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JPS603680B2 - pattern recognition device - Google Patents
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JPS603680B2 - pattern recognition device - Google Patents

pattern recognition device

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Publication number
JPS603680B2
JPS603680B2 JP53074099A JP7409978A JPS603680B2 JP S603680 B2 JPS603680 B2 JP S603680B2 JP 53074099 A JP53074099 A JP 53074099A JP 7409978 A JP7409978 A JP 7409978A JP S603680 B2 JPS603680 B2 JP S603680B2
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JP
Japan
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pattern
difference
degree
standard
section
Prior art date
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Expired
Application number
JP53074099A
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Japanese (ja)
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JPS553003A (en
Inventor
好人 北野
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS603680B2 publication Critical patent/JPS603680B2/en
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  • Character Discrimination (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はパターンマッチング方式による文字図形等のパ
ターン認識装置において、同一カテゴリ一に属する大き
さの異なるパターンを認識する際、特に類似するカテゴ
リー間を判別するパターン認識装置に関するものである
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a pattern recognition device using a pattern matching method for recognizing patterns of characters and figures, etc., which particularly discriminates between similar categories when recognizing patterns of different sizes that belong to the same category. It is something.

従来のパターン認識装置を第1図に示す。A conventional pattern recognition device is shown in FIG.

第1図において1は文字図形等の書かれた帳票、2は光
電変換部、3は量子化部、4は前処理部、5は切出し部
、6は切出された入力パターン、7は相違度計算凶部、
8は判定風部、9は相違度計算‘B}部、10は判定【
B)部、11は各々カテゴリー毎に用意された標準パタ
ーンのテーブル、12は特に類似するカテゴリーの組毎
に用意された差分パターンのテーブルの如く構成されて
いる。帳票1に書かれた文字は光電変換部2でアナログ
的に光電変換され童子化部3で黒・白2値化される。
In Figure 1, 1 is a form with characters and figures written on it, 2 is a photoelectric conversion section, 3 is a quantization section, 4 is a preprocessing section, 5 is a cutting section, 6 is a cut out input pattern, and 7 is a difference. Degree calculation evil part,
8 is the judgment wind section, 9 is the dissimilarity calculation 'B} section, and 10 is the judgment [
Part B) is constructed such that 11 is a table of standard patterns prepared for each category, and 12 is a table of differential patterns prepared for each set of particularly similar categories. The characters written on the form 1 are photoelectrically converted in an analog manner by a photoelectric converter 2, and converted into black and white binary values by a doji converter 3.

黒・白2値化されたパターンは前処理部で例えばフィル
ターを用いてパターンのノイズ除去やスムージング等を
行ない、切出し部5で文字毎に分離され、パターンレジ
スタ6に格納される。次にパターンレジスタ6と標準パ
ターンテーフル11内の各々の標準パターンと相違度計
算の部7でそれぞれ相違度計算を行なう。相違度計算凶
部7の動作をさらに詳しく説明する。標準パターンMM
の例を第2図に示す。
The black/white binary pattern is subjected to noise removal, smoothing, etc. using a filter, for example, in a preprocessing section, and is separated into characters by a cutting section 5 and stored in a pattern register 6. Next, the pattern register 6 and each standard pattern in the standard pattern table 11 and the difference calculation unit 7 calculate the difference. The operation of the dissimilarity calculation unit 7 will be explained in more detail. Standard pattern MM
An example is shown in Figure 2.

第2図a,bは○のカテゴリーの標準パターンMM(o
)で、第2図aはそれの最小線中標準パターンMM紙)
、bはそれの最大線中標準パターンMM鰭まである。同
様に第2図e,dはMM綿)、MM絵まで表現される。
最小線中標準パターンMM稔)の黒ビット(ビット1)
部分に対応する入力パターンKKの白ビット(ビット0
)部分のビット数と、最大線中標準パターンMM(o)
の白ビット(ビット0)部分に対応する入力パターンK
Kの黒ビット(ビット0)部分のビット数との和が相違
度R(o)となる。R(o)=2KK〔MNA乳十2K
Kn賄賄ふき孝{11次に判定A部8で各カテゴリー毎
の相違度のうち最小のものR(CI)と次に小さいもの
R(C2)との差をとる。
Figure 2 a and b are standard patterns MM (o) for the ○ category.
), and Figure 2 a is its minimum line standard pattern MM paper)
, b is up to its maximum line standard pattern MM fin. Similarly, Figure 2 e and d show MM cotton) and even MM pictures.
Black bit (bit 1) of minimum line standard pattern MM Minoru
The white bit (bit 0) of the input pattern KK corresponding to the part
) part bit number and maximum line standard pattern MM(o)
Input pattern K corresponding to the white bit (bit 0) part of
The sum of the number of bits of the black bit (bit 0) part of K becomes the dissimilarity R(o). R(o)=2KK [MNA breasts 12K
Kn bribery {11 Next, in the judgment A part 8, the difference between the smallest difference R (CI) and the next smallest difference R (C2) for each category is calculated.

その差をあらかじめ設定されたSLIと*比較する。R
(C2)−R(CI)2SLI■ ■式を満足するときは、入力パターンはカテゴリーCI
に属すると判定し、認識過程を終了する。
*Compare the difference with the preset SLI. R
(C2)-R(CI)2SLI■ ■When the formula is satisfied, the input pattern is in the category CI
, and the recognition process is terminated.

■式を満足しない時は未判定とし、次の相違RS。,(
C2)=2(KK[MMSc,‐c2)十Z(KKnR
Sc,(c2)及びRSc2(c,)を計算し、次の判
定‘B)部10へ進む。判定{B}部10での判定の条
件を次式に示す。
■If the formula is not satisfied, it is considered undetermined and the next difference RS is made. ,(
C2) = 2(KK[MMSc, -c2) +Z(KKnR
Sc, (c2) and RSc2 (c,) are calculated, and the process proceeds to the next determination 'B) section 10. The conditions for determination in the determination {B} unit 10 are shown in the following equation.

SL2はあらかじめ設定された値(SL2<0.5)で
ある。RSc,(c2) ミSL1【5)RSC,(
C2)十RSC2(C,) RSc2(cl) ミSL1【61 RSC2(C,)十RSC,(C2) (5’式を満足すれば、カテゴリーCIに属すると*度
計算‘B)部9で差分パターンテーブル12中のカテゴ
リーCIとC2との差分パターンMMS(CI、C2)
を用い相違部分に着目する。
SL2 is a preset value (SL2<0.5). RSc, (c2) MiSL1 [5) RSC, (
C2) 10 RSC2 (C,) RSc2 (cl) Mi SL1 [61 RSC2 (C,) 10 RSC, (C2) (If formula 5' is satisfied, it belongs to category CI *degree calculation'B) Part 9 Difference pattern MMS (CI, C2) between categories CI and C2 in the difference pattern table 12
Focus on the differences using .

差分パターンはあらかじめ用意しておくが、次に示す方
法で作ることができる。差分パターンMMS(CI、C
2)はCIのC2に対する差分パターンMMSc,‐。
Difference patterns are prepared in advance, but they can be created using the following method. Differential pattern MMS (CI, C
2) is the differential pattern MMSc,- for CI to C2.

2と、C2のCIに対する差分パターンMMSc2‐c
,からなる。
2 and the difference pattern MMSc2-c for CI of C2
, consists of.

¥;宣言…=…三≧巻雲三=竿雪;)(3)例として差
分パターンMMS(o、G)を第3図a,bに示す。
¥;Declaration...=...3≧Cirrus 3=Pan Snow;) (3) As an example, the differential pattern MMS(o, G) is shown in FIGS. 3a and 3b.

入力パターンKKにおいて、カテゴリーCIのカテゴリ
ーC2に対する差分相違度RSc,(c2)は次式で示
される。MSC2−C,)‘4} 申判定し、‘6’式を満足すればカテゴリーC2に属す
ると判定し、{5}式も{61式も満足しなければ判定
不能とする。
In the input pattern KK, the differential dissimilarity RSc,(c2) of the category CI with respect to the category C2 is expressed by the following equation. MSC2-C, )'4} If the expression '6' is satisfied, it is determined that it belongs to the category C2, and if neither the {5} expression nor the {61 expression is satisfied, it is determined that the determination is impossible.

このように従来の方法では線中の変動やノイズに対して
も、相違度への影響を少なくし、また判定を2段階にす
ることによって謀読取率を向上させる対策が施されてい
る。
In this manner, in the conventional method, measures are taken to reduce the influence of fluctuations and noise in the line on the degree of dissimilarity, and to improve the reading rate by making the determination in two stages.

しかし型は同じであるが大きさの異なる文字が入力した
場合、相違度R、差分相違度RSに大きく影響する。例
えば第4図のような中のせまし、入力パターンの場合を
考える。R(o)=Z(KKnMNA母十2(KK[M
Mふき孝)=36十22=58R(G)=2(KK[M
NA籍+2(KK〔MM槌ま=33十25=58R(G
)−R(〇)=0 12したがって、判定■部8では未
判定となる。
However, when characters of the same type but different sizes are input, the difference R and the difference difference RS are greatly affected. For example, consider the case of the input pattern shown in FIG. R(o)=Z(KKnMNA mother 12(KK[M
M Fukitaka) = 36 + 22 = 58R (G) = 2 (KK [M
NA registration +2 (KK [MM Tsuchima = 33 + 25 = 58R (G
)-R(〇)=0 12 Therefore, in the determination section 8, the result is undetermined.

次に差分パターンを用いて差分相違度を計算すSL
I=12) る
。RSC,(C2)=Z(KK[MMSc,‐。2)十
2(KK[MMSc2‐c,)=3十2=5RSC2(
C,)=ヱ(KK[MMSC2−。
Next, the SL calculates the difference degree using the difference pattern.
I=12). RSC, (C2)=Z(KK[MMSc,-.2)12(KK[MMSc2-c,)=32=5RSC2(
C,)=ヱ(KK[MMSC2-.

,)十2(KK〔MMSC.−C2)=2十3:5RS
c,(c2) =0.5>0.4RSC2(C,)+
RSC,(C2) となり、やはり未判定となる。
, ) 12 (KK[MMSC.-C2) = 23:5RS
c, (c2) =0.5>0.4RSC2(C,)+
RSC, (C2), and it is still undetermined.

(SL2=0.4)このように、従釆の方法は大きさの
異なる文字を判別するのが困難であるという欠点があっ
た。本発明の目的はこれらの欠点を解決するため、入力
パターンにあわせて、標準パターンを正規化し、それら
を用いて差分パターンを作成し、それらを用いて大きさ
の異なる文字をも良好に判別すZるようにしたもので、
以下詳細に説明する。第6図、第7図、第8図は第1の
実施例である。第6図において、13は帳票、14は光
電変換部、15は量子化部、16は前処理部、17は切
出し部、18は入力パターンレジスタ、19はZ標準パ
ターンテーブル、20‘ま相違度計算■部、21は正規
化パターン、22は登録パターンテーブル、23は登録
部、24は判定の部、25は差分パターン、26は差分
作成部、27は相違度計算【B}部、28は判定【Bー
部である。第7図において、19一1は最4・線中標準
パターン、19一2は最大線中標準パターン、20−1
はアドレス変換テーフル、20一2はアドレス変換、2
0−3−1,20−3−2,20−3−3,20−3−
4はエリア毎の相違度計算部、20一4一1,20一4
−2,20一4−3,20一4一4はエリア毎の相違度
アドレス変換定数のメモリ、20−5−1,20−5−
2,20−5−3,20−5−4はエリア毎の比較部、
20−6は合計部、20一7はアドレス変換部、21一
1は相違度メモリ、21−2は最小線中正現化パターン
、21一3は最大線中正規化パターンである。第8図に
おいて、22−1は第1登録パターンの相違度メモリ、
22一2,22−3は第1登録パターン、22一4は第
2登録パターンの相違度メモリ、22一5,22−6は
第2登録パターン、26一1,26−2は差分作成部、
25一1は第1登録パターンの第2登録パターンに対す
る差分パターン、25−2は第2登録パターンの第1登
録パターンに対する差分パターン、27一1,27−2
は相違度計算部である。帳票13に書かれた文字は従来
の方法と同様にして、光電変換部14、量子化部15、
前処理部16、切出し部17をへて文字毎に分離した黒
・白2値化パターンが入力パターンレジスタ18に入る
。パターンレジスタ18(標準パターン、正規化パター
ン、登録パターン、差分パターンも同様である)は第5
図に示すように横方向(×方向)16ビット、たて方向
(Y方向)24ビットで構成され、図のようにアドレス
づけがされている。点Pのアドレス(×,Y)は(10
,13)で表現される。又パターンレジスタを上下左右
4分割して考え、それぞれエリアA、エリアB、エリア
C、エリアDと呼ぶ。入力パターンのアドレスを(XK
,YK)、標準パターンのアドレスを(×M,Yw)と
する。
(SL2=0.4) As described above, the subordinate method has the drawback that it is difficult to distinguish between characters of different sizes. In order to solve these drawbacks, the purpose of the present invention is to normalize standard patterns according to input patterns, use them to create differential patterns, and use them to effectively discriminate characters of different sizes. It was made to look like Z.
This will be explained in detail below. FIGS. 6, 7, and 8 show the first embodiment. In FIG. 6, 13 is a form, 14 is a photoelectric conversion unit, 15 is a quantization unit, 16 is a preprocessing unit, 17 is an extraction unit, 18 is an input pattern register, 19 is a Z standard pattern table, and 20' is a difference degree. Calculation part, 21 is normalization pattern, 22 is registration pattern table, 23 is registration part, 24 is judgment part, 25 is difference pattern, 26 is difference creation part, 27 is difference calculation [B} part, 28 is Judgment [This is part B. In Figure 7, 19-1 is the maximum 4-line standard pattern, 19-2 is the maximum line standard pattern, 20-1
is address translation table, 20-2 is address translation, 2
0-3-1, 20-3-2, 20-3-3, 20-3-
4 is a difference calculation unit for each area, 20-4-1, 20-4
-2, 20-4-3, 20-4-4 is memory for difference address conversion constants for each area, 20-5-1, 20-5-
2, 20-5-3, 20-5-4 are comparison sections for each area,
20-6 is a summation unit, 20-7 is an address conversion unit, 21-1 is a difference memory, 21-2 is a minimum line normalization pattern, and 21-3 is a maximum line normalization pattern. In FIG. 8, 22-1 is a first registered pattern difference memory;
22-2 and 22-3 are first registered patterns, 22-4 are difference memory for second registered patterns, 22-5 and 22-6 are second registered patterns, and 26-1 and 26-2 are difference creation units. ,
25-1 is a difference pattern between the first registered pattern and the second registered pattern, 25-2 is a difference pattern between the second registered pattern and the first registered pattern, 27-1, 27-2
is a dissimilarity calculation unit. Characters written on the form 13 are processed by a photoelectric conversion unit 14, a quantization unit 15,
A black/white binary pattern separated into characters after passing through a preprocessing section 16 and a cutting section 17 enters an input pattern register 18. The pattern register 18 (standard pattern, normalization pattern, registered pattern, and differential pattern are also the same) is the fifth
As shown in the figure, it consists of 16 bits in the horizontal direction (X direction) and 24 bits in the vertical direction (Y direction), and is addressed as shown in the figure. The address (×, Y) of point P is (10
, 13). Furthermore, the pattern register is divided into four parts, top, bottom, left and right, and these are called area A, area B, area C, and area D, respectively. Enter the address of the input pattern (XK
, YK), and the address of the standard pattern is (×M, Yw).

アドレス変換部20−2で、アドレス変換テーブル20
一1の変換定数△×、AYにより‘7’式で示される変
換を行なう。(XN′,YN′)は変換後のアドレスで
ある。×N′=×M+△× YM′=YM+△Y【71 これは標準パターンを△×、△Yだけシフトした事に相
当する。
The address conversion unit 20-2 uses the address conversion table 20
The conversion shown by the formula '7' is performed using the conversion constants Δ× and AY. (XN', YN') is the address after conversion. ×N'=×M+Δ× YM'=YM+ΔY [71 This corresponds to shifting the standard pattern by Δ× and ΔY.

アドレス変換した標準パターンを用いてエリア毎に入力
パターン15と相違度計算部20一3により【1)式に
示される相違度を計算し、メモリ20一4にそれぞれ格
納する。本実施例では、アドレス変換テーブル20一1
に示される9種の変換定数△×、△Yを用いて同一標準
パターンについて9回相違度計算を行ない、メモリ20
一4に格納する。No.nの変換定数を用いたアドレス
変換によるエリア毎の相違度をRn^,RnB,Rnc
,Rnoと表現する。メモリ20−4一1にはRo^,
R,^,……,R8^、メモリ20−4−2にはROB
,R,B,……,R88,メモリ20一4一3にはRo
c,R,c,……,R8c、メモリ20−4一4にはR
oo,R,o,……,R8。が格納される。次に比較部
20一5ではメモリ20−4にある相違度の大きさをエ
リア毎に比較し、最も小さい相違度をそれぞれR^,R
B,Rc,Roとする。
Using the address-converted standard pattern, the input pattern 15 and the dissimilarity calculation unit 20-3 calculate the dissimilarity shown in equation (1) for each area, and store them in the memory 20-4. In this embodiment, the address translation table 20-1
Dissimilarity calculations were performed nine times for the same standard pattern using the nine types of conversion constants △× and △Y shown in
Store in 14. No. The degree of difference for each area by address conversion using a conversion constant of n is expressed as Rn^, RnB, Rnc
, Rno. Memory 20-4-1 has Ro^,
R, ^, ..., R8^, ROB in memory 20-4-2
, R, B, ..., R88, Ro in memory 20-4-3
c, R, c, ..., R8c, memory 20-4-4 has R
oo, R, o, ..., R8. is stored. Next, the comparison unit 20-5 compares the magnitude of the degree of difference in the memory 20-4 for each area, and selects the smallest degree of difference as R^ and R, respectively.
Let them be B, Rc, and Ro.

合計部20一6で‘8’式の計算を行ない相違度Rを決
定し、相違度メモリ21−1に格納する。RiR^十R
8十Rc+Ro■ 又、アドレス変換部20一7では、比較部20−5で最
小の相違度となる時の変換定数を用いて、エリア毎独立
に標準パターン19−1,19−2をアドレス変換し、
正規化パターン21−2,21一3に格納する。
The summation unit 20-6 calculates the '8' formula to determine the dissimilarity R and stores it in the dissimilarity memory 21-1. RiR^1R
80Rc+Ro■ Also, the address conversion unit 20-7 converts the standard patterns 19-1 and 19-2 into addresses independently for each area using the conversion constant when the degree of difference is the minimum in the comparison unit 20-5. death,
The normalized patterns 21-2 and 21-3 are stored.

これらの操作により、標準パターン19一1,19一2
を入力パターンとの相違度が最小となるように正規化し
た事になる。各カテゴリーについて相違度を計算し、最
小の相違度と次に小さい相違度とそれぞれの正規化パタ
ーンを登録部23により、登録パターンテーフル22に
格納する。
By these operations, standard patterns 19-1, 19-2
is normalized so that the degree of difference from the input pattern is minimized. The degree of difference is calculated for each category, and the minimum degree of difference, the next smallest degree of difference, and the respective normalized patterns are stored in the registered pattern table 22 by the registration unit 23.

次に判定凶部24では登録パターンテーブル23内の第
1登録相違度R(CI)、第2登録相違度R(C2)の
差をあらかじめ設定されたSLIとの間で比較する。
Next, the determination section 24 compares the difference between the first registered dissimilarity R (CI) and the second registered dissimilarity R (C2) in the registered pattern table 23 with a preset SLI.

R(C2)−R(CI)ZSL1【9’ {9}式を満足する時はカテゴリーCIを判定結果とし
認識は終了するが、【9}式を満足しない時次に進む。
R(C2)-R(CI)ZSL1[9' When the expression {9} is satisfied, the recognition is terminated using the category CI as the determination result, but when the expression [9} is not satisfied, the process proceeds to the next step.

差分作成部26−1では第1登録文字の最小線中パター
ン(MM艦1))22−3と第2登録文字の最大線中パ
ターン(MM給蔓))22一6とから差分パターンMM
Sc,−。2を【3’式に従って作成し、.差分パター
ンレジスタ25一1に格納する。
The difference creation unit 26-1 creates a difference pattern MM from the minimum line pattern (MM ship 1)) 22-3 of the first registered character and the maximum line pattern (MM supply line) 22-6 of the second registered character.
Sc,-. 2 according to formula [3', . It is stored in the differential pattern register 25-1.

同様にして‘31式に従ってMMSc2‐c,を作成し
、差分パターンレジスタ25−2に格納する。これら正
規化された登録パターン22より作成した差分パターン
25を用い、従釆の方法と同様にして、相違度計算部2
7一1,27一2で差分相違度RSc,(c2),RS
c2(c,)を計算する(第‘4ー式参照)。
Similarly, MMSc2-c is created according to the '31 formula and stored in the differential pattern register 25-2. Using the difference patterns 25 created from these normalized registered patterns 22, the difference calculation unit 2
7-1, 27-2, differential dissimilarity RSc, (c2), RS
Calculate c2(c,) (see equation '4).

次に判定(B)部28では、従釆の方法と同機にして、
‘5}式を満足すればカテゴリーCIを判定保留とし、
‘6’式を満足すればカテゴリーC2を判定結果とし、
{5)式も【6)式も満足しなければ判定不能とする。
以上説明したように第1の実施例では入力パターンにあ
わせて標準パターンを正規化し相違度を計算し、かつま
たそれら正規化された標準パターンから、その都度差分
パターンを作成するため、入力パターンの大きさが異な
ってもそれに適した差分パターンとなる。以下例を用い
て説明する。第4図のような入力パターンの場合を考え
る。第2図に示すカテゴリー○とカテゴリーGの標準パ
ターンとの変換定数毎、エリア毎の相違度は第1表に示
すようになる。第1表 △印が各エリア毎最小の相鬼夏を示している。
Next, in the determination (B) section 28, using the same method as the subordinate method,
If formula '5} is satisfied, category CI is put on hold,
If formula '6' is satisfied, category C2 is determined as the result,
If both equation {5) and equation (6) are not satisfied, the determination cannot be made.
As explained above, in the first embodiment, the standard pattern is normalized according to the input pattern, the degree of dissimilarity is calculated, and the difference pattern is created each time from the normalized standard pattern. Even if the sizes are different, the difference pattern will be suitable. This will be explained below using an example. Consider the case of an input pattern as shown in FIG. Table 1 shows the degree of difference between the standard pattern of category ○ and category G shown in FIG. 2 for each conversion constant and area. The △ mark in Table 1 indicates the minimum Aokika in each area.

(同じ相異度の場合、変換定数修の/一・さい方を優先
する。)R(o)=6十0十1十1=8* * Rio)=6(No.1) Rさ。
(In the case of the same degree of dissimilarity, give priority to the /1 size of the conversion constant.) R(o) = 610111 = 8 * * Rio) = 6 (No. 1) R.

)=。くN。‐1)Rさ。)=. KuN. -1) R.

)=・(N。‐5)Rも。)=・(N.-5)R too.

):・くN。‐5>R(G)=6十0十9十3=18 R各G)=6(N。):・kuN. -5>R(G)=610193=18 R each G)=6(N.

‐1)RきG)=。-1)R+G)=.

(N。‐1) ** RきG)=9
(No.5)RもG):3(N。
(N.-1) ** R + G) = 9
(No. 5) R also G): 3 (N.

‐5)R(G)−R(0)=10<SLI この時の第2図の○,Gの標準パターンの正規化パター
ンを第9図に示す。
-5) R(G)-R(0)=10<SLI In this case, the normalized pattern of the standard pattern of ○ and G in FIG. 2 is shown in FIG.

R(o),R(G)の差より判定脚部ではまだ未判定0
である。
Due to the difference between R(o) and R(G), the judgment leg is still undetermined as 0.
It is.

次に第9図の正規化パターンを用いて差分パターンを作
成すると第10図のようになる。
Next, when a difference pattern is created using the normalized pattern shown in FIG. 9, it becomes as shown in FIG. 10.

RS。R.S.

(G)=2(KK〔MMS。‐G)十2(KKnMMS
c‐o)=0十0=ORSG(。)=Z(KK[MMS
G−。)十2(KKnMMS。‐G)=4十6=10R
S。(G) − 0RS。
(G)=2(KK[MMS.-G)12(KKnMMS
c-o)=010=ORSG(.)=Z(KK[MMS
G-. ) 12 (KKnMMS.-G) = 4 16 = 10R
S. (G) - 0RS.

(G)+RSG(〇)杭苅o=0<0.4従ってこの入
力パターンは0と正しく判定され2る。第3図の差分パ
ターンと第10図の差分パターンを比較するとわかるよ
うに、第10図の差分パターンは入力パターンの大きさ
に通したものになっていることがわかる。
(G) + RSG (〇) Pile Kario = 0 < 0.4 Therefore, this input pattern is correctly determined to be 0 and is 2. As can be seen by comparing the difference pattern in FIG. 3 and the difference pattern in FIG. 10, it can be seen that the difference pattern in FIG. 10 is a pattern that matches the size of the input pattern.

このように大きさの異な2る入力パターンに対して最適
な差分パターンを得て、正しく判定することができる。
なお、この実施例では、パターンレジスタを4分割して
考えたが、入力する文字の性質により分割の数をふやし
てもへらしてもよい。
In this way, it is possible to obtain an optimal difference pattern for two input patterns of different sizes, and to make a correct determination.
In this embodiment, the pattern register is divided into four parts, but the number of divisions may be increased or decreased depending on the nature of the characters to be input.

たとえば、入力パターンが高さは異なる可能性があるが
、中はほとんど変化しないことが期待できる場合、上下
2分割するだけで所定の効果が得られる。
For example, if the input pattern may have different heights, but it is expected that the inside will hardly change, a predetermined effect can be obtained simply by dividing the input pattern into upper and lower halves.

又差分パターンの作り方の‘3’式に限らずかつ又差分
相違度は【4}式に限らない。
Further, the method of creating the difference pattern is not limited to the '3' formula, and the difference degree is not limited to the [4] formula.

又判定(B}部では差分相違度だけでなく相違度計算風
部での相違度をも考慮に入れて判定してもよい。
Further, in the determination (B) section, the determination may be made taking into consideration not only the difference degree of difference but also the degree of difference in the degree of difference calculation section.

又第1の実施例でのアドレス変換テーブルの変換定数の
種類の数は9種類に限らず、入力パターンの性質にあわ
せてへらしたりふやしたりしてもよい。
Further, the number of types of conversion constants in the address conversion table in the first embodiment is not limited to nine types, but may be decreased or increased according to the nature of the input pattern.

又すべてのカテゴリーについて本発明の実施を行なう前
にあらかじめ対象カテゴリーをいまつておいてもよい。
Further, target categories may be prepared in advance before implementing the present invention for all categories.

その方法は従釆例における相違度計算■部における相違
度を用いてもよいし、公知の方法を用いてもよい。そう
することにより特に第1の実施例の場合には判定時間を
短縮することが可能である。本発明は入力パターンの大
きさに適した標準パターンと差分パターンを作り出し、
それを用いて判定するため、文字大きさの変動を吸収で
きる利点がある。
The method may use the dissimilarity degree in the dissimilarity calculation part (2) in the dependent example, or a known method may be used. By doing so, it is possible to shorten the determination time, especially in the case of the first embodiment. The present invention creates a standard pattern and a differential pattern suitable for the size of the input pattern,
Since this is used to make the determination, there is an advantage that variations in font size can be absorbed.

ドットプリンタはいくつかのドットで文字を構成するた
め、通常の母型活字プリンタに比べて、全体的な文字高
さが変化しやすい。それ故、本発明はドット文字の認識
に利用することがきる。
Because dot printers make up characters using several dots, the overall character height is more likely to change than with regular printers. Therefore, the present invention can be used to recognize dot characters.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来のパターン認識装置のブロック図、第2図
、第3図はその説明図である。 第6図、第7図、第8図は本発明の第1の実施例のブロ
ック図、第4図、第5図、第9図、第10図はその説明
図である。1・・・・・・帳票、2・・・・・・光電変
換部、3…・・・量子化部、4・・・・・・前処理部、
5・・・・・・切出し部、6・・・・・・入力パターン
レジスタ、7・・・・・・相違度計算脚部、8・・・・
・・判定■部、9・・・・・・相違度計算{B}部、1
0・・・・・・判定脚部、11・・・・・・標準パター
ンテーブル、12・・・・・・差分パターンテーブル、
13・・・・・・帳票、14・・・・・・光電変換部、
15・・・・・・量子化部、16・・・・・・別処理部
、17・・・・・・切出し部、18…・・・入力パター
ンレジスタ、19・・・・・・標準パターンテーブル、
19−1・・・・・・最小線中標準パターン、19一2
・・・・・−最大線中標準パタ山ン、20・・・・・・
相違度計算の部、20−1・・・・・・アドレス変換テ
ーフル、20−2・・・・・・アドレス変換部、20−
3−1,20一3−2,20一3−3,20一3−4・
・…・相違度計算部、20−4−1,20一4−2,2
0一4−3,20−4−4……メモリ、20−5一1,
20一5−2,20一5−3,20−5一4・・・・・
・比較部、20一6・・・・・・合計部、20一7・・
・・・・アドレス変換部、20−8・・・・・・文字枠
計算部、21・・・…正規化パターン部、21−1・…
・・相違度メモリ、21一2・・・・・・最小線中正親
化パターン、21−3・・・…最大線中正親化パターン
、22・・・・・・登録パターン部、22−1……第1
登録文字相違度メモリ、22−2……第1登録文字最小
線中パターン、22一3・・…・第1登録文字最大線中
パターン、22−4・・・・・・第2登録文字相違度メ
モリ、22−5・・・・・・第2登録文字最4・線中パ
ターン、22−6・・・・・・第2登録文字最大線中パ
ターン、23・・・・・・登録部、24・・・・・・判
定の部、25・・・・・・差分パターン部、25−1,
25一2・・・・・・差分パターン、26,26−1,
26一2・…・・差分作成部、27・・・・・・相違度
計算【B}部、27一1,27一2・・・・・・相違度
計算部、28・・・・・・判定‘B}部。 第1図第2図 第3図 第4図 第5図 第6図 第7図 第8図 第10図 第9図
FIG. 1 is a block diagram of a conventional pattern recognition device, and FIGS. 2 and 3 are explanatory diagrams thereof. 6, 7, and 8 are block diagrams of the first embodiment of the present invention, and FIGS. 4, 5, 9, and 10 are explanatory diagrams thereof. 1... Form, 2... Photoelectric conversion section, 3... Quantization section, 4... Pre-processing section,
5... Cutting section, 6... Input pattern register, 7... Difference calculation leg, 8...
...Judgment ■ part, 9...Difference calculation {B} part, 1
0... Judgment leg, 11... Standard pattern table, 12... Differential pattern table,
13... Ledger, 14... Photoelectric conversion section,
15...Quantization unit, 16...Separate processing unit, 17...Cutout unit, 18...Input pattern register, 19...Standard pattern table,
19-1・・・Minimum line medium standard pattern, 19-2
・・・・・・-Maximum line medium standard pattern mountain, 20・・・・・・
Difference calculation section, 20-1... Address translation table, 20-2... Address translation section, 20-
3-1, 20-3-2, 20-3-3, 20-3-4・
...Dissimilarity Calculation Department, 20-4-1, 20-4-2, 2
0-4-3, 20-4-4...Memory, 20-5-1,
20-5-2, 20-5-3, 20-5-4...
・Comparison section, 20-16... Total section, 20-17...
... Address conversion section, 20-8... Character frame calculation section, 21... Normalization pattern section, 21-1...
...Difference memory, 21-2...Minimum line positive parent pattern, 21-3...Maximum line positive parent pattern, 22...Registered pattern section, 22-1 ...First
Registered character difference memory, 22-2...First registered character minimum line pattern, 22-3...First registered character maximum line pattern, 22-4...Second registered character difference degree memory, 22-5... Second registered character maximum 4 in-line pattern, 22-6... Second registered character maximum in-line pattern, 23... Registration section , 24... Judgment section, 25... Difference pattern section, 25-1,
25-2...Difference pattern, 26, 26-1,
26-2... Difference creation section, 27... Dissimilarity calculation [B} section, 27-1, 27-2... Dissimilarity calculation section, 28...・Judgment 'B} part. Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 5 Figure 6 Figure 7 Figure 8 Figure 10 Figure 9

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 入力パターンと複数のアドレス変換定数に応じてア
ドレス変換された各標準パターンとの相違度を各エリア
毎に計算し、各エリア毎に最小の相違度を選択してそれ
らの合計を各前記標準パターンの相違度として一旦格納
し、且つ各エリア毎に最小の相違度を与えるアドレス変
換定数を用いて、各エリア毎に標準パターンをアドレス
変換することによって正規化パターンを作成して一旦格
納する第1手段18,19,20,21と、前記標準パ
ターンの前記相違度に基づいて各カテゴリーの相違度を
計算して、最小の相違度と次に小さい相違度を与えるカ
テゴリーとの、当該相違度と正規化パターンとを格納す
る第2手段22,23と、2つの前記カテゴリーの前記
相違度が予め定められた形式の条件を満足しない場合に
、各一方の前記カテゴリーの最小線幅に対応した前記正
規化パターンと各他方の前記カテゴリーの最大線幅に対
応した前記正規化パターンとの差分パターンをそれぞれ
作成し、各当該差分パターンと前記入力パターンとの相
違度を差分相違度としてそれぞれ計算する第3手段25
,26,27とを備え、2つの前記差分相違度が予め定
められた形式の条件を満した場合に2つの前記カテゴリ
ーの一方を前記入力パターンのカテゴリーと判定するこ
とを特徴としたパターン認識装置。
1 Calculate the degree of difference between the input pattern and each standard pattern whose address has been converted according to a plurality of address conversion constants for each area, select the minimum degree of difference for each area, and calculate the sum of the differences for each standard pattern. The standard pattern is stored once as the degree of pattern difference, and a normalized pattern is created by converting the address of the standard pattern for each area using an address conversion constant that gives the minimum degree of difference for each area. 1 means 18, 19, 20, 21, and the degree of difference between the minimum degree of difference and the category giving the next smallest degree of difference by calculating the degree of difference of each category based on the degree of difference of the standard pattern; and a normalized pattern; and second means 22, 23 for storing a normalization pattern corresponding to the minimum line width of each one of the categories when the degree of dissimilarity between the two categories does not satisfy a predetermined format condition. Create difference patterns between the normalized pattern and the normalized pattern corresponding to the maximum line width of each of the other categories, and calculate the degree of difference between each of the difference patterns and the input pattern as a difference degree. Third means 25
, 26, and 27, and determines one of the two categories as the category of the input pattern when the two differential dissimilarities satisfy a predetermined format condition. .
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JPH02303319A (en) * 1989-05-15 1990-12-17 Matsushita Electric Works Ltd Surge protective circuit

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