JPS6131522B2 - - Google Patents
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- JPS6131522B2 JPS6131522B2 JP53120024A JP12002478A JPS6131522B2 JP S6131522 B2 JPS6131522 B2 JP S6131522B2 JP 53120024 A JP53120024 A JP 53120024A JP 12002478 A JP12002478 A JP 12002478A JP S6131522 B2 JPS6131522 B2 JP S6131522B2
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- signal
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気記憶装置の読出出力から正しいデ
イジタルデータを再生するために利用する。本発
明は、信号波形が上下のピークとなるときに一方
のデータ論理値(例えば「1」)とする信号方式
の読取方式に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Field of Application] The present invention is utilized to reproduce correct digital data from the read output of a magnetic storage device. The present invention relates to a signal reading method in which one data logical value (for example, "1") is set when a signal waveform reaches an upper or lower peak.
本発明は、正負のピークを有する入力信号から
そのピーク位置に対応するデイジタルデータを読
取る読取方式において、
入力信号を時間微分し、この微分出力が零レベ
ルとなる位置を検出し、さらに上記微分出力を第
一の正負閾値(±V1)によりスライスし、このス
ライス出力を上記微分出力が零レベルになる毎に
リセツトされるリーク積分回路で積分し、この積
分出力が第二の閾値(V2)を越えているときに上
記微分出力の零レベルを読取出力とすることによ
り、
入力信号に「1」または「0」が連続する場合
にも誤りのない読取を行うことができるようにし
たものである。
The present invention is a reading method that reads digital data corresponding to the peak position from an input signal having positive and negative peaks, which differentiates the input signal with respect to time, detects the position where the differentiated output becomes zero level, and further differentiates the input signal from the differentiated output. is sliced by the first positive/negative threshold (±V 1 ), and this slice output is integrated by a leakage integration circuit that is reset each time the differential output reaches zero level, and this integral output is determined by the second threshold (V 2 ). ), by using the zero level of the differential output as the reading output, it is possible to perform error-free reading even when the input signal is a series of "1" or "0". It is.
磁気テープ装置あるいは磁気デイスク装置など
のデイジタル磁気記憶装置では、磁気ヘツドによ
り読取られる信号波形は第1図に示すようなアナ
ログ信号波形になる。この信号波形から所定のク
ロツク信号に同期して上下に交互に現れるそのピ
ークとなる位置を「1」、他を「0」としてデイ
ジタルデータを正しく再現することが必要であ
る。
In a digital magnetic storage device such as a magnetic tape device or a magnetic disk device, the signal waveform read by the magnetic head is an analog signal waveform as shown in FIG. It is necessary to correctly reproduce digital data by setting the peak position of this signal waveform, which appears alternately upward and downward in synchronization with a predetermined clock signal, as "1" and the others as "0".
従来の読取方式は、この入力信号を時間微分し
てその微分値が零となる点をピークとして検出す
ることが基本である。 The basic method of conventional reading is to time-differentiate this input signal and detect the point where the differential value becomes zero as a peak.
しかし、第1図Aに示すように記録密度が低く
「0」が連続する信号では図の矢印の位置でも微
分量が零となつて誤りが生じる。これを補正する
ために、一つのピークとその次のピークとの間で
この入力信号が零レベルをクロスしたことを検出
の条件として、その微分値が零になつた点を
「1」とする方法がある。この方法によると、第
1図Bに示すように記録密度が高く「1」が連続
する信号では、同B図に矢印で示す点でピークと
ピークの間にゼロクロスがないのでこれを見落と
して誤りとなる。
However, as shown in FIG. 1A, in the case of a signal with a low recording density and a series of "0"s, the differential amount becomes zero even at the position of the arrow in the figure, and an error occurs. To correct this, we set the detection condition to be that this input signal crosses the zero level between one peak and the next peak, and set the point where the differential value becomes zero as "1". There is a way. According to this method, as shown in Figure 1B, in a signal with a high recording density and a series of "1"s, there is no zero crossing between the peaks at the points indicated by arrows in Figure 1B, so this can be overlooked and an error can be made. becomes.
これを改善するために信号をスライスする方法
あるいは信号振幅の平均的レベルを監視する方法
などにより、所定値以上の振幅を伴うピークを判
別する方法が知られているが、入力信号の記録密
度の広いレンジに対して精度を高くするために
は、回路構成がかなり複雑になる欠点がある。 In order to improve this problem, there are known methods of slicing the signal or monitoring the average level of the signal amplitude to determine peaks with amplitudes greater than a predetermined value. In order to achieve high accuracy over a wide range, the circuit configuration has to be quite complex.
本発明はこれを改良するもので、簡単な回路構
成で、入力信号にかなり歪がある場合でも正しく
データを検出することができる読取方式を提供す
ることを目的とする。 The present invention is an improvement on this, and an object of the present invention is to provide a reading method that can correctly detect data even when the input signal is considerably distorted, with a simple circuit configuration.
本発明は、正負のピークを有する入力信号から
そのピーク位置に対応するデイジタルデータを読
取る読取方式において、
上記入力信号を時間微分する微分回路3と、こ
の微分回路の出力が零レベルとなる位置を検出す
る零レベル検出回路4と、上記微分回路の出力を
第一の正負閾値(±V1)によりスライスするスラ
イス回路6,7,8と、このスライス回路の出力
を上記微分回路の出力が零レベルになる毎にリセ
ツトされ、その放電時定数が充電時定数より大き
いリーク積分回路10と、このリーク積分回路の
出力が第二の閾値(V2)を越えていることを検出
する比較回路11と、この比較回路の出力および
上記零レベル検出回路の出力との論理積をとるア
ンド回路12とを備えたことを特徴とする。
The present invention provides a reading method for reading digital data corresponding to the peak position from an input signal having positive and negative peaks, which includes a differentiating circuit 3 that differentiates the input signal with respect to time, and a position where the output of this differentiating circuit reaches zero level. a zero level detection circuit 4 for detecting a zero level, slicing circuits 6, 7, 8 for slicing the output of the differentiating circuit using a first positive/negative threshold (±V 1 ); A leakage integration circuit 10 that is reset each time the voltage reaches the level, and whose discharge time constant is larger than the charging time constant, and a comparison circuit 11 that detects that the output of this leakage integration circuit exceeds a second threshold (V 2 ). and an AND circuit 12 which performs a logical product of the output of this comparison circuit and the output of the zero level detection circuit.
本発明の回路も入力信号を時間微分し、その微
分値が零レベルになる点をピークとして検出しデ
ータ(例えば「1」とすることを基本とする。し
かし、微分値が零になつてから次にこの微分値が
また零になるまでの入力信号のレベル差が所定以
上であることを保証するために、微分値が零にな
る毎にリセツトされる積分回路でこの微分値を積
分する。すなわちこの積分出力は微分値が零にな
つてから次に零になるまでの入力信号のレベル差
を示すことになる。そしてこの積分出力が所定の
値を越えたことを条件とする。
The circuit of the present invention also differentiates the input signal with respect to time, detects the point at which the differential value becomes zero level as a peak, and outputs data (for example, "1". However, after the differential value becomes zero, Next, in order to ensure that the level difference of the input signal is greater than a predetermined level until this differential value becomes zero again, this differential value is integrated by an integrating circuit that is reset each time the differential value becomes zero. That is, this integral output indicates the level difference of the input signal from when the differential value becomes zero to when it becomes zero again.The condition is that this integral output exceeds a predetermined value.
しかし、これだけでは入力信号に「0」が連続
するときの誤りを必ずしも救済できない。このた
め上記積分回路に入力する微分値を正負の閾値で
スライスして与えることとし、さらに上記積分回
路をリーク積分回路として不完全積分を行うよう
にして、入力信号に「0」が連続するときには、
積分値がリークにより下がりこのときの微分値零
をデータとしないように排除する。この動作の具
体例については次の実施例で詳しく説明する。 However, this alone cannot necessarily remedy the error when the input signal continues to have "0"s. For this reason, the differential value input to the above-mentioned integrating circuit is sliced using positive and negative thresholds, and the above-mentioned integrating circuit is also used as a leakage integrating circuit to perform incomplete integration. ,
The integral value decreases due to leakage, and the differential value of zero at this time is excluded so as not to be treated as data. A specific example of this operation will be explained in detail in the next embodiment.
次に本発明の実施例について図面を参照して説
明する。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
第2図は本発明の一実施例を示すブロツク構成
図である。第2図において図面符号1は磁気ヘツ
ド、2は増幅回路、3は微分回路、4は零レベル
検出回路、5はワンシヨツト回路、6,7は比較
回路、8はノア回路、9はワンシヨツト回路、1
0はリセツト付不完全積分回路、11は比較回
路、12はアンド回路である。 FIG. 2 is a block diagram showing one embodiment of the present invention. In FIG. 2, reference numeral 1 is a magnetic head, 2 is an amplifier circuit, 3 is a differential circuit, 4 is a zero level detection circuit, 5 is a one shot circuit, 6 and 7 are comparison circuits, 8 is a NOR circuit, 9 is a one shot circuit, 1
0 is an incomplete integration circuit with reset, 11 is a comparison circuit, and 12 is an AND circuit.
磁気ヘツド1の出力はこの回路の入力信号であ
り、これは増幅回路2を介して微分回路3に与え
られている。この出力は零レベル検出回路4、二
つの比較回路6および7の各入力に与えられる。
比較回路6および7の各比較入力には、それぞれ
正負のスライスレベルを与える電圧+V1および
−V1が供給されている。これら2個の比較回路
6および7の出力は、ノア回路8の入力に導か
れ、その出力は積分回路10の入力に与えられて
いる。 The output of the magnetic head 1 is an input signal to this circuit, which is applied to a differentiating circuit 3 via an amplifier circuit 2. This output is given to each input of a zero level detection circuit 4 and two comparison circuits 6 and 7.
The comparison inputs of the comparison circuits 6 and 7 are supplied with voltages +V 1 and -V 1 that provide positive and negative slice levels, respectively. The outputs of these two comparison circuits 6 and 7 are led to the input of a NOR circuit 8, and the output thereof is given to the input of an integration circuit 10.
一方、零レベル検出回路4の出力はワンシヨツ
ト回路5の入力に与えられ、この出力はもう一個
のワンシヨツト回路9およびアンド回路12の一
方の入力に導かれている。このワンシヨツト回路
9の出力は積分回路10のリセツト入力に結合さ
れている。この積分回路10の出力は比較回路1
1の比較入力に導かれている。この比較回路11
の比較入力には、比較基準を与える電圧V2が供
給されている。この出力はアンド回路12の一方
の入力に導かれている。 On the other hand, the output of the zero level detection circuit 4 is given to the input of a one-shot circuit 5, and this output is led to one input of another one-shot circuit 9 and an AND circuit 12. The output of this one-shot circuit 9 is coupled to the reset input of an integrating circuit 10. The output of this integrator circuit 10 is the comparator circuit 1
1 comparison input. This comparison circuit 11
The comparison input of is supplied with a voltage V 2 which provides a comparison reference. This output is led to one input of AND circuit 12.
第3図は上記リセツト付不完全積分回路10の
構成例を示す回路図である。図面符号13,14
はオープンコレクタ型のインバータ、15,17
は抵抗器、16はダイオード、18はコンデンサ
を示す。すなわちこの積分回路は、信号eを入力
とし、リセツト信号fでリセツトを繰り返しなが
ら、リーク型の積分を行う。その出力は反転出力
となる。 FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of the configuration of the incomplete integration circuit 10 with reset. Drawing code 13, 14
is an open collector type inverter, 15, 17
is a resistor, 16 is a diode, and 18 is a capacitor. That is, this integrating circuit receives the signal e as an input and performs leak type integration while repeating reset using the reset signal f. Its output becomes an inverted output.
このように構成された回路の動作を第4図に示
す波形タイムチヤートを用いて説明する。第4図
a〜iは第2図またら第3図に×印を付して示す
対応する符号の点の波形図である。 The operation of the circuit configured as described above will be explained using the waveform time chart shown in FIG. FIGS. 4a to 4i are waveform diagrams of points with corresponding symbols indicated by crosses in FIGS. 2 and 3. FIGS.
磁気ヘツド1より得られた入力信号aは増幅回
路2で適当な振幅に増幅され、微分回路3で時間
微分される。その波形は第4図bに示すものとな
り、これは零レベル検出回路4に供給される。零
レベル検出回路4の出力cの反転位置は、入力信
号aのピークの位置に対応することになり、この
反転位置にワンシヨツト回路5によつてピーク出
力dが作られる。さらにこのピーク出力dの後縁
でワンシヨツト回路9が動作し、積分回路10の
リセツト信号fが作られる。なお、両ワンシヨツ
ト回路回路5および6の出力パルス幅T1,T2は
最小データ間隔に対し十分小さく設定する。 The input signal a obtained from the magnetic head 1 is amplified to an appropriate amplitude by an amplifier circuit 2, and differentiated with respect to time by a differentiator circuit 3. The waveform becomes the one shown in FIG. 4b, and is supplied to the zero level detection circuit 4. The inversion position of the output c of the zero level detection circuit 4 corresponds to the peak position of the input signal a, and the one-shot circuit 5 produces a peak output d at this inversion position. Furthermore, the one-shot circuit 9 operates at the trailing edge of this peak output d, and a reset signal f for the integrating circuit 10 is generated. Note that the output pulse widths T 1 and T 2 of both one-shot circuits 5 and 6 are set sufficiently small with respect to the minimum data interval.
一方、微分回路3の出力bは比較回路6,7に
も与えられて、正負のスライスレベル±V1と比
較され、ノア回路8でその論理和がとられて出力
eを得る。これは微分出力bが±V1の間にある
か外にあるかを識別する信号となる。すなわち第
4図で信号eが図の下側(−1)のレベルのとき
出力bは±V1の間にあり、上側(0)のとき外
にある。 On the other hand, the output b of the differentiating circuit 3 is also given to the comparators 6 and 7, and compared with the positive and negative slice levels ±V1, and the logical sum is taken by the NOR circuit 8 to obtain the output e. This becomes a signal for identifying whether the differential output b is within ± V1 or outside. That is, in FIG. 4, when the signal e is at the lower level (-1) in the figure, the output b is between ±V1, and when it is at the upper level ( 0 ), it is outside.
リセツト付不完全積分回路10ではリセツト信
号fにより繰り返しリセツトされながら、この信
号eが積分される。その出力波形は第4図gに示
すように信号eとは正負が反転した波形となる。 In the incomplete integration circuit 10 with reset, this signal e is integrated while being repeatedly reset by the reset signal f. The output waveform is a waveform whose sign is inverted from that of the signal e, as shown in FIG. 4g.
第3図に示すようにこの積分回路10は、信号
eを入力としてリセツト信号fが現れるまで、
充電時定数:R1+R2/R1+R2C
放電時定数:R2C
で反転して不完全積分されることになる。なお上
記の関係から、
充電時定数<放電時定数
となる。 As shown in FIG. 3, this integrator circuit 10 inputs a signal e and inverts it with a charging time constant: R 1 +R 2 /R 1 +R 2 C and a discharging time constant: R 2 C until a reset signal f appears. It will be incompletely integrated. Note that from the above relationship, charging time constant < discharging time constant.
この積分出力gは比較回路11で電圧+V2と
比較されて比較出力hを得る。この比較出力hは
アンド回路12によりピーク出力dと一致がとら
れて読取データ出力iとなる。 This integrated output g is compared with the voltage +V 2 in a comparison circuit 11 to obtain a comparison output h. This comparison output h is matched with the peak output d by the AND circuit 12 and becomes the read data output i.
この比較出力hは入力信号aの一つのピークか
ら次のピークまでのレベル差を保証する信号であ
る。すなわち入力信号aに「1」が連続する高記
録密度の信号では、その微分波形bにひんぱんに
「0」が現われて積分回路10がひんぱんにリセ
ツトされる。この積分回路10の放電時定数は上
述のように充電時定数より大きいからリセツトが
ひんぱんに行われる場合には放電時定数は問題に
ならない。したがつて積分回路10の積分出力
は、入力信号aの微分値を逆に積分した値である
から、入力信号aの一つのピークから次のピーク
までのレベル差を表すことになる。したがつて、
積分回路10の充電時定数と比較回路11の比較
電圧V2を適当に設定することにより、入力信号
aの一つのピークから次のピークまでのレベル差
を保証することができる。 This comparison output h is a signal that guarantees a level difference from one peak to the next peak of the input signal a. In other words, in the case of a high recording density signal in which "1"s are continuous in the input signal a, "0"s frequently appear in the differential waveform b, and the integrating circuit 10 is frequently reset. Since the discharging time constant of the integrating circuit 10 is larger than the charging time constant as described above, the discharging time constant does not matter if reset is performed frequently. Therefore, since the integral output of the integrating circuit 10 is a value obtained by inversely integrating the differential value of the input signal a, it represents the level difference from one peak to the next peak of the input signal a. Therefore,
By appropriately setting the charging time constant of the integrating circuit 10 and the comparison voltage V 2 of the comparator circuit 11, it is possible to guarantee a level difference from one peak to the next peak of the input signal a.
一方、入力信号aに「0」が連続する低記録密
度の信号では、第1図Aまたは第4図aに矢印で
示すように、入力信号aが零レベルになつた点で
その微分出力も「0」になる。積分回路10は微
分出力が「0」になる毎にリセツトされるので、
ピークではない上記矢印で示す点でもリセツトさ
れる。したがつて入力信号の微分値をこのように
リセツト積分すると、その積分出力は入力信号の
一つのピークから零レベルまでのレベル差、およ
び零レベルから次のピークまでのレベル差を表す
ことになる。つまり、ピークの零レベルに対する
高さが保証されたことになる。 On the other hand, in the case of a low recording density signal in which the input signal a has a series of "0"s, the differential output of the input signal a reaches the zero level, as shown by the arrow in Figure 1A or Figure 4A. It becomes "0". Since the integrating circuit 10 is reset every time the differential output becomes "0",
It is also reset at the point indicated by the arrow above, which is not the peak. Therefore, when the differential value of the input signal is reset and integrated in this way, the integrated output will represent the level difference from one peak to the zero level of the input signal, and the level difference from the zero level to the next peak. . In other words, the height of the peak relative to the zero level is guaranteed.
しかしこのままでは、入力信号aに「0」が連
続して入力信号aが零レベルになつたときに発生
する微分値の零レベル(第4図dに示す矢印)が
データ「1」として有効になつてしまう。このた
めに積分回路10をリーク型とした。すなわち積
分回路10の放電時定数をある程度小さくしてお
くと、積分回路10は出力状態を保持することな
く、積分回路10の入力がなくなると緩やかにそ
の出力レベルが下がることになる。これは第4図
gの積分波形でその右上が欠けることにより表さ
れる。第4図gの矢印で示す点では、この積分回
路10の放電リークが長くつづき積分出力が閾値
V2を割り込んでしまうので、このときの微分値
「0」すなわち第4図dに示す矢印のパルスはデ
ータとはならない。 However, if things remain as they are, the zero level of the differential value (arrow shown in Figure 4 d) that occurs when input signal a continues to have "0" and input signal a reaches zero level will be valid as data "1". I get used to it. For this reason, the integrating circuit 10 is of a leak type. That is, if the discharge time constant of the integrating circuit 10 is made small to some extent, the integrating circuit 10 will not maintain its output state, and its output level will gradually decrease when the input to the integrating circuit 10 disappears. This is represented by the fact that the upper right corner of the integral waveform in FIG. 4g is missing. At the point indicated by the arrow in FIG.
Since the voltage falls below V 2 , the differential value "0" at this time, that is, the pulse indicated by the arrow in FIG. 4d, does not become data.
さらに、この積分回路10に入力する微分値に
ついては、その値が零レベルの近傍でその正負が
定まらない状態の部分を取り除き、微分値が正ま
たは負に大きく振れているときにかぎり有効にな
るようにした。すなわち第1図Aの矢印で示すよ
うに、入力信号に「0」が連続してその微分値が
零近傍にあるときには、積分回路10の入力を零
にして積分を行わないことにして、上述の放電リ
ークの効果により積分出力のレベルが確実に下が
るようにした。このようにしても、積分回路10
の出力が入力信号aの振幅を保証できる点につい
てはたいして問題にならない。すなわち、この微
分出力bが零レベル近傍にあるときに積分を行つ
ても行わなくとも、積分回路10の入力レベルは
小さいから、振幅レベルを保証するための積分出
力には大きい影響はない。 Furthermore, regarding the differential value input to this integrating circuit 10, the part where the value is near the zero level and its sign is not determined is removed, and the differential value becomes valid only when it swings significantly in the positive or negative direction. I did it like that. That is, as shown by the arrow in FIG. 1A, when the input signal has a series of "0"s and its differential value is near zero, the input to the integrating circuit 10 is set to zero and no integration is performed, and the above-mentioned procedure is performed. The integrated output level is ensured to decrease due to the effect of discharge leakage. Even in this way, the integrating circuit 10
It does not matter much that the output of can guarantee the amplitude of the input signal a. That is, whether integration is performed or not when the differential output b is near the zero level, since the input level of the integrating circuit 10 is small, there is no significant effect on the integral output for guaranteeing the amplitude level.
このために第4図bに示すように、微分出力b
が±V1の内側にあるときには、出力信号eをス
ライスし零にしてしまう。このように、積分回路
10をリーク型とし、しかもその入力微分値をス
ライスすることによつて、入力信号aに「0」が
連続するときにも、その微分値「0」を誤つてデ
ータ「1」とすることがなくなる。 For this purpose, as shown in FIG. 4b, the differential output b
When is inside ±V 1 , the output signal e is sliced to zero. In this way, by making the integrating circuit 10 a leak type and slicing its input differential value, even when the input signal a has a series of "0"s, the differential value "0" is erroneously converted into data "1" will no longer be used.
なお、本発明の方式はスライスレベル(±
V1)の設定および積分回路の時定数の設定に調整
を伴う要素がある。しかしこれは個々の信号のク
ロツク周期およびレベルに対応して設定すること
により、一つの装置で実用的な入力信号の起こり
得るあらゆるデータの組み合わせに対して、誤り
が全く発生しないように調節設定することが可能
である。またこの調節設定は一種類の方式につい
て固定的であり、一旦設計を行えば個別の装置で
調整を行う必要は全くない。 Note that the method of the present invention is based on the slice level (±
There are elements that require adjustment in the settings of V 1 ) and the time constant of the integrating circuit. However, by setting this according to the clock period and level of each individual signal, it is possible to adjust and set it so that no errors occur for all possible data combinations of practical input signals in one device. Is possible. Moreover, this adjustment setting is fixed for one type of system, and once designed, there is no need to make adjustments in individual devices.
以上説明したように本発明の読取方式では、入
力信号を微分した値を入力とし、入力信号の振幅
を保証するための積分回路をリーク型とし、その
入力をスライスする簡単な回路構成で、入力信号
に「1」または「0」が連続する場合でも、記録
密度の広いレンジで誤りのない読取を行うことが
できる。
As explained above, in the reading method of the present invention, the value obtained by differentiating the input signal is input, the integrating circuit for guaranteeing the amplitude of the input signal is a leak type, and the input signal is sliced. Even when a signal has a series of "1"s or "0"s, error-free reading can be performed over a wide range of recording densities.
第1図は磁気記憶装置での読取信号の波形を示
す図、第2図は本発明実施例のブロツク構成図、
第3図はリーク付不完全積分回路の一例を示す回
路図、第4図は上記実施例の動作説明用タイムチ
ヤート。
1……磁気ヘツド、2……増幅回路、3……微
分回路、4……零レベル検出回路、5,9……ワ
ンシヨツト回路、6,7,11……比較回路、8
……ノア回路、10……リーク付不完全積分回
路、12……アンド回路。
FIG. 1 is a diagram showing the waveform of a read signal in a magnetic storage device, FIG. 2 is a block configuration diagram of an embodiment of the present invention,
FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of an incomplete integration circuit with leakage, and FIG. 4 is a time chart for explaining the operation of the above embodiment. 1...Magnetic head, 2...Amplifying circuit, 3...Differentiating circuit, 4...Zero level detection circuit, 5, 9...One shot circuit, 6, 7, 11...Comparing circuit, 8
...NOR circuit, 10...Incomplete integration circuit with leak, 12...AND circuit.
Claims (1)
ク位置に対応するデイジタルデータを読取る読取
方式において、 上記入力信号を時間微分する微分回路3と、 この微分回路の出力が零レベルとなる位置を検
出する零レベル検出回路4と、 上記微分回路の出力を第一の正負閾値(±
V1)によりスライスするスライス回路6,7,8
と、 このスライス回路の出力を上記微分回路の出力
が零レベルになる毎にリセツトされ、その放電時
定数が充電時定数より大きいリーク積分回路10
と、 このリーク積分回路の出力が第二の閾値
(V2)を越えていることを検出する比較回路11
と、 この比較回路の出力および上記零レベル検出回
路の出力との論理積をとるアンド回路12と を備えたことを特徴とする磁気記憶装置。[Claims] 1. A reading method for reading digital data corresponding to the peak position of an input signal having positive and negative peaks, which includes a differentiating circuit 3 for time-differentiating the input signal, and an output of this differentiating circuit having a zero level. A zero level detection circuit 4 detects the position where
Slice circuits 6, 7, 8 that slice by V 1 )
The output of this slice circuit is reset every time the output of the differentiating circuit becomes zero level, and the leak integration circuit 10 has a discharging time constant larger than a charging time constant.
and a comparison circuit 11 that detects that the output of this leakage integration circuit exceeds the second threshold (V 2 ).
and an AND circuit 12 which performs a logical product of the output of the comparison circuit and the output of the zero level detection circuit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12002478A JPS5548820A (en) | 1978-09-29 | 1978-09-29 | Read-in system of magnetic memory unit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12002478A JPS5548820A (en) | 1978-09-29 | 1978-09-29 | Read-in system of magnetic memory unit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5548820A JPS5548820A (en) | 1980-04-08 |
| JPS6131522B2 true JPS6131522B2 (en) | 1986-07-21 |
Family
ID=14776013
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12002478A Granted JPS5548820A (en) | 1978-09-29 | 1978-09-29 | Read-in system of magnetic memory unit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5548820A (en) |
-
1978
- 1978-09-29 JP JP12002478A patent/JPS5548820A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5548820A (en) | 1980-04-08 |
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