JPS5924394B2 - Even order strain detection device - Google Patents
Even order strain detection deviceInfo
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- JPS5924394B2 JPS5924394B2 JP2679577A JP2679577A JPS5924394B2 JP S5924394 B2 JPS5924394 B2 JP S5924394B2 JP 2679577 A JP2679577 A JP 2679577A JP 2679577 A JP2679577 A JP 2679577A JP S5924394 B2 JPS5924394 B2 JP S5924394B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はひずみを検知する装置に関し、特に偶数次ひず
みの大きさとその極性とを検知する装置に関するもので
ある。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a device for detecting strain, and more particularly to a device for detecting the magnitude and polarity of even-order strain.
近年電子技術の発達に伴つて各種信号の伝送が行なわれ
る。In recent years, with the development of electronic technology, various signals have been transmitted.
この場合、信号伝送系にはバイアスが不適当なトランジ
スタ増巾器、光通信のための発受光器(ホトカプラ)、
磁気および光を用いた記録再生装置、ダイオードを用い
た回路等の非直線特性を有する素子または回路が含まれ
る場合が多い。このような非直線特性を有する伝送系を
介して信号を伝送すると、本来は正弦波であるべき伝送
信号が偶数次ひずみによつて誤伝送されてしまう場合が
ある。従来、このようなひずみの発生を検出するために
は、信号系にオシロスコープ又はスペクトラムアナライ
ザ等の高価な測定器を接続し、この測定器を観測するこ
とによつて誤伝送される原因となる偶数次ひずみの発生
個所の発見およびこれを除くべく伝送系の調整にこのよ
うな測定器が用いられていた。In this case, the signal transmission system includes a transistor amplifier with an inappropriate bias, a light emitting/receiving device (photocoupler) for optical communication,
It often includes elements or circuits with nonlinear characteristics, such as recording and reproducing devices using magnetism and light, and circuits using diodes. When a signal is transmitted through a transmission system having such nonlinear characteristics, the transmission signal, which should originally be a sine wave, may be erroneously transmitted due to even-order distortion. Conventionally, in order to detect the occurrence of such distortion, an expensive measuring device such as an oscilloscope or spectrum analyzer was connected to the signal system, and by observing the measuring device, even numbers that could cause erroneous transmission were detected. Such measuring instruments were used to discover where distortion occurs and to adjust transmission systems to eliminate it.
しかしながら、上述した方法では偶数次ひずみの検出に
高価な測定器が必要とされると共に、測定者が常時観測
を続けなければならない。However, the above-mentioned method requires an expensive measuring instrument to detect even-order distortion, and requires constant observation by a measurer.
また観測者が自らデータを読み取り、この読み取つたデ
ータに基づいて対策とする制御(調整)を行なわなけれ
ばならないので自動化に不向きである等の種々の欠点を
有している。本発明は以上の点に鑑み、このような問題
を解決すると共にかかる欠点を除去すべくなされたもの
で、その目的は、偶数次ひずみの検出を自動的に行なう
ことができる偶数次ひずみ検出装置を提供することにあ
る。Furthermore, since the observer must read the data himself and perform control (adjustment) as a countermeasure based on the read data, it has various drawbacks such as being unsuitable for automation. In view of the above points, the present invention has been made to solve such problems and eliminate such drawbacks, and its purpose is to provide an even-order strain detection device that can automatically detect even-order distortions. Our goal is to provide the following.
以下図面を用いて本発明による偶数次ひずみ検出装置を
詳細に説明する。第1図は本発明による偶数次ひずみ検
出装置の一実施例を示すブロック図であり、入力端子1
を介して偶数次ひずみを検出すべき被測定信号がバンド
・バス・フィルタ2に加えられている。ここで、この被
測定信号は、例えば周波数変調された信号である。また
、バンド・バス・フィルタ2はこの周波数変調された信
号の側帯波の大部分を通し、直流は通さないものとする
。そして、バンド・バス・フィルタ2を通つた周波数変
調された信号はさらにリミツタ3を通り、その出力は分
岐されて一方はクランプ回路4、ローパス・フイルタ5
を直列に介して差動増巾器6の一方の入力端に加えられ
る。またリミツタ3から分岐された出力の他方は反転増
巾器7、クランプ回路8およびローパス・フイルタ9を
直列に介して差動増巾器6の他の入力端に加えられる。
ここで、このリミツタ3はわずかでも正となる入力電圧
に対してある一定の出力電圧Vaを与え、わずかでも負
となる入力電圧に対しては他の一定の出力電圧Vbを与
えるものとする。ただしVa>Vbであるこのようなリ
ミツタ3はダイオードと増巾器を用いた公知の回路で実
現できる。そして、クランプ回路4およびクランプ回路
8は共に入力電圧の波形の下端を0Vにクランプするも
のとする。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The even-order strain detection device according to the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an even-order strain detection device according to the present invention, in which input terminal 1
A signal under test whose even-order distortion is to be detected is applied to the band pass filter 2 via the bandpass filter 2. Here, the signal under test is, for example, a frequency modulated signal. Furthermore, it is assumed that the band pass filter 2 passes most of the sideband waves of this frequency-modulated signal and does not pass direct current. The frequency-modulated signal that has passed through the band bus filter 2 further passes through a limiter 3, and its output is branched, with one side being sent to a clamp circuit 4 and one to a low-pass filter 5.
is applied in series to one input terminal of the differential amplifier 6. The other branched output from the limiter 3 is applied to the other input terminal of the differential amplifier 6 via an inverting amplifier 7, a clamp circuit 8, and a low-pass filter 9 in series.
Here, it is assumed that the limiter 3 provides a certain output voltage Va for input voltages that are even slightly positive, and provides another constant output voltage Vb for input voltages that are even slightly negative. However, such a limiter 3 in which Va>Vb can be realized by a known circuit using a diode and an amplifier. It is assumed that both the clamp circuit 4 and the clamp circuit 8 clamp the lower end of the input voltage waveform to 0V.
また、ローパス・フイルタ5およびローパス・フイルタ
9はいずれもカツトオフ周波数が入力端子1に加わる周
波数変調信号の変調周波数より十分低いものとする。差
動増巾器6は第1入力Aの電圧から第2入力Bの電圧を
差引いた電圧を出力端子11に出力として供給するもの
である。つぎにこの第1図に示す実施例の動作を各部の
波形を示す第2図および第3図を参照して説明する。Further, it is assumed that both the low-pass filter 5 and the low-pass filter 9 have cutoff frequencies sufficiently lower than the modulation frequency of the frequency modulation signal applied to the input terminal 1. The differential amplifier 6 supplies a voltage obtained by subtracting the voltage of the second input B from the voltage of the first input A to the output terminal 11 as an output. Next, the operation of the embodiment shown in FIG. 1 will be explained with reference to FIGS. 2 and 3 showing waveforms at various parts.
まず、入力端子1に高調波ひずみの全く無い周波数変調
された被測定信号が加えられると、フイルタ2の出力信
号はほ寸第2図Aに示すような波形Pとなり、その波形
Pの中心線Qの電圧はゼロ(0)となる。そしてバンド
パス・フイルタ2の出力信号はリミツタ3に加えられ、
このリミツタ3の出力は第2図Bに示す方形波となる。
この方形波は被測定信号が高調波ひずみを全く含まない
ために、リミツタ3の働きによつてデユーテイ・フアク
タほ〜0,5となる。すなわち、出力がVaとなる期間
とbとなる期間は、長時間の平均をとれば共に等しくな
る。従つて、リミツタ3の出力を入力とするクランプ回
路4の出力はクランプ回路4の働きによつて第2図Cに
示す波形となる。一方、リミツタ3の出力は、反転増巾
器7を介して入力するクランプ回路8の働きによつて第
2図Dに示すようになる。第2図Dは第2図Cに示す波
形の極性を反転しか・つ下端をゼロ(0)にクランプし
たものとなる。次に、クランプ回路4およびクランプ回
路8の各出力をそれぞれ入力とするローパス・フイルタ
5およびローパス・フイルタ9の出力はそれぞれ、第2
図CおよびDに示す波形の平均値に等しくなるがデユー
テイ・フアクタが0.5であるためいずれも−f(Va
−Vb)となる。従つて、差動増巾器6の出力はゼロと
なる。すなわち入力端子1における入力波形がひずみの
ない正弦波であれば出力端子11の電圧はゼロとなる。
次に、端子1に非直線素子、たとえばバイアスが不適当
なトランジスタ増巾器により偶数次ひずみを受けた被測
定信号が加えられたとする。First, when a frequency-modulated signal under test with no harmonic distortion is applied to the input terminal 1, the output signal of the filter 2 becomes a waveform P as shown in Fig. 2A, and the center line of the waveform P The voltage at Q becomes zero (0). The output signal of bandpass filter 2 is then applied to limiter 3,
The output of this limiter 3 becomes a square wave shown in FIG. 2B.
Since the signal to be measured does not contain any harmonic distortion, the square wave has a duty factor of 0.5 due to the action of the limiter 3. That is, the period in which the output is Va and the period in which the output is B are both equal if averaged over a long period of time. Therefore, the output of the clamp circuit 4, which receives the output of the limiter 3, has the waveform shown in FIG. 2C due to the action of the clamp circuit 4. On the other hand, the output of the limiter 3 becomes as shown in FIG. 2D due to the action of the clamp circuit 8 inputted via the inverting amplifier 7. FIG. 2D is obtained by inverting the polarity of the waveform shown in FIG. 2C and clamping the lower end to zero (0). Next, the outputs of the low-pass filter 5 and the low-pass filter 9, which receive the outputs of the clamp circuit 4 and the clamp circuit 8, respectively, are connected to the second filter.
It is equal to the average value of the waveforms shown in Figures C and D, but since the duty factor is 0.5, both −f(Va
-Vb). Therefore, the output of the differential amplifier 6 becomes zero. That is, if the input waveform at input terminal 1 is a sine wave without distortion, the voltage at output terminal 11 will be zero.
Next, it is assumed that a signal under measurement that has undergone even-order distortion is applied to terminal 1 by a nonlinear element, such as a transistor amplifier with inappropriate bias.
このような素子を通した波形は一般に立上りと立下り時
間がほK等しいので第3図Aに例示するように、正弦波
の下半分がつまつたような波形Rとなる。このとき平均
値Sは第3図Aに示すようにひずみを受けなかつたとき
の波形Tの平均値uより正方向にずれ、バンドパス・フ
イルタ2を通つた後、リミツタ3の動作点にずれが生じ
る。第3図Bは入力端子1の電圧が第3図Aに示す波形
Rの場合におけるリミツタ3の出力電圧波形である。そ
して、波形Rのデユーテイ・フアクタをmとすればm<
0.5である。第3図CおよびDはそれぞれリミツタ3
の出力電圧を入力とするクランプ回路4およびクランプ
回路8の出力波形であるが、第3図Cに示す波形の平均
値はm(Va−Vb)であり、第3図Dに示す波形の平
均値は(1−m)(VaVb)である。従つて、ローパ
ス・フイルタ5の出力はローパス・フイルタ9の出力電
圧よりも負となるので、差動増巾器6の出力電圧は(2
m1)(Va−Vb)となつて負の値を示す。次に入力
端子1に第3図Aとは逆に第3図Eに示すように波形の
上側がつまつた波形が供給されると、前記と同様に非直
線素子により波形が偶数ひずみを受け、このひずみは非
直線性の極性が逆の場合に起こる。このようなときには
、第3図Eに示す波形の平均値は正弦波に比較して正方
向にずれているため、リミツタ3の出力波形は第3図F
に示すようになり、この波形のデユーテイ・フアクタm
は0.5より犬きくなる。このため、クランプ回路4お
よびクランプ回路8、ローパス・フイルタ5およびロー
パス・フイルタ9ならびに差動増巾器6の動作により、
出力電圧の値は(2m1)(Va−Vb)であるが、そ
の値は正の値を示すことになる。なお、上述した実施例
においては入力波形が正負対称なひずみを有するもの、
すなわち、奇数次ひずみを有するものに対しては応答し
ないが、周波数変調信号においては、このようなひずみ
は通常害とはならず、このような応答性が問題となるこ
とはない。Since the waveform passed through such an element generally has a rise time and a fall time that are approximately equal to K, the waveform R becomes a waveform R in which the lower half of a sine wave is condensed, as illustrated in FIG. 3A. At this time, the average value S deviates in the positive direction from the average value u of the waveform T when no distortion is applied, as shown in FIG. occurs. FIG. 3B shows the output voltage waveform of the limiter 3 when the voltage at the input terminal 1 has the waveform R shown in FIG. 3A. Then, if the duty factor of waveform R is m, then m<
It is 0.5. Figure 3 C and D are limiter 3, respectively.
These are the output waveforms of the clamp circuit 4 and the clamp circuit 8 which input the output voltage of , and the average value of the waveform shown in FIG. The value is (1-m)(VaVb). Therefore, the output of the low-pass filter 5 is more negative than the output voltage of the low-pass filter 9, so the output voltage of the differential amplifier 6 is (2
m1) (Va-Vb), which shows a negative value. Next, when a waveform with the upper side of the waveform congested as shown in FIG. 3E is supplied to input terminal 1, contrary to FIG. , this distortion occurs when the polarity of the nonlinearity is reversed. In such a case, the average value of the waveform shown in Fig. 3E is shifted in the positive direction compared to the sine wave, so the output waveform of the limiter 3 is as shown in Fig. 3F.
The duty factor m of this waveform is as shown in
is more dog-like than 0.5. Therefore, by the operation of the clamp circuit 4 and the clamp circuit 8, the low-pass filter 5 and the low-pass filter 9, and the differential amplifier 6,
The value of the output voltage is (2m1) (Va-Vb), which is a positive value. In the above embodiments, the input waveform has symmetrical distortion;
That is, it does not respond to odd-order distortions, but in frequency modulated signals, such distortions are usually not harmful, and such responsiveness does not pose a problem.
また本発明の実施例においてぱ、入力信号が周波数変調
されている場合について説明したが、振巾変調において
も変調度が100%にならないかぎり本発明を用いるこ
とができる。また本発明は伝送系に限らず、正負対称な
波形を取扱う場合にはすべて適用できるものである。以
上説明したように、入力端子1に加えられる信号がひず
みのない正弦波である場合には出力端子11の電圧はゼ
ロであるが、伝送系の非直線性により波形の正または負
の方向につまるようなひずみを受けた信号が加えられた
場合にはそのひずみの程度と極性に応じた大きさの電圧
が出力端子11に送出されることになる。従つて、出力
端子11の電圧を利用して例えば伝送系の偶数次ひずみ
の大きさと極性を知ることができ、伝送系のひずみの監
視に極めて役立つ。このため、従来のスペクトラム・ア
ナライザに比べて安価に構成できると共に、ひずみの極
性およびひずみの量が読み取れる。また、本発明によれ
ば、ひずみの量と極性が電圧値で得られるために、自動
記録および自動処理に用いることができ、かつひずみの
発生源にフイード・バツクして伝送系のひずみを自動的
に小さくするように制御できる等の種々の優れた効果を
有する。Further, in the embodiments of the present invention, the case where the input signal is frequency modulated has been described, but the present invention can also be used in amplitude modulation as long as the degree of modulation is not 100%. Further, the present invention is not limited to transmission systems, but can be applied to all cases where positive and negative symmetrical waveforms are handled. As explained above, when the signal applied to input terminal 1 is a sine wave without distortion, the voltage at output terminal 11 is zero, but due to the nonlinearity of the transmission system, the voltage may change in the positive or negative direction of the waveform. When a signal subjected to such distortion is applied, a voltage corresponding to the degree and polarity of the distortion is sent to the output terminal 11. Therefore, the voltage at the output terminal 11 can be used to determine, for example, the magnitude and polarity of even-order distortion in the transmission system, which is extremely useful for monitoring distortion in the transmission system. Therefore, it can be constructed at a lower cost than conventional spectrum analyzers, and the polarity and amount of distortion can be read. Furthermore, according to the present invention, since the amount and polarity of strain can be obtained as a voltage value, it can be used for automatic recording and automatic processing, and can be used to automatically detect strain in the transmission system by feeding back to the source of the strain. It has various excellent effects such as being able to be controlled so as to be small in size.
第1図は本発明による偶数次ひずみ検知装置の一実施例
を示すプロツク図、第2図は第1図に示す回路にひずみ
のない波形が加えられたときの各部波形図、第3図は第
1図に示す回路に偶数次ひずみのある波形が加えられた
ときの各部波形図である。
2・・・・・・バンドパス・フイルタ、3・・・・・・
リミツタ、4,8・・・・・・クランプ回路、5,9・
・・・・・ローパス・フイルタ、6・・・・・・差動増
巾器、7・・・・・・反転増巾器、11・・・・・・出
力端子。Fig. 1 is a block diagram showing an embodiment of an even-order strain detection device according to the present invention, Fig. 2 is a waveform diagram of various parts when a distortion-free waveform is applied to the circuit shown in Fig. 1, and Fig. 3 is FIG. 2 is a waveform diagram of various parts when a waveform with even-order distortion is added to the circuit shown in FIG. 1; 2...Band pass filter, 3...
Limiter, 4, 8... Clamp circuit, 5, 9...
...Low pass filter, 6 ... Differential amplifier, 7 ... Inverting amplifier, 11 ... Output terminal.
Claims (1)
なるに伴つて二種の電圧を出力する第1の回路と、この
第1の回路から送出される出力電圧の極性を反転した電
圧を出力する第2の回路と、前記第1および第2の回路
の出力電圧からそれぞれ出力電圧の上端または下端を共
通の電圧にクランプした電圧を得る第3および第4の回
路と、この第3および第4の回路の出力端にそれぞれ接
続された第1および第2のローパス・フィルタと、この
第1および第2のローパス・フィルタの出力電圧をそれ
ぞれ第1および第2の入力とする差動増巾器とを備え、
前記差動増巾器の出力端からひずみの極性とその大きさ
に対応した電圧信号を取り出すようにしたことを特徴と
する偶数次ひずみ検知装置。1 A first circuit that outputs two types of voltage as the signal under test becomes more positive or negative than its average level, and a voltage that is the polarity of the output voltage sent from this first circuit. a second circuit for output; a third and fourth circuit for obtaining a voltage obtained by clamping the upper end or the lower end of the output voltage to a common voltage from the output voltage of the first and second circuits; A differential amplifier includes first and second low-pass filters connected to the output terminals of the fourth circuit, respectively, and the output voltages of the first and second low-pass filters as first and second inputs, respectively. Equipped with a drawer,
An even-order distortion detection device characterized in that a voltage signal corresponding to the polarity and magnitude of distortion is extracted from the output end of the differential amplifier.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2679577A JPS5924394B2 (en) | 1977-03-10 | 1977-03-10 | Even order strain detection device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2679577A JPS5924394B2 (en) | 1977-03-10 | 1977-03-10 | Even order strain detection device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS53111769A JPS53111769A (en) | 1978-09-29 |
| JPS5924394B2 true JPS5924394B2 (en) | 1984-06-08 |
Family
ID=12203247
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2679577A Expired JPS5924394B2 (en) | 1977-03-10 | 1977-03-10 | Even order strain detection device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5924394B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018216709A1 (en) | 2017-05-26 | 2018-11-29 | ウシオ電機株式会社 | Sterilization method and sterilization device |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6032802B2 (en) * | 1978-10-26 | 1985-07-30 | 株式会社不二越 | Rolling bearing rotational accuracy and clearance measuring device |
-
1977
- 1977-03-10 JP JP2679577A patent/JPS5924394B2/en not_active Expired
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018216709A1 (en) | 2017-05-26 | 2018-11-29 | ウシオ電機株式会社 | Sterilization method and sterilization device |
| KR20190141214A (en) | 2017-05-26 | 2019-12-23 | 우시오덴키 가부시키가이샤 | Sterilization Method, Sterilization Device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS53111769A (en) | 1978-09-29 |
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