JPS6024887B2 - High frequency heating device - Google Patents
High frequency heating deviceInfo
- Publication number
- JPS6024887B2 JPS6024887B2 JP9552479A JP9552479A JPS6024887B2 JP S6024887 B2 JPS6024887 B2 JP S6024887B2 JP 9552479 A JP9552479 A JP 9552479A JP 9552479 A JP9552479 A JP 9552479A JP S6024887 B2 JPS6024887 B2 JP S6024887B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature probe
- frequency heating
- storage chamber
- oscillation circuit
- detection switch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は被加熱物の温度を検知する温度プローブを備
えた高周波加熱装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a high-frequency heating device equipped with a temperature probe that detects the temperature of an object to be heated.
被加熱物を加熱調理する場合には、時限発振回路により
タイマを設定して所定時間加熱調理する方法と、被加熱
物に温度プローブを挿入し、被加熱物の温度を検知して
所定温度に到達したとき発振回路を関略する方法とがあ
る。When cooking an object to be heated, there are two methods: setting a timer using a timed oscillation circuit and cooking for a predetermined period of time, and inserting a temperature probe into the object to detect the temperature of the object and bringing it to the specified temperature. There is a method of omitting the oscillation circuit when the oscillation circuit is reached.
したがって、タイマ時限による発振の場合には温度プロ
ーブを取り外し、高周波加熱室から取り出して保管して
いるが、この温度プローブの保管場所がないため紛失し
たり、再使用の際に不衛生である。Therefore, in the case of oscillation due to timer expiration, the temperature probe is removed and taken out from the high-frequency heating chamber and stored, but since there is no place to store this temperature probe, it may be lost or unsanitary when reused.
また、温度ブローブを高周波加熱室に残し忘れたまま、
タイマ時限による発振を行なうと、内壁に接触した部分
にスパークが生じ、数秒間で温度プローブのサーミスタ
が破損し、高価な温度プローブを再購入する必要があっ
た。この発明は上記事情に着目してなされたもので、そ
の目的とするところは、温度プローブの粉失を防止する
とともに誤使用による温度プローフの破損を禾然に防止
することができる高周波加熱装置を提供しようとするも
のである。Also, if you forget to leave the temperature probe in the high-frequency heating chamber,
When the oscillation is performed by the timer, a spark is generated at the part that contacts the inner wall, and the thermistor of the temperature probe is damaged within a few seconds, making it necessary to repurchase the expensive temperature probe. This invention was made in view of the above circumstances, and its purpose is to provide a high-frequency heating device that can prevent the temperature probe from losing its powder and also prevent the temperature probe from being damaged due to misuse. This is what we are trying to provide.
以下、この発明を図面に示す一実施例にもとずし・て説
明する。Hereinafter, the present invention will be explained based on an embodiment shown in the drawings.
第1図および第2図中1は高周波加熱装置の本体で、こ
の内部には高周波発振器(図示しない。)を備えた高周
波加熱室2が設けられている。また、本体1の前部には
上記高周波加熱室2の関口部を開閉する扉体3および操
作盤4が設けられている。さらに、本体1の前部側に位
置する上部には凹陥部からなる収納室5が設けられ、温
度プローブ6を不便用時に収納できるようになっている
。この収納室5の側壁には温度プロープ6のジャック7
が挿入される通孔8が穿設されているとともに、この通
孔8の近傍にはマイクロスイッチからなる検知スイッチ
9が取付けられている。そして、この検知スイッチ9は
時限発振回路10と電気的に接続され、収納室5内に温
度プローブ6を収納し、そのジャック7を通孔8に挿入
したとき検知スイッチ9は○Nして時限発振回路10を
閉路し、温度プローブ6のジャック7を通孔8から抜去
したとき○FFして同回路10を開勝するようになって
いる。また、上記収納室5の上面関口部11には開閉蓋
12が蝶着されている。しかして、タイマ時限発振によ
って被加熱物を加熱する場合には温度プローブ6が不用
となるため、この温度プローブ6を収納室5内に収納す
る。Reference numeral 1 in FIGS. 1 and 2 is a main body of a high-frequency heating device, and a high-frequency heating chamber 2 equipped with a high-frequency oscillator (not shown) is provided inside the main body. Furthermore, a door body 3 and an operation panel 4 for opening and closing the entrance of the high-frequency heating chamber 2 are provided at the front of the main body 1. Furthermore, a storage chamber 5 consisting of a recessed portion is provided in the upper part of the main body 1 located on the front side, so that the temperature probe 6 can be stored at times of inconvenience. A jack 7 for a temperature probe 6 is mounted on the side wall of this storage chamber 5.
A through hole 8 is bored into which the sensor is inserted, and a detection switch 9 made of a microswitch is installed near the through hole 8. The detection switch 9 is electrically connected to the timed oscillation circuit 10, and when the temperature probe 6 is stored in the storage chamber 5 and the jack 7 is inserted into the through hole 8, the detection switch 9 turns ○N and sets the timer. When the oscillation circuit 10 is closed and the jack 7 of the temperature probe 6 is removed from the through hole 8, the oscillation circuit 10 is turned OFF and the circuit 10 is opened. Further, an opening/closing lid 12 is hinged to the upper entrance portion 11 of the storage chamber 5. Therefore, when the object to be heated is heated by the timer time-limited oscillation, the temperature probe 6 is not needed, so the temperature probe 6 is stored in the storage chamber 5.
そして、温度プロープ6のジャック7を通孔8に挿入す
るとへジャック7によって検知スイッチ9がONされ、
時限発振回路10が閉路となる。すなわち、温度プロー
ブ6の不用の際はその温度プローブ6を収納室5内に収
納し、ジャック7を通孔8内に挿入しないかぎり時限発
振回路10が閉路されないため、温度プローブ6を高周
波加熱室2内に置き忘れたまま発振させることは不可能
となり温度プローブ6の破損と紛失を未然に防止するこ
とができる。また、温度プローブ6を使用して加熱調理
する場合には、温度フ。When the jack 7 of the temperature probe 6 is inserted into the through hole 8, the detection switch 9 is turned on by the jack 7.
The timed oscillation circuit 10 becomes a closed circuit. That is, when the temperature probe 6 is not used, the temperature probe 6 is stored in the storage chamber 5 and the time-limited oscillation circuit 10 is not closed unless the jack 7 is inserted into the through hole 8. It becomes impossible to cause the temperature probe 6 to oscillate if it is left inside the temperature probe 2, and damage and loss of the temperature probe 6 can be prevented. In addition, when cooking using the temperature probe 6, the temperature probe 6 is used.
。ーブ6のジャック7を通孔8から抜去すると、検知ス
イッチ9はOFFとなり時限発振回路10は開路する。
したがって、温度プoーブ6を収納室5から取り出すこ
とにより時限発振回路10を自動的に開路することがで
き、その温度プローブ6を高周波加熱室2内の被加熱物
に挿入するとともにジャック7をソケットに差込むこと
により被加熱物の温度を検知することができる。なお、
上記一実施例においては、収納室5の側壁に通孔8およ
び検知スイッチ9を設け、温度プローブ6のジャック7
を通孔8に挿入したとき検知スイッチ9がONするよう
にしたが、この発明は上記実施例に限定されず、第3図
で示すように構成してもよい。. When the jack 7 of the tube 6 is removed from the through hole 8, the detection switch 9 is turned off and the timed oscillation circuit 10 is opened.
Therefore, by taking out the temperature probe 6 from the storage chamber 5, the time-limited oscillation circuit 10 can be automatically opened. The temperature of the heated object can be detected by inserting it into the socket. In addition,
In the above embodiment, a through hole 8 and a detection switch 9 are provided in the side wall of the storage chamber 5, and a jack 7 of the temperature probe 6 is provided.
Although the detection switch 9 is turned on when the through hole 8 is inserted, the present invention is not limited to the above embodiment, and may be configured as shown in FIG. 3.
すなわち、開閉蓋13の裏面に温度プローブ6の引掛け
部14を設けるとともに、常に開放方向に付勢するスプ
リング15を設け、温度プローブ6の不便用時にこれを
引掛け部14に掛止すると自重により閉塞する構造とし
、開閉蓋13の裏面に対向する収納室6に開閉蓋13の
閉塞時にONする検知スイッチ1 6を設けたものであ
る。このように構成することにより、温度プローフ6の
使用中は開閉蓋13は開放状態となり、不便用時は開閉
蓋13が閉塞するため、上記実施例と同様に温度プロー
ブ6の破損と紛失を禾然に防止できる。That is, a hook 14 for the temperature probe 6 is provided on the back surface of the opening/closing lid 13, and a spring 15 is provided to always bias the temperature probe 6 in the opening direction. A detection switch 16 that is turned on when the opening/closing lid 13 is closed is provided in the storage chamber 6 facing the back side of the opening/closing lid 13. With this configuration, when the temperature probe 6 is in use, the opening/closing lid 13 is in an open state, and when it is inconvenient, the opening/closing lid 13 is closed, thereby preventing damage or loss of the temperature probe 6, as in the above embodiment. It can be naturally prevented.
この発明は以上説明したように、本体に温度プロープを
収納する収納室を設けるとともに、この収納室に上記温
度プローブを収納したとき時限発振回路を閉路し、取り
出したとき同回路を開路する検知スイッチを設けたから
、温度プローブを清潔に保管することができるとともに
紛失を防止できる。As explained above, this invention includes a storage chamber for storing a temperature probe in the main body, and a detection switch that closes a timed oscillation circuit when the temperature probe is stored in the storage chamber and opens the circuit when the temperature probe is removed. This allows the temperature probe to be stored cleanly and to prevent it from being lost.
しかも、温度プローブを高周波加熱室内に置き忘れたま
ま発振することは不可能であるから、温度プローブの破
損を未然に防止できるという効果を奏する。Moreover, since it is impossible to oscillate the temperature probe while leaving it in the high-frequency heating chamber, it is possible to prevent damage to the temperature probe.
第1図はこの発明の一実施例を示す全体の斜視図、第2
図は同じく要部の断面図、第3図はこの発明の他の実施
例を示す断面図である。
1・・・…本体、2・・…・高周波加熱室、5・・・・
・・収納室、6・・・・・・温度プローブ、9・・・…
検知スイッチ、10・・・…時限発振回路。
第1図
第2図
第3図Fig. 1 is an overall perspective view showing one embodiment of the present invention;
This figure is a sectional view of the main parts, and FIG. 3 is a sectional view showing another embodiment of the present invention. 1...Main body, 2...High frequency heating chamber, 5...
...Storage room, 6...Temperature probe, 9...
Detection switch, 10...Timed oscillation circuit. Figure 1 Figure 2 Figure 3
Claims (1)
て被加熱物の温度を検知する機能を有したものにおいて
、上記高周波加熱室の外部における本体に上記温度プロ
ーブを収納する収納室を設けるとともに、この収納室に
上記温度プローブを収納したとき時限発振回路を閉路し
、取り出したとき同回路を開路する検知スイツチを設け
たことを特徴とする高周波加熱装置。1. In a device having a function of detecting the temperature of the heated object by inserting a temperature probe into the heated object in the high-frequency heating chamber, a storage chamber for storing the temperature probe is provided in the main body outside the high-frequency heating chamber, and . A high-frequency heating device comprising a detection switch that closes a time-limited oscillation circuit when the temperature probe is stored in the storage chamber and opens the circuit when the temperature probe is taken out.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9552479A JPS6024887B2 (en) | 1979-07-26 | 1979-07-26 | High frequency heating device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9552479A JPS6024887B2 (en) | 1979-07-26 | 1979-07-26 | High frequency heating device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5620936A JPS5620936A (en) | 1981-02-27 |
| JPS6024887B2 true JPS6024887B2 (en) | 1985-06-15 |
Family
ID=14139940
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9552479A Expired JPS6024887B2 (en) | 1979-07-26 | 1979-07-26 | High frequency heating device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6024887B2 (en) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2514726Y2 (en) * | 1990-02-20 | 1996-10-23 | 三洋電機株式会社 | Electric cooking heater |
| KR100478454B1 (en) * | 2002-09-02 | 2005-03-23 | 삼성전자주식회사 | Temperature measuring apparatus of microwave oven |
| DE102009002216A1 (en) * | 2009-04-06 | 2010-10-07 | BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH | Home appliance device |
| DE102021213623A1 (en) | 2021-12-01 | 2023-06-01 | BSH Hausgeräte GmbH | Handle for a door of a household appliance, door and household appliance |
| IT202200011852A1 (en) * | 2022-06-06 | 2023-12-06 | Elica Spa | Appliance for cooking food |
-
1979
- 1979-07-26 JP JP9552479A patent/JPS6024887B2/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5620936A (en) | 1981-02-27 |
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