JPS6010243B2 - ホログラムによる姿勢検出装置 - Google Patents
ホログラムによる姿勢検出装置Info
- Publication number
- JPS6010243B2 JPS6010243B2 JP15306476A JP15306476A JPS6010243B2 JP S6010243 B2 JPS6010243 B2 JP S6010243B2 JP 15306476 A JP15306476 A JP 15306476A JP 15306476 A JP15306476 A JP 15306476A JP S6010243 B2 JPS6010243 B2 JP S6010243B2
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- Japan
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- hologram
- angle
- light
- pitch angle
- detection device
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はホログラムを用いて姿勢角を検出するようにし
た装置に関する。
た装置に関する。
小口蚤管埋設器或はトンネル掘削機等の姿勢角を検出す
る装置として従前の「姿勢検出装置」がある。
る装置として従前の「姿勢検出装置」がある。
これは第1図に示すように所定位置に設置したレーザラ
ンシット1から照射されたレーザビームLを検出装置2
のレンズ3で集光してポジションセンサ4上に結像させ
、検出装置2のレーザ光L‘こ対する姿勢角の変化によ
りポジシ・ョンセンサ4の中心位置4aからの光点Pの
位置変化に応じた出力信号に基いて当該検出装置2の方
位角、2ピッチ角を検出するようにしている。しかしな
がら、上記従前の検出装置においては集光レンズの収差
に厳しい制限があり、且つ装置の平行移動をカバーする
ために大口座のレンズが必要である。
ンシット1から照射されたレーザビームLを検出装置2
のレンズ3で集光してポジションセンサ4上に結像させ
、検出装置2のレーザ光L‘こ対する姿勢角の変化によ
りポジシ・ョンセンサ4の中心位置4aからの光点Pの
位置変化に応じた出力信号に基いて当該検出装置2の方
位角、2ピッチ角を検出するようにしている。しかしな
がら、上記従前の検出装置においては集光レンズの収差
に厳しい制限があり、且つ装置の平行移動をカバーする
ために大口座のレンズが必要である。
かかる大口律しンズは制作上技術的に困難な問題が多く
、且つ相当な重量となる。しかも、価格的にも非常に高
価である。本発明は上述の点に鑑みて新規になされたも
ので上記従前の検出装置と検出原理を全く異にし、レン
ズの替りにホログラムを用い、レーザトランシット等か
ら放射された可干渉波を検知し、そのレーザビームに対
する姿勢角を検出するようにしたホログラムによる姿勢
検出装置を提供するものである。
、且つ相当な重量となる。しかも、価格的にも非常に高
価である。本発明は上述の点に鑑みて新規になされたも
ので上記従前の検出装置と検出原理を全く異にし、レン
ズの替りにホログラムを用い、レーザトランシット等か
ら放射された可干渉波を検知し、そのレーザビームに対
する姿勢角を検出するようにしたホログラムによる姿勢
検出装置を提供するものである。
以下本発明を添附図面の一実施例に基いて詳述する。
先ず、本発明の原理を簡単に説明する。
第2図に示すように立体ホログラム6の手前所定位置に
ピンホールPHを設け、このピンホールP則こ平面波の
レーザ光LP。を照射すると、.このピンホールPHを
介したレーザ光Lは球面波Lsとなって立体ホログラム
5に照射される。尚、この立体ホログラム5は極めて高
感度の写真用フィルムである。一方、この立体ホログラ
ム5の手前から所定の姿勢角(方位角8、ピッチ角の)
の平面波のレーザ光LPを照射し、球面波Lsとこの平
面波LPとを同時に露光焼付けした後、現像処理する。
このようにしてホログラムを作成する。次に、上述のよ
うにして作成した立体ホログラム5に第3図に示すよう
に前と同じ姿勢角(方位角0、ピッチ角の)から平面波
レーザ光LPを照射すると、このレーザ光LPは立体ホ
ログラム5に対して前記ピンホールPHと面対称位置P
′に集東される。
ピンホールPHを設け、このピンホールP則こ平面波の
レーザ光LP。を照射すると、.このピンホールPHを
介したレーザ光Lは球面波Lsとなって立体ホログラム
5に照射される。尚、この立体ホログラム5は極めて高
感度の写真用フィルムである。一方、この立体ホログラ
ム5の手前から所定の姿勢角(方位角8、ピッチ角の)
の平面波のレーザ光LPを照射し、球面波Lsとこの平
面波LPとを同時に露光焼付けした後、現像処理する。
このようにしてホログラムを作成する。次に、上述のよ
うにして作成した立体ホログラム5に第3図に示すよう
に前と同じ姿勢角(方位角0、ピッチ角の)から平面波
レーザ光LPを照射すると、このレーザ光LPは立体ホ
ログラム5に対して前記ピンホールPHと面対称位置P
′に集東される。
すなわち、立体ホログラム5はしンズと同じ様な作用を
する。このようにしてホログラムを再生することができ
る。このように或る角度で入射するレーザ光に対して1
つの光点(実像)が対応する。
する。このようにしてホログラムを再生することができ
る。このように或る角度で入射するレーザ光に対して1
つの光点(実像)が対応する。
従って、この光点位置にセンサを配設すれば、入射角度
を検出することができる。従って、前述のようなホログ
ラムの作成操作を繰返して行う(多重露光)ことにより
、多くの角度に対して多数の光点を任意に対応させるこ
とができ、これらの各光点位置に小さなフオトセル等の
受光素子を配設すれば、入射するし−ザ光の入射角度の
変化を検出することが可能である。
を検出することができる。従って、前述のようなホログ
ラムの作成操作を繰返して行う(多重露光)ことにより
、多くの角度に対して多数の光点を任意に対応させるこ
とができ、これらの各光点位置に小さなフオトセル等の
受光素子を配設すれば、入射するし−ザ光の入射角度の
変化を検出することが可能である。
本発明は上記原理に基いてなされたもので、第4図にお
いて、受光素子例えばフオトセル6〜9は立体ホログラ
ム5の後方所定位置に配されている。これらのフオトセ
ル6〜9は立体ホログラム5と平行な平面上にあり、且
つ立体ホログラム5の中心○,を通る光軸Loに対し、
フオトセル6,7は上下対称位置に、フオトセル8,9
は左右対称位置に配設されている。勿論、フオトセル6
,7間及びフオトセル8,9間の間隔は立体ホログラム
5の大きさ、立体ホログラム5からこれらのフオトセル
6〜9までの距離及び検出する姿勢角の最大値等に基い
て設定される設計上の問題である。尚、立体ホログラム
5は例えば正方形状の写真乾板とする。フオトセル6〜
9は入射光の強度に応じて電圧V6〜V9を出力し演算
回路10,1 1に加える。
いて、受光素子例えばフオトセル6〜9は立体ホログラ
ム5の後方所定位置に配されている。これらのフオトセ
ル6〜9は立体ホログラム5と平行な平面上にあり、且
つ立体ホログラム5の中心○,を通る光軸Loに対し、
フオトセル6,7は上下対称位置に、フオトセル8,9
は左右対称位置に配設されている。勿論、フオトセル6
,7間及びフオトセル8,9間の間隔は立体ホログラム
5の大きさ、立体ホログラム5からこれらのフオトセル
6〜9までの距離及び検出する姿勢角の最大値等に基い
て設定される設計上の問題である。尚、立体ホログラム
5は例えば正方形状の写真乾板とする。フオトセル6〜
9は入射光の強度に応じて電圧V6〜V9を出力し演算
回路10,1 1に加える。
演算回路10は入力V6、V7の対数比logV6/V
7を演算し、対応するピッチ角信号Vのを出力する。演
算回路1 1は入力V8、V9の対数比logV8/V
9を演算し、対応する方位角信号V8を出力する。また
、検出する姿勢角の最大方位角を土8o、最大ピッチ角
を土の。とする。そして、立体ホログラム5に対して(
ピッチ角、方位角)=(のo、0)で照射した平面波L
Pがフオトセル6の位置に集光するように前述の第2図
に示す要領で球面波Lsと共に露光する。
7を演算し、対応するピッチ角信号Vのを出力する。演
算回路1 1は入力V8、V9の対数比logV8/V
9を演算し、対応する方位角信号V8を出力する。また
、検出する姿勢角の最大方位角を土8o、最大ピッチ角
を土の。とする。そして、立体ホログラム5に対して(
ピッチ角、方位角)=(のo、0)で照射した平面波L
Pがフオトセル6の位置に集光するように前述の第2図
に示す要領で球面波Lsと共に露光する。
同様に、(ピッチ角、方位角)=(一のo、0)、(ピ
ッチ角、方位角)=(0、8。
ッチ角、方位角)=(0、8。
)、(ピッチ角、方位角)=(0、一8。
)で照射した平面波LPがフオトセル7,8,9の位置
に集光するように球面波Ls′と共に露光する。
に集光するように球面波Ls′と共に露光する。
このようにして合計4回多重露光した後現像処理してホ
ログラムを作成する。こうして姿勢角検出装置12を構
成する。さて、いま、平面波LPが立体ホログラム5に
対してピッチ角8(一8。<ひくoo)、方位角の(一
の。くのくのo)で入射したとする。このとき前述した
ようにフオトセル6〜9の間隔を適当に設定することに
より、ピッチ角−のo<のくのoからの光はフオトセル
6,7に或る比率で集光する。従って、このフオトセル
6,7は第5図aに示すような特性電圧V6,V7を出
力する。同様に方位角−8。〈ひく8。からの光はフオ
トセル8,9に或る比率で集光し、このフオトセル8,
9は第6図aに示すような特性の電圧V8,V9を出力
する。従って、その比logV6/V7、logV8/
V9をとれば、一の。<のくのo 、一8o<ひく8o
の範囲でピッチ角の、方位角8を知ることができる。か
くして、第5図b、第6図bに示す特性の演算回路10
,11の出力信号Vの,V8‘こ基いて平面波LPの入
射角すなわち、平面波LPに対する検出装置12の姿勢
角(の、8)を検出することができる。以上説明したよ
うに本発明によれば、レーザ光の強度の変動及びビーム
の太さに無関係であるために基準ビームの設定が容易で
あり、しかも、ホログラムの表面が汚れても検出するこ
とができる。
ログラムを作成する。こうして姿勢角検出装置12を構
成する。さて、いま、平面波LPが立体ホログラム5に
対してピッチ角8(一8。<ひくoo)、方位角の(一
の。くのくのo)で入射したとする。このとき前述した
ようにフオトセル6〜9の間隔を適当に設定することに
より、ピッチ角−のo<のくのoからの光はフオトセル
6,7に或る比率で集光する。従って、このフオトセル
6,7は第5図aに示すような特性電圧V6,V7を出
力する。同様に方位角−8。〈ひく8。からの光はフオ
トセル8,9に或る比率で集光し、このフオトセル8,
9は第6図aに示すような特性の電圧V8,V9を出力
する。従って、その比logV6/V7、logV8/
V9をとれば、一の。<のくのo 、一8o<ひく8o
の範囲でピッチ角の、方位角8を知ることができる。か
くして、第5図b、第6図bに示す特性の演算回路10
,11の出力信号Vの,V8‘こ基いて平面波LPの入
射角すなわち、平面波LPに対する検出装置12の姿勢
角(の、8)を検出することができる。以上説明したよ
うに本発明によれば、レーザ光の強度の変動及びビーム
の太さに無関係であるために基準ビームの設定が容易で
あり、しかも、ホログラムの表面が汚れても検出するこ
とができる。
また、大口径、軽量の装置を安価に提供することができ
る等の利点がある。
る等の利点がある。
第1図は従前の姿勢検出装置を示す概略図、第2図及び
第3図は本発明の原理を示す図、第4図は本発明に係る
ホログラムによる姿勢検出装置の一実施例を示す図、第
5,6図は本装置の出力信号の一実施例を示すグラフで
ある。 5・・・…立体ホログラム、6〜9…・・・フオトセル
、10〜11・・・・・・演算回路、LP・・・・・・
平面波レーザ光、Ls・・・・・・球面波レーザ光。 第1図第2図 第3図 第4図 第5図 第6図
第3図は本発明の原理を示す図、第4図は本発明に係る
ホログラムによる姿勢検出装置の一実施例を示す図、第
5,6図は本装置の出力信号の一実施例を示すグラフで
ある。 5・・・…立体ホログラム、6〜9…・・・フオトセル
、10〜11・・・・・・演算回路、LP・・・・・・
平面波レーザ光、Ls・・・・・・球面波レーザ光。 第1図第2図 第3図 第4図 第5図 第6図
Claims (1)
- 1 所定の方位角±θ_0、ピツチ角±ψ_0の4方向
から入射した平面波レーザ光を各別に2対の4点に集光
すべく予め多重露光焼付した立体ホログラムと、各集光
点に配され光の強さに応じた信号を出力する2対の受光
素子と、第1の対の各受光素子の信号に基いて方位角を
算出し対応する方位角信号を出力する第1の演算回路と
、第2の対の各受光素子の信号に基いてピツチ角を算出
し対応するピツチ角信号を出力する第2の演算回路とを
具え、方位角±θ_0、ピツチ角±ψ_0の範囲内の方
向から照射されたレーザ光の入射角を検出するようにし
たホログラムによる姿勢検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15306476A JPS6010243B2 (ja) | 1976-12-20 | 1976-12-20 | ホログラムによる姿勢検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15306476A JPS6010243B2 (ja) | 1976-12-20 | 1976-12-20 | ホログラムによる姿勢検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5376856A JPS5376856A (en) | 1978-07-07 |
| JPS6010243B2 true JPS6010243B2 (ja) | 1985-03-15 |
Family
ID=15554185
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15306476A Expired JPS6010243B2 (ja) | 1976-12-20 | 1976-12-20 | ホログラムによる姿勢検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6010243B2 (ja) |
-
1976
- 1976-12-20 JP JP15306476A patent/JPS6010243B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5376856A (en) | 1978-07-07 |
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