JPS6040658B2 - 偏向ヨ−クのコイル単体検査法 - Google Patents
偏向ヨ−クのコイル単体検査法Info
- Publication number
- JPS6040658B2 JPS6040658B2 JP52095072A JP9507277A JPS6040658B2 JP S6040658 B2 JPS6040658 B2 JP S6040658B2 JP 52095072 A JP52095072 A JP 52095072A JP 9507277 A JP9507277 A JP 9507277A JP S6040658 B2 JPS6040658 B2 JP S6040658B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coil
- magnetic field
- single coil
- deflection yoke
- inspection method
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/42—Measurement or testing during manufacture
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、TV用偏向ヨークの主要部分であるコイル単
体の磁界分布を測定するコイル単体検査法に関するもの
である。
体の磁界分布を測定するコイル単体検査法に関するもの
である。
偏向ヨークのコイルのように、インピーダンスが低く、
形状および巻線占蹟率と線分布のばらつきが偏向ヨーク
の特性に大きく影響するものは、従来の絶縁耐圧試験お
よびィンダクタンス測定だけではコイル単体の適切な評
価をすることができず、品質管理を行うことができなか
った。
形状および巻線占蹟率と線分布のばらつきが偏向ヨーク
の特性に大きく影響するものは、従来の絶縁耐圧試験お
よびィンダクタンス測定だけではコイル単体の適切な評
価をすることができず、品質管理を行うことができなか
った。
このため、偏向ヨーク完成品の最終検査であるコンパ−
ゼンス検査にかなりの時間を要し、歩留りが悪いなどの
欠点があった。そこで、1個の磁界測定センサをコイル
単体の各測定点に移動させて磁界を測定してコイル単体
の磁界分布を求めるコイル単体検査法が実険的に開発さ
れた。
ゼンス検査にかなりの時間を要し、歩留りが悪いなどの
欠点があった。そこで、1個の磁界測定センサをコイル
単体の各測定点に移動させて磁界を測定してコイル単体
の磁界分布を求めるコイル単体検査法が実険的に開発さ
れた。
ところが、この検査法は、1個の磁界測定センサをコイ
ル単体の各測定に移動させて磁界を測定するようにした
ものであるから、1個のコイル単体の磁界分布を測定す
るのにかなりの時間が必要であり、従って製造工程で大
量にコイル単体を品質検査することが不可能であり、専
ら実験室などに使用されるのが主であった。本発明は、
上記の諸点に鑑み、コイル単体の磁界有効部における磁
界分布を短時間で測定することができる検査法を提供せ
んとするものである。
ル単体の各測定に移動させて磁界を測定するようにした
ものであるから、1個のコイル単体の磁界分布を測定す
るのにかなりの時間が必要であり、従って製造工程で大
量にコイル単体を品質検査することが不可能であり、専
ら実験室などに使用されるのが主であった。本発明は、
上記の諸点に鑑み、コイル単体の磁界有効部における磁
界分布を短時間で測定することができる検査法を提供せ
んとするものである。
本発明者は、コイルの磁界分布をコイル単体で測定すれ
ば、他部品の影響を受けずに形状、巻線占積率および巻
線分布のばらつき量を検出することができ、また偏向ヨ
ークに要求される磁性特性はコイルの中心軸に対する対
称性であることに着目し、コイルの中心軸に対して直角
な断面数層に数個の磁界測定センサを配置したコイル取
付治具にコイルを取付け、そのコイルに電流を流して磁
界を発生させそれを測定することによりコイル単体の磁
界分布を短時間で測定できることを発明した。以下、本
発明の係る偏向ヨークのコイル単体検査法の一具体例を
添付図面について説明する。偏向ヨークの水平コイルは
、第1図乃至第3図に示すように、くる型のコィルー,
1′を2個組合わせてなる。そして、前記コイル1,1
′の磁界分布測定の条件としては、コイル1,1′の中
心軸に対して直角な断面数層(A断面、B断面、C断面
およびD断面)のコイル1,1′の形状に沿った点、例
えばA,,A2,ん,A4をA断面における磁界測定点
とし、以下同様にD,,○2,D3,D4まで上下左右
対称になるように機械的に決め、上記各磁界測定点A,
,ん・・…・・・・D3,D4において磁界を測定する
。第4図は、本発明の検査法に使用する検査装置の斜視
図である。
ば、他部品の影響を受けずに形状、巻線占積率および巻
線分布のばらつき量を検出することができ、また偏向ヨ
ークに要求される磁性特性はコイルの中心軸に対する対
称性であることに着目し、コイルの中心軸に対して直角
な断面数層に数個の磁界測定センサを配置したコイル取
付治具にコイルを取付け、そのコイルに電流を流して磁
界を発生させそれを測定することによりコイル単体の磁
界分布を短時間で測定できることを発明した。以下、本
発明の係る偏向ヨークのコイル単体検査法の一具体例を
添付図面について説明する。偏向ヨークの水平コイルは
、第1図乃至第3図に示すように、くる型のコィルー,
1′を2個組合わせてなる。そして、前記コイル1,1
′の磁界分布測定の条件としては、コイル1,1′の中
心軸に対して直角な断面数層(A断面、B断面、C断面
およびD断面)のコイル1,1′の形状に沿った点、例
えばA,,A2,ん,A4をA断面における磁界測定点
とし、以下同様にD,,○2,D3,D4まで上下左右
対称になるように機械的に決め、上記各磁界測定点A,
,ん・・…・・・・D3,D4において磁界を測定する
。第4図は、本発明の検査法に使用する検査装置の斜視
図である。
この検査装置は、ベース2上に1対のブラケツト7,7
′を固定し、該1対のブラケット7,7′の間にアクリ
ル製のコイル取付台具3を設け、前記ベース2の両端部
に1対のスライド8,8′をスライド自在に敦橿し、該
スライド8,8′にコイル押え4,4′をハンドル5,
5′を介して設ける。
′を固定し、該1対のブラケット7,7′の間にアクリ
ル製のコイル取付台具3を設け、前記ベース2の両端部
に1対のスライド8,8′をスライド自在に敦橿し、該
スライド8,8′にコイル押え4,4′をハンドル5,
5′を介して設ける。
前記コイル取付治具3の前記コィルー,1′の磁界測定
点A,,A2・・・・・・・・・D3,D4を対応する
箇所に磁界測定センサ(図示せず)を配置し、該磁界測
定センサのリード線10を端子台9に接続する。図中、
6,6′は前記スライド8,8′に突設したストップピ
ンである。
点A,,A2・・・・・・・・・D3,D4を対応する
箇所に磁界測定センサ(図示せず)を配置し、該磁界測
定センサのリード線10を端子台9に接続する。図中、
6,6′は前記スライド8,8′に突設したストップピ
ンである。
次に、上述の装置による本発明のコイル単体検査法につ
いて説明する。
いて説明する。
すなわち、コイル1,1′をコイル取付拾具3の両側に
位置させてコイル押え4,4′により押え付けてセット
する。
位置させてコイル押え4,4′により押え付けてセット
する。
次に前記コイル1,1′に所定の電流を流して交流磁界
を発生させる。すると、コイル取付治具3に配置された
磁界測定センサによりコイル1,1′の各磁界測定点A
,,A2・・・……D3,D4における磁界が測定され
、その測定値を基にして第5図に示すような磁界測定分
布図が得られる。第5図に示す磁界分布図において、実
線で示す測定分布は理想的なコイルを表わし、破線で示
す測定分布は実測値のものを表わし、図からも明らかな
ように、実測値の上下左右の額きがアンバランスとして
現われる。
を発生させる。すると、コイル取付治具3に配置された
磁界測定センサによりコイル1,1′の各磁界測定点A
,,A2・・・……D3,D4における磁界が測定され
、その測定値を基にして第5図に示すような磁界測定分
布図が得られる。第5図に示す磁界分布図において、実
線で示す測定分布は理想的なコイルを表わし、破線で示
す測定分布は実測値のものを表わし、図からも明らかな
ように、実測値の上下左右の額きがアンバランスとして
現われる。
このように、本発明においては、コイルの中心軸に対し
て直角な断面数層に数個の磁界測定センサを配置したコ
イル取付治具にコイルをセットし、そのコイルに電流を
流して磁界を発生させ、その磁界を測定するようにした
ものであるから、コイルの磁界有効部における磁界分布
を短時間で測定することができる。
て直角な断面数層に数個の磁界測定センサを配置したコ
イル取付治具にコイルをセットし、そのコイルに電流を
流して磁界を発生させ、その磁界を測定するようにした
ものであるから、コイルの磁界有効部における磁界分布
を短時間で測定することができる。
しかもコイル単体で品質検査を行うことができるので、
製造工程におけるコイルの品質管理ができ、コイルの品
質向上を計ることができるなどの効果がある。
製造工程におけるコイルの品質管理ができ、コイルの品
質向上を計ることができるなどの効果がある。
第1図はコイルの斜視図、第2図および第3図はコイル
の磁界分布測定点の一例を示す平面図および側面図、第
4図は本発明のコイル単体検査法に使用する装置の斜視
図、第5図は理想値と美郷値との磁界分布図である。 1,1′…・・・コイル、3・…・・コイル取付治具、
4,4′・・・…コイル押え、A,,Aな・・・・・・
・・D3,D4・・・・・・磁界測定点。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図
の磁界分布測定点の一例を示す平面図および側面図、第
4図は本発明のコイル単体検査法に使用する装置の斜視
図、第5図は理想値と美郷値との磁界分布図である。 1,1′…・・・コイル、3・…・・コイル取付治具、
4,4′・・・…コイル押え、A,,Aな・・・・・・
・・D3,D4・・・・・・磁界測定点。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図
Claims (1)
- 1 コイル単体の中心軸に対して直角な断面数層に、断
面の中心で交差する水平線と垂直線にそれぞれ線対称で
、かつコイルに接近した位置に複数個の磁界測定センサ
を配置したコイル取付治具に、コイル単体をセツトし、
前記コイル単体に所定の電流を流して交流磁界を発生さ
せ、前記磁界測定センサによりコイル単体の各磁界測定
点における磁界を測定し、コイル単体の磁気分布が得ら
れるようにしたことを特徴とする偏向ヨークのコイル単
体検査法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52095072A JPS6040658B2 (ja) | 1977-08-10 | 1977-08-10 | 偏向ヨ−クのコイル単体検査法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52095072A JPS6040658B2 (ja) | 1977-08-10 | 1977-08-10 | 偏向ヨ−クのコイル単体検査法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5429917A JPS5429917A (en) | 1979-03-06 |
| JPS6040658B2 true JPS6040658B2 (ja) | 1985-09-12 |
Family
ID=14127774
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52095072A Expired JPS6040658B2 (ja) | 1977-08-10 | 1977-08-10 | 偏向ヨ−クのコイル単体検査法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6040658B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0249443U (ja) * | 1988-09-29 | 1990-04-05 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59195555U (ja) * | 1983-06-11 | 1984-12-26 | 株式会社 堀場製作所 | ガラス電極 |
-
1977
- 1977-08-10 JP JP52095072A patent/JPS6040658B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0249443U (ja) * | 1988-09-29 | 1990-04-05 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5429917A (en) | 1979-03-06 |
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