JPS6037997B2 - CMOS type mask ROM - Google Patents
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C17/00—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
- G11C17/08—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements
- G11C17/10—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM
- G11C17/12—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM using field-effect devices
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はホトマスクを使用して記憶内容をつくり込む、
相補型MOS論出し専用記憶装置(以CMOSマスクR
OMという。[Detailed Description of the Invention] The present invention uses a photomask to create memory contents.
Complementary MOS logical logic storage device (hereinafter referred to as CMOS mask R)
It's called OM.
)のチップセレクト信号を発生するチップセレクトデコ
ーダ回路の低消費電力化、製造工程及び回路の簡素化を
はかったCMOS型マスクROMに関するものである。
ROMのチップセレクト信号は、ROM内のチップを選
択する機能を持っている。即ち、チップセレクトされて
いるチップのみが外部信号に応答して動作可能となる。
外部から供給されるチップセレクト信号は1本又は複数
本(以下多入力外部チップセレクト信号という。)で構
成されており、複数の場合デコーダを用いて任意の1つ
の組合せを作り、この組合せによってのみチップが選択
されるようなチップセレクト信号が作られ、この信号に
よってメモリ部の動作が可能となる。第1図は、CMO
SマスクROMのチップセレクト信号を発生する従来型
のチップセレクトデコ−ダ回路を示す。This invention relates to a CMOS type mask ROM in which the chip select decoder circuit that generates the chip select signal (2) has low power consumption, and the manufacturing process and circuit are simplified.
The ROM chip select signal has the function of selecting a chip within the ROM. In other words, only the selected chip becomes operable in response to an external signal.
The chip select signal supplied from the outside consists of one or more signals (hereinafter referred to as multi-input external chip select signals). If there are multiple signals, a decoder is used to create an arbitrary combination, and only this combination can be used. A chip select signal is generated to select a chip, and this signal enables the memory section to operate. Figure 1 shows the CMO
1 shows a conventional chip select decoder circuit that generates a chip select signal for an S mask ROM.
101,102は外部チップセレクト信号CP1,CS
2を、1 03,1 04はCMOSインバータを、1
05,106はインバータ出力ラインを、107〜11
川ま2入力AND回路を、1 11〜114は2入力A
ND回路出力ラインを、115〜118はNチャネルト
ランジスタを、119は常時導通のPチャネルトランジ
スタを、12川まチップセレクト信号ラインCSをそれ
ぞれ示す。101 and 102 are external chip select signals CP1 and CS
2, 1 03, 1 04 are CMOS inverters, 1
05 and 106 are inverter output lines, 107 to 11
Kawama 2 input AND circuit, 1 11 to 114 are 2 input A
ND circuit output lines, 115 to 118 are N-channel transistors, 119 is a normally conductive P-channel transistor, and 12 are chip select signal lines CS, respectively.
外部チップセレクト信号(CSI)101はィンバータ
103と2入力AND回路1 08,1 10の1つの
入力に入っており、他の外部チップセレクト信号(CS
2)102はィンバータ104と2入力AND回路10
9,1 10の1つの入力に入っている。An external chip select signal (CSI) 101 is input to an inverter 103 and one input of a two-input AND circuit 1 08, 1 10, and is connected to the other external chip select signal (CS
2) 102 is an inverter 104 and a 2-input AND circuit 10
It is in one input of 9,1 10.
インバータ103の出力ライン105は2入力AND回
路1 07,109の1つの入力に入っており、インバ
ータ104の出力ライン106は2入力AND回路10
7,108の1つの入力に入つている。The output line 105 of the inverter 103 is input to one input of the 2-input AND circuit 107, 109, and the output line 106 of the inverter 104 is input to the 2-input AND circuit 107, 109.
7,108 into one input.
2入力AND回路107〜110の出力ライン111〜
114はそれぞれ対応するNチャネルトランジスタ11
5〜118のゲート電極に接続されている。Output lines 111 to 2-input AND circuits 107 to 110
114 are respective N-channel transistors 11;
5 to 118 gate electrodes.
Nチャネルトランジスタ115〜118のドレィン電極
はチップセレクト信号ライン(CS)120に、ソース
電極はアースラインにそれぞれ接続されている。ゲート
電極が接地されたPチャネルトランジスタ119のソー
ス電極は電源Vooに、ドレィン電極はチップセレクト
信号ライン120に接続されている。この回路は外部チ
ップセレクト信号(CS1,CS2)101,102の
ある特定の組合せに対してチップセレクト信号ライン1
20の信号レベルが“山w”となるよう動作する。The drain electrodes of N-channel transistors 115 to 118 are connected to a chip select signal line (CS) 120, and the source electrodes are connected to a ground line. The source electrode of the P-channel transistor 119 whose gate electrode is grounded is connected to the power supply Voo, and the drain electrode is connected to the chip select signal line 120. This circuit operates on the chip select signal line 1 for a certain combination of external chip select signals (CS1, CS2) 101, 102.
It operates so that the signal level of 20 becomes "mountain w".
そしてこの時メモリ部回路の動作が可能となる。特定の
組合せを決めるための回路は、ィンバ−夕103,10
4,2入力AND回路107〜11川こよって構成され
ている。外部チップセレクト信号(CS1,CS2)1
01,102と出力ライン111〜114のレベルの関
係を表1に示す。表 1
0:MLowM レベル
1:HHigh”レベル
外部チップセレクト信号(CS1,CS2)101,1
02がCSI=1,CS2=0の組合せの場合にのみチ
ップセレクト信号ライン(CS)120が“Ww”レベ
ルになるようにするには、ゲ‐トマスクにより、Nチヤ
ネルトランジスタ115,117,118のゲート部に
ボロンをイオン注入しトランジスタを不活性とするよう
な構成にすれば良い。At this time, the memory circuit becomes operable. A circuit for determining a specific combination includes inverters 103 and 10.
It is composed of 4, 2-input AND circuits 107 to 11. External chip select signal (CS1, CS2) 1
Table 1 shows the relationship between the levels of 01 and 102 and the output lines 111 to 114. Table 1 0: MLowM level 1: HH" level external chip select signal (CS1, CS2) 101, 1
In order for the chip select signal line (CS) 120 to be at the "Ww" level only when 02 is a combination of CSI=1 and CS2=0, the N-channel transistors 115, 117, and 118 are A configuration may be adopted in which boron ions are implanted into the gate portion to render the transistor inactive.
このようにすると、トランジスタ116のみがトランジ
スタとして成立ち、Pチャネルトランジスタ119との
対になる。In this way, only transistor 116 functions as a transistor and becomes a pair with P-channel transistor 119.
これにより2入力AND回路1 08の出力ライン1
12が“Hj亀”レベルになると、Nチヤネルトランジ
スタ116が導通し、この結果チップセレクト信号ライ
ン(CS)120が“Low”レベルとなり、メモリ部
の動作を可能にする。十分な“Ww”レベルを確保する
ためには、Pチャネルトランジスタ119の導通抵抗R
PがNチャネルトランジスタ115〜118の導通抵抗
RNに鮫で十分に大きくなるようにする必要がある。C
SI=1,CS2=0以外の組合せでは、Nチャネルト
ランジスタ116は非導通であり、他のトランジスタ1
15,117,118ももちろん導通しないので、チッ
プセレクト信号ライン(CS)120は“Hj軌”レベ
ルのままである。As a result, the output line 1 of the 2-input AND circuit 108
12 becomes the "Hj turtle" level, the N-channel transistor 116 becomes conductive, and as a result, the chip select signal line (CS) 120 becomes the "Low" level, allowing the memory section to operate. In order to ensure a sufficient "Ww" level, the conduction resistance R of the P channel transistor 119 must be
It is necessary to ensure that P is large enough to match the conduction resistance RN of the N-channel transistors 115 to 118. C
In combinations other than SI=1 and CS2=0, the N-channel transistor 116 is non-conductive and the other transistor 116 is non-conductive.
15, 117, and 118 are also not conductive, so the chip select signal line (CS) 120 remains at the "Hj orbit" level.
このように、ゲートマスクによりチップセレクト信号ラ
イン120を‘‘山w’1レベルにする外部チップセレ
クト信号(CS1,CS2)101,102の組合せが
選択できる。,したがって、Nチャネルトランジスタが
導通した場合、Pチャネルトランジスタの導通抵抗RP
とNチャネルトランジスタの導通抵抗RNのシリーズ抵
抗RP+RNが電源Vooと接地間に入ることになる。In this way, the combination of external chip select signals (CS1, CS2) 101 and 102 that brings the chip select signal line 120 to the ``peak w''1 level can be selected using the gate mask. , Therefore, when the N-channel transistor conducts, the conduction resistance RP of the P-channel transistor
The series resistance RP+RN of the conduction resistance RN of the N-channel transistor is inserted between the power supply Voo and the ground.
このためVDo/(RP+RN)の電流が流れるが、こ
の電流値はVoo=W,RP=100kQ,RN=1血
○とすると約50rAとなる。このように従来型のチッ
プセレクトデコーダ回路ではチップセレクト時にスタン
バイ電流が流れるのでCMOS回路の特徴である低消費
電力化がはかれないという欠点があった。本発明は、チ
ップセレクト時にスタンバイ電流が流れることのない回
路構成とすることにより低消費電力化をはかるとともに
、単一のマスクを用いてチップセレクトデコーダ回路部
とメモリ部のトランジスタのゲートに、同一工程でイオ
ン注入を行うことにより製造工程の簡素化をはかり、さ
らに回路素子数をも低減せしめたものである。Therefore, a current of VDo/(RP+RN) flows, and the current value is about 50 rA, assuming Voo=W, RP=100 kQ, and RN=1 blood. As described above, in the conventional chip select decoder circuit, a standby current flows when a chip is selected, so that the low power consumption, which is a characteristic of a CMOS circuit, cannot be achieved. The present invention aims to reduce power consumption by creating a circuit configuration in which no standby current flows during chip selection, and also uses a single mask to connect the gates of transistors in the chip select decoder circuit section and the memory section to the same gate. By performing ion implantation in the process, the manufacturing process is simplified and the number of circuit elements is also reduced.
以下詳細に説明する。第2図に本発明に係るチップセレ
クトデコーダ回路の一実施例を示す。This will be explained in detail below. FIG. 2 shows an embodiment of a chip select decoder circuit according to the present invention.
この実施例では図示されないメモリ部のセルはNチャネ
ルトランジスタ、同様に図示されていない他の周辺回路
はCMOSトランジスタで構成されている。201,2
02は外部チップセレクト信号CSI0,S20を、2
03,204はCMOSインバータを、205,206
はインバータ出力ラインを、207〜210はゲートへ
のイオン注入が可能なPチャネルトランジスタを、21
1〜214はゲートへのイオン注入が可能なNチャネル
トランジスタを、220はチップセレクト信号ラインC
Sをそれぞれ示す。In this embodiment, cells in the memory section (not shown) are constructed of N-channel transistors, and other peripheral circuits (also not shown) are constructed of CMOS transistors. 201,2
02 is the external chip select signal CSI0, S20,
03,204 is a CMOS inverter, 205,206
is the inverter output line, 207 to 210 are P-channel transistors whose gates can be implanted with ions, and 21 is the inverter output line.
1 to 214 are N-channel transistors whose gates can be implanted with ions, and 220 is a chip select signal line C.
S is shown respectively.
メモリ部へのデータの書き込みは、ゲートマスクを用い
てボロソをイオン注入することにより行なわれる。即ち
ゲート部にボロンを注入されたトランジスタはしきい値
VTNが高高くなり、通常の使用状態では非導通となる
。この時同じ工程で、Pチャネルトランジスタ207〜
210とNチャネルトランジスタ211〜214のゲー
ト部へもボロン注入を行なえば、そのマスクの構成によ
り、Pチャネルトランジス外ま通常動作のェンハンスメ
ント型と注入により常時ON状態のディプレツション型
、Nチャネルトランジスタは通常動作のェンハンスメン
ト型と注入により常時OFF状態の消去型トランジスタ
とにわかれる。外部チップセレクト官CMOSインバ−
夕203の入力、Pチャネルトランジスタ209のゲー
ト電極、Nチャネルトランジスタ212のゲート電極に
それぞれ接続され、インバータ出力ライン205はPチ
ャネルトランジスタ210のゲート電極、Nチャネルト
ランジスタ2;4のゲート電極に接続されている。Data is written into the memory section by implanting borosilicate ions using a gate mask. That is, a transistor whose gate part is implanted with boron has a very high threshold voltage VTN, and becomes non-conductive in normal use. At this time, in the same process, P channel transistors 207~
If boron is implanted into the gates of 210 and N-channel transistors 211 to 214, depending on the structure of the mask, an enhancement type transistor that operates normally outside the P channel transistor, and a depletion type N channel transistor that is always ON due to the implantation. There are two types of transistors: enhancement type transistors that operate normally and erase type transistors that are always OFF due to implantation. External chip selector CMOS inverter
The inverter output line 205 is connected to the gate electrode of the P-channel transistor 210 and the gate electrode of the N-channel transistor 2;4. ing.
他の外部チップセレクト信号(CS20)202はCM
OSインバータ204の入力、Pチャネルトランジスタ
207のゲート電極、Nチャネルトランジスタ211の
ゲート電極にそれぞれ接続され、インバータ出力ライン
206はPチャネルトランジスタ208のゲート電極、
Nチャネルトランジスタ212のゲート電極に接続され
ている。Pチャネルトランジスタ207〜212は電源
(V。。)とチップセレクト信号出力ライン(CS)2
20の間にシリーズ接続されており、Nチャネルトラン
ジスタ211/214はチップセレクト信号ライン(C
S)220と接地間にパラレル接続されている。外部チ
ップセレクト信号(CSI0,CS20)201,20
2とチップセレクト信号発生回路用Pチャネルトランジ
スタ207/210、Nチヤネルトランジスタ211〜
214のボロン没入用ゲートマスクの有無の組合せを表
2に示す。表 2
無:ボロン注入用ゲ−トマスクをし
有: 〃 〃 有り
第3図はCS20=0,CSIO=1のときのチップが
選択されるようにボロン注入用ゲートスクが用意された
場合のトランジスタ構成を示したものである。Other external chip select signal (CS20) 202 is CM
The inverter output line 206 is connected to the input of the OS inverter 204, the gate electrode of the P-channel transistor 207, and the gate electrode of the N-channel transistor 211, and the inverter output line 206 is connected to the gate electrode of the P-channel transistor 208,
It is connected to the gate electrode of N-channel transistor 212. P-channel transistors 207 to 212 are connected to the power supply (V..) and chip select signal output line (CS) 2
20, and the N-channel transistors 211/214 are connected to the chip select signal line (C
S) 220 and ground in parallel. External chip select signal (CSI0, CS20) 201, 20
2, P-channel transistors 207/210 for the chip select signal generation circuit, and N-channel transistors 211 to 210.
Table 2 shows the combinations of No. 214 with and without a gate mask for boron immersion. Table 2 No: With gate mask for boron implantation: With: Yes Figure 3 shows the transistor configuration when a gate mask for boron implantation is prepared so that the chip is selected when CS20=0 and CSIO=1. This is what is shown.
Pチヤネルトランジスタ207,210はエンハンスメ
ント型となり、208,209はデイプレッション型で
抵抗と等価となる。The P-channel transistors 207 and 210 are of the enhancement type, and the transistors 208 and 209 are of the depletion type and are equivalent to resistors.
またNチャネルトランジスタ211,214はエンハン
スメント型、212,213は消去される。この結果、
回路は2入力NOR構成となる。第4図はおの場合の等
価回路を、第5図は論理記号で同様の構成を示したもの
である。従ってCS20=0,CSIO=1のときのみ
チップセレクト信号ライン(CS)220は“Hi熱”
レベルとなり、他の組合せのときは“Low”レベルと
なる。チップセレクト信号ライン(CS)220が“H
i鮒”レベルのときのみメモリ部が動作するようにして
おけばROMのチップセレクトが可能となる。第6図は
CS20=1,CSIO=1のときのみチップセレクト
信号が“High”レベルになるようにポロン注入用ゲ
ートマスクを構成した場合の等価回路を、第7図はその
論理記号式を示す。いずれの構成の場合もチップセレク
ト時にスタンバイ電流は流れない。以上説明したように
、第1の実施例ではROMのメモリ部がNチャネルトラ
ンジスタで構成されている場合にそのデータ書込み時に
周辺回路内のチップセレクトデコーダ回路部のPチャネ
ル、Nチャネルトランジスタに同時に選択イオン注入を
行って2入力NOR回路を作り出すことにより、スタン
バイ電流をなくし、回路の消費電流を低域出来る利点が
ある。またチップセレクトデコーダ回路の作成はメモリ
ー部の書込みと同時になされるため余分のマスクを必要
とせず製造工程の簡素化をはかれるという利点もある。
さらに第1図と第2図を比較すると第2図の方が素子数
が少なく、回路の簡略化もはかれる。しかも回路の拡張
性は第2図の方がすぐれている。なお第1の実施例に於
いては2入力の外部チップセレクト信号を用いた場合に
ついて説明したが、外部チップセレクト信号は3以上の
場合でも同様であり、この場合2入力NORを構成する
ことになる。第1の実施例はメモリー部がNチャネルト
ランジスタで構成されている場合について説明したが、
メモリ部がPチャネルトランジスタで構成されている場
合についても第1の実施例と同様の効果を生ずるように
実現することが出釆る。Further, N-channel transistors 211 and 214 are of enhancement type, and N-channel transistors 212 and 213 are erased. As a result,
The circuit has a 2-input NOR configuration. FIG. 4 shows an equivalent circuit in each case, and FIG. 5 shows a similar configuration using logic symbols. Therefore, only when CS20=0 and CSIO=1, the chip select signal line (CS) 220 becomes "Hi heat".
For other combinations, the level is "Low". Chip select signal line (CS) 220 is “H”
If the memory section is set to operate only when the signal is at the "i" level, it becomes possible to select the ROM chip. In Figure 6, the chip select signal becomes "High" level only when CS20 = 1 and CSIO = 1. Figure 7 shows the equivalent circuit when the gate mask for poron injection is configured as shown in FIG. In this embodiment, when the memory section of the ROM is composed of N-channel transistors, when data is written, selective ion implantation is simultaneously performed into the P-channel and N-channel transistors of the chip select decoder circuit section in the peripheral circuit to create a 2-input NOR. Creating a circuit has the advantage of eliminating standby current and lowering the current consumption of the circuit.Also, since the chip select decoder circuit is created at the same time as writing to the memory section, no extra mask is required and the manufacturing process can be simplified. There is also the advantage of simplification.
Furthermore, when comparing FIG. 1 and FIG. 2, the number of elements in FIG. 2 is smaller, and the circuit can be simplified. Moreover, the expandability of the circuit shown in FIG. 2 is better. In the first embodiment, a case was explained in which two input external chip select signals were used, but the same applies even if there are three or more external chip select signals, and in this case, a two input NOR is configured. Become. In the first embodiment, the case where the memory section is composed of N-channel transistors has been explained.
Even in the case where the memory section is composed of P-channel transistors, it is possible to achieve the same effects as in the first embodiment.
この場合メモリ部へのデータの書き込みは、ボロンのか
わりにリンをイオン注入することにより行なわれる。こ
の時同じ工程でチップセレクトデコーダ回路部内の所定
のPチャネルトランジスタとNチヤネルトランジスタの
ゲート部へもリン注入を行なえば、そのマスク構成によ
り、Pチャネルトランジスタは通常動作のェンハンスメ
ント型と注入により常時OFF状態の消去型に、Nチャ
ネルトランジス外ま通常動作のヱンハンスメント型と注
入により常時ON状態のディプレッション型に分かれる
。第8図はこのようにして構成された本発明に係るチッ
プセレクトデコーダ回路の他の実施例を示したものであ
る。807〜810,811〜814はそれぞれゲート
へのイオン注入が可能なPチャネルトランジスタ、Nチ
ャネルトランジスタを示し、820はチップセレクト信
号ラインCSを示す。In this case, data is written into the memory section by ion-implanting phosphorus instead of boron. At this time, if phosphorus is also implanted into the gates of predetermined P-channel transistors and N-channel transistors in the chip select decoder circuit section in the same process, the mask configuration allows the P-channel transistors to be always turned off due to the enhancement mode of normal operation and the implantation. The state erasure type is divided into an enhancement type in which the N-channel transistor normally operates outside the transistor, and a depletion type in which the state is always on due to injection. FIG. 8 shows another embodiment of the chip select decoder circuit according to the present invention constructed in this manner. 807 to 810 and 811 to 814 respectively indicate P-channel transistors and N-channel transistors whose gates can be implanted with ions, and 820 indicates a chip select signal line CS.
本回路に於いては第1の実施例の場合と異なり、外部チ
ップセレクト信号(CSI0,CS20)201,20
2の組合せによってチップセレクト信号ライン820を
“Low”レベルにして、メモリ部の回路動作を可能に
する。In this circuit, unlike the first embodiment, external chip select signals (CSI0, CS20) 201, 20
The combination of 2 sets the chip select signal line 820 to "Low" level and enables the circuit operation of the memory section.
第9図はCS20=0,CSIO=1の時のみチップが
選択されるようにリン注入用ゲートマスクが用意された
場合のトランジスタ構成を示したものである。FIG. 9 shows a transistor configuration when a gate mask for phosphorus injection is prepared so that a chip is selected only when CS20=0 and CSIO=1.
この場合回路は2入力NAND構成となる。第10図は
この場合の等価回路を、第11図は論理記号で同機の構
成を示したものである。外部チップセレクト信号が2以
上の場合には、多入力NAND回路となる。本発明はゲ
ートイオン注入用マスクの変更により回路の変更が容易
であるので、CMOSマスクROMの周辺回路内の制御
信号発生回路に利用することが出来、これにより消費電
力の低減をはかることが出来る。In this case, the circuit has a 2-input NAND configuration. FIG. 10 shows an equivalent circuit in this case, and FIG. 11 shows the configuration of the same machine using logical symbols. When the number of external chip select signals is two or more, it becomes a multi-input NAND circuit. Since the circuit of the present invention can be easily changed by changing the gate ion implantation mask, it can be used for a control signal generation circuit in a peripheral circuit of a CMOS mask ROM, thereby reducing power consumption. .
第1図はROMの従来型のチップセレクトデコーダ回路
、第2図は本発明の第1の実施例に係るチップセレクト
デコーダ回路、第3図はボロンィオン注入後の回路、第
4図は第3図の等価回路、第5図は第4図の論理回路、
第6図は外部入力セレクト信号の他の組合せに係る等価
回路、第7図は第6図の論理回路、第8図は本発明の他
の実施例に係るチップセレクトデコーダ回路、第9図は
リンィオン注入後の回路、第10図は第9図の等価回路
、第11図は第10図の論理回路をそれぞれ示したもの
である。
201,202・・・外部チップセレクト信号ライン、
203,204…インバータ回路、207〜210・・
・ボロン注入可能なゲートマスクを持つPチヤネルトラ
ンジスタ、211〜214…ボロン注入可能なゲートマ
スクを持つNチャネルトランジスタ、220,820・
・・チップセレクト信号ライン、807〜810・・・
リン注入可能なゲートマスクを持つPチャネルトランジ
スタ、811〜814…リン注入可能なゲートマスクを
持つNチャネルトランジスタ。
豹!図
第2図
第4図
第5図
鍵6図
第3図
繁ァ図
繁8図
第9図
翁lo図
※ーf図FIG. 1 shows a conventional chip select decoder circuit for ROM, FIG. 2 shows a chip select decoder circuit according to the first embodiment of the present invention, FIG. 3 shows a circuit after boronion implantation, and FIG. 4 shows a circuit shown in FIG. The equivalent circuit of Figure 5 is the logic circuit of Figure 4,
FIG. 6 is an equivalent circuit related to another combination of external input select signals, FIG. 7 is the logic circuit of FIG. 6, FIG. 8 is a chip select decoder circuit according to another embodiment of the present invention, and FIG. 9 is a 10 shows the equivalent circuit of FIG. 9, and FIG. 11 shows the logic circuit of FIG. 10 after phosphorus ion implantation. 201, 202...external chip select signal line,
203, 204...Inverter circuit, 207-210...
・P channel transistors with gate masks capable of boron implantation, 211 to 214...N channel transistors with gate masks capable of boron implantation, 220, 820・
...Chip select signal line, 807-810...
P-channel transistors with gate masks capable of phosphorus implantation, 811 to 814 . . . N-channel transistors with gate masks capable of phosphorus implantation. Leopard! Figure 2 Figure 4 Figure 5 Key 6 Figure 3 Figure 3 Figure 8 Figure 9 Figure 9
Claims (1)
部と、n個(nは2以上の整数)の入力デイジタル信号
と、n個の該入力デイジタル信号の1つの組合せによつ
てのみメモリ部の回路動作が可能となるようなチツプセ
レクト信号を作り出すチツプセレクト回路部を有するC
MOS型マスクROMに於いて、ソース、ドレインを2
端子として直列接続され接続後の一方の端子が電源、他
方の端子がチツプセレクト信号ラインに接続された2n
個のPチヤネルトランジスタと、ソース、ドレインを2
端子として一端が前記チツプセレクト信号ライン、他端
がアースにそれぞれ並列接続された2n個のNチヤネル
トランジスタとを有し、前記Pチヤネルトランジスタの
各ゲートはそれぞれ対応する前記Nチヤネルトランジス
タの各ゲートにそれぞれ接続され、奇数番目の接続点は
対応する前記入力デイジタル信号に、偶数番目の接続点
は対応する前記入力デイジタル信号の反転出力信号に各
々接続され、n個の前記入力デイジタル信号の1つの組
合せによつてのみ前記メモリ部の回路動作が可能となる
ような前記チツプセレクト信号を作り出すように、ゲー
トどうしが接続された前記PチヤネルトランジスタとN
チヤネルトランジスタの組のうち半数の組はそれぞれデ
イプレツシヨン型Pチヤネルトランジスタ、消去型Nチ
ヤネルトランジスタの組から構成されているチツプセレ
クトデコーダ回路部を有することを特徴とするCMOS
型マスクROM。 2 選択的にゲート部にイオン注入出来るように構成さ
れたゲートマスクを用いることにより、メモリ部のNチ
ヤネルトランジスタへのデータ書込みとチツプセレクト
デコーダ回路部のデイプレツシヨン型Pチヤネルトラン
ジスタと、消去型Nチヤネルトランジスタとを同時に形
成した特許請求の範囲第1項記載のCMOS型マスクR
OM。 3 複数のPチヤネルトランジスタで構成されたメモリ
部と、n個(nは2以上の整数)の入力デイジタル信号
と、n個の該入力デイジタル信号の1つの組合せによつ
てのみメモリ部の回路動作が可能となるようなチツプセ
レクト信号を作り出すチツプセレクト回路部を有するC
MOS型マスクROMに於いて、ソース、ドレインを2
端子として直列接続され接続後の一方の端子がアース、
他方の端子がチツプセレクト信号ラインに接続された2
n個のNチヤネルトランジスタと、ソース、ドレインを
2端子として一端が前記チツプセレクト信号ライン、他
端が電源にそれぞれ並列接続された2n個のPチヤネル
トランジスタとを有し、前記Nチヤネルトランジスタの
各ゲートはそれぞれ対応する前記Pチヤネルトランジス
タの各ゲートにそれぞれ接続され、偶数番目の接続点は
対応する前記入力デイジタル信号に、奇数番目の接続点
は対応する前記入力デイジタル信号の反転入力信号に各
々接続され、n個の前記入力デイジタル信号の1つの組
合せによつてのみ前記メモリ部の回路動作が可能となる
ような前記チツプセレクト信号を作り出すように、ゲー
トどうしが接続された前記NチヤネルトランジスタとP
チヤネルトランジスタの組のうち半数の組はそれぞれデ
イプレツシヨン型Nチヤネルトランジスタ、消去型Pチ
ヤネルトランジスタの組から構成されているチツプセレ
クトデコーダ回路部を有することを特徴とするCMOS
型マスクROM。 4 選択的にゲート部にイオン注入出来るように構成さ
れたゲートマスクを用いることにより、メモリ部のPチ
ヤネルトランジスタへのデータ書込みとチツプセレクト
デコーダ回路部のデイプレツシヨン型Nチヤネルトラン
ジスタと、消去型Pチヤネルトランジスタとを同時に形
成した特許請求の範囲第3項記載のCMOS型マスクR
OM。[Claims] 1. A memory section configured with a plurality of N-channel transistors, n input digital signals (n is an integer of 2 or more), and one combination of the n input digital signals. C, which has a chip select circuit section that generates a chip select signal that enables the circuit operation of the memory section only.
In a MOS type mask ROM, the source and drain are
2n connected in series as terminals, with one terminal connected to the power supply and the other terminal connected to the chip select signal line.
2 P-channel transistors, source and drain
2n N-channel transistors each having one end connected in parallel to the chip select signal line and the other end connected to the ground as terminals, and each gate of the P-channel transistor connected to each gate of the corresponding N-channel transistor. The odd-numbered connection points are connected to the corresponding input digital signals, and the even-numbered connection points are connected to the inverted output signals of the corresponding input digital signals, so that one combination of the n input digital signals is obtained. The P channel transistor and the N
A CMOS characterized in that half of the sets of channel transistors each have a chip select decoder circuit section each consisting of a set of depletion type P channel transistors and erasure type N channel transistors.
Type mask ROM. 2 By using a gate mask configured to selectively implant ions into the gate portion, data can be written into the N-channel transistor in the memory portion, the depletion type P-channel transistor in the chip select decoder circuit portion, and the erase type N-channel transistor. A CMOS type mask R according to claim 1, in which a transistor and a transistor are simultaneously formed.
OM. 3. A memory section composed of a plurality of P-channel transistors, n input digital signals (n is an integer of 2 or more), and circuit operation of the memory section only by one combination of the n input digital signals. C having a chip select circuit section that generates a chip select signal that enables
In a MOS type mask ROM, the source and drain are
Connected in series as terminals, one terminal after connection is grounded,
2 whose other terminal is connected to the chip select signal line.
It has n N-channel transistors and 2n P-channel transistors each having a source and a drain as two terminals, one end connected in parallel to the chip select signal line, and the other end connected in parallel to the power supply, and each of the N-channel transistors The gates are connected to respective gates of the corresponding P-channel transistors, the even-numbered connection points are connected to the corresponding input digital signals, and the odd-numbered connection points are connected to the inverted input signal of the corresponding input digital signal. and the N-channel transistor and the P-channel transistor whose gates are connected to each other so as to generate the chip select signal such that the circuit operation of the memory section is enabled only by one combination of the n input digital signals.
A CMOS characterized in that half of the sets of channel transistors each have a chip select decoder circuit section each consisting of a set of depletion type N-channel transistors and an erasure type P-channel transistor.
Type mask ROM. 4 By using a gate mask configured to selectively implant ions into the gate section, data can be written into the P-channel transistor in the memory section, the depletion type N-channel transistor in the chip select decoder circuit section, and the erasing type P-channel transistor. A CMOS type mask R according to claim 3, in which a transistor and a transistor are simultaneously formed.
OM.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56007149A JPS6037997B2 (en) | 1981-01-22 | 1981-01-22 | CMOS type mask ROM |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56007149A JPS6037997B2 (en) | 1981-01-22 | 1981-01-22 | CMOS type mask ROM |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57123597A JPS57123597A (en) | 1982-08-02 |
| JPS6037997B2 true JPS6037997B2 (en) | 1985-08-29 |
Family
ID=11658008
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56007149A Expired JPS6037997B2 (en) | 1981-01-22 | 1981-01-22 | CMOS type mask ROM |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6037997B2 (en) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59189441A (en) * | 1983-04-12 | 1984-10-27 | Sanyo Electric Co Ltd | Code detecting circuit |
| JPS59191648A (en) * | 1983-04-14 | 1984-10-30 | Sanyo Electric Co Ltd | Code detecting circuit |
| JPS613391A (en) * | 1984-06-15 | 1986-01-09 | Mitsubishi Electric Corp | Input buffer circuit |
| US4644504A (en) * | 1984-10-25 | 1987-02-17 | American Microsystems, Inc. | Programmable CMOS circuit for user defined chip enable and output enable |
-
1981
- 1981-01-22 JP JP56007149A patent/JPS6037997B2/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57123597A (en) | 1982-08-02 |
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