JPS6137562B2 - - Google Patents
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- JPS6137562B2 JPS6137562B2 JP53030915A JP3091578A JPS6137562B2 JP S6137562 B2 JPS6137562 B2 JP S6137562B2 JP 53030915 A JP53030915 A JP 53030915A JP 3091578 A JP3091578 A JP 3091578A JP S6137562 B2 JPS6137562 B2 JP S6137562B2
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- Control Of Metal Rolling (AREA)
Description
本発明は電気光学測定方法並びに装置に関す
る。特に本発明は物体の寸法を固位位置で横方向
の寸法測定又は物体外周各位置で物体のプロフイ
ル測定を行う電気光学測定方法並びに装置に関す
る。本発明の好適な適用例は製鋼工場での棒材圧
延機を出る高温棒材の横方向寸法及び横方向プロ
フイルを定めるために使用する。管、丸以外の形
状の成形物体の寸法、プロフイルの測定にも使用
でき、鋼材以外にも使用できる。更に、本発明は
所要に応じて測定装置ヒストグラムを定め、プロ
ツトすることが可能である。 高温丸棒を圧延する製鋼工場において生産上圧
延棒材速度は1219m/min（4000ft/min）に達
し、直径は最大約7.62cm（３インチ）圧延温度は
約930℃（1700〓）が要求される。他の要求とし
て、生産された常温棒材寸法及び真円度は現在定
められている商用公差の1/2とする希望がある。
この要求を満足するためには、計算機制御圧延装
置を、指令データと実際測定寸法とを組合せて仕
様外の製品を最小にして生産性を最大にする圧延
機制御信号を発生するよう実現する必要がある。 圧延機制御計算機の計算に使用する作動データ
の例として、希望棒材直径即ち目標寸法、商用公
差の1/2の公差、棒材の品質即ち圧延棒材の炭素
成分がある。特に重要な測定データは、実際の棒
材直径即ち棒材寸法、実際の棒材横方向プロフイ
ル即ち棒材プロフイル、棒材寸法測定のヒストグ
ラムである。他の測定項目として、棒材温度があ
り、高温棒材収縮の修正に使用するパラメータで
あり、棒材測定にも圧延機の計算機制御にも必要
である。 圧延機制御計算機を圧延機速度、棒材寸法およ
び寸法公差の1/2に関する要求を満足するようプ
ログラムするためには、すべての測定は次の特性
を有する必要がある。棒材寸法測定は、圧延機を
出た棒材が長手方向に運動し横方向の軌道内を振
動している状態で行い、その測定数は約300Hz、
像分解能は0.0127mm（0.0005インチ）、絶対測定
精度は商用公差の1/4が必要であり、且つすべて
の測定は製鋼工場の厳しい環境の下で高い信頼性
を有する必要がある。棒材温度測定も同様な特性
を必要とする。測定結果のヒフトグラムも必要と
する。 棒材寸法を測定するための数種の電気光学測定
装置が市販されている。棒材寸法測定装置の初期
の型式は自己照射原理で作動し、高温棒材からの
チヨツプされた赤外線放射はレンズを通つて赤外
線検出器上に像を形成する。基本的縁部検出回路
を使用して棒材縁部に関して未修正検出パルスを
発生する。 棒材寸法測定に使用する近年の電気光学装置は
逆光照射原理で作動し、測定すべき物体の像は物
体の影としてレンズを通つて電子カメラ面に達す
る。この種測定装置の例では、走査レーザービー
ムが物体を照射し、レンズ装置は物体の影をフオ
トトランジスタに焦点を結ばせる。第２の既知の
測定装置は一定光度の固定光源が物体を照射し、
レンズ系が物体の影を２軸線単方向走査の電子走
査イメージオルシコン管に焦点を結ばせる。第３
の既知の装置はイメージオルシコン管に代えて自
己走査光ダイオード列を使用する。 上述の３種の逆光測定装置の光応答装置は影の
縁部間の物体寸法にほぼ相当する幅正カメラパル
スを発生する。このカメラパルスを処理する縁部
検出装置は通常の微分器又はゲート付き微分器を
有し、物体寸法に対してカメラパルス幅を精密に
定める。 別の型式の電気光学測定装置は上述の特性を組
合せて棒材横方向プロフイルを測定する。第１の
型式のプロフイル測定装置は２組の自己照射カメ
ラを棒材通過線に対して互いに直角として固定配
置する。この装置は90゜離れた棒材直径測定を行
うが棒材プロフイル測定ではない。他の型式の電
気光学棒材プロフイル測定装置は２台の逆光カメ
ラを互いに直角として走査装置に取付ける。これ
によつて棒材の外周走査中に得られた２方向の棒
材直径測定値と走査装置の位置測定値が多チヤン
ネル記録器に表示又は記録される。 上述の既知の電気光学棒材寸法、プロフイル測
定装置はある程度有効な測定値が得られる。しか
し既知の装置は現代の高速熱間圧延機用の棒材寸
法、プロフイルの測定用として不十分であり、前
述の各要件の一部を満足しない。 既知の測定装置の欠点は、第１に測定すべき物
体がカメラ視野の所定位置にある必要がある。第
２の所要のカメラ応答速度、像分解能がない。第
３に高速作動での精度が悪い。即ち高速作動間は
スイツチノイズ及び微分器ノイズが著しく大きく
なる。更に、周囲からの各種電気的ノイズが存在
し、高速度で信頼性高く正確な棒材測定が困難に
なる。第４に光学的電子的非直線性等の誤差原因
に対する誤差修正が困難又は不可能であり、測定
精度が低下する。第５に不安定であつてドリフト
を生ずる。第６に常温棒材直径及び各外周位置の
プロフイル情報を信頼性高く圧延機操作者又は圧
延機計算機に対してプロツト、表示する機能に欠
ける。第７に、棒材測定装置ヒストグラムが作成
できない。第８に棒材の高周波の横方向振動に基
く測定寸法の狂いを修正できない。 本発明の主目的は、新しい電気光学測定方法並
びに装置を提供する。 本発明の他の目的は、高い応答速度、高い測定
繰返数、高い精度を有し、且つ近代の高速熱間圧
延機の環境で高い安定性及び信頼性を有する、電
気光学測定方法並びに装置を提供することにあ
る。 本発明の別の目的は、物体がカメラ視野内の如
何なる位置にあつても、或は物体がその移動方向
に対し横方向に振動していてもその物体の寸法を
精密に測定し得る電気光学測定方法並びに装置を
提供することにある。 本発明の他の目的は、カメラ信号を処理してカ
メラ信号中の物体寸法パルスに含まれるノイズを
除去し、物体寸法パルスを正確に定めると共にカ
メラ視野内の物体位置を正確に定めることができ
る電気光学測定方法並びに装置を提供することに
ある。 本発明の別の目的は、カメラからの物体寸法信
号を光学的電子的非直線性等の誤差原因に対し修
正し得る電気光学測定方法並びに装置を提供する
ことにある。 本発明の他の目的は、物体の一方向又は直交す
る二方向の寸法、物体の外周位置のプロフイルを
プロツトし、表示、記録し得る電気光学測定方法
並びに装置を提供することにある。 本発明の別の目的は、物体のプロフイルをプロ
ツトし、更にこれを物体の基準公差上に重ねて表
示記録し得る電気光学測定方法並びに装置を提供
することにある。 本発明の他の目的は、測定装置のヒストグラム
をプロツトし、表示記録し得る電気光学測定方法
並びに装置を提供することにある。 本発明の別の目的は、計算機制御製造装置で使
用するのに好適な物体のプロフイル又は装置のヒ
ストグラムをプロツトし得る電気光学測定方法並
びに装置を提供することにある。 本発明による振動しながら移動する高温棒材の
一方向又は直交する二方向の寸法を固定位置で又
は多数の外周位置で測定する計算機化電気光学測
定装置は棒材熱間圧延機に使用して上記の目的を
有利に達成することができる。本発明では一個以
上の逆光電子カメラヘツドを使用し、二方向測定
の場合にはこれらカメラメツドを互に90゜の角度
で走査装置上に取付ける。各カメラヘツドにはカ
メラ自動制御（AGC）用回路及び各カメラに共
通の一軸往復走査用デジタル双方向掃引発生器を
含む電子装置を設ける。カメラ電子装置の別の電
子回路では自己相関器を有するパルス縁検出回路
で処理してノイズを除去する。更にカメラ電子装
置の別の回路にはデジタル棒材寸法信号及びカメ
ラ視野内における棒材位置信号を出力するアキユ
ムレータを含んでいる。 各カメラの棒材寸法信号及び棒材位置信号、棒
材温度等はオフライン又はオンラインで下記の機
能を実行するようプログラムされたデジタル計算
機で処理される。第１に、視野誤差、その他の光
学的及び電子的非直線性誤差、棒材温度等をデジ
タル的に補償して各棒材寸法信号を補正し、棒材
が視野のどこにあつても極めて精密な棒材直径測
定値を出力する。第２に、測定装置をオフライン
で較正し、オンラインで自動的に再較正する。第
３に、走査装置の駆動を手動的に又は自動的に制
御して走査中各カメラの補正された棒材直径測定
値をイレクリメントデジタル記憶する。第４に、
CRT及び印字端末と相互作用して、(a)走査範囲
内の任意の位置における各カメラの棒材直径測定
値を表示記録する、(b)使用する記憶棒材直径デー
タ及び操作データヘツダを表示記録し、また商用
公差及びその1/2の公差上に重ねて棒材プロフイ
ールを表示し目標からの偏差を表示する、(c)各測
定のヒストグラム及び測定偏差のヒストグラムを
表示記録する。計算機はプロフイール及びヒスト
グラムデータを要求されたときに圧延機制御装置
に送出する。 本発明を例示とした実施例並びに図面について
説明する。 第１に棒材寸法測定制御装置について説明す
る。 第１図は棒材寸法を測定制御するための計算機
化電気光学装置を示し、逆光カメラを高温鋼棒圧
延機に取付ける。測定装置は例えば棒材１０の直
径を測定し、ロールスタンド１１の出口側を過ぎ
た横位置に固着する。後述する通り、棒材直径信
号を供給された計算機は棒材１０の横方向寸法を
プロツトする。この後に棒材直径データは表示、
記録し、圧延機制御装置に転送し、制御装置はこ
のデータを使用してロールスタンド１１の横方向
間隔を規正し、棒材１０を目標寸法とする。 第１図に示す光源箱３０は電子カメラメツド３
１に対向し、棒材１０が光経路を通つた時に棒の
影の寸法はある横位置での棒直径に比例し、電子
カメラヘツド３１の像となる。逆光カメラヘツド
の標準構造は第４図によつて後述する。 光源箱３０は棒材１０に直角方向に、カメラ視
野の測定し得る最大寸法の棒材１０よりも大きな
直径の光を生ずる。例えば、カメラの視野を7.62
cm（３インチ）とした時に光源の直径は10.16cm
（４インチ）とする。更に、光源の波長と強さと
は電子カメラヘツド３１の感度特性に対応させ
る。標準光源は、後述する電子カメラヘツド用と
して直流点火螢光灯の青色光源が好適である。 棒材１０の影及び棒側縁外の照射光は逆光光源
箱３０から生じ、電子カメラヘツド３１にカメラ
信号を生じさせる。カメラ信号は純粋のカメラパ
ルスとノイズとを含み、導線３４を経て第１のカ
メラ素子装置３５に供給される。第４図について
後述する通り、カメラ信号を処理してノイズを除
去し、デジタル棒材寸法及び棒材位置信号を発生
し、ケーブル３６を経て計算機２７に供給され
る。測定エネーブル信号及び他の信号は計算機２
７からケーブル３７を経てカメラ電子装置３５に
供給する。 本発明の電子光学棒材測定装置の計算機２７に
はつまみセレクタ４２から棒材目標デジタル信号
もケーブル４３を経て供給される。目標寸法信号
は例えば4.445cm（1.7500インチ）とし、後述す
る通り棒材寸法偏差の決定等の目的に使用する。
更に計算機２７はつまみセレクタ４４からケーブ
ル４５を経て棒材組成デジタル信号を受ける。組
成信号は棒材１０の炭素成分値を示し、例えば
0.230％とし、高温棒材１０の収縮寸法の補正等
の目的に使用し、後に詳述する。所要の指令デー
タ信号、例えば日付、時間、棒材の寸法公差等を
データソース４６からケーブル４７を経て計算機
２７に供給する。上述の目標寸法信号、組成信号
等のデータ信号は測定装置使用者の選択によつて
棒材１０の圧延を直接制御する制御装置によつて
供給することもできる。 圧延される高温棒材の直径測定値の温度補正を
行うために、ランド社の光学高温計ヘツド４８を
走査装置１２に近接させ、高温棒材温度を測定す
る。光学高温計ヘツド４８は高レスポンス高温信
号を発生しケーブル４９を経て例えばランド社の
高温計電子装置に供給する。測定温度信号は高温
計電子装置５０のスケール合せ直線化回路によつ
て修正され、修正温度信号（例えば1670〓（910
℃）がケーブル５１を経てデジタルインジケータ
５２に供給される。更に、修正温度信号はケーブ
ル５３を経て計算機２７に供給し棒材１０の収縮
の補正に使用する。 ランド社の光学高温計ヘツド４８と高温計電子
装置５０を使用すれば計算機２７、インジケータ
５２に修正温度信号を所要精度と応答速度で供給
するための調整の問題点を省略できる。調整作業
を行う場合には、この高温計装置に代えて米国特
許4015476号、走査高温計装置に記載された光学
視野走査高温計装置を使用することもできる。光
学視野走査高温度計装置は急速に往復する鏡を高
温度計ヘツドに取付け、高温棒材の通過する視野
を視準する。高温棒材はスリツトを通る像とな
り、高応答赤外線検出器を高温計ヘツドに取付け
て検出する。赤外線検出器の信号はピーク検出器
及び棒材１０の温度の非線形信号を測定記憶する
サンプル及び保持回路に供給される。記憶された
非線形信号はケーブル３５を経て計算機２７内で
目盛付け及び線形化を行う。記憶された温度信号
は往復運動する鏡の各走査毎に例えば20ｍｓ毎に
点線のケーブル５４を経て供給されるビジ−レデ
イ−フラツグパルスによつて更新される。夫々の
作業に適応させるために、視野走査周波数及び視
野幅を調整する手段を設ける。 本発明による棒材測定装置の他の特長は自動再
較正装置である。後述する通り、圧延機１１を去
る高温棒材１０の後端を検出する度に再較正が行
はれる。このために、高温棒材検出器５５は高温
棒材の存在と不在とを検出し、対応する信号を導
線５６を経て高温金属検出電子装置５７に供給す
る。存在不在信号はケーブル５８を径て計算機２
７に供給され自動再較正装置の始動停止を行う。 すべてのカメラ信号、目標寸法信号、組成信
号、データ信号、温度信号、棒材存在不在信号は
夫々のケーブル３６，４３，４５，４７，５３，
５８を経て計算機２７に供給され、計算機２７は
これら信号を後述する一群の計算機オフライン、
オンラインプログラムの制御の下で処理して種々
の機能を行う。この機能の一つは、棒材直径デー
タ、商用公差基準に比較した棒材偏差データを計
算機２７からケーブル５９を経てCRT（表示装
置）端末６０に供給すること及びケーブル６１を
介して端末６０の標準キーボードと計算機２７と
の間の相互作用を可能にすることである。 計算機２７の他の機能は計算機２７からケーブ
ル６２を経て棒材直径データと作動ヘツダーデー
タとを印字端末６３に供給すること及びケーブル
６４を介して端子６３の標準キーボードと計算機
２７との相互作用を可能にすることにある。印字
端末６３はデータログ等の印刷６５を行う。他の
計算機２７の機能は棒材直径データと測定装置ヒ
ストグラムとをケーブル６６を経て制御装置６７
に供給する。この作動はケーブル６８を経て計算
機にフイードバツクされる制御装置の要求信号に
応答して行はれる。 第２図には棒材１０の横断面を示す。点線の円
６９，７０は目標寸法直径に対する標準公差の最
大最小値である。棒材の目標寸法を4.45cm
（1.7500インチ）とした場合を示す。第２図につ
いては更に後に述べる。 CRT端子６０の表示は計算機の印刷６５とほ
ぼ同じである。従つてCRT端子６０の表示する
棒材直径情報は測定装置作業者及びその圧延機の
作業者にとつて著しく有効である。 電子カメラヘツドについて説明する。 第１図の電気光学棒材測定装置に使用する逆光
電子カメラヘツド３１を第４図に示し、光源箱３
０から棒材１０に対して反対側の光軸上に配置す
る。この配置によつてカメラ視野８０全面を照射
し、影８１は高温棒材上下縁８２，８３間の寸法
に比例して変化する。高温棒材１０の図は一見静
止しているようであるが圧延速度1219m/min
（4000ft/min）で通過する棒材は軌跡８４内を振
動する。このため、棒材の影８４は垂直方向に直
径に比例して変化するだけでなく、水平垂直方向
に移動し、移動範囲は直径約7.62cm（３インチ）
の円内となる。このため、固定棒材の場合よりは
大きな視野を必要とし、測定精度の問題が大きく
なる。 棒材の影８１は垂直方向に変化し、位置は水平
垂直方向共に変化するため、カメラヘツド３１に
はテレセントリツクレンズ系８５を使用して平行
光線のみを通し、焦点面は棒材軌跡８４の最も近
い水平線から最も遠い水平緑までに延長するよう
に定める。このために使用したレンズは７素子レ
ンズ系８６であり、10.16cm（４インチ）の視野
８０の中央に7.62cm（３インチ）直径の棒材軌跡
８４が入るように定める。レンズ系８６は像寸法
縮小率１：２であり、テレセントリツクレンズス
トツプ８７は狭い水平光学開口８８を有し、開口
８８内を影８１が通る。棒の影８１を光学フイル
ター８９を通し、光源３０からの青色光のみを通
過させ、視野内に異なる波長の他の光源からの光
が入つたことの悪影響を防ぐ。 それ故、テレセントリツクレンズ系８５は水平
光源による棒材の影８１を生じ、垂直方向には棒
材縁部８２，８３の位置の変化に従つて変化し、
棒材１０の横方向の移動に際しても鋭い焦点を結
ぶ。影８１は光軸に沿つて同じ寸法であるが光軸
から垂直方向に離れるに従つて非線形関数に従つ
て大となる。このことは、電子、コイル、レンズ
の非線形の組合せによつて生じ、視野誤差と称
し、後述する通り計算機２７によつて修正され
る。 テレセントリツクレンズ系８５によつて伝達さ
れた棒材の影８１は像応答装置９０上に投射され
る。像応答装置９０は300Hzで走査され、分解能
は1/10000であり、青色光に対して高い感度を有
する。装置９０は解像（ID）管とし、光電陰極
電極９１を有し、中央の像変換部に棒材の影８１
を受ける。光電陰極電極９１はID管９０のドリ
フト部の光透過面の背面に設ける。電極９１の放
射する光電子は外部装置によつて集中されて電子
開口９２を通り、ID管９０の光電子増倍部
（PM）に入る。装置９０の例としてITT社の高分
解能解像管No.F4052RP型がある。 電子カメラヘツド３１には解像管９０の円筒形
本体を囲んで円筒形の偏向及び焦点コイル装置９
３を有する。コイル装置９３には夫々Ｙ軸、Ｘ軸
偏向コイルと焦点コイルとを有し、個別に外部電
源で附勢する。標準のミユーメタルシールドがコ
イル装置９３の外側筒壁を覆い、半径方向磁界の
有効なシールドを行う。角像管用のコイル装置と
して、ウアシユバーン・ラボラトリー社のNo.
YF2308−CC3c型がある。 コイル装置９３の標準ミユーメタルシールドが
半径方向軸方向の磁界に対する十分なシールドと
ならないことがある。例えば解像管９０が高感度
レベルで作動し、ケージ附近で強い磁界を生ずる
電気装置が動く時は解像管９０の出力は変化す
る。この条件が生じた時は、標準ミユーメタルシ
ールドを補強して軸線方向磁界の減衰を良くする
必要を生ずる。このためには、標準ミユーメタル
シールドをレンズ系８５に向けて軸線方向に延長
し、フイルター８９の端部を閉鎖し、棒材の影８
１の像のみが解像管９０の光電陰極９１に入るよ
うにする。延長したシールドを囲む第２のミユー
メタルシールドによつて更に磁界減衰を行うこと
もできる。第１のシールドは標準のままとし、第
２、第３の円筒形ミユーメタルシールドを軸線方
向に延長して第１のシールドを囲むこともでき
る。 第４図に示す解像管のドリフト等の変化その他
の電子的非線形を較正する装置を設ける。ドリフ
ト及び測定状態の変化を後述する通り、オンライ
ン較正チエツクにより識別し、較正した棒材信号
を修正する。この較正チエツクのために、解像管
９０に第５図に示すマスク付き光電陰極９１を有
する型式とする。 第５図に示すマスク付き光電陰極９１に像変換
部に接してパターンとした像非変換部を有する。
即ち、通常の光電陰極の光電応答材料を像透過ガ
ラス面９６上に精密マスク法によつて選択的に被
着して較正基準パターンとした較正マスク９４，
９５を形成する。図示の例では較正マスク９４は
光電陰極右側中央に１個の6.35mm（0.250イン
チ）幅のマスクである。較正マスク９４は右側マ
スクと称し、後述するRTMASK計算機プログラ
ムで棒材測定装置較正ドリフトのオンラインチエ
ツク用とする。較正マスク９５は５本の2.54mm
（0.100インチ）幅のマスクであり、相互間隔は
2.54mm（0.100インチ）とし、光電陰極９１の左
側とする。較正マスク９５は左側マスクと称し、
後述するLFTMSK計算機ブロツクにおいて棒材
測定装置の光学及び電子非線形の変動のオンライ
ンチエツクを行う。第６図は第５図の右側マスク
９４の拡大断面図であり、右側マスク９４のボイ
ドが解像管９０のガラス面９６に延長することを
示す。 棒材測定装置作動の全期間を通じて、後述する
通り単軸線双方向掃引信号をＹ軸偏向コイルに供
給し、一定電流を焦点コイルに供給する。通常の
棒材測定作動の下で、Ｘ軸偏向コイルには電流を
供給しない。これによつて、Ｙ軸走査は“Ｃ”走
査即ち第５図に示す光電陰極９１の中央の像変換
部の走査を行う。検出器５５がカメラ視野に棒材
１０がない信号を生じた時に、計算機２７はＸ軸
偏向コイルに正又は負のバイアス電流を供給して
右側又は左側較正マスク９４，９５を選択する。
このＸ軸バイアスは光電陰極９１面のＹ軸走査を
右又は左に動かし、第５図に示す“Ｃ”走査の両
側の“Ｒ”走査、“Ｌ”走査となる。 Ｘ軸バイアスの効果は、解像管９０の電子開口
９２上に右又は左較正マスク９４，９５を動かし
たことになる。Ｙ軸走査電圧をＹ軸偏向コイルに
供給すれば右又は左較正マスクの像は、“Ｃ”走
査の場合の棒材の影８１と同様に電子開口９２を
横切つて上下に動く。 計算機２７が較正マスク９４又は９５を選択し
た時に導線３４上に生ずるカメラパルスは、この
マスクと対応する寸法及び位置を有する棒材の影
８１が光電陰極上に結像された場合と同じパルス
幅を有することになる。 カメラ電子装置について説明する。 第１図の電気光学棒材寸法測定装置に使用する
カメラ電子装置は第４図にカメラ電子装置３５と
して示す。カメラ電子装置の詳細を第４図、第７
〜１３図に示す。図示の電子機器は通常のソリツ
ドステートデバイスであり、TTL（トランジス
タ・トランジスタ論理）論理素子を含みこれらは
論理記号で示してある。 第４図に示す双方向掃引発電機９７を第７図に
示し、第８図はタイミングダイアグラムである。
掃引発電機９７の12MHzクリスタル発振器１２
４は一連の基本矩形波クロツクパルス８Ａを棒材
測定装置の各部に供給する。処理された棒材パル
スの実際の測定以外にも、すべてのデジタル作動
をクロツクパルス８Ａ、双方向掃引信号８Ｅ、掃
引リセツトパルス８Ｄによつて同期させる。パル
ス８Ｅ，８Ｄは掃引回路内でほぼ300Hzで発生す
る。クロツクパルス８Ａ、掃引信号８Ｅは各掃引
サイクルにおいて掃引リセツトパルス８Ｄによつ
て同期される。このため、クロツクパルス８Ａの
所要のサブマルチブルを使用して掃引信号８Ｅを
分割して所要目的に使用できる。クロツクパルス
８Ａを実際の測定に使用し、他の棒材寸法制御装
置用としてはクロツクパルス８Ａを双方向掃引信
号８Ｅの周波数に分割して使用する。クロツクパ
ルス８Ａ及び双方向掃引信号８Ｅの周波数値自体
は、重要ではない。これは測定装置が標準寸法の
棒材を各カメラの視野に置いて較正されるためで
ある。しかし、掃引の安定性と掃引の直線性は、
測定装置の精度に直接影響するので重要である。 第４図に示すマスタークロツク９８は一連の
12MHzクロツクパルス８Ａと300Hzの掃引リセツ
トパルス８Ｄを双方向掃引発電機９７から受ける
マスタークロツク９８はバツフアー、デジタルカ
ウンター、割算器、論諭回路を有し、カメラ電子
装置３５全部に使用する同期パルス全部を供給し
てタイミング及び測定目的に使用する。このパル
スとして、緩衝した12MHzクロツクパルス８
Ａ、緩衝した300Hz掃引リセツトパルス８Ｄを含
む。他のパルスとして300Hz短寿命高速ストロボ
パルス８Ｈ及びパルス８Ｈと同様であるが寿命の
長いデータ準備パルスがある。このデータ準備パ
ルスは導線９９に供給され、他のパルスは第４図
に示す通り他の回路に供給される。 窓発振器１００はマスタークロツク９８から
12MHzクロツクパルス８Ａを受信し、ゲート及
び論理回路によつて第８図のタイミング図に示す
通り各双方向掃引サイクルの1/2毎に窓パルス８
Ｆを発生する。反転窓パルス８も発生する。窓
パルス８Ｆ，８は後述する他の回路に供給す
る。窓パルス８Ｆ，８の幅及びタイミングは、
計算機２７から導線１０１を経て供給される制御
パルスによつて定まる。簡単に述べれば、窓パル
ス８Ｆ，８の幅は掃引信号８Ｅが光電陰極９１
のみを掃引するに必要な時間に関し、この時間は
全300Hz掃引サイクルの上又は下半部の大部分で
ある。例えば、カメラ視野を7.62cm（３インチ）
とし、レンズを10.16cm（４インチ）とすれば
7.62cm（３インチ）の視野が光電陰極９１の全面
を覆うようにする。光電電極９１を超える走査が
掃引サイクル８Ｆの各上下半部で生ずる。この過
走査を各掃引サイクル８Ｅの各上下半部の始と終
との２個の時間間隔を等分する。かくして、窓パ
ルス８Ｆの持続時間（約75％）と、過走査（約25
％）との合計が双方向掃引サイクル８Ｅの各上下
半部の持続時間となる。他の実施例として、導線
１０１を通る計算機２７の制御信号に代えて、図
示しない選択ゲート回路によつて窓パルス幅を手
動設定することができる。 後述する計算機プログラムRTMASK、
LFTMSK、GAGRCL、CALIBRにおいて、窓発
振器１００を導線１０１を経てプログラムし、窓
パルス８Ｆ，８の定常寸法とタイミングとを変
更する。RTMASK、GAGRLCプログラムにおい
ては、窓パルスの寸法とタイミングとは第５図の
右側較正マスク９４の寸法と位置に合せて設定す
る。LFTMSKプログラムにおいては夫々の左側
較正マスク９５の寸法と位置に相当する寸法とタ
イミングとした５個の窓パルスを発生し、選択的
に全部の左側較正マスク９５をカバーする。
CALIBRプロケラムにおいては、窓パルスの寸法
とタイミングとは右側及び左側較正マスク９４，
９５の寸法と位置に対して選択的に設定する。サ
ブルーチンGAGEINプログラムにおいて定常の窓
パルス８Ｆ，８の寸法を後述する通りに設定す
る。 第４図に示す通り、双方向掃引信号８Ｅは掃引
発電機９７からＹ軸コイル偏向励振器１０２を経
てコイル装置９３のＹ軸偏向コイルに供給され
る。焦点コイル電源１０３からの一定電流は焦点
コイルに供給される。焦点電流の値を調整して、
光電陰極９１上の各点から放射されたすべての電
子を電子開口９２の面の一点に焦中させる。 Ｘ軸コイル励振１０４はコイル装置９３のＸ軸
偏向コイルに接続する。通常の棒材寸法測定制御
作動間はＸ軸コイルには電流を供給しない。それ
故、Ｙ軸上の垂直走査は第５図に示す通り、光電
陰極９１の像伝達部の中央の“Ｃ”走査となる。
計算機２７の後述するRTMASK、LFTMSKプロ
グラムにおいて、計算機２７から制御導線１０
５，１０６を経てＸコイル励振器１０４に供給さ
れる指令信号によつて励振器１０４は正又は負の
バイアスをＸ軸コイルに供給する。Ｙ軸の垂直走
査線は右又は左に移動して右側マスク９４又は左
側マスク９５上の“Ｒ”走査又は“Ｌ”走査とな
る。計算機２７の指令でなく、手動で正又は負の
バイアス電流を供給することもできる。 上述した通り、解像管９０の走査はコイル装置
９３によつてＹ軸の単一走査又は垂直双方走査を
所要に応じて行い、帰線消去のない上下掃引とし
て連続的に走査する。通常の棒材測定制御作動間
はＸ軸掃引は行はず、棒材の影８１を測定しない
時に装置較正のために正又は負のバイアスを供給
する。 棒材の影８１がカメラ視野を走査される時に、
棒材の影８１に入つた時に解像管９０の出力電流
は急激に低下し、影８１を過ぎた時に急激に増加
する。この電流変化は圧延機からの電気的ノイズ
と共に電圧に変換され、第４図に示さない前置増
幅器を経て増幅され、カメラヘツド３１からの生
のカメラ信号出力として導線３４に供給される。
この生のカメラ信号は未修正棒材パルスとノイズ
とから成る。 カメラヘツド３１に組合せた解像管９０を作動
する自己平衡測定ループ１０７にはカメラパルス
プロセサ１０８、導線１１０を経て可変制御電圧
を生ずる光電子増倍（PM）AGC回路１０９、解
像管９０のPM部用の電圧制御高圧電源１１１を
有する。別の安定ドリフト部高圧電源１１２がド
リフト部に電圧を供給する。 カメラパルスプロセサ１０８を第９，１０図に
示し、第１１図はプロセサのタイミングパルスを
示す。カメラパルスプロセサについては後述する
が簡単に説明すれば緩衝回路、微分器、レベル検
出器、ゼロ交叉検出器、自己相関器を有し、生の
カメラ信号及び微分器のノイズを除く。プロセサ
の論理回路内で信号を反転窓パルス８と組合せ
て、正しいタイミングで発生する有効振幅の棒材
パルスのみを測定用に出力する。窓が開いていな
い時は棒材パルスは通過しない。カメラパルスプ
ロセサは緩衝カメラ信号１１Ａ及び内部フリツプ
フロツプからの精密矩形波棒材パルス１１Ｐ，１
１Ｐを発生する。棒材パルス幅は棒の影８１に比
例して変化し、棒材側縁８２，８３間の寸法に比
例する。 光電子増倍（PM）AGC回路１０９は第１２図
に示し、後に詳述するが、緩衝カメラ信号１１Ａ
を受け、比較器、スイツチ付き積分器、増幅器を
有し、導線１１０にスイツチした可変制御電圧を
供給する。この制御電圧はPM部高圧電源１１１
に供給されて解像管９０の利得を変化させる。こ
の比較器は基準利得レベルを定め、内部論理回路
は窓パルス８Ｆと反転棒材パルス１１とを組合
せてAGCプランキングパルス８Ｇを発生する。
このAGCプランキングパルスはカメラ信号をサ
ンプリングする時間間隔を定める。 自己平衡測定ループ１０７の作動を説明する。
測定装置内に棒材１０のない時は光源３０からの
光が光電陰極９１上に照射する。これによつて解
像管９０のPM部に電流を生じ、導線３４に流れ
る。この電流は光源３０からの光の強さに比例す
る。解像管９０のPM部の利得は回路１０９の生
ずるAGC制御電圧の有効レベルよつて最初は高
レベルに調整される。光の強さが減少し、又は解
像管９０が老化すればAGC回路１０９はこの変
化を補償し、電源１１１からのPM部高電圧の値
を調整して管９０のPM部の利得を変化させ、カ
メラ信号を一定振幅に保つ。 棒材１０が光源３０の光の経路内にあるときに
もAGC回路１０９は解像管９０の一定出力振幅
を保つ作動を行う。それ故自己平衡測定ループ１
０７は解像管９０の作動を高感度レベルに保ち、
同時に信号ノイズ比を高い値に保ち、生のカメラ
パルスの有効な処理を可能にする。 第４図に示す通り、精密棒材パルス１１Ｐ、ク
ロツクパルス８Ａ、クロツクリセツトパルス８
Ｄ、急速ストロボパルス８Ｈが表示タイミング回
路１１３に供給される。内部論理回路は双方向掃
引サイクル間に生ずる２個の棒材パルス１１Ｐの
接続時間の間クロツクパルス８Ａを計数し２で割
る。この計数を同期するクロツクリセツトパルス
８Ｄは各双方向掃引信号８Ｅの終りに生ずる。論
理回路は急速ストロボパルス８Ｈによつて応答し
て二進棒材寸法信号を、導線１１４に表示用に出
力する。表示のちらつきを防ぐために、二進棒材
寸法信号は所定数の、例えば、４、32、512掃引
数について平均値とする。 二進棒材寸法信号は導線１１４を経てデジタル
表示器１１５に供給される。表示器１１５に内蔵
するカウンターデコーダーデイスプレーモジユー
ルはカメラ視野に入つた棒材１０の未修正棒材寸
法の十進値を表示する。未修正寸法とは、光学電
子非線形、棒材温度及び組成に基く修正を施す前
の棒材寸法の意味である。 未修正棒材寸法信号を受けた計算機２７は修正
を行つて修正二進棒材寸法信号を導線１１６を経
て修正寸法表示器１１７に供給する。この表示器
１１７も表示器１１５と同じ構造である。デジタ
ル表示器１１５，１１７はクロツクリセツトパル
ス８Ｄ、急速ストロボパルス８Ｈの制御によつて
512掃引数毎に同期更新した寸法を可視表示す
る。両表示器１１５，１１７の表示寸法差は測定
装置操作者及び圧延機操作者に対して、(a)測定装
置の修正機能は正しく作動すること、及び(b)圧延
機は目標寸法の製品を圧延していることを知らせ
る。 棒材パルス１１Ｐの計算機による修正は、棒材
寸法を正確に定めるだけでなく、カメラヘツド３
１の光軸に対するカメラ視野内の棒材中心位置に
関して修正を行う。このために、棒材パルス１１
Ｐ、クロツクパルス８Ａ、クロツクリセツトパル
ス８Ｄ、急速ストロボパルス８Ｈを棒材寸法及び
位置アキユムレータ１１８に供給する。アキユム
レータ１１８を第１３図に示しパルスのタイミン
グは第８図に示し、後に詳述する。２組の計数ラ
ツチ回路は共通制御ゲートによつて制御され、導
管１１９に二進の棒材出力信号を供給し、導線１
２０に二進の棒材中央線位置出力信号を供給す
る。二進棒材寸法信号は上述の表示タイミング回
路１１３に生ずる未修正棒材寸法信号と同様であ
る。二進棒材位置信号に基づいてカメラ視野の1/
２５６の精度で棒材寸法信号の誤差を修正すること
ができる。 計算機２７及び装置各部間のデータの移送は計
算機データ移送論理回路１２１によつて行う。論
理回路１２１は導線１２２を経て指令信号を受
け、計算機２７がデータ移送可能であることを知
る。指令信号１２２は導線９９上のマスタークロ
ツク９８の生ずるデータレデイパルスと組合され
る。組合せによつて、論理回路１２１は送り要求
信号を導線１２３上に生じ、計算機２７と測定装
置のタイミングの同期を取る。 双方向掃引発電機について説明する。 第７図は双方向掃引発電機９７のブロツク線図
を示し、第８図にタイミング線図を示す。7.62cm
（３インチ）直径の視野で一般公差の1/4の装置精
度で棒材寸法測定を行うためには、解像管９０の
Ｙ軸上の双方向掃引は精度が高く反覆可能である
ことを必要とする。通常のアナログ掃引回路はこ
の要求レベルに達し維持することは困難である。
装置精度の低下を許容する場合にはアナログ掃引
回路も使用可能となる。しかし、本発明測定装置
の高精度を得るためには、Ｙ軸の双方向掃引のた
めに、時間ベースとしてクリスタル発振器を使用
したデジタル装置、デジタル計数器、実際の双方
向掃引波形８Ｅを生ずる14ビツトデジタルアナロ
グ変換器を使用する。デジタル装置によつて後述
する通り掃引波形８Ｅおを変形する。 時間ベースを生ずるための高安定12MHzクリ
スタルクロツク発振器１２４は矩形波出力を有す
る。緩衝器１２５は時間ベース１２４の掃引作動
間の不均等負荷を防ぎ、一連のクロツクパルス８
Ａを微分ライン励振器１２６に供給する。励振器
１２６の出力はクロツクパルス８Ａとしてカメラ
電子装置３５のマスタークロツク９８に供給す
る。緩衝器１２５の出力はクロツクパルス８Ａを
デジタル分周器１２７に供給し、分周器１２７の
計数論理回路は波形８Ｂ，８Ｃを生ずる。波形８
Ｂはアツプダウンカウンタ１２８即ち14ビツト二
進反転カウンタの入力となる。波形８Ｂは基本ク
ロツク周波数の5/12、即ち5MHzである。波形８
Ｃはタイミングパルスであり、カウンタ反転論理
回路１２９に供給され、12クロツクサイクル間に
２回生ずる。波形８Ｂには12クロツクサイクル間
に５パルス位置を使用し、波形８Ｃは２パルス位
置を使用する。それ故、双方向掃引期間の12クロ
ツクサイクルにおいて未使用の５位置が残る。 アツプダウンカウンタ１２８が全部１の全カウ
ントに達したことをカウンタ反転論理回路１２９
が感知した時に、回路１２９はカウントダウン可
能信号をカウンタ１２８に通す。カウントダウン
のタイミングは全カウントに達した後の第１のタ
イミングパルス８Ｃに生ずる。カウンタ１２８が
カウントダウン可能信号を感知した時は次のクロ
ツクパルス８Ｂでカウントダウンを開始する。論
理回路１２９がカウンタ１２８の全部０を感知し
た時は、タイミングパルス８Ｃが次に生じた時に
カウントアツプ可能信号を生ずる。次のクロツク
パルス８Ｂでカウンタ１２８はカウントアツプを
開始する。 アツプダウンカウンタ１２８は14ビツト二進出
力を生じ、導線１３０を経て14ビツト二進DA変
換器１３１に供給する。DA変換器１３１はカウ
ンタ１２８に応答して著しく直線のアナログ双方
向掃引信号８Ｅを生ずる。この信号は掃引回路緩
衝器１３２で緩衝されてDA変換器の過負荷を防
ぎ、掃引信号８Ｅとしてカメラ電子装置３５のＹ
コイル励振器１０２に供給される。 アツプダウンカウンタ１２８が最終のダウンビ
ツトに達した時はリセツトパルス８Ｄを生じて論
理回路１２９、DA変換器１３１をリセツトす
る。微分ライン励振器１３３はリセツト信号をカ
メラ電子装置のマスタークロツク９８に供給す
る。 前述した通り、12クロツクサイクル間に５個の
未使用パルス位置がある。この位置を使用して第
７図に点線で示す通り、デジタル掛算器１３４を
デジタル割算器１２７とアツプダウンカウンタ１
２８との間に直列に接続して直線性の高い掃引信
号８Ｅに正確な非直線変形を与えることもでき
る。デジタル掛算器１３４は波形８Ｂを受けて変
型波形８B′を生ずる。アツプダウンカウンタ１２
８は波形８B′とタイミングパルス８Ｃとによつて
指令信号を変化させ、掛算器の特性に応じて総計
アツプカウント又は総計ダウンカウントを変化さ
せる。このようにすると、変形掃引信号８E′に
示す通り、僅に曲線の辺を有する三角形掃引が生
ずる。 デジタル掛算器１３４の指令入力は導線１３５
によつて計算機２７から供給される。図示しない
装置によつて手動設定することもできる。この掛
算器を使用して光学的及び又は電子的誤差を修正
する掃引修正を行うために使用され、この種の修
正装置は使用されていなかつた。 カメラパルスプロセサについて説明する。 カメラパルスプロセサ１０８は第９，１０図に
ブロツク線図を示し、第１１図にタイミング線図
を示す。カメラパルスプロセサ１０８は導線３４
上の生のカメラパルスを導線１１Ｐ上の正確な棒
材出力パルスに変換し、棒材両側縁８２，８３間
の寸法関係を正確に代表する両縁間の幅としたパ
ルスとなる。後述する微分器、自己相関器等の構
成素子によつて、カメラパルスプロセサ１０８は
最大約300Hzのカメラ走査速度において生のカメ
ラパルスを処理可能であり、カメラ信号及び微分
器のノイズ効果を除去できる。 第９図はカメラパルスプロセサ１０８のブロツ
ク線図を示し、導線上の記号１１Ａ−１１Ｐは第
１１図の波形によつて示される。導線３４上のカ
メラ信号は緩衝器１３６によつて緩衝増幅されて
信号１１Ａを生ずる。信号１１Ａは第１の微分器
１３７で微分されて出力１１Ｂとなる。信号１１
Ｂは低及び高しきい値検出器１３８，１３９に供
給され、出力１１Ｃ，１１Ｄを得る。検出器１３
８，１３９は正入力が負入力よりも低い電圧であ
る時に出力信号を発生する。 第１の微分信号１１Ｂは第２の微分器１４０に
よつて再び微分されて出力１１Ｅとなる。出力１
１Ｅを始動及び停止ゼロクロスオーバー検出器１
４１，１４２に供給される。検出器１４１，１４
２は１ミリボルトより大きい値の正負のゼロ交叉
遷移に際してトリガされ、棒材パルス始動ゼロ停
止ゼロ出力１１Ｆ，１１Ｇを生ずる。この出力１
１Ｆ，１１Ｇは低及び高しきい値信号１１Ｃ，１
１Ｄと共に固定遅延自己相関器１４３に供給す
る。後述する通り、出力信号１１Ｆ，１１Ｇは回
路１４３の内部で処理されて夫々信号１１Ｍ，１
１“０”を生ずる。低高しきい値信号１１Ｃ，１
１Ｄは棒材パルス始動停止信号１１Ｍ，１１
“０”に対する狭い窓を形成して信号１１Ｍ、１
１“０”をトリガし、棒材出力パルス１１Ｐの前
縁後縁を形成する正確なタイミングを生ずる。 前述した通り、導線３４上の電子カメラ３１の
信号は電気的ノイズも含む。このノイズは高周波
低振幅のノイズであり、電子カメラ附近の高電
流、SCR作動、圧延機駆動モータ制御装置から
電子カメラ信号に磁気的に結合された周波数を有
する。固定遅延自己相関数１４３を使用しなけれ
ば、このノイズも棒材出力パルス１１Ｐのトリガ
を生ずる場合がある。例えば、カメラ信号１１Ａ
の転移が検出器１３８の限界−3Vよりも低い第
１の微分電圧１１Ｂを生じた時は低しきい値信号
１１Ｃは可能化してゼロ交叉検出器１４１は棒材
出力パルススタートトリガ信号を発生させる。微
分器１３７，１４０の利得は入力周波数と共に増
加するため、低振幅高周波数ノイズスパイクは検
出器１３８の−3Vしきい値より低い第１微分器
１３７出力信号１１Ｂを発生することがある。こ
れは棒材パルス発生回路の増強を行はない時に圧
延機周辺で実際に生ずる。 このために、生のカメラパルスプロセサ１０８
の固定遅延自己相関器１４３には第１０図に示す
通り、個別の自己相関器棒材パルス始動及び停止
回路１４４，１４５を有する。棒材パルス始動及
び停止回路１４４，１４５は有効棒材パルス信号
により生じた第２微分信号１１Ｅから高周波ノイ
ズによつて生じた第２微分信号成分を弁別する。
カメラ信号１１Ａの低下縁では第２微分信号１１
Ｅは正電圧に約10ミリ秒間上昇し、次に負電圧に
低下する。図示を明瞭にするために第１１図の信
号１１Ｅの波形は実際の寸法関係ではない。検出
器１４１，１４２による第２微分信号１１Ｅのゼ
ロ交叉検出は信号１１Ｍ，１１“０”の始動停止
棒材パルスのトリガ点であり、棒材出力パルス１
１Ｐの前縁と後縁を定める。 自己相関器の棒材始動停止回路１４４，１４５
は第２微分信号１１Ｅの夫々の10ミリ秒の上昇降
下時間を有効に利用する。このためには、後述す
る自己相関器可能化始動及び停止信号１１Ｌ，１
１Ｎを生ずる。自己相関器始動可能化信号１１Ｌ
は、第２微分信号１１Ｅが負に低下する前に少な
くとも10ミリ秒の1/2の時間だけ連続的に正であ
る時に発生する。同様に、自己相関器停止可能化
信号１１Ｎは第２微分信号１１Ｅが正に上昇する
前に少なくとも10ミリ秒の1/2時間だけ連続的に
負である時に発生する。 実己相関器始動停止可能化信号１１Ｌ，１１Ｎ
は回路１４４，１４５で夫々の低しきい値信号１
１Ｃ，１１Ｄ及び棒材パルス始動停止ゼロ交叉信
号１１Ｆ，１１Ｇに論理加算された棒材パルス始
動停止信号１１Ｍ，１１“０”を生ずる。信号１
１Ｍ，１１“０”によつて棒材出力パルス１１Ｐ
が正慨に生ずる。上述によつて明らかな通り、第
２微分信号１１Ｅの正負の漂遊を生ずる高周波ノ
イズは５ミリモル秒以下の持続時間であるため自
己相関器可能化始動停止信号１１Ｌ，１１Ｎを生
ずることなく、棒材出力パルス１１Ｐのトリガは
防がれる。 第１０図について、自己相関器棒材パルス始動
回路１４４の作動を説明する。自己相関器棒材パ
ルス停止回路１４５の作動は同様であるが、第２
微分信号１１Ｅが正となる前に10ミリ秒間連続的
に負であることに応答する。両回路１４４，１４
５共に通常の論理回路を使用する。 低しきい値信号１１Ｃは増幅器１４６で反転さ
れるナンドゲート１４７の３入力の中の１個に供
給される。ナンドゲート１４６は所定論理条件で
棒材パルス始動信号１１Ｍを生ずる。 棒材パルス始動ゼロ交叉信号１１Ｆはシユミツ
トトリガ１４８に供給され増幅器１４９で反転さ
れてトリガ信号１１Ｈとしてナンドゲート１４７
及びワンシヨツト遅延回路１５０に供給される。
信号１１Ｈの負となる転移はワンシヨツト遅延回
路１５０をトリガして５ミリ秒の論理“１”パル
ス１１ＩをＱ出力に発生し、５ミリ秒の論理
“０”パルス１１Ｊを出力に発生する。パルス
１１Ｉはアンドゲート１５１の入力に供給され
る。シユミツトトリガ１４８の出力はアンドゲー
ト１５１の他方の入力に供給されると共にフロツ
プフロツプデバイス１５２のリセツト入力に供給
される。高しきい値信号１１Ｄはフリツプフロツ
プ１５２のデータ入力に供給され、カメラ信号１
１Ａの低下縁の間に自己相関器始動回路１４４を
可能化し、信号１１Ａの上昇縁の間に回路１４４
不作動とする。 信号１１Ｈが負となる時は反転器１４９の入力
は正となる。正となる作用はフリツプフロツプ１
５２のリセツト条件を取除き、アンドゲート１５
１の入力に論理“１”を供給する。ここでゲート
１５１はパルス１１Ｉをフリツプフロツプ１５２
のクロツク入力に通し、Ｑ出力に論理“１”パル
ス１１Ｋが生ずる。５ミリ秒の遅延の後にワンシ
ヨツト遅延回路１５の遅延時間は経過し、出力
は状態を変化し論理“１”パルス１１Ｊとなる。
パルス１１Ｊはフリツプフロツプ１５３のクロツ
ク入力となる。フリツプフロツプ１５３のデータ
入力には信号１１Ｋがフリツプフロツプ１５２の
Ｑ出力から供給される。 信号１１Ｋが論理“１”ならば、フリツプフロ
ツプ１５３出力Ｑはセツトされ、始動可能信号１
１Ｌを生ずる。信号１１Ｌは信号１１Ｈから生
じ、信号１１Ｈ及び低しきい値信号の反転した信
号１１と共にナンドゲート１４７に供給されて
棒材パルス始動信号１１Ｍを生ずる。上述の通
り、棒材パルス信号は遅延され組合されて固定遅
延自己相関機能を生ずる。 ワンシヨツト遅延デバイス１５０の制御する５
ミリ秒間にシユミツトトリガ１４８の出力が低と
なつた時、即ち第２微分信号１１Ｅが有効棒材信
号よりも、著しく狭い時は、フリツプフロツプ１
５２のリセツトは低となり信号１１Ｋは論理
“０”となる。ワンシヨツト遅延デバイス１５０
の５ミリ秒後に遅延時間が終れば、データ入力低
のフリツプフロツプ１５３を信号１１Ｋがクロツ
クする。このため、フリツプフロツプ１５３のＱ
出力は論理“０”となり、棒材信号の処理は行は
ない。 ワンシヨツト遅延デバイス１５０は再トリガ可
能であり、次々にトリガパルス１１Ｈを受ける。
５ミリ秒より少ない持続時間の複数のトリガパル
スがワンシヨツト遅延デバイス１５０をトリガす
ればＱ出力信号１１Ｉはすべてのパルスに対して
高を保ち、最後のトリガパルスの後に５ミリ秒の
時間が経過する。アンドゲート１５１はフリツプ
フロツプ１５２を各パルス毎に再クロツクする。
ワンシヨツト遅延デバイス１５０の出力は多トリ
ガパルスの間は連続的に高であるため、信号１１
Ｉをアンドゲート１５１内でシユミツトトリガパ
ルスと組合せればフリツプフロツプ１５２のクロ
ツクラインは各トリガパルスに対して“０”から
“１”に論理転移する。 前述の通り、棒材パルス停止回路１４５は回路
１４４と同様であるが、異なる点は停止回路１４
５が連属的に負の第２微分器信号１１Ｅが正とな
ることでトリガされる。このため、インバータ１
５４、ナンドゲート１５５、シユミツトトリガ１
５６、インバータ１５７、ワンシヨツト遅延デバ
イス１５８、アンドゲート１５９、フリツプフロ
ツプ１６０，１６１は回路１４４の反対で同じ機
能を有する。それ故、回路１４５については詳述
しない。 生のカメラ棒材信号内の電気的ノイズ及び微分
器１３７，１４０で生じたノイズを取除いた後
に、棒材パルス始動停止信号１１Ｍ，１１“０”
は夫々の回路１４４，１４５の出力となり、棒材
縁部８２，８３に相関した棒材パルス前後縁のタ
イミングを正確に示す。ここで、信号１１Ｍ，１
１“０”をフリツプフロツプ１６２のセツトリセ
ツト入力に夫々供給する。第８図に示す反転窓パ
ルス８は窓発振器１００からフリツプフロツプ
１６２のクロツク入力に供給する。フリツプフロ
ツプ１６２のデータ入力は０ボルトに固定する。
このため、窓パルス８Ｆの存在する間だけフリツ
プフロツプ１６２を可能化する。窓パルスの幅と
タイミングとは前述した通り寸法測定作動によつ
て定まり、較正には無関係である。 棒材測定作動間、フリツプフロツプ１６２のＱ
出力は正確な棒材出力パルス１１Ｐを生じ、前縁
後縁はノイズの影響がなく正確に棒材１０の横方
向寸法を代表する。計算機２７が較正のため
RTMASK又はLFKMSKプログラムを選択した時
は、棒材パルス１１Ｐは正確に右又は左のマスク
９４，９５の寸法を示す。 光電子増倍（PM）AGC回路について説明す
る。 解像管９０の光電子増倍部（PM）用のAGC回
路１０９を第１２図に示し、自己平衡測定ループ
１０７の重要な部分を形成する。AGC回路１０
９には比較器１６３、スイツチ付積分器１６４、
励振増幅器１６５を有する。増幅器１６５は導線
１１０を通るスイツチ可変制御電圧によつてPM
部高圧電源１１１を励振する。この制御電圧は解
像管９０の自動利得制御（AGC）となる。この
ために、PM部高圧電源１１１、を変化させて解
像管９０内の陽極電流を一定の基準値に保つ。 緩衝カメラ信号１１Ａは加算抵抗１６６、加算
接合部１６７を経て比較器１６３の一方の入力に
供給される。加算接合部１６７はダイオード１６
８によつて正となる入力となる。比較器基準電圧
は電源１６９から供給されポテンシオメータのス
ライダ１７０によつて調整されて棒材パルスをオ
フセツトし、スイツチ制御電圧の公称値を生じ、
高圧電源１１１を公称利得発生値に設定する。 緩衝されオフセツトされた棒材パルスは加算接
合部１６７を経てスイツチ付積分器１６４の電子
スイツチ１７１に供給される。窓パルス８Ｆと反
転棒材パルス１１がアンドゲート１７２に供給
されて第８図に示すAGCブランキングパルス８
Ｇを生ずる。窓パルスが存在し棒材パルスがない
時はAGCブランキングパルス８Ｇは電子スイツ
チ１７１を導通させて電流を積分増幅器１７３に
導通させ、積分コンデンサ１７４を充電する。窓
パルス８Ｆ、棒材パルス１１Ｐ共に存在する時は
電子スイツチ１７１は開き積分器出力は接合部１
７５において励振増幅器１６５に対する公称値入
力を保つ。 励振増幅器１６５の加算抵抗１７６は一端を積
分器出力接合部１７５に接続され、他端を演算増
幅器１７７の入力に接続する。フイードバツク抵
抗１７８は励振増幅器１６５の利得を制御する。
ツエナーダイオード１７９は励振増幅器１６５の
利得を制限して、過大制御電圧が導線１１０に供
給され高圧電源１１１をオーバードライブするも
のを防ぐ。上述した通り、AGCブランキングパ
ルス８Ｇがない時は緩衝カメラ信号１１Ａが
AGC回路１０９を導通しPM部高圧電源１１１を
変化させる。AGCブランキングパルス８Ｇの存
在する時は棒材信号１１Ａは通過せず、PM・
AGC回路１０９の出力は積分器１６４のコンデ
ンサ１７４の充電によつて定まる一定値となる。 棒材寸法位置アキユムレータについて説明す
る。 第４図に示した棒材寸法位置アキユムレータ１
１８の詳細を第１３図に示し、第８，１１図のタ
イミング線図も参照する。本発明により測定制御
装置では計算機２７に供給される未修正のデジタ
ル棒材寸法データ及び棒材位置データは表示器１
１５に供給される未修正棒材寸法及び位置データ
と同様にして別個に発生される。アキユムレータ
１１８の制御ゲート１８０には棒材パルス１１
Ｐ、クロツクパルス８Ａ、クロツクリセツトパル
ス８Ｄ、急速ストロボパルス８Ｈが供給され、棒
材寸法アキユムレータ回路１８１、棒材位置アキ
ユムレータ回路１８２に配分される。回路１８２
はカメラ視野内の棒材中心線の位置を定める。両
回路１８１，１８２はクロツクリセツトパルス８
Ｄによつて同期され、掃引サイクル完了毎にスト
ロボパルス８Ｈによつてカウントは記憶回路に移
される。 制御ゲート１８０は各棒材パルス１１Ｐの前縁
及び後縁を検出し、掃引サイクルの上下半部間に
生ずる２個の棒材パルス中に発生するクロツクパ
ルス８Ａの個数を２で割る。制御ゲート１８０は
クロツクパルスを回路１８１の14ビツト二進カウ
ンタ１８３のクロツク入力に供給し、２個の棒材
パルスのカウント値を２で割つた値を記憶する。
第１の掃引サイクルの終りにカウンタ１８３内の
寸法パルスカウンタは14ビツト二進ラツチ１８４
のデータ入力に移送される。ストロボパルス８Ｈ
はその前にラツチ１８４のラツチロツク入力に供
給される。第２のサイクルの開始に際してカウン
タ１８３はクロツクリセツトパルス８Ｄによつて
消去され新しいパルスカウントを受ける準備状態
となる。 第１掃引サイクルで得られた棒縁部８２，８３
間の棒材未修正寸法を表わす14ビツトデジタルデ
ータは第２掃引サイクルの間中ラツチ１８４に記
憶される。第２の掃引サイクルの間このデータは
ケーブル１１９によつて計算機２７に移送され、
後述する計算機プログラムCMPNSTによつて修
正される。第２の掃引サイクルの終りにカウンタ
１８１のデータはパルス８Ｈによつてラツチ１８
４に移され、かくしてサイクルを繰返す。棒寸法
パルスの計数は常に１回の掃引サイクルであり、
カウントはアキユムレータ回路１８１のラツチ内
に記憶される。 制御ゲート１８０は掃引サイクルの上昇半部中
に第８図の波形８Ｇに示す第１の棒材パルス１１
Ｐの棒材パルス縁部１８５を検出すると共にこの
掃引サイクルの下降半部においてパルス縁部１８
６を検出する。制御ゲート１８０はパルス前縁１
８５，１８６間の掃引時間を定め、この時間を２
で割つて棒材中央線位置掃引時間を定める。更
に、制御ゲート１８０は一連の12MHzクロツク
パルス８Ａを割算器１８７によつて１６０で割り
棒位置時間基準クロツクパルス８Ａ／160を生ず
る。8A／160クロツクパルスは棒位置アキユムレ
ータ１８２の８ビツト二進カウンタ１８８に棒中
央線位置掃引時間の持続時間の間供給する。カウ
ンタ１８８に登録されたカウントはカメラ視野内
での棒材１０の中央線位置を示す。この棒材中央
線位置は寸法アキユムレータ等で測定する寸法測
定値とは全く無関係に決定される。 第１の掃引サイクルの終点において、カウンタ
１８８内の中央線位置カウントは８ビツト二進ラ
ツチ１８８のデータ入力に転送されるラツチ内の
前入力はストロボパルス８Ｈによつて計算機に送
られている。第２のサイクルの始にカウンタ１８
８はクロツクパルス８Ｄによつてリセツトされ、
新しい棒材中央線位置パルスカウンタを受ける状
態となる。 棒材中央線位置を代表する８ビツトデータは第
２の掃引サイクルの開始時にはラツチ１８９内に
記憶される。第２の掃引サイクルの間に８ビツト
データはケーブル１２０を経つて計算機２７に移
送され、後述する計算機プログラムCMPNSTに
おいて棒材寸法データの光学誤差修正用とする。
第２の掃引サイクルの終りにカウンタ１８８のデ
ータはパルス８Ｈによつてラツチ１８９に入り、
このサイクルを繰返す。棒材中央線位置パルスの
カウントは常に１掃引サイクルで行なわれ、アキ
ユムレータ１８２内にラツチされる。 棒材位置アキユムレータ１８２は掃引サイクル
の1/2を256分割し、１分画は0.46mm（0.016イン
チ）となる。カメラヘツドの光学中心線は第128
分画となる。分画合計は10.404cm（4.096イン
チ）のＹ軸偏向コイルのＹ軸掃引を示す。使用可
能視野は約7.62cm（３インチ）である。使用しな
い視野は2.784cm（1.096インチ）であり、Ｙ軸偏
向コイルは光電陰極９１の上下縁を超えて掃引を
行う。 計算器について説明する。 第１図にブロツク線図として示した電気光学棒
材寸法測定制御装置の計算機２７を第１４図に示
す。計算機２７は後述する各種機能を行うプログ
ラムとしたデジタル装置である。市販のフオート
ランのプログラム可能マイクロ計算機を使用する
こともでき、所要に応じて圧延機制御計算機装置
の一部とすることもできる。計算機２７の例とし
てウエスチングハウスエレクトリツク社のＷ−
2500型に後述する各種プログラムを行う素子を組
合せた型式がある。 計算機２７は通常の主構成部分として、入力バ
ツフア１９０、出力バツフア１９１、デイスク記
憶装置１９２、デイスクスイツチ１９０、コア記
憶装置１９４を有し、データプロセスユニツト１
９５によつて各チヤンネル間を結合する。計算機
２７の作動はオフライン及びオンライン計算機プ
ログラム１９６に応じて順次制御される。プログ
ラムは第１５，１６図に示す計算機マツプ１９
７、サービスプログラム１９８、棒材寸法データ
プログラム１９９、補償プログラム２００、較正
プログラム２０１、再較正プログラム２０２、ヒ
ストグラムプログラム２０４であり、すべて後述
する。 棒材寸法測定装置計算機２７と外部装置との接
続は入力バツフア１９０によつて行はれ、バツフ
ア１９０には入力アナログ及びデジタル信号をデ
ジタルに変換する装置を有する。導線又はケーブ
ルによつて計算機に供給される入力信号は次の通
りである。ケーブル３６によつてカメラ電子装置
３５、導線５８によつて高温金属検出器５７、ケ
ーブル５３，５４によつて棒材温度５０、導線４
３によつて棒材自標寸法４２、導線４５によつて
棒材組成４４、ケーブル４７によつて他の作動デ
ータ４６、ケーブル６８によつて制御装置６７、
ケーブル６１によつてCRT端子６０、ケーブル
６４によつて印字端子６３に接続する。 計算機２７の出力を外部装置に接続するのは出
力バツフア１９１であり、出力信号をデジタル及
びアナログに変換する装置を有する。出力信号と
しては、ケーブル６６によつて制御装置６７、ケ
ーブル３７によつてカメラ電子装置３５に接続す
る。 図にはケーブル、導線共に１本の線として示し
たが所要機能を行うための所要数の素線を組合せ
たケーブルを使用するのが通常である。 CRT端末６０には操作盤を有し、作業者から
計算機２７に手動指令を可能にする。 印字端末６３に操作盤を有し、操作の手動指令
を可能をする。端末６３の計算機プリント６５に
は棒材直径の変化及び下記の表のデータを含む。 端末６０，６３は同じデータをプロツトするこ
ともできる。操作盤からの操作は下記のプログラ
ムネモニツクスコードによつて行う。 ネモニツクスを次に示す。 HS：各ヘツド用ヒストグラム MP：視野補償マツプの作成 CL：左右側マスクで較正チエツクを行う。 TY：マツプ、スロープ及びオフセツト関数、マ
スクの値の印字、 OF：スロープ及びオフセツト修正率を入れる ZE：すべてのマツプ及び修正率を０にする……
注意…… LF：左側マスクのドリフトテスト RT：右側マスクのドリフトテスト（窓を入れ
る） TR：制御SYS部に共通ゲージをデイスクに移送 XT：モニターに出力；マツプ、スロープ、オフ
セツト修正率、マスク値、窓値をデイスクに書
込む。デイスクスイツチが上の時にデイスクフ
アイルを更新・このタスク２０がモニターに呼
ばれた時にフアイルをデイスクから続出。 デイスクスイツチ１９３にはスイツチ１０とス
イツチ２０とを有する。デイスク上のプログラム
又はデータを更新する時にはスイツチを“書込み
可能”位置とする。 計算機プログラムについて説明する。 次の表は計算機プログラム１９６に組合された
プログラムを示す。
る。特に本発明は物体の寸法を固位位置で横方向
の寸法測定又は物体外周各位置で物体のプロフイ
ル測定を行う電気光学測定方法並びに装置に関す
る。本発明の好適な適用例は製鋼工場での棒材圧
延機を出る高温棒材の横方向寸法及び横方向プロ
フイルを定めるために使用する。管、丸以外の形
状の成形物体の寸法、プロフイルの測定にも使用
でき、鋼材以外にも使用できる。更に、本発明は
所要に応じて測定装置ヒストグラムを定め、プロ
ツトすることが可能である。 高温丸棒を圧延する製鋼工場において生産上圧
延棒材速度は1219m/min（4000ft/min）に達
し、直径は最大約7.62cm（３インチ）圧延温度は
約930℃（1700〓）が要求される。他の要求とし
て、生産された常温棒材寸法及び真円度は現在定
められている商用公差の1/2とする希望がある。
この要求を満足するためには、計算機制御圧延装
置を、指令データと実際測定寸法とを組合せて仕
様外の製品を最小にして生産性を最大にする圧延
機制御信号を発生するよう実現する必要がある。 圧延機制御計算機の計算に使用する作動データ
の例として、希望棒材直径即ち目標寸法、商用公
差の1/2の公差、棒材の品質即ち圧延棒材の炭素
成分がある。特に重要な測定データは、実際の棒
材直径即ち棒材寸法、実際の棒材横方向プロフイ
ル即ち棒材プロフイル、棒材寸法測定のヒストグ
ラムである。他の測定項目として、棒材温度があ
り、高温棒材収縮の修正に使用するパラメータで
あり、棒材測定にも圧延機の計算機制御にも必要
である。 圧延機制御計算機を圧延機速度、棒材寸法およ
び寸法公差の1/2に関する要求を満足するようプ
ログラムするためには、すべての測定は次の特性
を有する必要がある。棒材寸法測定は、圧延機を
出た棒材が長手方向に運動し横方向の軌道内を振
動している状態で行い、その測定数は約300Hz、
像分解能は0.0127mm（0.0005インチ）、絶対測定
精度は商用公差の1/4が必要であり、且つすべて
の測定は製鋼工場の厳しい環境の下で高い信頼性
を有する必要がある。棒材温度測定も同様な特性
を必要とする。測定結果のヒフトグラムも必要と
する。 棒材寸法を測定するための数種の電気光学測定
装置が市販されている。棒材寸法測定装置の初期
の型式は自己照射原理で作動し、高温棒材からの
チヨツプされた赤外線放射はレンズを通つて赤外
線検出器上に像を形成する。基本的縁部検出回路
を使用して棒材縁部に関して未修正検出パルスを
発生する。 棒材寸法測定に使用する近年の電気光学装置は
逆光照射原理で作動し、測定すべき物体の像は物
体の影としてレンズを通つて電子カメラ面に達す
る。この種測定装置の例では、走査レーザービー
ムが物体を照射し、レンズ装置は物体の影をフオ
トトランジスタに焦点を結ばせる。第２の既知の
測定装置は一定光度の固定光源が物体を照射し、
レンズ系が物体の影を２軸線単方向走査の電子走
査イメージオルシコン管に焦点を結ばせる。第３
の既知の装置はイメージオルシコン管に代えて自
己走査光ダイオード列を使用する。 上述の３種の逆光測定装置の光応答装置は影の
縁部間の物体寸法にほぼ相当する幅正カメラパル
スを発生する。このカメラパルスを処理する縁部
検出装置は通常の微分器又はゲート付き微分器を
有し、物体寸法に対してカメラパルス幅を精密に
定める。 別の型式の電気光学測定装置は上述の特性を組
合せて棒材横方向プロフイルを測定する。第１の
型式のプロフイル測定装置は２組の自己照射カメ
ラを棒材通過線に対して互いに直角として固定配
置する。この装置は90゜離れた棒材直径測定を行
うが棒材プロフイル測定ではない。他の型式の電
気光学棒材プロフイル測定装置は２台の逆光カメ
ラを互いに直角として走査装置に取付ける。これ
によつて棒材の外周走査中に得られた２方向の棒
材直径測定値と走査装置の位置測定値が多チヤン
ネル記録器に表示又は記録される。 上述の既知の電気光学棒材寸法、プロフイル測
定装置はある程度有効な測定値が得られる。しか
し既知の装置は現代の高速熱間圧延機用の棒材寸
法、プロフイルの測定用として不十分であり、前
述の各要件の一部を満足しない。 既知の測定装置の欠点は、第１に測定すべき物
体がカメラ視野の所定位置にある必要がある。第
２の所要のカメラ応答速度、像分解能がない。第
３に高速作動での精度が悪い。即ち高速作動間は
スイツチノイズ及び微分器ノイズが著しく大きく
なる。更に、周囲からの各種電気的ノイズが存在
し、高速度で信頼性高く正確な棒材測定が困難に
なる。第４に光学的電子的非直線性等の誤差原因
に対する誤差修正が困難又は不可能であり、測定
精度が低下する。第５に不安定であつてドリフト
を生ずる。第６に常温棒材直径及び各外周位置の
プロフイル情報を信頼性高く圧延機操作者又は圧
延機計算機に対してプロツト、表示する機能に欠
ける。第７に、棒材測定装置ヒストグラムが作成
できない。第８に棒材の高周波の横方向振動に基
く測定寸法の狂いを修正できない。 本発明の主目的は、新しい電気光学測定方法並
びに装置を提供する。 本発明の他の目的は、高い応答速度、高い測定
繰返数、高い精度を有し、且つ近代の高速熱間圧
延機の環境で高い安定性及び信頼性を有する、電
気光学測定方法並びに装置を提供することにあ
る。 本発明の別の目的は、物体がカメラ視野内の如
何なる位置にあつても、或は物体がその移動方向
に対し横方向に振動していてもその物体の寸法を
精密に測定し得る電気光学測定方法並びに装置を
提供することにある。 本発明の他の目的は、カメラ信号を処理してカ
メラ信号中の物体寸法パルスに含まれるノイズを
除去し、物体寸法パルスを正確に定めると共にカ
メラ視野内の物体位置を正確に定めることができ
る電気光学測定方法並びに装置を提供することに
ある。 本発明の別の目的は、カメラからの物体寸法信
号を光学的電子的非直線性等の誤差原因に対し修
正し得る電気光学測定方法並びに装置を提供する
ことにある。 本発明の他の目的は、物体の一方向又は直交す
る二方向の寸法、物体の外周位置のプロフイルを
プロツトし、表示、記録し得る電気光学測定方法
並びに装置を提供することにある。 本発明の別の目的は、物体のプロフイルをプロ
ツトし、更にこれを物体の基準公差上に重ねて表
示記録し得る電気光学測定方法並びに装置を提供
することにある。 本発明の他の目的は、測定装置のヒストグラム
をプロツトし、表示記録し得る電気光学測定方法
並びに装置を提供することにある。 本発明の別の目的は、計算機制御製造装置で使
用するのに好適な物体のプロフイル又は装置のヒ
ストグラムをプロツトし得る電気光学測定方法並
びに装置を提供することにある。 本発明による振動しながら移動する高温棒材の
一方向又は直交する二方向の寸法を固定位置で又
は多数の外周位置で測定する計算機化電気光学測
定装置は棒材熱間圧延機に使用して上記の目的を
有利に達成することができる。本発明では一個以
上の逆光電子カメラヘツドを使用し、二方向測定
の場合にはこれらカメラメツドを互に90゜の角度
で走査装置上に取付ける。各カメラヘツドにはカ
メラ自動制御（AGC）用回路及び各カメラに共
通の一軸往復走査用デジタル双方向掃引発生器を
含む電子装置を設ける。カメラ電子装置の別の電
子回路では自己相関器を有するパルス縁検出回路
で処理してノイズを除去する。更にカメラ電子装
置の別の回路にはデジタル棒材寸法信号及びカメ
ラ視野内における棒材位置信号を出力するアキユ
ムレータを含んでいる。 各カメラの棒材寸法信号及び棒材位置信号、棒
材温度等はオフライン又はオンラインで下記の機
能を実行するようプログラムされたデジタル計算
機で処理される。第１に、視野誤差、その他の光
学的及び電子的非直線性誤差、棒材温度等をデジ
タル的に補償して各棒材寸法信号を補正し、棒材
が視野のどこにあつても極めて精密な棒材直径測
定値を出力する。第２に、測定装置をオフライン
で較正し、オンラインで自動的に再較正する。第
３に、走査装置の駆動を手動的に又は自動的に制
御して走査中各カメラの補正された棒材直径測定
値をイレクリメントデジタル記憶する。第４に、
CRT及び印字端末と相互作用して、(a)走査範囲
内の任意の位置における各カメラの棒材直径測定
値を表示記録する、(b)使用する記憶棒材直径デー
タ及び操作データヘツダを表示記録し、また商用
公差及びその1/2の公差上に重ねて棒材プロフイ
ールを表示し目標からの偏差を表示する、(c)各測
定のヒストグラム及び測定偏差のヒストグラムを
表示記録する。計算機はプロフイール及びヒスト
グラムデータを要求されたときに圧延機制御装置
に送出する。 本発明を例示とした実施例並びに図面について
説明する。 第１に棒材寸法測定制御装置について説明す
る。 第１図は棒材寸法を測定制御するための計算機
化電気光学装置を示し、逆光カメラを高温鋼棒圧
延機に取付ける。測定装置は例えば棒材１０の直
径を測定し、ロールスタンド１１の出口側を過ぎ
た横位置に固着する。後述する通り、棒材直径信
号を供給された計算機は棒材１０の横方向寸法を
プロツトする。この後に棒材直径データは表示、
記録し、圧延機制御装置に転送し、制御装置はこ
のデータを使用してロールスタンド１１の横方向
間隔を規正し、棒材１０を目標寸法とする。 第１図に示す光源箱３０は電子カメラメツド３
１に対向し、棒材１０が光経路を通つた時に棒の
影の寸法はある横位置での棒直径に比例し、電子
カメラヘツド３１の像となる。逆光カメラヘツド
の標準構造は第４図によつて後述する。 光源箱３０は棒材１０に直角方向に、カメラ視
野の測定し得る最大寸法の棒材１０よりも大きな
直径の光を生ずる。例えば、カメラの視野を7.62
cm（３インチ）とした時に光源の直径は10.16cm
（４インチ）とする。更に、光源の波長と強さと
は電子カメラヘツド３１の感度特性に対応させ
る。標準光源は、後述する電子カメラヘツド用と
して直流点火螢光灯の青色光源が好適である。 棒材１０の影及び棒側縁外の照射光は逆光光源
箱３０から生じ、電子カメラヘツド３１にカメラ
信号を生じさせる。カメラ信号は純粋のカメラパ
ルスとノイズとを含み、導線３４を経て第１のカ
メラ素子装置３５に供給される。第４図について
後述する通り、カメラ信号を処理してノイズを除
去し、デジタル棒材寸法及び棒材位置信号を発生
し、ケーブル３６を経て計算機２７に供給され
る。測定エネーブル信号及び他の信号は計算機２
７からケーブル３７を経てカメラ電子装置３５に
供給する。 本発明の電子光学棒材測定装置の計算機２７に
はつまみセレクタ４２から棒材目標デジタル信号
もケーブル４３を経て供給される。目標寸法信号
は例えば4.445cm（1.7500インチ）とし、後述す
る通り棒材寸法偏差の決定等の目的に使用する。
更に計算機２７はつまみセレクタ４４からケーブ
ル４５を経て棒材組成デジタル信号を受ける。組
成信号は棒材１０の炭素成分値を示し、例えば
0.230％とし、高温棒材１０の収縮寸法の補正等
の目的に使用し、後に詳述する。所要の指令デー
タ信号、例えば日付、時間、棒材の寸法公差等を
データソース４６からケーブル４７を経て計算機
２７に供給する。上述の目標寸法信号、組成信号
等のデータ信号は測定装置使用者の選択によつて
棒材１０の圧延を直接制御する制御装置によつて
供給することもできる。 圧延される高温棒材の直径測定値の温度補正を
行うために、ランド社の光学高温計ヘツド４８を
走査装置１２に近接させ、高温棒材温度を測定す
る。光学高温計ヘツド４８は高レスポンス高温信
号を発生しケーブル４９を経て例えばランド社の
高温計電子装置に供給する。測定温度信号は高温
計電子装置５０のスケール合せ直線化回路によつ
て修正され、修正温度信号（例えば1670〓（910
℃）がケーブル５１を経てデジタルインジケータ
５２に供給される。更に、修正温度信号はケーブ
ル５３を経て計算機２７に供給し棒材１０の収縮
の補正に使用する。 ランド社の光学高温計ヘツド４８と高温計電子
装置５０を使用すれば計算機２７、インジケータ
５２に修正温度信号を所要精度と応答速度で供給
するための調整の問題点を省略できる。調整作業
を行う場合には、この高温計装置に代えて米国特
許4015476号、走査高温計装置に記載された光学
視野走査高温計装置を使用することもできる。光
学視野走査高温度計装置は急速に往復する鏡を高
温度計ヘツドに取付け、高温棒材の通過する視野
を視準する。高温棒材はスリツトを通る像とな
り、高応答赤外線検出器を高温計ヘツドに取付け
て検出する。赤外線検出器の信号はピーク検出器
及び棒材１０の温度の非線形信号を測定記憶する
サンプル及び保持回路に供給される。記憶された
非線形信号はケーブル３５を経て計算機２７内で
目盛付け及び線形化を行う。記憶された温度信号
は往復運動する鏡の各走査毎に例えば20ｍｓ毎に
点線のケーブル５４を経て供給されるビジ−レデ
イ−フラツグパルスによつて更新される。夫々の
作業に適応させるために、視野走査周波数及び視
野幅を調整する手段を設ける。 本発明による棒材測定装置の他の特長は自動再
較正装置である。後述する通り、圧延機１１を去
る高温棒材１０の後端を検出する度に再較正が行
はれる。このために、高温棒材検出器５５は高温
棒材の存在と不在とを検出し、対応する信号を導
線５６を経て高温金属検出電子装置５７に供給す
る。存在不在信号はケーブル５８を径て計算機２
７に供給され自動再較正装置の始動停止を行う。 すべてのカメラ信号、目標寸法信号、組成信
号、データ信号、温度信号、棒材存在不在信号は
夫々のケーブル３６，４３，４５，４７，５３，
５８を経て計算機２７に供給され、計算機２７は
これら信号を後述する一群の計算機オフライン、
オンラインプログラムの制御の下で処理して種々
の機能を行う。この機能の一つは、棒材直径デー
タ、商用公差基準に比較した棒材偏差データを計
算機２７からケーブル５９を経てCRT（表示装
置）端末６０に供給すること及びケーブル６１を
介して端末６０の標準キーボードと計算機２７と
の間の相互作用を可能にすることである。 計算機２７の他の機能は計算機２７からケーブ
ル６２を経て棒材直径データと作動ヘツダーデー
タとを印字端末６３に供給すること及びケーブル
６４を介して端子６３の標準キーボードと計算機
２７との相互作用を可能にすることにある。印字
端末６３はデータログ等の印刷６５を行う。他の
計算機２７の機能は棒材直径データと測定装置ヒ
ストグラムとをケーブル６６を経て制御装置６７
に供給する。この作動はケーブル６８を経て計算
機にフイードバツクされる制御装置の要求信号に
応答して行はれる。 第２図には棒材１０の横断面を示す。点線の円
６９，７０は目標寸法直径に対する標準公差の最
大最小値である。棒材の目標寸法を4.45cm
（1.7500インチ）とした場合を示す。第２図につ
いては更に後に述べる。 CRT端子６０の表示は計算機の印刷６５とほ
ぼ同じである。従つてCRT端子６０の表示する
棒材直径情報は測定装置作業者及びその圧延機の
作業者にとつて著しく有効である。 電子カメラヘツドについて説明する。 第１図の電気光学棒材測定装置に使用する逆光
電子カメラヘツド３１を第４図に示し、光源箱３
０から棒材１０に対して反対側の光軸上に配置す
る。この配置によつてカメラ視野８０全面を照射
し、影８１は高温棒材上下縁８２，８３間の寸法
に比例して変化する。高温棒材１０の図は一見静
止しているようであるが圧延速度1219m/min
（4000ft/min）で通過する棒材は軌跡８４内を振
動する。このため、棒材の影８４は垂直方向に直
径に比例して変化するだけでなく、水平垂直方向
に移動し、移動範囲は直径約7.62cm（３インチ）
の円内となる。このため、固定棒材の場合よりは
大きな視野を必要とし、測定精度の問題が大きく
なる。 棒材の影８１は垂直方向に変化し、位置は水平
垂直方向共に変化するため、カメラヘツド３１に
はテレセントリツクレンズ系８５を使用して平行
光線のみを通し、焦点面は棒材軌跡８４の最も近
い水平線から最も遠い水平緑までに延長するよう
に定める。このために使用したレンズは７素子レ
ンズ系８６であり、10.16cm（４インチ）の視野
８０の中央に7.62cm（３インチ）直径の棒材軌跡
８４が入るように定める。レンズ系８６は像寸法
縮小率１：２であり、テレセントリツクレンズス
トツプ８７は狭い水平光学開口８８を有し、開口
８８内を影８１が通る。棒の影８１を光学フイル
ター８９を通し、光源３０からの青色光のみを通
過させ、視野内に異なる波長の他の光源からの光
が入つたことの悪影響を防ぐ。 それ故、テレセントリツクレンズ系８５は水平
光源による棒材の影８１を生じ、垂直方向には棒
材縁部８２，８３の位置の変化に従つて変化し、
棒材１０の横方向の移動に際しても鋭い焦点を結
ぶ。影８１は光軸に沿つて同じ寸法であるが光軸
から垂直方向に離れるに従つて非線形関数に従つ
て大となる。このことは、電子、コイル、レンズ
の非線形の組合せによつて生じ、視野誤差と称
し、後述する通り計算機２７によつて修正され
る。 テレセントリツクレンズ系８５によつて伝達さ
れた棒材の影８１は像応答装置９０上に投射され
る。像応答装置９０は300Hzで走査され、分解能
は1/10000であり、青色光に対して高い感度を有
する。装置９０は解像（ID）管とし、光電陰極
電極９１を有し、中央の像変換部に棒材の影８１
を受ける。光電陰極電極９１はID管９０のドリ
フト部の光透過面の背面に設ける。電極９１の放
射する光電子は外部装置によつて集中されて電子
開口９２を通り、ID管９０の光電子増倍部
（PM）に入る。装置９０の例としてITT社の高分
解能解像管No.F4052RP型がある。 電子カメラヘツド３１には解像管９０の円筒形
本体を囲んで円筒形の偏向及び焦点コイル装置９
３を有する。コイル装置９３には夫々Ｙ軸、Ｘ軸
偏向コイルと焦点コイルとを有し、個別に外部電
源で附勢する。標準のミユーメタルシールドがコ
イル装置９３の外側筒壁を覆い、半径方向磁界の
有効なシールドを行う。角像管用のコイル装置と
して、ウアシユバーン・ラボラトリー社のNo.
YF2308−CC3c型がある。 コイル装置９３の標準ミユーメタルシールドが
半径方向軸方向の磁界に対する十分なシールドと
ならないことがある。例えば解像管９０が高感度
レベルで作動し、ケージ附近で強い磁界を生ずる
電気装置が動く時は解像管９０の出力は変化す
る。この条件が生じた時は、標準ミユーメタルシ
ールドを補強して軸線方向磁界の減衰を良くする
必要を生ずる。このためには、標準ミユーメタル
シールドをレンズ系８５に向けて軸線方向に延長
し、フイルター８９の端部を閉鎖し、棒材の影８
１の像のみが解像管９０の光電陰極９１に入るよ
うにする。延長したシールドを囲む第２のミユー
メタルシールドによつて更に磁界減衰を行うこと
もできる。第１のシールドは標準のままとし、第
２、第３の円筒形ミユーメタルシールドを軸線方
向に延長して第１のシールドを囲むこともでき
る。 第４図に示す解像管のドリフト等の変化その他
の電子的非線形を較正する装置を設ける。ドリフ
ト及び測定状態の変化を後述する通り、オンライ
ン較正チエツクにより識別し、較正した棒材信号
を修正する。この較正チエツクのために、解像管
９０に第５図に示すマスク付き光電陰極９１を有
する型式とする。 第５図に示すマスク付き光電陰極９１に像変換
部に接してパターンとした像非変換部を有する。
即ち、通常の光電陰極の光電応答材料を像透過ガ
ラス面９６上に精密マスク法によつて選択的に被
着して較正基準パターンとした較正マスク９４，
９５を形成する。図示の例では較正マスク９４は
光電陰極右側中央に１個の6.35mm（0.250イン
チ）幅のマスクである。較正マスク９４は右側マ
スクと称し、後述するRTMASK計算機プログラ
ムで棒材測定装置較正ドリフトのオンラインチエ
ツク用とする。較正マスク９５は５本の2.54mm
（0.100インチ）幅のマスクであり、相互間隔は
2.54mm（0.100インチ）とし、光電陰極９１の左
側とする。較正マスク９５は左側マスクと称し、
後述するLFTMSK計算機ブロツクにおいて棒材
測定装置の光学及び電子非線形の変動のオンライ
ンチエツクを行う。第６図は第５図の右側マスク
９４の拡大断面図であり、右側マスク９４のボイ
ドが解像管９０のガラス面９６に延長することを
示す。 棒材測定装置作動の全期間を通じて、後述する
通り単軸線双方向掃引信号をＹ軸偏向コイルに供
給し、一定電流を焦点コイルに供給する。通常の
棒材測定作動の下で、Ｘ軸偏向コイルには電流を
供給しない。これによつて、Ｙ軸走査は“Ｃ”走
査即ち第５図に示す光電陰極９１の中央の像変換
部の走査を行う。検出器５５がカメラ視野に棒材
１０がない信号を生じた時に、計算機２７はＸ軸
偏向コイルに正又は負のバイアス電流を供給して
右側又は左側較正マスク９４，９５を選択する。
このＸ軸バイアスは光電陰極９１面のＹ軸走査を
右又は左に動かし、第５図に示す“Ｃ”走査の両
側の“Ｒ”走査、“Ｌ”走査となる。 Ｘ軸バイアスの効果は、解像管９０の電子開口
９２上に右又は左較正マスク９４，９５を動かし
たことになる。Ｙ軸走査電圧をＹ軸偏向コイルに
供給すれば右又は左較正マスクの像は、“Ｃ”走
査の場合の棒材の影８１と同様に電子開口９２を
横切つて上下に動く。 計算機２７が較正マスク９４又は９５を選択し
た時に導線３４上に生ずるカメラパルスは、この
マスクと対応する寸法及び位置を有する棒材の影
８１が光電陰極上に結像された場合と同じパルス
幅を有することになる。 カメラ電子装置について説明する。 第１図の電気光学棒材寸法測定装置に使用する
カメラ電子装置は第４図にカメラ電子装置３５と
して示す。カメラ電子装置の詳細を第４図、第７
〜１３図に示す。図示の電子機器は通常のソリツ
ドステートデバイスであり、TTL（トランジス
タ・トランジスタ論理）論理素子を含みこれらは
論理記号で示してある。 第４図に示す双方向掃引発電機９７を第７図に
示し、第８図はタイミングダイアグラムである。
掃引発電機９７の12MHzクリスタル発振器１２
４は一連の基本矩形波クロツクパルス８Ａを棒材
測定装置の各部に供給する。処理された棒材パル
スの実際の測定以外にも、すべてのデジタル作動
をクロツクパルス８Ａ、双方向掃引信号８Ｅ、掃
引リセツトパルス８Ｄによつて同期させる。パル
ス８Ｅ，８Ｄは掃引回路内でほぼ300Hzで発生す
る。クロツクパルス８Ａ、掃引信号８Ｅは各掃引
サイクルにおいて掃引リセツトパルス８Ｄによつ
て同期される。このため、クロツクパルス８Ａの
所要のサブマルチブルを使用して掃引信号８Ｅを
分割して所要目的に使用できる。クロツクパルス
８Ａを実際の測定に使用し、他の棒材寸法制御装
置用としてはクロツクパルス８Ａを双方向掃引信
号８Ｅの周波数に分割して使用する。クロツクパ
ルス８Ａ及び双方向掃引信号８Ｅの周波数値自体
は、重要ではない。これは測定装置が標準寸法の
棒材を各カメラの視野に置いて較正されるためで
ある。しかし、掃引の安定性と掃引の直線性は、
測定装置の精度に直接影響するので重要である。 第４図に示すマスタークロツク９８は一連の
12MHzクロツクパルス８Ａと300Hzの掃引リセツ
トパルス８Ｄを双方向掃引発電機９７から受ける
マスタークロツク９８はバツフアー、デジタルカ
ウンター、割算器、論諭回路を有し、カメラ電子
装置３５全部に使用する同期パルス全部を供給し
てタイミング及び測定目的に使用する。このパル
スとして、緩衝した12MHzクロツクパルス８
Ａ、緩衝した300Hz掃引リセツトパルス８Ｄを含
む。他のパルスとして300Hz短寿命高速ストロボ
パルス８Ｈ及びパルス８Ｈと同様であるが寿命の
長いデータ準備パルスがある。このデータ準備パ
ルスは導線９９に供給され、他のパルスは第４図
に示す通り他の回路に供給される。 窓発振器１００はマスタークロツク９８から
12MHzクロツクパルス８Ａを受信し、ゲート及
び論理回路によつて第８図のタイミング図に示す
通り各双方向掃引サイクルの1/2毎に窓パルス８
Ｆを発生する。反転窓パルス８も発生する。窓
パルス８Ｆ，８は後述する他の回路に供給す
る。窓パルス８Ｆ，８の幅及びタイミングは、
計算機２７から導線１０１を経て供給される制御
パルスによつて定まる。簡単に述べれば、窓パル
ス８Ｆ，８の幅は掃引信号８Ｅが光電陰極９１
のみを掃引するに必要な時間に関し、この時間は
全300Hz掃引サイクルの上又は下半部の大部分で
ある。例えば、カメラ視野を7.62cm（３インチ）
とし、レンズを10.16cm（４インチ）とすれば
7.62cm（３インチ）の視野が光電陰極９１の全面
を覆うようにする。光電電極９１を超える走査が
掃引サイクル８Ｆの各上下半部で生ずる。この過
走査を各掃引サイクル８Ｅの各上下半部の始と終
との２個の時間間隔を等分する。かくして、窓パ
ルス８Ｆの持続時間（約75％）と、過走査（約25
％）との合計が双方向掃引サイクル８Ｅの各上下
半部の持続時間となる。他の実施例として、導線
１０１を通る計算機２７の制御信号に代えて、図
示しない選択ゲート回路によつて窓パルス幅を手
動設定することができる。 後述する計算機プログラムRTMASK、
LFTMSK、GAGRCL、CALIBRにおいて、窓発
振器１００を導線１０１を経てプログラムし、窓
パルス８Ｆ，８の定常寸法とタイミングとを変
更する。RTMASK、GAGRLCプログラムにおい
ては、窓パルスの寸法とタイミングとは第５図の
右側較正マスク９４の寸法と位置に合せて設定す
る。LFTMSKプログラムにおいては夫々の左側
較正マスク９５の寸法と位置に相当する寸法とタ
イミングとした５個の窓パルスを発生し、選択的
に全部の左側較正マスク９５をカバーする。
CALIBRプロケラムにおいては、窓パルスの寸法
とタイミングとは右側及び左側較正マスク９４，
９５の寸法と位置に対して選択的に設定する。サ
ブルーチンGAGEINプログラムにおいて定常の窓
パルス８Ｆ，８の寸法を後述する通りに設定す
る。 第４図に示す通り、双方向掃引信号８Ｅは掃引
発電機９７からＹ軸コイル偏向励振器１０２を経
てコイル装置９３のＹ軸偏向コイルに供給され
る。焦点コイル電源１０３からの一定電流は焦点
コイルに供給される。焦点電流の値を調整して、
光電陰極９１上の各点から放射されたすべての電
子を電子開口９２の面の一点に焦中させる。 Ｘ軸コイル励振１０４はコイル装置９３のＸ軸
偏向コイルに接続する。通常の棒材寸法測定制御
作動間はＸ軸コイルには電流を供給しない。それ
故、Ｙ軸上の垂直走査は第５図に示す通り、光電
陰極９１の像伝達部の中央の“Ｃ”走査となる。
計算機２７の後述するRTMASK、LFTMSKプロ
グラムにおいて、計算機２７から制御導線１０
５，１０６を経てＸコイル励振器１０４に供給さ
れる指令信号によつて励振器１０４は正又は負の
バイアスをＸ軸コイルに供給する。Ｙ軸の垂直走
査線は右又は左に移動して右側マスク９４又は左
側マスク９５上の“Ｒ”走査又は“Ｌ”走査とな
る。計算機２７の指令でなく、手動で正又は負の
バイアス電流を供給することもできる。 上述した通り、解像管９０の走査はコイル装置
９３によつてＹ軸の単一走査又は垂直双方走査を
所要に応じて行い、帰線消去のない上下掃引とし
て連続的に走査する。通常の棒材測定制御作動間
はＸ軸掃引は行はず、棒材の影８１を測定しない
時に装置較正のために正又は負のバイアスを供給
する。 棒材の影８１がカメラ視野を走査される時に、
棒材の影８１に入つた時に解像管９０の出力電流
は急激に低下し、影８１を過ぎた時に急激に増加
する。この電流変化は圧延機からの電気的ノイズ
と共に電圧に変換され、第４図に示さない前置増
幅器を経て増幅され、カメラヘツド３１からの生
のカメラ信号出力として導線３４に供給される。
この生のカメラ信号は未修正棒材パルスとノイズ
とから成る。 カメラヘツド３１に組合せた解像管９０を作動
する自己平衡測定ループ１０７にはカメラパルス
プロセサ１０８、導線１１０を経て可変制御電圧
を生ずる光電子増倍（PM）AGC回路１０９、解
像管９０のPM部用の電圧制御高圧電源１１１を
有する。別の安定ドリフト部高圧電源１１２がド
リフト部に電圧を供給する。 カメラパルスプロセサ１０８を第９，１０図に
示し、第１１図はプロセサのタイミングパルスを
示す。カメラパルスプロセサについては後述する
が簡単に説明すれば緩衝回路、微分器、レベル検
出器、ゼロ交叉検出器、自己相関器を有し、生の
カメラ信号及び微分器のノイズを除く。プロセサ
の論理回路内で信号を反転窓パルス８と組合せ
て、正しいタイミングで発生する有効振幅の棒材
パルスのみを測定用に出力する。窓が開いていな
い時は棒材パルスは通過しない。カメラパルスプ
ロセサは緩衝カメラ信号１１Ａ及び内部フリツプ
フロツプからの精密矩形波棒材パルス１１Ｐ，１
１Ｐを発生する。棒材パルス幅は棒の影８１に比
例して変化し、棒材側縁８２，８３間の寸法に比
例する。 光電子増倍（PM）AGC回路１０９は第１２図
に示し、後に詳述するが、緩衝カメラ信号１１Ａ
を受け、比較器、スイツチ付き積分器、増幅器を
有し、導線１１０にスイツチした可変制御電圧を
供給する。この制御電圧はPM部高圧電源１１１
に供給されて解像管９０の利得を変化させる。こ
の比較器は基準利得レベルを定め、内部論理回路
は窓パルス８Ｆと反転棒材パルス１１とを組合
せてAGCプランキングパルス８Ｇを発生する。
このAGCプランキングパルスはカメラ信号をサ
ンプリングする時間間隔を定める。 自己平衡測定ループ１０７の作動を説明する。
測定装置内に棒材１０のない時は光源３０からの
光が光電陰極９１上に照射する。これによつて解
像管９０のPM部に電流を生じ、導線３４に流れ
る。この電流は光源３０からの光の強さに比例す
る。解像管９０のPM部の利得は回路１０９の生
ずるAGC制御電圧の有効レベルよつて最初は高
レベルに調整される。光の強さが減少し、又は解
像管９０が老化すればAGC回路１０９はこの変
化を補償し、電源１１１からのPM部高電圧の値
を調整して管９０のPM部の利得を変化させ、カ
メラ信号を一定振幅に保つ。 棒材１０が光源３０の光の経路内にあるときに
もAGC回路１０９は解像管９０の一定出力振幅
を保つ作動を行う。それ故自己平衡測定ループ１
０７は解像管９０の作動を高感度レベルに保ち、
同時に信号ノイズ比を高い値に保ち、生のカメラ
パルスの有効な処理を可能にする。 第４図に示す通り、精密棒材パルス１１Ｐ、ク
ロツクパルス８Ａ、クロツクリセツトパルス８
Ｄ、急速ストロボパルス８Ｈが表示タイミング回
路１１３に供給される。内部論理回路は双方向掃
引サイクル間に生ずる２個の棒材パルス１１Ｐの
接続時間の間クロツクパルス８Ａを計数し２で割
る。この計数を同期するクロツクリセツトパルス
８Ｄは各双方向掃引信号８Ｅの終りに生ずる。論
理回路は急速ストロボパルス８Ｈによつて応答し
て二進棒材寸法信号を、導線１１４に表示用に出
力する。表示のちらつきを防ぐために、二進棒材
寸法信号は所定数の、例えば、４、32、512掃引
数について平均値とする。 二進棒材寸法信号は導線１１４を経てデジタル
表示器１１５に供給される。表示器１１５に内蔵
するカウンターデコーダーデイスプレーモジユー
ルはカメラ視野に入つた棒材１０の未修正棒材寸
法の十進値を表示する。未修正寸法とは、光学電
子非線形、棒材温度及び組成に基く修正を施す前
の棒材寸法の意味である。 未修正棒材寸法信号を受けた計算機２７は修正
を行つて修正二進棒材寸法信号を導線１１６を経
て修正寸法表示器１１７に供給する。この表示器
１１７も表示器１１５と同じ構造である。デジタ
ル表示器１１５，１１７はクロツクリセツトパル
ス８Ｄ、急速ストロボパルス８Ｈの制御によつて
512掃引数毎に同期更新した寸法を可視表示す
る。両表示器１１５，１１７の表示寸法差は測定
装置操作者及び圧延機操作者に対して、(a)測定装
置の修正機能は正しく作動すること、及び(b)圧延
機は目標寸法の製品を圧延していることを知らせ
る。 棒材パルス１１Ｐの計算機による修正は、棒材
寸法を正確に定めるだけでなく、カメラヘツド３
１の光軸に対するカメラ視野内の棒材中心位置に
関して修正を行う。このために、棒材パルス１１
Ｐ、クロツクパルス８Ａ、クロツクリセツトパル
ス８Ｄ、急速ストロボパルス８Ｈを棒材寸法及び
位置アキユムレータ１１８に供給する。アキユム
レータ１１８を第１３図に示しパルスのタイミン
グは第８図に示し、後に詳述する。２組の計数ラ
ツチ回路は共通制御ゲートによつて制御され、導
管１１９に二進の棒材出力信号を供給し、導線１
２０に二進の棒材中央線位置出力信号を供給す
る。二進棒材寸法信号は上述の表示タイミング回
路１１３に生ずる未修正棒材寸法信号と同様であ
る。二進棒材位置信号に基づいてカメラ視野の1/
２５６の精度で棒材寸法信号の誤差を修正すること
ができる。 計算機２７及び装置各部間のデータの移送は計
算機データ移送論理回路１２１によつて行う。論
理回路１２１は導線１２２を経て指令信号を受
け、計算機２７がデータ移送可能であることを知
る。指令信号１２２は導線９９上のマスタークロ
ツク９８の生ずるデータレデイパルスと組合され
る。組合せによつて、論理回路１２１は送り要求
信号を導線１２３上に生じ、計算機２７と測定装
置のタイミングの同期を取る。 双方向掃引発電機について説明する。 第７図は双方向掃引発電機９７のブロツク線図
を示し、第８図にタイミング線図を示す。7.62cm
（３インチ）直径の視野で一般公差の1/4の装置精
度で棒材寸法測定を行うためには、解像管９０の
Ｙ軸上の双方向掃引は精度が高く反覆可能である
ことを必要とする。通常のアナログ掃引回路はこ
の要求レベルに達し維持することは困難である。
装置精度の低下を許容する場合にはアナログ掃引
回路も使用可能となる。しかし、本発明測定装置
の高精度を得るためには、Ｙ軸の双方向掃引のた
めに、時間ベースとしてクリスタル発振器を使用
したデジタル装置、デジタル計数器、実際の双方
向掃引波形８Ｅを生ずる14ビツトデジタルアナロ
グ変換器を使用する。デジタル装置によつて後述
する通り掃引波形８Ｅおを変形する。 時間ベースを生ずるための高安定12MHzクリ
スタルクロツク発振器１２４は矩形波出力を有す
る。緩衝器１２５は時間ベース１２４の掃引作動
間の不均等負荷を防ぎ、一連のクロツクパルス８
Ａを微分ライン励振器１２６に供給する。励振器
１２６の出力はクロツクパルス８Ａとしてカメラ
電子装置３５のマスタークロツク９８に供給す
る。緩衝器１２５の出力はクロツクパルス８Ａを
デジタル分周器１２７に供給し、分周器１２７の
計数論理回路は波形８Ｂ，８Ｃを生ずる。波形８
Ｂはアツプダウンカウンタ１２８即ち14ビツト二
進反転カウンタの入力となる。波形８Ｂは基本ク
ロツク周波数の5/12、即ち5MHzである。波形８
Ｃはタイミングパルスであり、カウンタ反転論理
回路１２９に供給され、12クロツクサイクル間に
２回生ずる。波形８Ｂには12クロツクサイクル間
に５パルス位置を使用し、波形８Ｃは２パルス位
置を使用する。それ故、双方向掃引期間の12クロ
ツクサイクルにおいて未使用の５位置が残る。 アツプダウンカウンタ１２８が全部１の全カウ
ントに達したことをカウンタ反転論理回路１２９
が感知した時に、回路１２９はカウントダウン可
能信号をカウンタ１２８に通す。カウントダウン
のタイミングは全カウントに達した後の第１のタ
イミングパルス８Ｃに生ずる。カウンタ１２８が
カウントダウン可能信号を感知した時は次のクロ
ツクパルス８Ｂでカウントダウンを開始する。論
理回路１２９がカウンタ１２８の全部０を感知し
た時は、タイミングパルス８Ｃが次に生じた時に
カウントアツプ可能信号を生ずる。次のクロツク
パルス８Ｂでカウンタ１２８はカウントアツプを
開始する。 アツプダウンカウンタ１２８は14ビツト二進出
力を生じ、導線１３０を経て14ビツト二進DA変
換器１３１に供給する。DA変換器１３１はカウ
ンタ１２８に応答して著しく直線のアナログ双方
向掃引信号８Ｅを生ずる。この信号は掃引回路緩
衝器１３２で緩衝されてDA変換器の過負荷を防
ぎ、掃引信号８Ｅとしてカメラ電子装置３５のＹ
コイル励振器１０２に供給される。 アツプダウンカウンタ１２８が最終のダウンビ
ツトに達した時はリセツトパルス８Ｄを生じて論
理回路１２９、DA変換器１３１をリセツトす
る。微分ライン励振器１３３はリセツト信号をカ
メラ電子装置のマスタークロツク９８に供給す
る。 前述した通り、12クロツクサイクル間に５個の
未使用パルス位置がある。この位置を使用して第
７図に点線で示す通り、デジタル掛算器１３４を
デジタル割算器１２７とアツプダウンカウンタ１
２８との間に直列に接続して直線性の高い掃引信
号８Ｅに正確な非直線変形を与えることもでき
る。デジタル掛算器１３４は波形８Ｂを受けて変
型波形８B′を生ずる。アツプダウンカウンタ１２
８は波形８B′とタイミングパルス８Ｃとによつて
指令信号を変化させ、掛算器の特性に応じて総計
アツプカウント又は総計ダウンカウントを変化さ
せる。このようにすると、変形掃引信号８E′に
示す通り、僅に曲線の辺を有する三角形掃引が生
ずる。 デジタル掛算器１３４の指令入力は導線１３５
によつて計算機２７から供給される。図示しない
装置によつて手動設定することもできる。この掛
算器を使用して光学的及び又は電子的誤差を修正
する掃引修正を行うために使用され、この種の修
正装置は使用されていなかつた。 カメラパルスプロセサについて説明する。 カメラパルスプロセサ１０８は第９，１０図に
ブロツク線図を示し、第１１図にタイミング線図
を示す。カメラパルスプロセサ１０８は導線３４
上の生のカメラパルスを導線１１Ｐ上の正確な棒
材出力パルスに変換し、棒材両側縁８２，８３間
の寸法関係を正確に代表する両縁間の幅としたパ
ルスとなる。後述する微分器、自己相関器等の構
成素子によつて、カメラパルスプロセサ１０８は
最大約300Hzのカメラ走査速度において生のカメ
ラパルスを処理可能であり、カメラ信号及び微分
器のノイズ効果を除去できる。 第９図はカメラパルスプロセサ１０８のブロツ
ク線図を示し、導線上の記号１１Ａ−１１Ｐは第
１１図の波形によつて示される。導線３４上のカ
メラ信号は緩衝器１３６によつて緩衝増幅されて
信号１１Ａを生ずる。信号１１Ａは第１の微分器
１３７で微分されて出力１１Ｂとなる。信号１１
Ｂは低及び高しきい値検出器１３８，１３９に供
給され、出力１１Ｃ，１１Ｄを得る。検出器１３
８，１３９は正入力が負入力よりも低い電圧であ
る時に出力信号を発生する。 第１の微分信号１１Ｂは第２の微分器１４０に
よつて再び微分されて出力１１Ｅとなる。出力１
１Ｅを始動及び停止ゼロクロスオーバー検出器１
４１，１４２に供給される。検出器１４１，１４
２は１ミリボルトより大きい値の正負のゼロ交叉
遷移に際してトリガされ、棒材パルス始動ゼロ停
止ゼロ出力１１Ｆ，１１Ｇを生ずる。この出力１
１Ｆ，１１Ｇは低及び高しきい値信号１１Ｃ，１
１Ｄと共に固定遅延自己相関器１４３に供給す
る。後述する通り、出力信号１１Ｆ，１１Ｇは回
路１４３の内部で処理されて夫々信号１１Ｍ，１
１“０”を生ずる。低高しきい値信号１１Ｃ，１
１Ｄは棒材パルス始動停止信号１１Ｍ，１１
“０”に対する狭い窓を形成して信号１１Ｍ、１
１“０”をトリガし、棒材出力パルス１１Ｐの前
縁後縁を形成する正確なタイミングを生ずる。 前述した通り、導線３４上の電子カメラ３１の
信号は電気的ノイズも含む。このノイズは高周波
低振幅のノイズであり、電子カメラ附近の高電
流、SCR作動、圧延機駆動モータ制御装置から
電子カメラ信号に磁気的に結合された周波数を有
する。固定遅延自己相関数１４３を使用しなけれ
ば、このノイズも棒材出力パルス１１Ｐのトリガ
を生ずる場合がある。例えば、カメラ信号１１Ａ
の転移が検出器１３８の限界−3Vよりも低い第
１の微分電圧１１Ｂを生じた時は低しきい値信号
１１Ｃは可能化してゼロ交叉検出器１４１は棒材
出力パルススタートトリガ信号を発生させる。微
分器１３７，１４０の利得は入力周波数と共に増
加するため、低振幅高周波数ノイズスパイクは検
出器１３８の−3Vしきい値より低い第１微分器
１３７出力信号１１Ｂを発生することがある。こ
れは棒材パルス発生回路の増強を行はない時に圧
延機周辺で実際に生ずる。 このために、生のカメラパルスプロセサ１０８
の固定遅延自己相関器１４３には第１０図に示す
通り、個別の自己相関器棒材パルス始動及び停止
回路１４４，１４５を有する。棒材パルス始動及
び停止回路１４４，１４５は有効棒材パルス信号
により生じた第２微分信号１１Ｅから高周波ノイ
ズによつて生じた第２微分信号成分を弁別する。
カメラ信号１１Ａの低下縁では第２微分信号１１
Ｅは正電圧に約10ミリ秒間上昇し、次に負電圧に
低下する。図示を明瞭にするために第１１図の信
号１１Ｅの波形は実際の寸法関係ではない。検出
器１４１，１４２による第２微分信号１１Ｅのゼ
ロ交叉検出は信号１１Ｍ，１１“０”の始動停止
棒材パルスのトリガ点であり、棒材出力パルス１
１Ｐの前縁と後縁を定める。 自己相関器の棒材始動停止回路１４４，１４５
は第２微分信号１１Ｅの夫々の10ミリ秒の上昇降
下時間を有効に利用する。このためには、後述す
る自己相関器可能化始動及び停止信号１１Ｌ，１
１Ｎを生ずる。自己相関器始動可能化信号１１Ｌ
は、第２微分信号１１Ｅが負に低下する前に少な
くとも10ミリ秒の1/2の時間だけ連続的に正であ
る時に発生する。同様に、自己相関器停止可能化
信号１１Ｎは第２微分信号１１Ｅが正に上昇する
前に少なくとも10ミリ秒の1/2時間だけ連続的に
負である時に発生する。 実己相関器始動停止可能化信号１１Ｌ，１１Ｎ
は回路１４４，１４５で夫々の低しきい値信号１
１Ｃ，１１Ｄ及び棒材パルス始動停止ゼロ交叉信
号１１Ｆ，１１Ｇに論理加算された棒材パルス始
動停止信号１１Ｍ，１１“０”を生ずる。信号１
１Ｍ，１１“０”によつて棒材出力パルス１１Ｐ
が正慨に生ずる。上述によつて明らかな通り、第
２微分信号１１Ｅの正負の漂遊を生ずる高周波ノ
イズは５ミリモル秒以下の持続時間であるため自
己相関器可能化始動停止信号１１Ｌ，１１Ｎを生
ずることなく、棒材出力パルス１１Ｐのトリガは
防がれる。 第１０図について、自己相関器棒材パルス始動
回路１４４の作動を説明する。自己相関器棒材パ
ルス停止回路１４５の作動は同様であるが、第２
微分信号１１Ｅが正となる前に10ミリ秒間連続的
に負であることに応答する。両回路１４４，１４
５共に通常の論理回路を使用する。 低しきい値信号１１Ｃは増幅器１４６で反転さ
れるナンドゲート１４７の３入力の中の１個に供
給される。ナンドゲート１４６は所定論理条件で
棒材パルス始動信号１１Ｍを生ずる。 棒材パルス始動ゼロ交叉信号１１Ｆはシユミツ
トトリガ１４８に供給され増幅器１４９で反転さ
れてトリガ信号１１Ｈとしてナンドゲート１４７
及びワンシヨツト遅延回路１５０に供給される。
信号１１Ｈの負となる転移はワンシヨツト遅延回
路１５０をトリガして５ミリ秒の論理“１”パル
ス１１ＩをＱ出力に発生し、５ミリ秒の論理
“０”パルス１１Ｊを出力に発生する。パルス
１１Ｉはアンドゲート１５１の入力に供給され
る。シユミツトトリガ１４８の出力はアンドゲー
ト１５１の他方の入力に供給されると共にフロツ
プフロツプデバイス１５２のリセツト入力に供給
される。高しきい値信号１１Ｄはフリツプフロツ
プ１５２のデータ入力に供給され、カメラ信号１
１Ａの低下縁の間に自己相関器始動回路１４４を
可能化し、信号１１Ａの上昇縁の間に回路１４４
不作動とする。 信号１１Ｈが負となる時は反転器１４９の入力
は正となる。正となる作用はフリツプフロツプ１
５２のリセツト条件を取除き、アンドゲート１５
１の入力に論理“１”を供給する。ここでゲート
１５１はパルス１１Ｉをフリツプフロツプ１５２
のクロツク入力に通し、Ｑ出力に論理“１”パル
ス１１Ｋが生ずる。５ミリ秒の遅延の後にワンシ
ヨツト遅延回路１５の遅延時間は経過し、出力
は状態を変化し論理“１”パルス１１Ｊとなる。
パルス１１Ｊはフリツプフロツプ１５３のクロツ
ク入力となる。フリツプフロツプ１５３のデータ
入力には信号１１Ｋがフリツプフロツプ１５２の
Ｑ出力から供給される。 信号１１Ｋが論理“１”ならば、フリツプフロ
ツプ１５３出力Ｑはセツトされ、始動可能信号１
１Ｌを生ずる。信号１１Ｌは信号１１Ｈから生
じ、信号１１Ｈ及び低しきい値信号の反転した信
号１１と共にナンドゲート１４７に供給されて
棒材パルス始動信号１１Ｍを生ずる。上述の通
り、棒材パルス信号は遅延され組合されて固定遅
延自己相関機能を生ずる。 ワンシヨツト遅延デバイス１５０の制御する５
ミリ秒間にシユミツトトリガ１４８の出力が低と
なつた時、即ち第２微分信号１１Ｅが有効棒材信
号よりも、著しく狭い時は、フリツプフロツプ１
５２のリセツトは低となり信号１１Ｋは論理
“０”となる。ワンシヨツト遅延デバイス１５０
の５ミリ秒後に遅延時間が終れば、データ入力低
のフリツプフロツプ１５３を信号１１Ｋがクロツ
クする。このため、フリツプフロツプ１５３のＱ
出力は論理“０”となり、棒材信号の処理は行は
ない。 ワンシヨツト遅延デバイス１５０は再トリガ可
能であり、次々にトリガパルス１１Ｈを受ける。
５ミリ秒より少ない持続時間の複数のトリガパル
スがワンシヨツト遅延デバイス１５０をトリガす
ればＱ出力信号１１Ｉはすべてのパルスに対して
高を保ち、最後のトリガパルスの後に５ミリ秒の
時間が経過する。アンドゲート１５１はフリツプ
フロツプ１５２を各パルス毎に再クロツクする。
ワンシヨツト遅延デバイス１５０の出力は多トリ
ガパルスの間は連続的に高であるため、信号１１
Ｉをアンドゲート１５１内でシユミツトトリガパ
ルスと組合せればフリツプフロツプ１５２のクロ
ツクラインは各トリガパルスに対して“０”から
“１”に論理転移する。 前述の通り、棒材パルス停止回路１４５は回路
１４４と同様であるが、異なる点は停止回路１４
５が連属的に負の第２微分器信号１１Ｅが正とな
ることでトリガされる。このため、インバータ１
５４、ナンドゲート１５５、シユミツトトリガ１
５６、インバータ１５７、ワンシヨツト遅延デバ
イス１５８、アンドゲート１５９、フリツプフロ
ツプ１６０，１６１は回路１４４の反対で同じ機
能を有する。それ故、回路１４５については詳述
しない。 生のカメラ棒材信号内の電気的ノイズ及び微分
器１３７，１４０で生じたノイズを取除いた後
に、棒材パルス始動停止信号１１Ｍ，１１“０”
は夫々の回路１４４，１４５の出力となり、棒材
縁部８２，８３に相関した棒材パルス前後縁のタ
イミングを正確に示す。ここで、信号１１Ｍ，１
１“０”をフリツプフロツプ１６２のセツトリセ
ツト入力に夫々供給する。第８図に示す反転窓パ
ルス８は窓発振器１００からフリツプフロツプ
１６２のクロツク入力に供給する。フリツプフロ
ツプ１６２のデータ入力は０ボルトに固定する。
このため、窓パルス８Ｆの存在する間だけフリツ
プフロツプ１６２を可能化する。窓パルスの幅と
タイミングとは前述した通り寸法測定作動によつ
て定まり、較正には無関係である。 棒材測定作動間、フリツプフロツプ１６２のＱ
出力は正確な棒材出力パルス１１Ｐを生じ、前縁
後縁はノイズの影響がなく正確に棒材１０の横方
向寸法を代表する。計算機２７が較正のため
RTMASK又はLFKMSKプログラムを選択した時
は、棒材パルス１１Ｐは正確に右又は左のマスク
９４，９５の寸法を示す。 光電子増倍（PM）AGC回路について説明す
る。 解像管９０の光電子増倍部（PM）用のAGC回
路１０９を第１２図に示し、自己平衡測定ループ
１０７の重要な部分を形成する。AGC回路１０
９には比較器１６３、スイツチ付積分器１６４、
励振増幅器１６５を有する。増幅器１６５は導線
１１０を通るスイツチ可変制御電圧によつてPM
部高圧電源１１１を励振する。この制御電圧は解
像管９０の自動利得制御（AGC）となる。この
ために、PM部高圧電源１１１、を変化させて解
像管９０内の陽極電流を一定の基準値に保つ。 緩衝カメラ信号１１Ａは加算抵抗１６６、加算
接合部１６７を経て比較器１６３の一方の入力に
供給される。加算接合部１６７はダイオード１６
８によつて正となる入力となる。比較器基準電圧
は電源１６９から供給されポテンシオメータのス
ライダ１７０によつて調整されて棒材パルスをオ
フセツトし、スイツチ制御電圧の公称値を生じ、
高圧電源１１１を公称利得発生値に設定する。 緩衝されオフセツトされた棒材パルスは加算接
合部１６７を経てスイツチ付積分器１６４の電子
スイツチ１７１に供給される。窓パルス８Ｆと反
転棒材パルス１１がアンドゲート１７２に供給
されて第８図に示すAGCブランキングパルス８
Ｇを生ずる。窓パルスが存在し棒材パルスがない
時はAGCブランキングパルス８Ｇは電子スイツ
チ１７１を導通させて電流を積分増幅器１７３に
導通させ、積分コンデンサ１７４を充電する。窓
パルス８Ｆ、棒材パルス１１Ｐ共に存在する時は
電子スイツチ１７１は開き積分器出力は接合部１
７５において励振増幅器１６５に対する公称値入
力を保つ。 励振増幅器１６５の加算抵抗１７６は一端を積
分器出力接合部１７５に接続され、他端を演算増
幅器１７７の入力に接続する。フイードバツク抵
抗１７８は励振増幅器１６５の利得を制御する。
ツエナーダイオード１７９は励振増幅器１６５の
利得を制限して、過大制御電圧が導線１１０に供
給され高圧電源１１１をオーバードライブするも
のを防ぐ。上述した通り、AGCブランキングパ
ルス８Ｇがない時は緩衝カメラ信号１１Ａが
AGC回路１０９を導通しPM部高圧電源１１１を
変化させる。AGCブランキングパルス８Ｇの存
在する時は棒材信号１１Ａは通過せず、PM・
AGC回路１０９の出力は積分器１６４のコンデ
ンサ１７４の充電によつて定まる一定値となる。 棒材寸法位置アキユムレータについて説明す
る。 第４図に示した棒材寸法位置アキユムレータ１
１８の詳細を第１３図に示し、第８，１１図のタ
イミング線図も参照する。本発明により測定制御
装置では計算機２７に供給される未修正のデジタ
ル棒材寸法データ及び棒材位置データは表示器１
１５に供給される未修正棒材寸法及び位置データ
と同様にして別個に発生される。アキユムレータ
１１８の制御ゲート１８０には棒材パルス１１
Ｐ、クロツクパルス８Ａ、クロツクリセツトパル
ス８Ｄ、急速ストロボパルス８Ｈが供給され、棒
材寸法アキユムレータ回路１８１、棒材位置アキ
ユムレータ回路１８２に配分される。回路１８２
はカメラ視野内の棒材中心線の位置を定める。両
回路１８１，１８２はクロツクリセツトパルス８
Ｄによつて同期され、掃引サイクル完了毎にスト
ロボパルス８Ｈによつてカウントは記憶回路に移
される。 制御ゲート１８０は各棒材パルス１１Ｐの前縁
及び後縁を検出し、掃引サイクルの上下半部間に
生ずる２個の棒材パルス中に発生するクロツクパ
ルス８Ａの個数を２で割る。制御ゲート１８０は
クロツクパルスを回路１８１の14ビツト二進カウ
ンタ１８３のクロツク入力に供給し、２個の棒材
パルスのカウント値を２で割つた値を記憶する。
第１の掃引サイクルの終りにカウンタ１８３内の
寸法パルスカウンタは14ビツト二進ラツチ１８４
のデータ入力に移送される。ストロボパルス８Ｈ
はその前にラツチ１８４のラツチロツク入力に供
給される。第２のサイクルの開始に際してカウン
タ１８３はクロツクリセツトパルス８Ｄによつて
消去され新しいパルスカウントを受ける準備状態
となる。 第１掃引サイクルで得られた棒縁部８２，８３
間の棒材未修正寸法を表わす14ビツトデジタルデ
ータは第２掃引サイクルの間中ラツチ１８４に記
憶される。第２の掃引サイクルの間このデータは
ケーブル１１９によつて計算機２７に移送され、
後述する計算機プログラムCMPNSTによつて修
正される。第２の掃引サイクルの終りにカウンタ
１８１のデータはパルス８Ｈによつてラツチ１８
４に移され、かくしてサイクルを繰返す。棒寸法
パルスの計数は常に１回の掃引サイクルであり、
カウントはアキユムレータ回路１８１のラツチ内
に記憶される。 制御ゲート１８０は掃引サイクルの上昇半部中
に第８図の波形８Ｇに示す第１の棒材パルス１１
Ｐの棒材パルス縁部１８５を検出すると共にこの
掃引サイクルの下降半部においてパルス縁部１８
６を検出する。制御ゲート１８０はパルス前縁１
８５，１８６間の掃引時間を定め、この時間を２
で割つて棒材中央線位置掃引時間を定める。更
に、制御ゲート１８０は一連の12MHzクロツク
パルス８Ａを割算器１８７によつて１６０で割り
棒位置時間基準クロツクパルス８Ａ／160を生ず
る。8A／160クロツクパルスは棒位置アキユムレ
ータ１８２の８ビツト二進カウンタ１８８に棒中
央線位置掃引時間の持続時間の間供給する。カウ
ンタ１８８に登録されたカウントはカメラ視野内
での棒材１０の中央線位置を示す。この棒材中央
線位置は寸法アキユムレータ等で測定する寸法測
定値とは全く無関係に決定される。 第１の掃引サイクルの終点において、カウンタ
１８８内の中央線位置カウントは８ビツト二進ラ
ツチ１８８のデータ入力に転送されるラツチ内の
前入力はストロボパルス８Ｈによつて計算機に送
られている。第２のサイクルの始にカウンタ１８
８はクロツクパルス８Ｄによつてリセツトされ、
新しい棒材中央線位置パルスカウンタを受ける状
態となる。 棒材中央線位置を代表する８ビツトデータは第
２の掃引サイクルの開始時にはラツチ１８９内に
記憶される。第２の掃引サイクルの間に８ビツト
データはケーブル１２０を経つて計算機２７に移
送され、後述する計算機プログラムCMPNSTに
おいて棒材寸法データの光学誤差修正用とする。
第２の掃引サイクルの終りにカウンタ１８８のデ
ータはパルス８Ｈによつてラツチ１８９に入り、
このサイクルを繰返す。棒材中央線位置パルスの
カウントは常に１掃引サイクルで行なわれ、アキ
ユムレータ１８２内にラツチされる。 棒材位置アキユムレータ１８２は掃引サイクル
の1/2を256分割し、１分画は0.46mm（0.016イン
チ）となる。カメラヘツドの光学中心線は第128
分画となる。分画合計は10.404cm（4.096イン
チ）のＹ軸偏向コイルのＹ軸掃引を示す。使用可
能視野は約7.62cm（３インチ）である。使用しな
い視野は2.784cm（1.096インチ）であり、Ｙ軸偏
向コイルは光電陰極９１の上下縁を超えて掃引を
行う。 計算器について説明する。 第１図にブロツク線図として示した電気光学棒
材寸法測定制御装置の計算機２７を第１４図に示
す。計算機２７は後述する各種機能を行うプログ
ラムとしたデジタル装置である。市販のフオート
ランのプログラム可能マイクロ計算機を使用する
こともでき、所要に応じて圧延機制御計算機装置
の一部とすることもできる。計算機２７の例とし
てウエスチングハウスエレクトリツク社のＷ−
2500型に後述する各種プログラムを行う素子を組
合せた型式がある。 計算機２７は通常の主構成部分として、入力バ
ツフア１９０、出力バツフア１９１、デイスク記
憶装置１９２、デイスクスイツチ１９０、コア記
憶装置１９４を有し、データプロセスユニツト１
９５によつて各チヤンネル間を結合する。計算機
２７の作動はオフライン及びオンライン計算機プ
ログラム１９６に応じて順次制御される。プログ
ラムは第１５，１６図に示す計算機マツプ１９
７、サービスプログラム１９８、棒材寸法データ
プログラム１９９、補償プログラム２００、較正
プログラム２０１、再較正プログラム２０２、ヒ
ストグラムプログラム２０４であり、すべて後述
する。 棒材寸法測定装置計算機２７と外部装置との接
続は入力バツフア１９０によつて行はれ、バツフ
ア１９０には入力アナログ及びデジタル信号をデ
ジタルに変換する装置を有する。導線又はケーブ
ルによつて計算機に供給される入力信号は次の通
りである。ケーブル３６によつてカメラ電子装置
３５、導線５８によつて高温金属検出器５７、ケ
ーブル５３，５４によつて棒材温度５０、導線４
３によつて棒材自標寸法４２、導線４５によつて
棒材組成４４、ケーブル４７によつて他の作動デ
ータ４６、ケーブル６８によつて制御装置６７、
ケーブル６１によつてCRT端子６０、ケーブル
６４によつて印字端子６３に接続する。 計算機２７の出力を外部装置に接続するのは出
力バツフア１９１であり、出力信号をデジタル及
びアナログに変換する装置を有する。出力信号と
しては、ケーブル６６によつて制御装置６７、ケ
ーブル３７によつてカメラ電子装置３５に接続す
る。 図にはケーブル、導線共に１本の線として示し
たが所要機能を行うための所要数の素線を組合せ
たケーブルを使用するのが通常である。 CRT端末６０には操作盤を有し、作業者から
計算機２７に手動指令を可能にする。 印字端末６３に操作盤を有し、操作の手動指令
を可能をする。端末６３の計算機プリント６５に
は棒材直径の変化及び下記の表のデータを含む。 端末６０，６３は同じデータをプロツトするこ
ともできる。操作盤からの操作は下記のプログラ
ムネモニツクスコードによつて行う。 ネモニツクスを次に示す。 HS：各ヘツド用ヒストグラム MP：視野補償マツプの作成 CL：左右側マスクで較正チエツクを行う。 TY：マツプ、スロープ及びオフセツト関数、マ
スクの値の印字、 OF：スロープ及びオフセツト修正率を入れる ZE：すべてのマツプ及び修正率を０にする……
注意…… LF：左側マスクのドリフトテスト RT：右側マスクのドリフトテスト（窓を入れ
る） TR：制御SYS部に共通ゲージをデイスクに移送 XT：モニターに出力；マツプ、スロープ、オフ
セツト修正率、マスク値、窓値をデイスクに書
込む。デイスクスイツチが上の時にデイスクフ
アイルを更新・このタスク２０がモニターに呼
ばれた時にフアイルをデイスクから続出。 デイスクスイツチ１９３にはスイツチ１０とス
イツチ２０とを有する。デイスク上のプログラム
又はデータを更新する時にはスイツチを“書込み
可能”位置とする。 計算機プログラムについて説明する。 次の表は計算機プログラム１９６に組合された
プログラムを示す。
【表】
【表】
マツプ１９７プログラムについて説明する。
DISCMAPプログラムは第１５図に示す。プロ
グラムアドレスはデイスク記憶装置１９２。 CORE MAPプログラムは第１６図に示す。プ
ログラムアドレスは16進コア記憶装置１９４。 サービスプログラム１９８について説明する。 IDL HANDLERプログラム；Ｍ：IDLプログ
ラムはIDLハードウエア（チヤンネル３０，３
２）とゲージデータ入力サブルーチンGAGEINと
の間のすべてのデータ移送を取扱う。IDLチヤン
ネル励振器CD：IDLを経てIDLハードウエアに結
合する。二重バツフア装置を使用して全移送時間
速度を大とし、ハンドラーから出る直前に第２の
データバツフアに対する両チヤンネルのIDL移送
を開始させる。これによつて、ゲージソフトウエ
アは第１のバツフアからのデータを中断なく処理
する間に、シーケンス外レンジとしてサービス要
求割込み（SRI′s）を使用して、IDLハードウエ
アによる第２のバツフアへのデータ移送を行う。
この処理が完了すればハンドラーは再び入る。第
２のバツフアへのデータ移送が完全でない時は、
タスクは保留され、IDL外部MACROルーチンが
バツフアのオーバーフロー割込みを検出する。第
２のバツフアのオーバーフローか終了した時は
IDL外部MARCOルーチンがED：IDLプログラム
を開始しタスクの保留は解除される。第２のバツ
フアのデータ移送が完了し、又はEB：IDLによ
つて保留が解除されれば、バツフアは切替えられ
て第１バツフアを使用するデータ移送が開始さ
れ、ハンドラからの出口が生ずる。ゲージソフト
ウエアは第２バツフアのデータを処理し、このシ
ーケンスを繰返す。 各IDL移送を開始する前に、0.5秒のタイムア
ウトを有するウオツチドツグタイマーをセツトす
る。２個のバツフアのオーバーフローがこの時間
内に戻らない時は、クロツクルーチンがタスクを
解除し、可変ISTAT＝１をセツトしてIDL移送
タイムアウト誤差を示す。 このルーチンで可変IBUFをセツトして、どの
バツフアが最後のIDL移送によるデータを含むか
を示す。可変IRSTRTは呼出しタスクによつて最
初に０にセツトし、最初に入力が行はれた時をこ
のルーチンでは知つている。IRSTRT＝０の時は
２個のバツフア装置が作動する。次にIRSTRT＝
１にセツトされ、２個のバツフア装置が作動中で
あることを示す。IRSTRT＝−１の時にハンドラ
ーに対する入口を行つた時は打切IDLコメントが
両IDLチヤンネルに送られて移送をすべて中止す
る。この指令は通常は呼び出口を行う前に呼びタ
スクによつて開始され、すべてのIDL移送は停止
する。 このルーチンはIDLチヤンネルドライバCD：
IDLを呼ぶ、IDL外部MACROルーチンED：IDL
を利用する。それ故、これらのルーチンはIDLハ
ンドラーＭ：IDLにリンクする必要がある。 IDLハンドラー、CD：IDLルーチンを使用して
データをIDLハンドラーに形成したハンドラー制
御ブロツクからIDLハードウエア（チヤンネル３
０，３２）に移送する。このルーチンではHCB
のアドレスをＢレジスタに負荷してCD：IDLに
飛越すことによつて制御の移送を行う。HCBは
次の書式を有する９語のテーブルである。
グラムアドレスはデイスク記憶装置１９２。 CORE MAPプログラムは第１６図に示す。プ
ログラムアドレスは16進コア記憶装置１９４。 サービスプログラム１９８について説明する。 IDL HANDLERプログラム；Ｍ：IDLプログ
ラムはIDLハードウエア（チヤンネル３０，３
２）とゲージデータ入力サブルーチンGAGEINと
の間のすべてのデータ移送を取扱う。IDLチヤン
ネル励振器CD：IDLを経てIDLハードウエアに結
合する。二重バツフア装置を使用して全移送時間
速度を大とし、ハンドラーから出る直前に第２の
データバツフアに対する両チヤンネルのIDL移送
を開始させる。これによつて、ゲージソフトウエ
アは第１のバツフアからのデータを中断なく処理
する間に、シーケンス外レンジとしてサービス要
求割込み（SRI′s）を使用して、IDLハードウエ
アによる第２のバツフアへのデータ移送を行う。
この処理が完了すればハンドラーは再び入る。第
２のバツフアへのデータ移送が完全でない時は、
タスクは保留され、IDL外部MACROルーチンが
バツフアのオーバーフロー割込みを検出する。第
２のバツフアのオーバーフローか終了した時は
IDL外部MARCOルーチンがED：IDLプログラム
を開始しタスクの保留は解除される。第２のバツ
フアのデータ移送が完了し、又はEB：IDLによ
つて保留が解除されれば、バツフアは切替えられ
て第１バツフアを使用するデータ移送が開始さ
れ、ハンドラからの出口が生ずる。ゲージソフト
ウエアは第２バツフアのデータを処理し、このシ
ーケンスを繰返す。 各IDL移送を開始する前に、0.5秒のタイムア
ウトを有するウオツチドツグタイマーをセツトす
る。２個のバツフアのオーバーフローがこの時間
内に戻らない時は、クロツクルーチンがタスクを
解除し、可変ISTAT＝１をセツトしてIDL移送
タイムアウト誤差を示す。 このルーチンで可変IBUFをセツトして、どの
バツフアが最後のIDL移送によるデータを含むか
を示す。可変IRSTRTは呼出しタスクによつて最
初に０にセツトし、最初に入力が行はれた時をこ
のルーチンでは知つている。IRSTRT＝０の時は
２個のバツフア装置が作動する。次にIRSTRT＝
１にセツトされ、２個のバツフア装置が作動中で
あることを示す。IRSTRT＝−１の時にハンドラ
ーに対する入口を行つた時は打切IDLコメントが
両IDLチヤンネルに送られて移送をすべて中止す
る。この指令は通常は呼び出口を行う前に呼びタ
スクによつて開始され、すべてのIDL移送は停止
する。 このルーチンはIDLチヤンネルドライバCD：
IDLを呼ぶ、IDL外部MACROルーチンED：IDL
を利用する。それ故、これらのルーチンはIDLハ
ンドラーＭ：IDLにリンクする必要がある。 IDLハンドラー、CD：IDLルーチンを使用して
データをIDLハンドラーに形成したハンドラー制
御ブロツクからIDLハードウエア（チヤンネル３
０，３２）に移送する。このルーチンではHCB
のアドレスをＢレジスタに負荷してCD：IDLに
飛越すことによつて制御の移送を行う。HCBは
次の書式を有する９語のテーブルである。
【表】
このルーチンはHCBテーブルを使用して３種
の機能を行う。第１は打切コード（HCB語１）
がＩ／Ｏ（入力／出力）サブシステムに送られ
る。この語の下方の７ビツトは打切るべきチヤン
ネル番号を示す。第２に強制バツフア入力
（HCB語０）がＩ／Ｏサブシステムに送られる。
この指令はIDLハードウエアを選定チヤンネルに
初期設定する。第３に、バツフア入力移送コード
がＩ／Ｏサブシステムに送られ、データ移送を開
始する。このデータは選定IDLチヤンネルからサ
ービス要求割込み（SRI）を経てコア記憶装置に
移送される。SRIに使用するポインタ及びカウン
タはHCB′sに供給されるデータを使用してこのル
ーチンによつて設定される。 IDLハンドラー、EB：IDLルーチンはシーケン
ス外指令レンジにおいて、POS／１バツフアオー
バーフローサービスリクエスト割り込みルーチン
によつて呼ばれ、バツフア入力データ移送がIDL
チヤンネル３０，３２上で完了した時に生ずるバ
ツフアオーバーフロー割込みに応答して作動す
る。このルーチンに対する各入口は外部MACRO
制御ブロツクのバツフアオーバーフローカウント
語（ECB７）を増分する。このカウントが２に
達すれば、IDLハンドラーＭ：IDLの保留したタ
スクを解除する。カウントが２でない時はPOS／
１バツフアオーバーフロー出口ルーチンＭ：
BOXに戻り、保留タスクの状態は変化しない。
それ故、IDLハンドラーＭ：IDLが４個のIDLチ
ヤンネルからデータを要求すれば、バツフアオー
バーフローカウントを消去し、タスクを保留す
る。IDL外部MACROルーチンが２をカウントし
バツフアオーバーフロー割込みが完了した時は保
留は行はれない。 GAGTSK即ちデイスク常駐タスク（タスク２
０）はオフラインタスクであり、デイスク常駐オ
フラインゲージサブルーチンオーバーレイをコア
に読込み、制御をオーバーレイに移す。
GAGTSKプログラムは後述する作業者相互作用
サブルーチン呼出オーバーレイSUBCLLによつ
てネモニツクパラメータの供給に応答してコアに
特定のサブルーチンを呼ぶ。サブルーチン
SUBCLLの表にはすべてのプログラムとネモニ
ツクスとが述べてある。GAGTSKはデイスク常
駐共通部をコアに移送し、デイスクセクタースイ
ツチ１２が可能の書込みであればタスクからの出
口において更新共通部をデイスクに書込む。 オフラインビシーフラツブIGAGOFは２のタ
スクの入口でセツトし、出口で消去する。 SUBCLL即ちオーバーレーとしてのデイスク
常駐サブルーチンはオフラインモードで作動し、
これによつて操作者はゲージオフライン装置と相
互作用して、所要の利用可能のオフライン棒材直
径測定プログラムを作動させる。これはデイスク
からコアに移送され、装置モーターデイスク読出
し移送制御ルーチンを使用してオフラインゲージ
タスクGAGTSK（タスク２０）によつて作動す
る。操作者の入れたネモニツクスはサブルーチン
デイスクセクターを定め、このセクターはサブル
ーチンがGAGTSKとなつた時に戻り、GAGTSK
は所要サブルーチンオーバーレーで作動する。サ
ブルーチン機能はプログラムリストに述べてあ
り、操作者の要求に応答して補助として利用でき
る。 GAGTRNプログラムはゲージオフライン装置
で使用される。これは572語ゲージデータブロツ
クを所定のデイスクエリアから制御装置６７の指
定する他のエリアに移送する。ゲージ共通記憶エ
リアを中間記憶装置としてデイスク−コア−デイ
スクの移送を行う。デイスクスイツチ１０は可能
の書込みを必要とする。 棒材測定データプログラム２０２について説明
する。 補助サブルーチンであるGAGEILは常に棒材測
定データを必要とするサブルーチンに随伴する。
このサブルーチンはIDAハンドルのサブルーチン
Ｍ：IDL、CD：IDL、EB：IDLに随伴して実際
に棒材位置及び直径データを得る。更に補償を必
要とする時は補償サブルーチン（CMPSNT）に
随伴する。このサブルーチンは棒材位置及び直径
の良い読みの平均値を得、偏差を計算し、この結
果を共通テーブルに記憶する。有効性テストを行
い、所要に応じて誤差フラツグをセツトする。 補償プログラム２００について説明する。 GAGMAPはオーバーレーとしてデイスク常駐
サブルーチンであり、オフラインモードで作動
し、オンライン棒材直径ゲージタスク及びサブプ
ログラムに使用する補償テーブルを作成し、これ
らオフラインゲージプログラムは補償寸法データ
を必要とする場合とする。このテーブルは共通エ
リアに常駐し、解像管視野を横切る影に生ずる非
直線性の補償を行う。このテーブルはフオーマツ
トされ、印字機６３の出力となる。このプログラ
ムを作動した後に棒材直径データが有効データと
なる。これがサブルーチンSUBCLLに呼出され
る時は操作者の相互作用を必要とする。 補償マツプは256個の棒位置に相当する256個の
入口がある。素子１は全体で10404cm（4.096イン
チ）の視野底を代表し、素子２５６は視野頂を代
表する。各素子は修正データを有し棒の頂底縁の
位置に基く測定棒材寸法から引算する。実際の修
正はサブルーチンCMPNSTによつて行う。縁部
８２，８３を使用し中央線を使用しないことはマ
ツプを棒材１０の各種寸法に使用可能とする。 マツプ形成手順間に12.7mm（1/2インチ）に機
械加工した試料棒材１０を光軸に直角方向に±
47.1mm（±1.5インチ）前後に動かす。棒材が移
動する間にGAGMAPをオフライン較正装置で実
施する。このプログラムは10000測定を行い、棒
位置の各分画における平均偏差を計算する。この
中間結果を256素子テーブルに記憶しISUMと称
する。 棒材縁部８２，８３位置に基く最終補償は次の
手順によつてISUMテーブルから生ずる。 １ 補償マツプを消去する。 ２ 計算機シミユレーシヨンのために、仮想12.7
mm（1/2インチ）棒材１０を視野中心スロツト
１２９の0.406mm（0.016インチ）上方に置く。
頂底棒材縁部８２，８３の位置の計算は次の式
となる。 頂縁83＝〔視野中心位置＋0.406＋ 棒直径／２〕／0.406 ……（式１） 底縁82＝〔視野中心位置＋0.406− 棒直径／２〕／0.406 ……（式２） 例 ＝ 頂縁83＝（52.018＋0.406＋１２．７／２）／0.406 ＝144 ……（式３） 底縁82（52.018＋0.406−１２．７／２）／0.406 ＝113 ……（式４） ３ 上縁８３の位置（144）としてマツプに記憶
された値は棒材１０の中心位置（129）に対応
してISUMテーブルに記憶された変位と下縁８
２の位置（113）としてマツプに記憶された値
との合計である。 IMAP（上縁83）＝ISUM（中心棒） ＋IMAP（下縁） ……（式５） IMAP（144）＝ISUM（129）＋ IMAP（113） ……（式６） ４ 棒材１０の中心位置を上方に上げて手順２、
３を繰返す。視野中心から上方に順次0.812mm
（0.032インチ）、1.218mm（0.048インチ）、1.624
mm（0.064インチ）等とする。これを繰返して
棒材１０の上縁を視野中心の上方＋47.1mm（＋
1.5インチ）とする。 IMAP（145）＝ISUM（130）＋ IMAM（114） IMAP（146）＝ISUM（131）＋ IMAP（145） IMAP（147）＝ISUM（132）＋ IMAP（146） 〓 IMAP（220）＝ISUM（205）＋ IMAP（189） IMAP（221）＝ISUM（206）＋ IMAP（190） マツプの上半は完全になる。 ５ マツプの下半を前述と同じ手順で書込む。同
じ直径12.7mm（1/2インチ）の機械加工試料と
した棒材１０を視野中心（128）に置き上下縁
８３，８２を同様にして求める。 上縁83＝〔視野中心＋棒寸法／２〕／0.406 （式７） 下縁82＝〔視野中心−棒寸法／２〕／0.406 （８式） 上縁83＝〔52.018＋12.7／２〕0.406＝143 （式９） 下縁82＝〔52.018−12.7／２〕／0.406＝112 （式10） ６ 棒材下縁82のマツプ値（122）は棒材中心位
置（128）としてISUMに記憶された値と上縁
８３の位置（143）としてマツプに記憶された
値との合計である。 IMAP（下縁82）＝ISUM（棒中心）＋ IMAP（上縁83） ……（式11） IMAP（112）＝ISUM（128）＋ IMAP（143） （式12） ７ 棒材１０の位置を視野中心から0.406mm
（0.016インチ）毎に下方に順次下げ、棒材下縁
８２の位置が視野中心から−47.1mm（1.5イン
チ）までとする。 IMAP（111）＝ISUM（127）＋ IMAP（142） IMAP（110）＝ISUM（126）＋ IMAP（141） IMAP（109）＝ISUM（125）＋ IMAP（140） 〓 IMAP（36）＝ISUM（52）＋IMAP（67） IMAP（35）＝ISUM（51）＋IMAP（66） かくしてマツプの下半は完全になる。 ８ マツプ位置の221より上方と35より下方とは
使用しない。これらの位置は第５図に示す光電
陰極の視野外の不使用位置に相当する ９ マツプ素子１１１〜１４３は０である。この
位置は視野中心から±6.35mm（0.25インチ）の
部分に相当する。 10 カメラヘツド３１に対応するマツプは共通デ
ータエリア記憶装置FCOMP1に記憶される。 CONDATはゲージオフラインシステムで作動
するプログラムである。この目的は操作者がカメ
ラへツド３１のスロープ及びオフセツト修正を入
れるのに使用する。この変数は下記の通りであ
る。 IMULT1：カメラヘツド３１のスロープ修正率 IOFST1：カメラヘツド３１のオフセツト修正率 スロープ修正は次の式に基いて視野補償サブル
ーチンCMPNSTにおいてすべての棒材に加算す
る。 寸法＝（12.7mm−棒材寸法）IMULT1 オフセツト修正は次の式に基いて視野補償サブ
ルーチンCMPNSTにおいてすべての棒材に加算
する。 寸法＝棒材寸法−IOFST1 ZEROはオフラインゲージシステムで作動する
プログラムである。この目的は補償マツプ、すべ
てのスローブ及びオフセツト修正率をゼロとし、
右側マスク較正を一定とする。 MAPRNTはオフラインゲージシステムで作動
する他のプログラムである。これは操作者の相互
作用を必要としない。この目的は視野補償マツ
プ、スロープ及びオフセツト修正率、左右マスク
値を印字する。 GATPCプログラムは内部に記憶した補償式を
基準として高温目標寸法を計算する。この式は３
種の変数を必要とする。第１に炭素成分を共通エ
リアBDCCOMのIGRADEから得る。第２に、共
通エリアSYSCOMのITMPZZから標材温度を得
る。第３に、共通エリアBDCCOMのICDAIMか
ら低温目標寸法を得る。計算された高温目標寸法
は共通記憶装置BDCCOMの所定エリアに記憶さ
れる。 CMPNSTは補助サブルーチンであり、ゲージ
直径データ補償を必要とする各サブルーチンに随
伴する。特に、このサブルーチンは視野内の棒材
位置に対する棒材測定データを直線化し、サブル
ーチンCORDATに対するスロープ及びオフセツ
トデータによつて測定データを修正し、サブルー
チンGAGRCCによつて生じた右側マスクデータ
による自動較正を行う。 カメラヘツド３１からの棒材１０のデータは、
オフラインプログラムGAGMAPによつて生じた
補償マツプFCOMP1を使用してCMPNSTサブル
ーチンによつて直線化する。補償の手順は次の通
りである。 １ アキユムレータ１１８からの棒材寸法及び位
置データを使用して補償マツプ上で棒材１０の
上下縁８３，８２の位置を定める。 上縁83位置＝（棒中心位置＋棒寸法／２〕／0.406 下縁82位置＝（棒中心位置−棒寸法／２〕／0.406 直型25.4mm（１インチ）の棒の中心が19.05
mm（3/4インチ）視野中心より上方であれば、
棒中心位置は： 52.018mm（2.048インチ）＋19.05mm（0.75イン
チ）＝71.07mm（2.798インチ）棒上下縁位置は
前述した通りである。 上縁83＝（71.07）２５．４／２）／0.406＝2.03 （式13） 下縁82＝（71.07−２５．４／２）／0.406＝140 （式14） ２ 上下縁８３，８２に相当する補償値はマツプ
から得られ夫々ICOR1，ICOR2とする。 ICOR1＝IMAP（上縁83位置） （式15） ICOR2＝IMAP（下縁82位置） （式16） ３ 上縁下縁８３，８２共に視野中心より上方に
ある時の修正は： 修正棒位置＝未修正寸法−ICOR1＋ICOR2 （式17） ４ 上下縁８３，８２共に視野中心より上下にあ
る時の修正は、 修正棒位置＝未修正寸法＋ICOR1−ICOR2 （式18） ５ 上縁８３が視野中心の上方にあり下縁８２が
下にある時の修正は 修正棒位置＝未修正寸法−ICOR1−ICOR2 （式19） 較正プログラム２０１について説明する。 CALIBRはオフラインゲージシステムで作動す
るプログラムである。この作動は操作者の相互作
用は必要としない。このプログラムの目的は印字
機６３上のゲージに対して性能ログを定めること
にあり、次の機能を行う。 １ 左側及び右側マスク９５，９４に偏向させ、 ａ 各マスクの寸法を測定印字する。 ｂ 記憶されたマスク値からの偏差を計算印
字、 ｃ ＋のスロープ値を測定印字、 ｄ −のスロープ値を測定印字、 ｅ 各マスクに使用する窓を印字。 ２ アナログテスト寸法、正負スロープ値を測定
印字する。 ３ デジタルテストを測定印字する。 ４ 再較正に使用した較正更新値を印字する。 再較正プログラム２０２について説明する。 RTMASKプログラムはオーバーレー内のデイ
スク常駐サブルーチンであり、オフラインモード
で作動する。このプログラムによつて次の棒直径
ゲージ機能を行う。 １ 右偏向電子窓ゲートを解像管９０のパラメー
タの変化に適応させて変化させる。 ２ 共通テーブルに記憶された右側偏向直径基準
値をドリフト、部品の老化を補償するために更
新する。 ３ 変化を希望しない時は、このプログラムを周
期的に行い、偏差は印字機６３によつて印字し
て電子的温度的理由によるドリフトを確認す
る。 このサブルーチンから定常作動に戻すために
は、解像管９０の掃引を中央に戻し、全電子窓
ゲートを作動させ、逆光光源ランプを通る電流
を反対にしてランプの寿命を長くする。このプ
ログラムの主目的は長期間のドリフト点検装置
であり、他の利用法として窓ゲート及び基準テ
ーブル値の更新を行う。このプログラムはサブ
ルーチンSUBCLLによつて呼出され、操作者
の作用を必要とする。 GAGRCLはオンラインシステムで作動するプ
ログラムであり、操作者の作用を必要としない。
この目的は周期的に棒材直径ゲージを自動再較正
し、上述のドリフト修正項ITMP1を更新する。
このプログラムではカメラの掃引を偏向させて右
側マスクを走査し、最初の較正準備からの偏差を
測定してドリフト項を修正する。プログラム終了
に際して、掃引を中央に移し、正常の窓とし、光
源を反転させる。 自動再較正プログラムは、棒材１０が視野内に
ない時に較正値を点検してゲージ精度を保つ。こ
の再較正プログラムの作動は棒材１０が視野を去
り次の棒材が到達する前に行う。この条件は高温
金属検出電子装置５７からの信号によつて定ま
る。このためにソフトウエアを使用して、既知の
内部基準例えば右側マスク９４のオンライン測定
と、システム較正間に行う同じ内部基準のオフラ
イン測定との差に基くスケールフアクターを計算
する。再較正の後にゲージ視野内の次の棒材の測
定は上述のスケールフアクターを使用して修正す
る。 再較正測定の眼目は解像管９０の前面マスク付
き光電陰極９１である。マスクのパターンは第５
図に示す。光電陰極９１には左側に2.54mm（0.1
インチ）間隔とした巾2.54mm（0.1インチ）の５
本のマスクを形成し、右側には１本の6.35mm
（0.25インチ）巾のマスクを中央に形成する。解
像管９０と光電陰極９１との構造と作動は第４，
５，６図について前に詳述した。Ｘ軸バイアスに
よつて“Ｃ”走査、“Ｒ”走査、“Ｌ”走査位置と
する。右側マスクカメラ信号と棒材マスクカメラ
信号とは同じである。電子装置の調整を行はない
時は時間T1で右側マスクを測定することは、時
間T2で棒材を測定することと同じである。偏差
があれば電子ドリフトであると推定される。 再較正システムは修正率を計算するために右側
マスク９４のみを使用する。５本の左側マスクは
オフライン較正システムにおいて直線性の点検の
ために使用する。カメラヘツド３１較正のために
右側マスクを測定し、オフライン較正システムの
右側マスクプログラム“RT”を行つてデイスク
に記憶させる。変数はIMASK1の名称でコアの共
通データエリアMSKCOMに記憶させる。制御シ
ステム作動の時はデータをデイスクからコアの共
通エリアMSKCOMに移送する。 右側マスク９４のオフライン測定はGAGRCL
タスクによつて行う。高温金属検出器５５が棒材
１０後端がゲージを通過したことを検出した後
に、GAG−RCLプログラムによつて解像管の像
を右に偏向させてマスク９４を測定する。カメラ
１の測定値とIMASK1との差を共通データエリア
TMPOFFに可変ITMP1を記憶させる。この値は
最初の較正オンライン較正とのゲージ測定値の変
化を示す。 オンライン修正機能はITMP1を使用してサブ
ルーチンCMPNSTで行う。スロープ修正は次の
式によつて各測定値を修正する。 修正棒寸法＝棒寸法（棒寸法×ＩＴＭＰ１／１２．７） （式20） ITMP1＝0.01524mm（0.0006インチ）とすれば 修正棒寸法（直径12.7mm）＝12.7 −１２．７×０．０１５２４／１２．７＝12.6847（式2
1） 修正棒寸法（25.4mm）＝25.4−２５．４×０．０１５２
４／１２．７ ＝25.3694 （式22） 修正棒寸法（38.1mm）＝38.1−３８．１×０．０１５２
４／１２．７ ＝38.0451 （式23） 直径12.7mmの棒材の修正量はITMP1の値に等し
い。同様にして12.7mmの２倍、３倍の棒材の修正
量はITMP1の値の２倍、３倍となる。この理由
はレンズ８６の縮少率が1/2であることになる。
12.7mm直経の棒材は6.35mm（0.25インチ）の影と
して光電陰極に投射され、右側マスク９４の巾に
ほゞ等しい。 LFTMSKプログラムはオーバーレーとしてデ
イスク常駐サブルーチンであり、オフライインモ
ードで作動し、次の棒材直径ゲージ機能を行う。 １ 左偏向電子窓ゲート機能であり、左側マスク
９５の５本の左偏向棒材基準を選定するために
使用し、解像管９０のパラメータの変化に適応
させて変更する。 ２ 左偏向直径基準値機能であり、共通テーブル
内に記憶され、ドリフト、部品の老化を補償す
るために更新する。 ３ 変更を希望しない時はプログラムを周期的に
行い、偏差を５本の左側偏向基準の夫々につい
て印字機６３で印字し、電子的温度的ドリフト
を知る。最大サイクル時間は3200秒である このサブレーチンが終了すれば解像管９０の掃
引を中央に戻し、電子窓ゲートを作動させ、逆光
光源ランプを通る電流を反転してランプ寿命を長
くする。このプログラムの目的は視野及び電子的
ドリフトの点検装置とし、他の機能として、窓ゲ
ートと基準テーブル値を更新する。これはブルー
チンSUBCLLによつて作動し、操作者の作用を
必要とする。 ヒストグラムプログラム２０４について説明す
る。 GAGHSTはオフラインゲージシステムで作動
するプログラムであり、操作者の作用を必要とす
る。この目的はカメラヘツド３１からの多数の読
みを集め、コア１９４のテーブルIBDGI2に記憶
させ、第１７図に示す通り±0.127mm（±0.005イ
ンチ）の範囲で0.0051mm（0.0002インチ）分画と
したカメラヘツド３１のヒストグラムテーブルを
印字する。更に、すべて読みの平均及び標準偏差
を計算する。操作者は所要の棒材目標寸法に対す
る所要の多数の読みを求め、第１９図に示す通り
制御装置６７によつてヒストグラムテーブルを使
用を要求する 二次元及びプロフル測定制御装置について説明
する。 第１図Ａは本発明の第２の実施例による計算機化
電気光学装置を示し、異なる方向の２種の寸法及
びプロフイル測定制御用とし、鋼材熱間圧延機の
走査装置に取付けた２個の逆光カメラを使用す
る。この実施例は第１図とほぼ同様であるが２組
の測定カメラ装置と走査装置とを有する。第２カ
メラ電子装置３９は第４〜１３図に示したカメラ
電子装置３５とほぼ同様であるが第２カメラ電子
装置に使用する機器、回路、波形、タイミング線
図、計算機プログラム等は（′）を附して区別す
る。この測定制御装置は棒材１０の直交する直径
方向の寸法とプロフイルをロールスタンド１１の
出口附近で測定し、走査装置は停止とすることも
でき、所定角速度で棒材１０の外面を走査するこ
ともできる。後述する通り、２種の直径信号及び
走査装置位置信号を計算機に供給して棒材１０の
横方向プロフイルをプロツトする。棒材プロフイ
ルデータを表示、記録して圧延機制御装置に伝達
し、圧延機制御装置はこのデータを使用して棒材
寸法形状の制御を、(a)ロールスタンド１１の横方
向間隔の設定、(b)ロールスタンド１１のロールの
縦方向アライメントの設定、(c)スタンド１１の前
のスタンドのロール間隔の設定によつて行う。 双ヘツド走査装置１２の逆転可能の走査機構１
３のモータ１４によつて駆動される。モータ１４
はケーブル１５を介して可変速制御器１６によつ
て附勢される。２モードセレクタスイツチ１７は
ケーブル１８を介して制御器１６を制御して手動
自動走査作動を行はせる。装置操作者又は計算機
が手動自動制御を行う。手動制御モードにおいて
は手動による速度制御、始動、停止、走査器方向
制御は制御器１９によつて行い、制御信号はケー
ブル２０を経て制御器１６に伝達される。自動制
御モードにおいては手動制御信号源を遮断し、走
査制御器１６は後述する通り計算機から所要信号
を受ける。 走査器位置エンコーダ２１を走査機構１３に結
合して走査器回転の絶対位置を代表するアナログ
信号を発生する。このエンコーダ信号はケーブル
２２を経て走査器位置電子装置２３に供給されて
アナログ及びデジタル走査器位置信号に変換され
る。アナログ走査器位置信号はケーブル２４を経
て走査器位置表示器２５に伝達され、走査位置を
手動制御する時に操作者が目視制御を行う。デジ
タル走査器位置信号はケーブル２６を経て計算機
２７′に供給され、走査装置１２を自動制御する
時に計算機指令信号に組合される。計算機２７′
は始動停止信号及び速度制御信号を後述する通り
に供給する。これらの信号はケーブル２８，２９
を経て走査器制御器１６に供給される。自動制御
モードの間、デジタル走査器位置信号は棒材プロ
フイル決定作動用として後述する通りに使用され
る。 双ヘツド走査装置１２の走査機構１３に第１第
２逆光電子カメラヘツド３１，３２を互に直角方
向として棒材１０に対して垂直として取付け、所
定角速度で棒材１０の外周を走査する。棒材１０
のプロフイルプロツト走査のためには走査装置１
２を第１Ａ，２図に示す通り90゜回動させる。こ
れによつて棒材１０の180゜の横方向プロフイル
をプロツトするための十分なカメラ信号が得られ
る。180゜フロフイルプロツトは圧延作業者及び
圧延機制御計算機に対して著しく有効であり、後
に詳述する。棒材寸法測定に対する他の走査要求
の下では、走査角度は90゜回動以外とすることが
できる。例えば第１図に示す光源30とカメラヘツ
ド３１とを走査装置に取付け、一次元測定システ
ムを使用して走査機構を回動させ、他の型式の棒
材１０のプロフイルプロツトを得ることができ
る。 第１の光源箱３０を第１の電子カメラヘツド３
１に対向させ、棒材１０が光源箱３０からの光を
遮断した時に棒材直径に比例する巾を有する棒材
の影が第１電子カメラヘツド３１の像となる。同
様にして第２光源箱３２を第２電子カメラヘツド
３３に対向させ棒材１０が光源箱３２からの光を
遮断した時に、第１の方向とは直角の第２の横位
置における棒材直径に比例する巾を有する棒材の
影が第２電子カメラヘツド３３の像を形成する。
第１のカメラヘツド３１についての第４図につい
ての説明は第２カメラヘツド３２にも適用され
る。 各光源箱３０，３２は棒材１０に対して直角方
向に、カメラ視野内で測定すべき棒材１０の最大
寸法よりも大きな光を発生する。例えば、下記の
カメラ視野は7.62cm（３インチ）として時に組合
せる光源からの光路の直径は10.16cm（４イン
チ）とする。更に、光源箱３０，３２からの光の
波長と強さとは電子カメラヘツド３１，３３の感
度特性に適応した値とする。標準として、直流点
火螢光光源からの青い光が上述の電子カメラヘツ
ド用として好適である。 棒材１０の第１の影と棒材１０の両側を通る光
とは第１光源箱３０から第１電子カメラヘツド３
１に導かれ第１カメラ信号を発生する。この信号
は未修正カメラパルスにノイズを混入した信号で
あり、導線３４を経て第１カメラ電子装置３５に
供給される。第４図について説明した通り、第１
カメラ信号を処理してノイズを除きデジタル棒材
寸法及び棒材位置信号を発生してケーブル３６を
経て計算機２７′に供給する。測定指令等の信号
はケーブル３７を経て計算機２７′から第１カメ
ラ電子装置３５に供給される。 同様にして棒材１０の第２の影と、棒材１０の
両側を通る光とは第２光源箱３２から第２電子カ
メラヘツド３３に導かれ第２カメラ信号を発生す
る。この信号も未修正カメラパルスとノイズとの
混合であり、導線３８を経て第２カメラ電子装置
３９に供給される。第２カメラ信号を処理してノ
イズを除き、デジタル棒材寸法及び位置信号を第
１カメラ信号と同様に形成しケーブル４１を経て
計算機２７′に供給される。測定指令等の信号は
ケーブル４０を経て計算機２７′から第２カメラ
電子装置３９に供給される。 第１Ａ図の電子光学棒材測定制御装置の計算機
２７′は手動セレクタ４２から目標寸法デジタル
信号をケーブル４３を経て供給される。目標寸法
信号は例えば4.445cm（1.7500インチ）とし、棒
材１０のプロフイル変化等後述する通りに使用す
る。更に、計算機２７′は棒状１０の組成のデジ
タル信号を手動セレクタ４４からケーブル４５を
経て供給される。組成信号は棒材１０の炭素成分
を示し例えば0.230％とし、低温棒材目標寸法か
ら高温棒材目標寸法の計算等の目的に使用する。
更に計算機２７′は他の作動データ信号、例え
ば、日付、時間、寸法公差等をセレクタ４６から
ケーブル４７を経て供給される。目標寸法信号、
組成信号、他の作動データ信号を棒材圧延機自体
の制御装置から得ることもできる。 高速で動く高温棒材１０の直径測定に際して温
度補正を行なうために、例えばランド社製の光高
温計ヘツド４８を走査装置１２に近接して取付け
高温棒材１０の温度測定を行う。光高温計ヘツド
４８は高応答温度信号を発生しケーブル４９を経
て、ランド社等の高温計電子装置５０に供給され
る。未修正温度信号は高温計電子装置５０の目盛
合せ及び直線化回路によつて修正する。修正した
温度信号、例えば910℃（1670〓）はケーブル５
１を経てデジタル表示器５２に供給すると共にケ
ーブル５３を経て計算機２７′に供給し、棒材１
０の熱膨脹の補正を行う。 ランド社の光高温計ヘツド４８及び高温計電子
装置５０を使用すれば、修正温度信号を計算機２
７′及び表示器５２に所要精度、応答速度で送る
時の間題点は生じない。組合せ上の問題を解決で
きる場合は、第１の実施例で説明した光学視野走
査高温計システム等の既知の装置を使用すること
もできる。 第１Ａ図に示す実施例の他の特長は自動再較正
システムである。後述する通り、棒材１０の後端
が圧延ロール１１を去つたことを検出した時にこ
のシステムが作動する。このために、高温棒材検
出器５５は棒材１０の存在、不在を検出し、対応
する信号を導線５６を経て高温金属検出電子装置
５７に供給する。棒材不在信号はケーブル５８を
経て計算機２７′に供給されて自動再較正システ
ムを作動させる。 すべての走査位置信号、第１第２カメラ信号、
目標寸法信号、組成信号、その他の作用データ信
号は夫々のケーブル２６，３６，４１，４３，４
５，４７，５３，５８を経て計算機２７′に供給
され、計算機２７′はこれらの信号を組合せて後
述する一群の計算機オンライン、オフラインプロ
グラムの制御の下に各種機能を行う。例えば、走
査装置始動、停止信号をケーブル２８に生じ、走
査装置速度制御信号はケーブル２９に生じ、共に
自動走査モード制御プログラムによつて制御され
る。他の機能として、棒材直径データ、棒材プロ
フイルの公差基準からの偏差データ及び作動ヘツ
ダーデータは計算機２７′からケーブル５９を経
てCRT端子６０に供給され、ケーブル６１によ
つてCRT端子６０の操作盤と計算機２７′との間
の相互作用を行う。 計算機２７′の他の機能には棒材直径データ棒
材プロフイルの公差基準からの偏差データ、作動
ヘツダーデータを計算機２７′からケーブル６２
を経て印字端子６３に供給し、ケーブル６４を経
て端子６３の操作盤と計算機２７′との間の相互
作用を行う。印字端子６３は第３図に示す印字を
行う。計算機２７′の他の機能は棒材１０のプロ
フイルデータと測定装置ヒストグラムをケーブル
６６を経て制御装置６７に供給し、ケーブル６８
によつて計算機２７′にフイードバツク信号を送
る。 第２図には棒材１０の横断面を示す。点線の円
６９，７０は目標寸法直径に対する最大最小公差
範囲を示す。点線の直線即ち面Ａ−Ａ，Ｂ−Ｂ，
Ｃ−Ｃ，Ｄ−Ｄは圧延機操作者及び制御計算機が
特に関心を示し、第１１Ａ図に示す圧延機１１の
圧延間隔及びアライメントを定めるために必要で
ある。非走査作動間は走査装置１２は停止し、第
１カメラヘツド３１及び第２カメラヘツド３３は
面Ｃ−Ｃ，Ａ−Ａ上の直径を測定する。棒材１０
のＡ−Ａ面直径７１は図示の例では4450cm
（1.7520インチ）とし、Ｃ−Ｃ面の直径７２は図
示の例では4.442cm（1.7490インチ）であり、目
標寸法は4.445cm（1.7500インチ）の場合とす
る。 棒材走査作動においては、第２カメラヘツド３
３はプロフイルプロツト走査７３を面Ｂ−Ｂから
開始し、反時計方向に90゜回動して面Ｃ−Ｃを過
ぎ、面Ｄ−Ｄで停止する。同時に第１カメラヘツ
ド３１は面Ｄ−Ｄで走査を開始し反時計方向に90
゜回動して面Ａ−Ａを過ぎ、面Ｂ−Ｂで停止す
る。これによつて第１第２カメラヘツド３１，３
３は棒材１０の180゜の外周面を走査し、この走
査は面Ｂ−ＢからＣ−Ｃ，Ｄ−Ｄ，Ａ−Ａを経て
Ｂ−Ｂに戻るプロツトを行う。他の走査方法とす
ることもできる。例えば走査回転方向を時計方向
とする。走査装置１２を他の面又は点から開始し
90゜走査して最初の位置に戻る。カメラ３１，３
３を90゜回動しただけで棒材外面180゜を走査で
きる。 棒材１０のプロフイルプロツトは低温寸法に修
正して第３図に示す計算機プリント６５とする。
第３図には棒材プロフイル７４を特定の寸法特定
の製造公差とした例を示す。計算機の生ずる書式
には作動データヘツダー、第１Ａ図の目標寸法セ
レクタ４２の選択した常温目標寸法と実際の常温
修正プロフイルとの偏差が縦軸、走査装置１２の
角度位置が横軸として第３図に示される。縦軸の
目盛は0.254mm（0.0010インチ）とし、目標寸法
4.445cm（1.750インチ）の線７５の上下を示し、
最大最小公差基準線７６，７７の上下に延長す
る。公差線７６，７７を点線で示す。更に最大最
小公差の1/2の基準線７８，７９は180゜の棒材プ
ロフイルプロツトの180゜の目盛の15゜おきの目
盛数値の列として示す。０゜及び各45゜の位置に
は第２図の断面の面Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ａ，Ｂを印字
し、15゜、30゜は面Ａ，Ｃ位置に対する相対位置
として示す。 CRT端子６０の表示は計算機プリント６５と
ほぼ同じであるが次の点が異なる。棒材プロフイ
ル偏差プロツト計算機書式の他に計算機２７′は
別に第２図の点線の走査面Ａ−Ａ，Ｂ−Ｂ，Ｃ−
Ｃ，Ｄ−Ｄの表示書式、及び第２図の直径Ａ−
Ａ，Ｃ−Ｃの実際数値表示を行う。第２に、公差
の1/2が装置の目標であるため、最大最小公差は
表示しない。それ故、CRT端子６０は棒材の直
径、プロフイル、走査面の情報を提供し、測定装
置操作者及び圧延機操作者には著しく有効であ
る。 電子カメラヘツドについて説明する。 第１Ａ図の棒材測定装置に使用する逆光電子カ
メラヘツドを第４図に示し、カメラヘツド３１は
光源箱３０から棒材１０に対して反対側に光軸上
に配置する。カメラヘツド３３と光源箱３２との
関係も同様である。使用者の取付上の要求に応じ
て第１第２の電子カメラにはテレセントリツクレ
ンズ８５′、解像管９０′、光電陰極較正マスク９
４′，９５′の集光及び偏向コイル装置９３′、別
のシールドを有し、第４図について前述したと同
様とする。 カメラ電子装置について説明する。 本発明に使用するカメラ電子装置は第４図にカ
メラ電子装置３５として示した。第２のカメラ電
子装置３９は第１のカメラ電子装置３５と同様で
あり、双方向掃引発電機９７のみは両電子装置３
５，３９に共通とする。カメラ電子装置について
は前述した。第１第２カメラ電子装置は夫々未修
正カメラ信号を受けて第１第２のデジタル棒材寸
法パルス及び棒材中心位置パルスを発生し、導線
３６，４１によつて計算機２７′に導線３７，４
０からの信号の制御の下に送る。各棒材パルスの
計算機による修正は次に述べる。 計算機について説明する。 第１Ａ図の計算機２７′を第１４Ａ図にブロツ
ク線図として示す。計算機２７′はデジタルシス
テムであり、第１４図について前に述べた計算機
２７のすべての機能を有し、更に後述する各種機
能を有する。前述した通り、市販のプログラム可
能のミニ計算機を使用でき、圧延機制御計算機装
置の一部とすることもできる。計算機２７′の例
としてウエスチングハウス・エレクトリツク社の
Ｗ−2500型があり、前述の計算機２７に比較し
て、第２の棒寸法パルス及び修正機能、走査位置
制御及びプロフイルプロツト機能、及び下記の各
種タスクに適応するように附加する必要がある。 計算機２７′には通常の主要構成部分として、
入力バツフア１９０′、出力バツフア１９１′、デ
イスク記憶装置１９２′、デイスクスイツチ１９
３′、コア記憶装置１９４′を有し、各種チヤンネ
ルによつてデータ処理ユニツト195′に結合する。
計算機２７′の作動はオフライン及びオンライン
計算機プログラム１９６′によつて行う。このプ
ログラムは次の通りである。第１５，１６Ａ，１
６Ｂ図に示す計算機マツプ１９７′、サービスプ
ログラム１９８′、棒材ゲージデータプログラム
１９９′補償プログラム２００′、較正プログラム
２０１′、再較正プログラム２０２′、プロフイル
及び位置プログラム２０３、ヒストグラムプログ
ム２０４′であり、後述する。 計算機２７′を外部信号源と接続するため入力
バツフア１９０′には入力のアナログ又はデジタ
ル信号をデジタルに変換する手段を有する。計算
機の入力信号は次の通りである。ケーブル３６に
よつて第１カメラ電子装置３５、ケーブル４１に
よつて第２カメラ電子装置３９、導線２６によつ
て機械的走査器位置２３、導線５８によつて高温
金属検出器５７、ケーブル５３，５４によつて棒
材温度５０、導線４３によつて棒材目標寸法４
２、導線４５によつて棒材組成４４、ケーブル４
７によつて他の作動データ４６、ケーブル６８に
よつて制御装置６７、ケーブル６１によつて
CRT端子６０、ケーブル６４によつて印字端子
６３。 計算機２７′から外部に信号を供給するための
出力バツフア１９１′には出力信号をデジタル又
はアナログ信号に変換する手段を有する。計算機
２７′からの出力信号は次の通りである。走査装
置始動停止信号をケーブル２８で、走査装置速度
信号をケーブル２９で走査制御器１６に；ケーブ
ル６６で制御装置６７に；ケーブル３７で第１カ
メラ電子装置３５に；ケーブル４０で第２カメラ
電子装置３９に供給する。 導線及びケーブルは図には１本の線として示し
たが所要の複数の導線を組合せたケーブルとする
のが通常である。 CRT端子６０には操作盤を有し、操作者が計
算機２７′との間の相互作用を行う。 印字端子６３には操作者用の操作盤を有し計算
機２７′との間の相互作用を行う。印字端子６３
の計算機プリント６５には第３図に示す棒材プロ
フイル偏差のプロツト及び下記の数表を含む。 端子６０，６３が同じデータをプロツトするこ
ともある。操作盤からの要求は下記のプログラム
ネモニツクスによつて行う。 ゲージオフラインシステムネモニツクスは下記
の通り： HS：各ヘツドのヒストグラム MP：視野補償マツプ作成 PR：走査装置を90゜回転しプロフイルテーブル
作成 PL：プロフイルテーブルのプロツト RP：右側マスクデータについてプロフイルテー
ブル作成 CL：左及び右側マスクで較正チエツクを行う。 TY：マスクスロープ及びオフセツト率、マスク
値について印字 SC：走査装置を所要角度回動 OF：スロープ及びオフセツト修正率を入れる。 ZE：すべてのマツプ及び修正率を消去（注意） LF：左側マスクでドリフトテスト RT：右側マスクでドリフトテスト、窓を入れ
る。 TR：制御システムエリアに共通のケージをデイ
スクに移送 XT：モニターに出力、共通エリア内のマツプ、
スロープ及びオフセツト修正率、マスク値、窓
値をデイスクに書込む。デイスクスイツチが上
位置の時のみデイスクのフアイルを更新可能・
このタスク２０がモニターに呼ばれた時にフア
イルをデイスクから読出し。 デイスクスイツチ１９３′には“スイツチ１
０”、“スイツチ１２”として下記のプログラムに
記したスイツチを有する。デイスクのプログラム
又はデータを更新するためにはスイツチを書込み
可能位置とする必要がある。 計算機プログラムについて説明する。 次の表は図に示した計算機プログラム１９６′
に組合された各個の及び一群のプログラムを示
す。
の機能を行う。第１は打切コード（HCB語１）
がＩ／Ｏ（入力／出力）サブシステムに送られ
る。この語の下方の７ビツトは打切るべきチヤン
ネル番号を示す。第２に強制バツフア入力
（HCB語０）がＩ／Ｏサブシステムに送られる。
この指令はIDLハードウエアを選定チヤンネルに
初期設定する。第３に、バツフア入力移送コード
がＩ／Ｏサブシステムに送られ、データ移送を開
始する。このデータは選定IDLチヤンネルからサ
ービス要求割込み（SRI）を経てコア記憶装置に
移送される。SRIに使用するポインタ及びカウン
タはHCB′sに供給されるデータを使用してこのル
ーチンによつて設定される。 IDLハンドラー、EB：IDLルーチンはシーケン
ス外指令レンジにおいて、POS／１バツフアオー
バーフローサービスリクエスト割り込みルーチン
によつて呼ばれ、バツフア入力データ移送がIDL
チヤンネル３０，３２上で完了した時に生ずるバ
ツフアオーバーフロー割込みに応答して作動す
る。このルーチンに対する各入口は外部MACRO
制御ブロツクのバツフアオーバーフローカウント
語（ECB７）を増分する。このカウントが２に
達すれば、IDLハンドラーＭ：IDLの保留したタ
スクを解除する。カウントが２でない時はPOS／
１バツフアオーバーフロー出口ルーチンＭ：
BOXに戻り、保留タスクの状態は変化しない。
それ故、IDLハンドラーＭ：IDLが４個のIDLチ
ヤンネルからデータを要求すれば、バツフアオー
バーフローカウントを消去し、タスクを保留す
る。IDL外部MACROルーチンが２をカウントし
バツフアオーバーフロー割込みが完了した時は保
留は行はれない。 GAGTSK即ちデイスク常駐タスク（タスク２
０）はオフラインタスクであり、デイスク常駐オ
フラインゲージサブルーチンオーバーレイをコア
に読込み、制御をオーバーレイに移す。
GAGTSKプログラムは後述する作業者相互作用
サブルーチン呼出オーバーレイSUBCLLによつ
てネモニツクパラメータの供給に応答してコアに
特定のサブルーチンを呼ぶ。サブルーチン
SUBCLLの表にはすべてのプログラムとネモニ
ツクスとが述べてある。GAGTSKはデイスク常
駐共通部をコアに移送し、デイスクセクタースイ
ツチ１２が可能の書込みであればタスクからの出
口において更新共通部をデイスクに書込む。 オフラインビシーフラツブIGAGOFは２のタ
スクの入口でセツトし、出口で消去する。 SUBCLL即ちオーバーレーとしてのデイスク
常駐サブルーチンはオフラインモードで作動し、
これによつて操作者はゲージオフライン装置と相
互作用して、所要の利用可能のオフライン棒材直
径測定プログラムを作動させる。これはデイスク
からコアに移送され、装置モーターデイスク読出
し移送制御ルーチンを使用してオフラインゲージ
タスクGAGTSK（タスク２０）によつて作動す
る。操作者の入れたネモニツクスはサブルーチン
デイスクセクターを定め、このセクターはサブル
ーチンがGAGTSKとなつた時に戻り、GAGTSK
は所要サブルーチンオーバーレーで作動する。サ
ブルーチン機能はプログラムリストに述べてあ
り、操作者の要求に応答して補助として利用でき
る。 GAGTRNプログラムはゲージオフライン装置
で使用される。これは572語ゲージデータブロツ
クを所定のデイスクエリアから制御装置６７の指
定する他のエリアに移送する。ゲージ共通記憶エ
リアを中間記憶装置としてデイスク−コア−デイ
スクの移送を行う。デイスクスイツチ１０は可能
の書込みを必要とする。 棒材測定データプログラム２０２について説明
する。 補助サブルーチンであるGAGEILは常に棒材測
定データを必要とするサブルーチンに随伴する。
このサブルーチンはIDAハンドルのサブルーチン
Ｍ：IDL、CD：IDL、EB：IDLに随伴して実際
に棒材位置及び直径データを得る。更に補償を必
要とする時は補償サブルーチン（CMPSNT）に
随伴する。このサブルーチンは棒材位置及び直径
の良い読みの平均値を得、偏差を計算し、この結
果を共通テーブルに記憶する。有効性テストを行
い、所要に応じて誤差フラツグをセツトする。 補償プログラム２００について説明する。 GAGMAPはオーバーレーとしてデイスク常駐
サブルーチンであり、オフラインモードで作動
し、オンライン棒材直径ゲージタスク及びサブプ
ログラムに使用する補償テーブルを作成し、これ
らオフラインゲージプログラムは補償寸法データ
を必要とする場合とする。このテーブルは共通エ
リアに常駐し、解像管視野を横切る影に生ずる非
直線性の補償を行う。このテーブルはフオーマツ
トされ、印字機６３の出力となる。このプログラ
ムを作動した後に棒材直径データが有効データと
なる。これがサブルーチンSUBCLLに呼出され
る時は操作者の相互作用を必要とする。 補償マツプは256個の棒位置に相当する256個の
入口がある。素子１は全体で10404cm（4.096イン
チ）の視野底を代表し、素子２５６は視野頂を代
表する。各素子は修正データを有し棒の頂底縁の
位置に基く測定棒材寸法から引算する。実際の修
正はサブルーチンCMPNSTによつて行う。縁部
８２，８３を使用し中央線を使用しないことはマ
ツプを棒材１０の各種寸法に使用可能とする。 マツプ形成手順間に12.7mm（1/2インチ）に機
械加工した試料棒材１０を光軸に直角方向に±
47.1mm（±1.5インチ）前後に動かす。棒材が移
動する間にGAGMAPをオフライン較正装置で実
施する。このプログラムは10000測定を行い、棒
位置の各分画における平均偏差を計算する。この
中間結果を256素子テーブルに記憶しISUMと称
する。 棒材縁部８２，８３位置に基く最終補償は次の
手順によつてISUMテーブルから生ずる。 １ 補償マツプを消去する。 ２ 計算機シミユレーシヨンのために、仮想12.7
mm（1/2インチ）棒材１０を視野中心スロツト
１２９の0.406mm（0.016インチ）上方に置く。
頂底棒材縁部８２，８３の位置の計算は次の式
となる。 頂縁83＝〔視野中心位置＋0.406＋ 棒直径／２〕／0.406 ……（式１） 底縁82＝〔視野中心位置＋0.406− 棒直径／２〕／0.406 ……（式２） 例 ＝ 頂縁83＝（52.018＋0.406＋１２．７／２）／0.406 ＝144 ……（式３） 底縁82（52.018＋0.406−１２．７／２）／0.406 ＝113 ……（式４） ３ 上縁８３の位置（144）としてマツプに記憶
された値は棒材１０の中心位置（129）に対応
してISUMテーブルに記憶された変位と下縁８
２の位置（113）としてマツプに記憶された値
との合計である。 IMAP（上縁83）＝ISUM（中心棒） ＋IMAP（下縁） ……（式５） IMAP（144）＝ISUM（129）＋ IMAP（113） ……（式６） ４ 棒材１０の中心位置を上方に上げて手順２、
３を繰返す。視野中心から上方に順次0.812mm
（0.032インチ）、1.218mm（0.048インチ）、1.624
mm（0.064インチ）等とする。これを繰返して
棒材１０の上縁を視野中心の上方＋47.1mm（＋
1.5インチ）とする。 IMAP（145）＝ISUM（130）＋ IMAM（114） IMAP（146）＝ISUM（131）＋ IMAP（145） IMAP（147）＝ISUM（132）＋ IMAP（146） 〓 IMAP（220）＝ISUM（205）＋ IMAP（189） IMAP（221）＝ISUM（206）＋ IMAP（190） マツプの上半は完全になる。 ５ マツプの下半を前述と同じ手順で書込む。同
じ直径12.7mm（1/2インチ）の機械加工試料と
した棒材１０を視野中心（128）に置き上下縁
８３，８２を同様にして求める。 上縁83＝〔視野中心＋棒寸法／２〕／0.406 （式７） 下縁82＝〔視野中心−棒寸法／２〕／0.406 （８式） 上縁83＝〔52.018＋12.7／２〕0.406＝143 （式９） 下縁82＝〔52.018−12.7／２〕／0.406＝112 （式10） ６ 棒材下縁82のマツプ値（122）は棒材中心位
置（128）としてISUMに記憶された値と上縁
８３の位置（143）としてマツプに記憶された
値との合計である。 IMAP（下縁82）＝ISUM（棒中心）＋ IMAP（上縁83） ……（式11） IMAP（112）＝ISUM（128）＋ IMAP（143） （式12） ７ 棒材１０の位置を視野中心から0.406mm
（0.016インチ）毎に下方に順次下げ、棒材下縁
８２の位置が視野中心から−47.1mm（1.5イン
チ）までとする。 IMAP（111）＝ISUM（127）＋ IMAP（142） IMAP（110）＝ISUM（126）＋ IMAP（141） IMAP（109）＝ISUM（125）＋ IMAP（140） 〓 IMAP（36）＝ISUM（52）＋IMAP（67） IMAP（35）＝ISUM（51）＋IMAP（66） かくしてマツプの下半は完全になる。 ８ マツプ位置の221より上方と35より下方とは
使用しない。これらの位置は第５図に示す光電
陰極の視野外の不使用位置に相当する ９ マツプ素子１１１〜１４３は０である。この
位置は視野中心から±6.35mm（0.25インチ）の
部分に相当する。 10 カメラヘツド３１に対応するマツプは共通デ
ータエリア記憶装置FCOMP1に記憶される。 CONDATはゲージオフラインシステムで作動
するプログラムである。この目的は操作者がカメ
ラへツド３１のスロープ及びオフセツト修正を入
れるのに使用する。この変数は下記の通りであ
る。 IMULT1：カメラヘツド３１のスロープ修正率 IOFST1：カメラヘツド３１のオフセツト修正率 スロープ修正は次の式に基いて視野補償サブル
ーチンCMPNSTにおいてすべての棒材に加算す
る。 寸法＝（12.7mm−棒材寸法）IMULT1 オフセツト修正は次の式に基いて視野補償サブ
ルーチンCMPNSTにおいてすべての棒材に加算
する。 寸法＝棒材寸法−IOFST1 ZEROはオフラインゲージシステムで作動する
プログラムである。この目的は補償マツプ、すべ
てのスローブ及びオフセツト修正率をゼロとし、
右側マスク較正を一定とする。 MAPRNTはオフラインゲージシステムで作動
する他のプログラムである。これは操作者の相互
作用を必要としない。この目的は視野補償マツ
プ、スロープ及びオフセツト修正率、左右マスク
値を印字する。 GATPCプログラムは内部に記憶した補償式を
基準として高温目標寸法を計算する。この式は３
種の変数を必要とする。第１に炭素成分を共通エ
リアBDCCOMのIGRADEから得る。第２に、共
通エリアSYSCOMのITMPZZから標材温度を得
る。第３に、共通エリアBDCCOMのICDAIMか
ら低温目標寸法を得る。計算された高温目標寸法
は共通記憶装置BDCCOMの所定エリアに記憶さ
れる。 CMPNSTは補助サブルーチンであり、ゲージ
直径データ補償を必要とする各サブルーチンに随
伴する。特に、このサブルーチンは視野内の棒材
位置に対する棒材測定データを直線化し、サブル
ーチンCORDATに対するスロープ及びオフセツ
トデータによつて測定データを修正し、サブルー
チンGAGRCCによつて生じた右側マスクデータ
による自動較正を行う。 カメラヘツド３１からの棒材１０のデータは、
オフラインプログラムGAGMAPによつて生じた
補償マツプFCOMP1を使用してCMPNSTサブル
ーチンによつて直線化する。補償の手順は次の通
りである。 １ アキユムレータ１１８からの棒材寸法及び位
置データを使用して補償マツプ上で棒材１０の
上下縁８３，８２の位置を定める。 上縁83位置＝（棒中心位置＋棒寸法／２〕／0.406 下縁82位置＝（棒中心位置−棒寸法／２〕／0.406 直型25.4mm（１インチ）の棒の中心が19.05
mm（3/4インチ）視野中心より上方であれば、
棒中心位置は： 52.018mm（2.048インチ）＋19.05mm（0.75イン
チ）＝71.07mm（2.798インチ）棒上下縁位置は
前述した通りである。 上縁83＝（71.07）２５．４／２）／0.406＝2.03 （式13） 下縁82＝（71.07−２５．４／２）／0.406＝140 （式14） ２ 上下縁８３，８２に相当する補償値はマツプ
から得られ夫々ICOR1，ICOR2とする。 ICOR1＝IMAP（上縁83位置） （式15） ICOR2＝IMAP（下縁82位置） （式16） ３ 上縁下縁８３，８２共に視野中心より上方に
ある時の修正は： 修正棒位置＝未修正寸法−ICOR1＋ICOR2 （式17） ４ 上下縁８３，８２共に視野中心より上下にあ
る時の修正は、 修正棒位置＝未修正寸法＋ICOR1−ICOR2 （式18） ５ 上縁８３が視野中心の上方にあり下縁８２が
下にある時の修正は 修正棒位置＝未修正寸法−ICOR1−ICOR2 （式19） 較正プログラム２０１について説明する。 CALIBRはオフラインゲージシステムで作動す
るプログラムである。この作動は操作者の相互作
用は必要としない。このプログラムの目的は印字
機６３上のゲージに対して性能ログを定めること
にあり、次の機能を行う。 １ 左側及び右側マスク９５，９４に偏向させ、 ａ 各マスクの寸法を測定印字する。 ｂ 記憶されたマスク値からの偏差を計算印
字、 ｃ ＋のスロープ値を測定印字、 ｄ −のスロープ値を測定印字、 ｅ 各マスクに使用する窓を印字。 ２ アナログテスト寸法、正負スロープ値を測定
印字する。 ３ デジタルテストを測定印字する。 ４ 再較正に使用した較正更新値を印字する。 再較正プログラム２０２について説明する。 RTMASKプログラムはオーバーレー内のデイ
スク常駐サブルーチンであり、オフラインモード
で作動する。このプログラムによつて次の棒直径
ゲージ機能を行う。 １ 右偏向電子窓ゲートを解像管９０のパラメー
タの変化に適応させて変化させる。 ２ 共通テーブルに記憶された右側偏向直径基準
値をドリフト、部品の老化を補償するために更
新する。 ３ 変化を希望しない時は、このプログラムを周
期的に行い、偏差は印字機６３によつて印字し
て電子的温度的理由によるドリフトを確認す
る。 このサブルーチンから定常作動に戻すために
は、解像管９０の掃引を中央に戻し、全電子窓
ゲートを作動させ、逆光光源ランプを通る電流
を反対にしてランプの寿命を長くする。このプ
ログラムの主目的は長期間のドリフト点検装置
であり、他の利用法として窓ゲート及び基準テ
ーブル値の更新を行う。このプログラムはサブ
ルーチンSUBCLLによつて呼出され、操作者
の作用を必要とする。 GAGRCLはオンラインシステムで作動するプ
ログラムであり、操作者の作用を必要としない。
この目的は周期的に棒材直径ゲージを自動再較正
し、上述のドリフト修正項ITMP1を更新する。
このプログラムではカメラの掃引を偏向させて右
側マスクを走査し、最初の較正準備からの偏差を
測定してドリフト項を修正する。プログラム終了
に際して、掃引を中央に移し、正常の窓とし、光
源を反転させる。 自動再較正プログラムは、棒材１０が視野内に
ない時に較正値を点検してゲージ精度を保つ。こ
の再較正プログラムの作動は棒材１０が視野を去
り次の棒材が到達する前に行う。この条件は高温
金属検出電子装置５７からの信号によつて定ま
る。このためにソフトウエアを使用して、既知の
内部基準例えば右側マスク９４のオンライン測定
と、システム較正間に行う同じ内部基準のオフラ
イン測定との差に基くスケールフアクターを計算
する。再較正の後にゲージ視野内の次の棒材の測
定は上述のスケールフアクターを使用して修正す
る。 再較正測定の眼目は解像管９０の前面マスク付
き光電陰極９１である。マスクのパターンは第５
図に示す。光電陰極９１には左側に2.54mm（0.1
インチ）間隔とした巾2.54mm（0.1インチ）の５
本のマスクを形成し、右側には１本の6.35mm
（0.25インチ）巾のマスクを中央に形成する。解
像管９０と光電陰極９１との構造と作動は第４，
５，６図について前に詳述した。Ｘ軸バイアスに
よつて“Ｃ”走査、“Ｒ”走査、“Ｌ”走査位置と
する。右側マスクカメラ信号と棒材マスクカメラ
信号とは同じである。電子装置の調整を行はない
時は時間T1で右側マスクを測定することは、時
間T2で棒材を測定することと同じである。偏差
があれば電子ドリフトであると推定される。 再較正システムは修正率を計算するために右側
マスク９４のみを使用する。５本の左側マスクは
オフライン較正システムにおいて直線性の点検の
ために使用する。カメラヘツド３１較正のために
右側マスクを測定し、オフライン較正システムの
右側マスクプログラム“RT”を行つてデイスク
に記憶させる。変数はIMASK1の名称でコアの共
通データエリアMSKCOMに記憶させる。制御シ
ステム作動の時はデータをデイスクからコアの共
通エリアMSKCOMに移送する。 右側マスク９４のオフライン測定はGAGRCL
タスクによつて行う。高温金属検出器５５が棒材
１０後端がゲージを通過したことを検出した後
に、GAG−RCLプログラムによつて解像管の像
を右に偏向させてマスク９４を測定する。カメラ
１の測定値とIMASK1との差を共通データエリア
TMPOFFに可変ITMP1を記憶させる。この値は
最初の較正オンライン較正とのゲージ測定値の変
化を示す。 オンライン修正機能はITMP1を使用してサブ
ルーチンCMPNSTで行う。スロープ修正は次の
式によつて各測定値を修正する。 修正棒寸法＝棒寸法（棒寸法×ＩＴＭＰ１／１２．７） （式20） ITMP1＝0.01524mm（0.0006インチ）とすれば 修正棒寸法（直径12.7mm）＝12.7 −１２．７×０．０１５２４／１２．７＝12.6847（式2
1） 修正棒寸法（25.4mm）＝25.4−２５．４×０．０１５２
４／１２．７ ＝25.3694 （式22） 修正棒寸法（38.1mm）＝38.1−３８．１×０．０１５２
４／１２．７ ＝38.0451 （式23） 直径12.7mmの棒材の修正量はITMP1の値に等し
い。同様にして12.7mmの２倍、３倍の棒材の修正
量はITMP1の値の２倍、３倍となる。この理由
はレンズ８６の縮少率が1/2であることになる。
12.7mm直経の棒材は6.35mm（0.25インチ）の影と
して光電陰極に投射され、右側マスク９４の巾に
ほゞ等しい。 LFTMSKプログラムはオーバーレーとしてデ
イスク常駐サブルーチンであり、オフライインモ
ードで作動し、次の棒材直径ゲージ機能を行う。 １ 左偏向電子窓ゲート機能であり、左側マスク
９５の５本の左偏向棒材基準を選定するために
使用し、解像管９０のパラメータの変化に適応
させて変更する。 ２ 左偏向直径基準値機能であり、共通テーブル
内に記憶され、ドリフト、部品の老化を補償す
るために更新する。 ３ 変更を希望しない時はプログラムを周期的に
行い、偏差を５本の左側偏向基準の夫々につい
て印字機６３で印字し、電子的温度的ドリフト
を知る。最大サイクル時間は3200秒である このサブレーチンが終了すれば解像管９０の掃
引を中央に戻し、電子窓ゲートを作動させ、逆光
光源ランプを通る電流を反転してランプ寿命を長
くする。このプログラムの目的は視野及び電子的
ドリフトの点検装置とし、他の機能として、窓ゲ
ートと基準テーブル値を更新する。これはブルー
チンSUBCLLによつて作動し、操作者の作用を
必要とする。 ヒストグラムプログラム２０４について説明す
る。 GAGHSTはオフラインゲージシステムで作動
するプログラムであり、操作者の作用を必要とす
る。この目的はカメラヘツド３１からの多数の読
みを集め、コア１９４のテーブルIBDGI2に記憶
させ、第１７図に示す通り±0.127mm（±0.005イ
ンチ）の範囲で0.0051mm（0.0002インチ）分画と
したカメラヘツド３１のヒストグラムテーブルを
印字する。更に、すべて読みの平均及び標準偏差
を計算する。操作者は所要の棒材目標寸法に対す
る所要の多数の読みを求め、第１９図に示す通り
制御装置６７によつてヒストグラムテーブルを使
用を要求する 二次元及びプロフル測定制御装置について説明
する。 第１図Ａは本発明の第２の実施例による計算機化
電気光学装置を示し、異なる方向の２種の寸法及
びプロフイル測定制御用とし、鋼材熱間圧延機の
走査装置に取付けた２個の逆光カメラを使用す
る。この実施例は第１図とほぼ同様であるが２組
の測定カメラ装置と走査装置とを有する。第２カ
メラ電子装置３９は第４〜１３図に示したカメラ
電子装置３５とほぼ同様であるが第２カメラ電子
装置に使用する機器、回路、波形、タイミング線
図、計算機プログラム等は（′）を附して区別す
る。この測定制御装置は棒材１０の直交する直径
方向の寸法とプロフイルをロールスタンド１１の
出口附近で測定し、走査装置は停止とすることも
でき、所定角速度で棒材１０の外面を走査するこ
ともできる。後述する通り、２種の直径信号及び
走査装置位置信号を計算機に供給して棒材１０の
横方向プロフイルをプロツトする。棒材プロフイ
ルデータを表示、記録して圧延機制御装置に伝達
し、圧延機制御装置はこのデータを使用して棒材
寸法形状の制御を、(a)ロールスタンド１１の横方
向間隔の設定、(b)ロールスタンド１１のロールの
縦方向アライメントの設定、(c)スタンド１１の前
のスタンドのロール間隔の設定によつて行う。 双ヘツド走査装置１２の逆転可能の走査機構１
３のモータ１４によつて駆動される。モータ１４
はケーブル１５を介して可変速制御器１６によつ
て附勢される。２モードセレクタスイツチ１７は
ケーブル１８を介して制御器１６を制御して手動
自動走査作動を行はせる。装置操作者又は計算機
が手動自動制御を行う。手動制御モードにおいて
は手動による速度制御、始動、停止、走査器方向
制御は制御器１９によつて行い、制御信号はケー
ブル２０を経て制御器１６に伝達される。自動制
御モードにおいては手動制御信号源を遮断し、走
査制御器１６は後述する通り計算機から所要信号
を受ける。 走査器位置エンコーダ２１を走査機構１３に結
合して走査器回転の絶対位置を代表するアナログ
信号を発生する。このエンコーダ信号はケーブル
２２を経て走査器位置電子装置２３に供給されて
アナログ及びデジタル走査器位置信号に変換され
る。アナログ走査器位置信号はケーブル２４を経
て走査器位置表示器２５に伝達され、走査位置を
手動制御する時に操作者が目視制御を行う。デジ
タル走査器位置信号はケーブル２６を経て計算機
２７′に供給され、走査装置１２を自動制御する
時に計算機指令信号に組合される。計算機２７′
は始動停止信号及び速度制御信号を後述する通り
に供給する。これらの信号はケーブル２８，２９
を経て走査器制御器１６に供給される。自動制御
モードの間、デジタル走査器位置信号は棒材プロ
フイル決定作動用として後述する通りに使用され
る。 双ヘツド走査装置１２の走査機構１３に第１第
２逆光電子カメラヘツド３１，３２を互に直角方
向として棒材１０に対して垂直として取付け、所
定角速度で棒材１０の外周を走査する。棒材１０
のプロフイルプロツト走査のためには走査装置１
２を第１Ａ，２図に示す通り90゜回動させる。こ
れによつて棒材１０の180゜の横方向プロフイル
をプロツトするための十分なカメラ信号が得られ
る。180゜フロフイルプロツトは圧延作業者及び
圧延機制御計算機に対して著しく有効であり、後
に詳述する。棒材寸法測定に対する他の走査要求
の下では、走査角度は90゜回動以外とすることが
できる。例えば第１図に示す光源30とカメラヘツ
ド３１とを走査装置に取付け、一次元測定システ
ムを使用して走査機構を回動させ、他の型式の棒
材１０のプロフイルプロツトを得ることができ
る。 第１の光源箱３０を第１の電子カメラヘツド３
１に対向させ、棒材１０が光源箱３０からの光を
遮断した時に棒材直径に比例する巾を有する棒材
の影が第１電子カメラヘツド３１の像となる。同
様にして第２光源箱３２を第２電子カメラヘツド
３３に対向させ棒材１０が光源箱３２からの光を
遮断した時に、第１の方向とは直角の第２の横位
置における棒材直径に比例する巾を有する棒材の
影が第２電子カメラヘツド３３の像を形成する。
第１のカメラヘツド３１についての第４図につい
ての説明は第２カメラヘツド３２にも適用され
る。 各光源箱３０，３２は棒材１０に対して直角方
向に、カメラ視野内で測定すべき棒材１０の最大
寸法よりも大きな光を発生する。例えば、下記の
カメラ視野は7.62cm（３インチ）として時に組合
せる光源からの光路の直径は10.16cm（４イン
チ）とする。更に、光源箱３０，３２からの光の
波長と強さとは電子カメラヘツド３１，３３の感
度特性に適応した値とする。標準として、直流点
火螢光光源からの青い光が上述の電子カメラヘツ
ド用として好適である。 棒材１０の第１の影と棒材１０の両側を通る光
とは第１光源箱３０から第１電子カメラヘツド３
１に導かれ第１カメラ信号を発生する。この信号
は未修正カメラパルスにノイズを混入した信号で
あり、導線３４を経て第１カメラ電子装置３５に
供給される。第４図について説明した通り、第１
カメラ信号を処理してノイズを除きデジタル棒材
寸法及び棒材位置信号を発生してケーブル３６を
経て計算機２７′に供給する。測定指令等の信号
はケーブル３７を経て計算機２７′から第１カメ
ラ電子装置３５に供給される。 同様にして棒材１０の第２の影と、棒材１０の
両側を通る光とは第２光源箱３２から第２電子カ
メラヘツド３３に導かれ第２カメラ信号を発生す
る。この信号も未修正カメラパルスとノイズとの
混合であり、導線３８を経て第２カメラ電子装置
３９に供給される。第２カメラ信号を処理してノ
イズを除き、デジタル棒材寸法及び位置信号を第
１カメラ信号と同様に形成しケーブル４１を経て
計算機２７′に供給される。測定指令等の信号は
ケーブル４０を経て計算機２７′から第２カメラ
電子装置３９に供給される。 第１Ａ図の電子光学棒材測定制御装置の計算機
２７′は手動セレクタ４２から目標寸法デジタル
信号をケーブル４３を経て供給される。目標寸法
信号は例えば4.445cm（1.7500インチ）とし、棒
材１０のプロフイル変化等後述する通りに使用す
る。更に、計算機２７′は棒状１０の組成のデジ
タル信号を手動セレクタ４４からケーブル４５を
経て供給される。組成信号は棒材１０の炭素成分
を示し例えば0.230％とし、低温棒材目標寸法か
ら高温棒材目標寸法の計算等の目的に使用する。
更に計算機２７′は他の作動データ信号、例え
ば、日付、時間、寸法公差等をセレクタ４６から
ケーブル４７を経て供給される。目標寸法信号、
組成信号、他の作動データ信号を棒材圧延機自体
の制御装置から得ることもできる。 高速で動く高温棒材１０の直径測定に際して温
度補正を行なうために、例えばランド社製の光高
温計ヘツド４８を走査装置１２に近接して取付け
高温棒材１０の温度測定を行う。光高温計ヘツド
４８は高応答温度信号を発生しケーブル４９を経
て、ランド社等の高温計電子装置５０に供給され
る。未修正温度信号は高温計電子装置５０の目盛
合せ及び直線化回路によつて修正する。修正した
温度信号、例えば910℃（1670〓）はケーブル５
１を経てデジタル表示器５２に供給すると共にケ
ーブル５３を経て計算機２７′に供給し、棒材１
０の熱膨脹の補正を行う。 ランド社の光高温計ヘツド４８及び高温計電子
装置５０を使用すれば、修正温度信号を計算機２
７′及び表示器５２に所要精度、応答速度で送る
時の間題点は生じない。組合せ上の問題を解決で
きる場合は、第１の実施例で説明した光学視野走
査高温計システム等の既知の装置を使用すること
もできる。 第１Ａ図に示す実施例の他の特長は自動再較正
システムである。後述する通り、棒材１０の後端
が圧延ロール１１を去つたことを検出した時にこ
のシステムが作動する。このために、高温棒材検
出器５５は棒材１０の存在、不在を検出し、対応
する信号を導線５６を経て高温金属検出電子装置
５７に供給する。棒材不在信号はケーブル５８を
経て計算機２７′に供給されて自動再較正システ
ムを作動させる。 すべての走査位置信号、第１第２カメラ信号、
目標寸法信号、組成信号、その他の作用データ信
号は夫々のケーブル２６，３６，４１，４３，４
５，４７，５３，５８を経て計算機２７′に供給
され、計算機２７′はこれらの信号を組合せて後
述する一群の計算機オンライン、オフラインプロ
グラムの制御の下に各種機能を行う。例えば、走
査装置始動、停止信号をケーブル２８に生じ、走
査装置速度制御信号はケーブル２９に生じ、共に
自動走査モード制御プログラムによつて制御され
る。他の機能として、棒材直径データ、棒材プロ
フイルの公差基準からの偏差データ及び作動ヘツ
ダーデータは計算機２７′からケーブル５９を経
てCRT端子６０に供給され、ケーブル６１によ
つてCRT端子６０の操作盤と計算機２７′との間
の相互作用を行う。 計算機２７′の他の機能には棒材直径データ棒
材プロフイルの公差基準からの偏差データ、作動
ヘツダーデータを計算機２７′からケーブル６２
を経て印字端子６３に供給し、ケーブル６４を経
て端子６３の操作盤と計算機２７′との間の相互
作用を行う。印字端子６３は第３図に示す印字を
行う。計算機２７′の他の機能は棒材１０のプロ
フイルデータと測定装置ヒストグラムをケーブル
６６を経て制御装置６７に供給し、ケーブル６８
によつて計算機２７′にフイードバツク信号を送
る。 第２図には棒材１０の横断面を示す。点線の円
６９，７０は目標寸法直径に対する最大最小公差
範囲を示す。点線の直線即ち面Ａ−Ａ，Ｂ−Ｂ，
Ｃ−Ｃ，Ｄ−Ｄは圧延機操作者及び制御計算機が
特に関心を示し、第１１Ａ図に示す圧延機１１の
圧延間隔及びアライメントを定めるために必要で
ある。非走査作動間は走査装置１２は停止し、第
１カメラヘツド３１及び第２カメラヘツド３３は
面Ｃ−Ｃ，Ａ−Ａ上の直径を測定する。棒材１０
のＡ−Ａ面直径７１は図示の例では4450cm
（1.7520インチ）とし、Ｃ−Ｃ面の直径７２は図
示の例では4.442cm（1.7490インチ）であり、目
標寸法は4.445cm（1.7500インチ）の場合とす
る。 棒材走査作動においては、第２カメラヘツド３
３はプロフイルプロツト走査７３を面Ｂ−Ｂから
開始し、反時計方向に90゜回動して面Ｃ−Ｃを過
ぎ、面Ｄ−Ｄで停止する。同時に第１カメラヘツ
ド３１は面Ｄ−Ｄで走査を開始し反時計方向に90
゜回動して面Ａ−Ａを過ぎ、面Ｂ−Ｂで停止す
る。これによつて第１第２カメラヘツド３１，３
３は棒材１０の180゜の外周面を走査し、この走
査は面Ｂ−ＢからＣ−Ｃ，Ｄ−Ｄ，Ａ−Ａを経て
Ｂ−Ｂに戻るプロツトを行う。他の走査方法とす
ることもできる。例えば走査回転方向を時計方向
とする。走査装置１２を他の面又は点から開始し
90゜走査して最初の位置に戻る。カメラ３１，３
３を90゜回動しただけで棒材外面180゜を走査で
きる。 棒材１０のプロフイルプロツトは低温寸法に修
正して第３図に示す計算機プリント６５とする。
第３図には棒材プロフイル７４を特定の寸法特定
の製造公差とした例を示す。計算機の生ずる書式
には作動データヘツダー、第１Ａ図の目標寸法セ
レクタ４２の選択した常温目標寸法と実際の常温
修正プロフイルとの偏差が縦軸、走査装置１２の
角度位置が横軸として第３図に示される。縦軸の
目盛は0.254mm（0.0010インチ）とし、目標寸法
4.445cm（1.750インチ）の線７５の上下を示し、
最大最小公差基準線７６，７７の上下に延長す
る。公差線７６，７７を点線で示す。更に最大最
小公差の1/2の基準線７８，７９は180゜の棒材プ
ロフイルプロツトの180゜の目盛の15゜おきの目
盛数値の列として示す。０゜及び各45゜の位置に
は第２図の断面の面Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ａ，Ｂを印字
し、15゜、30゜は面Ａ，Ｃ位置に対する相対位置
として示す。 CRT端子６０の表示は計算機プリント６５と
ほぼ同じであるが次の点が異なる。棒材プロフイ
ル偏差プロツト計算機書式の他に計算機２７′は
別に第２図の点線の走査面Ａ−Ａ，Ｂ−Ｂ，Ｃ−
Ｃ，Ｄ−Ｄの表示書式、及び第２図の直径Ａ−
Ａ，Ｃ−Ｃの実際数値表示を行う。第２に、公差
の1/2が装置の目標であるため、最大最小公差は
表示しない。それ故、CRT端子６０は棒材の直
径、プロフイル、走査面の情報を提供し、測定装
置操作者及び圧延機操作者には著しく有効であ
る。 電子カメラヘツドについて説明する。 第１Ａ図の棒材測定装置に使用する逆光電子カ
メラヘツドを第４図に示し、カメラヘツド３１は
光源箱３０から棒材１０に対して反対側に光軸上
に配置する。カメラヘツド３３と光源箱３２との
関係も同様である。使用者の取付上の要求に応じ
て第１第２の電子カメラにはテレセントリツクレ
ンズ８５′、解像管９０′、光電陰極較正マスク９
４′，９５′の集光及び偏向コイル装置９３′、別
のシールドを有し、第４図について前述したと同
様とする。 カメラ電子装置について説明する。 本発明に使用するカメラ電子装置は第４図にカ
メラ電子装置３５として示した。第２のカメラ電
子装置３９は第１のカメラ電子装置３５と同様で
あり、双方向掃引発電機９７のみは両電子装置３
５，３９に共通とする。カメラ電子装置について
は前述した。第１第２カメラ電子装置は夫々未修
正カメラ信号を受けて第１第２のデジタル棒材寸
法パルス及び棒材中心位置パルスを発生し、導線
３６，４１によつて計算機２７′に導線３７，４
０からの信号の制御の下に送る。各棒材パルスの
計算機による修正は次に述べる。 計算機について説明する。 第１Ａ図の計算機２７′を第１４Ａ図にブロツ
ク線図として示す。計算機２７′はデジタルシス
テムであり、第１４図について前に述べた計算機
２７のすべての機能を有し、更に後述する各種機
能を有する。前述した通り、市販のプログラム可
能のミニ計算機を使用でき、圧延機制御計算機装
置の一部とすることもできる。計算機２７′の例
としてウエスチングハウス・エレクトリツク社の
Ｗ−2500型があり、前述の計算機２７に比較し
て、第２の棒寸法パルス及び修正機能、走査位置
制御及びプロフイルプロツト機能、及び下記の各
種タスクに適応するように附加する必要がある。 計算機２７′には通常の主要構成部分として、
入力バツフア１９０′、出力バツフア１９１′、デ
イスク記憶装置１９２′、デイスクスイツチ１９
３′、コア記憶装置１９４′を有し、各種チヤンネ
ルによつてデータ処理ユニツト195′に結合する。
計算機２７′の作動はオフライン及びオンライン
計算機プログラム１９６′によつて行う。このプ
ログラムは次の通りである。第１５，１６Ａ，１
６Ｂ図に示す計算機マツプ１９７′、サービスプ
ログラム１９８′、棒材ゲージデータプログラム
１９９′補償プログラム２００′、較正プログラム
２０１′、再較正プログラム２０２′、プロフイル
及び位置プログラム２０３、ヒストグラムプログ
ム２０４′であり、後述する。 計算機２７′を外部信号源と接続するため入力
バツフア１９０′には入力のアナログ又はデジタ
ル信号をデジタルに変換する手段を有する。計算
機の入力信号は次の通りである。ケーブル３６に
よつて第１カメラ電子装置３５、ケーブル４１に
よつて第２カメラ電子装置３９、導線２６によつ
て機械的走査器位置２３、導線５８によつて高温
金属検出器５７、ケーブル５３，５４によつて棒
材温度５０、導線４３によつて棒材目標寸法４
２、導線４５によつて棒材組成４４、ケーブル４
７によつて他の作動データ４６、ケーブル６８に
よつて制御装置６７、ケーブル６１によつて
CRT端子６０、ケーブル６４によつて印字端子
６３。 計算機２７′から外部に信号を供給するための
出力バツフア１９１′には出力信号をデジタル又
はアナログ信号に変換する手段を有する。計算機
２７′からの出力信号は次の通りである。走査装
置始動停止信号をケーブル２８で、走査装置速度
信号をケーブル２９で走査制御器１６に；ケーブ
ル６６で制御装置６７に；ケーブル３７で第１カ
メラ電子装置３５に；ケーブル４０で第２カメラ
電子装置３９に供給する。 導線及びケーブルは図には１本の線として示し
たが所要の複数の導線を組合せたケーブルとする
のが通常である。 CRT端子６０には操作盤を有し、操作者が計
算機２７′との間の相互作用を行う。 印字端子６３には操作者用の操作盤を有し計算
機２７′との間の相互作用を行う。印字端子６３
の計算機プリント６５には第３図に示す棒材プロ
フイル偏差のプロツト及び下記の数表を含む。 端子６０，６３が同じデータをプロツトするこ
ともある。操作盤からの要求は下記のプログラム
ネモニツクスによつて行う。 ゲージオフラインシステムネモニツクスは下記
の通り： HS：各ヘツドのヒストグラム MP：視野補償マツプ作成 PR：走査装置を90゜回転しプロフイルテーブル
作成 PL：プロフイルテーブルのプロツト RP：右側マスクデータについてプロフイルテー
ブル作成 CL：左及び右側マスクで較正チエツクを行う。 TY：マスクスロープ及びオフセツト率、マスク
値について印字 SC：走査装置を所要角度回動 OF：スロープ及びオフセツト修正率を入れる。 ZE：すべてのマツプ及び修正率を消去（注意） LF：左側マスクでドリフトテスト RT：右側マスクでドリフトテスト、窓を入れ
る。 TR：制御システムエリアに共通のケージをデイ
スクに移送 XT：モニターに出力、共通エリア内のマツプ、
スロープ及びオフセツト修正率、マスク値、窓
値をデイスクに書込む。デイスクスイツチが上
位置の時のみデイスクのフアイルを更新可能・
このタスク２０がモニターに呼ばれた時にフア
イルをデイスクから読出し。 デイスクスイツチ１９３′には“スイツチ１
０”、“スイツチ１２”として下記のプログラムに
記したスイツチを有する。デイスクのプログラム
又はデータを更新するためにはスイツチを書込み
可能位置とする必要がある。 計算機プログラムについて説明する。 次の表は図に示した計算機プログラム１９６′
に組合された各個の及び一群のプログラムを示
す。
【表】
【表】
制御装置とのインターフエース
マツプ１９７′について説明する。 DISC MAPプログラムを第１５図に示す。デ
イスク記憶装置１９２′内のプログラムアドレス
を拡げて上述した追加の作動特性の取扱可能とす
る。 CORE MAPプログラムを第１６Ａ，１６Ｂ図
に示す。16進コア記憶装置１９４′のプログラム
アドレスを拡げて上述の追加作動特性の取扱可能
とする。 サービスプログラム１９８′について説明す
る。 ILD HANDLERプログラムにはＭ：IDL、
CD：IDL、EB：IDLサブルーチンを有し、
GAGTSK.SUBCLL、GAGTRNルーチンについ
ても第１４図について前に述べたと同様である
が、第１４Ａ図に示す追加の作動特性を取扱うよ
うに拡げる。 棒材寸法データプログラム１９９′について説
明する。 GAGEINは前述と同様の補助サブルーチンであ
り、第２のカメラ電子装置３９からの棒材寸法デ
ータに適応するように拡げる。 補償プログラム２００′について説明する。 GAGMAT.CORDAT、ZERO、MAPRNT.
GAGTPC、CMPNSTプログラムは前述と同様で
あるが、第２のカメラ電子装置３９からの棒材寸
法データ及び修正要求に適応するように夫々拡げ
る。 較正プログラム２０１′について説明する。 CALIBRは前述と同様のオフラインプログラム
であり、第２カメラ電子装置３９からの棒材寸法
データに適応するように拡げる。 再較正プログラム２０２′について説明する。 RTMASK.GAGRCL、LFTMSKサブルーチン
は前述と同様であるが第２カメラ電子装置３９か
らの棒材寸法データと自動再較正要求とに適応す
るように拡げる。 プロフイル及び位置プログラム２０３について
説明する。 ENCNGLは新らしい補助サブルーチンであ
り、棒直径測定ヘツドの角度位置を必要とするす
べてのサブルーチンに随伴する。このサブルーチ
ンは位置エンコーダ電子装置２３を読出し、有効
性をチエツクし、位置の二進及び十進値を共通エ
リアに記憶させ、エンコーダ故障の時に誤作動フ
ラツグを設定する。 GAGPOSはオーバーレーとしてデイスクに常
駐するサブルーチンであり、オフラインシステム
で作動し操作者の作用を必要とする。これはネモ
ニツクSCを介してサブルーチンSUBCLLによつ
て呼出される。このサブルーチンの目的は端子６
０，６３の操作盤の入力によつて走査装置１２を
ある角度位置に駆動する。次はこのプログラムの
概要である。 １ 目標角度が走査位置から10゜以上離れている
時は全速電圧をケーブル２９を介して走査モー
タ制御器１６に供給して目標角度まで駆動す
る。10゜より少ない時は手順３となる。 ２ 走査装置が目標より10゜以内となるまで全速
を続ける。 ３ 目標角度の10゜以内となれば制御器１６から
の出力を半速の電圧に低下する。 ４ 目標角度の0.3゜以内となれば制御器１６に
ｏボルトを供給してプログラムを終了する。 操作者は操作盤によつて目標角度を入れる必要
がある。 PROFILは寸法オフラインシステムで作動する
新しいプログラムである。操作者の作用を必要と
する。この目的はカメラに完全90゜サイクルを走
査させて第１８図に示すプロフイルテーブルを作
成し各２゜毎の偏差を示す。このプログラムでは
データのプロツトを行はず、オフラインシステム
で作動するRLOTルーチンPLがこのプロツト作
業を行う。 誤作動の可能性として次の各種がある。 １走査モータの故障：モータが始動せず、又は走
査サイクルの終了（０゜又は90゜）がモータに
到達しない。 ２ エンコーダの故障：作動可能ビツトがエンコ
ーダから発生しない。 ３ ILD故障：ILD移送タイムアウトが生ずる。 RTPROFはオフラインシステムで作動する新
しいプログラムである。この目的はカメラが完全
90゜サイクルを走査する間に両カメラを右側マス
クに偏向させ、各２゜毎の偏差を有するプロフイ
ルテーブルを作成する。このプログラムはデータ
のプロツトを行はず、オフラインシステムで作動
するPLOTルーチンPLがプロツトを行う。 このプログラムは夫々の電子走査を第５図に示
す右側マスク９４の“Ｒ”走査に偏向させ、この
走査が完了した後に中央の“Ｃ”走査に戻す。 PLOTは新らしいプログラムであり、オフライ
ンゲージシステムで作動し、操作者の作用は必要
としない。このプログラムの目的はコア１９４′
内に記憶されたプロフイールテーブルIBDGT1に
含まれたデータをプロツトすることにある。縦軸
は軸線から10列上及び10列下にセツトされる。目
盛は最小0.0051mm（0.0002インチ）の浮動があ
る。偏差は縦軸に沿つてプロツトされ、走査装置
の角度位置は４度の分画で横軸上にプロツトされ
る。ブランク又は範囲外のデータ点は“＃”によ
つて示される。 GAGPLTは新しいオンラインプログラムであ
り、第１９図に示すコア１９４′に記憶された90
素子プロフイルテーブルIBDGT1を共通エリア
MASGAGから取出して60素子テーブルに圧縮す
る。各テーブルの横軸は３゜の分画とする。この
プログラムはプロフイルテーブルを走査し、プロ
フイルテーブルの最大最小値に応じて縦軸目盛範
囲を定める。縦軸単位目盛は0.0254mm（0.001イ
ンチ）又は0.0508mm（0.002インチ）とする。次
に、目標寸法公差線をCRT及び印字端子６０，
６３に書き込む。次にこのプログラムは各３゜毎
に縦軸偏差を計算しCRT及び印字端子６０，６
３に計算位置を“※”で書込む。最後に
HEADERプログラムを呼出してプログラムを終
了する。GAGPLTプログラムを使用した棒材プ
ロフイルを第３図に印字端子６３からの印字とし
て示す。 HEADERも新らしいオンラインプログラムで
あり、棒材低温目標寸法、炭素量及び温度を
CRT６０に書きこむ。次に日付、時間、最大公
差、最小公差及び真円度公差をCRT６０に書込
む。次にプロフイルテーブルIBDGT1を走査し、
夫々の公差限度に関して寸法公差上下限真円度に
関して計算し、この値を第３図に印字して終了す
る。 GAGPROはゲージオンラインシステムで作動
する新しいプログラムである。操作者の作用は必
要としない。このプログラムの目的はカメラヘツ
ド３１，３３を完全90゜サイクルについて走査し
各２゜の分画で偏差を示すプロフイルテーブル
IBDGT1を作成しコア１９４に記憶させる。デー
タのプロツトは行はない。 ヒストグラムプログラム２０４′について説明
する。 GAGHSTはオンライン及びオフラインゲージ
システムで作動する新しいプログラムである。実
際には前述のプログラム２０４の変形であり、操
作者の作用を必要とする。このプログラムの目的
はカメラヘツド３１，３３が第２図の面Ａ−Ａ、
Ｃ−Ｃ又は希望の位置にある時に各カメラヘツド
３１，３３から多数の読みを集め、この読みをコ
ア１９４′のテーブルIBGDT2，IBGDT3に記憶さ
せ、各カメラヘツド３１，３３のヒストグラムを
±0.127mm（±0.005インチ）の範囲について
0.0051mm（0.0002インチ）の分画で印字し、一例
を第１７図に示す。更に、このプログラムは各カ
メラヘツド３１，３３の平均及び標準偏差を印字
する。操作者は所要の読みの数、棒材目標寸法、
各ヒストグラムテーブルIBGDT2，IBGDT3、プ
ロフイルテーブルIBGDT1の使用要求を第１９図
に示す通り制御装置６７によつて入れる必要があ
る。
マツプ１９７′について説明する。 DISC MAPプログラムを第１５図に示す。デ
イスク記憶装置１９２′内のプログラムアドレス
を拡げて上述した追加の作動特性の取扱可能とす
る。 CORE MAPプログラムを第１６Ａ，１６Ｂ図
に示す。16進コア記憶装置１９４′のプログラム
アドレスを拡げて上述の追加作動特性の取扱可能
とする。 サービスプログラム１９８′について説明す
る。 ILD HANDLERプログラムにはＭ：IDL、
CD：IDL、EB：IDLサブルーチンを有し、
GAGTSK.SUBCLL、GAGTRNルーチンについ
ても第１４図について前に述べたと同様である
が、第１４Ａ図に示す追加の作動特性を取扱うよ
うに拡げる。 棒材寸法データプログラム１９９′について説
明する。 GAGEINは前述と同様の補助サブルーチンであ
り、第２のカメラ電子装置３９からの棒材寸法デ
ータに適応するように拡げる。 補償プログラム２００′について説明する。 GAGMAT.CORDAT、ZERO、MAPRNT.
GAGTPC、CMPNSTプログラムは前述と同様で
あるが、第２のカメラ電子装置３９からの棒材寸
法データ及び修正要求に適応するように夫々拡げ
る。 較正プログラム２０１′について説明する。 CALIBRは前述と同様のオフラインプログラム
であり、第２カメラ電子装置３９からの棒材寸法
データに適応するように拡げる。 再較正プログラム２０２′について説明する。 RTMASK.GAGRCL、LFTMSKサブルーチン
は前述と同様であるが第２カメラ電子装置３９か
らの棒材寸法データと自動再較正要求とに適応す
るように拡げる。 プロフイル及び位置プログラム２０３について
説明する。 ENCNGLは新らしい補助サブルーチンであ
り、棒直径測定ヘツドの角度位置を必要とするす
べてのサブルーチンに随伴する。このサブルーチ
ンは位置エンコーダ電子装置２３を読出し、有効
性をチエツクし、位置の二進及び十進値を共通エ
リアに記憶させ、エンコーダ故障の時に誤作動フ
ラツグを設定する。 GAGPOSはオーバーレーとしてデイスクに常
駐するサブルーチンであり、オフラインシステム
で作動し操作者の作用を必要とする。これはネモ
ニツクSCを介してサブルーチンSUBCLLによつ
て呼出される。このサブルーチンの目的は端子６
０，６３の操作盤の入力によつて走査装置１２を
ある角度位置に駆動する。次はこのプログラムの
概要である。 １ 目標角度が走査位置から10゜以上離れている
時は全速電圧をケーブル２９を介して走査モー
タ制御器１６に供給して目標角度まで駆動す
る。10゜より少ない時は手順３となる。 ２ 走査装置が目標より10゜以内となるまで全速
を続ける。 ３ 目標角度の10゜以内となれば制御器１６から
の出力を半速の電圧に低下する。 ４ 目標角度の0.3゜以内となれば制御器１６に
ｏボルトを供給してプログラムを終了する。 操作者は操作盤によつて目標角度を入れる必要
がある。 PROFILは寸法オフラインシステムで作動する
新しいプログラムである。操作者の作用を必要と
する。この目的はカメラに完全90゜サイクルを走
査させて第１８図に示すプロフイルテーブルを作
成し各２゜毎の偏差を示す。このプログラムでは
データのプロツトを行はず、オフラインシステム
で作動するRLOTルーチンPLがこのプロツト作
業を行う。 誤作動の可能性として次の各種がある。 １走査モータの故障：モータが始動せず、又は走
査サイクルの終了（０゜又は90゜）がモータに
到達しない。 ２ エンコーダの故障：作動可能ビツトがエンコ
ーダから発生しない。 ３ ILD故障：ILD移送タイムアウトが生ずる。 RTPROFはオフラインシステムで作動する新
しいプログラムである。この目的はカメラが完全
90゜サイクルを走査する間に両カメラを右側マス
クに偏向させ、各２゜毎の偏差を有するプロフイ
ルテーブルを作成する。このプログラムはデータ
のプロツトを行はず、オフラインシステムで作動
するPLOTルーチンPLがプロツトを行う。 このプログラムは夫々の電子走査を第５図に示
す右側マスク９４の“Ｒ”走査に偏向させ、この
走査が完了した後に中央の“Ｃ”走査に戻す。 PLOTは新らしいプログラムであり、オフライ
ンゲージシステムで作動し、操作者の作用は必要
としない。このプログラムの目的はコア１９４′
内に記憶されたプロフイールテーブルIBDGT1に
含まれたデータをプロツトすることにある。縦軸
は軸線から10列上及び10列下にセツトされる。目
盛は最小0.0051mm（0.0002インチ）の浮動があ
る。偏差は縦軸に沿つてプロツトされ、走査装置
の角度位置は４度の分画で横軸上にプロツトされ
る。ブランク又は範囲外のデータ点は“＃”によ
つて示される。 GAGPLTは新しいオンラインプログラムであ
り、第１９図に示すコア１９４′に記憶された90
素子プロフイルテーブルIBDGT1を共通エリア
MASGAGから取出して60素子テーブルに圧縮す
る。各テーブルの横軸は３゜の分画とする。この
プログラムはプロフイルテーブルを走査し、プロ
フイルテーブルの最大最小値に応じて縦軸目盛範
囲を定める。縦軸単位目盛は0.0254mm（0.001イ
ンチ）又は0.0508mm（0.002インチ）とする。次
に、目標寸法公差線をCRT及び印字端子６０，
６３に書き込む。次にこのプログラムは各３゜毎
に縦軸偏差を計算しCRT及び印字端子６０，６
３に計算位置を“※”で書込む。最後に
HEADERプログラムを呼出してプログラムを終
了する。GAGPLTプログラムを使用した棒材プ
ロフイルを第３図に印字端子６３からの印字とし
て示す。 HEADERも新らしいオンラインプログラムで
あり、棒材低温目標寸法、炭素量及び温度を
CRT６０に書きこむ。次に日付、時間、最大公
差、最小公差及び真円度公差をCRT６０に書込
む。次にプロフイルテーブルIBDGT1を走査し、
夫々の公差限度に関して寸法公差上下限真円度に
関して計算し、この値を第３図に印字して終了す
る。 GAGPROはゲージオンラインシステムで作動
する新しいプログラムである。操作者の作用は必
要としない。このプログラムの目的はカメラヘツ
ド３１，３３を完全90゜サイクルについて走査し
各２゜の分画で偏差を示すプロフイルテーブル
IBDGT1を作成しコア１９４に記憶させる。デー
タのプロツトは行はない。 ヒストグラムプログラム２０４′について説明
する。 GAGHSTはオンライン及びオフラインゲージ
システムで作動する新しいプログラムである。実
際には前述のプログラム２０４の変形であり、操
作者の作用を必要とする。このプログラムの目的
はカメラヘツド３１，３３が第２図の面Ａ−Ａ、
Ｃ−Ｃ又は希望の位置にある時に各カメラヘツド
３１，３３から多数の読みを集め、この読みをコ
ア１９４′のテーブルIBGDT2，IBGDT3に記憶さ
せ、各カメラヘツド３１，３３のヒストグラムを
±0.127mm（±0.005インチ）の範囲について
0.0051mm（0.0002インチ）の分画で印字し、一例
を第１７図に示す。更に、このプログラムは各カ
メラヘツド３１，３３の平均及び標準偏差を印字
する。操作者は所要の読みの数、棒材目標寸法、
各ヒストグラムテーブルIBGDT2，IBGDT3、プ
ロフイルテーブルIBGDT1の使用要求を第１９図
に示す通り制御装置６７によつて入れる必要があ
る。
第１図は本発明の第１の実施例による圧延棒材
寸法の電気光学側定装置のブロツク線図、第１Ａ
図は第２の実施例による棒材プロフイル測定装置
のブロツク線図、第２図は棒材断面に公差と測定
方向とを記入した図、第３図は第１Ａ図の装置に
よる走査角度と棒材寸法の例を示す計算機印字、
第４図は第１，１Ａ図の装置のカメラ電子装置の
ブロツク線図、第５図は第４図の装置の解像管の
光電陰極の図、第６図は第５図の６−６線に沿う
断面図、第７図は第４図の装置の双方向掃引発電
機のブロツク線図、第８図は第４図のカメラ電子
装置各部の発生するパルスのタイミング線図、第
９図は第４図の装置のカメラパルスプロセサのブ
ロツク線図、第１０図は第９図のプロセサの自動
相関器機のブロツク線図、第１１図は第９図のプ
ロセサ各部の信号のタイミング線図、第１２図は
第４図の装置のPMAGC回路の回路線図、第１３
図は第４図の装置の棒材寸法及び位置アキユムレ
ータのブロツク線図、第１４図は第１図の装置の
計算機のブロツク線図と計算機プログラムを示す
図、第１４Ａ図は第１Ａ図の装置の計算機のブロ
ツク線図と計算機プログラムを示す図、第１５図
は計算機のデイスクマツプの図、第１６図は第１
図の計算機のコアマツプの図、第１６Ａ図と第１
６Ｂ図は第１Ａ図の計算機のコアマツプの図、第
１７図はヒストグラムテーブルの図、第１８図は
第１Ａ図の装置を使用したプロフイルテーブルの
図、第１９図は第１Ａ図の計算機と制御装置の一
部を示す説明図である。 １０……棒材、１１……ロールスタンド、１２
……走査装置、１３……走査機構、１６……走査
制御器、１７……自動手動選択スイツチ、１９…
…手動速度制御器、２１……走査位置エンコー
ダ、２３……走査位置電子装置、２５……表示
計、２７，２７′……計算機、３０，３２……光
源箱、３１，３３……電子カメラヘツド、３５，
３９……カメラヘツド電子装置、４２……目標寸
法セレクタ、４４……組成セレクタ、４６……操
作データ、４８，５５……高温計、５０……高温
計電子装置、５５……高温金属検出器、５７……
高温金属検出器電子装置、６０……CRT端子、
６３……印字端末、６５……印字、６７……制御
装置、６９，７１……公差範囲、７４……棒材プ
ロフイル、７５……目標寸法、７６，７７……公
差、７８，７９……公差の1/2、８５……テレセ
ントリツクレンズ系、８９……フイルター、９０
……解像（ID）管、９１……光電陰極、９４，
９５……較正マスク、９７……掃引発電機、９８
……マスタークロツク、１００……窓発振器、１
０２……Ｙコイル励振器、１０３……焦点コイル
電源、１０４……Ｘコイル励振器、１０７……自
己平衡測定ループ、１０８……カメラパルスプロ
セサ、１０９……PM・AGC回路、１１１，１１
２……解像管高圧電源、１１３……表示タイミン
グ回路、１１５……未修正寸法表示器、１１７…
…修正寸法表示器、１１８……棒材寸法位置アキ
ユムレータ、１２１……計算機データ移送論理回
路、１４３……自動相関器、１４４……棒材パル
ス開始回路、１４５……棒材パルス終了回路、１
６３……比較器、１６４……スイツチ付積分器、
１６５……励振増幅器、１７０……ポテンシオメ
ータ、１７１……電子スイツチ、１８１……寸法
アキユムレータ、１８２……位置アキユムレー
タ、１９０……入力バツフア、１９１……出力バ
ツフア、１９２……デイスク、１９３……デイス
クスイツチ、１９４……コア、１９５……データ
処理ユニツト、１９６……計算機プログラム。
寸法の電気光学側定装置のブロツク線図、第１Ａ
図は第２の実施例による棒材プロフイル測定装置
のブロツク線図、第２図は棒材断面に公差と測定
方向とを記入した図、第３図は第１Ａ図の装置に
よる走査角度と棒材寸法の例を示す計算機印字、
第４図は第１，１Ａ図の装置のカメラ電子装置の
ブロツク線図、第５図は第４図の装置の解像管の
光電陰極の図、第６図は第５図の６−６線に沿う
断面図、第７図は第４図の装置の双方向掃引発電
機のブロツク線図、第８図は第４図のカメラ電子
装置各部の発生するパルスのタイミング線図、第
９図は第４図の装置のカメラパルスプロセサのブ
ロツク線図、第１０図は第９図のプロセサの自動
相関器機のブロツク線図、第１１図は第９図のプ
ロセサ各部の信号のタイミング線図、第１２図は
第４図の装置のPMAGC回路の回路線図、第１３
図は第４図の装置の棒材寸法及び位置アキユムレ
ータのブロツク線図、第１４図は第１図の装置の
計算機のブロツク線図と計算機プログラムを示す
図、第１４Ａ図は第１Ａ図の装置の計算機のブロ
ツク線図と計算機プログラムを示す図、第１５図
は計算機のデイスクマツプの図、第１６図は第１
図の計算機のコアマツプの図、第１６Ａ図と第１
６Ｂ図は第１Ａ図の計算機のコアマツプの図、第
１７図はヒストグラムテーブルの図、第１８図は
第１Ａ図の装置を使用したプロフイルテーブルの
図、第１９図は第１Ａ図の計算機と制御装置の一
部を示す説明図である。 １０……棒材、１１……ロールスタンド、１２
……走査装置、１３……走査機構、１６……走査
制御器、１７……自動手動選択スイツチ、１９…
…手動速度制御器、２１……走査位置エンコー
ダ、２３……走査位置電子装置、２５……表示
計、２７，２７′……計算機、３０，３２……光
源箱、３１，３３……電子カメラヘツド、３５，
３９……カメラヘツド電子装置、４２……目標寸
法セレクタ、４４……組成セレクタ、４６……操
作データ、４８，５５……高温計、５０……高温
計電子装置、５５……高温金属検出器、５７……
高温金属検出器電子装置、６０……CRT端子、
６３……印字端末、６５……印字、６７……制御
装置、６９，７１……公差範囲、７４……棒材プ
ロフイル、７５……目標寸法、７６，７７……公
差、７８，７９……公差の1/2、８５……テレセ
ントリツクレンズ系、８９……フイルター、９０
……解像（ID）管、９１……光電陰極、９４，
９５……較正マスク、９７……掃引発電機、９８
……マスタークロツク、１００……窓発振器、１
０２……Ｙコイル励振器、１０３……焦点コイル
電源、１０４……Ｘコイル励振器、１０７……自
己平衡測定ループ、１０８……カメラパルスプロ
セサ、１０９……PM・AGC回路、１１１，１１
２……解像管高圧電源、１１３……表示タイミン
グ回路、１１５……未修正寸法表示器、１１７…
…修正寸法表示器、１１８……棒材寸法位置アキ
ユムレータ、１２１……計算機データ移送論理回
路、１４３……自動相関器、１４４……棒材パル
ス開始回路、１４５……棒材パルス終了回路、１
６３……比較器、１６４……スイツチ付積分器、
１６５……励振増幅器、１７０……ポテンシオメ
ータ、１７１……電子スイツチ、１８１……寸法
アキユムレータ、１８２……位置アキユムレー
タ、１９０……入力バツフア、１９１……出力バ
ツフア、１９２……デイスク、１９３……デイス
クスイツチ、１９４……コア、１９５……データ
処理ユニツト、１９６……計算機プログラム。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 長さ方向に移動すると共に横方向に振動する
棒材の横方向寸法を横方向振動による影響を補償
して測定する電気光学測定装置であつて、前記長
さ方向に移動すると共に横方向に振動する棒材の
横方向像を、電気的ノイズに起因する誤差成分お
よび棒材の温度変化や光学的又は電子的非直線性
等に起因する他の誤差成分を含む生のカメラ信号
に変換するテレセントリツクレンズ系を具える電
子カメラ装置と；該生カメラ信号を微分して各生
カメラ信号のパルス縁を検出するパルス縁検出回
路と微分された各生カメラ信号から電気的ノイズ
を除去する自己相関器とを含む信号処理装置を具
え、電気的ノイズに起因する誤差成分が除去され
前記他の誤差成分の関数として変化する未修正棒
材寸法パルスを発生する電子回路装置と；棒材の
温度を測定して棒材温度信号を発生する装置と；
前記電子カメラ装置の視野内における棒材の位置
を測定して棒材位置信号を発生する装置と；前記
棒材温度信号および棒材位置信号に従つて前記未
修正棒材寸法パルスから前記他の誤差成分を除去
し、完全に修正した棒材寸法を発生すると共にこ
れを記憶するプログラムド計算機装置と；記憶さ
れた棒材寸法を用いて精密な棒材寸法測定値を表
示および制御に利用する利用装置とを具えたこと
を特徴とする電気光学測定装置。 ２ 特許請求の範囲１に記載する装置において、
移動する棒材の２以上の横方向寸法を測定するた
めに、上記電子カメラ装置は夫々各横方向の棒材
寸法の像を生カメラ信号に変換する２以上の電子
カメラを具え、上記電子回路装置は各生カメラ信
号を処理して各横方向における未修正棒材寸法パ
ルスを発生するようにし、上記プログラムド計算
機装置は各未修正棒材寸法パルスを処理し、修正
した棒材寸法パルスを発生し記憶するようにし、
前記利用装置は各修正棒材寸法を表示記録するよ
うにしたことを特徴とする電気光学測定装置。 ３ 特許請求の範囲１又は２に記載する装置にお
いて、移動する棒材の一以上の横方向寸法を種々
の外周位置において測定するために、前記電子カ
メラ装置は一以上の電子カメラを棒材を中心とし
て制御運動させると共に走査位置信号を発生する
走査装置を含み、前記プログラムド計算機装置は
修正棒材寸法パルスを走査位置信号の関数として
棒材プロフイルをプロツトし記憶するようにし、
前記利用装置は記憶された棒材プロフイルデータ
を使用して棒材プロフイルを表示記録するように
したことを特徴とする電気光学測定装置。 ４ 特許請求の範囲３に記載する装置において、
前記走査装置は走査装置運動制御信号に応答する
制御器を含むことを特徴とする電気光学測定装
置。 ５ 特許請求の範囲４に記載する装置において、
前記プログラムド計算機装置は所定指令信号に応
答して棒材の所定外周面を正逆方向に動くように
前記走査装置を自動制御するようにしたことを特
徴とする電気光学測定装置。 ６ 特許請求の範囲１〜５の何れかに記載する装
置において、常温棒材寸法に及ぼす棒材温度およ
び棒材組成の影響による誤差に対する修正を必要
とする未修正棒材寸法パルスが発生する場合は、
棒材温度および組成信号を発生する手段を設け、
前記プログラムド計算機装置は前記棒材温度信号
および組成信号に応答して上記誤差について未修
正棒材寸法パルスを補償して修正棒材寸法パルス
を発生するようにしたことを特徴とする電気光学
測定装置。 ７ 特許請求の範囲１〜６の何れかに記載する装
置において、前記電子カメラ装置は少くとも１個
の逆光電子カメラを含むことを特徴とする電気光
学測定装置。 ８ 特許請求の範囲１〜７の何れかに記載する装
置において、前記電子カメラ装置は少なくとも１
個の電子カメラを含み、該電子カメラは電子的に
走査される像応答装置を具え、前記電子回路装置
は前記応答装置の走査を駆動する掃引発生機を含
むことを特徴とする電気光学測定装置。 ９ 特許請求の範囲８に記載する装置において、
前記掃引発生機は前記像応答装置の単軸走査を発
生する回路構成とすることを特徴とする電気光学
測定装置。 １０ 特許請求の範囲９に記載する装置におい
て、前記掃引発生機は等しい上方および下方掃引
半サイクルを有する直線双方向掃引サイクルを発
生する回路構成とすることを特徴とする電気光学
測定装置。 １１ 特許請求の範囲９に記載する装置におい
て、前記掃引発生機は非直線双方向掃引サイクル
を発生する回路構成とすることを特徴とする電気
光学測定装置。 １２ 特許請求の範囲１〜１１の何れかに記載す
る装置において、前記電子カメラ装置は可変利得
像応答装置を具え、前記電子回路装置は出力電流
が一定に維持されるように前記像応答装置の利得
を変化させる自動利得制御回路を有する自己平衡
測定ループを含むことを特徴とする電気光学測定
装置。 １３ 特許請求の範囲１０に記載する装置におい
て、前記棒材位置測定装置は未修正棒材寸法パル
スから棒材像の中心位置を表わす棒材位置信号を
発生する手段を含み、前記プログラムド計算機装
置は棒材中心位置信号に従つて未修正棒材寸法パ
ルスを有効に補正するようにしたことを特徴とす
る電気光学測定装置。 １４ 特許請求の範囲１３に記載する装置におい
て、各棒材中心位置信号は、電子カメラ装置の双
方向掃引サイクルの上方および下方の各掃引半部
において未修正棒材寸法パルス前縁を検出し棒材
中心位置をこれら前縁間距離の半分として定める
ことにより発生させるようにしたことを特徴とす
る電気光学測定装置。 １５ 特許請求の範囲１〜１４の何れかに記載す
る装置において、棒材目標寸法データソースを具
え、前記プログラムド計算機装置は所定指令信号
に応答して修正棒材寸法と目標寸法データとの関
数として修正棒材寸法の目標寸法からの偏差をプ
ロツトし記憶するようにし、前記利用装置は上記
記憶データを使用して目標寸法からの棒材寸法偏
差を表示記録するようにしたことを特徴とする電
気光学測定装置。 １６ 特許請求の範囲１５に記載する装置におい
て、棒材寸法公差データソースを具え、前記プロ
グラムド計算機装置は所定指令信号に応答して上
記データソースからの棒材寸法公差データをプロ
ツトし記憶するようにし、前記利用装置はこの記
憶データを利用して目標寸法からの棒材寸法偏差
に重ねて棒材寸法公差を表示記録するようにした
ことを特徴とする電気光学測定装置。 １７ 特許請求の範囲１〜１６の何れかに記載す
る装置において、所定指令信号に応答して前記プ
ログラムド計算機装置に記憶される作動データソ
ースを具え、前記利用装置はこの記憶作動データ
を使用して作動データを表示記録するようにした
ことを特徴とする電気光学測定装置。 １８ 特許請求の範囲１〜１７の何れかに記載す
る装置において、前記プログラムド計算機装置は
所定指令信号に応答して標準棒材を使用して装置
を較正し記憶マツプを形成するようにし、更に所
定指令信号に応答して棒材を使用せずに測定装置
を再較正するようにしたことを特徴とする電気光
学測定装置。 １９ 特許請求の範囲８に記載する装置におい
て、前記像応答装置は一以上の較正マスクを含
み、前記電子回路装置は走査を中央棒材像掃引位
置から一方の較正マスク上にオフセツトさせる手
段と、較正マスクの選択使用を制御して棒材を使
用せずに測定装置を再較正する手段とを具えるこ
とを特徴とする電気光学測定装置。 ２０ 特許請求の範囲１９に記載する装置におい
て、前記プログラムド計算機装置は所定指令信号
に応答して較正マスクの選択使用を行わせるよう
にしたことを特徴とする電気光学測定装置。 ２１ 長さ方向に移動すると共に横方向に振動す
る棒材の横方向寸法をその横方向振動による影響
を補償して測定する電気光学測定方法であつて、
測定する移動棒材の横方向像をテレセントリツク
レンズ系を具える電子カメラ装置上に結像し、該
像を電気的ノイズに起因する誤差成分および棒材
の温度変化や電子カメラ装置の光学的又は電子的
非直線性等に起因する他の誤差成分の関数として
変化する生カメラ信号に変換し；該生カメラ信号
を電子回路装置で処理して微分された生カメラ信
号から前記電気的ノイズを除去し、前記他の誤差
成分の関数として変化する棒材寸法パルスを発生
させ；棒材温度を測定して棒材温度信号を発生さ
せると共に前記電子カメラ装置の視野内における
棒材位置を測定して棒材位置信号を発生させ；前
記棒材寸法パルスと前記棒材温度信号および棒材
位置信号をプログラムド計算機装置に供給して該
計算機装置により前記棒材温度信号および棒材位
置信号に基づいて前記他の誤差成分に対する補正
係数を計算して前記棒材寸法パルスを補償して完
全に修正した棒材寸法を発生記憶し、記憶した修
正棒材寸法データを表示および制御に利用するこ
とを特徴とする電気光学測定方法。 ２２ 特許請求の範囲２１に記載する方法におい
て移動する棒材の２以上の横方向寸法を測定する
ために、棒材の二以上の横方向寸法を夫々の電子
カメラ上に結像し各像を生カメラ信号に変換し、
各生カメラ信号を処理してノイズを除去し、前記
他の誤差成分を含む二以上の棒材寸法パルスを発
生させ、各棒寸法パルスをプログラムド計算機装
置で処理し関連する棒材温度信号および棒材位置
信号に基づいて各棒材寸法パルスを補償して修正
棒寸法パルスを形成記憶し、記憶されたデータを
利用して各修正棒寸法を表示記録することを特徴
とする電気光学測定方法。 ２３ 特許請求の範囲２１又は２２に記載する方
法において、棒材の各外周位置において一以上の
横方向寸法を測定する場合に、電子カメラ装置の
電子カメラを棒材外周の周囲方向に制御走査させ
ると共に走査装置位置信号を発生させ、プロド計
算機装置において棒材プロフイルを修正棒材寸法
パルスおよび走査装置位置信号の関数としてプロ
ツトし記憶し、記憶されたデータを使用して棒材
プロフイルを表示記録することを特徴とする電気
光学測定方法。 ２４ 特許請求の範囲２３に記載する方法におい
て、棒材の走査を走査装置運動制御信号に応答し
て手動又は自動的に正逆両方向に制御することを
特徴とする電気光学測定方法。 ２５ 特許請求の範囲２１〜２４の何れかに記載
する方法において、棒材組成信号を発生し、プロ
グラムド計算機装置において棒材組成の常温棒材
寸法に及ぼす影響による誤差に対して未修正棒材
寸法パルスを補償することを特徴とする電気光学
測定方法。 ２６ 特許請求の範囲２１〜２５の何れかに記載
する方法において、棒材目標寸法、棒材寸法公
差、作動データを含む１種以上の信号を発生し、
プログラムド計算機装置内で所定指令信号に応答
して目標寸法からの棒材寸法の偏差をプロツトし
記憶し棒材寸法公差および作動データを記憶し、
記憶されたデータを使用して目標寸法からの棒材
寸法偏差を表示記録し棒材寸法公差と作動データ
とを重ねることを特徴とする電気光学測定方法。 ２７ 特許請求の範囲２１〜２６の何れかに記載
する方法において、標準寸法棒材を使用して較正
棒材像を生じさせて較正棒材寸法パルスに変換し
て測定装置を較正し、プログラムド計算機装置に
おいてオフライン指令信号に応答して記憶マツプ
を形成し、オンライン指令信号に応答して瞬時較
正棒材寸法パルスと記憶値との比較を行うことを
特徴とする電気光学測定方法。 ２８ 特許請求の範囲２１〜２７の何れかに記載
する方法において、カメラ装置には測定すべき棒
材又は較正用棒材が結像される中央部分に隣接し
て較正マスクを有する像応答装置を準備し、標準
棒材を用い像応答装置の中央部を電子的に走査し
て測定装置を予め較正し、特定の指令信号に応答
して像応答装置の電子走査を整正マスクにオフセ
ツトし、プログラムド計算機装置によりこの再較
正時の像応答装置の出力を既知標準棒材のときの
出力と比較して測定動作のドリフトを決定して較
正用棒材を使用しないで測定動作を再較正するこ
とを特徴とする電気光学測定方法。
Applications Claiming Priority (2)
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| US05/778,809 US4121292A (en) | 1977-03-17 | 1977-03-17 | Electro-optical gaging system having dual cameras on a scanner |
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