JPS6042402B2 - 管状材の管壁厚み測定装置 - Google Patents
管状材の管壁厚み測定装置Info
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- JPS6042402B2 JPS6042402B2 JP8521480A JP8521480A JPS6042402B2 JP S6042402 B2 JPS6042402 B2 JP S6042402B2 JP 8521480 A JP8521480 A JP 8521480A JP 8521480 A JP8521480 A JP 8521480A JP S6042402 B2 JPS6042402 B2 JP S6042402B2
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- measurement
- wall thickness
- tubular material
- vibrator
- tube wall
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、管状材の周辺の複数点における管壁厚み
寸法を同時に非接触で測定することのできる管状材の管
壁厚みの測定装置に改良に関するものである。
寸法を同時に非接触で測定することのできる管状材の管
壁厚みの測定装置に改良に関するものである。
第1図は、本発明者等が提案し、本出願人により別途
出願中の管状材の管壁厚みの測定方法を示す概念図であ
る 同図において、管状材20の断面が示されているが
、管周長を3等分する点A、BおよびCにおける各管壁
の厚み寸法X、、X2およびX3を測定により求めるも
のとする。
出願中の管状材の管壁厚みの測定方法を示す概念図であ
る 同図において、管状材20の断面が示されているが
、管周長を3等分する点A、BおよびCにおける各管壁
の厚み寸法X、、X2およびX3を測定により求めるも
のとする。
A点乃至C点のそれぞれに対応して、測定用放射線ビ
ーム3を放射する線源1と、これを収容して所定の方向
に放射線ビーム3を指向させる線源容器2と、管状材2
0の管壁を透過してきた放射線ビームを検出する検出器
4とから成る測定系が設けられている。
ーム3を放射する線源1と、これを収容して所定の方向
に放射線ビーム3を指向させる線源容器2と、管状材2
0の管壁を透過してきた放射線ビームを検出する検出器
4とから成る測定系が設けられている。
各符号数字には、所属の測定系を表わす文字A、Bまた
はCが添字してある。なお管壁を透過してきたビームの
検出器4A乃至4Cによる検出出力を1、乃至10とし
、管壁が存在しなかつたとした場合(すなわちビームが
直接入力してきた場合)の検出々力をそれぞれ1、0、
11および130とする。各測定系の配置は第1図に示
す通りであり、一つの放射線ビームが二つの測定点に透
過するようになつており、各測定点についてみれぱ、互
いに異なる他の二つの測定点をそれぞれ透過する二つの
ビームが当該測定点を透過すように構成されている。
さて第1図において、検出器4の出力Iと管壁の厚み寸
法Xとの間には、一般的な放射線透過形厚さ計の基本式
として、次の関係式が成立している。
はCが添字してある。なお管壁を透過してきたビームの
検出器4A乃至4Cによる検出出力を1、乃至10とし
、管壁が存在しなかつたとした場合(すなわちビームが
直接入力してきた場合)の検出々力をそれぞれ1、0、
11および130とする。各測定系の配置は第1図に示
す通りであり、一つの放射線ビームが二つの測定点に透
過するようになつており、各測定点についてみれぱ、互
いに異なる他の二つの測定点をそれぞれ透過する二つの
ビームが当該測定点を透過すように構成されている。
さて第1図において、検出器4の出力Iと管壁の厚み寸
法Xとの間には、一般的な放射線透過形厚さ計の基本式
として、次の関係式が成立している。
鳳3−エ30トノ!Hk′1tJv!覧\′ゝ31V(
′i但し、μは使用した放射線の管壁材質に対す吸収係
数であり、kは測定点を透過する放射線ビームの管壁に
おける実際の通過長S(第1A図参照)をその点におけ
る管壁の長さXで割つた数である。
′i但し、μは使用した放射線の管壁材質に対す吸収係
数であり、kは測定点を透過する放射線ビームの管壁に
おける実際の通過長S(第1A図参照)をその点におけ
る管壁の長さXで割つた数である。
測定点における放射線ビームの透過方向と管状材の直径
方向とのなす角度θが零であればkは1となるわけであ
る。管状材の形状に応じて測定点数、放射線ビームの幅
、放射線透過方法等を選ぶとにより、kは管壁厚みムラ
の影響を受けない定数とすることができる。さて前記(
1)乃至(3)式をの連立方程式としてその解を求める
と次の如くなる。
方向とのなす角度θが零であればkは1となるわけであ
る。管状材の形状に応じて測定点数、放射線ビームの幅
、放射線透過方法等を選ぶとにより、kは管壁厚みムラ
の影響を受けない定数とすることができる。さて前記(
1)乃至(3)式をの連立方程式としてその解を求める
と次の如くなる。
従つて、放射線ビームの検出器出力110,11,12
0,12,130,13および定数P,kから演算によ
り管壁厚みXl,X2およびX3を求めることができる
。
0,12,130,13および定数P,kから演算によ
り管壁厚みXl,X2およびX3を求めることができる
。
以上の説明、測定点が3個の場合であつたが、一般に測
定点がn個の場合に、上述の測定方法を拡張することが
できる。n個の測定点における管壁厚みをXl,X2,
・・・Xnとすると、各厚み寸法の間に次の如きサイク
リツクに変化する一定の関係式(連立方程式)が成立す
る。なお次の関係式は、前記(1)乃至(3)式等を対
数変換することにより得られるものである。上記(7)
式を、行列を用いて表現すると次の如くなる。
定点がn個の場合に、上述の測定方法を拡張することが
できる。n個の測定点における管壁厚みをXl,X2,
・・・Xnとすると、各厚み寸法の間に次の如きサイク
リツクに変化する一定の関係式(連立方程式)が成立す
る。なお次の関係式は、前記(1)乃至(3)式等を対
数変換することにより得られるものである。上記(7)
式を、行列を用いて表現すると次の如くなる。
但し、nは奇数である。
第2図は、以上説明した測定方法の変形例、すなわちn
=9の場合の方法を示す概念図である。
=9の場合の方法を示す概念図である。
この場合、各測定点における厚み寸法Xl,X2・・・
為を求めるための連立方程式が次の行列により表わされ
ることは、上記(7a)式に照らし明らかであろう。第
3図は、n=9の場合の他の変形例を示す概念図である
。
為を求めるための連立方程式が次の行列により表わされ
ることは、上記(7a)式に照らし明らかであろう。第
3図は、n=9の場合の他の変形例を示す概念図である
。
第2図の場合と比較すると、測定点の数は同じであるが
、放射線ビームの透過する測定点の位置が相違する。す
なわち、第2図では、ビームの透過する位置の組合せは
、X1とX2,X2とX3,X3とXl,X4とX5,
等々であつたが、第3図では、X1とXl,X2とX5
,X3とX6,XiとX7等々である。そこでの連立方
程式を行列で表わすと、次の如くなる。上記(9)式を
書き換えて次の(10)式で表現することができる。
、放射線ビームの透過する測定点の位置が相違する。す
なわち、第2図では、ビームの透過する位置の組合せは
、X1とX2,X2とX3,X3とXl,X4とX5,
等々であつたが、第3図では、X1とXl,X2とX5
,X3とX6,XiとX7等々である。そこでの連立方
程式を行列で表わすと、次の如くなる。上記(9)式を
書き換えて次の(10)式で表現することができる。
上記(10)式から明らかなように、第3図の変形例は
、第1図に示した3点測定方式を3ケース行なうものに
ほかならないと云える。
、第1図に示した3点測定方式を3ケース行なうものに
ほかならないと云える。
第4図は、n=9の場合の更に別の変形例を示す概念図
である。
である。
すなわち、ビームの透過する位置の組合せが、X1とX
6,X2とX7,X3とX8,X4とX99X5とXl
9Xf.と.X29X7とX39X8とχ9為と抛の如
くなつている。この場合の連立方程式を行列で表わすと
、次の如くなる。
6,X2とX7,X3とX8,X4とX99X5とXl
9Xf.と.X29X7とX39X8とχ9為と抛の如
くなつている。この場合の連立方程式を行列で表わすと
、次の如くなる。
第5図は、n=8の場合の実施例を示す概念図である。
この場合、偶数であるn個の測定点のうち、適当な奇数
m個(この実施例では5個)について、測定系の出力値
によソー連の連立方程式を立て、m個の測定点につき各
厚み寸法を求める。次に、厚み寸法の求まつたm個の測
定点のうちの一つと、未知の測定点とを透過するビーム
の強度を測定することにより、未知の測定点の厚み寸法
を求める。勿論最小二乗法を採用してもよい。第5図を
参照して具体的に説明する。n=8であるから、各測定
点の厚みをXl,X2・・・・・・X8とする。
m個(この実施例では5個)について、測定系の出力値
によソー連の連立方程式を立て、m個の測定点につき各
厚み寸法を求める。次に、厚み寸法の求まつたm個の測
定点のうちの一つと、未知の測定点とを透過するビーム
の強度を測定することにより、未知の測定点の厚み寸法
を求める。勿論最小二乗法を採用してもよい。第5図を
参照して具体的に説明する。n=8であるから、各測定
点の厚みをXl,X2・・・・・・X8とする。
先ず8個の測定点のうち5点を選び、選ばれた点の厚み
寸法Xl,X3,X4,.X6,X7を先ず求めること
にする。連立方程式が次の如く得られることは、これま
での説明から容易に理解されるであろう。以上の連立方
程式を解いて次の解を得る。
寸法Xl,X3,X4,.X6,X7を先ず求めること
にする。連立方程式が次の如く得られることは、これま
での説明から容易に理解されるであろう。以上の連立方
程式を解いて次の解を得る。
未知の寸法はX5,X8,X2である。
そこで、X5と・Xl,X8とXl,X2とX6の各組
合せに放射線ビームを透過させ、次の式を得る。X1は
既知故、上式から迅を求めることができノる。
合せに放射線ビームを透過させ、次の式を得る。X1は
既知故、上式から迅を求めることができノる。
同様にXl,X6はそれぞれ既知故、上式からX8とX
2をそれぞれ求めることができる。
2をそれぞれ求めることができる。
さて、以上、第1〜5図を参照して説明した管状材の管
壁厚み測定方法を実施する場合、次のような問題点があ
る。
壁厚み測定方法を実施する場合、次のような問題点があ
る。
すなわち、測定したいバイブの管周上の複数測定点に対
して、少なくとも測定点と同数の放射線ビームを照射す
ることが必要となるが、そのための装置の構成が煩雑に
なる点である。一般に核放射線を使用する場合は安全上
、線源シールドの厚さを5〜10cm程度と大きくする
。
して、少なくとも測定点と同数の放射線ビームを照射す
ることが必要となるが、そのための装置の構成が煩雑に
なる点である。一般に核放射線を使用する場合は安全上
、線源シールドの厚さを5〜10cm程度と大きくする
。
またX線発生装置に使用する場合も、線源の体積が同等
以上になることが多い。これらある程度の大きさを持つ
線源および線源容器を管周上の厚さ測定点数と少くとも
同じ数だけ、バイブ管周の外部に集中させることは、測
定点数が多くなると、構造上複雑になつて、実機として
製作できなくなる。実機製作が可能であるとしても、オ
ンライン計器としての保守性が極めて悪くなり、実用性
能が低下する。オンライン設置をする場合、構造が複雑
なため、実施が困難である。この発明は、本出顔人が別
途出願した管壁厚み測定方法を実施せんとする際におけ
る上述の如き問題点を解決するためになされたものであ
り、従つてこの発明の目的は、バイブ管周外部を線源お
よび線源容器等で複雑な構造とすることなく、本出願人
別途提案の測定方法を実施することができ、実機として
製作可能であるような管状材の管壁厚み測定装置を提供
することにある。
以上になることが多い。これらある程度の大きさを持つ
線源および線源容器を管周上の厚さ測定点数と少くとも
同じ数だけ、バイブ管周の外部に集中させることは、測
定点数が多くなると、構造上複雑になつて、実機として
製作できなくなる。実機製作が可能であるとしても、オ
ンライン計器としての保守性が極めて悪くなり、実用性
能が低下する。オンライン設置をする場合、構造が複雑
なため、実施が困難である。この発明は、本出顔人が別
途出願した管壁厚み測定方法を実施せんとする際におけ
る上述の如き問題点を解決するためになされたものであ
り、従つてこの発明の目的は、バイブ管周外部を線源お
よび線源容器等で複雑な構造とすることなく、本出願人
別途提案の測定方法を実施することができ、実機として
製作可能であるような管状材の管壁厚み測定装置を提供
することにある。
この発明の要点は次の点にある。
(1)シームレス鋼管等の製造工程の大部分においては
鋼管がその軸方向に走行させられていることを利用し、
鋼管の移動方向に沿つて測定系を分散配置し、結果的に
測定系の各放射線ビームが同一断面内にあると同じ測定
を行なえることを可能にした点。
鋼管がその軸方向に走行させられていることを利用し、
鋼管の移動方向に沿つて測定系を分散配置し、結果的に
測定系の各放射線ビームが同一断面内にあると同じ測定
を行なえることを可能にした点。
(2)これにより、装置取付構造上の煩雑さを解消した
点。
点。
次に図を参照してこの発明の実施例を説明する。
第6図は、この発明の一実施例を示す構成概略図である
。同図においては、放射線源と検出器を組合せた測定系
を、1,2,3と3組使用する。
。同図においては、放射線源と検出器を組合せた測定系
を、1,2,3と3組使用する。
そして1一1,1−2,1−3,1−4が第1測定系の
放射線源、線源容器、放射線ビーム、検出器であり、2
−1,2−2,2−3,2−4および3一1,3−2,
3−3,3−4がそれぞれ第2測定系および第3測定系
に属するそれらである。5は測定せんとするバイブであ
り、ここでは、バイブ5は、その軸についての回転はな
く、ただ図面において矢印の方向に速さνで移動してい
るものとする。例えば、プラグミルはこの条件が満足さ
れるものである。各測定系は、バイブ5の移動方向に沿
つて、図示の如く、間隔El,e2を離して分散設置さ
れている。各測定系の放射線ビームの方向ずけは、各測
定場所におけるバイブ横断面A,B,Cにおいて、それ
ぞれ第7図に示すようになされる。第7図A,B,Cの
各放射線を重ね合せると第7A図に示す如くなり、これ
は、第1図に示した本出願人別途出願中の測定法におけ
る測定系の配置と同じになることが認められるであろう
。
放射線源、線源容器、放射線ビーム、検出器であり、2
−1,2−2,2−3,2−4および3一1,3−2,
3−3,3−4がそれぞれ第2測定系および第3測定系
に属するそれらである。5は測定せんとするバイブであ
り、ここでは、バイブ5は、その軸についての回転はな
く、ただ図面において矢印の方向に速さνで移動してい
るものとする。例えば、プラグミルはこの条件が満足さ
れるものである。各測定系は、バイブ5の移動方向に沿
つて、図示の如く、間隔El,e2を離して分散設置さ
れている。各測定系の放射線ビームの方向ずけは、各測
定場所におけるバイブ横断面A,B,Cにおいて、それ
ぞれ第7図に示すようになされる。第7図A,B,Cの
各放射線を重ね合せると第7A図に示す如くなり、これ
は、第1図に示した本出願人別途出願中の測定法におけ
る測定系の配置と同じになることが認められるであろう
。
さて第6図に戻る。以上述べたように、3組の測定系は
、バイブ5に沿つて一つずつ分散して配置されるので、
バイブ周辺が煩雑でなく簡素化され、測定系の現場取付
、保守が容易になる。三つの測定系から得られる出力信
号1″1,I゛2,1″3を用いてバイブ5の管周上の
3点の厚さを求めるわけであるが、3組の測定系が分散
配置されているため、3組の測定系から同時に得られる
出力信号1″1,I″2,I″3はバイブ5の同一横断
面について得られた値ではないから、これを次のような
手段を用いて、修正する必要がある。6は、バイブ5を
矢印方向に動させるためのドライブロールまたはバイブ
移動時に該バイブと滑りなく接触していアイドラの如き
、バイブ移動検出ロールであり、その回転軸に、回転量
(バイブ5の移動距離量)をディジタル量として出力す
るディジタルエンコーダ7を取付ける。
、バイブ5に沿つて一つずつ分散して配置されるので、
バイブ周辺が煩雑でなく簡素化され、測定系の現場取付
、保守が容易になる。三つの測定系から得られる出力信
号1″1,I゛2,1″3を用いてバイブ5の管周上の
3点の厚さを求めるわけであるが、3組の測定系が分散
配置されているため、3組の測定系から同時に得られる
出力信号1″1,I″2,I″3はバイブ5の同一横断
面について得られた値ではないから、これを次のような
手段を用いて、修正する必要がある。6は、バイブ5を
矢印方向に動させるためのドライブロールまたはバイブ
移動時に該バイブと滑りなく接触していアイドラの如き
、バイブ移動検出ロールであり、その回転軸に、回転量
(バイブ5の移動距離量)をディジタル量として出力す
るディジタルエンコーダ7を取付ける。
ここでエンコーダ7の出力Pは、時系列バイブとして出
力されるものであり、ロール6の回転量に比例してバイ
ブ数を出力する。例えば、ロール6の1回転当り、n個
のバイブが出力されるものとする。ディジタルエンコー
ダ7の出力Pは、遅延回路8,9にそれぞれ入る。遅延
回路8,9は、それぞれ検出器2−4,1−4の出力1
″2,I″1に接続される。遅延回路9は、ディジタル
エンコーダ7の出力Pを用いて、その入力信号1″1を
、なる時間だけ遅延させて、11なる出力信号として信
号処理器(演算装置)10に向け出力する。
力されるものであり、ロール6の回転量に比例してバイ
ブ数を出力する。例えば、ロール6の1回転当り、n個
のバイブが出力されるものとする。ディジタルエンコー
ダ7の出力Pは、遅延回路8,9にそれぞれ入る。遅延
回路8,9は、それぞれ検出器2−4,1−4の出力1
″2,I″1に接続される。遅延回路9は、ディジタル
エンコーダ7の出力Pを用いて、その入力信号1″1を
、なる時間だけ遅延させて、11なる出力信号として信
号処理器(演算装置)10に向け出力する。
また遅延回路8は、エンコーダ出力Pを用いて、その入
力信号1″2をなる時間だけ遅延させて、12なる出力
信号として信号処理器10に向け出力する。
力信号1″2をなる時間だけ遅延させて、12なる出力
信号として信号処理器10に向け出力する。
このようにして信号処理器10に入力される信号11,
12,13は、11,12について上述の如き遅延操作
をほどこしたことにより、3組の回転系によつてバイブ
の同一横断面を測定して得られた検出量に相当すること
となる。
12,13は、11,12について上述の如き遅延操作
をほどこしたことにより、3組の回転系によつてバイブ
の同一横断面を測定して得られた検出量に相当すること
となる。
以下、信号処理器10におけるバイブ肉厚寸法を得るた
めの信号処理は、第1図を参照して先に説明した所と同
じである。以上、第6図を参照して、3組の測定系をバ
イブに沿つてそれぞれ分散する実施例を説明したが、測
定系の分散の態様は、これに限るものではない。測定点
数、測定系の設置条件、回転系の構造、寸法等により分
散の態様は任意に変えることができる。第8図は、この
発明の他の実施例を説明するのに用いる図であつて、バ
イブの横断面AとBにおける放射線ビームの方向ずけを
示す説明図、第8図Aは、第8図におけるA(5Bを重
ねて示した図である。
めの信号処理は、第1図を参照して先に説明した所と同
じである。以上、第6図を参照して、3組の測定系をバ
イブに沿つてそれぞれ分散する実施例を説明したが、測
定系の分散の態様は、これに限るものではない。測定点
数、測定系の設置条件、回転系の構造、寸法等により分
散の態様は任意に変えることができる。第8図は、この
発明の他の実施例を説明するのに用いる図であつて、バ
イブの横断面AとBにおける放射線ビームの方向ずけを
示す説明図、第8図Aは、第8図におけるA(5Bを重
ねて示した図である。
すなわち、第8図は、先に第5図を参照して説明した如
き、測定点が8個ある場合の測定装置について、測定系
を5個(A断面)と3個.(B断面)に分散して場合の
実施例の説明図である。第8図のA(5Bを重ねて示し
た第8A図が、先に示した第5図と一致することは説明
の要がないであろう。次に、この発明において用いる遅
延回路の構成.例を第9図を参照して説明する。
き、測定点が8個ある場合の測定装置について、測定系
を5個(A断面)と3個.(B断面)に分散して場合の
実施例の説明図である。第8図のA(5Bを重ねて示し
た第8A図が、先に示した第5図と一致することは説明
の要がないであろう。次に、この発明において用いる遅
延回路の構成.例を第9図を参照して説明する。
第9図を参照する。
ここでは検出器出力1は、アナログ電圧で入力されるも
のとする。入力信号Iは先ずA/Dコンバータ15にお
いて、必要桁数をもつディジタル量に変換される。R桁
の2進・化w進符号(BCD)で出力を表わすものとす
ると、A/Dコンバータ15は、4Rビットのディジタ
ル出力を出力する。これらの出力を、4R個のシリアル
シフトレジスタ16a,16b〜16nに接続する。シ
フトレジスタのシフトパルスCLとして、第6図におけ
るディジタルエンコーダ7の出力Pを用いる。各シフト
レジスタのビット数mは、必要な遅延時間分解能に応じ
て定めればよい。測定バイブの移動距離Δeを単位とし
て遅延量を得たければ、第6図の遅延回路8については
、・を満足するようにmとnを定めればよい。
のとする。入力信号Iは先ずA/Dコンバータ15にお
いて、必要桁数をもつディジタル量に変換される。R桁
の2進・化w進符号(BCD)で出力を表わすものとす
ると、A/Dコンバータ15は、4Rビットのディジタ
ル出力を出力する。これらの出力を、4R個のシリアル
シフトレジスタ16a,16b〜16nに接続する。シ
フトレジスタのシフトパルスCLとして、第6図におけ
るディジタルエンコーダ7の出力Pを用いる。各シフト
レジスタのビット数mは、必要な遅延時間分解能に応じ
て定めればよい。測定バイブの移動距離Δeを単位とし
て遅延量を得たければ、第6図の遅延回路8については
、・を満足するようにmとnを定めればよい。
なおkは、ロール6の直径寸法であり、nはロール6が
1回転するときにエンコーダ7が出力するパルス数であ
る。また第6図の遅延回路9については、 を満足するようにm′F)nを定めればよい。
1回転するときにエンコーダ7が出力するパルス数であ
る。また第6図の遅延回路9については、 を満足するようにm′F)nを定めればよい。
このようにすると、遅延回路への入力信号1は、ディジ
タル量に変換され、測定バイブが一定距離移動するごと
に、遅延回路であるシフトレジスタ内を、1ステップず
つ移動して行き、遅延回路8については、測定バイブが
距離E2だけ移動すると、レジスタ出力側に入力信号1
が出てくることになり、遅延回路9については、(′1
+′2)だけバイブが移動すると、シフトレジスタ出力
側に入力信号1が出てくる。すなわち、遅延回路8と9
は、それぞれ入力信号1を、だけ遅延操作することにな
る。
タル量に変換され、測定バイブが一定距離移動するごと
に、遅延回路であるシフトレジスタ内を、1ステップず
つ移動して行き、遅延回路8については、測定バイブが
距離E2だけ移動すると、レジスタ出力側に入力信号1
が出てくることになり、遅延回路9については、(′1
+′2)だけバイブが移動すると、シフトレジスタ出力
側に入力信号1が出てくる。すなわち、遅延回路8と9
は、それぞれ入力信号1を、だけ遅延操作することにな
る。
以上説明したとおりであるから、この発明によれば、バ
イブ管周外部の特定個所に測定系を集中して配置するこ
とを要せず、バイブの移動方向に沿つて分散配置できる
ので、バイブ管周の構造の煩雑さを回避でき、実機とし
て製作可能であると共に、保守も容易な管状材の管壁厚
みの測定装置を提供できるという利点がある。
イブ管周外部の特定個所に測定系を集中して配置するこ
とを要せず、バイブの移動方向に沿つて分散配置できる
ので、バイブ管周の構造の煩雑さを回避でき、実機とし
て製作可能であると共に、保守も容易な管状材の管壁厚
みの測定装置を提供できるという利点がある。
この発明による測定装置は、放射線種およびエネルギー
の強弱を適当に選択することにより、ガラス、プラスチ
ック、ゴム、紙、繊維、金属等の材質から成る管状材に
も適用することができる。
の強弱を適当に選択することにより、ガラス、プラスチ
ック、ゴム、紙、繊維、金属等の材質から成る管状材に
も適用することができる。
また管状でなくても、一定の断面形状をもつ中空体にも
適用できることは勿論である。また放射ビームの代りに
、赤外、可視、紫外の各光線や、X線や、各種粒子線等
を用いることも可能である。またこの発明の実施に際し
、測定値の演算処理用にコンピュータ(ミニコンピュー
タ或いはマイクロコンピュータ等)を使用すれば迅速な
処理が可能となり好都合である。
適用できることは勿論である。また放射ビームの代りに
、赤外、可視、紫外の各光線や、X線や、各種粒子線等
を用いることも可能である。またこの発明の実施に際し
、測定値の演算処理用にコンピュータ(ミニコンピュー
タ或いはマイクロコンピュータ等)を使用すれば迅速な
処理が可能となり好都合である。
第1図は、本出願人にり別途出願中の管状材の管壁厚み
測定方法を示す概念図、第1A図は、第1図における要
部の寸法関係を示す説明図、第2図は、上記測定方法の
第1の変形例を示す概念図、第3図は同じく第2の変形
例を、第4図は同じく第3の変形例を、第5図は、同じ
く第4の変形例をそれぞれ示す概念図、第6図は、この
発明の一実施例を示す構成概要図、第7図は、第6図の
バイブ横断面A,B,Cにおける放射線ビームの方向ず
けを示す説明図、第7A図は、第7図におけるA,B,
Cを重ねて示した図、第8図は、この発明の他の実施例
を説明するのに用いる図であつて、バイブの横断面AI
:.Bにおける放射線ビームの方向ずけを示す説明図、
第8A図は、第8図におけるAとBを重ねて示した図、
第9図は、この発明において用いる遅延回路の構成例を
示すブロック図である。 図において、1は放射線源、2は同線源容器、3は放射
線ビーム、4は同検出器、5はバイブ、6はバイブ移動
検出ロール、7はディジタルエンコーダ、8と9はそれ
ぞれ遅延回路、10は信号処理器(演算装置)、15は
A/Dコンバータ、16はシフトレジスタ、20は管状
材を示す。
測定方法を示す概念図、第1A図は、第1図における要
部の寸法関係を示す説明図、第2図は、上記測定方法の
第1の変形例を示す概念図、第3図は同じく第2の変形
例を、第4図は同じく第3の変形例を、第5図は、同じ
く第4の変形例をそれぞれ示す概念図、第6図は、この
発明の一実施例を示す構成概要図、第7図は、第6図の
バイブ横断面A,B,Cにおける放射線ビームの方向ず
けを示す説明図、第7A図は、第7図におけるA,B,
Cを重ねて示した図、第8図は、この発明の他の実施例
を説明するのに用いる図であつて、バイブの横断面AI
:.Bにおける放射線ビームの方向ずけを示す説明図、
第8A図は、第8図におけるAとBを重ねて示した図、
第9図は、この発明において用いる遅延回路の構成例を
示すブロック図である。 図において、1は放射線源、2は同線源容器、3は放射
線ビーム、4は同検出器、5はバイブ、6はバイブ移動
検出ロール、7はディジタルエンコーダ、8と9はそれ
ぞれ遅延回路、10は信号処理器(演算装置)、15は
A/Dコンバータ、16はシフトレジスタ、20は管状
材を示す。
Claims (1)
- 1 少なくとも3本の放射線ビームが相互に交叉し、そ
れら交点を頂点として正奇数多角形が形成されるように
前記ビームを投射する少なくとも3組のビーム投射系と
、前記多角形の頂点がすべて管状材の肉厚部に含まれる
如く該管状材を位置決めし、該管状材の肉厚部を透過し
た前記放射線ビームの透過後の強度をそぜぞれ測定する
前記投射系に対応した各測定手段と、それら測定値を入
力され、演算により、前記多角形の頂点の位置する個所
の管状材の肉厚寸法を管壁厚みとして求める演算装置と
、から成る管状材の管壁厚みの測定装置において、前記
管状材をその軸方向に移動させながら、その移動方向に
沿つて前記各ビーム投射系を各々分散配置し、各投射系
に対応する前記各測定手段からの測定値信号を、管状材
の移動に応じて前記演算装置に入力させることにより、
管状材の同一横断面における管壁厚みを測定することを
特徴とする管状材の管壁厚みの測定装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8521480A JPS6042402B2 (ja) | 1980-06-25 | 1980-06-25 | 管状材の管壁厚み測定装置 |
| US06/275,990 US4491731A (en) | 1980-06-25 | 1981-06-22 | Tube wall thickness measurement |
| CA000380493A CA1180131A (en) | 1980-06-25 | 1981-06-24 | Tube wall thickness measurement |
| FR8112395A FR2485719B1 (fr) | 1980-06-25 | 1981-06-24 | Procede et dispositif de mesure de l'epaisseur de la paroi d'un tube |
| DE19813125009 DE3125009A1 (de) | 1980-06-25 | 1981-06-25 | Rohrwanddickenmessung |
| CA000438465A CA1171557A (en) | 1980-06-25 | 1983-10-05 | Tube wall thickness measurement |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8521480A JPS6042402B2 (ja) | 1980-06-25 | 1980-06-25 | 管状材の管壁厚み測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5712308A JPS5712308A (en) | 1982-01-22 |
| JPS6042402B2 true JPS6042402B2 (ja) | 1985-09-21 |
Family
ID=13852318
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8521480A Expired JPS6042402B2 (ja) | 1980-06-25 | 1980-06-25 | 管状材の管壁厚み測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6042402B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59183312A (ja) * | 1983-04-04 | 1984-10-18 | Fujikura Ltd | 線条体の検査装置 |
| US5293687A (en) * | 1991-05-10 | 1994-03-15 | Aluminum Company Of America | Wheel manufacturing method |
| CN121693661A (zh) * | 2023-08-25 | 2026-03-17 | 富士胶片株式会社 | 配管检查装置、配管检查方法及配管检查程序 |
-
1980
- 1980-06-25 JP JP8521480A patent/JPS6042402B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5712308A (en) | 1982-01-22 |
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