JPS5983190A - Electrooptic unit - Google Patents
Electrooptic unitInfo
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- JPS5983190A JPS5983190A JP19381382A JP19381382A JPS5983190A JP S5983190 A JPS5983190 A JP S5983190A JP 19381382 A JP19381382 A JP 19381382A JP 19381382 A JP19381382 A JP 19381382A JP S5983190 A JPS5983190 A JP S5983190A
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- pixel
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- optical device
- terminal
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- Pending
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- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
本発明す2枚の基板により液晶物質を挾持してなる電気
光学装置のどちらか一方の基板KM工M素子を一画素に
2個設置し、同一データラインの画素に設置された2個
のM工M素子を2本の配線により独立して配線した電気
光学装置に関する。Detailed Description of the Invention: In the electro-optical device according to the present invention, in which a liquid crystal material is sandwiched between two substrates, two KM elements are installed in one pixel on one of the substrates, and two KM elements are installed in each pixel of the same data line. The present invention relates to an electro-optical device in which two installed M elements are independently wired using two wires.
従来のMIM素子を設置した基板は第1図に示す如く、
同一データラインの画素電極7の両側に2本の配線すな
わち第1の配線4シよび第2の配線5を設置し、画素電
極7Vcそれぞれ設置された2個のM1M素子を第1の
配線4および第2の配線5により独立してv線し、第1
の配線4および第2の配線5に独立した端子すなわち第
1の端子2および第2の端子3をとなり合わせて設置し
念ものであった。The board on which the conventional MIM element is installed is shown in Figure 1.
Two wires, namely a first wire 4 and a second wire 5, are installed on both sides of the pixel electrode 7 of the same data line, and the two M1M elements installed on the pixel electrode 7Vc are connected to the first wire 4 and the second wire 5, respectively. The second wiring 5 connects the V line independently, and the first
The wiring 4 and the second wiring 5 were provided with independent terminals, that is, the first terminal 2 and the second terminal 3, which were placed next to each other.
第2図は第1図の一画素の拡大図であり、線αにおける
断面図を第3図に示す。1は基板、8はM I M素子
の第1の金属、9けMIM素子の絶縁体、6FiM1M
素子の第2の金属、7は画素電極である。また第4図t
i第1図に示す基板を用いて電気光学装置を組立てた時
の任意の一画素の等価回路であり、10は液晶層の抵抗
、11は液晶層の容量、12け第1の配線4により配線
されているM工M素子の抵抗であり、15Mその容量ま
た14け第2の配線5により配線はれているMIM素子
の抵抗であり、15はその容量である。MIM素子を全
て無欠陥で製造するのは困難であり。FIG. 2 is an enlarged view of one pixel in FIG. 1, and FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line α. 1 is the substrate, 8 is the first metal of the MIM element, 9 is the insulator of the MIM element, 6FiM1M
The second metal 7 of the element is a pixel electrode. Also, Figure 4 t
i This is an equivalent circuit of an arbitrary pixel when an electro-optical device is assembled using the substrate shown in Fig. 1, where 10 is the resistance of the liquid crystal layer, 11 is the capacitance of the liquid crystal layer, and 12 is the first wiring 4. 15 is the resistance of the wired M element and its capacitance, and 15 is the resistance of the MIM element separated by the 14 second wires 5, and 15 is its capacitance. It is difficult to manufacture all MIM elements without defects.
常時点灯する点灯欠陥および非点灯欠陥が発生し無欠陥
の電気光学装置を製造するのは不可能であった。しかし
、一画素に2個のMIM素子を設置することKより非点
灯欠陥を無くすことは可能であるが、点幻欠陥は修正を
しなければならなかった。修正する虻はどこの場所の画
素のどちらのM工M素子が不良であるか検査をしなけれ
ばならず多大な時間と費用が必要であった。また第1の
端子2と第2の端子5Fiとなり合って設置されており
独立して実装するのは困難であったため、第1の端子2
と第2の端子3を短絡させて実装していた。この六めに
実装什の検査は不可能であり、実装前に不良のMIM素
子を探ζなHればならなかった0
第6図Vi点灯欠陥画素の修正後を示すものであり、第
2の配線5により配線されたM工M棄子が短絡していた
ため[25の医所を切断して修正したものである。第5
図は無修正の画素の等価回路であり、第7図は修正後の
画素すなわち第6図に示す画素の等価回路である。24
は駆動回路である。第5囚と第7図より無修正の画素け
2mのM工M素子で駆動され、修正画素は1個のM工M
素子で駆動される。、修正画素と無修正の画素は駆動条
件が変り均一な表示を得るのけ困難でありfc。It has been impossible to manufacture defect-free electro-optical devices because lighting defects and non-lighting defects occur all the time. However, although it is possible to eliminate the non-lighting defect by installing two MIM elements in one pixel, it is necessary to correct the dot defect. The person making the correction must inspect which M element of each pixel is defective, which requires a great deal of time and expense. In addition, since the first terminal 2 and the second terminal 5Fi are installed next to each other and it is difficult to mount them independently, the first terminal 2
and the second terminal 3 were short-circuited. Sixthly, it is impossible to inspect the mounting parts, and it is necessary to search for defective MIM elements before mounting. This was corrected by cutting the doctor's office in 25 because the M-engine and M-reject wired by the wiring 5 were short-circuited. Fifth
The figure shows an equivalent circuit of an unmodified pixel, and FIG. 7 shows an equivalent circuit of a corrected pixel, that is, the pixel shown in FIG. 24
is the drive circuit. From Figure 5 and Figure 7, the uncorrected pixels are driven by a 2m M element, and the corrected pixels are driven by 1 M element.
It is driven by an element. , it is difficult to obtain a uniform display because the driving conditions of the corrected pixel and the uncorrected pixel change.
また、パネル実装時に静電気によりM工M素子が破壊さ
れ点灯欠陥が発生した場合修正するのは不可能となりイ
しまうた。Furthermore, if the M element is destroyed by static electricity during panel mounting and a lighting defect occurs, it will be impossible to correct it and the problem will occur.
本発明はかかる欠点を除去したもので、その目的は、無
修正により無欠陥の電気光学装置を提供することにある
。The present invention eliminates such drawbacks, and its purpose is to provide an electro-optical device that is defect-free without modification.
以下実施例忙基づいて本発明の詳細な説明する。The present invention will be described in detail below based on examples.
実施例1
第8図は、同一データラインの画素電極21の両伸に2
本の配線すなわち第1の配線19および第2゛の配線2
0を設置し、画素電fi21Vcそれぞれ設置きれた2
個のMIM素子を第1の配線19および第2の配線2G
Kより独立して配線し、第1の配線19および第2の配
線20に独立した端子すなわち第1の端子17および第
2の端子18を同一データラインの両側忙設置したもの
である。Embodiment 1 FIG. 8 shows two electrodes on both sides of the pixel electrode 21 of the same data line.
Main wiring, that is, the first wiring 19 and the second wiring 2
0 and installed each pixel electric fi21Vc.
MIM elements are connected to the first wiring 19 and the second wiring 2G.
The first wiring 19 and the second wiring 20 have independent terminals, that is, a first terminal 17 and a second terminal 18, arranged on both sides of the same data line.
16Jd基板、22けM工M素子の第2の金属である。This is the second metal of the 16Jd substrate and 22M element.
画素電極およびMIM素子の構造は従来のものと全く同
一である、第8図に示す基板を用いて電り光学装置を組
立て、第1の端子17および第2の端子18を実装する
。第9図は等価回路である。第1の端子17に駆動信号
を印加し、M工M素子の欠陥の有無を調べる。欠陥の有
るデータラインのみスイッチ23を使用し第2の端子1
8に駆動信号を印加する。同一データラインの第1の配
#li!19と第2の配線20に同時に欠陥が存在する
ことけほとんど無く端子を選択することにより無欠陥の
1i気光学装置の製造が可能となる。また実装後に欠陥
を探すことが可能であるためどこの場所の画素のどちら
のMIM素子が不良であるか電り光学装置を組立てb前
に検査する必要が無くなり低価格化が可能である。また
従来のものけ無修正画素は2個のMIM素子により駆動
され、修正画素は1個のr′I M ll子により駆動
したため、修正画素と無修正画素との間にコントラスト
差が生じたが、本実施例によれば必ず1個のMIM素子
による駆動が可能であるため画素のコントラスト斑を皆
無にすることができる。The structure of the pixel electrode and the MIM element is exactly the same as that of the conventional one. An electro-optical device is assembled using the substrate shown in FIG. 8, and the first terminal 17 and the second terminal 18 are mounted. FIG. 9 is an equivalent circuit. A drive signal is applied to the first terminal 17 to check whether there is a defect in the M element. Only the defective data line is connected to the second terminal 1 using the switch 23.
A drive signal is applied to 8. First arrangement #li of the same data line! It is possible to manufacture a defect-free 1i optical device by selecting terminals with almost no defects in both the wiring 19 and the second wiring 20 at the same time. In addition, since it is possible to search for defects after mounting, there is no need to inspect which MIM element of each pixel is defective before assembling the electro-optical device, and the cost can be reduced. Furthermore, since the conventional uncorrected pixel was driven by two MIM elements, and the corrected pixel was driven by one r'IM element, a contrast difference occurred between the corrected pixel and the uncorrected pixel. According to this embodiment, it is possible to drive with only one MIM element, so that contrast unevenness in pixels can be completely eliminated.
実施例2
第8図に示す基板を用い電気光学装置を組立て第2の端
子18の入全寮装した場合の等価回路を第10に示す。Embodiment 2 An equivalent circuit when an electro-optical device is assembled using the substrate shown in FIG. 8 and installed in a dormitory with the second terminal 18 is shown in FIG. 10.
駆動信号を第2の端子18に印加し、欠陥の有るデータ
ラインを調べる。欠陥の有るチータラインの実装をはず
し、欠陥の有るデータラインのみ第1の端子17を実装
する。第1の端子を実装した時の岬価回路を第11図に
示す。A drive signal is applied to the second terminal 18 to check for defective data lines. The defective cheater line is unmounted, and the first terminal 17 is mounted only on the defective data line. FIG. 11 shows the Misaki circuit when the first terminal is mounted.
すなわち、第1の端子17あるいけ第2の端子18のど
ちらを実装するか選択することにより無欠陥とすること
が可能となる。また実施例1Vc比ベスイツチ23が不
要となり一層の低価格化ができる。That is, by selecting which of the first terminal 17 and the second terminal 18 to mount, it is possible to ensure no defects. Further, the Vc comparison switch 23 of the first embodiment is not required, and the cost can be further reduced.
本発明は以上説明した様に、電気光学装置を組立て、実
装をし、点灯はせた稜、IWり光学装置に直接手を扉受
ることなく無欠陥化することができる。As described above, the present invention can assemble and mount an electro-optical device, and make it defect-free without having to touch the edge of the illuminated IW optical device directly.
第1図は従来のMIM素子を設置した基板であり、第2
図は第1図の一画素の鉱大図、第3図は第2図のM(Z
にお汁る断面図、第4図は電気光学i置実装前の等価回
路、第5図は実装後の等価回路、第6図は欠陥修正画素
の形状、第7図は欠陥修正画素の実装後の等価回路であ
る。
第8図は本発明にもとづ< M工M素子を設置した基板
、第9図は2個の端子を同時に実装した時の等価回路、
第10■、第11図は2個の端子のうちどちらか一方の
入を選択し実装した時の等価回路である。
1.16・・・・・・基板
2.17・・・・・・第1の端子
3.18・・・・・・第2の端子
4.19・・・・・・第1の配線
5.20・・・・・・第2の配線
6.22・・・・・・MIM素子の第2の金属7.21
・・・・・・画素電極
8・・・・・・M工M素子の第1の金属9・・・・・・
MIM素子の絶縁体
10・・・・・・液晶層の抵抗
11 ・・・・・・液晶層の容量
12・・・・・・第1の1線により配線きれているM工
M素子の抵抗
13・・・・・・第1のV線により配線されているMI
M素子の容量
14・・・・・・第2の配線により1線きれているM工
M素子の抵抗
15・・・・・・第2の配線により配線されているM工
M紫子の容量
23・・・・・・スイ・ノチ
24 ・・・・・・jlKl回動
25・・・・欠陥修正箇所
以 上
出願人 株式会社 諏訪精工舎
58
第1図
第2図
第3図
ム
第4図
1)
第5図
第6図
第7図
第8図Figure 1 shows a board on which a conventional MIM element is installed;
The figure is a one-pixel mineral diagram in Figure 1, and Figure 3 is the M (Z) diagram in Figure 2.
Figure 4 is the equivalent circuit before electro-optical i-mounting, Figure 5 is the equivalent circuit after mounting, Figure 6 is the shape of the defect correction pixel, and Figure 7 is the implementation of the defect correction pixel. This is the later equivalent circuit. Figure 8 shows a board on which the M element is installed based on the present invention, and Figure 9 shows an equivalent circuit when two terminals are mounted at the same time.
10.2 and 11 are equivalent circuits when one of the two terminals is selected and mounted. 1.16...Board 2.17...First terminal 3.18...Second terminal 4.19...First wiring 5 .20... Second wiring 6.22... Second metal of MIM element 7.21
... Pixel electrode 8 ... First metal 9 of M element
Insulator 10 of the MIM element...Resistance 11 of the liquid crystal layer...Capacitance 12 of the liquid crystal layer...Resistance of the M element wired by the first wire 13... MI wired by the first V line
Capacity of M element 14...Resistance of M element connected by the second wiring 15...Capacity of M element wired by the second wiring 23...Sui Nochi 24...JlKl rotation 25...Defect correction points and above Applicant Suwa Seikosha Co., Ltd. 58 Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 1) Figure 5 Figure 6 Figure 7 Figure 8
Claims (3)
学装置の前記2枚の基板の少なくともどちらか一方の基
板罠金属−絶縁体−金属の構造より成る非線型素子(以
下M工M素子という)を一画素に2個設置し、同一デー
タラインの画素に設置された2#iのM工M素子を2本
の配線により独立して配線した電気光学装置において、
前記2本の配線の端子を前記同一データラインの両側に
設置したことを特徴とする電気光学装置。(1) At least one of the two substrates of an electro-optical device has a liquid crystal material sandwiched between two substrates. In an electro-optical device, two M elements (referred to as M elements) are installed in one pixel, and 2#i M elements installed in pixels of the same data line are independently wired with two wires.
An electro-optical device characterized in that terminals of the two wires are installed on both sides of the same data line.
本の配線のどちらで駆動するかをスイッチにより選択す
る特許請求の範囲第1JJi記軟の電気光学装置。(2) Mount the terminals of the two wirings respectively, and
An electro-optical device according to claim 1, in which one of the main wirings to be driven is selected by a switch.
みを選択し、実装する特許請求の範囲第1項記載の電気
光学装置。(3) The electro-optical device according to claim 1, wherein only one of the terminals of the two wirings is selected and mounted.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19381382A JPS5983190A (en) | 1982-11-04 | 1982-11-04 | Electrooptic unit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19381382A JPS5983190A (en) | 1982-11-04 | 1982-11-04 | Electrooptic unit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5983190A true JPS5983190A (en) | 1984-05-14 |
Family
ID=16314185
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19381382A Pending JPS5983190A (en) | 1982-11-04 | 1982-11-04 | Electrooptic unit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5983190A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6593991B2 (en) | 1999-12-01 | 2003-07-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display apparatus with two-terminal nonlinear devices |
-
1982
- 1982-11-04 JP JP19381382A patent/JPS5983190A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6593991B2 (en) | 1999-12-01 | 2003-07-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display apparatus with two-terminal nonlinear devices |
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