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JPS6120959B2 - - Google Patents
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JPS6120959B2 - - Google Patents

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JPS6120959B2
JPS6120959B2 JP6456980A JP6456980A JPS6120959B2 JP S6120959 B2 JPS6120959 B2 JP S6120959B2 JP 6456980 A JP6456980 A JP 6456980A JP 6456980 A JP6456980 A JP 6456980A JP S6120959 B2 JPS6120959 B2 JP S6120959B2
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JP
Japan
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control circuit
semiconductor memory
power supply
nonvolatile semiconductor
control
Prior art date
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Expired
Application number
JP6456980A
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Japanese (ja)
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JPS56159895A (en
Inventor
Masao Furuta
Taku Kawahara
Hirosuke Yamamoto
Minoru Ueda
Kazumi Kawashima
Sadahiro Takuhara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C14/00Digital stores characterised by arrangements of cells having volatile and non-volatile storage properties for back-up when the power is down

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  • Power Sources (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、電気的に書き換えが可能な不揮発性
メモリに書き込まれている情報が、電源の投入時
または遮断時に損われる不都合を完全に防止する
ことのできる不揮発性半導体メモリ制御回路に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides a non-volatile semiconductor that can completely prevent the inconvenience of information written in an electrically rewritable non-volatile memory being damaged when power is turned on or off. The present invention relates to a memory control circuit.

不揮発性半導体メモリは、近年のマイクロコン
ピユータの普及に伴い、その周辺メモリとして広
範囲にわたる応用分野を開拓しつつある。なかで
も、データの書き込みと消去を電気的に行うこと
のできるMIOS(Metal−Insulator−Oxide−
Semiconductor)構造の不揮発性半導体メモリ
は、とりわけその応用範囲が広い。ところで、不
揮発性半導体メモリと通常の半導体メモリとを比
較した場合、両者は電源の遮断時に正しい記憶状
態を保持しているか否かの点において異る。すな
わち、前者の不揮発性半導体メモリでは、電源遮
断時ならびに電源投入時を通じて常に正しい記憶
状態にあることが必要である。
With the recent spread of microcomputers, nonvolatile semiconductor memory is opening up a wide range of application fields as peripheral memory. Among them, MIOS (Metal-Insulator-Oxide-
Non-volatile semiconductor memory with a semiconductor structure has a particularly wide range of applications. By the way, when comparing a nonvolatile semiconductor memory and a normal semiconductor memory, they differ in whether or not they maintain a correct storage state when the power is turned off. That is, the former non-volatile semiconductor memory must always be in a correct storage state both when the power is turned off and when the power is turned on.

第1図は、従来の不揮発性半導体メモリ制御回
路の構成を示すブロツク図であり、図中、1は不
揮発性半導体メモリ回路部、2は不揮発性メモリ
回路部の記憶状態を制御する制御回路、3は制御
回路2を駆動するための電源電圧が印加される駆
動電源端子、4,5および6は制御回路2を制御
用の信号を制御回路2へ入力するための制御信号
入力線、そして7,8および9は不揮発性半導体
メモリ部1へ記憶状態制御用の信号を入力するた
めの制御信号入力線である。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a conventional nonvolatile semiconductor memory control circuit, in which 1 is a nonvolatile semiconductor memory circuit section, 2 is a control circuit that controls the storage state of the nonvolatile memory circuit section, 3 is a drive power supply terminal to which a power supply voltage for driving the control circuit 2 is applied; 4, 5 and 6 are control signal input lines for inputting a control signal to the control circuit 2; and 7. , 8 and 9 are control signal input lines for inputting storage state control signals to the nonvolatile semiconductor memory section 1.

以上のように構成されている従来の不揮発性半
導体メモリ制御回路において、電源投入時あるい
は電源遮断時に電源電圧が所定のレベルに達しな
い状態では、一般的に言つて制御信号入力線4〜
6の信号は正しい論理状態とはなつていない。制
御信号入力線4〜6の信号の論理状態がこのよう
な状態であるときに、駆動電源端子3に制御回路
2を駆動する電圧が印加されていると、制御信号
入力線7〜9へ正しい論理状態にない記憶状態制
御用信号が制御回路から出力され、場合によつて
は、不揮発性半導体メモリ回路部1に対して不用
意な書き込みもしくは消去が実行されてしまう。
電源投入時あるいは電源遮断時に記憶情報を不用
意に変更する上記のような書き込み、消去は、不
揮発性メモリ装置においては許容できないもので
ある。
In the conventional nonvolatile semiconductor memory control circuit configured as described above, when the power supply voltage does not reach a predetermined level at power-on or power-off, generally speaking, the control signal input lines 4 to
The signal number 6 is not in the correct logic state. When the logic state of the signals on the control signal input lines 4 to 6 is in this state, if a voltage for driving the control circuit 2 is applied to the drive power supply terminal 3, the correct signal is sent to the control signal input lines 7 to 9. A storage state control signal that is not in a logical state is output from the control circuit, and in some cases, careless writing or erasing may be performed on the nonvolatile semiconductor memory circuit section 1.
The above-described writing and erasing, which inadvertently changes stored information when power is turned on or off, is unacceptable in nonvolatile memory devices.

本発明は、従来の不揮発性半導体メモリ制御回
路に存在した上記の不都合を排除することのでき
る不揮発性半導体メモリ制御回路を提供するもの
であつて、不揮発性半導体メモリ回路部の記憶情
情を変更するに要する電源の、不揮発性半導体メ
モリ回路部ならびに記憶状態を制御する制御回路
への投入およびしや断を電源制御入力によつて制
御たところに特徴がある。
The present invention provides a non-volatile semiconductor memory control circuit that can eliminate the above-mentioned disadvantages that existed in conventional non-volatile semiconductor memory control circuits, and which changes the storage conditions of the non-volatile semiconductor memory circuit section. A feature of the present invention is that the power supply control input controls the application and discontinuation of the power required to the nonvolatile semiconductor memory circuit and the control circuit that controls the storage state.

以下に、第2図を参照して本発明の不揮発性半
導体メモリ制御回路の構成とその動作について説
明する。なお、以下の説明は、第2図の制御回路
がPチヤンネルMOS集積回路で構成されている
ものとして行う。
The configuration and operation of the nonvolatile semiconductor memory control circuit of the present invention will be described below with reference to FIG. The following explanation will be given on the assumption that the control circuit shown in FIG. 2 is constituted by a P-channel MOS integrated circuit.

図示するように、不揮発性半導体メモリ回路部
1、制御回路2、ならびに制御信号入力線4〜
6、7〜9の接続関係は従来と同じであるが、低
レベル電源端子10と接地点との間にドレインソ
ース回路を直列に接続したMOSトランジスタ1
1と12、電源制御信号が入力される端子13、
同端子13に入力される電源制御信号をMOSト
ランジスタ11のゲートに接続されている信号線
14へ同相で伝達するとともに、電源電圧のレベ
ルシフトを行うためのインバータ15,16、な
らびにMOSトランジスタ12のゲートに接続さ
れている信号線17へ信号線14の制御信号とは
逆相の制御信号を伝達するために機能するインバ
ータ18とで構成された電源制御回路部19が付
加されており、この回路部内のMOSトランジス
タ11と12の接続点Aから制御回路2へ駆動用
の電圧を供給する構成となつている。
As shown in the figure, a nonvolatile semiconductor memory circuit section 1, a control circuit 2, and control signal input lines 4 to
The connection relationships of 6, 7 to 9 are the same as before, but the MOS transistor 1 has a drain source circuit connected in series between the low level power supply terminal 10 and the ground point.
1 and 12, a terminal 13 into which a power control signal is input;
The power supply control signal input to the same terminal 13 is transmitted in the same phase to the signal line 14 connected to the gate of the MOS transistor 11, and the inverters 15 and 16 and the MOS transistor 12 are connected to the inverters 15 and 16 for level shifting the power supply voltage. A power supply control circuit section 19 is added, which is composed of an inverter 18 that functions to transmit a control signal of opposite phase to the control signal of the signal line 14 to the signal line 17 connected to the gate. The configuration is such that a driving voltage is supplied to the control circuit 2 from a connection point A between MOS transistors 11 and 12 in the unit.

このような構成を具備する本発明の不揮発性半
導体メモリ制御回路では以下のような動作が実行
される。
The nonvolatile semiconductor memory control circuit of the present invention having such a configuration performs the following operations.

先ず、端子13が高レベル(接地レベル)に保
たれる場合、信号線14は高レベル、一方、信号
線17は低レベルとなる。このため、MOSトラ
ンジスタ11が遮断状態となり、一方、MOSト
ランジスタ12が導通状態になる。したがつて、
A点の電位は高レベル(接地レベル)となり、制
御回路2には駆動用の電圧は印加されない。
First, when the terminal 13 is kept at a high level (ground level), the signal line 14 is at a high level, while the signal line 17 is at a low level. Therefore, the MOS transistor 11 is turned off, while the MOS transistor 12 is turned on. Therefore,
The potential at point A is at a high level (ground level), and no driving voltage is applied to the control circuit 2.

次いで、端子13に印加する電源制御電圧のレ
ベルを低レベルにすると、信号線14が低レベ
ル、一方、信号線17が高レベルとなり、MOS
トランジスタ11が導通状態、MOSトランジス
タ12が遮断状態へとスイツチする。この結果、
制御回路2には、MOSトランジスタ11ならび
に、A点を通して電源端子10から駆動電圧が供
給される。
Next, when the level of the power supply control voltage applied to the terminal 13 is set to a low level, the signal line 14 becomes a low level, while the signal line 17 becomes a high level, and the MOS
Transistor 11 is turned on and MOS transistor 12 is turned off. As a result,
A drive voltage is supplied to the control circuit 2 from the power supply terminal 10 through the MOS transistor 11 and the point A.

ところで、端子13と信号線14との間に配置
されたインバータ15と16は、端子13に印加
する電源制御電圧を信号線14へ単に同相で伝達
するのであれば不要となる回路要素であるが、こ
れらのインバータは電源端子10の電圧レベルが
所定のレベルに達したところで作動するものであ
り、したがつてこれらのインバータによつて、電
源電圧が所定のレベルに達したところでMOSト
ランジスタ11と12をスイツチ動作させる作用
が生じ、望ましい電圧レベルに達したところで電
源電圧を制御回路2へ印加する効果が奏される。
Incidentally, the inverters 15 and 16 arranged between the terminal 13 and the signal line 14 are circuit elements that are unnecessary if the power supply control voltage applied to the terminal 13 is simply transmitted to the signal line 14 in the same phase. , these inverters operate when the voltage level of the power supply terminal 10 reaches a predetermined level, and therefore, when the power supply voltage reaches a predetermined level, the MOS transistors 11 and 12 are activated by these inverters. The effect of applying the power supply voltage to the control circuit 2 when the desired voltage level is reached is produced.

本発明の不揮発性半導体メモリ制御回路によれ
ば、以上の説明から明らかなように、端子13へ
印加する電源制御電圧のレベルによつて制御回路
2への駆動用電源電圧の印加ならびに遮断を制御
することが可能であり、記憶情報の書きかえ時、
あるいは、消去時には端子13の電圧レベルを低
レベルに保つならば制御信号入力線4〜6の論理
状態が正しい状況下で制御回路2へ駆動用電源電
圧の供給がなされ、制御回路2からの出力によつ
て不揮発性半導体メモリ部1に対して誤りのない
書き換えあるいは消去をなすことができる。
According to the nonvolatile semiconductor memory control circuit of the present invention, as is clear from the above description, the application and interruption of the drive power supply voltage to the control circuit 2 is controlled by the level of the power supply control voltage applied to the terminal 13. When rewriting memory information,
Alternatively, if the voltage level of the terminal 13 is kept at a low level during erasing, the driving power supply voltage is supplied to the control circuit 2 under the condition that the logic states of the control signal input lines 4 to 6 are correct, and the output from the control circuit 2 is Accordingly, the nonvolatile semiconductor memory section 1 can be rewritten or erased without error.

また、装置への電源の投入時あるいは遮断時に
は、端子13に印加する電源制御電圧のレベルを
高レベルに保つならば、制御回路2への電源電圧
の印加が阻止され、したがつて、この制御回路2
へ如何なる信号が不用意に入力されても不揮発性
半導体メモリ回路部1の記憶状態が不用意に変更
されることはない。そして、装置に印加される電
源電圧レベルが適正なレベルとなり、制御信号線
4〜6の制御信号が正しい論理状態となつた後に
電源制御電圧のレベルを低レベルにするならば、
制御回路2に電源電圧が印加され、不揮発性半導
体メモリ回路部の記憶状態制御が可能な回路状態
が成立する。
Furthermore, when power is turned on or off to the device, if the level of the power supply control voltage applied to the terminal 13 is kept at a high level, the application of the power supply voltage to the control circuit 2 is blocked, and therefore, this control circuit 2
Even if any signal is carelessly input to the nonvolatile semiconductor memory circuit section 1, the storage state of the nonvolatile semiconductor memory circuit section 1 will not be changed carelessly. Then, if the power supply control voltage level is set to a low level after the power supply voltage level applied to the device becomes an appropriate level and the control signals on the control signal lines 4 to 6 reach the correct logic state,
A power supply voltage is applied to the control circuit 2, and a circuit state is established in which the storage state of the nonvolatile semiconductor memory circuit section can be controlled.

本発明の不揮発性半導体メモリ制御回路では、
上記の効果に加え次のような効果も奏させる。
In the nonvolatile semiconductor memory control circuit of the present invention,
In addition to the above effects, the following effects are also produced.

(1) MOSトランジスタにいずれか一方が常に遮
断状態となるため、電力消費を軽減できる。
(1) Power consumption can be reduced because one of the MOS transistors is always cut off.

(2) 電源制御電圧によつて制御回路2への電源電
圧を遮断すると、制御回路2の電源供給点が
MOSトランジスタ12を介して接地点へ接続
されるため、電源供給点がすみやかに接地レベ
ルとなり、装置への電源供給あるいは装置の電
源遮断に対する備えが極めて短い時間で完了す
る。
(2) When the power supply voltage to the control circuit 2 is cut off by the power supply control voltage, the power supply point of the control circuit 2
Since it is connected to the ground point via the MOS transistor 12, the power supply point quickly becomes the ground level, and preparation for power supply to the device or power cutoff of the device is completed in an extremely short time.

以上、本発明についてPチヤンネルMOS集積
回路で制御回路を構成したものとして説明したが
Nチヤネル、CMOSあるいはバイボーラ集積回
路、さらに個別部品のいずれを用いても本発明は
実現可能である。
Although the present invention has been described above assuming that the control circuit is configured with a P-channel MOS integrated circuit, the present invention can be implemented using any of N-channel, CMOS, or bibolar integrated circuits, or individual components.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は不揮発性半導体メモリ制御回路の従来
例を示す図、第2図は本発明にかかる不揮発性半
導体メモリ制御回路部を示す図である。 1……不揮発性半導体メモリ回路部、2……記
憶状態制御用の制御回路、3,10……電源端
子、4〜6,7〜9……制御信号入力線、11,
12……MOSトランジスタ、13……電源制御
電圧印加端子、14,17……信号線、15,1
6,18……インバータ、19……電源制御回路
部。
FIG. 1 is a diagram showing a conventional example of a nonvolatile semiconductor memory control circuit, and FIG. 2 is a diagram showing a nonvolatile semiconductor memory control circuit section according to the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Nonvolatile semiconductor memory circuit section, 2...Control circuit for memory state control, 3, 10...Power terminal, 4-6, 7-9...Control signal input line, 11,
12... MOS transistor, 13... Power supply control voltage application terminal, 14, 17... Signal line, 15, 1
6, 18... Inverter, 19... Power supply control circuit section.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 不揮発性半導体メモリ回路部と、同不揮発性
半導体メモリ回路部の記憶状態を制御する制御回
路とを備える不揮発性半導体メモリ装置に電源制
御回路部を付加し、前記電源制御回路部に付設し
た電源制御電圧印加端子へ印加する電源制御電圧
レベルで前記不揮発性半導体メモリの情報を変更
するに要する電源電圧の前記制御回路への印加お
よび遮断の制御をなすことを特徴とする不揮発性
半導体メモリ制御回路。 2 電源制御回路部が、電源と接地点との間に直
列に接続されるとともに、制御電極を持つ第1お
よび第2のスイツチ素子と、電源制御電圧印加端
子と前記第1のスイツチ素子の制御電極との間に
直列に接続された第1および第2のインバータ
と、前記第1のスイツチ素子の制御電極と第2の
スイツチ素子の制御電極との間に接続された第3
のインバータとで構成されていることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項に記載の不揮発性半導体
メモリ制御回路。 3 制御回路の給電点が、第1および第2のスイ
ツチ素子の直列接続点であることを特徴とする特
許請求の範囲第1項に記載の不揮発性半導体メモ
リ制御回路。 4 第1および第2のスイツチ素子が、MOSト
ランジスタであることを特徴とする特許請求の範
囲第1項に記載の不揮発性半導体メモリ制御回
路。
[Scope of Claims] 1. A power supply control circuit section is added to a nonvolatile semiconductor memory device including a nonvolatile semiconductor memory circuit section and a control circuit that controls the storage state of the nonvolatile semiconductor memory circuit section, and the power supply control circuit section Application and interruption of the power supply voltage required to change the information in the nonvolatile semiconductor memory to the control circuit is controlled by a power supply control voltage level applied to a power supply control voltage application terminal attached to the circuit section. Non-volatile semiconductor memory control circuit. 2. A power supply control circuit unit is connected in series between a power supply and a ground point, and controls first and second switch elements having control electrodes, a power supply control voltage application terminal, and the first switch element. first and second inverters connected in series between the electrodes; and a third inverter connected between the control electrode of the first switch element and the control electrode of the second switch element.
2. The nonvolatile semiconductor memory control circuit according to claim 1, wherein the nonvolatile semiconductor memory control circuit is comprised of an inverter. 3. The nonvolatile semiconductor memory control circuit according to claim 1, wherein the power feeding point of the control circuit is a series connection point of the first and second switch elements. 4. The nonvolatile semiconductor memory control circuit according to claim 1, wherein the first and second switch elements are MOS transistors.
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