JPS6016291B2

JPS6016291B2 - 圧下率測定装置

Info

Publication number: JPS6016291B2
Application number: JP51144915A
Authority: JP
Inventors: 清佐藤
Original assignee: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1976-12-02
Filing date: 1976-12-02
Publication date: 1985-04-24
Also published as: JPS5369656A

Description

【発明の詳細な説明】この発明は圧延ラインにおける圧下率（又は延び率）を
測定する装置に関する。

従来は第１図に示すように、圧延ラインの入側及び出側
に設けられたパルス発生器１及び２からのパルス出力を
波形整形回路３及び４で整形し、この出力をフリップフ
ロップ等で構成された分周回路５及び６で適当な周波数
に分周する。

しかして、分周されたパルス周波数を手動の切換スイッ
チ７及び８で切換えて選択し、このパルス周波数信号を
ゲート信号ＧＳによって制御されるゲート回路９及び１
０を経てカウンタに伝送するようにしている。したがっ
て、製品の速度に対応してその都度切換スイッチ７及び
８の切換えを手動で行なわなければならず、極めて非能
率的である。よつて、この発明の目的は上述の如き欠点
のない圧下率測定装置を提供することにある。以下、こ
の発明に係る圧下率測定装置の測定原理を説明した後、
添付図面を参照して一実施例について説明する。

先ず、製品（以下ストリップとも言う）の速度を検出す
るために圧延機の前後に検知ロールを設け、これらの検
知ロールにパルス発生器を直結したものとする。

今、圧延によって幅方向には延びず、また、検知ロール
およびストリップ間にスリップがないものとする。ここ
で、ストリップの入側の断面積をｓ，（れ）、出側の断
面積をｓ２（れ）とすると圧下率ばは次式で表わされる
。

Ｑ＝里二聖ｘｌｏｏ（％）・・・・・・
｛１）Ｓ，また、一定の時間内にストリップが入側で移
動した長さを夕，（ｍ）、出側で移動した長さをそ２（
肌）とすると、圧延の前後で体積の変化はないので次式
が成立する。

〆，Ｓ．＝〆２ｓ２ ……■
したがって‘１｝式は次のようになる。

Ｑ＝Ｓ，一Ｓ．（夕．／〆２）ＸＩ。

〇＝Ｓ，そ２−夕．ＸＩ。

〇 ……（３１また、入側検知ロー
ルの直径をｄ，（肌）、出側検知ロールの直径をｄ２（
仇）、パルス発生器１回転のパルス発生数をｎ（ｐｐｒ
）とする。ここで、ストリップがそ，および夕２移動し
たときのパルス発生数をＬおよびｆ２とするとに鰐，ｆ
２＝鰐．・・．・・‘４｝となり、これをそ，
および夕２について解き制式に代入すると、となる。

そこで、ら手＝ｋ個の／サレスを教える間にｆ１＝ｋ−
８になったとすると、Ｑ＝ｋ−生−８）ＸＩ。

〇＝鳥側ｏ ‐‐‐‐‐‐｛６｝が成立する
。

したがって、出側のパルス発生器のパルス発生数ｆ２が
１００００であるとき、入側のパルス発生器のパルス発
生数ｆ，は１００００−８と表わせば、Ｑニ１００００
‐（１００００‐８）ＸＩ。

〇１０００○＝ｏ．ｏ１８（％）・・・・・・‘７’ すなわち、ｆ２を計数する加算カウンタと、１００００
からｆ，を減算するカウンタを用い、前者が１００００
カウントに達したとき両カウンタを停止すれば、後者の
カウン外こよって圧下率Ｑが直接求められる。

この発明では第２図に示すように、圧延ロ−ル１１の入
側及び出側における製品の移動速度を検知するロール１
２及び１３にパルス発生器１４及び１５を配設し、検知
ロール１２及び１３の回転に比例した数の電気的パルス
を発生させる。

しかして、出力パルス数と圧下率Ｑとの間にはＱ＝ｋ−
宅−８）Ｘ・ｏｏ＝舎Ｘ１００ ……■なる関係があ
り、よって出側のパルス発生器１５からの出力パルス数
を計数するカウンタ１７の計数値がＫとなった時に、入
側のパルス発生器１４からの出力パルス数を予め設定さ
れたＫの値から減算するカウンタ１６の計数を停止させ
れば、カウンタ１６の計数値３を表示する表示器１９は
製品の圧下率を示すことになる。

なお、制御回路１８は出側のカウンタからの計数信号に
よってカワンタ１６及び１７をクリヤすると共に、カウ
ンタ１６及び１７を同時に計数開始させるものである。
ところで、上述の圧下率測定装置はカゥンタの計数値が
Ｋになるまでの測定長さ当りの平均圧下率を求めるもの
で、製品の速度が遅い場合はなるべく短時間で圧下率を
求める必要がある。

また、測定長さは速度が速くなるに従い長くする方が測
定圧下率としてはバラッキが小さくなり、速度が速くな
れば測定長さを長くしても短かし、測定時間で圧下率を
求めることができる。このような場合、速度によって測
定長さを切換えるには入側及び出側のパルス発生器とカ
ウンタとの間に第３図Ａ，Ｂに示すような装置を設ける
。

すなわち、パルス発生器２１及び２２のパルス出力を波
形整形する波形整形回路２３及び２４と、これら波形整
形回路２３及び２４からのパルス出力を分周する分周回
路２５及び２６と、これら分周回路２５及び２６からの
分周出力を制御信号ｌａ〜ｌｄ及び２ａ〜２ｄで選択制
御する選択回路２７及び２８と、選択回路２７及び２８
からの出力パルスをゲート回路２９及び３０を経て計数
するカウンタ３１及び３２と、ゲート回路２９及び３０
のオンオフを制御する制御回路３３と、パルス発生器３
４からのパルスを波形整形回路３５を経て計数して速度
を検知する速度カウンタ３６と、この速度カウンタ３６
の出力及び速度設定値に対応して選択回路２７及び２８
に制御信号ｌａ〜ｌｄ，２ａ〜２ｄを伝送する速度比較
回路３７とで構成されている。ここで、波形整形回路２
３，２４および３６はパルス発生器２１，２２からそれ
ぞれ分周回路２５，２６までの距離、および、パルス発
生器３４から速度カウンタ３６までの距離が長いとき、
信号線と大地間の浮遊容量等により信号波形が歪んで方
形でなくなることから、この歪波形を方形波に整形する
ためのもので、さらに、この整形によって外来ノイズの
混入を防止しており、例えばシュミットトリガ回路が用
いられる。

また、分周回路２５，２６６は上記｛４１式ｆ，＝器，
ｆ２＝鰐で示されるｎ（肌縦聡皿転のパルス数）を変え
ることと等価にするためのもので、ストリップの単位長
さ当りのパルス数を変えている。

なお、パルス発生器３４は上述したパルス発生器１４，
１５と同様に製品の速度を検知するロールに取付けられ
ており、製品の速度によって出力パルス数が増減する（
第４図Ａ，Ｂ参照）。この世力パルスは波形整形回路３
５を経て速度カウンタ３６に入力され、別途ゲート制御
により単位時間毎に計数とＩＪセット動作を繰返す（第
４図Ｃ，○参照）。したがって、製品の速度に応じて計
数値が変化することになり、この計数値から製品の速度
を検知することができる。しかして、速度カウンタ３６
の計数値は速度比較回路３７に入力され、別途入力され
ている速度設定値と比較される。この比較結果から第４
図Ｇで示すような選択回路２７，２８の分周出力を切換
える制御信号ｌａ〜ｌｄ，２ａ〜２ｄを出力する。かく
して、制御信号ｌａ〜ｌｄ，２ａ〜２ｄで選択された分
周回路２５，２６からの出力パルスは、制御回路３３で
制御されるゲート回路２９，３０を経てカウンタ３１，
３２に入力される。以上のようにこの発明によれば、速
度に対応したパルス周波数を自動的に切換えることがで
き、極めて効率的である。

なお、上述の実施例では速度の比較としてパルス数を計
数するようにしているが、速度カウンタの代りに積分回
路を用いるようにしても良く、また分周切換えの数も任
意で良い。

【図面の簡単な説明】第１図は従釆の圧下率測定装置の一例を示すブロック図
、第２図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第３
図Ａ，Ｂは他の実施例を示すブロック図、第４図はその
動作例を示すタイムチャートである。１，２・・・パルス発生器、３，４…波形整形回路、５
，６・・・分周回路、７，８・・・切換スイッチ、９，
１０…ゲート回路、１１・・・圧延ロール、１２，１３
，２１，２２・・・パルス発生器、１６，１７・・・カ
ウソ夕、１８・・・制御回路。第１図第２図第３図第４図

Claims

【特許請求の範囲】

１圧延機前後の製品速度を検知する検知ロールにそれ
ぞれ連結されたパルス発生器からの出力パルスをカウン
タで計数し、各カウンタのいずれか一方が所定の設定値
になつた時に他のカウンタの計数値から前記製品の圧下
率又は延び率を求める装置において、前記パルス発生器
とカウンタとの間に設けられた分周比の可変な分周回路
と、圧延以前の製品速度を検出する速度カウンタと、圧
延以前の製品速度を設定する設定器と、速度設定信号と
速度カウンタの出力とから分周回路の分周比を制御する
装置とを具えたことを特徴とする圧下率測定装置。