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JPS6011816B2 - semiconductor switch - Google Patents
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JPS6011816B2 - semiconductor switch - Google Patents

semiconductor switch

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JPS6011816B2
JPS6011816B2 JP54120860A JP12086079A JPS6011816B2 JP S6011816 B2 JPS6011816 B2 JP S6011816B2 JP 54120860 A JP54120860 A JP 54120860A JP 12086079 A JP12086079 A JP 12086079A JP S6011816 B2 JPS6011816 B2 JP S6011816B2
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switch
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D18/00Thyristors

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明はPNPNスイッチとしての半導体スイッチに係
り、特にそのdv/dt耐量の向上が図られた半導体ス
イッチに関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor switch as a PNPN switch, and particularly to a semiconductor switch whose dv/dt withstand capability is improved.

PNPNスイッチは正負方向に高い阻止耐圧が得られる
ことと、自己保持作用によって小さな制御鰭力で大電力
を制御し得る特徴を有し半導体スイッチとして有用なも
のである。
A PNPN switch is useful as a semiconductor switch because it has a high blocking voltage in the positive and negative directions and can control a large amount of power with a small control fin force due to its self-holding action.

しかしながら、その反面そのアノード、カソード間に急
激な順方向電圧上昇(雑音電圧)があると、その電圧変
イリ率dv/dtによって誤って点弧してしまうという
不具合があ。このためdv/dt耐童を高めることが考
えられているが、それには充分な配慮が必要となってい
る。通常はゲート、カソード間を低抵抗で短絡すること
によってdv/dt耐量を高めているが、この方法によ
る場合は新たに制御感度が劣化するという不具合がある
。この方法以外にはこれまで第1図から第3図に示すも
のが知られている。即ち、第1図に示すものはPNPN
スイッチ1のゲートG、カソードK間にトランジスタ2
のコレクタ、ェミツ夕を接続し、そのベースはコンデン
サ3を介しPNPNスイッチのアノードAに接続したも
のである。
However, on the other hand, if there is a sudden increase in forward voltage (noise voltage) between the anode and cathode, there is a problem that ignition may occur erroneously due to the voltage variation rate dv/dt. For this reason, it has been considered to increase the dv/dt resistance, but this requires sufficient consideration. Normally, the dv/dt tolerance is increased by short-circuiting the gate and cathode with a low resistance, but this method has an additional problem of deterioration of control sensitivity. In addition to this method, the methods shown in FIGS. 1 to 3 have been known so far. That is, what is shown in Fig. 1 is PNPN.
Transistor 2 is connected between the gate G and cathode K of switch 1.
The collector and emitter are connected to each other, and the base thereof is connected to the anode A of the PNPN switch via a capacitor 3.

急激な順方向電圧の印加時にはコンデンサ3の充電電流
でトランジスタ2を過渡的に動作させ、ゲートG、カソ
ードK間を短絡しようというわけである。これによる場
合通常はトランジスタ2は動作していないことから、ゲ
ートGからの制御感度は何ら劣化しなく、従って、第1
図に示すものはdv/dt耐量と制御感度を両立させる
上で磯れたものとなっている。しかしながり、コンデン
サは半導体ICの中では占有面積を多く必要とすること
から、第1図に示すものは集積化に不向きな構成となっ
ている。このため、集積回路化に有利なものとして本出
願人は第2図に示す如くのものを提案している。図示の
如くトランジスタ2のベースとPNPNスイッチ1のア
ノードAに隣接する層(アノードゲ−ト)との間にダイ
オード4を設け、ダイオード4の接合容量を充電する電
流で第1図に示すものと同様にして過渡短絡を行なおう
というわけである。しかしながら、このように回路構成
する場合はまたアノードAに隣接したN層(アノードゲ
ート)からダイオード4の方向に微分電流が流れること
から、アノードゲート駆動が加わったことにもなり、d
v/dt耐量は第1図に示すものより若干劣化すること
が考えられる。さらに、アノードゲート駆動をなくしな
がらも第1図に示すものを集積回路化したものとして第
3図に示すものが提案されている。
When a sudden forward voltage is applied, the transistor 2 is operated transiently by the charging current of the capacitor 3, and the gate G and cathode K are short-circuited. In this case, normally the transistor 2 is not operating, so the control sensitivity from the gate G does not deteriorate at all, and therefore the first
The one shown in the figure is the best in achieving both dv/dt tolerance and control sensitivity. However, since a capacitor requires a large area in a semiconductor IC, the configuration shown in FIG. 1 is not suitable for integration. For this reason, the applicant has proposed a device as shown in FIG. 2 that is advantageous for integrated circuit implementation. As shown in the figure, a diode 4 is provided between the base of the transistor 2 and the layer (anode gate) adjacent to the anode A of the PNPN switch 1, and the current that charges the junction capacitance of the diode 4 is similar to that shown in FIG. The idea is to perform a transient short circuit. However, when the circuit is configured in this way, a differential current flows from the N layer (anode gate) adjacent to the anode A in the direction of the diode 4, so an anode gate drive is also added.
It is conceivable that the v/dt tolerance is slightly worse than that shown in FIG. Furthermore, the circuit shown in FIG. 3 has been proposed as an integrated circuit version of the circuit shown in FIG. 1 while eliminating the anode gate drive.

第3図に示すものでは、アノードAとトランジスタ2の
べ−スとの間に第2のトランジスタ5を設け、そのべ−
スはオープン状態におかれるものとなっている。かかる
構成でもdv/dt耐量がやや劣化する欠点をもつ。な
ぜならば、第2のトランジスタ5のベース端子はいずれ
にも接続されていないため、ア/ードA、カソードK間
に早い周期でdv/dtパルスを繰り返し印加すると、
そのベースに電荷が蓄積されたままとなり、微分電流が
減少して実質的にdv/dt耐量の大中向上が望みにく
くなるからである。本発明の目的は上記した欠点をなく
し、集積化に通し、しかもdv/dt耐量の優れた半導
体スイッチを供するにある。
In the one shown in FIG. 3, a second transistor 5 is provided between the anode A and the base of the transistor 2.
The space is to be left open. Even with this configuration, there is a drawback that the dv/dt tolerance is slightly degraded. This is because the base terminal of the second transistor 5 is not connected to either, so if a dv/dt pulse is repeatedly applied between the electrode A and the cathode K at a fast cycle,
This is because charges remain accumulated in the base, and the differential current decreases, making it virtually impossible to expect large or medium improvements in dv/dt tolerance. SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks, to provide a semiconductor switch that can be integrated, and has excellent dv/dt tolerance.

この目的のため本発明は、第2のトランジスタのベース
はPNPNスイッチの主端子(アノードA)に隣接した
層に、電荷放電用抵抗性素子を介し接続されるようにし
たものである。
For this purpose, the invention provides that the base of the second transistor is connected to a layer adjacent to the main terminal (anode A) of the PNPN switch via a resistive element for discharging charges.

以下、本発明を第4図、第5図によって詳細に説明する
Hereinafter, the present invention will be explained in detail with reference to FIGS. 4 and 5.

先ず第4図は本発明による半導体スイッチの基本的な回
路構成を示したものである。
First, FIG. 4 shows the basic circuit configuration of a semiconductor switch according to the present invention.

これによるとアノードA、カソードK、ゲートGを持つ
本PNPNスイッチ11のゲートG、カソードK間には
第1のトランジスタ(NPN型)12のコレク夕、ェミ
ツタを接続し、そのベースは、ェミツタがPNPNスイ
ッチ11のアノードAに接続された第2のトランジスタ
(PNF型)16のコレクタ接続されるようになってい
る。さて、本発明の特徴は第2のトランジスタ16のベ
ースを抵抗17を介しアノードAに隣接したN層(アノ
ードゲート)に接続した点である。この抵抗17は、後
述の如く第2のトランジスタ16のベースに蓄積する電
荷を放電させてPNPNスイッチ11のアノードゲート
といつまでもほぼ等しい電位に保つためのものであり、
専用に製造形成された抵抗体として構成するのが一般的
であるが、この他に、高耐圧のICにおいてはトランジ
スタ16のベース内部抵抗(比較的高抵抗になり易い)
およびPNPNスイッチ11のアノードゲート内部抵抗
をそのまま等価的な抵抗性の部分として扱ってもよく、
また、場合によってはコイルのような交流的に抵抗を示
すものであってもよい。かかる構成によれば、PNPN
スイッチ11のアノードA、カソードK間に順方向電圧
上昇が加わると、第2のトランジスタ16のベース・コ
レクタ接合に存在する接合容量を充電する電流がミラー
増幅されて第1のトランジスタ12のベースに流れ込み
、この結果第1のトランジスタ12が動作しゲ−トG、
カソードK間を短絡することから、PNPNスイッチ1
1の中央の接合の充電電流によるレィト効果を防止する
ものである。
According to this, the collector and emitter of a first transistor (NPN type) 12 are connected between the gate G and cathode K of a PNPN switch 11 having an anode A, a cathode K, and a gate G, and the emitter is connected to the base of the first transistor (NPN type). The collector of a second transistor (PNF type) 16 is connected to the anode A of the PNPN switch 11. Now, the feature of the present invention is that the base of the second transistor 16 is connected to the N layer (anode gate) adjacent to the anode A via the resistor 17. This resistor 17 is for discharging the charge accumulated in the base of the second transistor 16 and keeping it at almost the same potential as the anode gate of the PNPN switch 11 forever, as will be described later.
Generally, it is configured as a specially manufactured resistor, but in addition to this, in high-voltage ICs, the base internal resistance of the transistor 16 (which tends to have a relatively high resistance)
And the anode gate internal resistance of the PNPN switch 11 may be treated as an equivalent resistive part,
Further, in some cases, it may be something that shows resistance in alternating current, such as a coil. According to such a configuration, PNPN
When a forward voltage rise is applied between the anode A and cathode K of the switch 11, the current that charges the junction capacitance present at the base-collector junction of the second transistor 16 is mirror-amplified and flows to the base of the first transistor 12. As a result, the first transistor 12 operates and the gate G,
Since the cathode K is short-circuited, the PNPN switch 1
This is to prevent the rate effect due to the charging current of the central junction of 1.

この時、抵抗17の両端の電位差は殆どない。なぜなら
ば、抵抗17の両端はともにアノードAより接合を1つ
ずつ介した電位あり、等爵位であるために流れる電流は
なく、仮にわずかな電位差があっても抵抗によって電流
制限され、第2図において指摘した問題は全く生じなく
第1図に示すものと同等のdv/dt保護効果が得られ
るものである。一方、PNPNスイッチ11のアノード
A、カソードK間に直流電圧が加えられている状態で、
ゲートGに電流を流してPNPNスイッチ1 1を点弧
させると、アノードA、カソードK間の電位差は低下(
約IV)するが、もし、抵抗17がない場合には、点狐
前にトランジスタ16のベース、コレクタ間に充電され
ていた電荷(ベースが正、コレクタが負となる電荷)は
ベース、ェミツタが阻止方向となっているため放電しき
れず、先の第3図において述べたように著しくdv/d
t保護効果が低下する問題を生じることになる。例えば
遅い繰り返しでは500V/仏s以上ある耐量が高速の
繰り返しでは数10V/ムsまで低下することがあり得
るものである。しかしながら、本発明では抵抗17を設
けてあるので点弧直後に抵抗17の抵抗値と接合容量の
時定数に従ってトランジスタ16のベース電位はすみや
かにPNPNスイッチのアノ−ドゲート電位に近づくこ
とは明らかである。この結果、高速で繰り返される順電
圧上昇に対しても定速で繰り返される場合とほぼ同程度
のdv/dt保護作用が得られるものである。第5図は
本発明を双方向形半導体スイッチに適用した場合での回
路構成を示したものである。
At this time, there is almost no potential difference between both ends of the resistor 17. This is because both ends of the resistor 17 have a potential from the anode A through one junction, and since they are of equal rank, no current flows, and even if there is a slight potential difference, the current is limited by the resistor, as shown in Figure 2. The problem pointed out in 2 does not occur at all, and a dv/dt protection effect equivalent to that shown in FIG. 1 can be obtained. On the other hand, while a DC voltage is applied between the anode A and cathode K of the PNPN switch 11,
When a current flows through the gate G to turn on the PNPN switch 1 1, the potential difference between the anode A and the cathode K decreases (
(approximately IV) However, if there is no resistor 17, the charge that was charged between the base and collector of the transistor 16 before switching on (the charge where the base is positive and the collector is negative) will be transferred to the base and emitter. Because it is in the blocking direction, the discharge cannot be completed, and as mentioned in Fig. 3, the dv/d decreases significantly.
This will cause the problem that the protective effect will be reduced. For example, a withstand voltage of 500 V/ms or more in slow repetitions may drop to several tens of V/ms in fast repetitions. However, in the present invention, since the resistor 17 is provided, it is clear that the base potential of the transistor 16 quickly approaches the anode gate potential of the PNPN switch according to the resistance value of the resistor 17 and the time constant of the junction capacitance immediately after ignition. . As a result, almost the same level of dv/dt protection effect can be obtained even when the forward voltage rises are repeated at a high speed as when the forward voltage increases are repeated at a constant speed. FIG. 5 shows a circuit configuration when the present invention is applied to a bidirectional semiconductor switch.

アノードゲート層(N層)を共通とした1組の逆並列接
続のPNPNスイッチ31,31′のそれぞれのゲート
G,,G2、カソードT2.T,様子間には、第1のト
ランジスタ32,32′、コレクタ、ェミッタが、さら
には抵抗38,38′が接続され、また、第1のト、ラ
ンジスタ32,32′のベース、ヱミツタ間にはダイオ
ード39,39′が設けられ、さらに各ベースは第2の
トランジスタ36と図示の如く接続されるものとなって
いる。第2のトランジスタ36のベースはアノードゲー
ト(共通N層)に抵抗37を介し接続されるようになっ
ているものである。第5図において、第2のトランジス
タ36はエミツタが2つで、コレクタを有していないも
のとして示してあるが、2つのェミッタの部分は印加さ
れる電圧の極性によって一方が真のェミツタ、他方が真
のコレク夕として働き、他の極性ではその逆に一方がコ
レクタ、他方がヱミッタとして作用するものである。こ
の構成は、集積回路においてラテラルトランジスタとし
て構成すれば容易に実現でき、2つのェミツタとべ‐ス
間の逆阻止耐電圧はともに高い。また、抵抗38,38
′はPNPNスイッチ31,31′の高温リーク電流に
対する安定性を与えるためのもので、比較的高抵抗でよ
い。また、ダイオード39,39′は、2つのトランジ
スタ32,32′のベース間に接続した第2のトランジ
スタ36の2つのエミツタに、PNPNスイッチの2つ
の主端子T,,T2間の電位差が鉄ダイオードを通して
間接的に印加されるように設計したものであり、これは
発振防止の役目をも合せ持つ。かかる構成において、例
えば王様子T2に対し、主端子T,の電位が正方向に上
昇する時には、ダイオード39′を介してトランジスタ
36の図示上側ェミツタに主端子T,の電位が印加され
、第4図と同様トランジスタ32が動作してPNPNス
イッチ31の譲点弧を防止するわけである。
A pair of anti-parallel connected PNPN switches 31, 31' having a common anode gate layer (N layer) have respective gates G, , G2, cathodes T2, . The first transistors 32, 32', collectors and emitters are connected between the first transistors 32 and 32', and the resistors 38 and 38' are connected between the first transistors 32 and 32', and the emitters and the bases of the transistors 32 and 32' are connected between the transistors 32 and 32'. diodes 39 and 39' are provided, and each base is connected to a second transistor 36 as shown. The base of the second transistor 36 is connected to the anode gate (common N layer) via a resistor 37. In FIG. 5, the second transistor 36 is shown as having two emitters and no collector; however, depending on the polarity of the applied voltage, one of the two emitters is a true emitter and the other is a true emitter. acts as a true collector; in other polarities, one acts as a collector and the other acts as an emitter. This configuration can be easily realized by configuring it as a lateral transistor in an integrated circuit, and the reverse blocking voltage between the two emitters and the base is both high. Also, resistors 38, 38
' is provided to provide stability against high temperature leakage current of the PNPN switches 31, 31', and may have a relatively high resistance. The diodes 39, 39' are connected to the two emitters of the second transistor 36 connected between the bases of the two transistors 32, 32', and the potential difference between the two main terminals T, T2 of the PNPN switch is an iron diode. It is designed to be applied indirectly through the oscillator, and also has the role of preventing oscillation. In such a configuration, for example, when the potential of the main terminal T, increases in the positive direction with respect to the royal state T2, the potential of the main terminal T, is applied to the illustrated upper emitter of the transistor 36 via the diode 39', and the fourth As shown in the figure, the transistor 32 operates to prevent the PNPN switch 31 from turning on.

この場合、PNPNスイッチ31′は逆阻止状態にある
が、PNPNスイッチ31が点弧制御された時に抵抗3
7がトランジスタ36の電荷放出に顕著な効果を表すこ
とは前例と同様である。電位関係が正負逆転した時には
、ダイオード39、トランジスタ36,32′によつて
、PNPNスイッチ31′のレィト効果を防止できるも
のである。ここで、PNPNスイッチ3 1,3 1′
はアノードゲート層(N)が共通とされた逆並列接続の
スイッチの例で示したが、通常の2つのPNPNスイッ
チを逆並列接続したうえ各PNPNスイッチのアノード
ゲート層(N層)に抵抗を接続しても同様な機能が得ら
れることは勿論である。なお、以上の説明においては、
暗黙の内に第2のトランジスタ16,36はPNPNス
イッチと同時に集積化した時、正負双方向に高い耐圧が
得られるPNP形として記載したが、これらの実施例の
P型とN型を全て反転した相補な回路構成も実施できる
ことはいうまでもない。
In this case, the PNPN switch 31' is in the reverse blocking state, but when the PNPN switch 31 is controlled to fire, the resistor 3
7 has a significant effect on the discharge of charge from the transistor 36, as in the previous example. When the potential relationship is reversed, the diode 39 and the transistors 36 and 32' can prevent the rate effect of the PNPN switch 31'. Here, PNPN switch 3 1, 3 1'
was shown using an example of anti-parallel connected switches with a common anode gate layer (N), but it is possible to connect two normal PNPN switches in anti-parallel and add a resistor to the anode gate layer (N layer) of each PNPN switch. Of course, the same functions can be obtained even when connected. In addition, in the above explanation,
Although the second transistors 16 and 36 are implicitly described as PNP type which can obtain a high withstand voltage in both positive and negative directions when integrated at the same time as a PNPN switch, the P type and N type in these embodiments are all reversed. It goes without saying that a complementary circuit configuration can also be implemented.

以上説明した如く、本発明によれば、PNPNスイッチ
のdvノdt耐量が改善されるばかりか、集積化が容易
となり、特に早い周期の電圧変化が印加される場合に使
用されるものとして有用となっている。
As explained above, according to the present invention, not only the DV/DT withstand capability of the PNPN switch is improved, but also the integration becomes easy, and the present invention is useful especially when a fast-cycle voltage change is applied. It has become.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図、第2図、第3図は公知の技術による半導体スイ
ッチの回路構成を示す図、第4図、第5図はそれぞれ本
発明の実施例での半導体スイッチの回路構成を示す図で
ある。 1 1,3 1,3 1′・・・・・・PNPNスイッ
チ、12,32,32′……第1のトランジスタ、16
,36,36′……第2のトランジスタ、17,37,
37′・・・・・・抵抗、39,39′・・・・・・ダ
イオード。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図
FIGS. 1, 2, and 3 are diagrams showing the circuit configuration of a semiconductor switch according to a known technique, and FIGS. 4 and 5 are diagrams each showing the circuit configuration of a semiconductor switch in an embodiment of the present invention. be. 1 1, 3 1, 3 1'... PNPN switch, 12, 32, 32'... First transistor, 16
, 36, 36'... second transistor, 17, 37,
37'...Resistor, 39,39'...Diode. Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 5

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 PNPNスイツチ素子と、第1、第2のトランジス
タとから成り、該第1のトランジスタのエミツタ端子は
前記PNPNスイツチ素子の一方の主端子に接続され、
コレクタ端子は該主端子が取り出された層に隣接する層
に接続される一方、前記第2のトランジスタのエミツタ
端子はPNPNスイツチ素子の他方の主端子に直接ある
いは間接的に接続され、コレクタ端子は前記第1のトラ
ンジスタのベース端子に接続されかつ該第2のトランジ
スタのベース端子は、前記他方の主端子が取り出された
層に隣接する層に抵抗を介し接続される構成を特徴とす
る半導体スイツチ。 2 第2のトランジスタは、逆並列接続された2個のP
NPNスイツチ素子に対し共通に接続される特許請求の
範囲第1項記載の半導体スイツチ。
[Claims] 1. Consisting of a PNPN switch element and first and second transistors, the emitter terminal of the first transistor is connected to one main terminal of the PNPN switch element,
The collector terminal is connected to a layer adjacent to the layer from which the main terminal is taken out, while the emitter terminal of the second transistor is directly or indirectly connected to the other main terminal of the PNPN switch element, and the collector terminal is A semiconductor switch characterized in that the base terminal of the first transistor is connected to the base terminal of the second transistor, and the base terminal of the second transistor is connected via a resistor to a layer adjacent to the layer from which the other main terminal is taken out. . 2 The second transistor consists of two P
A semiconductor switch according to claim 1, which is connected in common to an NPN switch element.
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