JPS6138970B2 - - Google Patents
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- JPS6138970B2 JPS6138970B2 JP56122883A JP12288381A JPS6138970B2 JP S6138970 B2 JPS6138970 B2 JP S6138970B2 JP 56122883 A JP56122883 A JP 56122883A JP 12288381 A JP12288381 A JP 12288381A JP S6138970 B2 JPS6138970 B2 JP S6138970B2
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- cooked
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Links
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- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 27
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Classifications
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F24—HEATING; RANGES; VENTILATING
- F24C—DOMESTIC STOVES OR RANGES ; DETAILS OF DOMESTIC STOVES OR RANGES, OF GENERAL APPLICATION
- F24C7/00—Stoves or ranges heated by electric energy
- F24C7/08—Arrangement or mounting of control or safety devices
- F24C7/087—Arrangement or mounting of control or safety devices of electric circuits regulating heat
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Control Of High-Frequency Heating Circuits (AREA)
- Electric Ovens (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、高周波誘電加熱を行なう電子レン
ジ、パンやケーキをつくるオーブンおよびこげ目
を付けるグリルなどの被調理物を加熱するための
調理器に関する。
ジ、パンやケーキをつくるオーブンおよびこげ目
を付けるグリルなどの被調理物を加熱するための
調理器に関する。
たとえば電子レンジなどでは、被調理物が加熱
室内でマグネトロンからの高周波によつて加熱調
理し、加熱することによつて被調理物から放射さ
れる赤外線を検出素子によつて検出し、被調理物
の加熱温度を制御している。このような調理器に
おいて、検出素子の受光面に水蒸気や揮発性の油
や異物などが付着した場合あるいは検出素子が劣
化した場合の異常時には、検出素子からの出力は
変化する。応じて被調理物の加熱温度を検出素子
は誤つて検出することになる。したがつて被調理
物は、未加熱あるいは過加熱となることになつ
た。
室内でマグネトロンからの高周波によつて加熱調
理し、加熱することによつて被調理物から放射さ
れる赤外線を検出素子によつて検出し、被調理物
の加熱温度を制御している。このような調理器に
おいて、検出素子の受光面に水蒸気や揮発性の油
や異物などが付着した場合あるいは検出素子が劣
化した場合の異常時には、検出素子からの出力は
変化する。応じて被調理物の加熱温度を検出素子
は誤つて検出することになる。したがつて被調理
物は、未加熱あるいは過加熱となることになつ
た。
本発明の目的は、上述の技術的課題を解決し、
被調理物の未加熱あるいは過加熱をなくし、しか
も検出素子の異常を点検することができる調理器
を提供することである。
被調理物の未加熱あるいは過加熱をなくし、しか
も検出素子の異常を点検することができる調理器
を提供することである。
以下図面によつて本発明の実施例を説明する。
第1図は本発明の一実施例の簡略化した斜視図で
あり、第2図はその縦断面図である。電子レンジ
などの機体1の加熱室2内には、鉛直軸線3のま
わりに回転するターンテーブル4が設けられてい
る。このターンテーブル4は、モータ5によつて
回転駆動される。ターンテーブル4上には、被調
理物6が載置される。この被調理物6は、マグネ
トロン7からの高周波電力によつて誘電加熱され
る。加熱室2の上方の機体1内であつて鉛直軸線
3上には、検出素子8が設けられる。この検出素
子8は、被調理物6が加熱されることによつて生
じる赤外線を検出する。
第1図は本発明の一実施例の簡略化した斜視図で
あり、第2図はその縦断面図である。電子レンジ
などの機体1の加熱室2内には、鉛直軸線3のま
わりに回転するターンテーブル4が設けられてい
る。このターンテーブル4は、モータ5によつて
回転駆動される。ターンテーブル4上には、被調
理物6が載置される。この被調理物6は、マグネ
トロン7からの高周波電力によつて誘電加熱され
る。加熱室2の上方の機体1内であつて鉛直軸線
3上には、検出素子8が設けられる。この検出素
子8は、被調理物6が加熱されることによつて生
じる赤外線を検出する。
加熱室2の天井9の鉛直軸線3上には、挿通孔
10が設けられる。天井9上には、ソレノイド1
1によつて矢符12,13方向に移動自在な移動
片14が設けられる。機体1の前面に設けられた
操作板15に備えられた加熱スイツチ38を押圧
操作することによつて、被調理物6が加熱される
とともに、ソレノイド11が励磁されて移動片1
4は矢符13方向に移動して挿通孔10を開く。
被調理物6が加熱され調理が終ると、加熱を停止
するとともにソレノイド11が消磁され、移動片
14は矢符12方向に移動し挿通孔10を塞ぐ。
調理時でない時に検出素子8の異常を点検するた
めの点検スイツチ16を押圧操作することによつ
て、移動片14上に設けられたモニタヒータ17
は、鉛直軸線3上に位置して電力付勢される。
10が設けられる。天井9上には、ソレノイド1
1によつて矢符12,13方向に移動自在な移動
片14が設けられる。機体1の前面に設けられた
操作板15に備えられた加熱スイツチ38を押圧
操作することによつて、被調理物6が加熱される
とともに、ソレノイド11が励磁されて移動片1
4は矢符13方向に移動して挿通孔10を開く。
被調理物6が加熱され調理が終ると、加熱を停止
するとともにソレノイド11が消磁され、移動片
14は矢符12方向に移動し挿通孔10を塞ぐ。
調理時でない時に検出素子8の異常を点検するた
めの点検スイツチ16を押圧操作することによつ
て、移動片14上に設けられたモニタヒータ17
は、鉛直軸線3上に位置して電力付勢される。
天井9の上方に設けられた板18の鉛直軸線3
上には、挿通孔19が設けられる。板18には、
モータ20が固着される。モータ20の軸であつ
て天井9、板18および機体1から成る空間21
内には、遮蔽板22が固着される。遮蔽板22
は、たとえば3枚の羽根を有し、羽根間の隙間を
通り挿通孔19を通つて検出素子8に与えられる
赤外線を断続的にする。空間21内には、モータ
23によつて駆動されるフアン24によつて一定
流量の空気が導入されている。そのため、空間2
1内の温度を一定に保つことができる。また空間
21内の空気は加熱室2内に押し出されることに
なる。したがつて、加熱室2からの水蒸気などの
気体が空間21内に入ることが制限される。また
加熱室2を開閉するための扉25に設けられたパ
ンチングメタルなどの網が、被調理物から生じた
気体などによつて目詰まりを生じることが防が
れ、その網を介して外部から加熱室2内を目視す
ることができる。また加熱室2内の熱風を循環さ
せて温度を均一にすることができる。
上には、挿通孔19が設けられる。板18には、
モータ20が固着される。モータ20の軸であつ
て天井9、板18および機体1から成る空間21
内には、遮蔽板22が固着される。遮蔽板22
は、たとえば3枚の羽根を有し、羽根間の隙間を
通り挿通孔19を通つて検出素子8に与えられる
赤外線を断続的にする。空間21内には、モータ
23によつて駆動されるフアン24によつて一定
流量の空気が導入されている。そのため、空間2
1内の温度を一定に保つことができる。また空間
21内の空気は加熱室2内に押し出されることに
なる。したがつて、加熱室2からの水蒸気などの
気体が空間21内に入ることが制限される。また
加熱室2を開閉するための扉25に設けられたパ
ンチングメタルなどの網が、被調理物から生じた
気体などによつて目詰まりを生じることが防が
れ、その網を介して外部から加熱室2内を目視す
ることができる。また加熱室2内の熱風を循環さ
せて温度を均一にすることができる。
第3図は本発明の一実施例の具体的な電気回路
図である。差込みプラグ31を介する電力は、ラ
イン32,33を介してトランス34の1次巻線
およびマグネトロン7に与えられる。ライン32
およびライン33間には、モータ20、ソレノイ
ド11およびモータ23から成る直列回路ならび
にモータ5が接続される。差込みプラグ31を介
して電力が供給されると、モータ20が回転し、
応じて遮蔽板22は回転駆動される。ライン32
の途中に設けられ操作板15に設けられた加熱ス
イツチ38を押圧操作すると、ソレノイド11、
モータ23,5およびトランス34が電力付勢さ
れ、リレーコイル39を有するリレー40が励磁
され、ライン32の途中に設けられたリレースイ
ツチ41が導通して、マグネトロン7は電力付勢
される。ソレノイド11が電力付勢されることに
よつて、移動片14は矢符13方向に移動し挿通
孔10を開く。リレー40の加熱スイツチ38お
よびリレースイツチ41は、リレーコイル39が
励磁されると導通状態を自己保持し、消磁される
と遮断状態を自己保持する。リレー36は、リレ
ーコイル42を有する。リレーコイル42が励磁
されると、リレースイツチ37は導通状態を自己
保持し、リレースイツチ41とマグネトロン7の
間でライン32上に設けられたリレースイツチ4
3は遮断状態を自己保持する。リレーコイル42
が消磁されると、リレースイツチ37が遮断状態
を自己保持するとともにリレースイツチ43は導
通状態を自己保持する。
図である。差込みプラグ31を介する電力は、ラ
イン32,33を介してトランス34の1次巻線
およびマグネトロン7に与えられる。ライン32
およびライン33間には、モータ20、ソレノイ
ド11およびモータ23から成る直列回路ならび
にモータ5が接続される。差込みプラグ31を介
して電力が供給されると、モータ20が回転し、
応じて遮蔽板22は回転駆動される。ライン32
の途中に設けられ操作板15に設けられた加熱ス
イツチ38を押圧操作すると、ソレノイド11、
モータ23,5およびトランス34が電力付勢さ
れ、リレーコイル39を有するリレー40が励磁
され、ライン32の途中に設けられたリレースイ
ツチ41が導通して、マグネトロン7は電力付勢
される。ソレノイド11が電力付勢されることに
よつて、移動片14は矢符13方向に移動し挿通
孔10を開く。リレー40の加熱スイツチ38お
よびリレースイツチ41は、リレーコイル39が
励磁されると導通状態を自己保持し、消磁される
と遮断状態を自己保持する。リレー36は、リレ
ーコイル42を有する。リレーコイル42が励磁
されると、リレースイツチ37は導通状態を自己
保持し、リレースイツチ41とマグネトロン7の
間でライン32上に設けられたリレースイツチ4
3は遮断状態を自己保持する。リレーコイル42
が消磁されると、リレースイツチ37が遮断状態
を自己保持するとともにリレースイツチ43は導
通状態を自己保持する。
トランス34の2次巻線には、ダイオード44
〜47から成る整流回路48が接続される。トラ
ンス34からの電力は、整流回路48で整流さ
れ、コンデンサ49で平滑される。コンデンサ4
9には並列に、電界効果トランジスタ(Field
Effect Transistor、以下FETと略称する)50
および抵抗51から成る直列回路が接続される。
FET50のゲートおよび接地間には検出素子8
が接続される。被調理物6からの赤外線に応答し
て、検出素子8は、出力を導出する。検出素子8
からの出力は、FET50によつて増幅され、
FET50のソースから検出回路52に与えられ
る。検出回路52は、FET50のソースからの
出力を増幅してリレーコイル39を励磁するとと
もに、予め定める加熱温度の設定値とFET50
のソースからの出力とを比較して被調理物6が予
め定める加熱温度の設定値に達するとリレーコイ
ル39を消磁する機能を有する。
〜47から成る整流回路48が接続される。トラ
ンス34からの電力は、整流回路48で整流さ
れ、コンデンサ49で平滑される。コンデンサ4
9には並列に、電界効果トランジスタ(Field
Effect Transistor、以下FETと略称する)50
および抵抗51から成る直列回路が接続される。
FET50のゲートおよび接地間には検出素子8
が接続される。被調理物6からの赤外線に応答し
て、検出素子8は、出力を導出する。検出素子8
からの出力は、FET50によつて増幅され、
FET50のソースから検出回路52に与えられ
る。検出回路52は、FET50のソースからの
出力を増幅してリレーコイル39を励磁するとと
もに、予め定める加熱温度の設定値とFET50
のソースからの出力とを比較して被調理物6が予
め定める加熱温度の設定値に達するとリレーコイ
ル39を消磁する機能を有する。
検出素子8が正常な場合には、加熱スイツチ3
8を押圧操作すると、リレースイツチ41が導通
しマグネトロン7が電力付勢され、検出素子8は
予め定める設定温度を検出する。したがつて被加
熱物6は、ほど良く調理される。
8を押圧操作すると、リレースイツチ41が導通
しマグネトロン7が電力付勢され、検出素子8は
予め定める設定温度を検出する。したがつて被加
熱物6は、ほど良く調理される。
空間21から送風して前述のように加熱室2に
空気を押し込むようにしているけれども、加熱室
2内の空気圧は被調理物6からの水蒸気などによ
つて高くなるので、数回繰返して調理加熱を行な
うと、加熱室2内の水蒸気などが空間21に達す
ることになる。そのため、検出素子8の受光面に
水蒸気などが付着することがある。したがつて検
出素子8からの出力が低下しあるいは増加するこ
とになる。このことは被調理物6を過加熱あるい
は未加熱にすることになり、したがつて検出素子
8の異常を点検する必要がある。
空気を押し込むようにしているけれども、加熱室
2内の空気圧は被調理物6からの水蒸気などによ
つて高くなるので、数回繰返して調理加熱を行な
うと、加熱室2内の水蒸気などが空間21に達す
ることになる。そのため、検出素子8の受光面に
水蒸気などが付着することがある。したがつて検
出素子8からの出力が低下しあるいは増加するこ
とになる。このことは被調理物6を過加熱あるい
は未加熱にすることになり、したがつて検出素子
8の異常を点検する必要がある。
差込みプラグ31からの電力は、ライン53,
54を介してトランス55の1次巻線に与えられ
る。ライン53の途中には点検スイツチ16が設
けられる。トランス55の2次巻線にはダイオー
ド56〜59から成る整流回路60が接続され
る。トランス55からの電力は、整流回路60で
整流されコンデンサ61で平滑される。コンデン
サ61には並列に、タイマ62,63、モニタヒ
ータ17およびタイマ62によつて制御されるタ
イヤスイツチ64から成る直列回路、FET65
および抵抗66から成る直列回路、抵抗67,6
8から成る直列回路、リレーコイル42およびト
ランジスタ69から成る直列回路ならびに操作板
15に設けられたランプ35およびリレー36の
リレースイツチ37から成る直列回路が接続され
る。FET65のゲートには、検出素子8からタ
イマ63によつて制御されるタイマスイツチ70
を介する出力が与えられる。FET65のソース
は、比較的71の一方の入力に接続される。抵抗
67および抵抗68の接続点は比較器71の他方
の入力に接続される。比較器71の出力はトラン
ジスタ69のベースに与えられる。
54を介してトランス55の1次巻線に与えられ
る。ライン53の途中には点検スイツチ16が設
けられる。トランス55の2次巻線にはダイオー
ド56〜59から成る整流回路60が接続され
る。トランス55からの電力は、整流回路60で
整流されコンデンサ61で平滑される。コンデン
サ61には並列に、タイマ62,63、モニタヒ
ータ17およびタイマ62によつて制御されるタ
イヤスイツチ64から成る直列回路、FET65
および抵抗66から成る直列回路、抵抗67,6
8から成る直列回路、リレーコイル42およびト
ランジスタ69から成る直列回路ならびに操作板
15に設けられたランプ35およびリレー36の
リレースイツチ37から成る直列回路が接続され
る。FET65のゲートには、検出素子8からタ
イマ63によつて制御されるタイマスイツチ70
を介する出力が与えられる。FET65のソース
は、比較的71の一方の入力に接続される。抵抗
67および抵抗68の接続点は比較器71の他方
の入力に接続される。比較器71の出力はトラン
ジスタ69のベースに与えられる。
加熱調理していないときに点検スイツチ16を
押圧操作すると、モニタヒータ17は電力付勢さ
れる。モニタヒータ17は、熱時定数が小さく、
電力付勢されてから一定温度たとえば50℃に達す
るまでの立上がり時間T1が短く、消費電力の少
ないものである。タイマスイツチ64は、点検ス
イツチ16を押圧操作してからタイマ62に制御
されて遮断するまでの時間T2間導通する。タイ
マスイツチ65は、点検スイツチ16を押圧操作
してから遅延時間T3(T2>T3>T1)後タ
イマ63に制御されて導通する。したがつて、検
出素子8は、モニタヒータ17の50℃の温度を検
出し出力する。
押圧操作すると、モニタヒータ17は電力付勢さ
れる。モニタヒータ17は、熱時定数が小さく、
電力付勢されてから一定温度たとえば50℃に達す
るまでの立上がり時間T1が短く、消費電力の少
ないものである。タイマスイツチ64は、点検ス
イツチ16を押圧操作してからタイマ62に制御
されて遮断するまでの時間T2間導通する。タイ
マスイツチ65は、点検スイツチ16を押圧操作
してから遅延時間T3(T2>T3>T1)後タ
イマ63に制御されて導通する。したがつて、検
出素子8は、モニタヒータ17の50℃の温度を検
出し出力する。
抵抗67,68による分圧比は、たとえば許容
することができない異常温度40℃を基準にするよ
うに定めてある。検出素子8が正常な場合、検出
素子8はモニタヒータ17の50℃の温度に応じた
出力を導出する。比較器71の一方の入力に与え
られる電圧は50℃に応じた電圧であり、比較器7
1の他方の入力に与えられる電圧は、40℃に応じ
た電圧である。比較器71は、両入力に与えられ
た電圧を比較しローレベルの信号を導出する。応
じてトランジスタ69は遮断したままである。し
たがつてリレーコイル42は消磁されたままであ
り、リレースイツチ43は導通したままである。
したがつて、検出素子8に異常がないことを確認
して調理を行なうことができる。
することができない異常温度40℃を基準にするよ
うに定めてある。検出素子8が正常な場合、検出
素子8はモニタヒータ17の50℃の温度に応じた
出力を導出する。比較器71の一方の入力に与え
られる電圧は50℃に応じた電圧であり、比較器7
1の他方の入力に与えられる電圧は、40℃に応じ
た電圧である。比較器71は、両入力に与えられ
た電圧を比較しローレベルの信号を導出する。応
じてトランジスタ69は遮断したままである。し
たがつてリレーコイル42は消磁されたままであ
り、リレースイツチ43は導通したままである。
したがつて、検出素子8に異常がないことを確認
して調理を行なうことができる。
検出素子8に水蒸気が付着するなどした異常な
場合には、検出素子8はモニタヒータ17の50℃
の温度を40℃未満の温度として受け取り出力す
る。比較器71の一方の入力に与えられる電圧は
40℃未満に応じた電圧であり、比較器71の他方
の入力に与えられる電圧は40℃に応じた電圧であ
る。比較器71は、両入力に与えられた電圧を比
較し、ハイレベルの信号を導出する。応じてトラ
ンジスタ69が導通し、リレーコイル42は励磁
される。したがつてリレースイツチ37が導通
し、ランプ35は点灯して検出素子8の異常を知
らせる。またリレースイツチ43は遮断して調理
を行なうことができないようにする。
場合には、検出素子8はモニタヒータ17の50℃
の温度を40℃未満の温度として受け取り出力す
る。比較器71の一方の入力に与えられる電圧は
40℃未満に応じた電圧であり、比較器71の他方
の入力に与えられる電圧は40℃に応じた電圧であ
る。比較器71は、両入力に与えられた電圧を比
較し、ハイレベルの信号を導出する。応じてトラ
ンジスタ69が導通し、リレーコイル42は励磁
される。したがつてリレースイツチ37が導通
し、ランプ35は点灯して検出素子8の異常を知
らせる。またリレースイツチ43は遮断して調理
を行なうことができないようにする。
抵抗67,68による分圧比を変えて検出素子
8の異常を検出する基準レベルを変えてもよい。
8の異常を検出する基準レベルを変えてもよい。
以上のように本発明によれば検出素子が正常に
働いているかいないかを検出することができ、被
調理物を適切に調理することができる。
働いているかいないかを検出することができ、被
調理物を適切に調理することができる。
第1図は本発明の一実施例の簡略化した全体の
斜視図、第2図はその断面図、第3図はその具体
的な電気回路図である。 6……被調理物、7……マグネトロン、8……
検出素子、11……ソレノイド、14……移動
片、16……点検スイツチ、17……モニタヒー
タ、35……ランプ、36……リレー、37,4
3……リレースイツチ、38……加熱スイツチ、
42……リレーコイル、65……FET、66〜
68……抵抗、71……比較器。
斜視図、第2図はその断面図、第3図はその具体
的な電気回路図である。 6……被調理物、7……マグネトロン、8……
検出素子、11……ソレノイド、14……移動
片、16……点検スイツチ、17……モニタヒー
タ、35……ランプ、36……リレー、37,4
3……リレースイツチ、38……加熱スイツチ、
42……リレーコイル、65……FET、66〜
68……抵抗、71……比較器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被調理物から放射される赤外線を検出して出
力を導出する検出素子を有し、その検出素子から
の出力が被調理物の調理完了の温度に対応する出
力になつたとき加熱を停止するように構成された
調理器において、 前記検出素子の検出位置に臨んで変位自在であ
つて、予め定める温度で発熱するモニタヒータ
と、 モニタヒータの温度を検出する前記検出素子か
らの出力と、予め定められ前記検出素子の異常状
態に対応した設定値とを比較して検出素子の異常
を検出する異常検出手段と、 異常検出手段によつて前記検出素子の異常が検
出されたとき、その異常を報知するとともに加熱
調理を行なえないようにする手段とを含むことを
特徴とする調理器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56122883A JPS5822821A (ja) | 1981-08-04 | 1981-08-04 | 調理器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56122883A JPS5822821A (ja) | 1981-08-04 | 1981-08-04 | 調理器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5822821A JPS5822821A (ja) | 1983-02-10 |
| JPS6138970B2 true JPS6138970B2 (ja) | 1986-09-01 |
Family
ID=14846989
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56122883A Granted JPS5822821A (ja) | 1981-08-04 | 1981-08-04 | 調理器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5822821A (ja) |
-
1981
- 1981-08-04 JP JP56122883A patent/JPS5822821A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5822821A (ja) | 1983-02-10 |
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