JPS6045091B2 - Plate-shaped object conveyance mechanism - Google Patents
Plate-shaped object conveyance mechanismInfo
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- JPS6045091B2 JPS6045091B2 JP7645878A JP7645878A JPS6045091B2 JP S6045091 B2 JPS6045091 B2 JP S6045091B2 JP 7645878 A JP7645878 A JP 7645878A JP 7645878 A JP7645878 A JP 7645878A JP S6045091 B2 JPS6045091 B2 JP S6045091B2
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- wafer
- groove
- plate
- photoresist
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は板状物搬送機構、特にホトレジストを上面に塗
布したウェハを空気流等によつて搬送するいわゆるエア
ーベアリングに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a plate-like object conveying mechanism, and particularly to a so-called air bearing that conveys a wafer whose upper surface is coated with photoresist by means of an air flow or the like.
半導体装置等の組立においては、シリコン薄板(ウェハ
)に各種の処理加工を行なうが、この処理加工における
ウェハの搬送は、第1図に示すようにガイドテーブル1
の底面から搬送方向に傾斜した複数の噴射孔2から空気
や窒素等を吹き出し、この気流によつてウェハ3を浮き
上がらせるとともに搬送するいわゆるエアーベアリング
が用いられている。In the assembly of semiconductor devices, etc., various types of processing are performed on thin silicon plates (wafers).
A so-called air bearing is used in which air, nitrogen, etc. are blown out from a plurality of injection holes 2 inclined in the transport direction from the bottom surface of the wafer 3, and the wafer 3 is lifted up and transported by this air flow.
また、ガイドテーブル1の上面両側には突堤(突部)4
が設けられ、ウェハ3を案内している。ところで、ウェ
ハ表面に各種のパターン(絶縁層パターン、配線層パタ
ーン等)を形成する場合にはあらかじめホトレジストな
る感光剤をウェハの上面全域に塗布する。In addition, there are jetties (protrusions) 4 on both sides of the upper surface of the guide table 1.
is provided to guide the wafer 3. By the way, when forming various patterns (insulating layer patterns, wiring layer patterns, etc.) on the wafer surface, a photosensitive agent such as photoresist is applied in advance to the entire upper surface of the wafer.
このホトレジストも塗布後に乾燥炉に搬送するが、この
搬送にも前記構造のエアーベアリングが用いられる。ウ
ェハの上面に塗布されたホトレジストは表面張力の働き
もあつてその周縁で盛り上がると同時にその周面にも張
り出す。この結果、ウェハの移動時にウェハの周面が前
記突堤4に接触すると〔張り出したホトレジストが突堤
4の内壁面に付着し、ウェハの移動がスムーズに行かな
くなる。また、度重なるホトレジストの付着によつて突
堤の内壁面には大きな突子が形成され、ウェハが引つ掛
かつて移動しなくなることもある。また、第2図で示す
ように、エアーベアリングにおいてウェハ3を停止させ
る際には、ガイドテーブル1の端または途中にストッパ
5を常設または一時的に突出させるが、この場合もスト
ッパ5にホトレジスト6が付着する。This photoresist is also conveyed to a drying oven after coating, and the air bearing of the above-mentioned structure is also used for this conveyance. Due to the action of surface tension, the photoresist coated on the top surface of the wafer bulges at its periphery and at the same time overhangs its periphery. As a result, when the peripheral surface of the wafer comes into contact with the jetty 4 during movement of the wafer, the protruding photoresist adheres to the inner wall surface of the jetty 4, making it difficult for the wafer to move smoothly. Further, due to repeated adhesion of photoresist, large protrusions are formed on the inner wall surface of the jetty, and the wafer may get caught and become unable to move. Further, as shown in FIG. 2, when stopping the wafer 3 in an air bearing, a stopper 5 is permanently installed or temporarily protrudes at the end or halfway of the guide table 1. is attached.
ウェハ3はストッパ5に衝突することから、ストッパ5
に付着したホトレジストが部分的に飛び散りウェハ表面
に付着することもある。このようにホトレジスト上に塊
となつたホトレジストが付着するとその後の密1着式露
光処理においてマスクとの密着が悪く感光が不完全とな
りパターンが不明瞭となる等の不都合が生じる。したが
つて、本発明の目的はウェハ上面に塗布したホトレジス
トがガイドテーブルに設けた突部7やストッパに付着す
ることのないエアーベアリングを提供することにある。Since the wafer 3 collides with the stopper 5, the stopper 5
The photoresist that has adhered to the wafer may partially scatter and adhere to the wafer surface. If a lump of photoresist adheres to the photoresist in this way, problems such as poor adhesion with the mask and incomplete exposure and unclear patterns occur during the subsequent close-contact type exposure process. Therefore, an object of the present invention is to provide an air bearing in which the photoresist coated on the upper surface of the wafer does not adhere to the protrusion 7 or stopper provided on the guide table.
このような目的を達成するために本発明は、溝の底部か
ら溝内に入れられる板状物の下面に向かつて気体を噴射
させて板状物を溝に沿つて搬送する板状物搬送機構にお
いて、底部の気体噴射孔は溝の中心に気体が噴射される
ように傾斜させるととに、溝を形作る両側突部の内壁面
は上方に向かつて、互いに拡関するように傾斜させてな
るものてあつて、以下実施例により本発明を説明する。In order to achieve such an object, the present invention provides a plate-like object conveying mechanism that conveys the plate-like object along the groove by injecting gas from the bottom of the groove toward the lower surface of the plate-like object inserted into the groove. The gas injection hole at the bottom is inclined so that the gas is injected into the center of the groove, and the inner wall surfaces of the protrusions on both sides forming the groove are inclined upward so as to widen each other. The present invention will now be explained with reference to Examples.
第3図は本発明の板状物搬送機構の一実施例を示す。同
図には細長板状のガイドテーブル7と、このガイドテー
ブル7の上面両側に沿つて設けた突堤(突部)8とから
なるエアーベアリングが示されている。このエアーベア
リングのガイドテーブル7の上面にはその長手方向に沿
つてたとえば7列の噴射孔9列が穿たれている。そして
、これらの噴射孔9はガイドテーブル7内の中空部から
なる導孔10に連通している。この導孔10は図示しな
い高圧ポンプ系に接続され、空気や窒素が送り込まれる
ようになつている。前記噴射孔列はその中央は真上に向
かつて延びているが、その両側は噴射孔9から噴き出さ
れる気流がガイドテーブル7の上方中心に向かうように
傾斜している。これは、ガイドテーブル撰上を浮上状態
で移動するウェハ11が常にガイドテーブル7の中央部
を通つて移動するように配慮された結果である。また、
前記突堤8の内壁12、換言するなら,ば、1対の突堤
8とガイドテーブル7とで作り出すウェハ11を案内す
る搬送路(溝)13の両側内壁は対に上方に向かつて拡
関する傾斜面となつている。これは、ウェハ11が移動
中に内壁12に接触するような場合、ウェハ11の下面
周縁の3みが接触し、上面周縁は接触しないようにして
、ウェハ11の上面に塗布したホトレジスト14の周縁
に張り出した部分が内壁12に接触しないようにするも
のである。さらに、前記突堤8の内壁12にはウェハ1
13が内壁面に接触しないように噴射孔15がたとえば
2列ずつ設けられている。FIG. 3 shows an embodiment of the plate-like object conveyance mechanism of the present invention. The figure shows an air bearing consisting of a guide table 7 in the form of an elongated plate and jetties (protrusions) 8 provided along both sides of the upper surface of the guide table 7. For example, nine rows of seven injection holes are bored in the upper surface of the guide table 7 of this air bearing along its longitudinal direction. These injection holes 9 communicate with guide holes 10 formed from a hollow portion within the guide table 7. This guide hole 10 is connected to a high-pressure pump system (not shown), and air and nitrogen are fed into it. The center of the injection hole array extends directly upward, but both sides thereof are inclined so that the airflow ejected from the injection holes 9 is directed toward the upper center of the guide table 7. This is the result of consideration being given so that the wafer 11 moving in a floating state on the guide table 7 always moves through the center of the guide table 7. Also,
The inner walls 12 of the jetty 8, in other words, the inner walls on both sides of the transport path (groove) 13 that guides the wafer 11 created by the pair of jetties 8 and the guide table 7 are sloped surfaces that widen upward. It is becoming. This is because when the wafer 11 comes into contact with the inner wall 12 during movement, only the bottom periphery of the wafer 11 comes into contact with the inner wall 12, and the top periphery does not. This prevents the protruding portion from contacting the inner wall 12. Furthermore, a wafer 1 is placed on the inner wall 12 of the jetty 8.
For example, two rows of injection holes 15 are provided so that the injection holes 13 do not come into contact with the inner wall surface.
これら噴射孔15は突堤8内の導孔16に連通し、この
導孔16は前記導孔10と同様に高圧ポンプ系に接続さ
れている・
4(このようなエアーベアリングによれば、ガイ
ドテーブル7の底部の噴射孔9および突堤8の噴射孔1
5から空気あるいは窒素等を噴射させて上面にホトレジ
スト14を塗布したらウェハ11を搬送した場合、溝1
3の底部の噴射孔9からの気流はウェハの搬送方向に向
かつて流れるとともに、ウェハ11を溝13の中央に位
置させるように流れる。また、溝13を形作る内壁の噴
射孔15か7らウェハ11の周面に向かつ気体流が生じ
ている。これらのことからウェハの移動中にウェハの周
縁が内壁12に接触することは極めて少ない。また、仮
りにウェハの周縁が内壁12に当接することがあつても
、内壁12が傾斜し、内壁にはウ9エハ11の下面周縁
しか接触しない構造となつていることから、ウェハ11
1の上面に塗布されウェハ11の上面周縁に張り出した
ホトレジスト14が内壁12に接触し、内壁12に付着
することはほとんどない。このため、ウェハ11の搬送
は7スムーズに行なわれる。また、第4図に示すように
、ガイドテーブル7の終端あるいは途中(同図では終端
の例を示す。These injection holes 15 communicate with a guide hole 16 in the jetty 8, and this guide hole 16, like the guide hole 10, is connected to a high-pressure pump system.
4 (According to such an air bearing, the injection hole 9 on the bottom of the guide table 7 and the injection hole 1 on the jetty 8
When the wafer 11 is transferred after applying the photoresist 14 on the upper surface by spraying air or nitrogen from the groove 1
The airflow from the injection hole 9 at the bottom of the groove 3 flows in the wafer transport direction and also flows so as to position the wafer 11 at the center of the groove 13 . Further, a gas flow is generated toward the circumferential surface of the wafer 11 from the injection holes 15 or 7 in the inner wall forming the groove 13. For these reasons, it is extremely rare for the peripheral edge of the wafer to come into contact with the inner wall 12 during movement of the wafer. Furthermore, even if the peripheral edge of the wafer were to come into contact with the inner wall 12, the inner wall 12 is inclined and only the lower peripheral edge of the wafer 11 contacts the inner wall.
The photoresist 14 coated on the upper surface of the wafer 11 and protruding from the periphery of the upper surface of the wafer 11 comes into contact with the inner wall 12 and hardly adheres to the inner wall 12. Therefore, the wafer 11 is transported smoothly. Further, as shown in FIG. 4, the guide table 7 is located at the end or in the middle (the figure shows an example of the end).
)に設けるストッパ17も傾斜させ、ウェハ11の下面
周縁みがストッパ17に当接し、上面゛周縁は当接しな
いようにすることによつて、ストッパ17にもホトレジ
ストは付着しなくなる。この結果、ストッパ17にウェ
ハ11が当接しても、ストッパにホトレジストが付着し
ていないので、ウェハ11のホトレジスト面にホトレジ
スト塊が付着するようなこともなく、その後の密着式露
光処理においても鮮明な感光パターンが形成される。な
お、本発明は前記実施例に限定されない。) is also tilted so that only the periphery of the lower surface of the wafer 11 comes into contact with the stopper 17 and the periphery of the upper surface does not, so that photoresist does not adhere to the stopper 17 either. As a result, even if the wafer 11 comes into contact with the stopper 17, since no photoresist is attached to the stopper, there will be no photoresist lumps attached to the photoresist surface of the wafer 11, and the subsequent contact exposure process will be clear. A photosensitive pattern is formed. Note that the present invention is not limited to the above embodiments.
また、本発明の搬送の対象物はウェハに限定されず、塗
布物をホトレジストに限らない。以上のように、本発明
の板状物搬送機構によれば、上面に塗布物を塗布した板
状物をスムーズに搬送することができる。Further, the object to be transported in the present invention is not limited to a wafer, and the applied object is not limited to photoresist. As described above, according to the plate-like object transport mechanism of the present invention, a plate-like object whose upper surface is coated with a coating material can be smoothly transported.
また、塗布物を塗布した板状物の塗布面を塗布物で汚す
こともなくなる。Further, the coated surface of the plate-like object coated with the coating material is not stained with the coating material.
第1図は従来のエアーベアリングの斜視図、第2図は同
じく停止機構部を有するエアーベアリングの一部断面図
、第3図は本発明のエアーベアリングの断面図、第4図
は本発明の他の実施例を示す一部断面図である。
1・・・ガイドテーブル、2・・・噴射孔、3・・・ウ
ェハ、4・・・突堤(突部)、5・・・ストッパ、6・
・・ホトレジスト、7・・・ガイドテーブル、8・・・
突堤(突゛′,Y)、9・・・噴射孔、10・・・導孔
、11・・・ウェハ、12・・・内壁、13・・・搬送
路(溝)、14・・・ホトレジスト、15・・・噴射孔
、16・・・導孔、17・・・ストッパ。FIG. 1 is a perspective view of a conventional air bearing, FIG. 2 is a partial sectional view of an air bearing also having a stop mechanism, FIG. 3 is a sectional view of an air bearing of the present invention, and FIG. 4 is a sectional view of an air bearing of the present invention. FIG. 7 is a partial cross-sectional view showing another embodiment. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Guide table, 2... Injection hole, 3... Wafer, 4... Jetty (protrusion), 5... Stopper, 6...
...Photoresist, 7...Guide table, 8...
Jetty (projection ', Y), 9... Injection hole, 10... Guide hole, 11... Wafer, 12... Inner wall, 13... Conveyance path (groove), 14... Photoresist , 15... Injection hole, 16... Guide hole, 17... Stopper.
Claims (1)
が塗布されてあるウェハをその溝に沿つて搬送するため
の板状物搬送機構であつて、底部の気体噴射孔は溝の中
心に気体が噴射されるように傾斜させるとともに、溝を
形作る両側突部の内壁面は上方に向かつて互いに拡開す
るように傾斜していることを特徴とする板状物搬送機構
。1 A plate-shaped object transport mechanism for transporting a wafer whose main surface is coated with photoresist along the groove by injecting gas from the bottom of the groove, and the gas injection hole at the bottom injects gas into the center of the groove. What is claimed is: 1. A plate-like object conveying mechanism characterized in that the inner wall surfaces of the protrusions on both sides forming the groove are inclined so as to diverge upwardly and from each other.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7645878A JPS6045091B2 (en) | 1978-06-26 | 1978-06-26 | Plate-shaped object conveyance mechanism |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7645878A JPS6045091B2 (en) | 1978-06-26 | 1978-06-26 | Plate-shaped object conveyance mechanism |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS557106A JPS557106A (en) | 1980-01-18 |
| JPS6045091B2 true JPS6045091B2 (en) | 1985-10-07 |
Family
ID=13605705
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7645878A Expired JPS6045091B2 (en) | 1978-06-26 | 1978-06-26 | Plate-shaped object conveyance mechanism |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6045091B2 (en) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5752149A (en) * | 1980-09-16 | 1982-03-27 | Hitachi Ltd | Conveying device for wafer |
| JPS5762844A (en) * | 1980-10-01 | 1982-04-16 | Kawasaki Steel Corp | Vertical bending type continuous casting machine |
| JPH01205438A (en) * | 1988-10-12 | 1989-08-17 | Hitachi Ltd | Magnetic-levitation-type transfer apparatus |
| JP4358924B2 (en) * | 1998-11-25 | 2009-11-04 | 株式会社渡辺商行 | Storage unit and storage device for plate-like substrate |
| CN104418498B (en) * | 2013-08-27 | 2016-12-28 | 洛阳兰迪玻璃机器股份有限公司 | Glass heating furnace |
| CN111924541B (en) * | 2020-07-01 | 2021-12-07 | 山东聊城华阳医药辅料有限公司 | Pneumatic pipeline conveying device based on photosensitive resistance value characteristics |
-
1978
- 1978-06-26 JP JP7645878A patent/JPS6045091B2/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS557106A (en) | 1980-01-18 |
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