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JPS6050306B2 - Analog input device diagnostic device - Google Patents
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JPS6050306B2 - Analog input device diagnostic device - Google Patents

Analog input device diagnostic device

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JPS6050306B2
JPS6050306B2 JP53128553A JP12855378A JPS6050306B2 JP S6050306 B2 JPS6050306 B2 JP S6050306B2 JP 53128553 A JP53128553 A JP 53128553A JP 12855378 A JP12855378 A JP 12855378A JP S6050306 B2 JPS6050306 B2 JP S6050306B2
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JP
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analog input
capacitor
input device
analog
switch
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聖二 小野木
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Azbil Corp
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はアナログ入力装置の診断装置に関し、更に詳し
くは、アナログ入力装置のアナログ入力信号保持回路を
診断のために積極的に利用したアナログ入力装置の診断
装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a diagnostic device for an analog input device, and more particularly to a diagnostic device for an analog input device that actively utilizes an analog input signal holding circuit of the analog input device for diagnosis.

通常一般に行なわれているプロセスのアナログ入力装置
の診断はアナログ入力信号源を切離し、別の信号源から
の既知の電圧信号等を供給し、規定の出力信号が得られ
るか否かにより装置の動作状態を調べていた。
Diagnosis of analog input devices for processes that is commonly performed involves disconnecting the analog input signal source, supplying a known voltage signal, etc. from another signal source, and determining whether or not a specified output signal is obtained. I was investigating the condition.

またアナログ信号源側の診断は、パーツアウト回路を設
けて行つている。例えばアナログ信号源としての熱電対
に断線事故が発生したときに安全な方向に指示させ、警
報を表示するようにしたパーツアウト回路を設けるなど
がその例である。本発明はアナログ入力信号源の切離し
を必要とせず、パーツアウトの機能をも併せ持つもので
、その主たる目的は、極めて簡単な構成で診断が行える
診断装置を提供することにある。
A parts-out circuit is also provided for diagnosis on the analog signal source side. For example, a part-out circuit may be provided that directs the thermocouple as an analog signal source in a safe direction and displays an alarm when a disconnection accident occurs. The present invention does not require separation of the analog input signal source and also has a parts-out function, and its main purpose is to provide a diagnostic device that can perform diagnosis with an extremely simple configuration.

更に他の目的は各点のアナログ信号源からの信号を処理
する各点入力切換装置の各チャンネルの診断に用いて特
に好個な診断装置を提供することにある。かかる目的を
達成するため本発明はアナログ入力源からの信号を保持
するために設けられているコンデンサを積極的に診断用
としても利用し、このコンデンサの放電特性の具合から
アナログ入力装置の故障の有無、故障の内容を診断する
ようにしたものである。以下図面を用いて詳細に説明す
る。
Still another object is to provide a diagnostic device which is particularly suitable for use in diagnosing each channel of a point input switching device which processes signals from analog signal sources at each point. In order to achieve this object, the present invention actively uses a capacitor provided to hold signals from an analog input source for diagnostic purposes, and detects failures of the analog input device based on the discharge characteristics of this capacitor. It is designed to diagnose the presence or absence and the nature of the failure. This will be explained in detail below using the drawings.

第1図は、本発明の診断装置を直結型のアナログ入力装
置に適用した場合の一実施例を示す接続図である。
FIG. 1 is a connection diagram showing an embodiment in which the diagnostic device of the present invention is applied to a direct-coupled analog input device.

図において、アナログ入力信号源1かノらの信号は比較
的長い一対の導線1、、12を介して、フィルタとして
の働きをも有するアナログ信号保持回路2に与えられる
。アナログ信号回路2の出力はサンプリングスイッチS
WIを介して入力回路3に与えられ、出力端子OUTに
それに対7した出力が得られる。基準電圧源4は、診断
用充電スイッチSW2を介して前記のアナログ信号保持
回路2に並列に接続される。そして前記のスイツチSW
lとSW2はスイッチ制御回路5によりオンオフ制御さ
れる。なお、アナログ入力信号源1としては、アナログ
信号電圧Es内部抵抗R。を有するものを、アナログ信
号保持回路2としては抵抗R1、コンデンサC1からな
るものを、更に基準電圧源4としては基準電圧ERl内
部抵抗R2を有するものを代表的に示してある。次に第
1図の装置の動作を第2図の波形図を用いて詳細に説明
する。
In the figure, a signal from an analog input signal source 1 is applied via a pair of relatively long conductive wires 1, , 12 to an analog signal holding circuit 2 which also functions as a filter. The output of the analog signal circuit 2 is the sampling switch S.
It is applied to the input circuit 3 via WI, and the corresponding output is obtained at the output terminal OUT. The reference voltage source 4 is connected in parallel to the analog signal holding circuit 2 via the diagnostic charging switch SW2. And the above switch SW
1 and SW2 are on/off controlled by a switch control circuit 5. Note that the analog input signal source 1 is an analog signal voltage Es internal resistance R. The analog signal holding circuit 2 is representatively shown as having a resistor R1 and a capacitor C1, and the reference voltage source 4 is representatively shown as having a reference voltage ERl and an internal resistance R2. Next, the operation of the apparatus shown in FIG. 1 will be explained in detail using the waveform diagram shown in FIG.

今、サンプリングスイッチSWlがスイッチ制御回路5
により制御され、第2図aに示す如く、期間ちの間オン
になると、アナログ信号保持回路2からはアナログ信号
電圧Esに対応した出力が入力回路3に与えられる(第
2図d)。
Now, the sampling switch SWl is connected to the switch control circuit 5.
When the circuit is turned on for a period of time as shown in FIG. 2a, the analog signal holding circuit 2 provides an output corresponding to the analog signal voltage Es to the input circuit 3 (FIG. 2d).

次に診断のためにサンプリングスイッチSWlがオフの
間に第2図bに示す如くスイッチSW2がスイッチ制御
回路5によりオンにされる。
Next, for diagnosis, while the sampling switch SWl is off, the switch SW2 is turned on by the switch control circuit 5 as shown in FIG. 2b.

するとコンデンサC1は、基準電圧源4から充電されそ
の端子電圧EOは第2図Cに示すように上昇する。スイ
ッチSW2がオフになると基準電圧源4からの充電は止
み、コンデンサC1は放電を始める。従つてスイッチS
W2がオフした後、サンプリングスイッチSWlを所定
のタイミング時(T2,t3)にオンにすると放電特性
との関係からある所定の電圧(EA,EB)が入力回路
3の出力端冫子0UTに現われる。上述のスイッチSW
2オンから、このオンによる充電が解消され少なくも定
常状態に回復するまでの期間が診断ステージとして与え
られる。アナログ入力装置が正常のときは、診断ステー
ジにおいて、放電開始後にアナログ信3号保持回路から
サンプリングスイッチSWlを通して読み込み出力端子
0UTに得られる出力は第2図dの実線EA,EBに示
す如く放電状態を調べるための最初の基準信号読み込み
ステージではある所定の値よりは大きく、次の確認読み
込みステ3−ジでは別のある所定の値よりは小さい。し
かるに、アナログ入力装置が異常のときは、第2図dの
基準信号読み込みステージまたは確認読み込みステージ
における大きさは、破線EA″,EB″の如く前者のス
テージでは所定値より小さか4つたり、あるいは後者の
ステージでは所定値より大きく現われる。
Then, the capacitor C1 is charged from the reference voltage source 4, and its terminal voltage EO rises as shown in FIG. 2C. When the switch SW2 is turned off, charging from the reference voltage source 4 stops and the capacitor C1 starts discharging. Therefore switch S
After W2 is turned off, when the sampling switch SWl is turned on at a predetermined timing (T2, t3), a predetermined voltage (EA, EB) appears at the output terminal 0UT of the input circuit 3 in relation to the discharge characteristics. . The above switch SW
The period from 2 on until the charging due to this on is canceled and at least the steady state is restored is given as a diagnostic stage. When the analog input device is normal, in the diagnosis stage, the output obtained from the analog signal holding circuit 3 through the sampling switch SWl after the start of discharge to the read output terminal 0UT is in the discharge state as shown by the solid lines EA and EB in Figure 2d. In the first reference signal reading stage for checking, it is greater than some predetermined value, and in the next verification reading stage, it is less than some other predetermined value. However, when the analog input device is abnormal, the size at the reference signal reading stage or the confirmation reading stage in FIG. Or, in the latter stage, it appears larger than the predetermined value.

このようにして、診断ステージにおいて入力回路の出力
端子に現われる出力の変化からアナログ入力装置の故障
の有無が容易に判断できる。
In this way, the presence or absence of a failure in the analog input device can be easily determined from the change in the output appearing at the output terminal of the input circuit in the diagnostic stage.

これを定量的にみると説明の便宜上スイッチSWl,S
W2のオフセット電圧およびオン抵抗を零とし、漏れ電
流も存在しないとすると、コンデンサC1の基準電圧源
4による充電電圧の定常電圧ER5はとなる。
Looking at this quantitatively, for convenience of explanation, switches SWl, S
Assuming that the offset voltage and on-resistance of W2 are zero and there is no leakage current, the steady-state voltage ER5 of the charging voltage of the capacitor C1 by the reference voltage source 4 is as follows.

Rェの値は一般にR1≧10R0,R1≧100R2の
関係にあるので、今、RO=100Ω,R1=1KΩ,
R2=10Ωとするととなり、アナログ入力電圧E,の
スパンが基準電圧ERの10倍度より小さいときは、ア
ナログ入力電圧Esの定常電圧ER″に与える影響は1
0%以下となり、ER?E,の場合には1%以下になる
The value of R is generally in the relationship R1≧10R0, R1≧100R2, so now, RO=100Ω, R1=1KΩ,
If R2 = 10Ω, then when the span of the analog input voltage E, is smaller than 10 times the reference voltage ER, the influence of the analog input voltage Es on the steady voltage ER'' is 1.
0% or less, ER? In the case of E, it is less than 1%.

一方、放電時の時定数τはτ=C1(RO+R1)で与
えられ、基準信号読み込み期間T2の終了時点を放電開
始時すなわちスイッチSW2オフから0.1τ経過時に
設定すると、T2の終了時点までには約10%コンデン
サC1の端子電圧は降下する。次に確認読み込み期間ち
の開始時点を放電開始時すなわち、スイッチSW2オフ
から3τ経過時に設定するとコンデンサC1の端子電圧
は5%以下の大きさになる。以上はアナログ入力装置が
正常に動作しているときの結果であるが、そうでない場
合、すなわち(a)基準信号読み込みステージにおいて
所定の電圧以上の電圧が得られない場合には(1)コン
デンサC1の容量抜け、短絡故障(2)サンプリングス
イッチSWlの不良(3)スイッチ制御回路の不良 (4)抵抗R1の短絡故障 (5)入力回路の故障 等が原因と考えられる。
On the other hand, the time constant τ during discharging is given by τ=C1(RO+R1), and if the end point of the reference signal reading period T2 is set at the start of discharging, that is, when 0.1τ has elapsed since the switch SW2 is turned off, by the end of T2 The terminal voltage of capacitor C1 drops by about 10%. Next, if the start point of the confirmation reading period is set at the start of discharge, that is, when 3τ has elapsed since the switch SW2 was turned off, the terminal voltage of the capacitor C1 becomes 5% or less. The above is the result when the analog input device is operating normally, but if this is not the case, that is, (a) if a voltage higher than the predetermined voltage cannot be obtained at the reference signal reading stage, (1) capacitor C1 Possible causes include loss of capacitance and short-circuit failure (2) defective sampling switch SW1 (3) defective switch control circuit (4) short-circuit failure of resistor R1 (5) failure of the input circuit.

他方、 (b)確認読み込みステージにおいて、所定の電圧以下
の電圧が得られない場合には、(1)抵抗R1の断線故
障 (2)接続導線の断線 (3)アナログ入力信号源の断線故障 などが原因と考えられる。
On the other hand, (b) If a voltage lower than the predetermined voltage is not obtained in the confirmation reading stage, (1) a disconnection failure in the resistor R1, (2) a disconnection in the connecting conductor, (3) a disconnection failure in the analog input signal source, etc. This is thought to be the cause.

なお診断のために付加した回路の故障が原因で正常な結
果が得られない場合例えばスイッチSW2の不良などの
場合にも、上記(a),(b)のステージにおいて所定
の結果が得られない。
In addition, if normal results are not obtained due to a failure in the circuit added for diagnosis, such as a defect in switch SW2, the prescribed results may not be obtained in the stages (a) and (b) above. .

以上の説明かられかるように本発明によれば、診断のた
めに付加した回路の機能をも含めて動作状態の診断が確
実に行える。
As can be seen from the above description, according to the present invention, the operating state can be reliably diagnosed including the function of the circuit added for diagnosis.

また上述の説明から明らかなように、アナログ入力信号
源の断線例えば熱電対の断線の如き故障においては診断
ステージ後においてもコンデンサC1の端子電圧は充電
された値を保つのでバーンアウトの機能を発揮し、安全
な方向に指示させるためには基準電圧巳の極性を選択す
るだけでよい。
Furthermore, as is clear from the above explanation, in the event of a failure such as a disconnection of the analog input signal source, for example, a disconnection of a thermocouple, the terminal voltage of capacitor C1 maintains its charged value even after the diagnostic stage, so it exhibits a burnout function. However, in order to point in a safe direction, it is only necessary to select the polarity of the reference voltage.

第3図は本発明の診断装置の他の実施例で、アイソレー
シヨン型のアナログ入力装置に適用した場合の接続図で
第1図と対応する部分に同一符号を付して示す。
FIG. 3 shows another embodiment of the diagnostic device of the present invention, and is a connection diagram when applied to an isolation type analog input device, in which parts corresponding to those in FIG. 1 are given the same reference numerals.

第1図と異なるところは第1図のサンプリングスイッチ
SWlと入力回路3間にパルストランスTを設けトラン
スTの一次巻線は、サンプリングスイッチSWllを介
してコンデンーサC1に並列接続され、トランスTの二
次巻線はスイッチSWllと同期してオンオフ動作する
別のサンプリングスイッチSWl2を介して入力回路3
に接続される。また基準電圧源4はスイッチSW2を介
してトランスTの二次巻線に並列接続されている。動作
については第4図を用いて説明する。
The difference from FIG. 1 is that a pulse transformer T is provided between the sampling switch SWl and the input circuit 3 in FIG. 1, and the primary winding of the transformer T is connected in parallel to the capacitor C1 via the sampling switch SWll. The next winding is connected to the input circuit 3 through another sampling switch SWl2 that operates on and off in synchronization with the switch SWll.
connected to. Further, the reference voltage source 4 is connected in parallel to the secondary winding of the transformer T via a switch SW2. The operation will be explained using FIG. 4.

診断ステージに至つて第1図の装置と異なるところは、
基準電圧源4からコンデンサC1に充電するのにスイッ
チSW2の1回のオン動作によるのではなくて、コンデ
ンサC1、トランスTの特性によりN回に分けて充電が
行われることである。
The differences from the device in Figure 1 at the diagnostic stage are as follows:
Charging of the capacitor C1 from the reference voltage source 4 is not performed by turning on the switch SW2 once, but is performed N times depending on the characteristics of the capacitor C1 and the transformer T.

これらの動作を第4図のa−dに示す。スイッチ1回の
オン動作でコンデンサC1を充電し所望の診断に供する
ことは可能であるが実際的ではない。その他の動作につ
いては第1図の場合と同様であるので省略する。第5図
は本発明の診断装置の多点入力装置に適用した場合の実
施例接続図で、第3図と対応する部分には同一または類
似の符号を付けて示す。
These operations are shown in FIGS. 4a-d. Although it is possible to charge the capacitor C1 and use it for a desired diagnosis by turning on the switch once, it is not practical. The other operations are the same as those shown in FIG. 1, and will therefore be omitted. FIG. 5 is a connection diagram of an embodiment of the diagnostic apparatus of the present invention applied to a multi-point input device, and parts corresponding to those in FIG. 3 are denoted by the same or similar symbols.

各チャンネルCHiの診断ステージにおけるコンデンサ
CIiへの充電のためのスイッチ動作が少々異なるのみ
で他の動作は第3図に同一である。異なる点は、スイッ
チSW2を充電期間にオンにしておき、サンプリングス
イッチSWlh,SWl罎を同期してN回オン、オフさ
せ必要な充電量をコンデンサCIiに与える点である。
なお上記スイッチSW2とSWl2,のオンオフ動作を
逆にしてもよい。第6図は、本発明の診断装置の多点入
力装置に適用した場合の更に他の実施例の直結型のアナ
ログ入力装置における接続図で、第1図と対応する部分
には同一または類似の符号を付して示す。
The only difference is the switch operation for charging the capacitor CIi in the diagnostic stage of each channel CHi, and the other operations are the same as in FIG. 3. The difference is that the switch SW2 is kept on during the charging period, and the sampling switches SWlh and SW1 are synchronously turned on and off N times to give the required amount of charge to the capacitor CIi.
Note that the on/off operations of the switches SW2 and SWl2 may be reversed. FIG. 6 is a connection diagram of a direct-coupled analog input device according to yet another embodiment when applied to the multi-point input device of the diagnostic device of the present invention. Indicated with a code.

動作については、第1図および第5図において説明した
ところから容易に理解し得るところであるので重複的な
説明は省略する。図において、基準電圧源4から、各ア
ナログ信号保持回路のコンデンサへの充電をサンプリン
グスイッチを介して行うものを示したがスイッチSW2
をチャンネル数だけ設け、第1図に示す如く直接充電す
るようにしてもよいこと勿論で、同様のことは第5図の
実施例についても言える。このように診断ステージを設
け、基準電圧ERおよび必要なパルス数Nによりコンデ
ンサに既知の電圧を蓄積し、その後基準信号読み込みス
テージおよび確認読み込みステージにおいてサンプリン
グスイッチを介して放電状態を調べ出力において所定値
が得られたか否かにより、前述した異常の有無および故
障内容を検出する。
The operation can be easily understood from the explanations in FIGS. 1 and 5, so a redundant explanation will be omitted. In the figure, the capacitor of each analog signal holding circuit is charged from the reference voltage source 4 via the sampling switch, but the switch SW2
Of course, it is also possible to provide the same number of channels as the number of channels and charge the batteries directly as shown in FIG. 1, and the same can be said for the embodiment shown in FIG. A diagnostic stage is provided in this way, and a known voltage is stored in the capacitor using the reference voltage ER and the required number of pulses N. After that, the discharge state is checked via the sampling switch in the reference signal reading stage and the confirmation reading stage, and a predetermined value is set at the output. The presence or absence of the above-mentioned abnormality and the details of the failure are detected based on whether or not the error is obtained.

以上説明したように本発明によれはアナログ信号保持回
路を有するアナログ入力装置にわすかな手段を付加する
のみでアナログ入力装置の診断が実現できる。
As explained above, according to the present invention, diagnosis of an analog input device can be realized by simply adding a slight means to an analog input device having an analog signal holding circuit.

更にアナログ入力信号源を切離すこ・となくアナログ入
力装置の動作点検が行えるので装置の運用中に診断ステ
ージを設けて診断の自動化が容易に実現できる。また、
診断ステージを除き、アナログ入力装置の運用期間中に
おいては、アナログ信号保持回路にはアナログ信号源以
外の・ものからの重畳がないので精度を損うことがない
。更にバーンアウト回路を不必要としながら、バーンア
ウトの機能を併せ持つ利点を有している。
Furthermore, since the operation of the analog input device can be inspected without disconnecting the analog input signal source, automation of diagnosis can be easily realized by providing a diagnostic stage during the operation of the device. Also,
Except for the diagnostic stage, during the operating period of the analog input device, the analog signal holding circuit has no superimposition from anything other than the analog signal source, so accuracy is not impaired. Furthermore, it has the advantage of not requiring a burnout circuit and also having a burnout function.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、直結型のアナログ入力装置に適用した本発明
の診断装置の一実施例接続図、第2図は第1図の装置の
動作説明図、第3図はアイソレーシヨン型のアナログ入
力装置に適用した本発明の診断装置の実施例接続図、第
4図はその動作説明図、第5図、第6図はそれぞれ他の
実施例を示す接続図である。 1・・・・・・アナログ入力信号源、2・・・・・・ア
ナログ信号保持回路、3・・・・・・入力回路、4・・
・・・・基準電圧源、5・・・・・スイッチ制御回路、
R・・・・・・抵抗、C・・・・・コンデンサ、SW・
・・・・・スイッチ、T・・・・・・トランス。
Fig. 1 is a connection diagram of an embodiment of the diagnostic device of the present invention applied to a direct-connection type analog input device, Fig. 2 is an explanatory diagram of the operation of the device in Fig. 1, and Fig. 3 is an isolation type analog input device. A connection diagram of an embodiment of the diagnostic device of the present invention applied to an input device, FIG. 4 is an explanatory diagram of its operation, and FIGS. 5 and 6 are connection diagrams showing other embodiments. 1... Analog input signal source, 2... Analog signal holding circuit, 3... Input circuit, 4...
...Reference voltage source, 5...Switch control circuit,
R...Resistance, C...Capacitor, SW...
...Switch, T...Transformer.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 アナログ信号源からの信号を、コンデンサを含むア
ナログ信号保持回路に蓄え、該蓄えられた信号をスイッ
チ制御回路によりオンオフ制御されるサンプリングスイ
ッチを介して入力回路に供給し、該アナログ信号を処理
するアナログ入力装置の診断装置であつて、前記アナロ
グ信号保持回路に充電用スイッチを介して充電するため
の基準電圧源を設け、診断ステージにおいて、該基準電
圧源から、アナログ信号保持回路のコンデンサに充電量
が所定値になるまで充電し、充電停止後該コンデンサの
放電の状態を読み出し、アナログ入力装置の動作状態を
点検するようにしたアナログ入力装置の診断装置。
1. A signal from an analog signal source is stored in an analog signal holding circuit including a capacitor, and the stored signal is supplied to an input circuit via a sampling switch controlled on and off by a switch control circuit, and the analog signal is processed. A diagnostic device for an analog input device, wherein the analog signal holding circuit is provided with a reference voltage source for charging via a charging switch, and in the diagnostic stage, the capacitor of the analog signal holding circuit is charged from the reference voltage source. A diagnostic device for an analog input device, which charges the capacitor until it reaches a predetermined value, reads out the state of discharge of the capacitor after stopping charging, and checks the operating state of the analog input device.
JP53128553A 1978-10-20 1978-10-20 Analog input device diagnostic device Expired JPS6050306B2 (en)

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