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JPS5947263B2 - 周波数特性直視装置 - Google Patents
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JPS5947263B2 - 周波数特性直視装置 - Google Patents

周波数特性直視装置

Info

Publication number
JPS5947263B2
JPS5947263B2 JP7983278A JP7983278A JPS5947263B2 JP S5947263 B2 JPS5947263 B2 JP S5947263B2 JP 7983278 A JP7983278 A JP 7983278A JP 7983278 A JP7983278 A JP 7983278A JP S5947263 B2 JPS5947263 B2 JP S5947263B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frequency
output
spectrum analyzer
under test
circuit under
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP7983278A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS557623A (en
Inventor
陽平 平社
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Takeda Riken Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Takeda Riken Industries Co Ltd filed Critical Takeda Riken Industries Co Ltd
Priority to JP7983278A priority Critical patent/JPS5947263B2/ja
Publication of JPS557623A publication Critical patent/JPS557623A/ja
Publication of JPS5947263B2 publication Critical patent/JPS5947263B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 スペクトラムアナライザにおける周波数掃引用、のラン
プ電圧でトラッキングジェネレータを、駆動して、その
出力を任意の被測定回路に加え、被測定回路の出力を上
記スペクトラムアナライザの観測入力信号とすることに
より、被測定回路の周波数特性曲線を直視することがで
きる。
すなわちトラッキングジェネレータによつてスペクトラ
ムアナライザにおける掃引周波数と常に等しい周波数の
出力を送出させ、この出力が被測定回路によつて受ける
減衰または利得を上記スペクトラムアナライザで観測す
るものである。しかし特にトラッキングジェネレータの
出力周波数が数ギガヘルツの高周波数になると、スペク
トラムアナライザの掃引周波数と該ジェネレータの出力
周波数とを常に正確に一致させることが極めて困難で、
このため被測定回路の正確な周波数特性を観測し得ない
欠点があつた。本発明はこの欠点を除去して、高周波数
においても正確な周波数特性を観測することのできる装
置を提供するものである。第1図は本発明実施例のブロ
ック構成図で、スペクトラムアナライザsはスペクトラ
ム表示部Bと該表示部で周波数を掃引させるためのラン
プ電圧発生部Rとを具備しているが、このランプ電圧発
生部Rの出力と周波数変調用発振器oの出力とをトラッ
キングジェネレータTの駆動回路Dに加えてある。
このトラッキングジェネレータTの出力を任意の被測定
回路Xの入力とし、該回路の出力を前記スペクトラムア
ナライザSに観測入力として加えてある。スペクトラム
アナライザsの表示部Bは、周知のようにランプ電圧発
生部Rの出力で駆動される周波数掃引局部発振器の出力
を入力信号に混合し、狭帯域のP波器を介して取出され
る中間周波出力を検波して表示用ブラウン管の縦軸入力
とするもので、該ブラウン管の横軸に前記ランプ電圧を
加える。
従つて上述の狭帯域P波器を通つてブラウン管の縦軸に
加わる入力信号の周波数が前記ランプ電圧により掃引さ
れて、ブラウン管のスクリーンに入力信号のスペクトラ
ムが表われる。またトラッキングジェネレータTの駆動
回路Dにはスペクトラムアナライザsにおけるランプ電
圧発生部Rの出力と発振器oの出力とを加えてあるが、
発振器oの出力は上記ランプ電圧の繰返し周期より遥か
に小さい周期を有し、かつ該ランプ電圧の振幅より著し
く小さい振幅の例えば正弦波である。
従つて上記ジエネレータの出力周波数はスペクトラムア
ナライザSから加えられたランプ電圧でほぼ決定される
が、更に発振器0の出力によつて狭い範囲で周波数変調
を受ける。このため駆動回路Dにおいて、上述の制御電
圧の振幅を適当に調整すると共に適宜のバイアス電圧を
加えることにより、トラッキングジェネレータTから前
記スペクトラムアナライザSにおける掃引周波数と常に
ほぼ等しい周波数を有し、かつ狭い範囲で周波数変調さ
れた一定振幅の出力が送出される。上述のようなトラッ
キングジェネレータTの出力が被測定回路Xに加わるか
ら、その出力は各周波数における被測定回路の減衰また
は利得に対応した振幅を有する。この出力信号がスペク
トラムアナライザSに観測入力信号として加わり、かつ
上記出力信号の周波数はスペクトラムアナライザSにお
ける掃引周波数と常にほぼ等しい範囲で周波数変調を受
けている。従つて上述の周波数変調を受けない場合にお
けるトラッキングジェネレータTの出力周波数とスペク
トルアナライザで観測される周波数との間に多少の偏差
がある場合でも、周波数変調の過程においてはそれらが
必らず一致する瞬間が存在する。またトラッキングジェ
ネレータTの出力周波数とスペクトラムアナライザSに
おいて前述のように狭帯域f波器を通過して観測される
周波数とが一致した場合は、表示用ブラウン管の縦軸に
被測定回路Xから送出される出力の振幅に対応した信号
が加わる。しかし上記周波数の間に偏差があると前記沢
波器の周波数特性に応じてブラウン管の縦軸に加わる信
号は著しく低下する。このためスペクトラムアナライザ
Sにおける表示用ブラウン管のスクリーンには、第2図
に示したようにトラッキングジェネレータTの周波数変
調によりほぼ縦軸方向の多数の直線が現れて、その上端
すなわち上記ジエネレータの出力周波数とアナライザの
掃引周波数とが正確に一致した点のレベルが被測定回路
Xの出力信号の振幅に対応する。
従つて上記直線群の上端を連結することによつて得られ
る包絡曲線が被測定回路Xの周波数特性を表わすもので
、第2図のようなスクリーンの図形によつてこの特性を
直視することができる。また第1図に破線で示したよう
に、スペクトラムアナライザSの表示部Bにおいてブラ
ウン管の縦軸に加えるべき信号を例えばデイジタル記憶
装置を具備した極大値検出回路Mに加えて、その出力を
上記ブラウン管の縦軸入力とすることにより、第3図の
ように前述の包絡曲線のみを表わすことができる。すな
わち検出器Mにおいて、縦軸出力信号の極大値従つて第
2図における縦軸方向の各直線の上端のレベルを検出す
る。その検出値をデイジタル記憶装置により記憶し、再
びアナログ量の電圧に変換して前記表示部Bのブラウン
管に縦軸入力として加えるものである。以上実施例につ
いて説明したように本発明は、トラッキングジェネレー
タにより微小範囲で周波数変調された周波数掃引信号を
発生してこれを被測定回路に加え、その出力をスペクト
ラムアナライザで観測するものである。
従つて周波数変調を加えなぃ場合におけるトラッキング
ジェネレータの出力周波数とスペクトラムアナライザに
おける掃引周波数との間に多少の偏差がある場合でも、
前述の周波数変調の過程においては上記2つの周波数が
正確に一致する瞬間が必らず存在する。その瞬間におけ
る被測定回路の出力レベルがスペクトラムアナライザに
よつて表示される。このためスペクトラムアナライザの
掃引周波数と常に正確に一致した周波数の信号を得るこ
との困難な高周波領域においても、被測定回路の正確な
周波数特性を直視することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例のプロツク構成図、第2図および
第3図は第1図の装置によつて表示される図形の一例で
ある。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被測定回路の出力を観測入力信号として加えられる
    スペクトラムアナライザと、上記スペクトラムアナライ
    ザにおいて周波数掃引を行うためのランプ電圧並びに上
    記ランプ電圧より充分小さい振幅を有しかつ該ランプ電
    圧の繰返し周期より充分小さい周期の発振出力で駆動さ
    れて前記スペクトラムアナライザの掃引周波数と常にほ
    ぼ等しい周波数を有しかつ狭い範囲で周波数変調された
    一定振幅の出力を前記被測定回路に加えるトラッキング
    ジェネレータとよりなることを特徴とする周波数特性直
    視装置。 2 スペクトラムアナライザにおける縦軸出力信号の極
    大値を検出してスペクトラム表示用ブラウン管の縦軸入
    力とする回路を設けた特許請求の範囲第1項の周波数特
    性直視装置。
JP7983278A 1978-07-03 1978-07-03 周波数特性直視装置 Expired JPS5947263B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP7983278A JPS5947263B2 (ja) 1978-07-03 1978-07-03 周波数特性直視装置

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JP7983278A JPS5947263B2 (ja) 1978-07-03 1978-07-03 周波数特性直視装置

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Publication Number Publication Date
JPS557623A JPS557623A (en) 1980-01-19
JPS5947263B2 true JPS5947263B2 (ja) 1984-11-17

Family

ID=13701172

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