JPS5940289B2 - Manufacturing method for resin-sealed semiconductor device - Google Patents
Manufacturing method for resin-sealed semiconductor deviceInfo
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- JPS5940289B2 JPS5940289B2 JP53123842A JP12384278A JPS5940289B2 JP S5940289 B2 JPS5940289 B2 JP S5940289B2 JP 53123842 A JP53123842 A JP 53123842A JP 12384278 A JP12384278 A JP 12384278A JP S5940289 B2 JPS5940289 B2 JP S5940289B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は長大なフィルム状リードフレームを用いた樹脂
封止型半導体装置の製造方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method of manufacturing a resin-sealed semiconductor device using a long film-like lead frame.
樹脂封止型半導体装置は、金属封止型半導体装置にくら
べてその製作が量産性に富み、また、コスト面でも金属
封止型半導体装置より有利である。近年、半導体素子に
対する表面安定化処理技術が大幅に進歩し、特殊な半導
体装置を除き大半の半導体装置が樹脂封止構造とされる
に至つている。第1図は、樹脂封止型半導体装置、たと
えば、通常小電力用トランジスタの製作に際して使用さ
れるリードフレームの構造を示す図である。この9−ド
フレームは共通接続部1から多数のリードが同一方向に
のび、たとえばリード2、3および4によつて1つのト
ランジスタ支持部が形成されるものであれ、通常、20
〜30のトランジスタ支持部を有している。なお、図中
5はリードを補強しかつリード間の間隔を一定に保つた
めの橋絡細条、6は組立工程においてリードフレームを
等ピッチで移送するための移送ピンが嵌入する孔である
。ところで、図示するリードフレームは1枚の金属板に
打ち抜き加工を施して1体物として形成されたものであ
り、かかるリードフレームを用いてトランジスタを製作
する場合、リードフレームは投入装置を用いて組立装置
へ連続的に送り込まれ、順次移送される。Resin-sealed semiconductor devices can be manufactured more easily in mass production than metal-sealed semiconductor devices, and are also more advantageous than metal-sealed semiconductor devices in terms of cost. In recent years, surface stabilization processing technology for semiconductor elements has significantly advanced, and most semiconductor devices, except for special semiconductor devices, now have a resin-sealed structure. FIG. 1 is a diagram showing the structure of a lead frame used in manufacturing a resin-sealed semiconductor device, such as a typical low-power transistor. This 9-fold frame has a large number of leads extending in the same direction from the common connection 1, for example, leads 2, 3 and 4 form one transistor support, but usually 20
It has ~30 transistor supports. In the figure, reference numeral 5 indicates bridging strips for reinforcing the leads and keeping the distance between the leads constant, and reference numeral 6 indicates a hole into which a transfer pin is inserted for transferring the lead frame at an equal pitch during the assembly process. By the way, the lead frame shown in the figure is formed as a single piece by punching a single metal plate, and when manufacturing a transistor using such a lead frame, the lead frame is assembled using a loading device. It is continuously fed into the device and transferred sequentially.
このようなリードフレームを用いた場合、半導体基板を
9−ドフレームの基板支持部へ接着するダイスボンド工
程、半導体基板上電極と外部リードとの間を金属細線で
接続するワイヤボンド工程を全て自動化することができ
、生産性が著るしく向上する。When such a lead frame is used, the die bonding process in which the semiconductor substrate is bonded to the substrate support part of the 9-board frame and the wire bonding process in which the electrodes on the semiconductor substrate and the external leads are connected using thin metal wires are all automated. This significantly improves productivity.
しかしながら、20〜30個のトランジスタの組みたて
が可能な9−ドフレームであつても、ダイスボンド作業
ならびにワイヤボンド作業のインデックスをさらに高め
た場合、その供給を頻繁になさねばならず、リードフレ
ーム供給装置の監視を常時行わねばならない問題が生じ
る。また、トランジスタを組みたてるための各種の組立
作業間が不連続であるため、この間にリードフレームの
取り扱い作業が付加され、作業全体が繁雑である問題が
残されていた。また、ダイスボンドあるいはワイヤボン
ドが終了した直後とbわけ、ワイヤボンドの終了した直
後のリードフレームの取り扱いには細心の注意を払う必
要があり1このため、全体の作業性を十分なまでに高め
ることができない問題も残されていた。本発明は、以上
説明してきた通常のリードフレームを用いる製造方法に
残されていた問題点をことごとく排除することができる
樹脂封止型半導体装置の製造方法を提供するものであり
1本発明の製造方法では、まず長大なフイルム状リード
フレームをロール状となし、これを一方向へ巻き取る過
程で、樹脂による封止作業を含む組み立て作業が連続的
に行われる。However, even with a 9-frame frame that allows assembly of 20 to 30 transistors, if the index of die bonding work and wire bonding work is further increased, it must be supplied frequently, and lead A problem arises in that the frame supply device must be constantly monitored. Furthermore, since the various assembly operations for assembling the transistors are discontinuous, there remains the problem that handling of the lead frame is added during this time, making the entire operation complicated. In addition, it is necessary to pay close attention to the handling of the lead frame immediately after die bonding or wire bonding, as well as immediately after die bonding or wire bonding1.For this reason, overall workability is sufficiently improved. There were also problems that could not be solved. The present invention provides a method for manufacturing a resin-sealed semiconductor device that can eliminate all of the problems that remain in the manufacturing method using the conventional lead frame described above. In this method, a long film-like lead frame is first formed into a roll, and in the process of winding it in one direction, assembly work including sealing work with resin is performed continuously.
以下に図面を参照して本発明の製造方法について詳しく
説明する。第2図は本発明の製造方法で用いられる小電
力用トランジスタのリードフレームを示す図であり1そ
の基本的な構造は第1図で示した従来のものと同一であ
り1、図示するように、リード2,3訃よび4によつて
1つのトランジスタ支持部が形成され、その中央のリー
ド3の先端部にトランジスタ素子基板が接着され、また
、トランジスタ素子基板上の電極が風属細線によつてリ
ード2と4の先端部に接続される構成となつている。The manufacturing method of the present invention will be explained in detail below with reference to the drawings. FIG. 2 is a diagram showing a lead frame of a low power transistor used in the manufacturing method of the present invention.1 Its basic structure is the same as the conventional one shown in FIG. , one transistor support part is formed by the leads 2, 3, and 4, and the transistor element substrate is adhered to the tip of the lead 3 in the center, and the electrodes on the transistor element substrate are bonded with wind wires. The structure is such that it is connected to the tips of leads 2 and 4.
ところで、図示するリードフレームの全長は、、たとえ
ば200m程度で極めて長く、このリードフレームには
卦よそ30000個程度の極めて多くのトランジスタ支
持部が形成されている。そして、かかる長大なリードフ
レームは図示7で示すようにロール状体とされて卦b1
組立時に矢印X方向へ連続的に移送されるとともに、こ
れが巻き取られ、組み立てのなされたリードフレームの
ロール状体8が形成されてゆく。第3図は第2図で示し
たチードフレームを用いてトランジスタを製造する本発
明の製造方法を説明するための原理図であり1軸体9に
巻かれてロール状体7とされたリードフレーム10は、
ダイスボンド部11、ワイヤボンド部12,粉末樹脂に
よる1次封止型13ならびに成型用樹脂による2次封止
部14を通過し軸体15に巻き取られロール状体8とさ
れたとえば75cm程度の直径を有する。Incidentally, the total length of the illustrated lead frame is extremely long, for example, about 200 m, and this lead frame has an extremely large number of transistor support parts, about 30,000 pieces. Then, such a long lead frame is made into a roll-shaped body as shown in figure 7.
During assembly, the lead frame is continuously transported in the direction of arrow X and is wound up to form a roll-shaped body 8 of the assembled lead frame. FIG. 3 is a principle diagram for explaining the manufacturing method of the present invention for manufacturing a transistor using the cheese frame shown in FIG. The frame 10 is
It passes through the die bonding part 11, the wire bonding part 12, the primary sealing mold 13 made of powdered resin, and the secondary sealing part 14 made of molding resin, and is wound around the shaft body 15 to form a roll-shaped body 8 of, for example, about 75 cm. It has a diameter.
ところで、第3図の工程ではダイスボンド部11に卦け
るトランジスタ素子基板の接着ならびにワイヤボンド部
12に卦ける金属細線による接続は従来のリードフレー
ムを用いた場合と同じであるが、こののちリードフレー
ムが通過する1次封止部13ならびに2次封止部14に
卦ける樹脂封止も通常の方法とは異つている。第4図は
1次封止部13の構成と、この部分に卦ける樹脂封止の
状態を説明するための図であり、1次封止部は熱硬化性
の粉末エポキシ樹脂16が充填された粉末樹脂容器17
とリードフレーム10を所定の温度に加熱する加熱体1
8とで構成されて卦b1また、粉末樹脂容器17には充
填された粉末エポキシ樹脂中へ空気を送り込み、これを
撹拌するための空気供給パイプ19が付設されている。By the way, in the process shown in FIG. 3, the adhesion of the transistor element substrate to the die bond part 11 and the connection with the thin metal wire to the wire bond part 12 are the same as in the case of using a conventional lead frame. The resin sealing in the primary sealing part 13 and the secondary sealing part 14 through which the frame passes is also different from the usual method. FIG. 4 is a diagram for explaining the configuration of the primary sealing part 13 and the state of resin sealing in this part. The primary sealing part is filled with thermosetting powder epoxy resin 16. Powder resin container 17
and a heating element 1 that heats the lead frame 10 to a predetermined temperature.
Furthermore, the powder resin container 17 is provided with an air supply pipe 19 for feeding air into the filled powder epoxy resin and stirring it.
かかる1次封止部に卦ける樹脂封止について以下に具体
的に説明する。図示するように、トランジスタ素子基板
20の接着と金線などの金属細線21による所定の接続
が完了したリードフレーム10の1次封止部に位置する
部分は、加熱体18によつて150〜200℃程度の温
度に加熱されるとともに、その先端部が粉末エポキシ樹
脂18が充填された粉末樹脂容器17上に位置する。The resin sealing in the primary sealing portion will be specifically explained below. As shown in the figure, the portion of the lead frame 10 located at the primary sealing portion where the adhesion of the transistor element substrate 20 and the predetermined connection using the thin metal wire 21 such as a gold wire have been completed is heated by the heating element 18 to It is heated to a temperature of approximately .degree. C., and its tip is positioned on a powder resin container 17 filled with powdered epoxy resin 18.
ところで、粉末エポキシ樹脂16の粒度は≠50−4I
−100程度であり1粉末樹脂容器10の底部に設けた
空気供給パイプ19からの空気の送り込みにより常時バ
ブリングされている。この粉末エポキシ樹脂は、加熱さ
れてこの粉末樹脂容器上を通過するリードフレームの先
端部、すなわちトランジスタ素子部に付着して溶融し、
樹脂の被覆層を形成する。そしてこの被覆樹脂はリード
フレームの加熱により硬化が行われる。図中22はこの
ようにして1次封止部で形成された樹脂の被覆である。
な卦、この1次封止部で形成する被覆は完全であること
が望ましく、図示する封止部を2〜3箇所に連続させて
配置し、リードフレームをこれらの上を通過させるなら
ば、トランジスタ素子部は多層封止され、上記の目的は
達成される。このように粉末樹脂を用いる方法は多量の
トランジスタ素子が接着されたリードフレームの樹脂封
止にとつて極めて作業性,生産性が良く好都合である。
このようにしてトランジスタ素子部を樹脂被覆22で被
覆したのち、次いで、2次封止部でインジエクシヨン封
止するわけであるが、この2次封止部では、粒度が≠1
00で融点が約270℃程度の粉末熱可塑性樹脂を用い
た射出成型封止が行われる。By the way, the particle size of the powdered epoxy resin 16 is ≠50-4I
-100, and is constantly bubbled by air being fed from an air supply pipe 19 provided at the bottom of the powder resin container 10. This powdered epoxy resin is heated and adheres to the tip of the lead frame that passes over this powdered resin container, that is, the transistor element part, and melts.
Form a resin coating layer. This coating resin is then cured by heating the lead frame. In the figure, reference numeral 22 denotes the resin coating formed in the primary sealing portion in this manner.
However, it is desirable that the covering formed by this primary sealing part be complete, and if the sealing parts shown in the figure are arranged in two or three consecutive places and the lead frame is passed over them, The transistor element portion is sealed in multiple layers, and the above object is achieved. The method of using powdered resin as described above is extremely convenient in terms of workability and productivity for resin sealing of lead frames to which a large number of transistor elements are bonded.
After the transistor element part is coated with the resin coating 22 in this way, it is then injection sealed in the secondary sealing part, and in this secondary sealing part, the particle size is ≠ 1.
Injection molding and sealing is performed using a powdered thermoplastic resin having a melting point of about 270°C.
第5図はかかる2次封止の状態を説明するための図であ
り11次封止の終了したトランジスタ素子部を射出成型
用金型23と24によつて形成される空所に配置し、射
出体25の射出孔か空所内へ樹脂26を射出して成型が
なされる。な卦、この2次封止は、たとえば金型の温度
を150℃程度の温度に保持し、100〜300Kf/
Cdの範囲の大きな圧力で樹脂を金型内へ射出すること
によつてなされる。すなわち、この工程では、約270
℃の熱可塑性樹脂がそれよりも低い温度の金型内で急速
に硬化し、高い圧力ですばやく樹脂封止が行うことがで
き、大量処理にとつて極めて好都合である。そして、前
述の1次封止工程ですでに熱硬化性樹脂による樹脂封止
が施されているとともにこの熱硬化性樹脂による封止は
安定な封止状態を呈して卦力、この2次封止に卦ける高
い圧力下に訃ける急速な樹脂封止工程に卦いてもトラン
ジスタ素子部は完全に保護される。したがつて、1次封
止を粉末状の熱硬化樹脂による封止とし、2次封止を熱
可塑性樹脂による成型封止とすることは、大量な封止処
理を安定に行う点で極めて有意義である。ところで、第
3図では説明の都合上リードフレームがワイヤボンド部
11から2次封止部14までを連続して通過する状態を
示したが、1次封止ならびに2次封止工程ではそれぞれ
150℃程度の温度で30分を越えるキユアのための加
熱処理を施す必要がある。FIG. 5 is a diagram for explaining the state of such secondary sealing, in which the transistor element portion after the eleventh sealing is placed in the cavity formed by the injection molds 23 and 24, Molding is performed by injecting the resin 26 into the injection hole or cavity of the injection body 25. For this secondary sealing, for example, the temperature of the mold is maintained at about 150°C, and the temperature is increased from 100 to 300 Kf/
This is done by injecting the resin into a mold at high pressures in the Cd range. That is, in this process, approximately 270
℃ thermoplastic resins cure rapidly in molds at lower temperatures, and resin sealing can be performed quickly at high pressures, which is extremely advantageous for mass processing. Resin sealing with a thermosetting resin has already been performed in the primary sealing process mentioned above, and the sealing with this thermosetting resin exhibits a stable sealing state. The transistor element portion is completely protected even during a rapid resin encapsulation process under extremely high pressure. Therefore, using powdered thermosetting resin for primary sealing and molding thermoplastic resin for secondary sealing is extremely meaningful in terms of stably performing large-scale sealing processing. It is. By the way, in FIG. 3, for convenience of explanation, a state in which the lead frame passes continuously from the wire bonding part 11 to the secondary sealing part 14 is shown, but in the primary sealing and secondary sealing processes, 150 It is necessary to perform a heat treatment for curing for more than 30 minutes at a temperature of about °C.
したがつて、実際の組みたてに際しては、ワイヤボンド
工程までの工程、1次封止工程ならびに2次封止工程を
それぞれ分離する必要がある。すなわちワイヤボンドの
終了したリードフレームをシリコンラバ一等のスペーサ
を挟んだ状態でまず巻きとつてしまい、こののち、1次
封止部で連続的に封止を行い、この封止がなされたリー
ドフレームを再度巻きとb、この状態でキユアのための
加熱処理を施し、次いで、2次封止部に卦ける封止なら
びにキユアのための加熱処理を施すことによつてトラン
ジスタが形成される。第6図は以上の工程を経て実際に
形成されたトランジスタの斜視図を示す図であり127
が樹脂による封止外殻である。こののち、共通接続部1
ならびに橋絡細条を切断して除去することにより個々の
トランジスタが得られる。以上説明してきたように、本
発明の製造方法によれば、全ての組みたて工程が長大な
リードフレームのままでなされ、特に樹脂封止工程まで
力咄動化されるため、著るしい生産性の向上がみられる
。Therefore, in actual assembly, it is necessary to separate the steps up to the wire bonding step, the primary sealing step, and the secondary sealing step. In other words, the wire-bonded lead frame is first wound up with a silicon rubber spacer sandwiched between them, and then it is continuously sealed at the primary sealing part, and the sealed lead The frame is wound again and in this state is subjected to a heat treatment for curing, and then a transistor is formed by sealing the secondary sealing portion and subjecting it to heat treatment for curing. FIG. 6 is a diagram showing a perspective view of a transistor actually formed through the above steps.
is the outer shell sealed with resin. After this, common connection part 1
Individual transistors can then be obtained by cutting and removing the bridging strips. As explained above, according to the manufacturing method of the present invention, all the assembly processes are performed using a long lead frame, and in particular, even the resin sealing process is made force-operated, resulting in a significant production increase. There is an improvement in sexual performance.
また、1次あるいは2次封止工程に卦けるリードフレー
ムの1度の移送は、1次封止部の処理能力の増大と2次
封止部の射出成型用金型を多数個どbが可能な構造とす
ることによつて数十ピッチにまで高めることができる。
また、本発明の製造方法では、リードフレームの取り扱
いがロール状態でなされるため、極めて簡略化され、こ
のこともまた生産性の向上に大きく関与する。In addition, a single transfer of the lead frame to the primary or secondary sealing process increases the processing capacity of the primary sealing part and increases the number of injection molds for the secondary sealing part. By creating a possible structure, the number of pitches can be increased to several tens of pitches.
Furthermore, in the manufacturing method of the present invention, the lead frame is handled in a rolled state, which greatly simplifies the handling, which also greatly contributes to improving productivity.
第1図は既知の小信号トランジスタ用リードフレームの
構造を示す図、第2図は本発明の製造方法で用いるリー
ドフレームを示す図、第3図は本発明の製造方法を説明
するための図、第4図は本発明の1次樹脂封止工程につ
いて説明するための図、第5図は2次樹脂封止工程につ
いて説明するための図、第6図は本発明の製造方法によ
り樹脂封止までがなされた状態を示す半導体装置の斜視
図である。
1・・・・・・共通接続部、2〜4・・・・・・リード
、5・・・・・・橋絡細条、6・・・・・・孔、7,8
・・・・・・ロール状態、9,15・・・・・・軸体、
10・・・・・・リードフレーム、11・;・・・・ダ
イスボンド部、12・・・・・・ワイヤボンド部、13
・・・・・・1次封止部、14・・・・・・2次封止部
、16・・・・・・熱硬化性粉末エポキシ樹脂、17・
・・・・・粉末樹脂容器、18・・・・・・加熱体、1
9・・・・・・空気給供用パイプ、20・・・・・・ト
ランジスタ素子基板、21・・・・・・金属細線、22
・・・・・・樹脂被覆、23,24・・・・・・射出成
型用金型、25・・・・・・射出体、26・・・・・・
熱可塑性樹脂、27・・・・・・樹脂封止外殻。FIG. 1 is a diagram showing the structure of a known lead frame for small signal transistors, FIG. 2 is a diagram showing a lead frame used in the manufacturing method of the present invention, and FIG. 3 is a diagram for explaining the manufacturing method of the present invention. , Fig. 4 is a diagram for explaining the primary resin sealing process of the present invention, Fig. 5 is a diagram for explaining the secondary resin sealing process, and Fig. 6 is a diagram for explaining the secondary resin sealing process of the present invention. FIG. 2 is a perspective view of the semiconductor device in a stopped state; 1... Common connection part, 2-4... Lead, 5... Bridging strip, 6... Hole, 7, 8
...Roll state, 9,15...Shaft body,
10...Lead frame, 11...Dice bond part, 12...Wire bond part, 13
...Primary sealing part, 14...Secondary sealing part, 16...Thermosetting powder epoxy resin, 17.
... Powder resin container, 18 ... Heating body, 1
9...Air supply pipe, 20...Transistor element substrate, 21...Thin metal wire, 22
... Resin coating, 23, 24 ... Injection mold, 25 ... Injection body, 26 ...
Thermoplastic resin, 27... Resin-sealed outer shell.
Claims (1)
端を他の軸体に固定させ、この軸体へ巻きとる過程で、
前記リードフレームのリード部先端への半導体基板の接
着ならびに接着された半導体基板上電極と他のリードと
の間の金属細線による接続を連続的に行う工程、同工程
を経たロール状のリードフレームの一端を他の軸体に固
定し、この軸体へ巻き取る過程で同リードフレームを粉
末樹脂を収納するとともに空気攪拌する粉末樹脂容器な
らびにリードフレーム加熱体を備える1次樹脂封止部を
通過させ、さらに加熱処理して前記リード部先端を樹脂
で被覆する1次の樹脂封止工程、同工程を経てロール状
とされたリードフレームの一端を他の軸体に固定し、こ
の軸体へ巻きとる過程でリードフレームの前記樹脂被覆
部を射出成型用金型内へ位置させ、熱可塑性樹脂により
封止する2次の樹脂封止工程を備えたことを特徴とする
樹脂封止型半導体装置の製造方法。1. In the process of fixing one end of the rolled film lead frame to another shaft and winding it around this shaft,
A step of continuously bonding the semiconductor substrate to the tip of the lead part of the lead frame and connecting the bonded electrode on the semiconductor substrate with other leads using thin metal wires, and forming a roll-shaped lead frame through the same process. One end is fixed to another shaft, and in the process of winding it onto this shaft, the lead frame is passed through a primary resin sealing section that includes a powder resin container that stores powdered resin and agitates air, and a lead frame heating element. , a first resin sealing step in which the tips of the lead portions are coated with resin through heat treatment, and one end of the lead frame, which has been made into a roll through the same step, is fixed to another shaft, and wound around this shaft. A resin-sealed semiconductor device comprising a second resin-sealing step in which the resin-coated portion of the lead frame is placed in an injection mold and sealed with a thermoplastic resin in the process of removing the resin-sealed portion of the lead frame. Production method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53123842A JPS5940289B2 (en) | 1978-10-06 | 1978-10-06 | Manufacturing method for resin-sealed semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53123842A JPS5940289B2 (en) | 1978-10-06 | 1978-10-06 | Manufacturing method for resin-sealed semiconductor device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5550649A JPS5550649A (en) | 1980-04-12 |
| JPS5940289B2 true JPS5940289B2 (en) | 1984-09-29 |
Family
ID=14870729
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53123842A Expired JPS5940289B2 (en) | 1978-10-06 | 1978-10-06 | Manufacturing method for resin-sealed semiconductor device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5940289B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59204245A (en) * | 1983-05-06 | 1984-11-19 | Mitsubishi Electric Corp | Resin sealing process of semicondutor device |
-
1978
- 1978-10-06 JP JP53123842A patent/JPS5940289B2/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5550649A (en) | 1980-04-12 |
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