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JPS6058514B2 - coin sorting device - Google Patents
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JPS6058514B2 - coin sorting device - Google Patents

coin sorting device

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Publication number
JPS6058514B2
JPS6058514B2 JP5701678A JP5701678A JPS6058514B2 JP S6058514 B2 JPS6058514 B2 JP S6058514B2 JP 5701678 A JP5701678 A JP 5701678A JP 5701678 A JP5701678 A JP 5701678A JP S6058514 B2 JPS6058514 B2 JP S6058514B2
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JP
Japan
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inductance
coin
frequency
circuit
value
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JP5701678A
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效 荒井
篤治 小川
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Tokyo Sanyo Electric Co Ltd
Sanyo Denki Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Sanyo Electric Co Ltd
Sanyo Denki Co Ltd
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Publication date
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  • Testing Of Coins (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は検査硬貨に交番磁界をあてて、その材質また
は形状により内部に生する過電流の量及び位相の変化や
透磁率の変化を検出コイルのインダクタンス変化て捉え
この変化率に基づき検査硬貨の適正を判定する硬貨選別
装置に関する。
Detailed Description of the Invention The present invention applies an alternating magnetic field to a coin to be tested, and detects changes in the amount and phase of overcurrent generated inside the coin due to its material or shape, and changes in magnetic permeability by detecting changes in the inductance of the detection coil. The present invention relates to a coin sorting device that determines the suitability of test coins based on the rate of change.

断種硬貨選別装置はメモリ等に記憶した純正貨の場合
の基準インダクタンス値と検査硬貨によつて得た測定イ
ンダクタンス値と比較することで適正を判定している。
The sterilization coin sorting device determines suitability by comparing the reference inductance value for genuine coins stored in a memory or the like with the measured inductance value obtained from the test coin.

然しながら、検査硬貨が存在していないときの検出コイ
ルのインダクタンス((以下初期インダクタンスと呼ふ
)は巻線の巻数及び巻き形状更にコアの透磁率によつて
決定されるため工業生産する場合個々の検出コイルの初
期インダクタンスに差異が生ずる。そのため純正貨の場
合の基準インダクタンス値は検出コイルに応じて(即ち
硬貨選別装置に応じて)設定しなければならないのであ
るが、初期インダクタンスは温度等使用条件の変化また
は経時変化によつて変動することも考慮すると必すしも
硬貨選別装置の製造工程時に検出コイルに応じた基準イ
ンダクタンス値を設定することは有効であるとはいえな
い。更にこの方法に依ると生産コストの上昇をきたすこ
とにもなる。そのため基準インダクタンス値と検査硬貨
による測定インダクタンス値を比較する場合に広範囲な
許容誤差範囲を設定することで検出コイルの初期インダ
クタンスのバラツキを解消しているがこれては高精度な
硬貨選別は期待できそうにない。また検査硬貨の投入直
前の初期インダクタンス値と測定インダクタンス値の比
または差を取つて適正を判定すれば使用条件の変化また
は経時変化による初期インダクタンス値の変動には対処
できるのであるが、然しながら製造時に於ける検出コイ
ル個々の初期インダクタンスの差異は解消されず、検出
コイル毎に初期インダクタンス値と純正貨の基準インダ
クタンス値との比または差を設定しなければならなくな
る。しかも比を取る場合は割算回路が必要となつて高価
となり、また差を取る場合は初期インダクタンス値の変
動分が大きくなると誤差も増大して精度が低下する欠点
が夫々生じる。本発明は検出コイルの製造時に於ける初
期インダクタンスの差異及び使用条件または経時変化に
よる初期インダクタシスの変動の両方を硬貨の適正検査
のパラメータに加えることのできる硬貨選別装置を提供
するものてある。
However, the inductance (hereinafter referred to as initial inductance) of the detection coil when no test coin is present is determined by the number of turns and winding shape of the winding, as well as the magnetic permeability of the core. Differences occur in the initial inductance of the detection coil.Therefore, in the case of genuine coins, the reference inductance value must be set according to the detection coil (that is, according to the coin sorting device), but the initial inductance depends on the operating conditions such as temperature. Considering that the reference inductance value varies due to changes in the value or changes over time, it is not necessarily effective to set a reference inductance value according to the detection coil during the manufacturing process of the coin sorting device. Therefore, when comparing the standard inductance value and the measured inductance value of the test coin, a wide tolerance range is set to eliminate variations in the initial inductance of the detection coil. However, it is unlikely that highly accurate coin sorting can be expected in this case.In addition, if the suitability is determined by taking the ratio or difference between the initial inductance value immediately before the coin is inserted and the measured inductance value, it is possible to detect changes in usage conditions or changes over time. Although it is possible to deal with variations in the initial inductance value, it does not eliminate the differences in initial inductance of individual detection coils during manufacturing, and the ratio or difference between the initial inductance value and the standard inductance value of genuine coins for each detection coil. In addition, when taking the ratio, a division circuit is required and is expensive, and when taking the difference, the error increases as the initial inductance value changes and the accuracy decreases. The present invention provides a coin sorting device that can add both the initial inductance difference during the manufacturing of the detection coil and the initial inductance variation due to usage conditions or changes over time to the coin suitability inspection parameters. There are things.

第1図は検出コイルの印加周波数を変化させた場合に於
ける硬貨存在時及び非存在時のインダクタンス特性a・
・・bを示すグラフである。
Figure 1 shows the inductance characteristics a.
... is a graph showing b.

図より明らかな如く初期インダクタンスは周波数と無関
係に常に一定であるが、硬貨存在時に於けるインダクタ
ンスは或る周波数f1までは周波数が上昇するにつれて
下降するがf1までは周波数が上昇するにつれて下降す
るがf1以後は一定となることが判かる。また第2図は
第1図に於けるf1以上の任意の周波数を検出コイルに
印加したときの種々のタイプの検出コイルの初期インダ
クタンス値に対する硬貨存在時のインダクタンス変化分
ΔLをプロットしたグラフである。この図より所定の高
周波数領域では初期インダクタンスに対し硬貨存在時の
インダクタンスは一定の比を持つことが判かる。これは
以下に述べる理由で説明がつく。即ち、周波数が高くな
るにつれて渦電流が増大しいわゆる表皮効果の現象によ
り磁束が硬貨内部に侵透できす硬貨の材質による影響を
受けなくなつてインダクタンス変化が一定となるのであ
る。検出コイルの形状及び特性により差異もあるが第1
図のf1は200KHz附近であることが確認されてい
る。斯かる高周波領域は検査硬貨の板厚に対してスキン
デプス(磁束の表皮深度)が非常に小さくなるため検査
硬貨の表面形状及び外径に敏惑に影響を受けるインダク
タンス変化をもたらし此種硬貨選別装置に関して有効に
利用される周.波数といえる。以上の点より本発明は高
周波磁界による検査に於いては初期インダクタンスに変
動があつても変動分に応じて検査硬貨投入によるインダ
クタンスも変化することに着目し、初期インダクタンス
が−変動した場合は変動分に応じて測定条件を補正し基
準インダクタンス値と同じ条件で測定インダクタンス値
を得ようとするものである。
As is clear from the figure, the initial inductance is always constant regardless of the frequency, but the inductance when a coin is present decreases as the frequency increases up to a certain frequency f1; It can be seen that it becomes constant after f1. Furthermore, Fig. 2 is a graph plotting the inductance change ΔL when a coin is present against the initial inductance value of various types of detection coils when an arbitrary frequency higher than f1 in Fig. 1 is applied to the detection coil. . From this figure, it can be seen that in a predetermined high frequency range, the inductance when a coin is present has a constant ratio to the initial inductance. This can be explained by the reasons described below. That is, as the frequency increases, the eddy current increases, and due to the phenomenon of the so-called skin effect, the magnetic flux can penetrate into the inside of the coin, which is no longer affected by the material of the coin, and the inductance change becomes constant. Although there are differences depending on the shape and characteristics of the detection coil, the first
It has been confirmed that f1 in the figure is around 200 KHz. In such a high frequency region, the skin depth (skin depth of magnetic flux) is extremely small relative to the thickness of the coin to be tested, which causes changes in inductance that are sensitive to the surface shape and outer diameter of the coin to be tested, making it difficult to sort this type of coin. The frequency that can be effectively used regarding the equipment. It can be said to be the wave number. Based on the above points, the present invention focuses on the fact that even if the initial inductance fluctuates during inspection using a high-frequency magnetic field, the inductance due to the insertion of a coin to be tested will change according to the variation, and if the initial inductance fluctuates - The purpose of this method is to correct the measurement conditions according to the amount of time and obtain the measured inductance value under the same conditions as the reference inductance value.

以下図面と共に本発明の一実施例を詳述する。An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

尚インダクタンスの変化はブリツヂ回路によるバランス
、位相変化、発振周波数の変化で捉えることができるが
実施例では発振周波数の値でインダクタンスを捉えるも
のとする。第3図はインダクタンス検出器を示すもので
REJ字コア7に発振回路1のインダクタンスを形成す
る検出コイル9を巻回し磁界が検査硬貨6の面と直交す
るように硬貨通路8と関連づけられて配置されている。
第4図で発振回路1より出力される発振パルスは分”周
回路2に入力して発振周波数がカウントされる。発振パ
ルスを一定の値Nで分周する分周回路2の出力はインバ
ータ10を介して基準発振器11と共にANDゲート1
2に接続され更にANDゲート12は可逆計数装置±刈
に接続されている。可逆計数装置11は加算カウンタ1
4と減算カウンタ15とから成り、加算カウンタ14の
各計数段における出力端子Q1・・・Qnは減算カウン
タ15の各計数段における入力端子D1〜Dnに接続さ
れている。減算カウンタ15の各計数段の出力端子Q1
″・・・Qn″に接続された0Rゲート16は発振回路
1と共に7VsJDゲート17に接続され更にANDゲ
ート17は計数回路3の計数人力端に接続されている。
そして基準値記憶装置4は基準発振周波数が設定されて
いて計数回路3でカウントされた発振周波数は一致検出
回路5てこの基準発振周波数と比較され検査硬貨の適正
が判定される。シーケンス制御回路18は状態信号cm
d−hの入力により制御信号a−b−d−e−f−gを
夫々RHョ(ハイレベル)或いはRLJ(ローレベル)
として出力し分周回路2・可逆計数装置±立・一致検出
回路5・ANDゲート17及び19の動作を制御するも
のである。即ちシーケンス制御回路18は状態信号cm
d−hの入力により制御信号a−b−d−e−f−gを
出力するように論理構成することで分周回路2・可逆計
数装置11・一致検出回路5・ANDゲート17及び1
9の操作手順が設定されている。第5図に示すタイムチ
ャートに沿つて動作を説明する。
Incidentally, a change in inductance can be captured by the balance by a bridge circuit, a phase change, and a change in oscillation frequency, but in this embodiment, the inductance is captured by the value of the oscillation frequency. FIG. 3 shows an inductance detector, in which a detection coil 9 forming the inductance of the oscillation circuit 1 is wound around an REJ-shaped core 7, and is arranged in relation to the coin path 8 so that the magnetic field is perpendicular to the surface of the test coin 6. has been done.
In FIG. 4, the oscillation pulse output from the oscillation circuit 1 is input to the frequency divider circuit 2, and the oscillation frequency is counted. AND gate 1 together with reference oscillator 11 via
2, and the AND gate 12 is further connected to a reversible counter. The reversible counting device 11 is an addition counter 1
4 and a subtraction counter 15, output terminals Q1...Qn of each counting stage of the addition counter 14 are connected to input terminals D1 to Dn of each counting stage of the subtraction counter 15. Output terminal Q1 of each counting stage of the subtraction counter 15
.
A reference oscillation frequency is set in the reference value storage device 4, and the oscillation frequency counted by the counting circuit 3 is compared with the reference oscillation frequency of the coincidence detection circuit 5 to determine the suitability of the test coin. The sequence control circuit 18 receives the status signal cm
The control signals a, b, d, e, f, and g are set to RH (high level) or RLJ (low level) by inputting d and h, respectively.
It controls the operations of the frequency divider circuit 2, the reversible counting device ± rise/coincidence detection circuit 5, and the AND gates 17 and 19. That is, the sequence control circuit 18 receives the status signal cm
The frequency divider circuit 2, reversible counter 11, coincidence detection circuit 5, AND gate 17 and
9 operating procedures are set. The operation will be explained along the time chart shown in FIG.

先ず最初リセット期間でシーケンス制御部18は制御信
号bにRHJを出力して分周回路2及び加算カウンタ1
4をリセットする。次の測定時間決定期間に於いてシー
ケンス制御部18は制御信号a−eにRHJを夫々出力
しANDゲート19及び12を導通させる。
First, during the initial reset period, the sequence control unit 18 outputs RHJ to the control signal b to control the frequency dividing circuit 2 and addition counter 1.
Reset 4. In the next measurement time determination period, the sequence control unit 18 outputs RHJ to the control signals ae, respectively, and makes the AND gates 19 and 12 conductive.

このとき分周回路2はリセットされていて状態信号cは
RLJとなつているが、インバータ10によりANDゲ
ート12にはRHョが入力するため基準発振器11に生
じるクロックパルスは加算カウンタ14に導入して計数
される。また検出コイル9の初期インダクタンスに応じ
て発振回路1より生ずる発振パルスはANDゲート19
を介して分周回路2に導入して計数される。分周回路2
は所定の分周値NをカウントするとRHJの状態信号C
を出力し、シーケンス制御部18はこの信号Cの入力に
より制御信号a−eをそれぞれRLョにして,ANDゲ
ート19及び12を非導通に制御する。したがつて分周
回路2と加算カウンタ14の計数動作は停止して測定時
間決定期間が終了する。このような測定時間決定期間の
動作にて、分周回路2が上記の所定値Nをカウントする
のに要する時間、即ち現時点の各種条件に依る検出コイ
ル9の初期インダクタンスに基づく測定時間が、加算カ
ウンタ14で計数される。そしてリセット期間で、シー
ケンス制御回路18は制御信号fにRHJを出力し、こ
の信号により減算カウンタ15はカウンタ14の計数値
をプリセットするとともに、計数回路3はリセットされ
る。
At this time, the frequency dividing circuit 2 has been reset and the status signal c is RLJ, but since RH is input to the AND gate 12 by the inverter 10, the clock pulse generated in the reference oscillator 11 is introduced into the addition counter 14. is counted. Further, the oscillation pulse generated from the oscillation circuit 1 according to the initial inductance of the detection coil 9 is generated by the AND gate 19.
is introduced into the frequency divider circuit 2 via the frequency divider circuit 2 and counted. Frequency divider circuit 2
When the predetermined frequency division value N is counted, the RHJ status signal C
In response to input of this signal C, the sequence control unit 18 sets the control signals a to e to RL, respectively, and controls the AND gates 19 and 12 to be non-conductive. Therefore, the counting operations of the frequency dividing circuit 2 and the addition counter 14 are stopped, and the measurement time determination period ends. In this operation during the measurement time determination period, the time required for the frequency divider circuit 2 to count the above-mentioned predetermined value N, that is, the measurement time based on the initial inductance of the detection coil 9 depending on various conditions at the present time, is added. It is counted by the counter 14. During the reset period, the sequence control circuit 18 outputs RHJ as the control signal f, and this signal causes the subtraction counter 15 to preset the count value of the counter 14, and the counting circuit 3 is reset.

次にシーケンス制御回路18は制御信号bをRHJにし
て分周回路2及びは加算カウンタ14をリセットする。
そして検査硬貨6が投入されたことを示す状態信号dが
例えば検出コイル9の近傍に配置された硬貨検知器20
より出力されると減算カウンタ15にプリセットされた
測定時間に亘つて検査硬貨6によるインダクタンス(発
振周波数)を測定するインダクタンス検出期間となる。
Next, the sequence control circuit 18 sets the control signal b to RHJ and resets the frequency divider circuit 2 and the addition counter 14.
Then, a status signal d indicating that the test coin 6 has been inserted is transmitted to a coin detector 20 disposed near the detection coil 9, for example.
When the signal is output from the subtraction counter 15, it becomes an inductance detection period in which the inductance (oscillation frequency) due to the test coin 6 is measured over the measurement time preset in the subtraction counter 15.

然しながら状態信号dが予じめシーケンス制御部18内
に設定されている時間内に入力しない場合、シーケンス
制御部18は再び制御信号bにRHョを出力してリセッ
ト期間とし続いて制御信号a−eにRHJそして制御信
号bにRLJを出力して更に測定時間決定期間となる。
したがつて検査硬貨が投入されていない場合常に或る周
期毎にその時点における最良の測定時間を検出して減算
カウンタ15にその値をプリセットしている。インダク
タンス検出期間でシーケンス制御部18は制御信号gに
RHJを出力してANDゲート21を導通させ基準発振
器11よりのクロックパルスが減算カウンタ15へ導入
して減算計数動作が行なわれるように制御する。
However, if the status signal d is not input within the time preset in the sequence control section 18, the sequence control section 18 again outputs RH to the control signal b to set the reset period, and then outputs the control signal a to the control signal a. RHJ is output to e and RLJ is output to control signal b, and a measurement time determination period begins.
Therefore, when no test coin is inserted, the best measurement time at that time is always detected every certain cycle and the value is preset in the subtraction counter 15. During the inductance detection period, the sequence control section 18 outputs RHJ to the control signal g, turns on the AND gate 21, and controls the clock pulse from the reference oscillator 11 to be introduced into the subtraction counter 15 to perform a subtraction counting operation.

0Rゲート16は減算カウンタ15の何れかの計数段に
出力が生じている場合(即ち計数内容が零でない)はR
HJを出力するため制御信号GrHJとで7VsJDゲ
ート17は導通し発振回路1より生じている検査硬貨の
存在による発振パルスで計数回路3に入力して計数され
る。
The 0R gate 16 is R when an output is generated in any counting stage of the subtraction counter 15 (that is, the count content is not zero).
In order to output HJ, the 7VsJD gate 17 is made conductive by the control signal GrHJ, and the oscillation pulse generated by the oscillation circuit 1 due to the presence of the test coin is input to the counting circuit 3 and counted.

そして減算カウンタ15が減算によつて零となると即ち
プリセットされた測定時間が経過すると0Rゲート16
はRLJとなつて,ANDゲート17が非導通となり計
数回路3の計数動作は停止する。したがつて計数回路3
は減算カウンタ15にプリセットされた時間に亘つて発
振パルスを計数することで発振周波数を測定している。
0Rゲート16の出力RLJが状態信号hとしてシーケ
ンス制御部18に入力するとインダクタンス検出期間が
終了し検査硬貨の適正判定期間となる。
When the subtraction counter 15 becomes zero due to the subtraction, that is, when the preset measurement time elapses, the 0R gate 16
becomes RLJ, the AND gate 17 becomes non-conductive, and the counting operation of the counting circuit 3 stops. Therefore, counting circuit 3
The oscillation frequency is measured by counting oscillation pulses over a period of time preset in the subtraction counter 15.
When the output RLJ of the 0R gate 16 is inputted to the sequence control unit 18 as the status signal h, the inductance detection period ends and the inspection coin suitability determination period begins.

適正判定期間に於いてシーケンス制御部18は制御信号
1にRHJを出力し、一致検出回路5に計数回路3で計
数した発振周波数と基準値記憶装置4に設定した基準周
波数との比較を命令する。
During the appropriateness determination period, the sequence control unit 18 outputs RHJ to the control signal 1 and instructs the coincidence detection circuit 5 to compare the oscillation frequency counted by the counting circuit 3 with the reference frequency set in the reference value storage device 4. .

そして発振周波数と基準周波数が一致している場合成い
は許容誤差範囲内で一致が取れた場合に検査硬貨は適正
と判定される。基準周波数は次のようにして予じめ基準
値記憶装置に設定される。即ちかかる硬貨選別装置を工
業生産した後、発振回路1の初期インダクタンスによる
発振周波数FOと代表的な純正貨の存在下のインダクタ
ンスによる発振周波数fとの比(f/FO)を分周値N
倍した値を基準周波数とする。このような基準値設定は
完成した装置ごとに検出コイル9と検査硬貨6との間の
機械的な相対位置を補正する目的で行なわなければなら
ないのであるが、この相対位置を精度良く構成てきるの
てあれは検出コイル9毎の初期インダクタンスのバラツ
キは回路的に吸収できるため代表的な基準周波数を各装
置に共通して設定できる。また測定時間決定期間では加
算カウンタ14が計数中に検査硬貨6が投入されて状態
信号dが入力するとシーケンス制御回路18は直ちに制
御信号a−eをRLJにそして制御信号gをRHJにし
て現在減算カウンタ15でプリセットしている値を測定
時間とする。即ち斯かる事態に際しては前の周期で得た
測定時間を今の周期で投入された検査硬貨6のインダク
タンス検出の測定時間としている。以上詳述してきた本
発明に依ると検査硬貨の板厚に対して磁束の表皮侵度が
充分に小さい高周波数の磁界を使用した硬貨選別装置に
於いて、初期条件を測定し初期条件により検査硬貨投入
時における測定時間を決めることで検査硬貨によつて得
るインダクタンス値を較正した後純正貨の場合の基準イ
ンダクタンス値と比較して選別精度の向上を計ろうとす
るものである。
If the oscillation frequency and the reference frequency match, or if they match within a tolerance range, the test coin is determined to be appropriate. The reference frequency is set in advance in the reference value storage device as follows. That is, after industrially producing such a coin sorting device, the ratio (f/FO) between the oscillation frequency FO due to the initial inductance of the oscillation circuit 1 and the oscillation frequency f due to the inductance in the presence of a typical genuine coin is determined by the frequency division value N.
The multiplied value is the reference frequency. Such reference value setting must be performed for the purpose of correcting the mechanical relative position between the detection coil 9 and the test coin 6 for each completed device, but this relative position can be configured with high precision. Since variations in the initial inductance of each detection coil 9 can be absorbed by the circuit, a typical reference frequency can be set commonly for each device. In addition, during the measurement time determination period, when the test coin 6 is inserted while the addition counter 14 is counting and the status signal d is input, the sequence control circuit 18 immediately changes the control signals ae to RLJ and the control signal g to RHJ and subtracts the current value. The value preset by the counter 15 is taken as the measurement time. That is, in such a situation, the measurement time obtained in the previous cycle is used as the measurement time for inductance detection of the test coin 6 inserted in the current cycle. According to the present invention described in detail above, in a coin sorting device that uses a high-frequency magnetic field in which the penetration of the magnetic flux into the surface of the coin is sufficiently small relative to the plate thickness of the coin to be inspected, initial conditions are measured and inspection is performed based on the initial conditions. The purpose is to improve the sorting accuracy by calibrating the inductance value obtained from the test coin by determining the measurement time when inserting the coin, and then comparing it with the reference inductance value for genuine coins.

したがつて装置ごとの検出コイルにおける初期インダク
タンスの差異または使用条件の変化及び経時変化による
初期インダクタンスの変動を回路内に吸収することがで
き選別精度の低下を排除できる。更に基準インダクタン
ス値の設定は代表的な装置の初期インダクタンス値と純
正貨の存在によるインダクタンス値との比を分周値Nで
乗した値に統一して設定でき検出コイルごとのバラツキ
を回路的に吸収するためにコストの低減が計れる。
Therefore, differences in the initial inductance of the detection coil for each device or variations in the initial inductance due to changes in usage conditions and changes over time can be absorbed into the circuit, and a decrease in sorting accuracy can be avoided. Furthermore, the reference inductance value can be uniformly set to a value obtained by multiplying the ratio of the initial inductance value of a typical device and the inductance value due to the presence of genuine coins by the frequency division value N, and the variation among detection coils can be eliminated using the circuit. It is possible to reduce costs by absorbing this.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は周波数−インダクタンス特性を検査硬貨の存在
・非存在で示し、第2図は高周波領域の任意の周波数に
おける初期インダクタンス変化分特性を示し、第3図は
インダクタンス検出器を示し、第4図は本発明の回路を
示し、第5図はタイミングチャートを示す。 1・・・・・・発振回路、2・・・・・・分周回路、3
3・・・・・・計数回路、4・・・・・・基準値記憶装
置、5・・・・・・一致検出回路。
Figure 1 shows the frequency-inductance characteristics depending on the presence/absence of a test coin, Figure 2 shows the initial inductance change characteristics at an arbitrary frequency in the high frequency region, Figure 3 shows the inductance detector, and Figure 4 shows the inductance characteristics. The figure shows a circuit of the invention, and FIG. 5 shows a timing chart. 1... Oscillation circuit, 2... Frequency dividing circuit, 3
3... Counting circuit, 4... Reference value storage device, 5... Coincidence detection circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 検査硬貨の板厚に対して磁束の表皮侵度が充分小さ
い高周波数の磁界を形成する手段と、該磁界を形成する
手段のインダクタンスを検出しその値に応じた幅の発振
パルスを出力する手段と、検査硬貨が存在しないときの
前記発振パルスを所定数計数することで測定時間を決定
する手段と、前記磁界中に検査硬貨が存在するときに生
じる前記発振パルスを前記測定時間に亘つて計数し測定
インダクタンス値を得る手段と、予じめ純正貨の場合の
基準インダクタンス値を設定される手段と、前記測定イ
ンダクタンス値を該基準インダクタンス値と比較して検
査硬貨の適正を判定する手段とから成る硬貨選別装置。
1. Means for forming a high-frequency magnetic field in which the skin penetration of magnetic flux is sufficiently small relative to the thickness of the test coin, and detecting the inductance of the means for forming the magnetic field and outputting an oscillation pulse with a width corresponding to the detected value. means for determining the measurement time by counting a predetermined number of the oscillation pulses when the test coin is not present; and means for determining the measurement time by counting the oscillation pulses by a predetermined number when the test coin is not present; means for counting and obtaining a measured inductance value; means for previously setting a reference inductance value for genuine coins; and means for comparing the measured inductance value with the reference inductance value to determine the suitability of the test coin. A coin sorting device consisting of.
JP5701678A 1978-05-12 1978-05-12 coin sorting device Expired JPS6058514B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5701678A JPS6058514B2 (en) 1978-05-12 1978-05-12 coin sorting device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62176009U (en) * 1986-04-28 1987-11-09

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