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JPS6022771B2 - Diagnosis method for data error detection and correction circuit - Google Patents
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JPS6022771B2 - Diagnosis method for data error detection and correction circuit - Google Patents

Diagnosis method for data error detection and correction circuit

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Publication number
JPS6022771B2
JPS6022771B2 JP53157948A JP15794878A JPS6022771B2 JP S6022771 B2 JPS6022771 B2 JP S6022771B2 JP 53157948 A JP53157948 A JP 53157948A JP 15794878 A JP15794878 A JP 15794878A JP S6022771 B2 JPS6022771 B2 JP S6022771B2
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Japan
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data
check bit
circuit
error detection
memory
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孝 平岡
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Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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  • Detection And Correction Of Errors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、読出しデータおよびデータ誤り検出手段に
対する診断を容易、正確かつ速やかに行ない得るように
したデータ誤り検出訂正回路の診断方式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a diagnostic method for a data error detection and correction circuit that enables easy, accurate and quick diagnosis of read data and data error detection means.

ハミングコードを利用して、デけ夕の誤りの検出、訂正
を行なう方式はよく知られているが、その代表的な一例
を第1図に示す。
A system for detecting and correcting errors in data using Hamming codes is well known, and a typical example thereof is shown in FIG.

この第1図において、1はデータ処理装置(CPU、チ
ャンネルなど)であり、2はメモリを示す。このメモリ
2にデータを書き込む場合、データ処理装置1から転送
されたデータはデータライン3を通し書込みデM夕レジ
スタ4に蓄えられる。この書込みデータレジスタ4に蓄
えられた書込みデータはデータライン5を通してメモリ
2およびチェックビット発生回路6に転送されるように
なっている。チェックビット発生回路6は書込みデータ
レジスタ4からの書込みデータをデータライン6を通し
て受けると、チェックビット(いわゆるハミングビット
)を発生し、このチェックビットはデータライン7を通
してメモリ2に、書込みデータとともに転送される。こ
のようにして、メモリ2には書込みデータとチェックビ
ットが書き込まれることになる。一方、メモIJ‘こ書
き込まれたデータを読み出す場合には、データライン8
を通して議出しデータがデータ誤り検出回路9およびデ
ータ訂正回路1に転送されるようになっている。
In FIG. 1, 1 is a data processing device (CPU, channel, etc.), and 2 is a memory. When writing data to this memory 2, the data transferred from the data processing device 1 is stored in the write data register 4 through the data line 3. The write data stored in the write data register 4 is transferred to the memory 2 and the check bit generation circuit 6 through the data line 5. When the check bit generation circuit 6 receives the write data from the write data register 4 through the data line 6, it generates a check bit (so-called Hamming bit), and this check bit is transferred to the memory 2 through the data line 7 together with the write data. Ru. In this way, write data and check bits are written into the memory 2. On the other hand, when reading the data written in the memo IJ', the data line 8
The output data is transferred to the data error detection circuit 9 and the data correction circuit 1 through the data error detection circuit 9 and the data correction circuit 1.

また、データ誤り検出回路9にはデータライン11を通
してチェックビットがメモリ2から転送されるようにな
つ夕ている。したがって、メモリ2から読み出された議
出しデータがデータライン8を通してデータ誤り検出回
路9に転送されると同時に、データラィン11を通して
チェックビットもこのデータ誤り検出回路9に転送され
る。これにより、データ誤り検出回路9は議出しデータ
とチェックビットの誤りの有無を検出する。このデータ
誤り検出回路9の検出の結果、誤りがなければ、データ
訂正回路10は何もせず、メモリ2から読出しデータは
データライン12を適してデータ処理装置1に転送され
る。
Also, check bits are transferred from the memory 2 to the data error detection circuit 9 through the data line 11. Therefore, at the same time that the input data read from the memory 2 is transferred to the data error detection circuit 9 through the data line 8, the check bit is also transferred to the data error detection circuit 9 through the data line 11. Thereby, the data error detection circuit 9 detects whether there is an error in the input data or the check bit. If there is no error as a result of the detection by the data error detection circuit 9, the data correction circuit 10 does nothing, and the data read from the memory 2 is transferred to the data processing device 1 via the data line 12.

また、データ誤り検出回路9が読出しデータに誤りがあ
ることを検出すると、データ誤り検出回路9からデータ
ライン13を通して誤り発生信号をデータ訂正回路10
に転送するとともに、データライン14を通しデータ誤
り検出回路9から誤りビットアドレス信号をデータ訂正
回路101こ転送する。これにより、データ訂正回路1
0はこれらの誤り発生信号および誤りビットアドレスに
基づき講出しデータを訂正する。そして、訂正した議出
しデータをデ−タライン12を通してデータ処理装置1
に転送する。このようにして、データの誤りの検出およ
び訂正を行なうわけであるが、このような従来の方式で
は、通常の使用には問題はない反面、メモリ2もしくは
データ誤り検出回路・、データ訂正回路10自身に診断
を行なおうとするときには、次の{1}項ないし‘4’
項にて列挙するごとき不都合である。
Further, when the data error detection circuit 9 detects that there is an error in the read data, the data error detection circuit 9 sends an error occurrence signal to the data correction circuit 10 through the data line 13.
At the same time, the error bit address signal is transferred from the data error detection circuit 9 to the data correction circuit 101 through the data line 14. As a result, data correction circuit 1
0 corrects the offer data based on these error occurrence signals and error bit addresses. Then, the corrected proposal data is sent to the data processing device 1 through the data line 12.
Transfer to. In this way, data errors are detected and corrected, and while this conventional method poses no problem in normal use, it When trying to diagnose yourself, use the following {1} to '4'
There are inconveniences as listed in section.

{1) チェックビットはデータ処理装置から送られて
くるデータの内容からある観測に基づいて発生されるも
のであり、したがって、チェックビットの内容を任意に
設定することは困難もしくは不可能であるため、メモリ
の領域おうち、チェックビットを記憶する部分に対する
診断は不完全なものにならざるを得ない。
{1) Check bits are generated based on certain observations from the contents of data sent from a data processing device, and therefore it is difficult or impossible to arbitrarily set the contents of check bits. , the diagnosis of the memory area where the check bits are stored is bound to be incomplete.

■ データ誤り検出回路9では、訂正不能な誤りを訂正
可能な誤りとして訂正してしまう可能性があり、その場
合、元のデータ(書込みデー夕)との比較が困難になっ
てしまう。
(2) The data error detection circuit 9 may correct an uncorrectable error as a correctable error, and in that case, comparison with the original data (written data) becomes difficult.

‘3’誤りの発生した場合、それがメモリ2の不具合に
よるものか、もしくはデータ誤り検出回路9、データ訂
正回路10の不具合によるものであるかの判定が困難で
ある。
When a '3' error occurs, it is difficult to determine whether it is due to a malfunction in the memory 2 or a malfunction in the data error detection circuit 9 or data correction circuit 10.

{4} データ誤り検出回路9、データ訂正回路10の
不具合である場合、チェックビット発生回路6の不具合
か、データ誤り検出回路9の不具合かの判定が困難であ
る。
{4} If the problem is in the data error detection circuit 9 or the data correction circuit 10, it is difficult to determine whether the problem is in the check bit generation circuit 6 or the data error detection circuit 9.

この発明は、上記従来の欠点を解消するためになされた
もので、チェックビット発生回路、データ誤り検出回路
、データ訂正回路、メモリの4部分を互いに別個に検査
でき、不具合個所の発見が容易かつ正確に行なえるとと
もに、各回路の総合的な診断も容易に行なえるデータ誤
り検出訂正回路の診断方式を提供することを目的とする
This invention was made to eliminate the above-mentioned drawbacks of the conventional technology, and the four parts of the check bit generation circuit, data error detection circuit, data correction circuit, and memory can be tested separately from each other, making it easy to find faulty parts. It is an object of the present invention to provide a diagnostic method for data error detection and correction circuits that allows accurate diagnosis and easy comprehensive diagnosis of each circuit.

以下、この発明のデータ誤り検出訂正回路の診断方式の
実施例について図面に基づき説明する。第2図はその一
実施例の構成を示すブロック図である。この第2図にお
いて、第1図と同一部分には同一符号を付して述べるこ
とにする。データ処理装置1(CPU、チャンネルなど
)からメモリ2へ書込みデータを転送する場合に、まず
、データ処理装置1からデータライン3を通して書込み
データレジスタ4に書込みデータを蓄えるようになって
いる。この書込みデータレジスタ4に蓄えられた書込み
データはデータライン5を通してチェックビット発生回
路6、メモリ2に転送されるようになつている。また、
データ処理装置1からデ−タラィン15を通してチェッ
クビットがチェックビットレジスター6に転送し、そこ
でチェックビットが一時的に蓄えられるようになってい
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a diagnostic method for a data error detection and correction circuit according to the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of one embodiment. In FIG. 2, the same parts as in FIG. 1 will be described with the same reference numerals. When transferring write data from the data processing device 1 (CPU, channel, etc.) to the memory 2, the write data is first stored in the write data register 4 from the data processing device 1 through the data line 3. The write data stored in the write data register 4 is transferred to the check bit generation circuit 6 and the memory 2 through the data line 5. Also,
Check bits are transferred from data processing device 1 through data line 15 to check bit register 6, where they are temporarily stored.

チェックビット発生回路6から発生されたチェックビッ
トはデ−タラィン17を通してチェックビット選択回路
18に転送されるようになっている。また、転送レジス
ター6で畜られたチヱツクビツトはデータライン19を
通してチェックビット選択回路12に転送するようにな
っている。このチェックビット選択回路12はチェック
ビット発生回路6からのチエツクビツトと、チェックビ
ットレジスタ16からのチェックビットとのいずれかを
選択して、メモリ2に送り出す作用をなすものである。
一方、メモリ2からのデータを読み出す場合には、メモ
リ2からの議出しデータがデータライン8を通してデー
タ誤り検出回路9およびデータ訂正回路10に転送され
るようになっている。また、メモリ2からチェックビッ
トがデ−タライン20を通してデータ誤り検出回路9お
よびデータ処理装置1に転送するように構成されている
。データ誤り検出回路9はメモリ2から読み出された議
出しデータおよびチェックビットに誤りがあるか否かを
チェックするためのものであり、そのチェックの結果、
誤りがある場合にはデータライン13を通して誤り発生
信号をデータ訂正回路10に転送するように構成されて
いるとともに、データライン14を通して、誤りビット
アドレスをデータ訂正回路10に送するように構成され
ている。データ訂正回路10の出力端はデータライン1
2を通してデータ処理装置1に接続されており、このデ
ータライン12を介して、誤りのない場合にはそのまま
メモリ2から読み出された議出しデータをデータ処理装
置1に転送し、誤りのある場合には誤りを訂正した議出
しデータをこのデータ処理装置1に転送するようになっ
ている。
The check bits generated from check bit generation circuit 6 are transferred to check bit selection circuit 18 through data line 17. Further, the check bit stored in the transfer register 6 is transferred to the check bit selection circuit 12 through the data line 19. The check bit selection circuit 12 has the function of selecting either the check bit from the check bit generation circuit 6 or the check bit from the check bit register 16 and sending it to the memory 2.
On the other hand, when reading data from the memory 2, the output data from the memory 2 is transferred to a data error detection circuit 9 and a data correction circuit 10 through a data line 8. Further, the check bit is transferred from the memory 2 to the data error detection circuit 9 and the data processing device 1 through the data line 20. The data error detection circuit 9 is for checking whether there is an error in the input data and check bit read from the memory 2, and as a result of the check,
If there is an error, it is configured to transfer an error occurrence signal to the data correction circuit 10 through the data line 13, and is configured to send an error bit address to the data correction circuit 10 through the data line 14. There is. The output terminal of the data correction circuit 10 is the data line 1
2, and via this data line 12, if there is no error, the data read out from the memory 2 is transferred to the data processing device 1 as is, and if there is an error, it is transferred to the data processing device 1. Error-corrected proposal data is then transferred to this data processing device 1.

一方、21は診断モード信号線を示し、この診断モード
信号線21はデータ処理装置1とデータ誤り検出回路9
およびチェックビット選択回路12に接続されている。
診断モード信号線21はイナクティブ(不活性)のとき
は通常モードとなり、アクティブ(活性)のときは診断
モードとなる2種類のモードのいずれかの状態となるも
のである。次に、以上のように構成されたこの発明のデ
−夕誤り検出訂正回路の診断方式の動作について説明す
る。
On the other hand, 21 indicates a diagnostic mode signal line, and this diagnostic mode signal line 21 connects the data processing device 1 and the data error detection circuit 9.
and the check bit selection circuit 12.
When the diagnostic mode signal line 21 is inactive, it is in a normal mode, and when it is active, it is in a diagnostic mode. Next, the operation of the diagnostic system for the data error detection and correction circuit of the present invention constructed as described above will be explained.

データ処理装置1からの書込みデータはデータライン3
を通して、書込みデータレジスタ4に一時的に蓄えられ
る。この書込みデータレジスタ4に蓄えられた書込みデ
ータはデータライン5を通して、チェックビット発生回
路6およびメモリ2に転送される。チェックビット発生
回路6に書込みデータが転送されることにより、チェッ
クビット発生回路6からハミングコード法によるチェッ
クビットが発生され、このチェックビットはデータライ
ン17を通してチェックビット選択回路18に転送され
る。また、これと同時に、データ処理装置1からデータ
ライン15を通してチェックビットレジスタ16にチェ
ックビットが転送され、このチェックビットはチェック
ビットレジスタ16にて一時的に蓄えられる。
The write data from data processing device 1 is data line 3
The data is temporarily stored in the write data register 4 through the write data register 4. The write data stored in the write data register 4 is transferred to the check bit generation circuit 6 and the memory 2 through the data line 5. When the write data is transferred to the check bit generation circuit 6, a check bit is generated by the Hamming code method from the check bit generation circuit 6, and this check bit is transferred to the check bit selection circuit 18 through the data line 17. At the same time, a check bit is transferred from the data processing device 1 to the check bit register 16 through the data line 15, and this check bit is temporarily stored in the check bit register 16.

チェックビットレジスタ16に蓄えられたチェックビッ
トはデータライン19を通してチェックビット選択回路
18に転送される。チェックビット選択回路18はチェ
ックビット発生回路6からのチェックビットと、チェッ
クピツトレジスタ16を通して、データ処理装置1から
転送されるチェックビットとのいずれか一方を選択する
わけであるが、いま、診断モード信号線21がィナクテ
ィプ、すなわち、通常モードであるとすると、チェック
ビット選択回路18はチェックビット発生回路6からの
チェックビットを選択する。このチェックビットはメモ
リ2に転送する。すなわち、チェックビットとともに、
メモリ2に書込みデータが書き込まれる。一方、診断モ
ード信号線21がアクティブ、すなわち、診断モードの
場合には、チヱツクビツト選択回路18はデータ処理装
置1からチェックビットレジスタ16を介して転送され
てくるチェックビットを選択し、このチェックビットを
メモリ2に転送する。
The check bits stored in check bit register 16 are transferred to check bit selection circuit 18 through data line 19. The check bit selection circuit 18 selects either the check bit from the check bit generation circuit 6 or the check bit transferred from the data processing device 1 through the check pit register 16. Assuming that the mode signal line 21 is inactive, that is, in the normal mode, the check bit selection circuit 18 selects the check bit from the check bit generation circuit 6. This check bit is transferred to memory 2. That is, along with the check bit,
Write data is written to memory 2. On the other hand, when the diagnostic mode signal line 21 is active, that is, in the diagnostic mode, the check bit selection circuit 18 selects the check bit transferred from the data processing device 1 via the check bit register 16, and selects this check bit. Transfer to memory 2.

したがって、診断モードの場合には、メモリ2は書込み
データと、データ処理装置1からのチェックビットとを
書き込むことになる。次に、上述のようにメモリ2に書
き込まれたデータを読み出す場合について述べる。
Therefore, in the case of the diagnostic mode, the memory 2 will be written with write data and check bits from the data processing device 1. Next, a case will be described in which data written in the memory 2 as described above is read out.

まず、診断モード信号線21が通常モードの場合から述
べる。この場合は、データ誤り検出回路9にデータライ
ン20を通して、メモリ2から、チェックビット発生回
路6で発生し、それを書き込んでいたチェックビットが
転送される。このチェックビットはデータ処理装置1に
も転送される。このデータ誤り検出回路9およびデータ
訂正回路101こはデータライン8を通してメモリ2か
ら読み出された講出しデータが送られる。データ誤り検
出回路9はこの読出しデータおよびチェックビットに誤
りがあるか否かを検出し、その検出の結果、誤りがなけ
れば、データはデータ訂正回路10から何ら訂正するこ
となく、データライン12を通してデータ処理装置1に
転送される。
First, the case where the diagnostic mode signal line 21 is in the normal mode will be described. In this case, the check bit generated and written in the check bit generation circuit 6 is transferred from the memory 2 to the data error detection circuit 9 through the data line 20. This check bit is also transferred to the data processing device 1. The data read out from the memory 2 is sent to the data error detection circuit 9 and the data correction circuit 101 through the data line 8. The data error detection circuit 9 detects whether or not there is an error in the read data and the check bit. If there is no error as a result of the detection, the data is passed through the data line 12 without any correction from the data correction circuit 10. The data is transferred to the data processing device 1.

また、データ誤り検出回路9が誤りを検出すると、デー
タ誤り検出回路9からデータライン13を通して誤り発
生信号をデータ訂正回路10に転送するとともに、デー
タライン14を通して誤りビットアドレスをデータ訂正
回路1川こ転送する。これにより、データ訂正回路10
‘まこれらの誤り発生信号および謀りアドレスに基づき
所定の訂正を行ない訂正した論出しデータをデータライ
ン12を通してデータ処理装置1に転送する。一方、診
断モード信号線21が診断モードになつているときには
、データ誤り検出回路9は一切の誤りの検出を行なわな
い。したがって、データ訂正回路1川ま読出しデータの
誤りの有無に関係なく、メモリ2からの議出しデータを
データライン12を通してそのままデータ処理装置1に
転送する。この発明はこのように診断機能を有すること
から、次の(i)項からGのに記載するごとき、診断が
可能となるものである。(i)メモリ2への書込みも議
出しも診断モードで行なう。
When the data error detection circuit 9 detects an error, the data error detection circuit 9 transfers an error occurrence signal to the data correction circuit 10 through the data line 13, and also transmits the error bit address to the data correction circuit 10 through the data line 14. Forward. As a result, the data correction circuit 10
Then, predetermined corrections are made based on these error occurrence signals and the erroneous address, and the corrected logical output data is transferred to the data processing device 1 through the data line 12. On the other hand, when the diagnostic mode signal line 21 is in the diagnostic mode, the data error detection circuit 9 does not detect any errors. Therefore, the data correcting circuit 1 directly transfers the read data from the memory 2 to the data processing device 1 through the data line 12, regardless of whether there is an error in the read data. Since the present invention has a diagnostic function as described above, diagnosis as described in the following sections (i) to G is possible. (i) Writing to the memory 2 and making a proposal are performed in the diagnostic mode.

この場合は、チェックビットを含めてデータ処理装置1
で用意した(すなわち、プログラムで用意した)データ
をそのままメモリ2に書き込み、メモリ2から読み出し
たデータをそのままデータ処理装置1に送り出すことに
なるので、メモリ2だけのチェックができる。血 書込
みは診断モードで、議出しは通常モードで行なう。‘ィ
)正しいデータとそれに対応する正しいチェックビット
をデータ処理装置1側で用意し、診断モードで書き込む
。これを通常モードで読み出し、データ誤り検出回路9
が誤りなしと判断するかどうかを検査する。{ロー 対
応の誤ったデータとチェックビットを用意し、診断モー
ドで書き込む。
In this case, the data processing device 1 including the check bit
Since the data prepared in (that is, prepared by the program) is written as is into the memory 2, and the data read from the memory 2 is sent as is to the data processing device 1, only the memory 2 can be checked. Blood Writing is done in diagnostic mode, and discussion is done in normal mode. B) Prepare correct data and the corresponding correct check bits on the data processing device 1 side, and write them in diagnostic mode. This is read in normal mode and the data error detection circuit 9
Check whether it is determined that there is no error. {Low Prepare the corresponding incorrect data and check bits and write in diagnostic mode.

これを通常のモードで読み出し、データ誤り検出回路9
が誤りを検出するかどうか、かつデータ訂正回路10が
正しくデータを訂正するかどうかをチェックする。血
書込みは通常モードで、謙出し‘ま診断モードで行なう
This is read in the normal mode and the data error detection circuit 9
It is checked whether the data correction circuit 10 detects an error and whether the data correction circuit 10 correctly corrects the data. blood
Writing is done in normal mode and in diagnostic mode.

この場合、データにしたがってチェックビット発生回路
6が正しくチェックビットを発生させるかどうかをチェ
ックできる。OW 書込みも、講出しも通常モードで行
なう。
In this case, it can be checked whether the check bit generation circuit 6 correctly generates check bits according to the data. OW Both writing and posting are performed in normal mode.

この場合は、データ誤り検出回路9、データ訂正検出回
路10の全てが有効となり、総合的な診断ができる。な
お、上記実施例の説明では、ハミングコートを用いたデ
ータ誤り検出回路9、データ訂正回路10について述べ
たが、この発明はこれに限定されるものではなく、単純
なパリティチェック回路にも応用できるものである。
In this case, the data error detection circuit 9 and the data correction detection circuit 10 are all effective, allowing comprehensive diagnosis. In the above embodiment, the data error detection circuit 9 and the data correction circuit 10 using Hamming codes have been described, but the present invention is not limited thereto and can also be applied to a simple parity check circuit. It is something.

以上詳述したように、この発明のデータ誤り検出訂正回
路の診断方式によれば、書込みデータからチェックビッ
ト発生回路により発生したチェックビットと所定の手段
からのチェックビットのいずれかを診断モードと通常モ
ードに応じて選択するとともに、この診断モード時に講
出しデータの一切の誤りの有無を検出せず、かつ通常モ
ード時にはチェックビットと議出しデータの誤りの有無
を検出手段で検出し、誤りのない場合には読出しデータ
をそのまま所定の手段に転送し、誤りが検出されたとき
には訂正手段で誤りを訂正して所定の手段に転送するよ
うにしたので、チェックビット発生手段、誤り検出手段
、訂正手段、メモリの4部分を互いに別個に検査できる
。これにともない、不具合個所の発見が容易かつ正確に
しかも迅速に行なうことができるとともに、各手段の総
合的診断も容易に行なえる利点を有するものである。
As described in detail above, according to the diagnostic method of the data error detection and correction circuit of the present invention, either the check bit generated by the check bit generation circuit or the check bit from the predetermined means from the write data is set to the diagnostic mode or normal mode. In addition to selecting the mode according to the mode, in this diagnostic mode, the presence or absence of any errors in the offer data is not detected, and in the normal mode, the detection means detects the presence or absence of errors in the check bit and offer data, so that there is no error. In this case, the read data is transferred as is to the predetermined means, and when an error is detected, the error is corrected by the correction means and then transferred to the predetermined means. , the four parts of memory can be tested separately from each other. Along with this, there is an advantage that the trouble spot can be easily, accurately and quickly discovered, and comprehensive diagnosis of each means can be easily performed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来のデータ誤り検出、訂正方式のブ。 ック図、第2図はこの発明のデータ誤り検出訂正回路の
診断方式の一実施例をを示すブロック図である。1・・
・データ処理装置、2・・・メモリ、4・・・書込みデ
ータレジスタ、6…チェックビット発生回路、9…デー
タ誤り検出回路、10…データ訂正回路、16…チェッ
クビットレジスタ、18…チェックビット選択回路、2
1・・・診断モード信号線。 第1図第2図
Figure 1 shows a diagram of a conventional data error detection and correction method. FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of a diagnostic method for a data error detection and correction circuit according to the present invention. 1...
・Data processing device, 2...Memory, 4...Write data register, 6...Check bit generation circuit, 9...Data error detection circuit, 10...Data correction circuit, 16...Check bit register, 18...Check bit selection circuit, 2
1...Diagnostic mode signal line. Figure 1 Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 書込みデータを保持するデータレジスタと、チエツ
クビツトを保持するチエツクビツトレジスタと、上記デ
ータレジスタからの上記書込みデータを受信しそのチエ
ツクビツトを発生するチエツクビツト発生回路と、この
チエツクビツト発生回路からのチエツクビツト又は上記
チエツクビツトレジスタからのチエツクビツトのいずれ
かを選択する選択回路と、上記データレジスタからの上
記書込みデータと上記選択回路からの対応する上記チエ
ツクビツトを同時にメモリへ書込む手段と、上記メモリ
から読出した読出しデータおよびチエツクビツトにより
データの誤りを検出するデータ誤り検出回路と、上記メ
モリからの読出しデータに対し上記データ誤り検出回路
からの訂り訂正情報によりデータ訂正を行なうデータ訂
正回路と、上記選択回路、上記データ誤り検出回路を同
時に又は別々に診断モードに設定せしめ、上記チエツク
ビツト発生回路、メモリ、データ誤り検出回路、および
データ訂正回路を診断する手段とを有するデータ誤り検
出訂正回路の診断方式。
1. A data register that holds write data, a check bit register that holds check bits, a check bit generation circuit that receives the write data from the data register and generates the check bit, and a check bit from the check bit generation circuit or the check bit that generates the check bit. a selection circuit for selecting one of the check bits from the bit register; means for simultaneously writing the write data from the data register and the corresponding check bit from the selection circuit into memory; a data error detection circuit that detects data errors by check bits, a data correction circuit that corrects data read from the memory using correction information from the data error detection circuit, the selection circuit, and the data error. A method for diagnosing a data error detection and correction circuit, comprising means for diagnosing the check bit generation circuit, memory, data error detection circuit, and data correction circuit by setting the detection circuits to a diagnosis mode simultaneously or separately.
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