JPS6129646B2 - - Google Patents
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- JPS6129646B2 JPS6129646B2 JP7476480A JP7476480A JPS6129646B2 JP S6129646 B2 JPS6129646 B2 JP S6129646B2 JP 7476480 A JP7476480 A JP 7476480A JP 7476480 A JP7476480 A JP 7476480A JP S6129646 B2 JPS6129646 B2 JP S6129646B2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 4
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- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、２次元パターンの輝度を測定する２
次元輝度計測装置に関する。
次元輝度計測装置に関する。
従来、２次元パターンの輝度を測定するため
に、被測定体の写真を撮り、フイルムの濃度を綿
密に測定する方法や、テレビジヨン撮像して得た
映像信号の大きさをオシログラフやペンレコーダ
に描く方法が用いられている。
に、被測定体の写真を撮り、フイルムの濃度を綿
密に測定する方法や、テレビジヨン撮像して得た
映像信号の大きさをオシログラフやペンレコーダ
に描く方法が用いられている。
しかしながら、被測定体の写真を撮ることによ
り２次元パターンの輝度を測定する方法は、測定
結果を得るのに時間を要するので、測定する現場
で測定結果を得、直ちに被測定体の輝度を調整す
るような目的に使用することができない。また、
テレビジヨン撮像して得た映像信号の大きさをオ
シログラフやペンレコーダに描く方法は、通常の
工業用撮像管の特性からダイナミツクレンジが
高々102しかなく、被測定体の輝度の範囲が大き
いときは、明るい部分又は暗い部分のいずれかの
測定が不可能である。さらに測定上不必要な部分
も走査するので、測定時間に無駄が生ずる。さら
に輝度が低いために１フレーム期間の映像信号の
蓄積では十分な信号対雑音比が得られないとき、
ラスタ上の同一部分の映像信号をフレーム周期で
積算しなければならない欠点がある。
り２次元パターンの輝度を測定する方法は、測定
結果を得るのに時間を要するので、測定する現場
で測定結果を得、直ちに被測定体の輝度を調整す
るような目的に使用することができない。また、
テレビジヨン撮像して得た映像信号の大きさをオ
シログラフやペンレコーダに描く方法は、通常の
工業用撮像管の特性からダイナミツクレンジが
高々102しかなく、被測定体の輝度の範囲が大き
いときは、明るい部分又は暗い部分のいずれかの
測定が不可能である。さらに測定上不必要な部分
も走査するので、測定時間に無駄が生ずる。さら
に輝度が低いために１フレーム期間の映像信号の
蓄積では十分な信号対雑音比が得られないとき、
ラスタ上の同一部分の映像信号をフレーム周期で
積算しなければならない欠点がある。
本発明は、上記問題点を解決するためになされ
たもので、ダイナミツクレンジを狭くする蓄積方
式を用いず、極めて大きな輝度範囲を有する２次
元パターンの輝度分布を測定することのできるダ
イナミツクレンジの大きい２次元輝度計測装置を
提供することを目的とする。
たもので、ダイナミツクレンジを狭くする蓄積方
式を用いず、極めて大きな輝度範囲を有する２次
元パターンの輝度分布を測定することのできるダ
イナミツクレンジの大きい２次元輝度計測装置を
提供することを目的とする。
そのために本発明の２次元輝度計測装置は、標
準光源および被計測体の像を投影するイメージデ
イセクタ管と、イメージデイセクタ管の偏向装置
と、偏向装置に偏向位置信号を送出する偏向位置
信号発生装置と、イメージデイセクタ管の出力パ
ルスを計数する計数装置と、標準光源を投影した
ときと被計測体を投影したときの計数装置の各出
力信号の比を演算して出力する演算装置と、演算
装置の出力信号と偏向位置信号発生装置の送出す
る位置信号とを組合わせるデータ多重化装置とを
備えたことを特徴とする。
準光源および被計測体の像を投影するイメージデ
イセクタ管と、イメージデイセクタ管の偏向装置
と、偏向装置に偏向位置信号を送出する偏向位置
信号発生装置と、イメージデイセクタ管の出力パ
ルスを計数する計数装置と、標準光源を投影した
ときと被計測体を投影したときの計数装置の各出
力信号の比を演算して出力する演算装置と、演算
装置の出力信号と偏向位置信号発生装置の送出す
る位置信号とを組合わせるデータ多重化装置とを
備えたことを特徴とする。
本発明の２次元輝度計測装置は、イメージデイ
セクタ管を用いて入力光をパルス計数し、得られ
た輝度信号とイメージデイセクタ管の偏向装置に
送出される偏向位置信号とを組み合わせてデータ
を多重化することにより、イメージデイセクタ管
の光電子放出効果によりダイナミツクレンジを広
くすることができると共に、任意の位置の輝度を
所望の形式で表示することが可能となる。
セクタ管を用いて入力光をパルス計数し、得られ
た輝度信号とイメージデイセクタ管の偏向装置に
送出される偏向位置信号とを組み合わせてデータ
を多重化することにより、イメージデイセクタ管
の光電子放出効果によりダイナミツクレンジを広
くすることができると共に、任意の位置の輝度を
所望の形式で表示することが可能となる。
以下、実施例を図面を参照しつつ説明する。
第１図は本発明の２次元輝度計測装置のブロツ
ク図、第２図は第１図に用いられているイメージ
デイセクタ管の断面構造図、第３図は第１図のパ
ルス計数装置のブロツク図、第４図は第１図の演
算装置のブロツク図、第５図は第１図に示した２
次元輝度計測装置の動作を説明するためのタイム
チヤート、第６図はイメージデイセクタ管の光電
面における計測点の例を示す図である。
ク図、第２図は第１図に用いられているイメージ
デイセクタ管の断面構造図、第３図は第１図のパ
ルス計数装置のブロツク図、第４図は第１図の演
算装置のブロツク図、第５図は第１図に示した２
次元輝度計測装置の動作を説明するためのタイム
チヤート、第６図はイメージデイセクタ管の光電
面における計測点の例を示す図である。
図中、１は標準光源又は２次元的拡がりをもつ
被計測体、２は光学レンズ、３はイメージデイセ
クタ管、４はパルス計数装置、５は演算装置、６
はデータの同時多重化装置、６１，６２，６３は
データ多重化装置６の第１、第２、第３入力端、
７は表示装置、８は偏向位置信号発生装置、８
１，８２，８３は偏向位置信号発生装置８の第
１、第２、第３出力端、８８，８９は偏向駆動回
路、３１は光電面、３２は電極、３３はアパーチ
ヤ、３４，３５は偏向コイル、３６はダイノー
ド、３７は集収電極、４１は入力ゲート回路、４
２はプリアンプ、４３はメインアンプ、４４はデ
イスクリミネータ、４５は波形整形回路、４６は
計数回路、４７，４８は制御端、５１は切換えス
イツチ、５２はメモリ、５３は除算回路である。
被計測体、２は光学レンズ、３はイメージデイセ
クタ管、４はパルス計数装置、５は演算装置、６
はデータの同時多重化装置、６１，６２，６３は
データ多重化装置６の第１、第２、第３入力端、
７は表示装置、８は偏向位置信号発生装置、８
１，８２，８３は偏向位置信号発生装置８の第
１、第２、第３出力端、８８，８９は偏向駆動回
路、３１は光電面、３２は電極、３３はアパーチ
ヤ、３４，３５は偏向コイル、３６はダイノー
ド、３７は集収電極、４１は入力ゲート回路、４
２はプリアンプ、４３はメインアンプ、４４はデ
イスクリミネータ、４５は波形整形回路、４６は
計数回路、４７，４８は制御端、５１は切換えス
イツチ、５２はメモリ、５３は除算回路である。
先ず、第１図に用いられているイメージデイセ
クタ管３について、第２図により説明する。
クタ管３について、第２図により説明する。
第２図において、光学像を投影した光電面３１
からの光学像に対応する電子ビームを、中心にア
パーチヤ３３を有する電極３２により加速し、Ｘ
方向、Ｙ方向の偏向コイル３４，３５によつて紙
面に垂直な方向に偏向し、光学像の所望の部分に
対応する電子ビームのみをアパーチヤ３３に通
し、通過した電子をダイノード３６……３６で増
倍し、集収電極３７から電流として光学像の一部
分の輝度信号を検出する。そこで、Ｘ方向、Ｙ方
向の偏向コイル３４，３５にそれぞれ所定の偏向
駆動電流を供給することにより光電面３１上の光
学像の測定位置を順次選択し、選択した位置に対
応する電子ビームが順次アパーチヤ３３を通過す
るようにすれば、集収電極３７から光学像の各部
分の輝度信号が得られることとなる。このイメー
ジデイセクタ管３は、入力信号の蓄積動作は行は
ず、また数分の一の確率で光子１個に対応してパ
ルスを出力する検出能を有している。
からの光学像に対応する電子ビームを、中心にア
パーチヤ３３を有する電極３２により加速し、Ｘ
方向、Ｙ方向の偏向コイル３４，３５によつて紙
面に垂直な方向に偏向し、光学像の所望の部分に
対応する電子ビームのみをアパーチヤ３３に通
し、通過した電子をダイノード３６……３６で増
倍し、集収電極３７から電流として光学像の一部
分の輝度信号を検出する。そこで、Ｘ方向、Ｙ方
向の偏向コイル３４，３５にそれぞれ所定の偏向
駆動電流を供給することにより光電面３１上の光
学像の測定位置を順次選択し、選択した位置に対
応する電子ビームが順次アパーチヤ３３を通過す
るようにすれば、集収電極３７から光学像の各部
分の輝度信号が得られることとなる。このイメー
ジデイセクタ管３は、入力信号の蓄積動作は行は
ず、また数分の一の確率で光子１個に対応してパ
ルスを出力する検出能を有している。
次に、第１図により本発明による２次元輝度計
測装置を説明する。
測装置を説明する。
第１図において、予め所定の輝度の標準光源の
像をイメージデイセクタ管３に投影すると共に、
偏向信号発生装置８から、標準光源の像の位置に
相当する横軸偏向位置信号Ｘおよび縦軸偏向位置
信号Ｙを偏向駆動回路８８および８９に送出す
る。偏向駆動回路８８および８９は、偏向位置信
号発生装置８の送出する横軸偏向位置信号Ｘおよ
び縦軸偏向位置信号Ｙに従つて偏向駆動電流を偏
向コイル３４および３５に送出する。この偏向位
置信号ＸおよびＹは、偏向位置が、例えば第６図
に示すような点Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの場合、第５図に
ＸA、ＹA、ＸB、ＹB、ＸC、ＹC、ＸD、ＹDで示す
ように、所定の時間幅t1ごとに順次切換わる階段
状波形の電圧である。同時に偏向位置信号発生装
置の第３出力端８３より、パルス計数装置４の入
力ゲート回路４１の制御端４７へ、第５図に示す
ような偏向位置信号の切り換えタイミングより時
間t2だけ遅延して立上がる所定の時間幅t2をもつ
矩形波制御信号ａを送出する。この制御信号ａの
遅延時間t2は偏向位置信号発生装置８が偏向位置
信号ＸおよびＹを送出した後、イメージデイセク
タ管３の偏向位置が第５図ｂに示すように変化し
て所定の位置に偏向するに十分な時間幅である。
こうして、パルス計数装置４は、標準光源の輝度
に対応する個数のパルスを時間幅t3に亘つて計数
する。この時間幅t3はパルス計数装置４がパルス
を計数するに必要な時間で、パルスの頻度によつ
ては変える必要がある。なお、偏向位置信号の時
間幅t1は、t2＋t3より大きくなければならない。
ところで、パルス計数装置４が標準光源の輝度に
対応する個数のパルスを計数する間、演算装置５
は、切換えスイツチ５１を除算回路５３の除数端
側に接続してあり、パルス計数装置４の計数信号
をメモリ５２に記憶する。続いてイメージデイセ
クタ管３に所望の被計測体１の像を投影し、演算
装置５の切換えスイツチ５１を除算回路の被除数
入力端側に切換える。そして、偏向信号発生装置
８は、出力端８１および８２から順次所望の計測
点に対応する偏向位置信号を送出する。例えば、
第６図の点Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを順次計測する場合
は、それら各点に対応する電圧ＸA、ＹA、ＸB、
ＹB、ＸC、ＹC、ＸD、ＹDを順次時間t1ごとに切
り換えて送出する。即ち、最初に第１出力端８１
から電圧ＸA、第２出力端８２から電圧ＹAを送出
すると、イメージデイセクタ管３はt1より短い時
間で点Ａに偏向され、点Ａの入力光量に対応する
出力パルスをパルス計数装置４に送出する。続い
て時間t2後、偏向信号発生装置８の出力端８３か
ら矩形波パルスｃがパルス計数装置４の制御端４
７に送出され、ゲート４１が開いて矩形波パルス
ａの時間幅t3だけパルスを計数する。続いてパル
ス計数装置４の計数信号を演算装置５の除算回路
に送出し、メモリ５２の出力信号を除数として除
算を行い、データの多重化装置６の第１入力端６
１に送出する。このとき、データの多重化装置６
の第２入力端６２および第３入力端６３には、偏
向信号発生装置８の第１出力端８１および第２出
力端８２から計測点に対応する電圧ＸA、ＹAが入
力するから、これらを１組のデータとして記憶す
る。データの多重化装置は例えば、２次元ランダ
ムアクセスメモリであるとき、偏向位置信号発生
装置８の第１出力端８１および第２出力端８２か
ら送出する偏向位置信号をデジタル化して、２次
元ランダムアクセスメモリのＸ軸アドレスおよび
Ｙ軸アドレス信号として、そのアドレスの記憶位
置に演算装置５の出力信号を記憶するものでよ
く、あるいは、一本の磁気テープにデータ開始信
号、第１入力端の入力信号、第２入力端の入力信
号、第３入力端の入力信号およびデータ完了信号
を順に記憶するものであつてもよい。
像をイメージデイセクタ管３に投影すると共に、
偏向信号発生装置８から、標準光源の像の位置に
相当する横軸偏向位置信号Ｘおよび縦軸偏向位置
信号Ｙを偏向駆動回路８８および８９に送出す
る。偏向駆動回路８８および８９は、偏向位置信
号発生装置８の送出する横軸偏向位置信号Ｘおよ
び縦軸偏向位置信号Ｙに従つて偏向駆動電流を偏
向コイル３４および３５に送出する。この偏向位
置信号ＸおよびＹは、偏向位置が、例えば第６図
に示すような点Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの場合、第５図に
ＸA、ＹA、ＸB、ＹB、ＸC、ＹC、ＸD、ＹDで示す
ように、所定の時間幅t1ごとに順次切換わる階段
状波形の電圧である。同時に偏向位置信号発生装
置の第３出力端８３より、パルス計数装置４の入
力ゲート回路４１の制御端４７へ、第５図に示す
ような偏向位置信号の切り換えタイミングより時
間t2だけ遅延して立上がる所定の時間幅t2をもつ
矩形波制御信号ａを送出する。この制御信号ａの
遅延時間t2は偏向位置信号発生装置８が偏向位置
信号ＸおよびＹを送出した後、イメージデイセク
タ管３の偏向位置が第５図ｂに示すように変化し
て所定の位置に偏向するに十分な時間幅である。
こうして、パルス計数装置４は、標準光源の輝度
に対応する個数のパルスを時間幅t3に亘つて計数
する。この時間幅t3はパルス計数装置４がパルス
を計数するに必要な時間で、パルスの頻度によつ
ては変える必要がある。なお、偏向位置信号の時
間幅t1は、t2＋t3より大きくなければならない。
ところで、パルス計数装置４が標準光源の輝度に
対応する個数のパルスを計数する間、演算装置５
は、切換えスイツチ５１を除算回路５３の除数端
側に接続してあり、パルス計数装置４の計数信号
をメモリ５２に記憶する。続いてイメージデイセ
クタ管３に所望の被計測体１の像を投影し、演算
装置５の切換えスイツチ５１を除算回路の被除数
入力端側に切換える。そして、偏向信号発生装置
８は、出力端８１および８２から順次所望の計測
点に対応する偏向位置信号を送出する。例えば、
第６図の点Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを順次計測する場合
は、それら各点に対応する電圧ＸA、ＹA、ＸB、
ＹB、ＸC、ＹC、ＸD、ＹDを順次時間t1ごとに切
り換えて送出する。即ち、最初に第１出力端８１
から電圧ＸA、第２出力端８２から電圧ＹAを送出
すると、イメージデイセクタ管３はt1より短い時
間で点Ａに偏向され、点Ａの入力光量に対応する
出力パルスをパルス計数装置４に送出する。続い
て時間t2後、偏向信号発生装置８の出力端８３か
ら矩形波パルスｃがパルス計数装置４の制御端４
７に送出され、ゲート４１が開いて矩形波パルス
ａの時間幅t3だけパルスを計数する。続いてパル
ス計数装置４の計数信号を演算装置５の除算回路
に送出し、メモリ５２の出力信号を除数として除
算を行い、データの多重化装置６の第１入力端６
１に送出する。このとき、データの多重化装置６
の第２入力端６２および第３入力端６３には、偏
向信号発生装置８の第１出力端８１および第２出
力端８２から計測点に対応する電圧ＸA、ＹAが入
力するから、これらを１組のデータとして記憶す
る。データの多重化装置は例えば、２次元ランダ
ムアクセスメモリであるとき、偏向位置信号発生
装置８の第１出力端８１および第２出力端８２か
ら送出する偏向位置信号をデジタル化して、２次
元ランダムアクセスメモリのＸ軸アドレスおよび
Ｙ軸アドレス信号として、そのアドレスの記憶位
置に演算装置５の出力信号を記憶するものでよ
く、あるいは、一本の磁気テープにデータ開始信
号、第１入力端の入力信号、第２入力端の入力信
号、第３入力端の入力信号およびデータ完了信号
を順に記憶するものであつてもよい。
上述のような計測点Ａについてのパルス計数、
演算、多重化の動作を偏向位置信号の開始からt1
の間に処理し、続いて偏向位置信号発生装置８は
点Ｂに対応する位置信号ＸB、ＹBを送出し、前述
した点Ａについての一連の信号処理と同様の信号
処理を点Ｂについて行う。続いて同様にＣ点、Ｄ
点について同様の信号処理を行う。
演算、多重化の動作を偏向位置信号の開始からt1
の間に処理し、続いて偏向位置信号発生装置８は
点Ｂに対応する位置信号ＸB、ＹBを送出し、前述
した点Ａについての一連の信号処理と同様の信号
処理を点Ｂについて行う。続いて同様にＣ点、Ｄ
点について同様の信号処理を行う。
このような各点の信号処理と併行して、あるい
は全ての点の信号処理が完了した後、表示装置７
にデータの多重化装置６において多重化した信号
を表示する。表示装置７は、Ｘ位置信号およびＹ
位置信号をそのままカラーブラウン管の画面の位
置とし演算装置の送出した各点の輝度信号を信号
レベルごとに色表示するようなものである。ある
いは単にプリンタによりＸ位置信号およびＹ位置
信号、輝度信号を併記した表を作成するようなも
のであつてもよい。
は全ての点の信号処理が完了した後、表示装置７
にデータの多重化装置６において多重化した信号
を表示する。表示装置７は、Ｘ位置信号およびＹ
位置信号をそのままカラーブラウン管の画面の位
置とし演算装置の送出した各点の輝度信号を信号
レベルごとに色表示するようなものである。ある
いは単にプリンタによりＸ位置信号およびＹ位置
信号、輝度信号を併記した表を作成するようなも
のであつてもよい。
また、偏向位置信号発生装置８の送出する偏向
位置信号は、被計測体の訂測点を工業規格によつ
て規定されたような人為的な計測点を順次とつて
もよいし、例えば必要に応じて画面の対角線上を
等間隔に、あるいは原点を始点とする螺線上の点
のように規則性のある点を順次とつてもよい。こ
のようなときは、偏向位置信号発生装置８に関数
発生回路を内蔵しておく必要がある。また不作意
に計測点をとつてもよく、その場合は、偏向位置
信号発生装置８に乱数発生回路を内蔵しておく必
要がある。
位置信号は、被計測体の訂測点を工業規格によつ
て規定されたような人為的な計測点を順次とつて
もよいし、例えば必要に応じて画面の対角線上を
等間隔に、あるいは原点を始点とする螺線上の点
のように規則性のある点を順次とつてもよい。こ
のようなときは、偏向位置信号発生装置８に関数
発生回路を内蔵しておく必要がある。また不作意
に計測点をとつてもよく、その場合は、偏向位置
信号発生装置８に乱数発生回路を内蔵しておく必
要がある。
なお、パルスカウンタ４の作用について説明す
ると、前述した時間幅t3の矩形波パルスｃが制御
端４７に加えられるゲート回路４１の出力パルス
を、プリアンプ４２、メインアンプ４３で増幅
し、メインアンプ４３の送出する電圧パルスが、
デイスクリミネータ４４の制御端子４８へ入力す
るデイスクリミネーシヨン・レベル信号を越えた
時だけ一定電圧を出力する。そして、デイスクリ
ミネーシヨン・レベルを越えたパルスに対応する
矩形波パルスを波形整形回路４５に入力し、一定
波高および一定時間幅のパルスに整形した後、計
数回路４６でパルス計数する。この単位時間内の
パルス数が、被測定体の輝度に比例したものとな
る。
ると、前述した時間幅t3の矩形波パルスｃが制御
端４７に加えられるゲート回路４１の出力パルス
を、プリアンプ４２、メインアンプ４３で増幅
し、メインアンプ４３の送出する電圧パルスが、
デイスクリミネータ４４の制御端子４８へ入力す
るデイスクリミネーシヨン・レベル信号を越えた
時だけ一定電圧を出力する。そして、デイスクリ
ミネーシヨン・レベルを越えたパルスに対応する
矩形波パルスを波形整形回路４５に入力し、一定
波高および一定時間幅のパルスに整形した後、計
数回路４６でパルス計数する。この単位時間内の
パルス数が、被測定体の輝度に比例したものとな
る。
ところで、イメージデイセクタ管３の出力には
入力信号に対応する信号パルスとそうでない雑音
パルスとがあり、通常の増幅器のように、パルス
波高とパルス幅の積を電流又は電圧に変換した場
合、低レベルの信号では雑音に埋れてしまい、正
確な信号の検出が困難になる。しかし、雑音パル
スの波高は、信号パルスの波高に比べて小さいの
で、デイスクリミネータ４４におけるデイスクリ
ミネーシヨン・レベルを適当な値に設定しておけ
ば、雑音パルスを除去し、信号パルスのみを検出
することができる。
入力信号に対応する信号パルスとそうでない雑音
パルスとがあり、通常の増幅器のように、パルス
波高とパルス幅の積を電流又は電圧に変換した場
合、低レベルの信号では雑音に埋れてしまい、正
確な信号の検出が困難になる。しかし、雑音パル
スの波高は、信号パルスの波高に比べて小さいの
で、デイスクリミネータ４４におけるデイスクリ
ミネーシヨン・レベルを適当な値に設定しておけ
ば、雑音パルスを除去し、信号パルスのみを検出
することができる。
なお、上記実施例では、イメージデイセクタ管
として電磁偏向タイプのものを用いたが、これに
代えて静電偏向タイプのものを用いてもよいこと
は云うまでもない。
として電磁偏向タイプのものを用いたが、これに
代えて静電偏向タイプのものを用いてもよいこと
は云うまでもない。
以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、イメージデイセクタ管の光電子放出効果によ
つて105にわたる広いダイナミツクレンジを有す
ると共に、パルス計数によつて雑音除去が容易と
なり、輝度の低い被計測体の輝度を計測できると
共に、蓄積方式を用いないため、任意の計測点の
み計測することができるから、計測時間の節約も
可能になる。
ば、イメージデイセクタ管の光電子放出効果によ
つて105にわたる広いダイナミツクレンジを有す
ると共に、パルス計数によつて雑音除去が容易と
なり、輝度の低い被計測体の輝度を計測できると
共に、蓄積方式を用いないため、任意の計測点の
み計測することができるから、計測時間の節約も
可能になる。
第１図は本発明の２次元輝度計測装置のブロツ
ク図、第２図は第１図に用いられているイメージ
デイセクタ管の断面構造図、第３図は第１図のパ
ルス計数装置のブロツク図、第４図は第１図の演
算装置のブロツク図、第５図は第１図に示した２
次元輝度計測装置の動作を説明するためのタイム
チヤート、第６図はイメージデイセクタ管の光電
面における計測点の例を示す図である。 １……標準光源又は２次元的拡がりをもつ被計
測体、２……光学レンズ、３……イメージデイセ
クタ管、４……パルス計数装置、５……演算装
置、６……データ多重化装置、６１，６２，６３
……データ多重化装置６の第１、第２、第３入力
端、７……表示装置、８……偏向位置信号発生装
置、８１，８２，８３……偏向位置信号発生装置
８の第１、第２、第３出力端、８８，８９……偏
向駆動回路、３１……光電面、３２……電極、３
３……アパーチヤ、３４，３５……偏向コイル、
３６……ダイノード、３７……集収電極、４１…
…入力ゲート回路、４２……プリアンプ、４３…
…メインアンプ、４４……デイスクリミネータ、
４５……波形整形回路、４６……計数回路、４
７，４８……制御端、５１……切換えスイツチ、
５２……メモリ、５３……除算回路。
ク図、第２図は第１図に用いられているイメージ
デイセクタ管の断面構造図、第３図は第１図のパ
ルス計数装置のブロツク図、第４図は第１図の演
算装置のブロツク図、第５図は第１図に示した２
次元輝度計測装置の動作を説明するためのタイム
チヤート、第６図はイメージデイセクタ管の光電
面における計測点の例を示す図である。 １……標準光源又は２次元的拡がりをもつ被計
測体、２……光学レンズ、３……イメージデイセ
クタ管、４……パルス計数装置、５……演算装
置、６……データ多重化装置、６１，６２，６３
……データ多重化装置６の第１、第２、第３入力
端、７……表示装置、８……偏向位置信号発生装
置、８１，８２，８３……偏向位置信号発生装置
８の第１、第２、第３出力端、８８，８９……偏
向駆動回路、３１……光電面、３２……電極、３
３……アパーチヤ、３４，３５……偏向コイル、
３６……ダイノード、３７……集収電極、４１…
…入力ゲート回路、４２……プリアンプ、４３…
…メインアンプ、４４……デイスクリミネータ、
４５……波形整形回路、４６……計数回路、４
７，４８……制御端、５１……切換えスイツチ、
５２……メモリ、５３……除算回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 標準光源および被計測体の像を投影するイメ
ージデイセクタ管と、イメージデイセクタ管の偏
向装置と、偏向装置に偏向位置信号を送出する偏
向位置信号発生装置と、イメージデイセクタ管の
出力パルスを計数する計数装置と、標準光源を投
影したときと被計測体を投影したときの計数装置
の各出力信号の比を演算して出力する演算装置
と、演算装置の出力信号と偏向位置信号発生装置
の送出する位置信号とを組合わせるデータ多重化
装置とを備えた２次元輝度計測装置。 ２ 前記偏向位置信号発生装置は、予め設定した
点の偏向位置信号を順次発生することを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の２次元輝度計測装
置。 ３ 前記偏向位置信号発生装置は、ランダムな偏
向位置信号を順次発生することを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の２次元輝度計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7476480A JPS57531A (en) | 1980-06-02 | 1980-06-02 | Two dimensional luminance measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7476480A JPS57531A (en) | 1980-06-02 | 1980-06-02 | Two dimensional luminance measuring device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57531A JPS57531A (en) | 1982-01-05 |
| JPS6129646B2 true JPS6129646B2 (ja) | 1986-07-08 |
Family
ID=13556667
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7476480A Granted JPS57531A (en) | 1980-06-02 | 1980-06-02 | Two dimensional luminance measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57531A (ja) |
-
1980
- 1980-06-02 JP JP7476480A patent/JPS57531A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57531A (en) | 1982-01-05 |
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