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JPS6013471B2 - Balanced partial discharge test circuit - Google Patents
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JPS6013471B2 - Balanced partial discharge test circuit - Google Patents

Balanced partial discharge test circuit

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Publication number
JPS6013471B2
JPS6013471B2 JP14340778A JP14340778A JPS6013471B2 JP S6013471 B2 JPS6013471 B2 JP S6013471B2 JP 14340778 A JP14340778 A JP 14340778A JP 14340778 A JP14340778 A JP 14340778A JP S6013471 B2 JPS6013471 B2 JP S6013471B2
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Japan
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partial discharge
capacitor
pulse
impedance
discharge test
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英希 高橋
一夫 小林
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明‘ま、電気機器の絶縁試験における高電圧部分放
電試験回路に係り、供謎品で発生する部分放電パルスと
供試品以外で発生する部分放電パルスやスイッチノイズ
等の外部ノイズとを容易に分離して、供謎品で発生する
都分放燈パルスを正確に測定できる高電圧部分放電試験
回路に関する高電圧部分放電試験回路の従来の公知例を
第1図を参照に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a high voltage partial discharge test circuit for insulation testing of electrical equipment, and relates to partial discharge pulses generated in an unspecified product and partial discharge pulses and switch noise generated in other than the test product. Figure 1 shows a conventionally known example of a high-voltage partial discharge test circuit that can easily separate external noise such as noise and accurately measure the street lighting pulses generated in a mystery product. Explain with reference to.

この部分放電試験回路は、高電圧電源1、保護抵抗2、
コンデンサ3および6、検出インピーダンス4および7
、高ィンピーダンス素子5、および供試品8で構成され
る。この回路を用いて部分放電を測定するには、検出イ
ンピーダンス4および7の端子電圧を、高周波ケーブル
9および10を介して、増幅器11および12に入力し
、そこからのパルスを大小判別器113に入れた後に、
コロナ測定器14で計測する。この場合、供試品8で発
生したコロナは、高インピーダンス5を接続してあるこ
とから、検出インピーダンス4の端子間より検出インピ
ーダンス7の端子間に波高値の高いパルス電圧を生じる
。そこでパルスの大小判別器13は、コロナパルスを出
力するように動作し、コロナ測定器14に測定させる。
一方、高電圧電源1等の供謎品以外の場所に発生したコ
ロナや外来のスイッチノイズは、高インピーダンス5の
存在により、検出インピーダンス7の端子間に比較して
検出インピーダンス4の端子間に波高値の高いパルス電
圧を生じる。この場合、パルスの大小判別器13は、コ
ロナパルスを出力せず、前記パルスは測定されない。上
記従来の高電圧部分放電試験回路では、2本の高周波ケ
ーブル、同等性能を有する2台の増幅器、およびパルス
の大小判別器を使わなければならなかった。
This partial discharge test circuit consists of a high voltage power supply 1, a protective resistor 2,
Capacitors 3 and 6, detection impedances 4 and 7
, a high impedance element 5, and a sample 8. To measure partial discharge using this circuit, the terminal voltages of detection impedances 4 and 7 are input to amplifiers 11 and 12 via high frequency cables 9 and 10, and the pulses from there are sent to a size discriminator 113. After putting it in,
It is measured with a corona measuring device 14. In this case, since the high impedance 5 is connected, the corona generated in the sample 8 generates a pulse voltage having a higher peak value between the terminals of the detection impedance 7 than between the terminals of the detection impedance 4. Therefore, the pulse size discriminator 13 operates to output a corona pulse, and causes the corona measuring device 14 to measure the corona pulse.
On the other hand, due to the presence of high impedance 5, corona and external switch noise generated in places other than the high voltage power supply 1 and the like will wave between the terminals of detection impedance 4 compared to between the terminals of detection impedance 7. Generates a high pulse voltage with a high value. In this case, the pulse size discriminator 13 does not output a corona pulse, and the pulse is not measured. The conventional high-voltage partial discharge test circuit described above requires the use of two high-frequency cables, two amplifiers with equivalent performance, and a pulse size discriminator.

本発明の目的は、供試品で発生した部分放電パルスをそ
れ以外で発生した外部ノイズから区別して測定できる簡
単な構成の高電圧部分放電試験回路を提供することであ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a high-voltage partial discharge test circuit with a simple configuration that can distinguish and measure partial discharge pulses generated in a sample under test from external noise generated elsewhere.

本発明は、供試品以外の部分で発生するパルスすなわち
外部ノイズを部分放電試験回路内で平衡作用により消去
してしまい、単独のコロナ測定器で供試品の部分放電パ
ルスのみを測定できるようにしたものである。
The present invention eliminates pulses generated in parts other than the sample, that is, external noise, by a balancing action within the partial discharge test circuit, making it possible to measure only the partial discharge pulse of the sample with a single corona measuring device. This is what I did.

消去する手段としては、高インピーダンス素子と等しい
インピーダンスに調整可能な可変ィンピ−ダンス素子と
2台のパルストランスとで構成された平衡部を設けるよ
うにしてある。次に、第2図を参照して本発明の一実施
例につき説明する。
As the erasing means, a balance section is provided which is composed of a variable impedance element whose impedance can be adjusted to be equal to that of the high impedance element and two pulse transformers. Next, one embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

本実施例は、直流高電圧部分放電試験回路の例であり、
直流高電圧発生器1、保護抵抗2、平滑コンデンサー5
、高インピーダンス素子16、電圧測定用抵抗分圧器1
7、電流計18、コンデンサー9および22、高ィンピ
−ダンス素子21、供試品25、可変インピーダンス素
子20とパルストランス23および24を含むバランス
部28、これに接続された高周波ケーブル26、および
コロナ検出器27とで構成される。第2図に示した例の
動作を説明するために、その等価回路の一例を第3図と
して表わす。この回路は、コンデンサー9および22、
電源側インピーダンス41、供試品標遊静電容量29、
高抵抗30、同図の点AおよびB間の漂遊静電容量31
、可変抵抗32、可変静電容量33、パルストランス一
次巻線34および37、パルストランスのフェライトコ
ア35および38、パルストランスの二次巻線36およ
び39、インピーダンス40等で構成される。41は電
源側インピーダンスで、直流高電圧発正器1の内部イン
ピーダンス、保護抵抗2、平滑コンデンサ15、高イン
ピーダンス素子16、抵抗分圧器17の抵抗等を一括し
たものである。
This example is an example of a DC high voltage partial discharge test circuit,
DC high voltage generator 1, protective resistor 2, smoothing capacitor 5
, high impedance element 16, voltage measurement resistor voltage divider 1
7, ammeter 18, capacitors 9 and 22, high impedance element 21, sample 25, balance section 28 including variable impedance element 20 and pulse transformers 23 and 24, high frequency cable 26 connected to this, and corona It is composed of a detector 27. In order to explain the operation of the example shown in FIG. 2, an example of its equivalent circuit is shown in FIG. This circuit consists of capacitors 9 and 22,
Power supply side impedance 41, sample free capacitance 29,
High resistance 30, stray capacitance 31 between points A and B in the same figure
, a variable resistor 32, a variable capacitance 33, pulse transformer primary windings 34 and 37, pulse transformer ferrite cores 35 and 38, pulse transformer secondary windings 36 and 39, impedance 40, and the like. Reference numeral 41 denotes a power supply side impedance, which collectively includes the internal impedance of the DC high voltage generator 1, the protective resistor 2, the smoothing capacitor 15, the high impedance element 16, the resistance of the resistive voltage divider 17, and the like.

高インピーダンス素子16としては、例えば、高抵抗体
を使用することにより、その値をコンデンサ19のイン
ピーダンスの絶縁値より少くとも2桁以上高くする。そ
の結果、電源側インピーダンス41の値は、コンデンサ
19のインピーダンスよりはるかに大きい。漂遊静電容
量31はA点とB点間の幾何学的形状で決まり、インピ
ーダンスの絶対値は高抵抗30より相当大きな値となる
が、平衡の精度を向上させるにはこの値を無視できない
。高抵抗30‘まコンデンサ19および22のインピー
ダンスの絶対値より少なくとも2桁以上高い値を有する
抵抗体である。この高抵抗3川まィンダクタンスに置き
換えてもよい。コンデンサ22の値は供試品の漂遊静電
容量29の値より相当大きいものとする。インピーダン
ス4川まパルストランス二次巻線36および39側から
みて測定器27側につき一括して表わした等価ィンピー
ダ0ンスである。また、パルストランス35および38
でそれぞれの一次側よりみたインピーダンスが等しい値
を持ち、コンデンサ19および22のそれぞれの静電容
量も等しい値を持つようにする。第3図の回路定数を上
記の条件に合わせることにより、同図の等価回路を流れ
る電流分布に対し電源インピーダンス41と供謎品漂遊
静電容量29の影響を無視できる。まず、第2図の回路
において「供試品以外で発生したコロナによるパルスや
低圧電源から直流高電圧発生器の径路で侵入した高周波
パルス等の外部ノイズが生じた場合、それらの電圧が印
加された個所は、A点より直流高電圧発生器側とみなせ
る。
As the high-impedance element 16, for example, a high-resistance material is used so that its value is at least two orders of magnitude higher than the impedance insulation value of the capacitor 19. As a result, the value of the power supply side impedance 41 is much larger than the impedance of the capacitor 19. Stray capacitance 31 is determined by the geometry between points A and B, and the absolute value of the impedance is considerably larger than the high resistance 30, but this value cannot be ignored in order to improve the accuracy of balance. The high resistance 30' is a resistor having a value that is at least two orders of magnitude higher than the absolute value of the impedance of the capacitors 19 and 22. It may be replaced with this high resistance three-way inductance. The value of capacitor 22 is assumed to be considerably larger than the value of stray capacitance 29 of the sample. 4 impedances are the equivalent impedances expressed collectively for the measuring device 27 side when viewed from the pulse transformer secondary windings 36 and 39 side. In addition, pulse transformers 35 and 38
The impedances viewed from the primary side of each capacitor 19 and 22 are set to have the same value, and the capacitances of the capacitors 19 and 22 are also set to have the same value. By adjusting the circuit constants in FIG. 3 to the above conditions, the influence of the power source impedance 41 and stray capacitance 29 on the current distribution flowing through the equivalent circuit in the same figure can be ignored. First, in the circuit shown in Figure 2, if external noise occurs such as a corona pulse generated by something other than the test product or a high-frequency pulse that enters the DC high-voltage generator path from a low-voltage power supply, those voltages will not be applied. The location can be considered to be closer to the DC high voltage generator than point A.

これらの電圧印加点のうちで検出端23および24‘こ
最大の応答を生ずるのは、A点とアースの間である。第
3図で、可変抵抗32と可変容量33の値を「それぞれ
高抵抗30と漂遊容量31の値に等しくすると、前記条
件により、コンデンサ19、可変抵抗32、可変容量3
3の合成インピーダンスは、コンデンサ22、高抵抗3
0、標遊静電容量31の合成インピーダンスに等しい。
従って、第3図でA点とアース間に生ずるパルスにより
、パルストランス一次巻線34と35のそれぞれの端子
間に発生する電位差は等しい。二次巻線36と39は、
一次巻線34と37のそれぞれの端子間電圧の差に比例
した電位差を生ずるように結線されているが、両端子間
電圧が等しいので、インピーダンス40の両端には信号
が現われない。次に、第2図の供試品25に部分放電を
生ずる場合の電流分布は、第3図のB点とアース間にパ
ルスを加えた場合に等しい。
Among these voltage application points, the one that produces the maximum response of the detection terminals 23 and 24' is between point A and ground. In FIG. 3, if the values of variable resistor 32 and variable capacitor 33 are equal to the values of high resistance 30 and stray capacitance 31, respectively, then capacitor 19, variable resistor 32, variable capacitor 3
The combined impedance of 3 is 22 capacitors and 3 high resistors.
0, equal to the combined impedance of the free capacitance 31.
Therefore, the potential differences generated between the respective terminals of the pulse transformer primary windings 34 and 35 are equal due to the pulse generated between point A and ground in FIG. The secondary windings 36 and 39 are
Although the primary windings 34 and 37 are connected to produce a potential difference proportional to the difference in voltage between their respective terminals, since the voltages between both terminals are equal, no signal appears at both ends of the impedance 40. Next, the current distribution when a partial discharge occurs in the sample 25 in FIG. 2 is the same as when a pulse is applied between point B and ground in FIG. 3.

このとき、コンデンサ22とパルストランス一次巻線3
7とで構成されたインピーダンスは、高抵抗30、標遊
静電容量31、コンデンサ19、可変抵抗32、可変客
量33、パルストランスの一次巻線34とで構成された
インピーダンスよりはるかに小さな値となる。従って、
一次巻線37の端子電圧は、一次巻線34の端子電圧よ
り非常に大きく、インピーダンス40の端子間に両電圧
の差に比例した大きさの電圧を発生させて、真のコロナ
パルスとして計測される。このように、外部ノイズに対
しては、電圧が低減されてパルストランスの出力電圧が
平衡作用により計測されない一方で、供試品に発生する
部分放電パルスに対しては、高インピーダンス素子を含
まない枝路に大部分の電流が流れて、真のコロナパルス
を良好な感度で測定できる。
At this time, the capacitor 22 and the pulse transformer primary winding 3
The impedance composed of 7 is much smaller than the impedance composed of high resistance 30, stray capacitance 31, capacitor 19, variable resistor 32, variable load 33, and primary winding 34 of the pulse transformer. becomes. Therefore,
The terminal voltage of the primary winding 37 is much higher than the terminal voltage of the primary winding 34, and a voltage proportional to the difference between the two voltages is generated between the terminals of the impedance 40, which is measured as a true corona pulse. Ru. In this way, when dealing with external noise, the voltage is reduced and the output voltage of the pulse transformer is not measured due to the balancing effect, while when dealing with partial discharge pulses that occur in the test product, high impedance elements are not included. Most of the current flows through the branches, allowing true corona pulses to be measured with good sensitivity.

第4図は、本発明の他の実施例を示すもので、コンデン
サブッシング41とタンク42とを有する供謎品に対す
る本発明の応用例である。
FIG. 4 shows another embodiment of the present invention, which is an example of application of the present invention to a mystery product having a capacitor bushing 41 and a tank 42.

同例では、コンデンサブッシング41の接地電位金属箔
に接続された端子43の付近に、二台のパルストランス
を内蔵するバランス部45が配置される。コンデンサ1
9に一端を接続されたバランス用可変インピーダンス素
子20の他端は、高周波ケーブル44を介してパルスト
ランスの一次巻線34に結線される。端子43はパルス
トランスの一次巻線37に接続される。第4図の例が第
2図の例と異なる点は、コンデンサブッシング41の中
心導体と接地電位金属箔との間の静電容量を、第2図の
コンデンサ22の機能を持つ素子として活用した点であ
る。
In the same example, a balance section 45 containing two pulse transformers is arranged near a terminal 43 connected to a ground potential metal foil of a capacitor bushing 41. capacitor 1
The other end of the balancing variable impedance element 20, which has one end connected to the terminal 9, is connected to the primary winding 34 of the pulse transformer via a high frequency cable 44. Terminal 43 is connected to the primary winding 37 of the pulse transformer. The difference between the example in FIG. 4 and the example in FIG. 2 is that the capacitance between the center conductor of the capacitor bushing 41 and the ground potential metal foil is utilized as an element having the function of the capacitor 22 in FIG. It is a point.

この実施例では、供試品以外に準備すべきコンデンサを
一合減らすことができる効果がある。第5図は、本発明
に使用する可変インピーダンス素子の他の実施例を示す
もので、第3図に示した可変インピーダンス素子と異な
る点は、可変ィンダクタンス素子46が追加された点で
ある。
This embodiment has the effect of reducing the number of capacitors to be prepared in addition to the sample. FIG. 5 shows another embodiment of the variable impedance element used in the present invention, which differs from the variable impedance element shown in FIG. 3 in that a variable inductance element 46 is added.

この実施例は、第2図の高インピーダンス素子としてィ
ソダクタンスを用いた場合に適用できる。なお、第2図
の実施例は、直流高電圧部分放電試験回路についてのも
のであるが、本発明を交流部分放電試験回路にも応用で
きることはいうまでもない。以上述べたように、本発明
によれば、供試品以外の部分で発生する外部ノイズを部
分放電試験回路内で平衡作用により消去するので、単独
のコロナ測定器で供試品の部分放電パルスのみを測定で
きる。
This embodiment can be applied to the case where an isoductance is used as the high impedance element shown in FIG. Although the embodiment shown in FIG. 2 concerns a DC high voltage partial discharge test circuit, it goes without saying that the present invention can also be applied to an AC partial discharge test circuit. As described above, according to the present invention, external noise generated in parts other than the sample is eliminated by the balancing action within the partial discharge test circuit, so that a single corona measuring device can detect the partial discharge pulse of the sample. can only be measured.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来の部分放電試験回路を示す回路図、第2図
は本発明の一実施例を示す回路図、第3図は第2図回路
の等価回路を示す回路図、第4図は本発明の他の実施例
を示す回路図、第5図は可変インピーダンス素子の他の
例を示す回路図である。 1・・・直流高電圧発生器、2・・・保護抵抗、15・
・・平滑コンデンサ、16,21・・・高インピーダン
ス素子、19,22・・・コンデンサ、2、0・・・可
変インピーダンス素子、23,24・・・パルストラン
ス、26…供試品、27・・・コロナ測定器、28・・
・バランス部、31・・・標遊容量、32・・・可変抵
抗、33・・・可変容量、34,37…一次巻線、35
,38..・フェライトコア、36,39・・・二次巻
線、40…インピーダンス、41…コンデンサブツシン
グ、42…タンク、45…バランス部、46…可変ィン
ダクタンス素子。 力′図 糸z図 糸J図 希ム図 苑J図
Fig. 1 is a circuit diagram showing a conventional partial discharge test circuit, Fig. 2 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention, Fig. 3 is a circuit diagram showing an equivalent circuit of the circuit in Fig. 2, and Fig. 4 is a circuit diagram showing an example of the present invention. FIG. 5 is a circuit diagram showing another example of the variable impedance element. 1... DC high voltage generator, 2... Protection resistor, 15.
... Smoothing capacitor, 16, 21 ... High impedance element, 19, 22 ... Capacitor, 2, 0 ... Variable impedance element, 23, 24 ... Pulse transformer, 26 ... Sample, 27. ...Corona measuring device, 28...
- Balance part, 31... Stray capacitance, 32... Variable resistance, 33... Variable capacitance, 34, 37... Primary winding, 35
, 38. .. - Ferrite core, 36, 39... Secondary winding, 40... Impedance, 41... Capacitor bushing, 42... Tank, 45... Balance section, 46... Variable inductance element. Power 'Z diagram Thread J diagram Kimu Zuen J diagram

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 高インピーダンスの電源から高抵抗を介して供試品
に高電圧を印加し測定する部分放電試験回路において、
前記高抵抗の抵抗値に設定可能な可変抵抗器と前記高抵
抗の漂遊容量値に設定可能な可変容量とで構成される並
列回路を、第1コンデンサに接続して第1パルストラン
スの一次巻線を介して前記高インピーダンス電源に並列
に配置し、第1コンデンサと同容量の第2コンデンサと
第2パルストランスの一次巻線の直列回路を前記供試品
と並列に接続し、前記第1及び第2のパルストランスの
二次巻線の一端を結合しその他端からパルスを取り出し
コロナ測定器に入力し計測することを特徴とする平衡式
部分放電試験回路。
1. In a partial discharge test circuit that applies and measures a high voltage from a high impedance power supply to the specimen through a high resistance,
A parallel circuit consisting of a variable resistor that can be set to a resistance value of the high resistance and a variable capacitor that can be set to a stray capacitance value of the high resistance is connected to a first capacitor to connect the primary winding of a first pulse transformer. A series circuit of a second capacitor having the same capacity as the first capacitor and a primary winding of a second pulse transformer is connected in parallel to the sample under test, and and a balanced partial discharge test circuit, characterized in that one end of a secondary winding of a second pulse transformer is connected, and a pulse is taken out from the other end and input to a corona measuring device for measurement.
JP14340778A 1978-11-22 1978-11-22 Balanced partial discharge test circuit Expired JPS6013471B2 (en)

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