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JPS5947340B2 - error check correction circuit - Google Patents
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JPS5947340B2 - error check correction circuit - Google Patents

error check correction circuit

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Publication number
JPS5947340B2
JPS5947340B2 JP53068669A JP6866978A JPS5947340B2 JP S5947340 B2 JPS5947340 B2 JP S5947340B2 JP 53068669 A JP53068669 A JP 53068669A JP 6866978 A JP6866978 A JP 6866978A JP S5947340 B2 JPS5947340 B2 JP S5947340B2
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JP
Japan
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circuit
input information
syndrome
matrix
error
Prior art date
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Application number
JP53068669A
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JPS54159141A (en
Inventor
幸男 高橋
昇 萩原
秀彦 小林
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NEC Corp
NTT Inc
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明はパリデイ検査マトリクスとして表現できる誤
り訂正符号の発生、その誤り訂正符号により誤り訂正の
ためのシンドロームを発生し、誤り訂正を行う訂正回路
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a correction circuit that generates an error correction code that can be expressed as a pariday check matrix, generates a syndrome for error correction using the error correction code, and performs error correction.

情報処理装置、特に記憶装置においては装置の高信頼化
を実現するため誤り検査訂正回路を用いることが知られ
ている。
2. Description of the Related Art In information processing devices, particularly storage devices, it is known to use error checking and correction circuits in order to achieve high reliability of the device.

記憶装置における誤り検査訂正回路は記憶装置に書き込
む入力情報データに誤り訂正符号を発生して付加し、ま
た記憶装置から読み出されたデータに対してシンドロー
ムを発生し、そのシンドロームにより誤りがあればこれ
を訂正する機能を持つている。従来この種の回路は多数
の小規模集積回路で実現され、誤り検査訂正回路の信頼
性、経済性に問題があつた。しかし半導体集積回路技術
の発達によりこれを大規模集積回路化(以下LS化と略
す)して高信頼化、低価格化を実現する傾向にある。誤
り検査訂正回路をLS化するとき、経済性の点から汎用
性及びりヒータビリテイ(回路の繰返し使用性)をあげ
る必要がある。そのため誤り検査訂正回路として入力情
報データ長に対してスライスした構成として例えば2バ
イト長のものを4個使用して8バイト長のものを構成す
るようにデータ長に拡張性をもたせることが提案されて
いる。このときの符号構成は誤り訂正符号を表現するパ
リテイ検査マトリクス(以下Hマトリクスと記す)とし
てすべで0”要素からなる行が付加された基本部分Hマ
トリクスが使用され、入力情報データ長を拡張する場合
には基本部分Hマトリタスの構成行をその列方向にずら
したものを複数個連鎖させて構成したHマトリタスが使
用される。この点から誤り検査訂正回路は基本部分Hマ
トリクスにもとずいて構成した回路を基本とし、入力情
報データ長を拡張する場合には基本回路を複数個用いて
その基本部分マトリクスの行が列方向にずらされて連鎖
するように接続して構成していた。従つて誤り訂正符号
/シンドローム発生回路及びシンドロームデコード回路
は拡張性を有する。即ちこのような誤り訂正回路は基本
回路のみでこの符号長の短かいものに対する誤り検査訂
正回路を構成し、さらに入力情報データ長に拡張性をも
つた誤り検査訂正回路を構成できる。一方記憶装置の試
験パターン数及び試験実行時間の削減、さらに保守を容
易にするためHマトリクスの各行を偶数重み(1の数が
偶数個を意味する)とする符号構成がとられていた。
The error check and correction circuit in the storage device generates and adds an error correction code to the input information data written to the storage device, and also generates a syndrome in the data read from the storage device, and if there is an error due to the syndrome, it is detected. It has a function to correct this. Conventionally, this type of circuit has been realized using a large number of small-scale integrated circuits, and there have been problems with the reliability and economic efficiency of the error check and correction circuit. However, with the development of semiconductor integrated circuit technology, there is a trend toward large-scale integrated circuits (hereinafter referred to as LS) to achieve higher reliability and lower costs. When converting an error check and correction circuit into an LS, it is necessary to improve its versatility and heatability (repetitive use of the circuit) from the viewpoint of economy. For this reason, it has been proposed to provide expandability to the data length by configuring an 8-byte length by using, for example, four 2-byte length slices of the input information data length as an error checking and correction circuit. ing. In this case, the code structure uses a basic part H matrix to which rows consisting of all 0" elements are added as a parity check matrix (hereinafter referred to as H matrix) that expresses the error correction code, and expands the input information data length. In this case, an H matrix is used, which is constructed by chaining together a plurality of basic part H matrices whose constituent rows are shifted in the column direction.From this point of view, the error check and correction circuit is based on the basic part H matrix. Based on the configured circuit, when expanding the input information data length, a plurality of basic circuits were used and the rows of the basic partial matrix were shifted in the column direction and connected in a chain. Therefore, the error correction code/syndrome generation circuit and the syndrome decoding circuit have expandability.In other words, such an error correction circuit uses only the basic circuit to constitute an error check and correction circuit for short code lengths, and furthermore, the error correction code/syndrome generation circuit and syndrome decoding circuit have scalability. On the other hand, in order to reduce the number of test patterns in the storage device and test execution time, and to facilitate maintenance, each row of the H matrix is given an even weight (an even number of 1's). ).

前記誤り検査訂正回路を用いて偶数重み行のHマトリク
スを実現する場合、次のような欠点がある。
When realizing an H matrix with even weight rows using the error check and correction circuit, there are the following drawbacks.

前記基本回路の入力情報データ長及び基本部分Hマトリ
クスは固定であるため、基本回路を複数個用いてその基
本部分マトリクスの行が順次ずれるように連鎖接続した
誤り検査訂正回路は基本部分Hマトリクスの各行が偶数
重みであつても必ずしも各行が偶数重みとならない。こ
の発生はこれらの欠点を解決するため偶数重み行からな
る基本部分Hマトリクスを使用し、これをその構成行を
列方向にずらせて連鎖させたときその全体としてのHマ
トリクスの各行が偶数重み行となるように基本部分Hマ
トリクスの1列を選択して1の要素を追加あるいは削除
し、そのHマトリクスにより誤り訂正符号あるいはシン
ドローム及び訂正結果を得る構成とする。
Since the input information data length and the basic part H matrix of the basic circuit are fixed, an error check and correction circuit using a plurality of basic circuits and connected in a chain so that the rows of the basic part matrix are sequentially shifted will have a fixed value of the basic part H matrix. Even if each row has an even weight, each row does not necessarily have an even weight. In order to solve these shortcomings, a basic part H matrix consisting of even weight rows is used, and when these constituent rows are shifted in the column direction and chained, each row of the H matrix as a whole becomes an even weight row. One column of the basic partial H matrix is selected and one element is added or deleted so that the H matrix is used to obtain an error correction code or syndrome and correction result.

このようにして基本回路ばかりでなく任意に拡張された
入力情報データ長に対して偶数重み行を実現できる誤り
検査訂正回路が得られる。以下図面にて詳細に説明する
。第1図aは基本部分Hマトリクス(以下山と略す)の
実施例である。
In this way, an error check and correction circuit that can realize even weight rows not only for the basic circuit but also for arbitrarily extended input information data lengths can be obtained. This will be explained in detail below with reference to the drawings. FIG. 1a shows an example of a basic part H matrix (hereinafter abbreviated as "mountain").

HOは入力情報データ長2バイト(16ビツト)でスラ
イスして構成した誤り検査訂正回路の基本部分Hマトリ
クスである。その7行及び8行はすべて60′゛の要素
から構成され、残りの各行はすべて“0”でない要素か
ら構成される。また検査部Cとして6行6列の単位行列
が設けられている。8一(0,0,・・・・・・O)、
1hij:l:(HllツHi2゜゜゜゜゜゜hil6
)である0第1図bはH。
HO is a basic part H matrix of the error check and correction circuit constructed by slicing the input information data length 2 bytes (16 bits). The 7th and 8th rows are all composed of 60' elements, and the remaining rows are all composed of non-zero elements. Further, a unit matrix of 6 rows and 6 columns is provided as the inspection section C. 81 (0,0,...O),
1hij:l:(HlltsuHi2゜゜゜゜゜゜hil6
) is 0 Figure 1b is H.

のうち7行及び8行の[有]を取除いvこ符号であり、
データ長が2バイトのものに対する(22,16)SE
C−DED符号(単1ビツト誤り訂正、2ビツト誤り検
出)のHマトリクスを構成している。第1図cはデータ
長が4バイトのものに対する(40,32)SEC−D
ED符号のHマトリクスであり、左半分はH。であり右
半分はH。の第4行目1hS』の行が第1行目になるよ
うに列方向に巡回移動させて得たマトリクスである。
By removing [Yes] in the 7th and 8th lines, we get the following code:
(22,16) SE for data length of 2 bytes
It constitutes an H matrix of C-DED code (single bit error correction, 2 bit error detection). Figure 1c shows (40, 32) SEC-D for a data length of 4 bytes.
It is an H matrix of ED code, and the left half is H. And the right half is H. This is a matrix obtained by cyclically moving in the column direction so that the fourth row 1hS' becomes the first row.

第1図dはデータ長が8バイトのものに対する(72,
64)SEC−DED符号のHマトリクスであり、最も
左端の部分マトリクスはH。
Figure 1d shows data length of 8 bytes (72,
64) H matrix of SEC-DED code, where the leftmost partial matrix is H.

であり左から2番目の部分マトリクスはH。の第7行目
[有]が第1行目になるように巡回させたものであり、
この部分マトリクスに対し左から3番目、4番目のもの
は2行分ずつ順次下にずらして得たマトリクスである。
ここでH。の各列は巡回さすても互に独立でなければな
らないのは明らかなことである。このようにしてなるH
。を構成することによりこのH。にもとずいて構成した
誤り検査訂正回路だけでも入力情報がデータ長2バイト
のものに対し誤り検査訂正機能をもつ。さらに2バイト
長では最小検査ビツト長で構成できる。またこの誤り検
査訂正回路を2個、4個使用すればそれぞれ4バイト、
8バイトに入力情報データ長を拡張できる。次に前記H
。を用いて各行を偶数重みとする方法について述ぺる。
入力情報データ長2バイトで各行を偶数重みとするには
各行における検査部の゛1゛の数は1個であるからH。
の各行が次式を満足する必要がある。J ただしi=1,2・・・・・・6,hijは1あるいは
Oの要素からなる。
The second partial matrix from the left is H. is rotated so that the 7th line [Yes] becomes the 1st line,
The third and fourth partial matrices from the left are matrices obtained by sequentially shifting downward by two rows.
H here. It is clear that the columns of must be cyclic and independent of each other. H formed in this way
. By configuring this H. An error checking and correcting circuit constructed based on the above alone has an error checking and correcting function for input information having a data length of 2 bytes. Furthermore, with a length of 2 bytes, the minimum check bit length can be used. Also, if two or four of these error check and correction circuits are used, each 4 bytes,
The input information data length can be expanded to 8 bytes. Next, the H
. We will explain how to give each row an even weight using .
In order to give each row an even weight when the input information data length is 2 bytes, the number of "1" in the inspection section in each row is 1, so H.
Each row of must satisfy the following formula. J where i=1, 2...6, hij consists of 1 or O elements.

入力情報データ長が4バイトのもののHマトリクスの各
行を偶数重みとするには第1図cよりHの各行がを満足
する必要がある。
In order to give each row of the H matrix an even weight when the input information data length is 4 bytes, it is necessary for each row of H to satisfy the following conditions, as shown in FIG. 1c.

しかし2バイトのとき各行が偶数重みであれば(1)式
の条件から、(2)式の1行目の左辺の各項は“1”と
なり、また(2)式の2行目の各項も“1゛となりHマ
トリクスの1行、2行、5行及び6行の各行は偶数重み
とならない。そのためこの発明ではH。の検査部を除い
た16列から任意の1列(j夕1泪)を選択し、1行j
列あるいは5行j列に1の要素を追加あるいは削除し、
さらに2行j列あるいは6行j列に1の要素を追加ある
いは削除して、第1の基本部分HマトリクスH。を修正
し、 これを第2の基本部分Hマトリクスとする。入力
情報データ長が4バイトのHマトリクスは第2の基本部
分Hマトリクスを用いて第1図Cのごとくマトリクスと
すれば、各行が偶数重みとなる。誤り訂正符号及びシン
ドロームは第2の基本部分Hマトリクスで構成したHマ
トリクスより生成される。具体例を第2図に示す。図に
おいてマトリクスの要部中の1のみを示し、0の要素は
その記載を省略してある。第2図aは各行が偶数重みで
ある第1の基本部分HマトリクスH。である。第2図b
は入力情報データ長が4バイトのときのHマトリクスで
ある。O印で示したように、第1の基本部分Hマトリク
スH。の第1行15列及び第2行15列の1の要素を削
除して、これを第2の基本部分Hマトリクスとしている
。第2図b(7)Hマトリクスはこの第2の基本部分H
マトリクスと第1図Cを用いて構成している。各行は全
て偶数重みとなつている。このようにして4バイトのと
きでもそのHマトリクスの各行は偶数重みとなる。入力
情報データ長8バイトで各行を偶数重みとするには第1
図dよりH。の各行がを満足する必要がある。しかし2
バイトのHマトリクスの各行が偶数重みであれば(1)
式より(3)式は成立し、8バイトのときでも各行は偶
数重みとなる。第2図Cは入力情報データ長が8バイト
のときのHマトリクスの例である。このHマトリクスは
第2図aの第1の基本部分Hマトリクスを用いて第1図
dのごとく構成している。各行は全て偶数重みとなつて
いる。なお上記1の要素の追加、削除は基本部分Hマト
リクスが奇数重み列の場合は偶数個追加又は削除する。
この場合各列は独立でなければならない。以上述べた基
本部分Hマトリクスを用いた誤り検査訂正回路の構成例
を図面にて説明する。
However, in the case of 2 bytes, if each row has an even weight, then from the condition of equation (1), each term on the left side of the first row of equation (2) will be "1", and each term on the left side of the second row of equation (2) will be "1". The term is also "1", and the 1st, 2nd, 5th, and 6th rows of the H matrix do not have even weights. Therefore, in this invention, any one column from the 16 columns excluding the inspection part of H. 1 tears) and 1 line j
Add or delete element 1 in column or row 5 and column j,
Further, an element 1 is added or deleted from the 2nd row and the j column or the 6th row and the jth column to form the first basic part H matrix H. Correct this and define it as the second basic part H matrix. If an H matrix with an input information data length of 4 bytes is made into a matrix as shown in FIG. 1C using the second basic part H matrix, each row will have an even weight. The error correction code and syndrome are generated from an H matrix constructed from the second basic part H matrix. A specific example is shown in FIG. In the figure, only 1 in the main part of the matrix is shown, and descriptions of 0 elements are omitted. FIG. 2a shows a first elementary part H matrix H in which each row has an even weight. It is. Figure 2b
is an H matrix when the input information data length is 4 bytes. The first elementary part H matrix H, as indicated by the O symbol. 1 element in the first row, column 15 and the second row, column 15 is deleted, and this is used as the second basic part H matrix. Figure 2 b (7) The H matrix is the second basic part H
It is constructed using a matrix and Figure 1C. All rows have even weights. In this way, each row of the H matrix has an even weight even when the number of bytes is 4 bytes. To make each row an even weight with an input information data length of 8 bytes, use the first
H from figure d. Each row of must satisfy . But 2
If each row of the H matrix of bytes has an even weight (1)
Equation (3) holds true, and each row has an even weight even when the number of bytes is 8 bytes. FIG. 2C is an example of an H matrix when the input information data length is 8 bytes. This H matrix is constructed as shown in FIG. 1d using the first basic portion H matrix of FIG. 2a. All rows have even weights. Note that when the basic part H matrix is an odd weight sequence, an even number of elements are added or deleted.
In this case each column must be independent. An example of the configuration of an error check and correction circuit using the basic part H matrix described above will be explained with reference to the drawings.

第3図aは前記1の要素を追加あるいは削除した行に対
応する誤り訂正符号/シンドローム発生回路のプロツク
図であり、第3図bは前記選択したj列に対応するシン
ドロームデコード回路のプロツク図である。以下説明を
容易にするために1の要素を追加して偶数重み行とする
構成について述べることとする。1は第1の基本部分H
マトリクスにもとずいて前記1の要素を追加した行に対
応する入力情報データである。
FIG. 3a is a block diagram of the error correction code/syndrome generation circuit corresponding to the row in which the element 1 is added or deleted, and FIG. 3b is a block diagram of the syndrome decoding circuit corresponding to the selected column j. It is. In order to simplify the explanation below, a configuration will be described in which one element is added to form an even weight row. 1 is the first basic part H
This is input information data corresponding to the row to which the first element is added based on the matrix.

2は前記1列に対応した入力情報ビツトである。2 is an input information bit corresponding to the first column.

3は切替え信号である。3 is a switching signal.

4は第1の切替え回路であり、入力情報ビツト2及び切
替え信号3を入力とし情報ビツト5を出力する。
4 is a first switching circuit which receives input information bit 2 and switching signal 3 and outputs information bit 5;

6は1の要素を追加した行に対応する誤り訂正符号/シ
ンドローム発生回路(以下発生回路と略す)であり、入
力情報データ1及び情報ビツト5を入力して誤り訂正符
号ビツトあるいはシンドロームビツト7を出力する。
Reference numeral 6 denotes an error correction code/syndrome generation circuit (hereinafter abbreviated as generation circuit) corresponding to the row to which element 1 has been added, which inputs input information data 1 and information bit 5 and generates error correction code bit or syndrome bit 7. Output.

発生回路6は一般にHマトリクスの対応行中の1に対応
するデータの並列入力及び切替え回路4の出力5の排他
的論理和をとる。ここで切替え信号3が第1の状態“O
”であるとき、第1の切替え回路4は論理的に“0”で
ある情報ビツト5を出力し、発生回路6は第1の基本部
分Hマトリクスにもとずいた誤り訂正符号ビツトあるい
はシンドロームビツトを出力する。切替え信号3が第2
の状態゛1゛であるとき第1の切替え回路4は入力情報
ビツト2に等しい情報ビツト5を出力し、発生回路6は
第2の基本部分Hマトリクスにもとずいた誤り訂正符号
ビツトあるいはシンドロームビツトを出力する。つまり
切替え回路4は情報ビツト2と切替え信号3との論理積
をとる。ここで第1の基本部分Hマトリクスはくり返し
単位の入力情報データ長で各行が偶数重みとした基本部
分Hマトリクスであり、第2の基本部分Hマトリクスは
任意の入力情報データ長で偶数重み行となるように第1
の基本部分Hマトリクスの前記j列に1の要素を追加し
た基本部分Hマトリクスである。第3図bにおいて8は
シンドロームであり、9はシンドローム8を入力し第1
の基本部分Hマトリクスにもとずいた前記j列に対応す
るシンドロームデコード回路であり、第1の訂正位置指
定信号11を出力する。
The generating circuit 6 generally takes the exclusive OR of the parallel input of data corresponding to 1 in the corresponding row of the H matrix and the output 5 of the switching circuit 4. Here, the switching signal 3 is in the first state "O".
”, the first switching circuit 4 outputs the information bit 5 which is logically “0”, and the generating circuit 6 outputs the error correction code bit or syndrome bit based on the first basic part H matrix. is output.Switching signal 3 is the second
When state ``1'' is present, the first switching circuit 4 outputs information bit 5 equal to input information bit 2, and the generating circuit 6 outputs an error correction code bit or syndrome based on the second basic part H matrix. Output bits. In other words, the switching circuit 4 takes the AND of the information bit 2 and the switching signal 3. Here, the first basic part H matrix is a basic part H matrix in which each row has an even weight with an input information data length in repetition units, and the second basic part H matrix has an arbitrary input information data length and has even weight rows. so that the first
This is a basic partial H matrix obtained by adding 1 element to the j column of the basic partial H matrix. In Fig. 3b, 8 is the syndrome, and 9 inputs the syndrome 8 and the first
This is a syndrome decoding circuit corresponding to the j column based on the basic part H matrix, and outputs the first correction position designation signal 11.

10はシンドローム8を入力し第2の基本部分Hマトリ
クスにもとずいた前記j列に対応するシンドロームデコ
ード回路であり、第2の訂正位置指定信号12を出力す
る。
Reference numeral 10 denotes a syndrome decoding circuit which inputs the syndrome 8 and corresponds to the j column based on the second basic part H matrix, and outputs a second correction position designation signal 12.

13は第2の切替え回路であり第1、第2の訂正位置指
定信号11,12及び切替え信号3を入力として前記j
列に対応した入力情報ビツトの訂正位置指定信号14を
出力する。
13 is a second switching circuit which inputs the first and second correction position designation signals 11, 12 and the switching signal 3 and switches the
A correction position designation signal 14 for input information bits corresponding to the column is output.

ここで切替え信号3が第1の状態“O゛のとき、第2の
切替え回路13は第1の訂正位置指定信号11を選択し
て出力し切替え信号3が第2の状態゛ビのとき第2の切
替え回路13は第2の訂正位置指定信号12を選択して
出力する。第4図は出力端子の選択により第1、第2の
基本部分Hマトリクスにもとずいた誤り訂正符号あるい
はシンドロームを切替える発生回路の構成例であり、第
3図と対応する部分には同一符号を付けてある。
Here, when the switching signal 3 is in the first state "O", the second switching circuit 13 selects and outputs the first correction position designation signal 11, and when the switching signal 3 is in the second state "O", the second switching circuit 13 selects and outputs the first correction position designation signal 11. The second switching circuit 13 selects and outputs the second correction position designation signal 12. FIG. This is an example of the configuration of a generating circuit that switches between the two, and parts corresponding to those in FIG. 3 are given the same reference numerals.

15は発生回路であり、入力情報データ1を入力とし第
1の基本部分Hマトリクスにもとずいて誤り訂正符号ビ
ツトあるいはシンドロームビツトを生成して出力端子1
6より出力する。
Reference numeral 15 denotes a generation circuit, which receives the input information data 1 and generates error correction code bits or syndrome bits based on the first basic part H matrix, and outputs the error correction code bits or syndrome bits to the output terminal 1.
Output from 6.

17は発生回路であり、入力情報ビツト2及び発生回路
15の出力を入力として誤り訂正符号ビツトあるいはシ
ンドロームビツトを生成して出力端子18より出力する
Reference numeral 17 denotes a generating circuit which receives the input information bit 2 and the output of the generating circuit 15, generates error correction code bits or syndrome bits, and outputs the generated error correction code bits or syndrome bits from an output terminal 18.

従つて出力端子16を選択すれば第1の基本部分Hマト
リクスにもとずいた誤り訂正符号ビツトあるいはシンド
ロームビツトを、出力端子18を選択すれば第2の基本
部分Hマトリクスにもとずいた誤り訂正符号ビツトある
いはシンドロームビツトを得る。第5図はくり返し単位
の基本となる入力情報データ長が異なる2個の基本部分
Hマトリクスから構成される誤り検査訂正回路において
、出力端子及び切替え信号により第1、第2、第3、第
4の基本部分Hマトリクスにもとずいた誤り訂正符号あ
るいはシンドロームを切替える発生回路の構成例である
Therefore, if output terminal 16 is selected, error correction code bits or syndrome bits based on the first basic part H matrix are selected, and if output terminal 18 is selected, errors based on the second basic part H matrix are processed. Obtain the correction code bit or syndrome bit. FIG. 5 shows an error check and correction circuit composed of two basic part H matrices with different input information data lengths, which are the basis of the repetition unit, and the first, second, third, and fourth This is an example of the configuration of a generation circuit that switches error correction codes or syndromes based on the basic part H matrix.

ここで第3の基本部分Hマトリクスは第1の基本部分H
マトリクスにa(整数)列を付加したマトリクスである
。第4の基本部分Hマトリクスは第2の基本部分Hマト
リクスに前記a列を付加したマトリクスである。第5図
aにおいて19は出力端子であり、発生回路15で生成
した第1の基本部分Hマトリクスにもとずく誤り訂正符
号あるいはシンドロームを出力する。20は第3の基本
部分Hマトリクスにもとずいたa列の部分に相当する入
力情報データであり、21は発生回路であり入力情報デ
ータ20.情報ビツト5及び発生回路15の出力を入力
として誤り訂正符号ビツトあるいはシンドロームビツト
を生成して出力端子22に出力する。
Here, the third basic part H matrix is the first basic part H
This is a matrix with an a (integer) column added to the matrix. The fourth basic part H matrix is a matrix obtained by adding the a column to the second basic part H matrix. In FIG. 5a, 19 is an output terminal, which outputs an error correction code or syndrome based on the first basic part H matrix generated by the generation circuit 15. 20 is input information data corresponding to the part of column a based on the third basic part H matrix, and 21 is a generating circuit that inputs the input information data 20. The information bit 5 and the output of the generation circuit 15 are used as inputs to generate error correction code bits or syndrome bits, and the generated error correction code bits or syndrome bits are output to the output terminal 22.

従つて出力端子19からは第1の基本部分Hマトリクス
にもとずいた誤り訂正符号ビツトあるいはシンドローム
ビツトを得る。出力端子22からは切替え信号3が第1
の状態゛O゛のとき第3の基本部分Hマトリクスにもと
ずいた誤り訂正符号ビツトあるいはシンドロームビツト
を得る。また切替え信号3が第2の状態゛1”のとき入
力情報データ20を論理的に゛O゛とすれば第2の基本
部分Hマトリクスにもとずいた誤り訂正符号ビツトある
いはシンドロームビツトを、入力情報データ20を入力
すれば第4の基本部分Hマトリクスにもとずいた誤り訂
正符号ビツトあるいはシンドロームビツトを得る。第5
図bにおいて23は出力端子であり、発生回路6で生成
した誤り訂正符号ビツトあるいはシンドロームビツトを
出力する。
Therefore, from the output terminal 19, error correction code bits or syndrome bits based on the first basic part H matrix are obtained. The switching signal 3 is output from the output terminal 22 as the first
When the state is "O", error correction code bits or syndrome bits based on the third basic part H matrix are obtained. Furthermore, when the switching signal 3 is in the second state "1", if the input information data 20 is logically set to "O", the error correction code bit or syndrome bit based on the second basic part H matrix is input. If the information data 20 is input, error correction code bits or syndrome bits based on the fourth basic part H matrix are obtained.
In FIG. b, 23 is an output terminal, which outputs the error correction code bit or syndrome bit generated by the generation circuit 6.

24は発生回路であり入力情報データ20及び発生回路
6の出力を入力として誤り訂正符号ビツトあるいはシン
ドロームビツトを生成して出力端子25に出力する。
Reference numeral 24 denotes a generating circuit which inputs the input information data 20 and the output of the generating circuit 6, generates error correction code bits or syndrome bits, and outputs the generated error correction code bits or syndrome bits to an output terminal 25.

従つて出力端子23からは切替え信号3の状態にもとず
き第1あるいは第2の基本部分Hマトリクスにもとずい
た誤り訂正符号ビツトあるいはシンドロームを得る。出
力端子25からは切替え信号3の状態にもとずき第3あ
るいは第4の基本部分Hマトリクスにもとずいた誤り訂
正符号ビツトあるいはシンドロームビツトを得る。第6
図は出力端子の選択により第1、第2の基本部分Hマト
リクスにもとずいた入力情報データの訂正位置指定信号
を切替えるシンドロームデコード回路及び反転回路の構
成例である。
Accordingly, from the output terminal 23, depending on the state of the switching signal 3, error correction code bits or syndromes based on the first or second H matrix are obtained. From the output terminal 25, depending on the state of the switching signal 3, error correction code bits or syndrome bits are obtained based on the third or fourth basic part H matrix. 6th
The figure shows an example of the configuration of a syndrome decoding circuit and an inverting circuit that switch correction position designation signals for input information data based on the first and second basic part H matrices by selecting an output terminal.

26は前記j列に対応した入力情報ビツトである。26 is an input information bit corresponding to the j column.

27は第1の反転回路であり、第1の訂正位置指定信号
11と入力情報ビツト26とを入力とし、誤りがあれば
反転訂正して入力情報ビツト26を出力端子29に出力
する。
Reference numeral 27 denotes a first inverting circuit which receives the first correction position designation signal 11 and the input information bits 26, inverts and corrects any errors, and outputs the input information bits 26 to the output terminal 29.

28は第2の反転回路であり第2の訂正位置指定信号1
2と入力情報ビツト26とを入力とし、誤りがあれば反
転訂正して入力情報ビツト26を出力端子30に出力す
る。
28 is a second inverting circuit and a second correction position designation signal 1
2 and input information bits 26 are input, and if there is an error, the input information bits 26 are inverted and corrected and outputted to an output terminal 30.

従つて出力端子29からは第1の基本部分Hマトリクス
にもとずいた入力情報データの訂正結果を、出力端子3
0からろ第2の基本部分Hマトリタスにもとずいた入力
情報データの訂正結果を得る。なお前記j列の1の要素
を解除して偶数重み行とするには第3及び第5図におけ
る第1の切替え回路4の作用を切替え信号3が第1の状
態と第2の状態とで互に逆にすれば実現できる。第4、
第6図の構成例の場合変更は伴なわない。以上述べた誤
り検査訂正回路の各構成例は入力情報データ長が2バイ
ト及びSEC−DED機能を有する符号についての実施
例であるが、任意の入力情報データ長、任意の機能を有
する符号に対して適用可能であることは明白である。
Therefore, from the output terminal 29, the correction result of the input information data based on the first basic part H matrix is sent to the output terminal 3.
0 to obtain the correction result of the input information data based on the second basic part H matrix. In addition, in order to release the element 1 in the j column and make it an even weight row, the operation of the first switching circuit 4 in FIGS. 3 and 5 is changed between the switching signal 3 in the first state and the second state. This can be achieved by reversing each other. Fourth,
In the case of the configuration example shown in FIG. 6, no changes are made. Each of the configuration examples of the error check and correction circuit described above is an example for a code having an input information data length of 2 bytes and a SEC-DED function. It is clear that this method can be applied.

以上説明したようにこの発明は偶数重み行からなる基本
部分Hマトリクスを使用しその行を順次ずらして連鎖さ
せたとき各行が偶数重み行となるように基本部分Hマト
リクスの1列を選択して1の要素を追加あるいは削除し
て、切替え信号あるいは出力端子の切替えにより誤り訂
正符号あるいはシンドローム及び入力情報データの訂正
結果を得る構成とすることによりくり返し単位の入力情
報データ長ばかりでなく、任意に拡張した入力情報デー
タ長に対して偶数重み行を実現できるという利点がある
As explained above, the present invention uses a basic partial H matrix consisting of even weight rows, and selects one column of the basic partial H matrix so that when the rows are sequentially shifted and chained, each row becomes an even weight row. By adding or deleting element 1 and obtaining error correction codes or syndromes and input information data correction results by switching switching signals or output terminals, it is possible to control not only the length of input information data in repetition units but also the length of input information data arbitrarily. There is an advantage that even weight rows can be realized for the expanded input information data length.

他の効果は第4図及び第6図に示したように出力端子で
切替える構成を用いれば切替え回路を含まないので遅延
時間を増大させることなく誤り訂正符号あるいはシンド
ローム及び訂正結果を得ることができる。更に他の効果
は第5図を用いればくり返し単位の入力情報データ長が
異なる基本部分Hマトリクスが混在した誤り検査訂正回
路においても偶数重み行を実現できる。また第5図aで
は特定の入力情報データ長に対して遅延時間を増大させ
ることなく誤り訂正符号あるいはシンドロームを生成で
きるという利点がある。以上述べた構成例は入出力端子
をわずかに増大させるだけでよいのでLSI化の効果は
大きく、かつ汎用性の高いLSIを実現できる。
Another effect is that by using a configuration in which switching is performed at the output terminal as shown in Figures 4 and 6, error correction codes or syndromes and correction results can be obtained without increasing delay time because a switching circuit is not included. . Another effect is that by using FIG. 5, even weight rows can be realized even in an error check and correction circuit in which basic part H matrices having different input information data lengths in repetition units coexist. Further, FIG. 5a has the advantage that an error correction code or syndrome can be generated for a specific input information data length without increasing the delay time. In the configuration example described above, it is only necessary to slightly increase the number of input/output terminals, so the effect of LSI integration is large and a highly versatile LSI can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明に用いられる基本部分Hマトリクス、
Hマトリクスの構成例を示す図、第2図はHマトリクス
の具体例を示す図、第3図はこの発明による誤り検査訂
正回路における誤り訂正符号/シンドローム発生回路及
びシンドロームデコード回路の構成例を示すプロツク図
、第4図は誤り訂正符号/シンドローム回路の他の構成
例を示すプロツク図、第5図は誤り訂正符号/シンドロ
ーム回路の更に他の構成例を示すプロツク図、第6図は
シンドロームデコード回路の他の構成例を示すプロツク
図である。 1二人力情報データ、2:入力情報ビツト、3:切替え
信号、4:第1の切替え回路、5:情報ビツト、6:誤
り訂正符号/シンドローム発生回路、7:誤り訂正符号
ビツトあるいはシンドロームビツト、8:シンドローム
、9:シンドロームデコード回路、10:シンドローム
デコード回路、11:第1の訂正位置指定信号、12:
第2の訂正位置指定信号、13:第2の切替え回路、1
4:訂正位置指定信号、15:誤り訂正符号/シンドロ
ーム発生回路、16,18,19,22,23,25,
29,30:出力端子、17,21,24:誤り訂正符
号/シンドローム発生回路、26:入力情報ビツト、2
7:第1の反転回路、28:第2の反転回路。
FIG. 1 shows the basic part H matrix used in this invention.
FIG. 2 is a diagram showing a specific example of the H matrix; FIG. 3 is a diagram showing an example of the configuration of the error correction code/syndrome generation circuit and syndrome decoding circuit in the error check and correction circuit according to the present invention. 4 is a block diagram showing another configuration example of the error correction code/syndrome circuit, FIG. 5 is a block diagram showing still another configuration example of the error correction code/syndrome circuit, and FIG. 6 is a syndrome decoding block diagram. FIG. 7 is a block diagram showing another example of the configuration of the circuit. 1 two human-powered information data, 2: input information bit, 3: switching signal, 4: first switching circuit, 5: information bit, 6: error correction code/syndrome generation circuit, 7: error correction code bit or syndrome bit, 8: Syndrome, 9: Syndrome decoding circuit, 10: Syndrome decoding circuit, 11: First correction position designation signal, 12:
Second correction position designation signal, 13: Second switching circuit, 1
4: Correction position designation signal, 15: Error correction code/syndrome generation circuit, 16, 18, 19, 22, 23, 25,
29, 30: Output terminal, 17, 21, 24: Error correction code/syndrome generation circuit, 26: Input information bit, 2
7: first inversion circuit, 28: second inversion circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 誤り訂正符号を表現し、各行が偶数重みとされたパ
リテイ検査マトリクスにもとずいて構成された誤り検査
訂正回路において、入力情報データ及びそのデータ中の
上記パリテイ検査マトリクスの選択した1つの列に対応
した入力情報ビットを入力し、上記パリテイ検査マトリ
クスを用いて上記入力情報データに対する第1誤り訂正
符号及び第1シンドロームの何れかである第1信号を発
生し、上記パリテイ検査マトリクス中の上記選択した1
列の少くとも1つの要素を変更して少くとも1行中の論
理1の数を奇数とした第2マトリクスを用いて上記入力
情報データ及び上記入力情報ビットに対する第2誤り訂
正符号及び第2シンドロームの何れかである第2信号を
発生し、上記第1信号と第2信号の一方を選択して取出
す誤り訂正符号/シンドローム発生回路と、上記パリテ
イ検査マトリクスにもとずき構成され、上記第1シンド
ロームが入力される第1シンドロームデコード回路と、
上記第2マトリクスにもとずき構成され、上記第2シン
ドロームが入力される第2シンドロームデコード回路と
、これ等第1及び第2シンドロームデコード回路の各出
力と上記入力情報データとが入力されて誤り訂正された
データを得る手段とを具備する誤り検査訂正回路。 2 上記誤り訂正符号/シンドローム発生回路は切替え
信号により制御されて論理0の出力と上記入力情報ビッ
トとを切替え出力する切替え回路と、その切替え回路の
出力と上記入力情報データとが与えられてその入力に応
じて上記第1信号及び第2信号の何れかを発生出力する
回路とよりなる特許請求の範囲第1項記載の誤り検査訂
正回路。 3 上記誤り訂正符号/シンドローム発生回路は上記入
力情報データが入力されて上記第1信号を発生する第1
回路と、その第1回路の出力及び上記入力情報ビットが
入力されて上記第2信号を発生する第2回路と、これ等
第1回路及び第2回路の出力端子を選択して第1信号、
第2信号の何れかを取出す手段とよりなる特許請求の範
囲第1項記載の誤り検査訂正回路。 4 上記誤り訂正されたデータを得る手段は切替え信号
により制御されて上記第1及び第2シンドロームデコー
ド回路の出力の一方が切替え出力される切替た回路と、
その切替え回路の出力と入力情報データとが入力されて
誤りを訂正する反転回路とよりなる特許請求の範囲第1
項記載の誤り検査訂正回路。 5 上記誤り訂正されたデータを得る手段は上記第1シ
ンドロームデコード回路の出力及び入力情報データが入
力される第1反転回路と、上記第2シンドロームデコー
ド回路の出力及び入力情報データが入力される第2反転
回路と、これ等第1及び第2反転回路の各出力端子の一
方を選択して誤り訂正されたデータを取出す手段とより
なる特許請求の範囲第1項記載の誤り検査訂正回路。
[Scope of Claims] 1. In an error check and correction circuit configured based on a parity check matrix that expresses an error correction code and in which each row has an even weight, input information data and the above parity check matrix in the data are provided. inputting the input information bits corresponding to one column selected by the above, and generating a first signal which is either a first error correction code or a first syndrome for the input information data using the above parity check matrix; The above selected 1 in the parity check matrix
A second error correction code and a second syndrome for the input information data and the input information bits using a second matrix in which at least one column element is changed so that the number of logical 1s in at least one row is an odd number. an error correction code/syndrome generation circuit that generates a second signal that is one of the above, and selects and extracts one of the first signal and the second signal; a first syndrome decoding circuit into which the first syndrome is input;
A second syndrome decoding circuit configured based on the second matrix and inputting the second syndrome, and inputting each output of these first and second syndrome decoding circuits and the input information data. and means for obtaining error-corrected data. 2. The error correction code/syndrome generation circuit includes a switching circuit that is controlled by a switching signal to switch between a logic 0 output and the input information bit, and is supplied with the output of the switching circuit and the input information data. 2. The error check and correction circuit according to claim 1, comprising a circuit that generates and outputs either the first signal or the second signal according to an input. 3 The error correction code/syndrome generation circuit receives the input information data and generates the first signal.
a second circuit into which the output of the first circuit and the input information bits are input to generate the second signal; output terminals of the first circuit and the second circuit are selected to generate the first signal;
2. The error check and correction circuit according to claim 1, further comprising means for extracting any one of the second signals. 4. The means for obtaining the error-corrected data includes a switching circuit that is controlled by a switching signal to switch and output one of the outputs of the first and second syndrome decoding circuits;
Claim 1 comprising an inverting circuit that receives the output of the switching circuit and input information data and corrects errors.
Error checking and correction circuit described in Section 1. 5 The means for obtaining the error-corrected data includes a first inverting circuit to which the output and input information data of the first syndrome decoding circuit are input, and a first inverting circuit to which the output and input information data of the second syndrome decoding circuit are input. 2. An error check and correction circuit according to claim 1, comprising: two inverting circuits; and means for selecting one of the output terminals of the first and second inverting circuits to extract error-corrected data.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2020090951A1 (en) 2018-11-02 2020-05-07 株式会社 資生堂 Hair treatment method

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