JPS6049853B2 - 物体表面温度の測定方法 - Google Patents
物体表面温度の測定方法Info
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- JPS6049853B2 JPS6049853B2 JP55179254A JP17925480A JPS6049853B2 JP S6049853 B2 JPS6049853 B2 JP S6049853B2 JP 55179254 A JP55179254 A JP 55179254A JP 17925480 A JP17925480 A JP 17925480A JP S6049853 B2 JPS6049853 B2 JP S6049853B2
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- Japan
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- light
- temperature
- radiometer
- furnace
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/52—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using comparison with reference sources, e.g. disappearing-filament pyrometer
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、物体特に炉内物体の表面温度を放射測温する
方法に関する。
方法に関する。
炉内物体例えは焼鈍処理される鋼板される表面温度を第
１図に示すようにして放射測温する方法を本出願人は既
に提案した（特願昭５５−２７１０８）。
１図に示すようにして放射測温する方法を本出願人は既
に提案した（特願昭５５−２７１０８）。
この図で１０は鋼板、１２は展体炉、１６は放射計であ
り、Ｎは測温点ＰＴに立てた法線、θ１、θ。は展体炉
１２、放射計１６と測温点ＰＴとを結ふ直線が法線Ｎに
対してなす角であり、θ、＝θ２に選定される。この測
定系ては鋼板１０の温度をＴｌ、放射率をＥ＿）展体炉
１２の温度をＴ。とすると、放射計１６が受光する放射
エネルギＥ＿、はＥ＿、■ Ｅ＿−Ｅ＿ｂ（Ｔｌ）＋（
１−Ｅ＿）Ｅ＿ｂ（Ｔ０）・・・・・・（１）である。
り、Ｎは測温点ＰＴに立てた法線、θ１、θ。は展体炉
１２、放射計１６と測温点ＰＴとを結ふ直線が法線Ｎに
対してなす角であり、θ、＝θ２に選定される。この測
定系ては鋼板１０の温度をＴｌ、放射率をＥ＿）展体炉
１２の温度をＴ。とすると、放射計１６が受光する放射
エネルギＥ＿、はＥ＿、■ Ｅ＿−Ｅ＿ｂ（Ｔｌ）＋（
１−Ｅ＿）Ｅ＿ｂ（Ｔ０）・・・・・・（１）である。
こゝでＥ＿ｂ（Ｔ）は温度Ｔの展伸が放出する放射エネ
ルギである。展体炉１２の温度をＴ３にすれば、そのと
き放射計１６が受ける放射エネルギＥ＿２はＥ＿２■ε
・ Ｅ＿ｂ（Ｔｉ）十（１−Ｅ＿）Ｅ＿ｂ（Ｔ３）・・
・・・・（２）である。
ルギである。展体炉１２の温度をＴ３にすれば、そのと
き放射計１６が受ける放射エネルギＥ＿２はＥ＿２■ε
・ Ｅ＿ｂ（Ｔｉ）十（１−Ｅ＿）Ｅ＿ｂ（Ｔ３）・・
・・・・（２）である。
これらの式で未知数はεとＴｌであるから（１）、（２
）式は解くことがてき、Ｅ＿、−Ｅ＿２ Ｅ＿■１−・・・・・・（３） Ｅ＿■Ｔ２）上ｂ（Ｔ０） Ｅ＿０１−Ｅ＿ Ｅ＿ｂ（Ｔ、）＝−−−・ Ｅ＿ｂ（Ｔ３）・・・・・
・（４）となる。
）式は解くことがてき、Ｅ＿、−Ｅ＿２ Ｅ＿■１−・・・・・・（３） Ｅ＿■Ｔ２）上ｂ（Ｔ０） Ｅ＿０１−Ｅ＿ Ｅ＿ｂ（Ｔ、）＝−−−・ Ｅ＿ｂ（Ｔ３）・・・・・
・（４）となる。
Ｅ＿ｂ（Ｔｌ）が分ればウィーンの公式Ｅ＿ｂ（Ｔ）■
Ｃｌλ−゜ｅｘｐ（−Ｃｏ／λ・ Ｔ）などから温度Ｔ
が求められる。しカル以上の議論は理想的な状態に対す
るもので実際には種々の補正を必要とする。
Ｃｌλ−゜ｅｘｐ（−Ｃｏ／λ・ Ｔ）などから温度Ｔ
が求められる。しカル以上の議論は理想的な状態に対す
るもので実際には種々の補正を必要とする。
例えは（２）式の右辺第２項は展体炉からの放射エネル
ギが鋼板表面て鏡面反射して放射計１６に入力する、と
すＪるものであるが、実際には鋼板表面は完全鏡面では
なく若干の乱反射を生じる。これは（１−Ｅ＿）が小さ
くなることを意味し、０＜ｆ＜１となる係数ｆを導入し
てｆ（１−ε）に補正する必要がある。この係数ｆは鏡
面反射係数とても称すべきも丁のである。また鋼板表面
が非完全鏡面であると炉壁からの放射エネルギが鋼板表
面で拡散反射して放射計に入る分も考慮しなければなら
す、この分は（１−Ｅ＿）ｐ）Ｅ＿ｂ（Ｔ０）て表わさ
れる。こゝでｐは鋼板表面の拡散反射係数であり、係数
ｆとはｆ＋ｐ＝１の関係にある。Ｔ４は炉壁の温度であ
る。これを補正すると（１）〜（４）式はとなる。
ギが鋼板表面て鏡面反射して放射計１６に入力する、と
すＪるものであるが、実際には鋼板表面は完全鏡面では
なく若干の乱反射を生じる。これは（１−Ｅ＿）が小さ
くなることを意味し、０＜ｆ＜１となる係数ｆを導入し
てｆ（１−ε）に補正する必要がある。この係数ｆは鏡
面反射係数とても称すべきも丁のである。また鋼板表面
が非完全鏡面であると炉壁からの放射エネルギが鋼板表
面で拡散反射して放射計に入る分も考慮しなければなら
す、この分は（１−Ｅ＿）ｐ）Ｅ＿ｂ（Ｔ０）て表わさ
れる。こゝでｐは鋼板表面の拡散反射係数であり、係数
ｆとはｆ＋ｐ＝１の関係にある。Ｔ４は炉壁の温度であ
る。これを補正すると（１）〜（４）式はとなる。
これが前記出願の測定原理であり、か）る測定を実行す
る装置、例えば黒体炉側からＥｂ（Ｔ２），Ｅｂ（Ｔ３
）を得る手段などは適宜構成若しくは変更できる。また
Ｅｂ（Ｔ３）±０とすることもでき、この方が式が簡単
になる。ところで上記（５），（６）を解いて（７），
（８）式を求める場合も前記出願ては未知数はεとＴ１
であり、それ以外は既知（測定値もしくは設定値）とす
る。
る装置、例えば黒体炉側からＥｂ（Ｔ２），Ｅｂ（Ｔ３
）を得る手段などは適宜構成若しくは変更できる。また
Ｅｂ（Ｔ３）±０とすることもでき、この方が式が簡単
になる。ところで上記（５），（６）を解いて（７），
（８）式を求める場合も前記出願ては未知数はεとＴ１
であり、それ以外は既知（測定値もしくは設定値）とす
る。
しかしながら拡散反射係数ｐは物体の表面性状（粗度な
ど）によつて０〜１の範囲で大きく変る。従つて推定値
を使用すると、場合によつては大きな測定誤差を招く恐
れがある。本発明はこの点を改善するものであつて、拡
散反射係数をオンライン測定し、変動する測温対象の正
確な誤係数を知つて高精度の測温をしようとするものて
ある。
ど）によつて０〜１の範囲で大きく変る。従つて推定値
を使用すると、場合によつては大きな測定誤差を招く恐
れがある。本発明はこの点を改善するものであつて、拡
散反射係数をオンライン測定し、変動する測温対象の正
確な誤係数を知つて高精度の測温をしようとするものて
ある。
即ち本発明の測定方法は放射計と黒体炉を物体に対して
、該放射計へ該物体からの放射エネルギが直接、及び該
黒体炉からの放射エネルギが物体表面で鏡面反射したの
ち入射するように配置し、かつ該黒体炉からの放射エネ
ルギ．−を低、高温時のそれの２種に変えて、該低温時
の放射計受光エネルギＥ１と高温時の放射計受光エネル
ギＥ２を計測し、また該物体表面に光を投射して鏡面反
射する光１１とその周囲の拡散反射光１２との比を求め
、該比Ｕ２／１１より該物体表面の拡散く反射係数ｐを
求め、これらの受光エネルギＥｌ，Ｅ２および拡散反射
係数ｐより該物体の表面温度を求めることを特徴とする
ものである。次に拡散反射係数の測定法を説明する。第
２図は本測定法の原理を示す。
、該放射計へ該物体からの放射エネルギが直接、及び該
黒体炉からの放射エネルギが物体表面で鏡面反射したの
ち入射するように配置し、かつ該黒体炉からの放射エネ
ルギ．−を低、高温時のそれの２種に変えて、該低温時
の放射計受光エネルギＥ１と高温時の放射計受光エネル
ギＥ２を計測し、また該物体表面に光を投射して鏡面反
射する光１１とその周囲の拡散反射光１２との比を求め
、該比Ｕ２／１１より該物体表面の拡散く反射係数ｐを
求め、これらの受光エネルギＥｌ，Ｅ２および拡散反射
係数ｐより該物体の表面温度を求めることを特徴とする
ものである。次に拡散反射係数の測定法を説明する。第
２図は本測定法の原理を示す。
即ち本測定ではａ図に示すように投光部Ａより物体表面
に対して光Ｂを投射し、その反射光Ｂ″を受光部Ｃで測
定する。受光部では鏡面反射１１とその周囲の拡散反射
光１２との比１２／１１を求める。この比は次に述べる
ように拡散反射係数ｐに対応しており、同図ｂに示す予
め求めておいたＰ−１２／１１特性曲線Ｄよりｐを知る
ことができる。前記（５），（６）式の演算に必要な係
数（１−ｐ）は）入射光Ｌと鏡面反射光１１との比■１
／１０に対応付けることができる。
に対して光Ｂを投射し、その反射光Ｂ″を受光部Ｃで測
定する。受光部では鏡面反射１１とその周囲の拡散反射
光１２との比１２／１１を求める。この比は次に述べる
ように拡散反射係数ｐに対応しており、同図ｂに示す予
め求めておいたＰ−１２／１１特性曲線Ｄよりｐを知る
ことができる。前記（５），（６）式の演算に必要な係
数（１−ｐ）は）入射光Ｌと鏡面反射光１１との比■１
／１０に対応付けることができる。
即ち、物体表面て拡散反射する（鏡面反射は除く）光を
ΔＩとすればＩ。＝１１＋Δ１１従つてとなる。
ΔＩとすればＩ。＝１１＋Δ１１従つてとなる。
受光部Ｃでは測定する光１２はΔＩの一部であるからΔ
Ｉ＝Ｉ２＋αとおけば上記（１ａ式の右辺ノが得られ、
この（１０）式の右辺から明らかなようにｐ＝１２／１
１とする測定法はα，１２に伴なう若干の誤差が出るが
、鏡面反射に近い状態ではα″．０，１２十α′−１１
であるので上記誤差は小さい。そしてＩ。に比べて１２
の測定は後述のように極めて簡単にできる。（１−ｐ）
を直接測定する場合は（９）式を変形してとすればよい
。
Ｉ＝Ｉ２＋αとおけば上記（１ａ式の右辺ノが得られ、
この（１０）式の右辺から明らかなようにｐ＝１２／１
１とする測定法はα，１２に伴なう若干の誤差が出るが
、鏡面反射に近い状態ではα″．０，１２十α′−１１
であるので上記誤差は小さい。そしてＩ。に比べて１２
の測定は後述のように極めて簡単にできる。（１−ｐ）
を直接測定する場合は（９）式を変形してとすればよい
。
投光部Ａでは光Ｂを第３図ａに示すように細いビーム囚
として、また同図ｂに示すように太いビーム式として、
あるいは同図ｃに示すように測温点ＰＴて１点に集束す
る円錐もしくは角錐状ビーム式として物体１０へ投射す
る。
として、また同図ｂに示すように太いビーム式として、
あるいは同図ｃに示すように測温点ＰＴて１点に集束す
る円錐もしくは角錐状ビーム式として物体１０へ投射す
る。
ａの場合はレーザ光を使用するのが適当であるが、通常
の可視光をレンズなどで紋つてもよい。ｂの場合はレー
ザ光とビームエキスパンダおよびレンズ、又は白熱灯と
レンズまたはミラー系などで大径平行ビーム八を作る。
ｃの場合も同様な手段でビームを円錐状等にする。受光
部Ｃは第４図のように構成する。同図ａは中央に孔ｈが
あいた円板を主体とする回転セクタと、円板状受光器２
２を使用する例を示し、回転セクタ２０を図示位置に置
くと鏡面反射光のみが孔ｈを通つて（そのように孔径、
セクタ位置を定める）背後の受光器２２に達し、それ以
外の反射光は回転セクタ２０により遮ぎられて受光器２
２に達せず、従つて受光器２２の出力は鏡面反射光成分
１１に対応したものとなる。次に回転セクタ２０を回転
させて受光器２２の前方から退去させると、受光器２２
へは該鏡面反射成分１１とその周囲の反射光、詳しくは
受光器２２が測温点ＰＴに対して張る立体角内の反射光
（これを１３とする）が入射し、受光器出力は１３に対
応したものとなる。従つて比１。／１１は（Ｌ３−１１
）／１１として求める回転セクタも受光素子としておけ
ばその出力は１２となるから、部材２０，２２の出力の
比として直ちに１２／１１が求まる。孔ｈの径は鏡面反
射光のみが通るように選定するから、入射光が小径ビー
ムのときは小さく、大径ビームのときは大になる。
の可視光をレンズなどで紋つてもよい。ｂの場合はレー
ザ光とビームエキスパンダおよびレンズ、又は白熱灯と
レンズまたはミラー系などで大径平行ビーム八を作る。
ｃの場合も同様な手段でビームを円錐状等にする。受光
部Ｃは第４図のように構成する。同図ａは中央に孔ｈが
あいた円板を主体とする回転セクタと、円板状受光器２
２を使用する例を示し、回転セクタ２０を図示位置に置
くと鏡面反射光のみが孔ｈを通つて（そのように孔径、
セクタ位置を定める）背後の受光器２２に達し、それ以
外の反射光は回転セクタ２０により遮ぎられて受光器２
２に達せず、従つて受光器２２の出力は鏡面反射光成分
１１に対応したものとなる。次に回転セクタ２０を回転
させて受光器２２の前方から退去させると、受光器２２
へは該鏡面反射成分１１とその周囲の反射光、詳しくは
受光器２２が測温点ＰＴに対して張る立体角内の反射光
（これを１３とする）が入射し、受光器出力は１３に対
応したものとなる。従つて比１。／１１は（Ｌ３−１１
）／１１として求める回転セクタも受光素子としておけ
ばその出力は１２となるから、部材２０，２２の出力の
比として直ちに１２／１１が求まる。孔ｈの径は鏡面反
射光のみが通るように選定するから、入射光が小径ビー
ムのときは小さく、大径ビームのときは大になる。
受光器２２の位置にはレンズを置き、それで集光して小
型受光器に投射して計測するようにしてもよい。第４図
ｂは十字状に並ふ点状受光素子２４により比１２／１１
を測定する。
型受光器に投射して計測するようにしてもよい。第４図
ｂは十字状に並ふ点状受光素子２４により比１２／１１
を測定する。
即ち反射光の強度分布はＸ，ｙ方向にｃ図ｄ図の如く分
布しているからこの受光素子アレーの受光出力を積分演
算することにより鏡面反射成分１１とその周囲の反射成
分１２とを求めることができる。受光素子２４は多数設
ける代りに１素子を使用し、それをアレイ方向即ちＸ，
ｙ方向に走査してもよい。第４図ｅは同図ａの変形例で
、可動セクタ２０の前後にレンズ２６，２８を配置し、
該レンズ２８の後方に小型受光素子３０を置く。
布しているからこの受光素子アレーの受光出力を積分演
算することにより鏡面反射成分１１とその周囲の反射成
分１２とを求めることができる。受光素子２４は多数設
ける代りに１素子を使用し、それをアレイ方向即ちＸ，
ｙ方向に走査してもよい。第４図ｅは同図ａの変形例で
、可動セクタ２０の前後にレンズ２６，２８を配置し、
該レンズ２８の後方に小型受光素子３０を置く。
レンズ２０て反射光を平行光束とし、レンズ２８て集光
して受光素子３０へ投射する。セクタ２０を回転または
直進させて図示のように平行光束中へ挿入すれは受光素
子３０の出力は１１、それより外せは１１＋１２となり
、これより比１２／１１を求めることができる。第４図
ｆは、開口を持つ凹面反射鏡３２を用いて全反射光と鏡
面反射光との比を求める例を示す。
して受光素子３０へ投射する。セクタ２０を回転または
直進させて図示のように平行光束中へ挿入すれは受光素
子３０の出力は１１、それより外せは１１＋１２となり
、これより比１２／１１を求めることができる。第４図
ｆは、開口を持つ凹面反射鏡３２を用いて全反射光と鏡
面反射光との比を求める例を示す。
即ち、この反射鏡３２を取除くと受光素子３０には鏡面
反射光１１のみ入射し（受光素子３０の受光面の大きさ
はそのように選んでおく）、反射鏡３２を図示位置に置
くと開口ｈ１から入つて物体表面で鏡面反射した反射光
は開口Ｈ２を通つて受光器３０へ入射し、また物体表面
て各方向へ拡散反射した入射光は反射鏡３２で反射して
物体表面１０へ戻され、そこで再び反射し、こうして多
重反射後開口Ｈ２を通つて受光器３０へ入る。この場合
の受光器出力ほ〜１１＋Ｉ２であるが、物体表面での拡
散反射の程度が著しいとすると第４図Ａ，ｂなどの場合
より１２は大である。第４図ｇは可視光の代りに赤外線
を使用し、受光素子としてはシリコンセルを使用してこ
れを可動にして例を示す。
反射光１１のみ入射し（受光素子３０の受光面の大きさ
はそのように選んでおく）、反射鏡３２を図示位置に置
くと開口ｈ１から入つて物体表面で鏡面反射した反射光
は開口Ｈ２を通つて受光器３０へ入射し、また物体表面
て各方向へ拡散反射した入射光は反射鏡３２で反射して
物体表面１０へ戻され、そこで再び反射し、こうして多
重反射後開口Ｈ２を通つて受光器３０へ入る。この場合
の受光器出力ほ〜１１＋Ｉ２であるが、物体表面での拡
散反射の程度が著しいとすると第４図Ａ，ｂなどの場合
より１２は大である。第４図ｇは可視光の代りに赤外線
を使用し、受光素子としてはシリコンセルを使用してこ
れを可動にして例を示す。
４は黒体炉、３６はシリコンセルからなる受光器である
。
。
黒体炉３４から赤外線（放射エネルギ）を円錐状にして
物体１０の測温点ＰＴに照射し、この鏡面反射光を受光
器３６で受ける。これには、図示受光器位置で該受光器
が測温点ＰＴに張る立体角Ω１内に鏡面反射光のみが入
るようにすればよい（そのように受光器位置等を定めれ
ばよい）。次いで受光器３６を点線位置へ前進させ、測
温点に対して張る立体角Ω２がΩ１より大になるように
する。こうすれば前述の１１＋Ｉ２を測定することがで
きる。第５図は入、反射角θが３００、使用した赤外線
の波長λが０．９μｍ１Ω１＝０．００１π〔Ｓｒ〕，
Ω２＝０．０１π〔Ｓｒ〕のときの拡散反射係数ｐ対強
度比１２／１１との関係を示す。
物体１０の測温点ＰＴに照射し、この鏡面反射光を受光
器３６で受ける。これには、図示受光器位置で該受光器
が測温点ＰＴに張る立体角Ω１内に鏡面反射光のみが入
るようにすればよい（そのように受光器位置等を定めれ
ばよい）。次いで受光器３６を点線位置へ前進させ、測
温点に対して張る立体角Ω２がΩ１より大になるように
する。こうすれば前述の１１＋Ｉ２を測定することがで
きる。第５図は入、反射角θが３００、使用した赤外線
の波長λが０．９μｍ１Ω１＝０．００１π〔Ｓｒ〕，
Ω２＝０．０１π〔Ｓｒ〕のときの拡散反射係数ｐ対強
度比１２／１１との関係を示す。
これは第２図ｂの一具体例である。第６図は本発明の実
施例を示す。
施例を示す。
４０は連続焼鈍炉であつて、本例ではストリップてある
鋼板１０を連談焼鈍する。
鋼板１０を連談焼鈍する。
４２は前述の拡散反射係数ｐの測定装置てあつて炉４０
の入側に設けられる。
の入側に設けられる。
４４は第１図に示した放射測温装置のセンサ部、′４６
は前記（７），（８）式の演算を行なつてストリップ１
０の放射率Ｅおよび温度Ｔを演出する演算装置てある。
は前記（７），（８）式の演算を行なつてストリップ１
０の放射率Ｅおよび温度Ｔを演出する演算装置てある。
ｐ値測定装置４２は焼鈍炉４０の出側に放射測温装置の
センサ部４４と並設してもよく、ｐ値の変化が激しいと
きはこの方が正確な測温を７可能にする。以上説明した
ように本発明によれば第１図に示す放射測温法で正確に
物体温度を測定することが可能となり、しかもそれに必
要な拡散反射係数ｐの計測は容易であるなどの利点を有
する。
センサ部４４と並設してもよく、ｐ値の変化が激しいと
きはこの方が正確な測温を７可能にする。以上説明した
ように本発明によれば第１図に示す放射測温法で正確に
物体温度を測定することが可能となり、しかもそれに必
要な拡散反射係数ｐの計測は容易であるなどの利点を有
する。
９図面の簡単な説明
第１図は既提案の放射測温の原理を説明する図、第２図
は本発明の測定要領を説明する図、第３図は投射される
光の各種の例を示す説明図、第４図は受光部の各種の例
を示す説明図、第５図はＰ−１２／１１特性の１例を示
すグラフ、第６図は本発明の実施例を示す説明図てある
。
は本発明の測定要領を説明する図、第３図は投射される
光の各種の例を示す説明図、第４図は受光部の各種の例
を示す説明図、第５図はＰ−１２／１１特性の１例を示
すグラフ、第６図は本発明の実施例を示す説明図てある
。
図面で１６は放射計、１２は黒体炉、１０は物体、Ｂは
投射光、Ｂ″は反射光である。
投射光、Ｂ″は反射光である。
Claims (1)
- １ 放射計と黒体炉を物体に対して、該放射計へ該物体
からの放射エネルギが直接、及び該黒体炉からの放射エ
ネルギが物体表面で鏡面反射したのち入射するように配
置し、かつ該黒体炉からの放射エネルギを低、高温時の
それの２種に変えて、該低温時の放射計受光エネルギＥ
＿１と高温時の放射計受光エネルギＥ＿２を計測し、ま
た該物体表面に光を投射して鏡面反射する光Ｉ＿１とそ
の周囲の拡散反射光Ｉ＿２との比を求め、該比Ｉ＿２／
Ｉ＿１より該物体表面の拡散反射係数ｐを求め、これら
の受光エネルギＥ＿１、Ｅ＿２および拡散反射係数ｐよ
り該物体の表面温度を求めることを特徴とする物体表面
温度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55179254A JPS6049853B2 (ja) | 1980-12-18 | 1980-12-18 | 物体表面温度の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55179254A JPS6049853B2 (ja) | 1980-12-18 | 1980-12-18 | 物体表面温度の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57103024A JPS57103024A (en) | 1982-06-26 |
| JPS6049853B2 true JPS6049853B2 (ja) | 1985-11-05 |
Family
ID=16062628
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55179254A Expired JPS6049853B2 (ja) | 1980-12-18 | 1980-12-18 | 物体表面温度の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6049853B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021139628A (ja) * | 2020-03-02 | 2021-09-16 | 株式会社チノー | 温度測定装置及び温度測定方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5293022B2 (ja) * | 2008-09-11 | 2013-09-18 | 新日鐵住金株式会社 | 連続焼鈍炉における温度制御方法および連続焼鈍炉 |
-
1980
- 1980-12-18 JP JP55179254A patent/JPS6049853B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021139628A (ja) * | 2020-03-02 | 2021-09-16 | 株式会社チノー | 温度測定装置及び温度測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57103024A (en) | 1982-06-26 |
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