JPS6044604B2 - 電子式マイクロメ−タ - Google Patents
電子式マイクロメ−タInfo
- Publication number
- JPS6044604B2 JPS6044604B2 JP15793980A JP15793980A JPS6044604B2 JP S6044604 B2 JPS6044604 B2 JP S6044604B2 JP 15793980 A JP15793980 A JP 15793980A JP 15793980 A JP15793980 A JP 15793980A JP S6044604 B2 JPS6044604 B2 JP S6044604B2
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- Japan
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- spindle
- claw
- slider
- rack
- scale
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Links
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 claims description 52
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 45
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
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- 230000009471 action Effects 0.000 claims description 6
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- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 241000219112 Cucumis Species 0.000 description 1
- 235000015510 Cucumis melo subsp melo Nutrition 0.000 description 1
- FJJCIZWZNKZHII-UHFFFAOYSA-N [4,6-bis(cyanoamino)-1,3,5-triazin-2-yl]cyanamide Chemical compound N#CNC1=NC(NC#N)=NC(NC#N)=N1 FJJCIZWZNKZHII-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B3/00—Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
- G01B3/002—Details
- G01B3/008—Arrangements for controlling the measuring force
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B3/00—Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
- G01B3/18—Micrometers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電子式マイクロメータに係り、特・に、フレ
ームに固着された固定スケールと、測定時に先端が被測
定物に当接されるスピンドルと、該スピンドルと連動さ
れた可動スケールとを備え、スピンドルの変位に伴なう
可動スケールと固定スケール間の物理量の変化から、フ
レームとスピンドル間に挟持された被測定物の長さを測
定する電子式マイクロメータの改良に関する。
ームに固着された固定スケールと、測定時に先端が被測
定物に当接されるスピンドルと、該スピンドルと連動さ
れた可動スケールとを備え、スピンドルの変位に伴なう
可動スケールと固定スケール間の物理量の変化から、フ
レームとスピンドル間に挟持された被測定物の長さを測
定する電子式マイクロメータの改良に関する。
被測定物の長さを測定する測長器の一種にマイクロメー
タがある。
タがある。
これは、フレームと、測定時の先端が被測定物に当接さ
れるスピンドルとを有し、スピンドルの変位から、フレ
ームとスピンドル間に桂持された被測定物の長さを測定
するものであり、従来は、フレームに対するスピンドル
の変位置を、スピンドルの後端に形成された、精密に加
工されたねじの送り量を基準に、ねじの斜面による拡大
を利用して読み取る、いわゆる機械式マイクロメータが
主に用いられている。一方近年、エレクトロニクス化の
進展に伴ない、機械式マイクロメータの寸法読み取り部
分を、光電検出装置て置き換えた、いわゆる電子式マイ
クロメータが提案されている。
れるスピンドルとを有し、スピンドルの変位から、フレ
ームとスピンドル間に桂持された被測定物の長さを測定
するものであり、従来は、フレームに対するスピンドル
の変位置を、スピンドルの後端に形成された、精密に加
工されたねじの送り量を基準に、ねじの斜面による拡大
を利用して読み取る、いわゆる機械式マイクロメータが
主に用いられている。一方近年、エレクトロニクス化の
進展に伴ない、機械式マイクロメータの寸法読み取り部
分を、光電検出装置て置き換えた、いわゆる電子式マイ
クロメータが提案されている。
これは、例えば、フレームに固着された固定スケールと
、スピンドルと連動された可動スケールとを備え、スピ
ンドルの変位に伴なう可動スケールと固定スケール間の
物理量の変化、例えば、通過光量或いは反射光量の変化
から、フレームとスピンドル間に挾持された被測定物の
長さを測定するものである。このような電子式マイクロ
メータによれば、従来の機械式マイクロメータに比べて
精度の高い測定が可能となるものであるが、従来は、そ
の操作感に若干の問題があつた。即ち、従来の電子式マ
イ.クロメータにおいては、測定圧を一定とするために
は、測定者が、所定の測定圧がかかるよう、スピンドル
を一定圧で押えていなければならなかつた。一方、電子
式マイクロメータにおいて、スピン5ドルの自由戻りを
阻止すると共に、測定力を一定とするために、スピンド
ルを全ストロークに渡り往復動させるための往復機構と
、該往復機構を任意の位置でロックするためのラチエツ
ト機構と、該ラチエツト機構が作動している時に前記ス
ピン(ドルを被測定物に対して一定の測定力で押圧する
ための定圧機構とを設けることも考えられるが、前記ラ
チエツト機構を常時作動させると、スピンドルの移動時
に、ラチエツト機構の爪がラックを乗り越え、いわゆる
ラチエツト音が発生してしまいう。
、スピンドルと連動された可動スケールとを備え、スピ
ンドルの変位に伴なう可動スケールと固定スケール間の
物理量の変化、例えば、通過光量或いは反射光量の変化
から、フレームとスピンドル間に挾持された被測定物の
長さを測定するものである。このような電子式マイクロ
メータによれば、従来の機械式マイクロメータに比べて
精度の高い測定が可能となるものであるが、従来は、そ
の操作感に若干の問題があつた。即ち、従来の電子式マ
イ.クロメータにおいては、測定圧を一定とするために
は、測定者が、所定の測定圧がかかるよう、スピンドル
を一定圧で押えていなければならなかつた。一方、電子
式マイクロメータにおいて、スピン5ドルの自由戻りを
阻止すると共に、測定力を一定とするために、スピンド
ルを全ストロークに渡り往復動させるための往復機構と
、該往復機構を任意の位置でロックするためのラチエツ
ト機構と、該ラチエツト機構が作動している時に前記ス
ピン(ドルを被測定物に対して一定の測定力で押圧する
ための定圧機構とを設けることも考えられるが、前記ラ
チエツト機構を常時作動させると、スピンドルの移動時
に、ラチエツト機構の爪がラックを乗り越え、いわゆる
ラチエツト音が発生してしまいう。
これは、従来の機械式マイクロメータにおいて、シンプ
ルを回転させた時に、スピンドルが被測定物に当接する
迄は何ら回転音が発生せず。スピンドルが被測定物に当
接してからラチエツト音が発生するのに比でて、ラチエ
ツト音がうるさく、商品価値が低いものである。本発明
は、前記従来の欠点を解消するべく成されたもので、ス
ピンドルが被測定物に当接するフ迄、及び、スピンドル
が後退する時には、ラチエツト音が発生しない電子式マ
イクロメータを提供することを目的とする。
ルを回転させた時に、スピンドルが被測定物に当接する
迄は何ら回転音が発生せず。スピンドルが被測定物に当
接してからラチエツト音が発生するのに比でて、ラチエ
ツト音がうるさく、商品価値が低いものである。本発明
は、前記従来の欠点を解消するべく成されたもので、ス
ピンドルが被測定物に当接するフ迄、及び、スピンドル
が後退する時には、ラチエツト音が発生しない電子式マ
イクロメータを提供することを目的とする。
本発明に係る電子式マイクロメータは、フレームに固着
された固定スケールと、操作部であるスiライドノブに
連動して動き測定時に先端が被測定物に当接されるスピ
ンドルと、該スピンドルと連動された可動スケールとを
備え、スピンドルの変位に伴なう可動スケールと固定ス
ケール間ろ物理量の変化から、フレームとスピンドル間
に挾持さノれた被測定物の長かを測定する電子式マイク
ロメータにおいて、前記スピンドルを全ストロークに渡
り往復動させるための往復機構と、該往復機構を任意の
位置でロックするためのラチエツト機構と、前記スピン
ドルを被測定物に対して一定の測定力で押圧するための
定圧機構と、前記スピンドルが被測定物に当接してから
前記定圧機構が作動完了する迄の間に、前記ラチエツト
機構を作動させるためのラチエツト作動機構とを設けた
電子式マイクロメータであつて、前記往復機構は、前記
スピンドルを被測定物に当接する方向に押圧する測定力
付与ばねの作用によつて前記スピンドルと結合され、前
記スピンドル移動方向と同じ方向に移動するスライダと
、該スライダを操作するための前記スライドノブとから
構成され、前記測定力付与ばね及びスライダによつて前
記定圧機構が構成され、前記ラチエツト機構は、前記ス
ピンドルと平行状態で前記フレームに固着された案内軸
に形成されたラックと、該ラックと噛合して前記スライ
ダを任意の位置でロックするための爪を有する前記スラ
イドノブに連動された爪アームとから構成され、前記ラ
チエツト作動機構は、前記爪アームを、その爪がラック
と噛合する方向に常時付勢し前記スピンドルが被測定物
に当接した時に、前記爪をラックに噛合させるための爪
付勢ばねと、前記スライドノブによるスライダ前進時に
、前記爪アームを爪付勢ばねと逆方向に付勢して、前記
ラックと爪の噛合を解除するための、前記スピンドルに
固着されたスケールホルダに形成されたカム板と、前記
スライドノブによるスライダ後退時に、前記爪アームを
爪付勢ばねと逆方向に付勢して、前記ラックと爪の噛合
を解除するための、所定範囲内で前記スライダに対して
相対移動可能とされ、スライドノブ押圧時に前記爪アー
ムを爪付勢ばねと逆方向に付勢して、前記ラックと爪の
噛合を解除する、前記スライドノブが固着された中間板
とから構成されてなることを特徴とするもので、これに
よつて前記目的が達成されるものである。
された固定スケールと、操作部であるスiライドノブに
連動して動き測定時に先端が被測定物に当接されるスピ
ンドルと、該スピンドルと連動された可動スケールとを
備え、スピンドルの変位に伴なう可動スケールと固定ス
ケール間ろ物理量の変化から、フレームとスピンドル間
に挾持さノれた被測定物の長かを測定する電子式マイク
ロメータにおいて、前記スピンドルを全ストロークに渡
り往復動させるための往復機構と、該往復機構を任意の
位置でロックするためのラチエツト機構と、前記スピン
ドルを被測定物に対して一定の測定力で押圧するための
定圧機構と、前記スピンドルが被測定物に当接してから
前記定圧機構が作動完了する迄の間に、前記ラチエツト
機構を作動させるためのラチエツト作動機構とを設けた
電子式マイクロメータであつて、前記往復機構は、前記
スピンドルを被測定物に当接する方向に押圧する測定力
付与ばねの作用によつて前記スピンドルと結合され、前
記スピンドル移動方向と同じ方向に移動するスライダと
、該スライダを操作するための前記スライドノブとから
構成され、前記測定力付与ばね及びスライダによつて前
記定圧機構が構成され、前記ラチエツト機構は、前記ス
ピンドルと平行状態で前記フレームに固着された案内軸
に形成されたラックと、該ラックと噛合して前記スライ
ダを任意の位置でロックするための爪を有する前記スラ
イドノブに連動された爪アームとから構成され、前記ラ
チエツト作動機構は、前記爪アームを、その爪がラック
と噛合する方向に常時付勢し前記スピンドルが被測定物
に当接した時に、前記爪をラックに噛合させるための爪
付勢ばねと、前記スライドノブによるスライダ前進時に
、前記爪アームを爪付勢ばねと逆方向に付勢して、前記
ラックと爪の噛合を解除するための、前記スピンドルに
固着されたスケールホルダに形成されたカム板と、前記
スライドノブによるスライダ後退時に、前記爪アームを
爪付勢ばねと逆方向に付勢して、前記ラックと爪の噛合
を解除するための、所定範囲内で前記スライダに対して
相対移動可能とされ、スライドノブ押圧時に前記爪アー
ムを爪付勢ばねと逆方向に付勢して、前記ラックと爪の
噛合を解除する、前記スライドノブが固着された中間板
とから構成されてなることを特徴とするもので、これに
よつて前記目的が達成されるものである。
以下図面を参照して、本発明の実施例を詳細に−説明す
る。
る。
本実施例は、第1図乃至第5図に示す如く、先端内側に
アンビル12が配設された略U字形状のフレーム10と
、該フレーム10の後端面に植立された2本の案内軸1
4,16と、該案内軸14,16の後端に固着されたホ
ルダ18に、受光基板20を介して固着された、固定ス
ケールである、ガラス製の平板上に光の透過部と不透過
部が等間隔の縞模様に形成されて成るインデックススケ
ール22と、前記フレーム10に対して相対移動可能な
状態で支持され、測定時に先端24aが被測定物に当接
されるスピンドル24と、該スピンドル24に固着され
たスケールホルダ26に前端が固着された、可動スケー
ルである、ガラス製の平板上に光の透過部と不透過部が
等間隔の縞模様に形成されて成るメインスケール28と
、前記ホルダ18に固着された光源基板30上に配設さ
れた光源32と、前記受光基板20上に配設された、前
記光源32より照射され、メインスケール28及びイン
デックススケール22を透過した光を受光する受光素子
34とを備え、スピンドル24の変位に伴なうメインス
ケール28とインデックススケール22間の通過光量の
変化から、フレーム10のアンビル12とスピンドル2
4の先端24a間に挾持された被測定物の長さを測定す
る電子式マイクロメータにおいて、前記スピンドル24
を全ストロークに渡り往復動させるための、前記スピン
ドル24の移動方向と同じ方向に移動する、前記スピン
ドル24を被測弄物に当接する方向に押圧する測定力付
与ばね36及びピン39により回動自在に支持された連
結アーム38の作用により、前記スピンドル24に固着
されたスケールホルダ26の下端部と結合されたスライ
ダ40と、該スライダ40を、インデックススケール2
2、メインスケール28等をカバーするケース42の外
部から操作するためのスライドノブ44から成る往復機
構と、該往復機構を任意の位置でロックするための、前
記スピンドル24と平行状態で前記フレーム10に固着
されたl 案内軸16に形成されたラック16aと、
該ラック16aと噛合して前記スライダ40を任意の位
置でロックするための爪46aを有する、前記スライダ
40に固着されたピン48により回動自在に支軸され、
前記スライドノブ44に連動された爪アーム46から成
るラチエツト機構と、前記スピンドル24を被測定物に
堤して一定の測定力で押圧するための、前記測定力付与
ばね36、連結アーム38及びスライダ40から成る定
圧機構と、該定圧機構が作動した時に前記ラチエツト機
構を作動させるためのラチエツト作動機構とを設けたも
のである。 前記ラチエツト作動機構は、第5図乃至第
8図に詳細に示す如く、前記爪アーム46を、その爪4
6aがラック16aと噛合する方向(第5図の・反時計
方向)に常時付勢し、前記スピンドル24が被測定物に
当接した時に、前記爪46aをラック16aに噛合させ
るための、スライダ40と爪アーム46の前端部間に介
装された爪付勢ばね50と、前記スライドノブ44によ
るスライダ40フ前進時に、前記爪アーム46を爪付勢
ばね50と逆方向(第5図の時計方向)に付勢して、前
記ラック16aと爪46aの噛合を解除すための、前記
スピンドル24に固着されたスケールホルダ26の下端
に形成された、略逆L字形状のカム板256a(第6図
参照)、及び、前記瓜アーム46の前端上面に形成され
た、後方側に斜面46cが形成された突規46bと、前
記スライドノブ44よるスライダ40後端時に、前記爪
アーム46を爪付勢ばね50と逆方向(第6図の時計方
向)に付″O勢して、前記ラック16aと爪46aの噛
合を解除するための、所定範囲内で前記スライダ40に
対して相対移動可能とされた、前記スライドノブ44が
固着された中間板56(第第7図参照)と、該中間板5
6を常時前進方向に付勢する、スライダ40に一端が固
着された、略U字形状の板ばね58とを有して成る。
アンビル12が配設された略U字形状のフレーム10と
、該フレーム10の後端面に植立された2本の案内軸1
4,16と、該案内軸14,16の後端に固着されたホ
ルダ18に、受光基板20を介して固着された、固定ス
ケールである、ガラス製の平板上に光の透過部と不透過
部が等間隔の縞模様に形成されて成るインデックススケ
ール22と、前記フレーム10に対して相対移動可能な
状態で支持され、測定時に先端24aが被測定物に当接
されるスピンドル24と、該スピンドル24に固着され
たスケールホルダ26に前端が固着された、可動スケー
ルである、ガラス製の平板上に光の透過部と不透過部が
等間隔の縞模様に形成されて成るメインスケール28と
、前記ホルダ18に固着された光源基板30上に配設さ
れた光源32と、前記受光基板20上に配設された、前
記光源32より照射され、メインスケール28及びイン
デックススケール22を透過した光を受光する受光素子
34とを備え、スピンドル24の変位に伴なうメインス
ケール28とインデックススケール22間の通過光量の
変化から、フレーム10のアンビル12とスピンドル2
4の先端24a間に挾持された被測定物の長さを測定す
る電子式マイクロメータにおいて、前記スピンドル24
を全ストロークに渡り往復動させるための、前記スピン
ドル24の移動方向と同じ方向に移動する、前記スピン
ドル24を被測弄物に当接する方向に押圧する測定力付
与ばね36及びピン39により回動自在に支持された連
結アーム38の作用により、前記スピンドル24に固着
されたスケールホルダ26の下端部と結合されたスライ
ダ40と、該スライダ40を、インデックススケール2
2、メインスケール28等をカバーするケース42の外
部から操作するためのスライドノブ44から成る往復機
構と、該往復機構を任意の位置でロックするための、前
記スピンドル24と平行状態で前記フレーム10に固着
されたl 案内軸16に形成されたラック16aと、
該ラック16aと噛合して前記スライダ40を任意の位
置でロックするための爪46aを有する、前記スライダ
40に固着されたピン48により回動自在に支軸され、
前記スライドノブ44に連動された爪アーム46から成
るラチエツト機構と、前記スピンドル24を被測定物に
堤して一定の測定力で押圧するための、前記測定力付与
ばね36、連結アーム38及びスライダ40から成る定
圧機構と、該定圧機構が作動した時に前記ラチエツト機
構を作動させるためのラチエツト作動機構とを設けたも
のである。 前記ラチエツト作動機構は、第5図乃至第
8図に詳細に示す如く、前記爪アーム46を、その爪4
6aがラック16aと噛合する方向(第5図の・反時計
方向)に常時付勢し、前記スピンドル24が被測定物に
当接した時に、前記爪46aをラック16aに噛合させ
るための、スライダ40と爪アーム46の前端部間に介
装された爪付勢ばね50と、前記スライドノブ44によ
るスライダ40フ前進時に、前記爪アーム46を爪付勢
ばね50と逆方向(第5図の時計方向)に付勢して、前
記ラック16aと爪46aの噛合を解除すための、前記
スピンドル24に固着されたスケールホルダ26の下端
に形成された、略逆L字形状のカム板256a(第6図
参照)、及び、前記瓜アーム46の前端上面に形成され
た、後方側に斜面46cが形成された突規46bと、前
記スライドノブ44よるスライダ40後端時に、前記爪
アーム46を爪付勢ばね50と逆方向(第6図の時計方
向)に付″O勢して、前記ラック16aと爪46aの噛
合を解除するための、所定範囲内で前記スライダ40に
対して相対移動可能とされた、前記スライドノブ44が
固着された中間板56(第第7図参照)と、該中間板5
6を常時前進方向に付勢する、スライダ40に一端が固
着された、略U字形状の板ばね58とを有して成る。
以下作用を説明する。
先ず、スピンドル24の先端24aがフレーム10に対
して十分後退された測定開始前の状態においては、爪付
勢ばね50の作用により、爪アーム46が第5図の反時
計方向に付勢されており、爪アーム46の爪46aとラ
ック16aが噛合した状態にある。又、この時において
は、測定力付与ばね36の作用により、連結アーム38
がピン39を中心として第4図の時計方向に付勢され、
第4図に実線で示す如く、スライダ40がスケールホル
ダ26と一体化された状態りある。この時において、爪
アーム46の爪46aをラック16aと噛合された状態
のままスライドノブ44を第5図の左方向に動かし、ス
ピンドル24を前進させると、爪46aがラック16a
を乗り越える際にラチエツト音が発生し、商品価値が劣
るものである。従つて、本発明においてはこのラチエツ
ト音を無くすようにしている。即ち、フレーム10のア
ンビル12とスピンドル24の先端24a間に被測定物
を挾持するべく、測定者が中間板56に固着されたスラ
イドノブ44を前伸方向(矢印A方向)に移動させると
、第7図に示す如く、スライダ40に固着されたピン4
8及びストッパピン54が共に、中間板56に形成され
たI字状のカム穴56a..L字状のカム穴56bの後
端に係合した状態で、スライダ40、測定力付与ばね3
6により該スライダ40と一体化されたスケールホルダ
26、及び、該.スケールホルダ26に固着されたスピ
ンドル24が前進を開始する。
して十分後退された測定開始前の状態においては、爪付
勢ばね50の作用により、爪アーム46が第5図の反時
計方向に付勢されており、爪アーム46の爪46aとラ
ック16aが噛合した状態にある。又、この時において
は、測定力付与ばね36の作用により、連結アーム38
がピン39を中心として第4図の時計方向に付勢され、
第4図に実線で示す如く、スライダ40がスケールホル
ダ26と一体化された状態りある。この時において、爪
アーム46の爪46aをラック16aと噛合された状態
のままスライドノブ44を第5図の左方向に動かし、ス
ピンドル24を前進させると、爪46aがラック16a
を乗り越える際にラチエツト音が発生し、商品価値が劣
るものである。従つて、本発明においてはこのラチエツ
ト音を無くすようにしている。即ち、フレーム10のア
ンビル12とスピンドル24の先端24a間に被測定物
を挾持するべく、測定者が中間板56に固着されたスラ
イドノブ44を前伸方向(矢印A方向)に移動させると
、第7図に示す如く、スライダ40に固着されたピン4
8及びストッパピン54が共に、中間板56に形成され
たI字状のカム穴56a..L字状のカム穴56bの後
端に係合した状態で、スライダ40、測定力付与ばね3
6により該スライダ40と一体化されたスケールホルダ
26、及び、該.スケールホルダ26に固着されたスピ
ンドル24が前進を開始する。
この時においては、第5図に示す如く、スケールホルダ
26に形成されたカム板26aの前端部が、爪アーム4
6の前端部に形成された突起46bの斜面46cと係合
した状態!となるため、爪付勢ばね50に抗して、爪ア
ーム46が第5図の時計方向に回動され、爪46aとラ
ック16aの噛合が解除されている。従つて、このスピ
ンドル前進時にラチエツト音が発生することは無い。
4一方、スピンドル
24が十分前進され、その先端24aが被測定物に当接
する状態となると、スピンドル24は前進を停止するの
に対し、スライドノブ44によりスライダ40は前進方
向に付勢されているので、測定力付与ばね36に抗して
連結アーム38が第4図の反時計方向(矢印B方向)に
回動され、一点鎖線Cで示す状態となる。この時におい
ては、スライダ40で設定されてい7るスライダ40と
スケールホルダ26の相対移動可能範囲D(第4図)だ
けスケールホルダ26がスライダ40に対して後退した
状態となるため、スケールホルダ26に形成されたカム
板26aと爪アーム46に形成された斜面46cとの係
合関ク係が解かれることとなり、爪アーム46は爪付勢
ばね50の作用によりピン48を中心として第5図の反
時計方向に回動して、爪46aがラック16aと噛河合
した状態となる。この時において、爪アーム46の回動
範囲は、該爪アーム46に形7成されたばか穴46fの
内壁に当接する、ストッパとして作用するねじ54によ
り規制されている。従つて、スライダ40の自由戻りが
阻止され、測定力付与ばね36により有効な測定力がス
ピンドル24に与えられた状態で、被測定物の長ノさが
測定される。即ち、基準位置からのスピンドル24の変
位に伴なうメインスケール28とインデックススケール
22間の通過光量の変化から、フレーム10のアンビル
12とスピンドル24の先端24a間に挟持された被測
定物の長さが電気的に測定される。測定が終了し、スピ
ンドル24を開放して被測定物を取り外す際には、先ず
スライドノブ44を若干後退(矢印E方向)させた後押
圧(矢印F方向)する。
26に形成されたカム板26aの前端部が、爪アーム4
6の前端部に形成された突起46bの斜面46cと係合
した状態!となるため、爪付勢ばね50に抗して、爪ア
ーム46が第5図の時計方向に回動され、爪46aとラ
ック16aの噛合が解除されている。従つて、このスピ
ンドル前進時にラチエツト音が発生することは無い。
4一方、スピンドル
24が十分前進され、その先端24aが被測定物に当接
する状態となると、スピンドル24は前進を停止するの
に対し、スライドノブ44によりスライダ40は前進方
向に付勢されているので、測定力付与ばね36に抗して
連結アーム38が第4図の反時計方向(矢印B方向)に
回動され、一点鎖線Cで示す状態となる。この時におい
ては、スライダ40で設定されてい7るスライダ40と
スケールホルダ26の相対移動可能範囲D(第4図)だ
けスケールホルダ26がスライダ40に対して後退した
状態となるため、スケールホルダ26に形成されたカム
板26aと爪アーム46に形成された斜面46cとの係
合関ク係が解かれることとなり、爪アーム46は爪付勢
ばね50の作用によりピン48を中心として第5図の反
時計方向に回動して、爪46aがラック16aと噛河合
した状態となる。この時において、爪アーム46の回動
範囲は、該爪アーム46に形7成されたばか穴46fの
内壁に当接する、ストッパとして作用するねじ54によ
り規制されている。従つて、スライダ40の自由戻りが
阻止され、測定力付与ばね36により有効な測定力がス
ピンドル24に与えられた状態で、被測定物の長ノさが
測定される。即ち、基準位置からのスピンドル24の変
位に伴なうメインスケール28とインデックススケール
22間の通過光量の変化から、フレーム10のアンビル
12とスピンドル24の先端24a間に挟持された被測
定物の長さが電気的に測定される。測定が終了し、スピ
ンドル24を開放して被測定物を取り外す際には、先ず
スライドノブ44を若干後退(矢印E方向)させた後押
圧(矢印F方向)する。
すると、スライドノブ44が固着された中間板56が、
板ばね58に抗して先ず矢印E方向に後退し、次いで、
矢印F方向に押圧され、カム穴56bの内壁がストッパ
ピン54に当接する迄、ピン48を中心として第7図の
時計方向に回動される。すると、爪アーム46の先端部
下面に形成された突起46dにより爪アーム46もピン
48を中心として第7図の時計方向に回動されるため、
爪46aとラック16aの噛合が解除され、ラチエツト
音を発生すること無く、スピンドル24が後退される。
なお、爪アーム46の先端部下面に形成された突起46
d及び爪アーム46の後端部下面に形成された突起46
eは、スライダ40の上面と爪アーム46の下面間に所
定の間隔を保持して、中間板56を摺動自在とするため
の、スペーサーとして機能している。尚、前記実施例に
おいては、ラチエツト機構を作動させるラチエツト作動
機構を、定圧機構が作動した時に作動するようにしてい
たが、ラチエツト作E機構を作動させるタイミングはこ
れに限定されず、スピンドルが被測定物に当接してから
定圧機構が作動完了する迄の間であれば構わない。
板ばね58に抗して先ず矢印E方向に後退し、次いで、
矢印F方向に押圧され、カム穴56bの内壁がストッパ
ピン54に当接する迄、ピン48を中心として第7図の
時計方向に回動される。すると、爪アーム46の先端部
下面に形成された突起46dにより爪アーム46もピン
48を中心として第7図の時計方向に回動されるため、
爪46aとラック16aの噛合が解除され、ラチエツト
音を発生すること無く、スピンドル24が後退される。
なお、爪アーム46の先端部下面に形成された突起46
d及び爪アーム46の後端部下面に形成された突起46
eは、スライダ40の上面と爪アーム46の下面間に所
定の間隔を保持して、中間板56を摺動自在とするため
の、スペーサーとして機能している。尚、前記実施例に
おいては、ラチエツト機構を作動させるラチエツト作動
機構を、定圧機構が作動した時に作動するようにしてい
たが、ラチエツト作E機構を作動させるタイミングはこ
れに限定されず、スピンドルが被測定物に当接してから
定圧機構が作動完了する迄の間であれば構わない。
前記実施例においては、本発明が、インデックススケー
ル22が固定され、メインスケール28が可動とされた
電子式マイクロメータに適用されていたが、本発明の適
用範囲はこれに限定されず、インデックススケールが可
動とされた電子式マイクロメータにも同様に適用できる
ことは明らかである。又、前記実施例においては、本発
明が、メインスケール28とインデックススケール22
間の通過光量の変化から測定対象の変位を測定する電子
式マイクロメータに適用されていたが、本発明の適用範
囲はこれに限定されす、メインスケールとインデックス
スケール間の反射光量の変化から測定対象の変位を測定
する電子式マイクロメータ、或いは、メインスケールと
インデックススケール間の他の物理量の変化からスピン
ドルの変位を測定する一般の電子式マイクロメータにも
同様に適用てきることは明らかてある。
ル22が固定され、メインスケール28が可動とされた
電子式マイクロメータに適用されていたが、本発明の適
用範囲はこれに限定されず、インデックススケールが可
動とされた電子式マイクロメータにも同様に適用できる
ことは明らかである。又、前記実施例においては、本発
明が、メインスケール28とインデックススケール22
間の通過光量の変化から測定対象の変位を測定する電子
式マイクロメータに適用されていたが、本発明の適用範
囲はこれに限定されす、メインスケールとインデックス
スケール間の反射光量の変化から測定対象の変位を測定
する電子式マイクロメータ、或いは、メインスケールと
インデックススケール間の他の物理量の変化からスピン
ドルの変位を測定する一般の電子式マイクロメータにも
同様に適用てきることは明らかてある。
更に、前記実施例は、本発明を、電子式マイクロメータ
に適用したものであつたが、本発明の適用範囲はこれに
限定されず、ノギスやハイトゲージ等の他の測長器にも
同様に適用できることは明らかである。
に適用したものであつたが、本発明の適用範囲はこれに
限定されず、ノギスやハイトゲージ等の他の測長器にも
同様に適用できることは明らかである。
以上説明した通り、本発明によれば、スピンドルが被測
定物の当接する迄、及び、スピンドルが後退する時のラ
チエツト音が解消され、従来の機械式マイクロメータと
同様の操作感が得られ、商品価値が高められるという優
れたさらに本発明によれば、スピンドルを往復動させる
ための操作部であるスライドノブを操作するだけでラチ
エツト機構の作動および作動解除が可能であり、測定作
業、特に長さが種々大きく異なる被測定物の連続測定に
有効である。
定物の当接する迄、及び、スピンドルが後退する時のラ
チエツト音が解消され、従来の機械式マイクロメータと
同様の操作感が得られ、商品価値が高められるという優
れたさらに本発明によれば、スピンドルを往復動させる
ための操作部であるスライドノブを操作するだけでラチ
エツト機構の作動および作動解除が可能であり、測定作
業、特に長さが種々大きく異なる被測定物の連続測定に
有効である。
第1図は、本発明に係る電子式マイクロメータの実施例
を示す正面図、第2図は、第1図の■一■線に沿う断面
図、第3図は、第1図は■−■線に沿う断面図、第4図
は、前記実施例の要部を示す背面図、第5図は、前記実
施例におけるラチエツト機構とラチエツト作動機構を示
す上面図、第6図は、前記実施例に用いられているスケ
ールホルダの形状を示す側面図、第7図は、同じくラチ
エツト機構及びラチエツト作動機構の爪アーム及び中間
板を示す上面図、第8図は、同じく爪アーjム、中間板
及びスライダの相対位置関係を示す正面図である。 10・・・・フレーム、14,16・・・・・・案内軸
、16a・・・・・・ラック、18・・・・・・ホルダ
、20・・・・・・受光基板、22・・・・・・インデ
ックススケール、24・・・了スピンドル、26・・・
・スケールホルダ、26a・・・・・カム板、28・・
・・・メインスケール、30・・・・・・光源基板、3
2・・・・・・光源、34・・・・・・受光素子、36
・・測定力付与ばね、38・・・・・・連結アーム、4
0・・・・スライダ、44・・・・・・スライドノブ、
46・・・つ爪アーム、46a・・・・・・爪、50・
・・・・爪付勢ばね、56・・・・・中間板。
を示す正面図、第2図は、第1図の■一■線に沿う断面
図、第3図は、第1図は■−■線に沿う断面図、第4図
は、前記実施例の要部を示す背面図、第5図は、前記実
施例におけるラチエツト機構とラチエツト作動機構を示
す上面図、第6図は、前記実施例に用いられているスケ
ールホルダの形状を示す側面図、第7図は、同じくラチ
エツト機構及びラチエツト作動機構の爪アーム及び中間
板を示す上面図、第8図は、同じく爪アーjム、中間板
及びスライダの相対位置関係を示す正面図である。 10・・・・フレーム、14,16・・・・・・案内軸
、16a・・・・・・ラック、18・・・・・・ホルダ
、20・・・・・・受光基板、22・・・・・・インデ
ックススケール、24・・・了スピンドル、26・・・
・スケールホルダ、26a・・・・・カム板、28・・
・・・メインスケール、30・・・・・・光源基板、3
2・・・・・・光源、34・・・・・・受光素子、36
・・測定力付与ばね、38・・・・・・連結アーム、4
0・・・・スライダ、44・・・・・・スライドノブ、
46・・・つ爪アーム、46a・・・・・・爪、50・
・・・・爪付勢ばね、56・・・・・中間板。
Claims (1)
- 1 フレームに固着された固定スケールと、操作部であ
るスライドノブに連動して動き測定時に先端が被測定物
に当接されるスピンドルと、該スピンドルと連動された
可動スケールとを備え、スピンドルの変位に伴なう可動
スケールと固定スケール間の物理量の変化から、フレー
ムとスピンドル間に挾持された被測定物の長かを測定す
る電子式マイクロメータにおいて、前記スピンドルを全
ストロークの渡り往復動させるための往復機構と、該往
復機構を任意の位置でロックするためのラチエツト機構
と、前記スピンドルを被測定物に対して一定の測定力で
押圧するための定圧機構と、前記スピンドルが被測定物
に当接してから前記定圧機構が作動完了する迄の間に、
前記ラチエツト機構を作動させるためのラチエツト作動
機構とを設けた電子式マイクロメータであつて、前記往
復機構は、前記スピンドルを被測定物に当接する方向に
押圧する測定力付与ばねの作用によつて前記スピンドル
と結合され、前記スピンドル移動方向と同じ方向に移動
するスライダと、該スライダを操作するための前記スラ
イドノブとから構成され、前記測定力付与ばね及びスラ
イダによつて前記定圧機構が構成され、前記ラチェット
機構は、前記スピンドルと平行状態で前記フレームに固
着された案内軸に形成されたラックと、該ラックと噛合
して前記スライダを任意の位置でロックするための爪を
有する、前記スライドノブに連動された爪アームとから
構成され、前記ラチエツト作動機構は、前記爪アームを
、その爪がラックと噛合する方向に常時付勢し前記スピ
ンドルが被測定物に当接した時に、前記爪をラックに噛
合させるための爪付勢ばねと、前記スライドノブによる
スライダ前進時に、前記爪アームを爪付勢ばねと逆方向
に付勢して、前記ラックと爪の噛合を解除するための、
前記スピンドルに固着されたスケールホルダに形成され
たカム板と、前記スライドノブによるスライダ後退時に
、前記爪アームを爪付勢ばねと逆方向に付勢して、前記
ラックと爪の噛合を解除するための、所定範囲内で前記
スライダに対して相対移動可能とされ、スライドノブ押
圧時に前記爪アームを爪付勢ばねと逆方向に付勢して、
前記ラックと爪の噛合を解除する、前記スライドノブが
固着された中間板とから構成されてなることを特徴とす
る電子式マイクロメータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15793980A JPS6044604B2 (ja) | 1980-11-10 | 1980-11-10 | 電子式マイクロメ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15793980A JPS6044604B2 (ja) | 1980-11-10 | 1980-11-10 | 電子式マイクロメ−タ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5780513A JPS5780513A (en) | 1982-05-20 |
| JPS6044604B2 true JPS6044604B2 (ja) | 1985-10-04 |
Family
ID=15660769
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15793980A Expired JPS6044604B2 (ja) | 1980-11-10 | 1980-11-10 | 電子式マイクロメ−タ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6044604B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0257008U (ja) * | 1988-10-18 | 1990-04-25 | ||
| JPH04198547A (ja) * | 1990-11-28 | 1992-07-17 | Sekisui Chem Co Ltd | パネル構成の外壁 |
| JP2554826Y2 (ja) * | 1991-09-25 | 1997-11-19 | アンリツ株式会社 | ロードセルのストッパ機構 |
-
1980
- 1980-11-10 JP JP15793980A patent/JPS6044604B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5780513A (en) | 1982-05-20 |
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