JPS606543B2 - Method of manufacturing semiconductor stem - Google Patents
Method of manufacturing semiconductor stemInfo
- Publication number
- JPS606543B2 JPS606543B2 JP54090697A JP9069779A JPS606543B2 JP S606543 B2 JPS606543 B2 JP S606543B2 JP 54090697 A JP54090697 A JP 54090697A JP 9069779 A JP9069779 A JP 9069779A JP S606543 B2 JPS606543 B2 JP S606543B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- standoff
- glass
- stem
- outer ring
- metal outer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/01—Manufacture or treatment
- H10W70/02—Manufacture or treatment of conductive package substrates serving as an interconnection, e.g. of metal plates
Landscapes
- Joining Of Glass To Other Materials (AREA)
- Glass Compositions (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は半導体ステムの製造方法に関し、特に、金属
外環をシャーシ等と絶縁するためのスタンドオフを有す
る半導体ステムの製造方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor stem, and more particularly to a method for manufacturing a semiconductor stem having standoffs for insulating a metal outer ring from a chassis or the like.
半導体ステムをシャーシや取付基板などに取付けるとき
、シャーシなどとの絶縁を確保するためにステムを浮か
す必要がある。When attaching a semiconductor stem to a chassis or mounting board, it is necessary to float the stem to ensure insulation from the chassis and the like.
このステムを浮かす方法として、シリコンゴム薄板など
を介してステムをシャーシに取付けるかまたはステムの
裏面にスタンドオフと称される絶縁物による棒状突起を
封じ込め、このスタンドオフを介してシヤーシに取付け
る方法とがある。第1図はこの発明の背景となるスタン
ドオフを有する半導体ステムを取付基板に取付けた状態
を示す縦断面図である。The stem can be made to float by attaching it to the chassis via a thin silicone rubber plate, or by sealing a rod-shaped protrusion with an insulating material called a standoff on the back of the stem, and attaching it to the chassis via the standoff. There is. FIG. 1 is a vertical cross-sectional view showing a state in which a semiconductor stem having a standoff, which is the background of the present invention, is attached to a mounting substrate.
図において、鉄・ニッケル・コバルト合金などによって
形成される金属外務1の所定の位置には、リード端子2
1,22を挿適する透孔11,12が穿設されている。
この透孔11,12にたとえば鉄・ニッケル・コバルト
合金などによって形成されたりード端子21,22が配
置される。各リード端子21,22は、接続細線61,
62によって金属外環1のほぼ中心部上に戦遣された半
導体チップ5に電気的に接続される。金属外環1の内方
のほぼ中心部には、封着ガラス、例えば棚桂酸ガラスに
これよりも高融点のアルミナ粉末を添加したフィラー入
りガラスなどによって成形された棒状のスタンドオフ3
が配置される。そして、前記リード端子21,22およ
びスタンドオフ3は棚桂酸ガラスなどによるガラス4に
よって封着される。そして、この半導体ステムはスタン
ドオフ3によってシャーシ7から浮いた状態でシャーシ
7に取付けられる。第2図は第1図に示すスタンドオフ
を有する半導体ステムを製造する方法を示す縦断面図で
あり、第3図は従来の製造方法によって形成したスタン
ドオフを有する半導体ステムの縦断面図である。次に、
第1図ないし第3図を参照して従来の半導体ステムの製
造方法について説明する。金属外環1およびリード端子
21,22の突出部を収納可能に形成されたグラフアィ
トと称されるカーボン治具81の上に金属外環1が配置
される。さらに、この金属外環1内に棚桂酸ガラスより
なるガラスタブレット4aが配置され、このガラスタブ
レット4aの透孔を貫通して金属外濠1の透孔11,1
2にリード端子21,22が楯立される。前記ガラスタ
ブレット4aの中心部の透孔にスタンドオフ3が挿通配
置される。そして、金属外環1、リード端子2i,22
、スタンドオフ3およびガラスタブレット4aを被うよ
うにカーボン俗臭82が載直され、中性(N2)または
弱還元性雰囲気によって約100000に加熱される。
このとき、スタンドオフ3の材質が棚桂酸ガラスのみに
よって形成されていると、加熱時にスタンドオフ3の外
周部に配置されているガラスタブレット4aとスタンド
オフ3とが同時に軟化流動し、スタンドオフ3を所定の
形状に維持することができない。そこで、従来はガラス
タブレット4aを、例えば150ないし200メッシュ
パスの棚碇酸ガラス粉末60%と、325メッシュパス
のアルミナ粉末40%とを混合して形成し、みかけ上の
融点を引き上げることによって、封着時にスタンドオフ
3の形くずれを防止している。しかし乍ら、スタンドオ
フ3には棚桂酸ガラスが60%含まれているため、加熱
時にスタンドオフ3の表面に棚桂酸ガラスが溶出し、棚
桂酸ガラスのみの層(20ないし100ム)が生成され
る。そのため、スタンドオフ3の外周に配遣されたガラ
スタブレット4aの溶融ガラスと非常に濡れ性がよくな
り、スタンドオフ3外周部のガラスタブレット4aが軟
化流動する過程で、第3図に示すようにスタンドオフ3
が上方に向って引上げられて傾斜してしまい、スタンド
オフ3を正常な形状に形成することができない。そのた
め、傾斜したスタンドオフ3を有するステムをシャーシ
7などに取付けたときステムが傾いて、金属外環1がシ
ャーシ7に接触してしまうという問題点があった。この
傾きを防止するためにカーボン治具82でスタンドオフ
3を上方から押えつけると、封着ガラス4の表面に汚れ
が生じてしまい好ましくない。それゆえに、この発明の
主たる目的は、ガラス封着時にスタンドオフが傾いたり
することのないような半導体ステムの製造方法を提供す
ることである。In the figure, a lead terminal 2 is located at a predetermined position on a metal 1 made of iron, nickel, cobalt alloy, etc.
Through-holes 11 and 12 are bored into which holes 1 and 22 are inserted.
Cord terminals 21 and 22 made of, for example, iron-nickel-cobalt alloy are arranged in the through holes 11 and 12. Each lead terminal 21, 22 has a connection thin wire 61,
62, it is electrically connected to the semiconductor chip 5 disposed approximately on the center of the metal outer ring 1. Approximately at the inner center of the metal outer ring 1 is a rod-shaped standoff 3 formed from sealing glass, such as filler glass made by adding alumina powder with a higher melting point to shelf silicate glass.
is placed. The lead terminals 21, 22 and the standoff 3 are sealed with a glass 4 made of silicate glass or the like. Then, this semiconductor stem is attached to the chassis 7 by the standoffs 3 in a floating state from the chassis 7. FIG. 2 is a longitudinal sectional view showing a method for manufacturing a semiconductor stem having standoffs shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a longitudinal sectional view of a semiconductor stem having standoffs formed by a conventional manufacturing method. . next,
A conventional method for manufacturing a semiconductor stem will be described with reference to FIGS. 1 to 3. The metal outer ring 1 is placed on a carbon jig 81 called graphite, which is formed to accommodate the metal outer ring 1 and the protruding portions of the lead terminals 21 and 22. Furthermore, a glass tablet 4a made of shelf silicate glass is arranged inside the metal outer ring 1, and the through holes 11, 1 of the metal outer moat 1 are passed through the through holes of the glass tablet 4a.
2, lead terminals 21 and 22 are set up as a shield. A standoff 3 is inserted through a through hole in the center of the glass tablet 4a. Then, metal outer ring 1, lead terminals 2i, 22
, the carbon filth 82 is remounted so as to cover the standoff 3 and the glass tablet 4a, and heated to about 100,000 in a neutral (N2) or weakly reducing atmosphere.
At this time, if the material of the standoff 3 is made of only shelf silicate glass, the glass tablet 4a arranged on the outer periphery of the standoff 3 and the standoff 3 will simultaneously soften and flow during heating, and the standoff 3 cannot be maintained in a predetermined shape. Therefore, conventionally, the glass tablet 4a is formed by mixing, for example, 60% of 150 to 200 mesh pass porcelain glass powder and 40% of 325 mesh pass alumina powder to raise the apparent melting point. This prevents the standoff 3 from deforming during sealing. However, since the standoff 3 contains 60% shelf silicate glass, the shelf silicate glass is eluted onto the surface of the standoff 3 during heating, resulting in a layer of only shelf silicate glass (20 to 100 ml). ) is generated. Therefore, the wettability with the molten glass of the glass tablet 4a arranged on the outer periphery of the standoff 3 becomes very good, and in the process of softening and flowing the glass tablet 4a on the outer periphery of the standoff 3, as shown in FIG. standoff 3
The standoffs 3 are pulled upward and tilted, making it impossible to form the standoffs 3 into a normal shape. Therefore, when the stem having the inclined standoffs 3 is attached to the chassis 7 or the like, the stem is inclined and the metal outer ring 1 comes into contact with the chassis 7, which is a problem. If the carbon jig 82 is used to press down the standoff 3 from above in order to prevent this inclination, the surface of the sealing glass 4 will be contaminated, which is undesirable. Therefore, the main object of the present invention is to provide a method for manufacturing a semiconductor stem in which the standoff does not tilt during glass sealing.
この発明は要約すれば、スタンドオフを、封着ガラスと
同一のたとえば棚桂酸ガラスとセラミック粉末などの封
着ガラスよりも高融点の絶縁材料とを用いて形成し、そ
の表面をたとえばエッチング処理した後、リード端子と
前記スタンドオフとガラスタブレットとを金属外環の所
定の位置に配置し、ガラスタブレットの融点以上の温度
で加熱するようにしたものである。In summary, the present invention comprises forming a standoff using the same material as the sealing glass, for example, shelf silicate glass, and an insulating material having a higher melting point than the sealing glass, such as ceramic powder, and etching the surface of the standoff. After that, the lead terminal, the standoff, and the glass tablet are placed at predetermined positions on the metal outer ring, and heated to a temperature higher than the melting point of the glass tablet.
この発明の上述の目的およびその他の目的と特徴は以下
に図面を参照して行なう詳細な説明から一層明らかとな
ろう。The above objects and other objects and features of the present invention will become more apparent from the detailed description given below with reference to the drawings.
この発明の一実施例による半導体ステムの製造方法にお
いては、スタンドオフ3′の製造工程および加熱温度が
異なる以外は第2図に示す従来の製造方法と同じである
。The method for manufacturing a semiconductor stem according to an embodiment of the present invention is the same as the conventional manufacturing method shown in FIG. 2, except that the manufacturing process and heating temperature of the standoff 3' are different.
すなわち、スタンドオフ3を、例えばガラスタブレット
4aと同一の150ないし200メッシュパスの棚桂酸
ガラス粉末60%と「 この棚碇酸ガラスよりも高融点
の絶縁粉末たとえば325メッシュパスのアルミナセラ
ミツク粉末40%と、さらに有機バィンダとを混合し造
粒する。そして、プレス成型によって棒状に形成したの
ちに焼成して有機バインダを消滅させる。さらに、スタ
ンドオフ3の表面をたとえばフッ酸(HF)処理などに
よってエッチング処理し、表面のセラミック粒子間の棚
蛙酸ガラスを溶かしセラミックのみとする。すなわち、
表面がアルミナリツチの状態(ざらついた状態)のスタ
ンドオフ3′にする。そして、前述の第2図と同様にし
てスタンドオフ3′を金属外環1の所定の位置に配贋し
、中性雰囲気または弱還元性雰囲気中でガラスタブレッ
ト4aの融点以上の温度たとえば約1000qoで加熱
する。このとき、スタンドオフ3′の表面がアルミナリ
ッチの状態であるため、スタンドオフ3′内の棚桂酸ガ
ラスの溶出スピードが遅くなり、外周の棚桂酸ガラスと
の濡れ性が低下し、スタンドオフ3′がガラスタブレッ
ト4aとともに軟化流動することなくスタンドオフ3′
を第4図に示すように垂直に立てた状態でガラス封着を
することができる。別表はこの発明の一実施例によって
製造した半導体ステムの不良率を示す表である。That is, the standoff 3 is made of, for example, 60% shelf silicate glass powder with a 150 to 200 mesh pass, which is the same as the glass tablet 4a, and an insulating powder with a higher melting point than this shelf silicate glass, for example, 40% alumina ceramic powder with a 325 mesh pass. % and an organic binder are mixed and granulated.Then, after being formed into a rod shape by press molding, it is fired to eliminate the organic binder.Furthermore, the surface of the standoff 3 is treated with, for example, hydrofluoric acid (HF). The etching treatment is performed by etching to dissolve the glazed acid glass between the ceramic particles on the surface and leave only the ceramic.
The standoff 3' has an alumina-rich (rough) surface. Then, the standoffs 3' are placed at predetermined positions on the metal outer ring 1 in the same manner as in FIG. Heat it up. At this time, since the surface of the standoff 3' is in an alumina-rich state, the elution speed of the shelf silicate glass within the standoff 3' is slowed down, and the wettability with the shelf silicate glass on the outer periphery is reduced. The standoff 3' does not soften and flow together with the glass tablet 4a.
As shown in FIG. 4, glass sealing can be carried out in a vertically erected state. The attached table is a table showing the defective rate of semiconductor stems manufactured according to an embodiment of the present invention.
この表に示すように、スタンドオフ3の表面を何ら処理
を行なわない従来の製造方法では、120個の半導体ス
テムを製造するとき7〜14個の不良が生じたが、この
発明によれば不良率を0にすることができた。また、ス
タンドオフ3の表面のフツ酸処理により外径を40りま
たは70ム減少させた場合にあってはともに不良率を0
にすることができた。以上のように、この発明によれば
、スタンドオフを、封着ガラスと同一ガラスと、この封
着ガラスよりも高融点の絶縁材料を用いて形成し、かつ
その表面をエッチング処理することによって、ガラス封
着するときにスタンドオフからガラスが流れ出るのを防
止することができ、それによって、スタンドオフが懐い
て封着されるのを防止することができる。したがって、
半導体ステムをシャーシなどに取付けたとき、半導体ス
テムをシヤーシと平行に保持することができる。As shown in this table, with the conventional manufacturing method in which the surface of the standoff 3 is not subjected to any treatment, 7 to 14 defects occurred when manufacturing 120 semiconductor stems, but according to the present invention, 7 to 14 defects were generated. I was able to reduce the rate to 0. In addition, when the outer diameter is reduced by 40 mm or 70 mm by hydrofluoric acid treatment on the surface of standoff 3, the defective rate is reduced to 0 in both cases.
I was able to do it. As described above, according to the present invention, the standoff is formed using the same glass as the sealing glass and an insulating material with a higher melting point than the sealing glass, and the surface thereof is etched. It is possible to prevent the glass from flowing out from the standoffs during glass sealing, thereby preventing the standoffs from coming loose and being sealed. therefore,
When the semiconductor stem is attached to a chassis or the like, the semiconductor stem can be held parallel to the chassis.
第1図はこの発明の背景となるスタンドオフを有する半
導体ステムを取付基板に取付けた状態を示す縦断面図で
ある。
第2図は第1図に示す半導体ステムを製造する方法を示
す縦断面図である。第3図は従来の製造方法によって形
成した半導体ステムの縦断面図である。第4図はこの発
明の一実施例によって形成した半導体ステムの縦断面図
である。図において、1は金属外濠、21,22はリー
ド端子、3′はスタンドオフ、4は封着ガラス、4aは
ガラスタブレット、5は半導体チップ、61,62は接
続紬線、7はシヤーシを示す。
別表弟‘図
弟z図
第3図
第4図FIG. 1 is a vertical cross-sectional view showing a state in which a semiconductor stem having a standoff, which is the background of the present invention, is attached to a mounting substrate. FIG. 2 is a longitudinal sectional view showing a method for manufacturing the semiconductor stem shown in FIG. 1. FIG. 3 is a longitudinal sectional view of a semiconductor stem formed by a conventional manufacturing method. FIG. 4 is a longitudinal sectional view of a semiconductor stem formed according to an embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a metal outer moat, 21 and 22 are lead terminals, 3' is a standoff, 4 is a sealing glass, 4a is a glass tablet, 5 is a semiconductor chip, 61 and 62 are connection wires, and 7 is a chassis. . Separate Table of Younger Brother's Drawing of Younger Brother Z Figure 3 Figure 4
Claims (1)
を絶縁するためのスタンドオフとを配置し、前記金属外
環とリード端子とスタンドオフとを封着ガラスによって
封着する半導体ステムの製造方法であって、 前記スタ
ンドオフを、前記封着ガラス成分と、この封着ガラスよ
りも高融点の絶縁材料粉末を用いて形成した後、その表
面を処理して絶縁材料リツチの状態にし、 前記スタン
ドオフを、前記リード端子およびガラスタブレツトとと
もに前記金属外環の所定の位置に配置し、前記ガラスタ
ブレツトの融点以上の温度で加熱することを特徴とする
半導体ステムの製造方法。1. A semiconductor stem in which a lead terminal and a standoff for insulating the metal outer ring are arranged at a predetermined position of a metal outer ring, and the metal outer ring, lead terminal, and standoff are sealed with a sealing glass. The method of manufacturing comprises forming the standoff using the sealing glass component and an insulating material powder having a higher melting point than the sealing glass, and then treating the surface thereof to make it rich in the insulating material. . A method of manufacturing a semiconductor stem, comprising placing the standoff together with the lead terminal and the glass tablet at a predetermined position of the metal outer ring, and heating the standoff at a temperature equal to or higher than the melting point of the glass tablet.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54090697A JPS606543B2 (en) | 1979-07-16 | 1979-07-16 | Method of manufacturing semiconductor stem |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54090697A JPS606543B2 (en) | 1979-07-16 | 1979-07-16 | Method of manufacturing semiconductor stem |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5613754A JPS5613754A (en) | 1981-02-10 |
| JPS606543B2 true JPS606543B2 (en) | 1985-02-19 |
Family
ID=14005714
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP54090697A Expired JPS606543B2 (en) | 1979-07-16 | 1979-07-16 | Method of manufacturing semiconductor stem |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS606543B2 (en) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57168282U (en) * | 1981-04-17 | 1982-10-23 | ||
| JPS5836011A (en) * | 1981-08-26 | 1983-03-02 | Fuji Denka:Kk | Glass sealing method for airtight package of circuit element |
| JPS58197754A (en) * | 1982-05-13 | 1983-11-17 | Mitsubishi Electric Corp | Transistor header |
| JPS609326U (en) * | 1983-02-28 | 1985-01-22 | 株式会社フジ電科 | Stem for circuit parts |
| JP2011009574A (en) * | 2009-06-26 | 2011-01-13 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Semiconductor device and semiconductor module |
-
1979
- 1979-07-16 JP JP54090697A patent/JPS606543B2/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5613754A (en) | 1981-02-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3697666A (en) | Enclosure for incapsulating electronic components | |
| US4023876A (en) | Method of making a fluorescent display device having segmentary anodes | |
| JPS606543B2 (en) | Method of manufacturing semiconductor stem | |
| US3676569A (en) | Integrated circuit package | |
| US3489845A (en) | Ceramic-glass header for a semiconductor device | |
| JPH0536375B2 (en) | ||
| US3526814A (en) | Heat sink arrangement for a semiconductor device | |
| JPS583962A (en) | Stress free nickel layer formation | |
| US3056074A (en) | Miniature desiccator and production of units thereof | |
| JPS58143541A (en) | Semiconductor device | |
| US3221393A (en) | Method of making bead type thermistors | |
| US3482149A (en) | Sintered glass integrated circuit structure product and method of making the same | |
| US3148239A (en) | Electrode assembly construction for glass furnace | |
| JP3318498B2 (en) | Circuit board for mounting semiconductor elements | |
| US2877393A (en) | Semi-conductor device | |
| JPH0157063B2 (en) | ||
| JPH0437532B2 (en) | ||
| JPS60180151A (en) | Substrate with bump and manufacture thereof | |
| JPS63240051A (en) | Ceramic cap | |
| JPH0431187B2 (en) | ||
| JPS6210938Y2 (en) | ||
| US3305411A (en) | Method of making a transistor using semiconductive wafer with core portion of different conductivity | |
| JPS5851424B2 (en) | semiconductor equipment | |
| JP2602766Y2 (en) | Jig for brazing | |
| JPS5842764A (en) | Plating method |