JPS6027064B2 - ラベルの表裏検査装置 - Google Patents
ラベルの表裏検査装置Info
- Publication number
- JPS6027064B2 JPS6027064B2 JP56061255A JP6125581A JPS6027064B2 JP S6027064 B2 JPS6027064 B2 JP S6027064B2 JP 56061255 A JP56061255 A JP 56061255A JP 6125581 A JP6125581 A JP 6125581A JP S6027064 B2 JPS6027064 B2 JP S6027064B2
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- Japan
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
- G06T7/0008—Industrial image inspection checking presence/absence
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Labeling Devices (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、製品に貼られたラベルの貼り付け状態を検
査する外観検査において、ラベルの表裏逆、すなわち表
と髪を逆にして貼られたものを検査するラベル検査装置
に関するものである。
査する外観検査において、ラベルの表裏逆、すなわち表
と髪を逆にして貼られたものを検査するラベル検査装置
に関するものである。
このようなラベルは、必ずしも表と愛で大幅な反射率の
差があるとは限らず、表面には文字などの細かい模様が
あり、裏面にはそれがないだけというようなものも多い
。表裏の逆は、ラベル貼り付け不良の中でも重大な欠陥
であり、したがって、表裏の反射率の差の余りないもの
も、安定しかも確実に検査することが要求される。従来
、ラベルの表裏逆は、ラベルの表と愛での反射率の大幅
な差を反射型光電センサなどを使って、ラベルから反射
されてくる光量の差としてとらえて検査して来た。
差があるとは限らず、表面には文字などの細かい模様が
あり、裏面にはそれがないだけというようなものも多い
。表裏の逆は、ラベル貼り付け不良の中でも重大な欠陥
であり、したがって、表裏の反射率の差の余りないもの
も、安定しかも確実に検査することが要求される。従来
、ラベルの表裏逆は、ラベルの表と愛での反射率の大幅
な差を反射型光電センサなどを使って、ラベルから反射
されてくる光量の差としてとらえて検査して来た。
表と愛で全体として反射率に余り差がなくても、表面に
比較的大きなマーク部があり、そこでの反射率が裏面と
著しく異なる場合には、そのマーク部をねらって光電セ
ンサを取付け、同様に検査して来た。しかしながらこら
れの方法では、表と裏で反射率に余り差がなく、かつ大
きなマークもないものは検査が困難である。また、マー
クなどの一部分に着目するとなれば、マークの最適位置
をねらって、光電センサを取り付けなければならず、セ
ンサの位置決めが検査に微妙に影響する。さらに、ラベ
ル自体の位置ずれにも大きく影響される欠点があ。この
発明は、表と裏で余り反射率の差がないラベルで、しか
も表面には、文字などの小さな模様しかないものについ
て、ラベル自体の位置ずれに影響されず、表裏逆を安定
に検出しうる検査装置を提供することを目的をするもの
である。
比較的大きなマーク部があり、そこでの反射率が裏面と
著しく異なる場合には、そのマーク部をねらって光電セ
ンサを取付け、同様に検査して来た。しかしながらこら
れの方法では、表と裏で反射率に余り差がなく、かつ大
きなマークもないものは検査が困難である。また、マー
クなどの一部分に着目するとなれば、マークの最適位置
をねらって、光電センサを取り付けなければならず、セ
ンサの位置決めが検査に微妙に影響する。さらに、ラベ
ル自体の位置ずれにも大きく影響される欠点があ。この
発明は、表と裏で余り反射率の差がないラベルで、しか
も表面には、文字などの小さな模様しかないものについ
て、ラベル自体の位置ずれに影響されず、表裏逆を安定
に検出しうる検査装置を提供することを目的をするもの
である。
この発明の特徴は、検査対象ラベルを撮影して得られる
撮像信号の1画面分の信号を処理することによりラベル
の表裏を判別するラベルの表裏検査装置であって、前記
撮像信号の1水平走査によって得られる信号をラベルの
有無を検出する第1の設定レベルと、ラベル内の模様を
検出する第2の設定レベルでそれぞ2値化する2値化手
段と、各水平走査毎に前記2つの2億化手段からの各出
力にもとづいて前記ラベル中に所定のパターンが存在す
るか否かを検出するパターン検出手段とを有してなり、
該検出手段の1画面分の出力信号数からのラベルの表裏
を判別しうるようにした点にある。
撮像信号の1画面分の信号を処理することによりラベル
の表裏を判別するラベルの表裏検査装置であって、前記
撮像信号の1水平走査によって得られる信号をラベルの
有無を検出する第1の設定レベルと、ラベル内の模様を
検出する第2の設定レベルでそれぞ2値化する2値化手
段と、各水平走査毎に前記2つの2億化手段からの各出
力にもとづいて前記ラベル中に所定のパターンが存在す
るか否かを検出するパターン検出手段とを有してなり、
該検出手段の1画面分の出力信号数からのラベルの表裏
を判別しうるようにした点にある。
以下、この発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図はこの発明の実施例を示すブロック図である。
同図において、1はテレビカメラ、2および3は2値化
回路、4はパターン検出回路で、テレビカメラ1により
検査対象であるラベルを撮影し、その結果得られた撮像
信号を2値化回路2,3でそれぞれ異なる2つのレベル
で2値化し、これら2つの2値化信号をパターン検出回
路4にて比較することにより、ラベル内に所定の模様ま
たはパターンが存在するか否かを検出し、表裏の判別を
行なう。
回路、4はパターン検出回路で、テレビカメラ1により
検査対象であるラベルを撮影し、その結果得られた撮像
信号を2値化回路2,3でそれぞれ異なる2つのレベル
で2値化し、これら2つの2値化信号をパターン検出回
路4にて比較することにより、ラベル内に所定の模様ま
たはパターンが存在するか否かを検出し、表裏の判別を
行なう。
第2図は検査対象ラベルの1例を示す説明図であり、第
3図は該ラベルを撮影して得られる信号の1水平走査線
当たりの信号波形と、該信号を2値化回路2,3で2値
化した場合の信号波形とを示す波形図で、Aはラベルの
表面を撮影した場合を示し、Bはラベルの表面を撮影し
た場合を示すものである。
3図は該ラベルを撮影して得られる信号の1水平走査線
当たりの信号波形と、該信号を2値化回路2,3で2値
化した場合の信号波形とを示す波形図で、Aはラベルの
表面を撮影した場合を示し、Bはラベルの表面を撮影し
た場合を示すものである。
第2図において、Lはラベルであり、Sは走査線(ラス
タ)位置を示し、PはラベルL内の模様またはパターン
を表わしている。
タ)位置を示し、PはラベルL内の模様またはパターン
を表わしている。
このような模様のラベルをテレビカメラで撮影すると、
その走査線位置Sにおけるビデオ波形は第3図AのVで
示されるように、模様に応じて変化する波形となる。
その走査線位置Sにおけるビデオ波形は第3図AのVで
示されるように、模様に応じて変化する波形となる。
このビデオ波形Vを設定レベルLLおよびHLでそれぞ
2値化すると、同図AのDLおよびDHで示されるよう
な信号波形が得られる。ここで、設定レベルLLおよび
HLは、例えばラベルの背景および模様を安定にとり出
しうるように、それぞれ低レベル、高レベルの適宜なし
ベルに選定される。したがって、2値化回路2からはラ
ベルの背景に応じた単一のパルスDLが現われ、2値化
回路3からはラベル内の模様にしたがって複数のパルス
信号DHが現われることになる。これに対してラベルが
表と菱を逆にして貼られている場合は、ラベル内には模
様またはパターンが存在しないので、第3図Bに示す如
くそのビデオ波形Vおよび2値化信号波形DHは平坦と
なり、単一のパルス信号として出力される。
2値化すると、同図AのDLおよびDHで示されるよう
な信号波形が得られる。ここで、設定レベルLLおよび
HLは、例えばラベルの背景および模様を安定にとり出
しうるように、それぞれ低レベル、高レベルの適宜なし
ベルに選定される。したがって、2値化回路2からはラ
ベルの背景に応じた単一のパルスDLが現われ、2値化
回路3からはラベル内の模様にしたがって複数のパルス
信号DHが現われることになる。これに対してラベルが
表と菱を逆にして貼られている場合は、ラベル内には模
様またはパターンが存在しないので、第3図Bに示す如
くそのビデオ波形Vおよび2値化信号波形DHは平坦と
なり、単一のパルス信号として出力される。
第4図はパターン検出回路の詳細な構成を示す回略図で
あり、第5図は第4図の各部信号波形を示す波形図でA
はラベルが正しい位置に貼られている場合、Bは表裏逆
にして貼られている場合、Cはラベルの貼付位置が正規
の位置より少しずれている場合である。
あり、第5図は第4図の各部信号波形を示す波形図でA
はラベルが正しい位置に貼られている場合、Bは表裏逆
にして貼られている場合、Cはラベルの貼付位置が正規
の位置より少しずれている場合である。
第4図において、41,42はJKフリップフロツプ、
43はカウン夕であり、JKフリツプフロップ41のク
ロック端子CKには、第1図の2値化回路3の出力信号
DHが与えられ、クリア端子CRには同じく2値化回路
2の出力信号DLが与えられている。
43はカウン夕であり、JKフリツプフロップ41のク
ロック端子CKには、第1図の2値化回路3の出力信号
DHが与えられ、クリア端子CRには同じく2値化回路
2の出力信号DLが与えられている。
したがって、ラベルが正規の位置に正しく貼られていれ
ば、2値化信号は第5図AのDLおよびDHで示される
ような波形となり、JKフリツプフロツプ41,42の
出力はそれぞQ,,Q2のようになって、フリツプフロ
ツプ42の出力は1つのパルス信号Q2が現われること
になる。
ば、2値化信号は第5図AのDLおよびDHで示される
ような波形となり、JKフリツプフロツプ41,42の
出力はそれぞQ,,Q2のようになって、フリツプフロ
ツプ42の出力は1つのパルス信号Q2が現われること
になる。
これに対してラベルの表裏が逆の場合は、2値化信号は
同図BのDLおよびDHで示されるような波形となり、
フリツプフロツプ41からは出力Q.が得られるが、フ
リッブフロップ42の出力Q2は得られないことになる
。したがって、Q2として現われるフリッブフロツプ4
2からのパルス数を、カウンタ43によりラベル全体を
含む領域で計数すれば、正常なときには、ラベル内の模
様を横切る走査線(ラスタ)の本数になり、表裏が逆の
ときには、ラスタを横切る模様がないので、計数値は0
‘こなる。
同図BのDLおよびDHで示されるような波形となり、
フリツプフロツプ41からは出力Q.が得られるが、フ
リッブフロップ42の出力Q2は得られないことになる
。したがって、Q2として現われるフリッブフロツプ4
2からのパルス数を、カウンタ43によりラベル全体を
含む領域で計数すれば、正常なときには、ラベル内の模
様を横切る走査線(ラスタ)の本数になり、表裏が逆の
ときには、ラスタを横切る模様がないので、計数値は0
‘こなる。
この計数値を一定の設定値と比較し、設定値以上か以下
かを判別することにより、ラベルの表裏を判別すること
ができる。つまり、一方のレベルLLで、ラベルの背景
にしたがった2値化信号DLを出し、その信号が論理“
1”の期間中に、ラベルの模様による2値化信号DHの
パルス数が2以上あるか杏かで、模様の有無を調べ、表
裏逆の検査を行なうものである。
かを判別することにより、ラベルの表裏を判別すること
ができる。つまり、一方のレベルLLで、ラベルの背景
にしたがった2値化信号DLを出し、その信号が論理“
1”の期間中に、ラベルの模様による2値化信号DHの
パルス数が2以上あるか杏かで、模様の有無を調べ、表
裏逆の検査を行なうものである。
なお、第5図Cに示す波形は、ラベルが右方へ所定の距
離△だけずれた場合であって、全体的に右方へずれる点
を徐けば、同図Aの場合と全く同じである。
離△だけずれた場合であって、全体的に右方へずれる点
を徐けば、同図Aの場合と全く同じである。
さらに、ラベルの貼付位置が上、下へずれても、この発
明の場合は、ラベルを2次元領域でしているので、領域
内にラベルがある限り、ラベルの存在するところでDL
DHの信号が現われるので、表裏逆の検査が可能である
。
明の場合は、ラベルを2次元領域でしているので、領域
内にラベルがある限り、ラベルの存在するところでDL
DHの信号が現われるので、表裏逆の検査が可能である
。
これは、回転ずに対しても同様である。要するに、ラベ
ルの位置ずれに関係なく、表裏逆検査可能である。また
、第5図のタイミングチャートからも容易にわかるよう
に、フリツプフロツプ42の出力にパルス信号Q2が現
われるには、2値化信号DLの論理“1”の期間中に、
2値化信号DHのパルスが2発以上あればよく、パルス
数や、パルスの幅、すなわち、ラベル内の模様の個数や
大きさには関係ないものである。
ルの位置ずれに関係なく、表裏逆検査可能である。また
、第5図のタイミングチャートからも容易にわかるよう
に、フリツプフロツプ42の出力にパルス信号Q2が現
われるには、2値化信号DLの論理“1”の期間中に、
2値化信号DHのパルスが2発以上あればよく、パルス
数や、パルスの幅、すなわち、ラベル内の模様の個数や
大きさには関係ないものである。
第6はラベルの傍にNで示されるような外乱光などによ
る、明るい部分がノイズとして存在した場合を示す波形
図である。
る、明るい部分がノイズとして存在した場合を示す波形
図である。
同図はノイズNの部分では、フリツプフロップ42の出
力Q2は論理“0”のままで、ラベルLのある部分のみ
でパルス出力Q2があることを示している。このため、
ラベル外に存在するノイズの影響を受けることができな
い。なお、ラベル裏面に汚れなどのある場合でも、ラベ
ルを含む2次元領域についてフリップフロップ42の出
力パルスを計数して検査するので、正常時の計数値が十
分大きければ、比較の基準となる設定定数の値を大きく
とっておくことにより、ある程度の汚れによる計数値を
無視することができる。以上のように、この発明は、ラ
ベル表裏の反射率の差(明暗の差)だけでなく、ラベル
内の模様に着目するので、表と裏で印刷の有無の区別し
かないようなラベルでも、安定に表裏逆の検査が可能で
ある。
力Q2は論理“0”のままで、ラベルLのある部分のみ
でパルス出力Q2があることを示している。このため、
ラベル外に存在するノイズの影響を受けることができな
い。なお、ラベル裏面に汚れなどのある場合でも、ラベ
ルを含む2次元領域についてフリップフロップ42の出
力パルスを計数して検査するので、正常時の計数値が十
分大きければ、比較の基準となる設定定数の値を大きく
とっておくことにより、ある程度の汚れによる計数値を
無視することができる。以上のように、この発明は、ラ
ベル表裏の反射率の差(明暗の差)だけでなく、ラベル
内の模様に着目するので、表と裏で印刷の有無の区別し
かないようなラベルでも、安定に表裏逆の検査が可能で
ある。
また、ラベルを含む2次元の領域、すなわちラベルの存
在するところで2つのレベルによる2値化データの対応
をみるので、ラベルの位置ずれや、ラベル内の模様の状
態にも影響されず。したがって種々のラベル検査に適用
することができる。さらに外乱光などによるノイズがあ
っても、同一部分での2つの信号の相対関係をみるので
、余り影響を受けない。なお、この発明は、ラベル内の
模様の有無を調べるものであるから、ラベル表裏検査の
外、ラベル内の模様の脱落の検査も可能である。
在するところで2つのレベルによる2値化データの対応
をみるので、ラベルの位置ずれや、ラベル内の模様の状
態にも影響されず。したがって種々のラベル検査に適用
することができる。さらに外乱光などによるノイズがあ
っても、同一部分での2つの信号の相対関係をみるので
、余り影響を受けない。なお、この発明は、ラベル内の
模様の有無を調べるものであるから、ラベル表裏検査の
外、ラベル内の模様の脱落の検査も可能である。
また、一様な明るさを有する物体の表面上のキズや汚れ
などを、模様と同様に考えることによりキズ、汚れなど
の欠陥検出も可能である。
などを、模様と同様に考えることによりキズ、汚れなど
の欠陥検出も可能である。
第1図はこの発明の実施例に示すブロック図であり、第
2図はラベルの一例を示す説明図であり、第3図はラベ
ルの撮像信号の1水平走査期間中の信号波形と、該信号
を2値化した信号波形とを示す波形図であり、第4図は
第1図のパターン検出回路を示す回路図であり、第5図
は第4図の各部信号波形を示す波形図であり、第6図は
ノイズを含む場合を示す波形図である。 符号の説明 1・・・テレビカメラ、2,3・・・2値
化回路、4…パターン検出回路、41,42…JKフリ
ツプフロツプ、43…カウンタ、L…ラベル、S・・・
走査線(ラスタ)、P・・・模様(パターン)、V・・
・ビデオ信号、DL,DH・・・2値化信号、LL,H
L…設定レベル。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 第6図
2図はラベルの一例を示す説明図であり、第3図はラベ
ルの撮像信号の1水平走査期間中の信号波形と、該信号
を2値化した信号波形とを示す波形図であり、第4図は
第1図のパターン検出回路を示す回路図であり、第5図
は第4図の各部信号波形を示す波形図であり、第6図は
ノイズを含む場合を示す波形図である。 符号の説明 1・・・テレビカメラ、2,3・・・2値
化回路、4…パターン検出回路、41,42…JKフリ
ツプフロツプ、43…カウンタ、L…ラベル、S・・・
走査線(ラスタ)、P・・・模様(パターン)、V・・
・ビデオ信号、DL,DH・・・2値化信号、LL,H
L…設定レベル。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 第6図
Claims (1)
- 1 検査対象ラベルを撮影して得られる撮像信号の1画
面分の信号を処理することにより前記ラベルの表裏を判
別するラベルの表裏検査装置であつて、前記撮像信号の
1水平送査によつて得られる信号をラベルの有無の検出
する第1の設定レベルと、ラベル内の摸様を検出する第
2段の設定レベルでそれぞれ2値化する2値化手段と、
各水平走査毎に前記2つの2値化手段からの各出力にも
とづいて前記ラベル中に所定のパターンが存在するか否
かを検出するパターン検出手段とを有してなり、1画面
分における前記パターン検出手段からの出力信号数によ
りラベルの表裏を判別するようにしたことを特徴とする
ラベルの表裏検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56061255A JPS6027064B2 (ja) | 1981-04-24 | 1981-04-24 | ラベルの表裏検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56061255A JPS6027064B2 (ja) | 1981-04-24 | 1981-04-24 | ラベルの表裏検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57176479A JPS57176479A (en) | 1982-10-29 |
| JPS6027064B2 true JPS6027064B2 (ja) | 1985-06-27 |
Family
ID=13165938
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56061255A Expired JPS6027064B2 (ja) | 1981-04-24 | 1981-04-24 | ラベルの表裏検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6027064B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6073408A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | パタ−ン認識装置 |
| JPH01113753U (ja) * | 1988-01-22 | 1989-07-31 | ||
| CN105383162B (zh) * | 2015-12-17 | 2017-09-08 | 东莞市秦智工业设计有限公司 | 一种双面标签印刷质量的辅助检测治具 |
-
1981
- 1981-04-24 JP JP56061255A patent/JPS6027064B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57176479A (en) | 1982-10-29 |
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