Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPS6028798B2 - ケイ素棒の引出方法 - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPS6028798B2 - ケイ素棒の引出方法 - Google Patents

ケイ素棒の引出方法

Info

Publication number
JPS6028798B2
JPS6028798B2 JP7017382A JP7017382A JPS6028798B2 JP S6028798 B2 JPS6028798 B2 JP S6028798B2 JP 7017382 A JP7017382 A JP 7017382A JP 7017382 A JP7017382 A JP 7017382A JP S6028798 B2 JPS6028798 B2 JP S6028798B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
silicon
melt
rod
quartz
oxygen
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP7017382A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57191296A (en
Inventor
アリエ・ヤン・ルドルフ・ド・コク
ウイリブロルダス・マリア・フアン・ド・ウイ−ヘルト
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips Electronics NV
Publication of JPS57191296A publication Critical patent/JPS57191296A/ja
Publication of JPS6028798B2 publication Critical patent/JPS6028798B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/02Elements
    • C30B29/06Silicon
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/02Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt
    • C30B15/04Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt adding doping materials, e.g. for n-p-junction
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/20Controlling or regulating

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は石英るつぼに存在するケィ素融成物から単結晶
ケイ素棒を引出す方法に関するものでる。
半導体装置の製造に使用されるケイ素榛切片は単結晶ケ
イ素棒から製造される。
半導体装置をケイ素切片から製造する場合、ケイ素内に
生じる望ましくない不純物はできるだけ少量であること
が極めて重要である。
望ましくない不純物、特に金属性不純物はケイ素切片内
の酸素沈澱物によって捕捉(内在的にゲツタリング)さ
れることが知られている。
酸素沈澱物は切片の熱処理中に形成され、この処理は半
導体装置の製造では一般的である。
このために必要な酸素は、融成物からケイ素棒を引出す
間に溶融ケイ素と石英るつぼの反応によって吸収される
。融成物に吸収された酸素は、ケィ素融成物の自由表面
を介して蒸発し、一酸化ケイ素として消えるかまたは晶
出する棒に混和される引出された棒の酸素含量は、種に
近い開始点で約1び8原子/城から、棒の尾端部で約5
×1び7原子/地まで変化し(カィザーとケックによる
赤外分光器で測定した、J.APP夕.PhYS,28
,882(1957))、この濃度では沈澱は生じない
か、または僅かな沈澱が生じるのみである。そこで後者
の酸素濃度では、酸素沈澱によるゲッタリングはこれ以
上は殆んど起こらない。このように榛内の酸素濃度が変
化すると、種々の切片から製造される半導体装置間に重
要な品質の差異が生じる。従って、酸素沈澱物が重要な
程度に生じ始める濃度以上、即ち約7×1び7原子/城
以上、好ましくは1び8原子/桝以上の酸素含量を有す
るケイ素棒を引出すことが望ましい。多くて2×1び8
原子/地の酸素を、単結晶ケイ素に混和することができ
る。本発明の目的は、できるだけ均質な制御すことがで
きるケイ素中の酸素濃度で、単結晶ケイ素樺を引出すこ
とにある。
単結晶ケイ素捧内の酸素含量の変化は、引出方法に用い
られるるつぼが円筒形である事と関連していることが好
ましい。
この結果、引出す間のケィ素融成物とるつば壁との接触
面積は、るつぼ内のケィ素融成物のレベルが下がると小
さくなり、同時にケィ素融成物の自由表面は一定のまま
である。この結果、るつぼ壁から融成物内に熔解する酸
素量はさらに少なくなり、同時に敵成物から一酸化ケイ
素が蒸発する可能性は変わらない。この結果引出す間、
棒に混和する酸素量は常に減少する。本発明は、特に、
引出される棒の酸素含量の重要性に関して、るつぼ内の
ケィ素融成物の自由表面を減らすことによって、改善す
ることができる事実を認識したことに困る。
従って、上記の方法は、ケイ素棒を融成物上に浮かぶボ
ディ内の孔を介して引出し、この孔を、ケイ素榛の直径
に対して、榛の周りに融成物のメニスカスの形状がボデ
ィによって影響されない程度に大きいように選択した本
発明により特徴づけられる。
本発明方法によって、ケイ素榛内の酸素濃度を既知の方
法に比べてかなり増加させることができる。
棒に近い融成物のメニスカスの形状がボディによって影
響されない条件について、この条件をこの種の影響の結
果として転暦を避けるように課すことが注目される。
特に、円形でない孔から棒を引出すと円形でない榛が得
られることは、それ自体既知である。
孔の機縁と棒の間の間隔が4・さし、と、棒に近い融成
物のメニスカスは、棒が孔の形状をとることにより影響
される。この種の方法では転層形成を避けることは殆ん
ど不可能である。浮きボディは石英製であることが好ま
しい。この種のボディの利点は、融成物とボディとの間
の接触面を介しても酸素を雛成物に放出することができ
、またその結果、孔に近い融成物の酸素含量が高水準の
ままであることである。本発明方法は、特にボディが平
坦な環である場合に、容易に実施することができる。
浮きボディがるつぼの壁に被着しないようにするため、
浮きボディは、ボディの周囲を越えて延在するピンを備
え、このピンは浮きボディを石英るつぼの壁から引離す
と共にケイ素棒に対して正しい位置に保つ。
本発明の実施例を図面に基づきさらに詳細に説明する。
図面は本発明方法を実施する装置の部分を示す断面図で
ある。この例では、単結晶ケイ素棒1を石英るつぼ3に
在存するケィ素融成物2から引出す。
本発明では、ケイ素綾1を融成物2上に浮かぶボディ6
の孔5を通して引出す。
このボディは石英が好ましい。孔5を、ケイ素榛1の直
径に関して、綾1の周りの融成物2のメニスカス7の形
状が石英ボディ6によって影響されない程の大きさに選
択する。石英ボディ6は3本の石英ピン4を備えた平坦
な環である。
ピンはボディ6の周囲を越えて延在し、浮きボディ6を
石英るつぼ3の壁から引離している。ボディ6の変形を
防ぐため、前記ボディを、前記ケイ素が溶融した後にの
みケイ素と接触させる。
次いで融成物2を種晶と接触させる。例えば、直径3.
5〜4肌の棒1を、1.3風/分の速度で、直径6ので
厚さ2欄の石英ボディ6の円形の孔5を介して、内径8
.5肌の円筒形るつぼ3から引出す。
石英ボディ6はケィ素融成物2に浮かぶ外径が8伽であ
る。融成物2は、棒1とるつぼ3を対向方向に回転させ
て、絶えず完全にかきまぜる。
1気圧のアルゴン中で成長する。
孔5は、メニスカスの反射によつ制御する従釆の自動直
径制御に十分な大きさである。浮きボディが存在するの
で、本方法はボデなしで実施した類似の方法よりもエネ
ルギーの消費が少ない。
本発明により引出されたケイ素棒の酸素含量は、石英ボ
ディを用いない場合よりも30〜40%高く、棒の大部
分は1び8原子/塊以上である。
ケイ素棒を従来法で切片に切り、この切片から、半導体
装置、例えばダイオード、トランジスタおよび集積回路
を製造する。発生する酸素沈澱により良好な固有のゲッ
タリングがもたらされる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明方法を実施する装置の部分を示す断面図で
ある。 1・・・・・・単結晶ケイ素棒、2・・・・・・ケィ素
融成物、3…・・・石英るつぼ、4…・・・石英ピン、
5・・・・・・孔、6……ボデイ、7・・・…メニスカ
ス。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 石英るつぼに存在するケイ素融成物から単結晶ケイ
    素棒を引出すに当たり、ケイ素棒を融成物に浮かぶボデ
    イ内の孔を介して引出し、この孔を、ケイ素棒の直径に
    関して棒の周りの融成物のメニスカスの形状がボデイに
    よつて影響されない程の大きさに選択し、これによつて
    ボデイはボデイの周囲を越えて延在するピンを有し、こ
    のピンはボデイを石英るつぼの壁から引離しケイ素棒に
    対して正しい位置に保つことを特徴とするケイ素棒の引
    出方法。 2 ボデイが石英製である特許請求の範囲第1項記載の
    方法。 3 ボデイが平坦な環である特許請求の範囲第1項また
    は第2項記載の方法。
JP7017382A 1981-04-29 1982-04-26 ケイ素棒の引出方法 Expired JPS6028798B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8102102A NL8102102A (nl) 1981-04-29 1981-04-29 Werkwijze voor het optrekken van een siliciumstaaf en halfgeleiderinrichting vervaardigd uit de siliciumstaaf.
NL8102102 1981-04-29

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS57191296A JPS57191296A (en) 1982-11-25
JPS6028798B2 true JPS6028798B2 (ja) 1985-07-06

Family

ID=19837418

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7017382A Expired JPS6028798B2 (ja) 1981-04-29 1982-04-26 ケイ素棒の引出方法

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP0063837A1 (ja)
JP (1) JPS6028798B2 (ja)
NL (1) NL8102102A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62105998A (ja) * 1985-10-31 1987-05-16 Sony Corp シリコン基板の製法
DE19927604A1 (de) 1999-06-17 2000-12-21 Bayer Ag Silicium mit strukturierter Sauerstoffdotierung, dessen Herstellung und Verwendung
FR3045073A1 (fr) * 2015-12-14 2017-06-16 Commissariat Energie Atomique Procede de fabrication d'un lingot en materiau semi-conducteur enrichi en oxygene et four de cristallisation

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB921037A (en) * 1958-05-29 1963-03-13 Gen Electric Co Ltd Improvements in or relating to the preparation of single crystals of silicon
GB996008A (en) * 1961-09-29 1965-06-23 Mullard Ltd Improvements in and relating to the manufacture of crystals
US4010064A (en) * 1975-05-27 1977-03-01 International Business Machines Corporation Controlling the oxygen content of Czochralski process of silicon crystals by sandblasting silica vessel

Also Published As

Publication number Publication date
EP0063837A1 (en) 1982-11-03
NL8102102A (nl) 1982-11-16
JPS57191296A (en) 1982-11-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4040895A (en) Control of oxygen in silicon crystals
JP2000247778A (ja) 石英ガラスルツボおよびその製造方法ならびにこれを用いたシリコン単結晶の引上げ方法
EP0055619B1 (en) Method for regulating concentration and distribution of oxygen in czochralski grown silicon
US4436577A (en) Method of regulating concentration and distribution of oxygen in Czochralski grown silicon
WO2003091483A1 (fr) Procede de production de silicium monocristallin, silicium monocristallin et plaquette de silicium
WO2003089697A1 (en) Single crystal silicon producing method, single crystal silicon wafer producing method, seed crystal for producing single crystal silicon, single crystal silicon ingot, and single crystal silicon wafer
US4239585A (en) Process for the production of high purity silicon monocrystals having a low oxygen content
JPS6028798B2 (ja) ケイ素棒の引出方法
WO2016017055A1 (ja) 単結晶シリコン引き上げ用石英ガラスるつぼ及びその製造方法
JPH1149597A (ja) シリコン単結晶引き上げ用石英るつぼ
EP0063836B1 (en) Method of drawing a silicon rod
TW583353B (en) Process for controlling thermal history of vacancy-dominated, single crystal silicon
JP3473477B2 (ja) シリコン単結晶の製造方法
US20180030615A1 (en) Methods for producing single crystal silicon ingots with reduced seed end oxygen
JPH0788269B2 (ja) シリコン単結晶引上げ用ルツボ
JP2000128691A (ja) シリコン種結晶およびシリコン単結晶の製造方法
US3765843A (en) Growth of tubular crystalline bodies
KR100581045B1 (ko) 실리콘 단결정 제조방법
US3607109A (en) Method and means of producing a large diameter single-crystal rod from a polycrystal bar
JPS5939794A (ja) 単結晶製造方法およびその装置
JPS6354679B2 (ja)
RU1700954C (ru) Способ выращивани монокристаллов германата висмута
JPS5932426B2 (ja) 半導体単結晶育成方法および育成装置
JPH03193698A (ja) シリコン単結晶及びその製造方法
JPS6117489A (ja) シリコン単結晶の製造方法