部61の内面に衝突して、電極を形成して
いる物質をスパツタリングする。
This case is an example of an atomic absorption spectrophotometer that utilizes the Zeeman effect by applying a magnetic field to the light source. First, the light source section 30 will be explained. Noble gas (neon,
The tube body 5, which is filled with about 2T0rr to 10T0rr of (argon, helium, krypton, etc.), has a light extraction window 8 for extracting light. A first electrode 6 and a second electrode 7 are arranged to face each other inside the small diameter portion of the tube body 5. The hollow portion 61 of the first electrode 6 contains an elemental material that generates a desired elemental spectrum. Second
The electrode 7 is ring-shaped. The supply lines 1 and 2 that supply high frequency power from the high frequency power supply 3 each have a first electrode 6,
It is connected to the second electrode 7, and the supply line 2 is grounded. Magnets 9, 1
A magnetic field is formed by 0. The rare gas in the tube body 5 is ionized by the high-frequency discharge, and the ions collide with the inner surface of the hollow portion 61 of the first electrode 6, sputtering the material forming the electrode.

このスパツタリングされた原子が高周波電力により励起
され発光する。このとき、磁石9,10により磁場が形
成されているため、ゼーマン効果を起し、ゼーマン分裂
した原子スペクトルを発生する。光は管体5の光取出し
窓を通り、偏光補整器11により、偏光度が補整される
。測定試料は原子化部12で原子蒸気となる。光が原子
化部12の原子蒸気の中を通ると、試料中の目的元素の
含有量に応じて吸光される。吸光された光はさらに偏光
子13で偏光され、検出部14で検出される。第2図に
、電極間に与える高周波電力の周波数と光強度の関係を
示す。
These sputtered atoms are excited by high frequency power and emit light. At this time, since a magnetic field is formed by the magnets 9 and 10, the Zeeman effect occurs and a Zeeman split atomic spectrum is generated. The light passes through the light extraction window of the tube body 5, and the degree of polarization is corrected by the polarization corrector 11. The measurement sample becomes atomic vapor in the atomization section 12. When light passes through the atomic vapor in the atomization section 12, it is absorbed depending on the content of the target element in the sample. The absorbed light is further polarized by a polarizer 13 and detected by a detection unit 14. FIG. 2 shows the relationship between the frequency of high-frequency power applied between the electrodes and the light intensity.

縦軸は光強度を対数目盛で示し、横軸は周波数を対数目
盛で示寸。このとき、第1の電極6はカドミウム、銅、
アルミニウムの各電極をホロ一型とし、ホロ一部の内径
を31tmとし、ホロ一部の深さを10詣としている。
第2の電極7はニツケル金属の円筒型で直径を8mT!
Lとし、高さを3詣としている。第1の電極6と第2の
電極7の間は5mm離してある。管体5の中には、ネオ
ンを9T0rrに封入している。磁石9,10によつて
10KGの磁場を形成している。電極間に印加する高周
波電力は15Wである。ここで、3MHz以下において
は、放電が不安定となる。すなわち、放電の時間的ドリ
フトや放電位置の変化が発生する。また、300MH2
以上においては、電極が変形したり、放電が不安定とな
る。また、3Mjあるいは300MH2における発光強
度は、磁場を印加しないホローカソード型の有極放電管
の発光強度より充分に大であり、しかも寿命については
3倍以上となる。
The vertical axis shows the light intensity on a logarithmic scale, and the horizontal axis shows the frequency on a logarithmic scale. At this time, the first electrode 6 is made of cadmium, copper,
Each aluminum electrode is of a hollow type, the inner diameter of the hollow part is 31 tm, and the depth of the hollow part is 10 mm.
The second electrode 7 is made of nickel metal and has a cylindrical shape with a diameter of 8 mT!
The length is L and the height is 3. The first electrode 6 and the second electrode 7 are separated by 5 mm. Inside the tube body 5, 9T0rr of neon is sealed. A magnetic field of 10 KG is formed by magnets 9 and 10. The high frequency power applied between the electrodes was 15W. Here, below 3 MHz, the discharge becomes unstable. That is, a temporal drift of the discharge and a change in the discharge position occur. Also, 300MH2
In the above case, the electrode may be deformed or the discharge may become unstable. Further, the emission intensity at 3Mj or 300MH2 is sufficiently greater than the emission intensity of a hollow cathode type polarized discharge tube to which no magnetic field is applied, and the lifetime is more than three times longer.

第3図に、電極間に与える高周波電力と光強度の関係を
示す。
FIG. 3 shows the relationship between the high frequency power applied between the electrodes and the light intensity.

縦軸は光強度を対数目盛で示し、横軸は高周波電力を示
す。このときは、第2図の関係を得たときと同じ条件で
あるが、高周波電力の周波数を100MH2としている
The vertical axis shows light intensity on a logarithmic scale, and the horizontal axis shows high frequency power. At this time, the conditions are the same as when obtaining the relationship shown in FIG. 2, but the frequency of the high frequency power is set to 100 MH2.

ここで、20W以上では、加熱によつて電極の変形劣化
が行9、寿命が短くなつている。
Here, at 20 W or more, the electrode deforms and deteriorates due to heating, and the life span becomes short.

また、スパツタリングによつて生じる原子蒸気が広がり
有効に励起発光を行えない。また、2W以下ではスパツ
タリングによる原子蒸気の発生が少く、発光強度が弱い
。さらに、1W程度ではスパツタリングが行らず、放電
は生じるが、金属元素の発光がない。2Wにおける発光
強度は、磁場を印加しないホローカソード型の有極放電
管の発光強度より充分大であ9、しかも、寿命も充分長
いものである。
In addition, atomic vapor generated by sputtering spreads, making it impossible to effectively emit excited light. Further, when the power is 2 W or less, less atomic vapor is generated due to sputtering, and the emission intensity is weak. Furthermore, at about 1 W, sputtering does not occur and although discharge occurs, no light is emitted from the metal element. The emission intensity at 2W is sufficiently greater than the emission intensity of a hollow cathode type polarized discharge tube to which no magnetic field is applied9, and the life span is sufficiently long.

以上の第2図および第3図の例では、周波数あるいは高
周波電力の代装置に対する他方の特性を明示しているが
、この代表値を変化?せた場合には、その絶対値に多少
の変化はあるも、その傾向は変わらTjい。次に、第4
図を餡いて、第2の電極7の接地について説明する。
In the examples shown in Figures 2 and 3 above, the other characteristics of the frequency or high-frequency power for the substitute device are clearly shown, but can this representative value be changed? If Tj is set, the tendency remains the same, although there is some change in its absolute value. Next, the fourth
Grounding of the second electrode 7 will be explained with reference to the figure.

第4図は、第3図と同じ条件のもとに測定され、第4図
のaは第3図と同じものである。すなわち、第2の電極
7を接地している場合である。一方、第4図のbは、第
1の電極6および第2の電極7のいずれも接地していT
jい。以上から明らかなように、第2の電極7を接地し
た場合の方が光強度が高いことがわかる。しかしながら
、第4図のbの20Wにおける値と、磁場を印加しない
ホローカソード型の有極放電管と比較してみる。
FIG. 4 was measured under the same conditions as FIG. 3, and a in FIG. 4 is the same as in FIG. That is, this is the case where the second electrode 7 is grounded. On the other hand, in FIG. 4b, both the first electrode 6 and the second electrode 7 are grounded and the T
Yes. As is clear from the above, the light intensity is higher when the second electrode 7 is grounded. However, let us compare the value of b in FIG. 4 at 20 W with a hollow cathode type polarized discharge tube to which no magnetic field is applied.

ホローカソード型の有極放電管の供給する直流あるいは
低周波電力に対する光強度の関係は比較的急はピーク値
を示す。そのピーク値における光強度と、第4図のbの
20Wにおける光強度はほぼ同程度の値である。しかし
ながら、第4図のbの場合の寿命は、ホローカソード型
の有極放電管の寿命よリ長く、3倍以上ある。以上の説
明では、磁場を印加した場合について説明しているが、
磁場を印加しない場合については、さらに光強度および
寿命が向上している。
The relationship between light intensity and direct current or low frequency power supplied by a hollow cathode type polarized discharge tube shows a relatively steep peak value. The light intensity at the peak value and the light intensity at 20W in b of FIG. 4 are approximately the same value. However, the life in case b of FIG. 4 is longer than that of a hollow cathode type polarized discharge tube, and is more than three times as long. The above explanation describes the case where a magnetic field is applied, but
When no magnetic field is applied, the light intensity and lifetime are further improved.

本発明の一実施例によれば、従来のものより、光源部の
寿命が長い。また、光強度が大であるため、S値を上げ
ることができ、S/N比が良くな9、原子分析装置の精
度が向上する。また、高周波放電のみを利用するため、
管体の内壁に金属元素の付着が1jく、電極と光取出し
窓を近づけることができ、管体を小型化できる。また、
原子化部に磁場を印加する場合には、光強度が大である
ため、再現性もよくなる。また、光源部に磁場を印加す
る方法が用いられるため、原子化部を再現性の良いバー
ナ型にすることができ、ゼーマン効果を利用する原子吸
光光度計の精度が向上する。また、光源部に磁場を印加
する場合には、管体を小型にできるため、小型の磁石で
有効に磁場を印加できる。また、高周波放電を用いるた
め、電場と磁場の方向性をもたせる必要がなく、最適方
向からの磁場の印加が可能となる。以上の説明では、第
2の電極はリング型としているが、他の形状でも第1の
電極との間に高周波放電が行るものならよい。
According to one embodiment of the present invention, the life of the light source section is longer than that of the conventional one. In addition, since the light intensity is high, the S value can be increased, the S/N ratio is improved9, and the accuracy of the atomic analyzer is improved. In addition, since only high frequency discharge is used,
Since the metal elements are less likely to adhere to the inner wall of the tube, the electrodes and the light extraction window can be brought closer together, and the tube can be made smaller. Also,
When a magnetic field is applied to the atomization section, the light intensity is high, so reproducibility is also improved. Furthermore, since a method of applying a magnetic field to the light source section is used, the atomization section can be made into a burner type with good reproducibility, and the accuracy of the atomic absorption spectrometer that uses the Zeeman effect is improved. Furthermore, when applying a magnetic field to the light source section, the tube body can be made small, so a small magnet can be used to effectively apply the magnetic field. Furthermore, since high-frequency discharge is used, there is no need to provide directionality for the electric field and the magnetic field, and the magnetic field can be applied from an optimal direction. In the above description, the second electrode is ring-shaped, but other shapes may be used as long as high-frequency discharge occurs between the second electrode and the first electrode.

よつて、第2の電極は管体の外にあるものでもよい。す
なわち、管体の外表面あるいは周囲の電極でもよく、そ
の電極も接地して用いる場合には、シールド電極でもよ
い。また、シールド電極の場合には、高周波電源からの
供給線のうち、第2の電極に接続されるものについては
、供給線を接地して、第2の電極に直接接続しなくても
よい。第1の電極のホーロ部に特有の原子スペクトルを
発する金属元素を有するためには、焼結合金で電極その
ものを作る場合や、金属元素そのもので電極を作る場合
や、ホロ一部に金属元素をメツキする場合や、ただ置く
場合などの種々の変形が可能である。
Therefore, the second electrode may be outside the tube. That is, it may be an electrode on the outer surface of the tubular body or around it, or it may be a shield electrode when the electrode is also grounded. Further, in the case of a shield electrode, among the supply lines from the high frequency power source, those connected to the second electrode do not need to be grounded and directly connected to the second electrode. In order to have a metal element that emits a unique atomic spectrum in the hollow part of the first electrode, it is possible to make the electrode itself from a sintered alloy, to make the electrode from the metal element itself, or to add a metal element to the hollow part. Various modifications are possible, such as plating or just placing it.

また、一般の原子吸光光度計として用いる場合には、磁
石や偏光補整器や偏光子が不要であることはいうまでも
ない。
Furthermore, when used as a general atomic absorption spectrophotometer, it goes without saying that a magnet, polarization corrector, or polarizer is not required.

原子けい光光度計として用いる場合には、原子化部から
の光の取出し方向を変えればよい。本発明によれば、原
子分析装置の性能が向上する。
When used as an atomic fluorescence photometer, the direction of light extraction from the atomization section may be changed. According to the present invention, the performance of an atomic analyzer is improved.

また、ゼーマン効果を利用する原子分析装置に適用すれ
ばその性能が向上する。
Furthermore, if applied to an atomic analyzer that utilizes the Zeeman effect, its performance will be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明の一実施例を示すブロツク図であり、
第2図は、本発明の一実施例による光強度の周波数依存
を示す図であり、第3図および第4図は、本発明の一実
施例による光強度の高周波電力依存を示す図である。 符号の説明 3・・・電源、5・・・管体、6・・・第
1の電極、7・・・第2の電極、8・・・光取出し部、
9,10・・・磁石、12・・・原子化部、13・・・
偏光子、14・・・検出部、30・・・光源部、61・
・・ホロ一部。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing frequency dependence of light intensity according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 3 and 4 are diagrams showing high frequency power dependence of light intensity according to an embodiment of the present invention. . Explanation of symbols 3... Power supply, 5... Tube body, 6... First electrode, 7... Second electrode, 8... Light extraction part,
9, 10... Magnet, 12... Atomization part, 13...
Polarizer, 14... detection section, 30... light source section, 61.
... part of holo.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 原子スペクトルを発生する光源部と、上記光源部か
らの光が照射されるるともに測定試料が原子化される原
子化部と、上記原子化部からの光を検出する検出部とを
有し、上記光源部は、放電維持ガスが封入され光取出し
窓を有する管体と、上記管体内に配設されたスペクトル
発生用の第1の電極と、上記第1の電極とは違つた形状
の第2の電極と、上記第1の電極と上記第2の電極の間
に放電を生ぜしめる電源を備えた原子分析装置において
、上記電源は上記第1の電極と上記第2の電極に高周波
電力のみを印加するものであることを特徴とする原子分
析装置。 2 特許請求の範囲第1項において、上記高周波電力は
、周波数が3MH_zから300MH_zの範囲内で、
しかも電力は2Wから20Wの範囲内であることを特徴
とする原子分析装置。 3 特許請求の範囲第1項において、上記第2の電極は
上記管体内に備えられていることを特徴とする原子分析
装置。 4 特許請求の範囲第1項において、上記第2の電極は
接地されていることを特徴とする原子分析装置。 5 原子スペクトルを発生する光源部と、上記光源部か
らの光が照射されるとともに測定試料が原子化される原
子化部と、上記原子化部からの光を検出する検出部とを
有し、上記光源部は、放電維持ガスが封入され光取出し
窓を有する管体と、上記管体内に配設されており、ホロ
ー部を有するとともにこのホーロ部に特有の元素スペク
トルを発生する元素物質を有する第1の電極と、第1の
電極との間に放電を維持する第2の電極とから構成され
、上記第1の電極と上記第2の電極に高周波電力のみを
印加する電源と、上記高周波電力による放電によつて生
じた原子蒸気の存在する場所および上記原子化部で原子
化された試料のいずれか一方に磁場を印加する手段を備
え、上記光源部からの光のうち所定の偏光面の光を選択
する偏光子を上記光源部と上記検出部の間に配置したこ
とを特徴とする原子分析装置。
[Scope of Claims] 1. A light source section that generates an atomic spectrum, an atomization section that atomizes a measurement sample while being irradiated with light from the light source section, and a detection unit that detects the light from the atomization section. The light source section includes a tube body filled with a discharge sustaining gas and having a light extraction window, a first electrode for generating a spectrum disposed in the tube body, and the first electrode. In an atomic analyzer comprising second electrodes having different shapes, and a power source that generates a discharge between the first electrode and the second electrode, the power source connects the first electrode and the second electrode. An atomic analyzer characterized in that only high-frequency power is applied to the electrodes of the atomic analyzer. 2. In claim 1, the high frequency power has a frequency within a range of 3 MHz to 300 MHz,
Moreover, the atomic analyzer is characterized in that the electric power is within the range of 2W to 20W. 3. The atomic analysis device according to claim 1, wherein the second electrode is provided within the tube. 4. The atomic analysis device according to claim 1, wherein the second electrode is grounded. 5. A light source section that generates an atomic spectrum, an atomization section that atomizes the measurement sample while being irradiated with light from the light source section, and a detection section that detects the light from the atomization section, The light source section includes a tube filled with a discharge sustaining gas and having a light extraction window, and is disposed within the tube, and has a hollow section and an elemental substance that generates an elemental spectrum specific to the hollow section. a power source that applies only high-frequency power to the first electrode and the second electrode; means for applying a magnetic field either to a place where atomic vapor generated by electric discharge exists or to the sample atomized by the atomization section, and to apply a magnetic field to either a place where atomic vapor generated by electric discharge exists or to the sample atomized by the atomization section, and to apply a magnetic field to a predetermined plane of polarization of the light from the light source section. An atomic analysis device characterized in that a polarizer for selecting light of is disposed between the light source section and the detection section.
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