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JPS5919466B2 - How to align chip bonding - Google Patents
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JPS5919466B2 - How to align chip bonding - Google Patents

How to align chip bonding

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JPS5919466B2
JPS5919466B2 JP55112818A JP11281880A JPS5919466B2 JP S5919466 B2 JPS5919466 B2 JP S5919466B2 JP 55112818 A JP55112818 A JP 55112818A JP 11281880 A JP11281880 A JP 11281880A JP S5919466 B2 JPS5919466 B2 JP S5919466B2
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lead
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  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体装置を製造するために基板のパッド又は
リードに直接チップをボンディングするチップボンディ
ングの位置合せ方法に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a chip bonding alignment method for directly bonding a chip to a pad or lead of a substrate in order to manufacture a semiconductor device.

一般に、チップボンディングは第1図に示すように、基
板1のパッド又はリード1aにチップ2のバンブ2aを
重ね合せて直接ボンディングする。
In general, chip bonding is performed by directly bonding bumps 2a of a chip 2 to pads or leads 1a of a substrate 1 by overlapping them, as shown in FIG.

かかるチップボンディングにおいて基板1のパッド1a
とチップ2のバンブ2aとを位置合せするには、第2図
に示すように基板1の般送路に設けた回転台3に基板1
を一時クランプさせ、基板1とチップ2を結ぶ直線から
はずれかつ直線に垂直になる位置に配設されたハーフミ
ラー4を通して観察する基板1の像にハーフミラー4で
反射されたチップ2の像を重ね合せて観察し、両者の向
きのずれは回転台3を回転させて調整し、平面上のXY
方向のずれはチツプ2を吸着するコレツト5が取付けら
れたXYテーブル(図示せず)を駆動して調整している
。従来、前記チツブ2に対する基板1の向きを調整する
ための回転台3の回転操作は、回転台3を直接手動によ
り動作させて合せるか、又は回転台3にエンコーダのな
いパルスモータを装備し、スイツチを利用してパルスモ
ータに1パルスずつパルスを送つて回転台3を動作させ
て合せている。
In such chip bonding, the pad 1a of the substrate 1
To align the bumps 2a of the chip 2 and the bumps 2a of the chip 2, as shown in FIG.
is temporarily clamped, and the image of the chip 2 reflected by the half mirror 4 is reflected on the image of the substrate 1 observed through the half mirror 4, which is placed at a position deviating from the straight line connecting the substrate 1 and the chip 2 and perpendicular to the straight line. Observe them by superimposing them, and adjust the orientation of the two by rotating the rotary table 3.
The deviation in direction is adjusted by driving an XY table (not shown) on which a collet 5 for picking up the chip 2 is attached. Conventionally, the rotating operation of the rotary table 3 for adjusting the orientation of the substrate 1 with respect to the chip 2 is performed by manually operating the rotary table 3 directly, or by equipping the rotary table 3 with a pulse motor without an encoder. A switch is used to send pulses to the pulse motor one pulse at a time to operate the rotary table 3 for matching.

しかしながら、前者の直接手動により動作させる方法で
は、搬送系路の自動化が図れない上、操作に高度の熟練
が要求されると共に、更に回転台3とXYテーブルとを
同時に動作させるのは難しい等の欠点を有する。また後
者の1パルスずつ動作させる方法では、基板1とチツプ
2の位置合せに約6〜10秒と相当の時間がかかる欠点
を有する。そこで、従来は前記回転台3の回転量をでき
る限り小さくするように、チツプ2が貼着されたトレイ
又はウエフアリング位置とボンデイング位置との中間に
チツプの位置修正ステーシヨンを設ける等の手段がとら
れている。本発明は上記従来技術の欠点に鑑みなされた
もので、チツプと基板との位置合せを容易に、正確にか
つ迅速に行なうことができるチツプボンデイングの位置
合せ方法を提供することを目的とする。
However, in the former method of direct manual operation, it is not possible to automate the conveyance path, a high degree of skill is required for operation, and it is difficult to operate the rotary table 3 and the XY table at the same time. It has its drawbacks. Furthermore, the latter method of operating one pulse at a time has the disadvantage that it takes a considerable amount of time, about 6 to 10 seconds, to align the substrate 1 and the chip 2. Therefore, conventionally, measures have been taken to minimize the amount of rotation of the rotary table 3, such as providing a chip position correction station on the tray to which the chip 2 is attached or between the wafering position and the bonding position. ing. The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks of the prior art, and it is an object of the present invention to provide a chip bonding alignment method that can easily, accurately and quickly align a chip and a substrate.

以下、本発明を図示の実施例により説明する。第3図a
は搬送直後の基板1とチツプ2との位置関系を示し、チ
ップ2は基板1に対して実線で示す如くずれているもの
とする。そこで、第3図a及び第4図に示すように、予
め基板1のボンデイング点であるリードの任意の2点P
l,Q,を設定し、この座標をP,(X,,,yl)、
Q1(X2,y2)と化、P1とQ1を通る直線がX軸
に平行であると、y1=Y2となる。またここで、P1
とQ,の長さを2とする。またリードPl,Ql点にボ
ンデイングされるチツプ2のバンブの2点をP2,Q2
とする。次に第4図を参照しながら第3図に従つて本発
明の方法を説明する。まず、第3図bに示すようにチツ
プ2をXYテーブルにより平面上を移動させて第1点目
の位置合せを行なう。即ち、バンブP2をリードP,に
合せる。次に同図cに示すように第2点目の位置合せを
行なう。即ち、バンブQ2をリードQ1に合せる。この
時Q2点が同図bより同図Cの状態に移動した量を△X
,Δyとすると、基板1に対するチツプ2の傾き、即ち
P7F(Q1に対するPヱ,の傾★θは次式で表わされ
る。式(1)はPV,がX軸に平行な場合であるが、第
5図に示すようにPV,がY軸に平行な場合は次式のよ
うになる。
Hereinafter, the present invention will be explained with reference to illustrated embodiments. Figure 3a
shows the positional relationship between the substrate 1 and the chip 2 immediately after being transported, and it is assumed that the chip 2 is shifted from the substrate 1 as shown by the solid line. Therefore, as shown in FIG. 3a and FIG.
Set l, Q, and define this coordinate as P, (X,,,yl),
If the straight line passing through P1 and Q1 is parallel to the X axis, then y1=Y2. Also here, P1
Let the length of and Q be 2. In addition, the two bumps of chip 2 bonded to the leads Pl and Ql points are P2 and Q2.
shall be. The method of the invention will now be explained according to FIG. 3 with reference to FIG. First, as shown in FIG. 3b, the chip 2 is moved on a plane using an XY table to align the first point. That is, the bump P2 is aligned with the lead P. Next, as shown in FIG. 3C, alignment is performed at the second point. That is, the bump Q2 is aligned with the lead Q1. At this time, the amount by which point Q2 moves from state b to state C in the same diagram is △X
, Δy, the inclination of the chip 2 with respect to the substrate 1, that is, the inclination ★θ of P7F (P2 with respect to Q1) is expressed by the following formula.Equation (1) is for the case where PV, is parallel to the As shown in FIG. 5, when PV is parallel to the Y axis, the following equation is obtained.

△X また第6図に示すようにP7L,がX軸に対して任意の
傾きrを有する場合は次式のようになる。
ΔX Further, when P7L has an arbitrary slope r with respect to the X axis as shown in FIG. 6, the following equation is obtained.

上記(1×2X3)式において、2、IXl−X2l.
yl−Y2lはリードの2点05X軸上およびY軸上の
長さを検出することにより判明し、また△X,△yはチ
ツプの第1点をリードの第1点にマニプレータを操作し
てXYテーブルを駆動して合せ、この状態よりチツプの
第2点をリードの第2点に前記と同様にして合せた時に
おけるチツプの第2点の移動量であるので、前記した操
作によつて容易に検出できる。そこで、これらの値を検
出し、コンピユータによつてリードを回転させる回転角
θが上記(1X2X3)に従つて容易に自動的に算出さ
れ、回転台3のθ角度回転によつて第3図dに示すよう
に基板1とチツプ2との全てのボンデイング点は一致す
る。第7図は上記した方法のフローチヤートを示す。以
上の説明から明らかな如く、本発明のチツプボンデイン
グの位置合せ方法によれば、基板上の任意の第1点目の
リードにこれに対応するチツプの第1点目のバンプを合
せ、次に第2点目のりードにこれに対応する第2点目の
バンプを合せるのみでよく、これにより第2点目のバン
プの移動量が検出されてチツプに対するリードの回転角
が算出されるので、その操作は熟練を要しなく容易に、
また迅速かつ正確に行なうことができる。
In the above formula (1×2X3), 2, IXl−X2l.
yl-Y2l is determined by detecting the lengths of the two points on the X and Y axes of the lead, and △X and △y are determined by operating the manipulator to set the first point of the chip to the first point of the lead. This is the amount of movement of the second point of the chip when the XY table is driven and aligned, and from this state the second point of the chip is aligned with the second point of the lead in the same manner as described above. Easily detectable. Therefore, by detecting these values, the rotation angle θ for rotating the reed is easily and automatically calculated by the computer according to the above (1X2X3), and by rotating the rotation table 3 by the θ angle, As shown in FIG. 2, all bonding points between substrate 1 and chip 2 coincide. FIG. 7 shows a flowchart of the method described above. As is clear from the above description, according to the chip bonding alignment method of the present invention, the first bump on the chip corresponding to the first lead on the board is aligned with the first lead on the board, and then All you have to do is match the second point lead with the corresponding second point bump, and this will detect the amount of movement of the second point bump and calculate the rotation angle of the lead with respect to the chip. , its operation is easy and requires no skill,
It can also be done quickly and accurately.

またトレイ又はウエフアリングから直接チツプをピツク
アツプしてボンデイング位置に搬送することもでき、チ
ツプの位置修正ステーシヨンを省略することもできる。
上記のようにして基板1を保持する回転台3の角度が算
出され、これにより基板1とチツプ2との角度のずれは
補正される。
It is also possible to pick up the chips directly from the tray or wafer ring and transport them to the bonding position, and a chip position correction station can be omitted.
As described above, the angle of the rotary table 3 that holds the substrate 1 is calculated, and thereby the angular deviation between the substrate 1 and the chip 2 is corrected.

この場合、回転台3の回転中心がリードの第2点目Q1
に一致している時は回転台の回転のみで基板1とチツプ
2との全てのボンデイング点は完全に一致する。しかし
ながら、回転台の中心がリードの第2点目Q1に一致し
ていない時はXYテーブルを駆動してチツプ2をXY方
向に移動させて一致させる必要がある。次に前記した回
転台によりθ補正後のペレツトの移動量の調整方法につ
いて説明する。
In this case, the center of rotation of the turntable 3 is the second point Q1 of the lead.
When they match, all the bonding points between the substrate 1 and the chip 2 are perfectly matched just by rotating the rotary table. However, when the center of the rotary table does not coincide with the second point Q1 of the lead, it is necessary to drive the XY table to move the chip 2 in the XY direction so that the center coincides with the second point Q1 of the lead. Next, a method of adjusting the amount of pellet movement after θ correction using the rotary table described above will be explained.

今、第4図のようにGtlがX軸に平行な場合について
説明する。第8図に示すように、回転台の回転中心をO
点とし、このO点を原点としてPl,Qlの座標P1(
Xl,yl)、Q1(X2,y2)が決められていると
する。またPJ,Q2′はチツプの第2点目Q2をリー
ドの第2点目Q1に合せたときのチツプの第1点目P2
および第2点目Q2の位置とする。この状態で前記のよ
うにして算出された角度θだけ回転台を回転させると、
リードP,,Ql点はP2′,Q2′と平行なP/,Q
/になる。そこで、Q/とQ2′(又はP/とP2′)
のずれ量△Xl,△y1だけチツプを移動させると、Q
/はQJに、P/はP2′に一致することになる。今、
閲,がX軸となす角をθ1、閲の長さをrとすると、σ
Q1=0Q/−rであるので、△Xl,△y1は次式で
表わされる。
Now, the case where Gtl is parallel to the X axis as shown in FIG. 4 will be explained. As shown in Figure 8, the center of rotation of the turntable is set to O.
point, and the coordinates P1(
Suppose that Xl, yl) and Q1 (X2, y2) are determined. PJ, Q2' is the first point P2 of the chip when the second point Q2 of the chip is matched with the second point Q1 of the lead.
and the position of the second point Q2. In this state, if the rotary table is rotated by the angle θ calculated as above,
Lead P,,Ql point is P/,Q parallel to P2',Q2'
/become. Therefore, Q/ and Q2' (or P/ and P2')
When the chip is moved by the amount of deviation △Xl, △y1, Q
/ will match QJ, and P/ will match P2'. now,
Let θ1 be the angle between the angle and the X axis, and r be the length of the angle, then σ
Since Q1=0Q/-r, ΔXl and Δy1 are expressed by the following equations.

ここで、RcOsθ1:X2,rsinθ1=Y2であ
るので、上記(4×5)式は次のようになる。
Here, since RcOsθ1:X2, rsinθ1=Y2, the above equation (4×5) becomes as follows.

これら(6X7)式より明らかなように、固転台の回転
中心を基準として基板又はチツプの任意の一点の座標を
求めておくと、回転台をθ回転させた時のチツプと基板
とのずれ量△Xl,△y1が算出される。
As is clear from these equations (6X7), if the coordinates of any point on the substrate or chip are determined with the center of rotation of the rotating table as a reference, the deviation between the chip and the substrate when the rotating table is rotated by θ can be calculated. The quantities ΔXl and Δy1 are calculated.

これによつてマニプレータによつて前記のように第2点
目を合せた後、回転台をθ角度及びXYテーブルを△X
l,△y1移動させることにより、基板1とチツプ2と
はボンデイング適合位置に合せられる。
With this, after aligning the second point with the manipulator as described above, the rotary table is set at θ angle and the XY table is set at △X.
By moving the substrate 1 and the chip 2 by 1 and Δy1, the substrate 1 and the chip 2 are brought into bonding compatible positions.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はボンデイング前の状態を示す斜視図、第2図は
基板とチツプとの観察方法を示す説明図、第3図A,b
,c,dは本発明の方法の一実施例を示す説明図、第4
図、第5図、第6図は本発明になる方法で用いる角度算
出方法を説明するための線図、第7図は本発明の方法の
フローチマート図、第8図は本発明の他の実施例を示す
位置ずれ算出方法を説明するための線図である。 1・・・・・・基板、1a・・・・・・リード、2・・
・・・・チツプ、2a・・・・・・バンプ、3・・・・
・・回転台、5・・・・・・コレツト、P1・・・・・
・リードの第1点目、P2・・・・・・バンプの第1点
目、Q1・・・・・・リードの第2点目、Q2・・・・
・・バンプの第2点目、θ・・・・・・回転角。
Figure 1 is a perspective view showing the state before bonding, Figure 2 is an explanatory diagram showing how to observe the substrate and chip, and Figures 3A and b.
, c, d are explanatory diagrams showing one embodiment of the method of the present invention;
5 and 6 are diagrams for explaining the angle calculation method used in the method of the present invention, FIG. 7 is a flowchart diagram of the method of the present invention, and FIG. FIG. 3 is a diagram for explaining a positional deviation calculation method showing an example. 1... Board, 1a... Lead, 2...
...Tip, 2a...Bump, 3...
・・Rotary table, 5・・Collection, P1・・・・
・1st point of lead, P2...1st point of bump, Q1...2nd point of lead, Q2...
...Second point of bump, θ...Rotation angle.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 回転台上に位置決めされた基板と、この基板上方に
XYテーブルによつて駆動されるコレットに吸着されて
搬送されるチップとを重なりあつて映し出した像により
、回転台を回転させて基板とチップとの傾きを調整して
ボンディングするチップボンディング方法において、基
板上の任意の第1点目のリードにこれに対応するチップ
の第1点目のバンブをXYテーブルを駆動して合せ、次
に任意の第2点目のリードにこれに対応する第2点目の
バンブを前記と同様にXYテーブルを、駆動して合せ、
前記第1点目から第2点目までのXYテーブルの移動量
を検出してコンピュータに入力することにより、基板に
対するペレットの傾きを算出し、この算出された回転角
だけ回転台を回転させて基板の傾きをチップの傾きに合
せることを特徴とするチツプボンデイグの位置合せ方法
。 2 回転台上に位置決めされた基板と、この基板上方に
XYテーブルによつて、駆動されるコレットに吸着され
て搬送されるチップとを重なりあつて映し出した像によ
り、回転台を回転させて基板とチップとの傾きを、また
XYテーブルを駆動して基板とチップとのずれを調整し
てボンディングするチップボンディング方法において、
基板上の任意の第1点目のリードにこれに対応するチッ
プの第1点目のバンブをXYテーブルを駆動して合せ、
次に任意の第2点目のリードにこれに対応する第2点目
のバンブを前記と同様にXYテーブルを駆動して合せ、
前記第1点目から第2点目までのXYテーブルの移動量
を検出してコンピュータに入力することにより、基板に
対するペレットの傾きを算出し、この算出された回転角
だけ回転台を回転させて基板の傾きをチップの傾きに合
せ、かつ前記回転台の回転角と回転台の回転中心を原点
としたときの基板の任意の点の座標とにより、コンピュ
ータによつて基板とチップとの平行なずれ量を算出し、
このずれ量を補正するようにXYテーブルを駆動して基
板とチップとの位置合せを行なうことを特徴とするチッ
プボンディングの位置合せ方法。
[Scope of Claims] 1. The image of the substrate positioned on the rotating table and the chip that is attracted to the collet and transported by the collet driven by the In a chip bonding method in which the inclination of the substrate and chip is adjusted by rotating the board and the chip is bonded, an XY table is driven to attach a bump at the first point of the chip corresponding to an arbitrary first point lead on the substrate. Then, drive the XY table to match the corresponding second point bump to the lead of any second point in the same way as above,
By detecting the amount of movement of the XY table from the first point to the second point and inputting it into the computer, the inclination of the pellet with respect to the substrate is calculated, and the rotating table is rotated by the calculated rotation angle. A chip bonding alignment method characterized by matching the inclination of the board to the inclination of the chip. 2 The rotating table is rotated using the superimposed images of the substrate positioned on the rotating table and the chips that are attracted and transported by the collet driven by the XY table above the substrate. In a chip bonding method in which bonding is performed by adjusting the inclination between the substrate and the chip and the deviation between the substrate and the chip by driving an XY table,
Drive the XY table to align the first point bump of the chip corresponding to the first point lead on the board,
Next, drive the XY table in the same manner as above to match the second point bump corresponding to the lead of any second point,
By detecting the amount of movement of the XY table from the first point to the second point and inputting it into the computer, the inclination of the pellet with respect to the substrate is calculated, and the rotating table is rotated by the calculated rotation angle. By adjusting the inclination of the substrate to the inclination of the chip, and using the rotation angle of the rotary table and the coordinates of an arbitrary point on the substrate with the rotation center of the rotary table as the origin, the computer calculates the parallel relationship between the substrate and the chip. Calculate the amount of deviation,
A chip bonding alignment method characterized by aligning a substrate and a chip by driving an XY table to correct the amount of deviation.
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