JPS6140101B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6140101B2 JPS6140101B2 JP9453779A JP9453779A JPS6140101B2 JP S6140101 B2 JPS6140101 B2 JP S6140101B2 JP 9453779 A JP9453779 A JP 9453779A JP 9453779 A JP9453779 A JP 9453779A JP S6140101 B2 JPS6140101 B2 JP S6140101B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photomask
- pattern
- inspected
- workbench
- defect
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はパターン修正装置に関し、とくにプリ
ント板等の製作用のフオトマスクのパターン修正
装置に関する。
ント板等の製作用のフオトマスクのパターン修正
装置に関する。
プリント板等の回路パターン作成においては、
作成すべきパターンをまず光透過性フイルムに予
め遮光性インクで形成し、プリント板となる導電
体層が表面全面に形成された基板の該導電体層上
にフオトレジストを塗布し、前記パターンが形成
されたフオトマスクを介して露光し、しかる後、
エツチングによつて露光パターンに対応した導電
体層パターンを前記基板上に形成し、プリント基
板とする。
作成すべきパターンをまず光透過性フイルムに予
め遮光性インクで形成し、プリント板となる導電
体層が表面全面に形成された基板の該導電体層上
にフオトレジストを塗布し、前記パターンが形成
されたフオトマスクを介して露光し、しかる後、
エツチングによつて露光パターンに対応した導電
体層パターンを前記基板上に形成し、プリント基
板とする。
このようなフオトマスクに形成されるパターン
の修正作業において、まず修正すべきパターン部
位(以下欠陥という)を例えばマトリツクス状に
配設されたランプのうち欠陥位置に対応ランプを
点灯してこのランプマトリツクス上に載置された
フオトマスクの欠陥部位を指示し、作業者はこの
ランプの点灯された部分を目じるしとしてフオト
マスクの欠陥部位を知り、パターン修正用具を用
いて、パターンの修正を行う。
の修正作業において、まず修正すべきパターン部
位(以下欠陥という)を例えばマトリツクス状に
配設されたランプのうち欠陥位置に対応ランプを
点灯してこのランプマトリツクス上に載置された
フオトマスクの欠陥部位を指示し、作業者はこの
ランプの点灯された部分を目じるしとしてフオト
マスクの欠陥部位を知り、パターン修正用具を用
いて、パターンの修正を行う。
ところでこのようなパターン修正装置において
は前記ランプマトリツクスはフオトマスクを下側
から照射するべく設けられているので、フオトマ
スクのパターンが密に形成されている場合、ラン
プの光の透過光量が低減し、フオトマスクの欠陥
位置がわかりにくくなるほか、このようなパター
ン修正装置においては、前記ランプマトリツクス
は通常作業台に固定して配設しているため、修正
すべきパターン形状によつては作業者の作業姿勢
が不自然となり、作業能率の低下を招来する他、
正確なパターン修正が困難となる等の欠陥があつ
た。本発明はかかる点に鑑みなされたものであつ
て、修正すべきパターンを有するフオトマスクを
修正作業中に作業台上で任意に移動せしめても、
欠陥部位は常に正しく指定されるように構成され
たパターン修正装置を提供することを目的とし、
被修正パターンが描かれた被検査体を修正作業台
に載置して前記被検査体に描かれたパターンを所
望の形状に修正するためのパターン修正装置にお
いて前記作業台上部より該被検査体上に、修正す
べきパターン部位に修正部位を明示する光学マー
クを投映する手段を具えたことを特徴とする。
は前記ランプマトリツクスはフオトマスクを下側
から照射するべく設けられているので、フオトマ
スクのパターンが密に形成されている場合、ラン
プの光の透過光量が低減し、フオトマスクの欠陥
位置がわかりにくくなるほか、このようなパター
ン修正装置においては、前記ランプマトリツクス
は通常作業台に固定して配設しているため、修正
すべきパターン形状によつては作業者の作業姿勢
が不自然となり、作業能率の低下を招来する他、
正確なパターン修正が困難となる等の欠陥があつ
た。本発明はかかる点に鑑みなされたものであつ
て、修正すべきパターンを有するフオトマスクを
修正作業中に作業台上で任意に移動せしめても、
欠陥部位は常に正しく指定されるように構成され
たパターン修正装置を提供することを目的とし、
被修正パターンが描かれた被検査体を修正作業台
に載置して前記被検査体に描かれたパターンを所
望の形状に修正するためのパターン修正装置にお
いて前記作業台上部より該被検査体上に、修正す
べきパターン部位に修正部位を明示する光学マー
クを投映する手段を具えたことを特徴とする。
以下図面を参照しながら本発明の好ましい実施
例について詳細に説明する。
例について詳細に説明する。
第1図aは本発明に係るパターン修正装置の一
実施例構成図であつて、1は欠陥位置投映機、2
はフオトマスク、3は作業台である。前記フオト
マスク2は作業台3上の載物台T上に載置されて
おり、該載物台Tは作業台3上で修正作業に合わ
せて自由に移動、回転できるよう自在ボール台B
上に配設されている。ASは欠陥位置投映機を図
示しない床面に固定する固定柱である。第1図b
は第1図aに示したパターン修正装置の要部断面
図であつて前記欠陥位置投映機1は欠陥マツプで
ある遮光板1aに欠陥位置を示すための微少な孔
Vが設けられており、光源1bからの光はこれら
孔Vを透過後光学レンズ1cでフオトマスク2上
の欠陥部位に照射される。Baはボールで載物台
Tの自在運動を可能ならしめる。1dは筐体であ
る。従つてフオトマスク2上の欠陥部位のみに欠
陥位置投映機1から光スポツトが照射されるた
め、作業者はフオトマスク2の欠陥部位を容易に
視認できる。またフオトマスク用載物台Tに光透
過用の孔Wが設けられており、照明用光源Nから
の光を光拡散板Dでその表面に光散乱用の微少な
凹凸が形成されており光源Nからの光をほゞ一様
な強度分布を有する光にし、載物台T上のフオト
マスク2に照明する。
実施例構成図であつて、1は欠陥位置投映機、2
はフオトマスク、3は作業台である。前記フオト
マスク2は作業台3上の載物台T上に載置されて
おり、該載物台Tは作業台3上で修正作業に合わ
せて自由に移動、回転できるよう自在ボール台B
上に配設されている。ASは欠陥位置投映機を図
示しない床面に固定する固定柱である。第1図b
は第1図aに示したパターン修正装置の要部断面
図であつて前記欠陥位置投映機1は欠陥マツプで
ある遮光板1aに欠陥位置を示すための微少な孔
Vが設けられており、光源1bからの光はこれら
孔Vを透過後光学レンズ1cでフオトマスク2上
の欠陥部位に照射される。Baはボールで載物台
Tの自在運動を可能ならしめる。1dは筐体であ
る。従つてフオトマスク2上の欠陥部位のみに欠
陥位置投映機1から光スポツトが照射されるた
め、作業者はフオトマスク2の欠陥部位を容易に
視認できる。またフオトマスク用載物台Tに光透
過用の孔Wが設けられており、照明用光源Nから
の光を光拡散板Dでその表面に光散乱用の微少な
凹凸が形成されており光源Nからの光をほゞ一様
な強度分布を有する光にし、載物台T上のフオト
マスク2に照明する。
次に第1図a,bの装置の動作を説明する。
載物台T上に載置されたフオトマスク2は光拡
散板Dを介して、光源Nによつて照明され、遮光
性インクで形成されたパターンは前記光源Nから
の光を遮光し、フオトマスクのパターン非形成部
には前記遮光性インクが塗布されておらず透明で
あるため光源Nからの光は前記孔Wを透過し、作
業者の目に入るため、フオトマスク2に描かれた
パターン形状が作業者に明瞭に観察される。
散板Dを介して、光源Nによつて照明され、遮光
性インクで形成されたパターンは前記光源Nから
の光を遮光し、フオトマスクのパターン非形成部
には前記遮光性インクが塗布されておらず透明で
あるため光源Nからの光は前記孔Wを透過し、作
業者の目に入るため、フオトマスク2に描かれた
パターン形状が作業者に明瞭に観察される。
かかる状態において、欠陥位置投映機1からフ
オトマスク2上に欠陥位置を明示する光スポツト
が照射されるため作業者は欠陥投映機1によつて
指示された部位のパターンの修正作業を行う。そ
して、フオトマスク2を載置する載物台Tは作業
台3上で自在に回転、平行移動が可能であるた
め、修正すべきパターン形状に対応して修正作業
が容易な位置に載物台Tを移動せしめることがで
きるため修正作業の能率が向上する。
オトマスク2上に欠陥位置を明示する光スポツト
が照射されるため作業者は欠陥投映機1によつて
指示された部位のパターンの修正作業を行う。そ
して、フオトマスク2を載置する載物台Tは作業
台3上で自在に回転、平行移動が可能であるた
め、修正すべきパターン形状に対応して修正作業
が容易な位置に載物台Tを移動せしめることがで
きるため修正作業の能率が向上する。
第2図は本発明の他の実施例構成図であつて、
第1図a,bと同等部分には同一符号を付した。
第2図において、欠陥位置投映機1はフオトマス
ク2を載置する載物台Tに支持腕Asによつて固
定して取付けられている。従つてパターン修正作
業中に、修正作業が容易な位置に載物台Tを移動
せしめた場合、欠陥位置投映機1もフオトマスク
2を載置した載物台Tと共に移動するため、フオ
トマスク2上に投映される欠陥位置を指示する光
スポツトはフオトマスク2上の所定位置に照射さ
れることになる。
第1図a,bと同等部分には同一符号を付した。
第2図において、欠陥位置投映機1はフオトマス
ク2を載置する載物台Tに支持腕Asによつて固
定して取付けられている。従つてパターン修正作
業中に、修正作業が容易な位置に載物台Tを移動
せしめた場合、欠陥位置投映機1もフオトマスク
2を載置した載物台Tと共に移動するため、フオ
トマスク2上に投映される欠陥位置を指示する光
スポツトはフオトマスク2上の所定位置に照射さ
れることになる。
第3図は本発明に係るパターン修正装置の他の
実施例構成図であつて、第1図a,bと同等部分
には同一符号を付した。
実施例構成図であつて、第1図a,bと同等部分
には同一符号を付した。
第3図において4は光走査手段であつて、回転
多面鏡4aとモータ4bが矢印X方向に移動可能
な移動台4c上に載置されており、光源4dから
のレーザ光を回転多面鏡4aで反射して、フオト
マスク2上をl1又はl2で示す走査軌跡を描く。
多面鏡4aとモータ4bが矢印X方向に移動可能
な移動台4c上に載置されており、光源4dから
のレーザ光を回転多面鏡4aで反射して、フオト
マスク2上をl1又はl2で示す走査軌跡を描く。
5は他の光走差手段であつて、回転多面鏡5a
とモータ5bが矢印Y方向に移動可能な移動台5
c上に載置されており、光源5dからのレーザ光
を回転多面鏡5aで反射してフオトマスク2上を
l3又はl4で示す走査軌跡を描く。6a,6b,6
c,6dは前記走査軌跡l1,l2上に配置された光
検知器、7a,7b,7c,7dは前記光走査軌
跡l3,l4上に配置された光検知器である。
とモータ5bが矢印Y方向に移動可能な移動台5
c上に載置されており、光源5dからのレーザ光
を回転多面鏡5aで反射してフオトマスク2上を
l3又はl4で示す走査軌跡を描く。6a,6b,6
c,6dは前記走査軌跡l1,l2上に配置された光
検知器、7a,7b,7c,7dは前記光走査軌
跡l3,l4上に配置された光検知器である。
8はマスク位置検出手段、9は欠陥位置投映機
ドライバーである。L1〜L8はリード線である。
Gは前記フオトマスクを載置するガラス板であ
る。次にこの装置の動作を説明する。
ドライバーである。L1〜L8はリード線である。
Gは前記フオトマスクを載置するガラス板であ
る。次にこの装置の動作を説明する。
作業台3に載置されたフオトマスク2上に欠陥
位置投映機1から、欠陥位置が記された欠陥マツ
プを投映し、作業者は該欠陥位置投映機1によつ
てフオトマスク2上に投映されたパターンの欠陥
部位指示マークによつてフオトマスクのパターン
の欠陥部位を知る。
位置投映機1から、欠陥位置が記された欠陥マツ
プを投映し、作業者は該欠陥位置投映機1によつ
てフオトマスク2上に投映されたパターンの欠陥
部位指示マークによつてフオトマスクのパターン
の欠陥部位を知る。
ところで、修正作業中、作業者が、修正作業が
容易となるようにフオトマスク2の位置を作業台
3上で変えた場合、欠陥位置投映機1からフオト
マスク2上に投映される欠陥位置指示マークの位
置がずれるが、この時、次のようにして欠陥位置
投映機1からの欠陥マツプ投映像も該フオトマス
ク2の位置変動に対応して変動する。
容易となるようにフオトマスク2の位置を作業台
3上で変えた場合、欠陥位置投映機1からフオト
マスク2上に投映される欠陥位置指示マークの位
置がずれるが、この時、次のようにして欠陥位置
投映機1からの欠陥マツプ投映像も該フオトマス
ク2の位置変動に対応して変動する。
まず、第4図に示すように、作業台3面上のフ
オトマスク2位置が破線で示す正規の位置から変
位し、実線で示すような位置になつた時、光走査
手段4,5が該フオトマスクの上にl1,l2および
l3,l4で示す走査軌跡を有するように光ビームで
走査する。この時フオトマスク2のエツジの部分
では照射光は第5図に示す如く乱反射し、配設さ
れた光検知器6aに入射する。このようにしてフ
オトマスク2のエツヂ部分P1〜P4の位置が光検知
器6a,6b,6c,6dおよび7a,7b,7
c,7dによつて検出される。フオトマスク位置
検出手段8はこれら光検知器の出力を受けて、フ
オトマスク2の変位を求める。つまり、エツヂ位
置P1,P2よりフオトマスク2の一辺H1を表す直
線式を求め、エツヂ位置P3,P4よりフオトマスク
2の他辺H2を表す直線式を求め、これら2つの
直線の交点から変位後のフオトマスク2の原点P0
を求める。
オトマスク2位置が破線で示す正規の位置から変
位し、実線で示すような位置になつた時、光走査
手段4,5が該フオトマスクの上にl1,l2および
l3,l4で示す走査軌跡を有するように光ビームで
走査する。この時フオトマスク2のエツジの部分
では照射光は第5図に示す如く乱反射し、配設さ
れた光検知器6aに入射する。このようにしてフ
オトマスク2のエツヂ部分P1〜P4の位置が光検知
器6a,6b,6c,6dおよび7a,7b,7
c,7dによつて検出される。フオトマスク位置
検出手段8はこれら光検知器の出力を受けて、フ
オトマスク2の変位を求める。つまり、エツヂ位
置P1,P2よりフオトマスク2の一辺H1を表す直
線式を求め、エツヂ位置P3,P4よりフオトマスク
2の他辺H2を表す直線式を求め、これら2つの
直線の交点から変位後のフオトマスク2の原点P0
を求める。
従つて、この原点位置P0と一辺H1で表わされ
るフオトマスク2の傾きに対応して欠陥検査装置
に記憶されている欠陥マツプの位置を変位せしめ
欠陥投映機1に入力すると、該投映機1からは、
フオトマスク2の変位に対応して所定の欠陥部位
に欠陥を示すマークを投映する。なお光走査手段
を作業台3の下側に設け、フオトマスクをガラス
板に載置し、レーザ走査光を下側から照射しても
よい。
るフオトマスク2の傾きに対応して欠陥検査装置
に記憶されている欠陥マツプの位置を変位せしめ
欠陥投映機1に入力すると、該投映機1からは、
フオトマスク2の変位に対応して所定の欠陥部位
に欠陥を示すマークを投映する。なお光走査手段
を作業台3の下側に設け、フオトマスクをガラス
板に載置し、レーザ走査光を下側から照射しても
よい。
前述の実施例では、フオトマスク2の位置を読
取るのに光走査手段を用いたが、第6図に示すよ
うに、作業台3台のガラス板G上にフオトマスク
2を載置し、該ガラス板Gの下面よりテレビカメ
ラKによつてフオトマスク2を該テレビカメラに
内蔵されたビジコン面上に結像し、該ビジコン面
上を電子ビーム走査することによつて第4図に示
したフオトマスク2のエツヂ位置を検出できるた
め、この検出位置をフオトマスク位置検出手段8
へ入力して欠陥位置投映機1から投映される欠陥
マツプの位置を変位せしめてもよい。
取るのに光走査手段を用いたが、第6図に示すよ
うに、作業台3台のガラス板G上にフオトマスク
2を載置し、該ガラス板Gの下面よりテレビカメ
ラKによつてフオトマスク2を該テレビカメラに
内蔵されたビジコン面上に結像し、該ビジコン面
上を電子ビーム走査することによつて第4図に示
したフオトマスク2のエツヂ位置を検出できるた
め、この検出位置をフオトマスク位置検出手段8
へ入力して欠陥位置投映機1から投映される欠陥
マツプの位置を変位せしめてもよい。
さらに本発明においては、前述の欠陥位置投映
機として第7図に示すようにガルバノミラーを具
えた光偏向器を用いてもよい。
機として第7図に示すようにガルバノミラーを具
えた光偏向器を用いてもよい。
第7図において、J1,J2はガルバノミラー、
M1,M2はこれらガルバノミラーの駆動装置、S
はレーザ光源、Lは集光レンズであつて、フオト
マスク欠陥検査装置10からの欠陥位置情報およ
びフイルム位置検出手段8からの出力信号を受け
て、該駆動装置M1,M2はガルバノミラーJ1,J2
の位置を変更せしめ、レーザ光源Sからの光ビー
ムはフオトマスク2の位置変動に対応した欠陥位
置を該フオトマスク2上に指示する。Z1,Z2はビ
ーム径拡大用レンズである。
M1,M2はこれらガルバノミラーの駆動装置、S
はレーザ光源、Lは集光レンズであつて、フオト
マスク欠陥検査装置10からの欠陥位置情報およ
びフイルム位置検出手段8からの出力信号を受け
て、該駆動装置M1,M2はガルバノミラーJ1,J2
の位置を変更せしめ、レーザ光源Sからの光ビー
ムはフオトマスク2の位置変動に対応した欠陥位
置を該フオトマスク2上に指示する。Z1,Z2はビ
ーム径拡大用レンズである。
さらに、本発明においては、欠陥位置投映機と
して、第8図に示すように陰極線管を用いてもよ
い。つまり欠陥検査装置10から入力される欠陥
データを該陰極線管Cの表示面に表示し、この表
示像を結線レンズLによつて、作業台に載置され
たフオトマスク2上に投映する。そして該フオト
マスクの位置変動は位置判定手段8の出力を受け
て、欠陥検査装置10の欠陥マツプ位置をフオト
マスクの位置変動に対応して変位せしめ前記陰極
線管Cの表示面に表示する。
して、第8図に示すように陰極線管を用いてもよ
い。つまり欠陥検査装置10から入力される欠陥
データを該陰極線管Cの表示面に表示し、この表
示像を結線レンズLによつて、作業台に載置され
たフオトマスク2上に投映する。そして該フオト
マスクの位置変動は位置判定手段8の出力を受け
て、欠陥検査装置10の欠陥マツプ位置をフオト
マスクの位置変動に対応して変位せしめ前記陰極
線管Cの表示面に表示する。
以上の説明から明らかなように、本発明に係る
パターン修正装置は修正すべきパターンを有する
フオトマスクの修正位置をフオトマスクの上面に
欠陥マツプを投映するため、パターンが密に描か
れている場合でも、正しく視認できる他、フオト
マスクの位置を作業台上で修正すべきパターン形
状に対応して自由に回転および平行移動できるた
め、作業能率が向上する。さらに、作業中に作業
台上で任意に移動させても、フオトマスク位置を
検出して欠陥位置投映機を制御するため、常に正
しく欠陥位置をフオトマスク上に指示することが
できるため、パターン修正作業能率が著しく向上
する利点がある。
パターン修正装置は修正すべきパターンを有する
フオトマスクの修正位置をフオトマスクの上面に
欠陥マツプを投映するため、パターンが密に描か
れている場合でも、正しく視認できる他、フオト
マスクの位置を作業台上で修正すべきパターン形
状に対応して自由に回転および平行移動できるた
め、作業能率が向上する。さらに、作業中に作業
台上で任意に移動させても、フオトマスク位置を
検出して欠陥位置投映機を制御するため、常に正
しく欠陥位置をフオトマスク上に指示することが
できるため、パターン修正作業能率が著しく向上
する利点がある。
第1図aは本発明の一実施例構成図、第1図b
は第1図aの要部断面図、第2図は本発明の他の
実施例構成図、第3図は本発明の更に他の実施例
構成図。第4図第5図はフオトマスクの位置検出
方法の説明図、第6図〜第8図は本発明の他の実
施例構成図である。 1:欠陥位置投映機、2:フオトマスク、3:
作業台、4,5:光走査手段、6a〜6d,7a
〜7d:光検知器、8:フイルム位置検知手段、
9:欠陥位置投映機ドライバ。
は第1図aの要部断面図、第2図は本発明の他の
実施例構成図、第3図は本発明の更に他の実施例
構成図。第4図第5図はフオトマスクの位置検出
方法の説明図、第6図〜第8図は本発明の他の実
施例構成図である。 1:欠陥位置投映機、2:フオトマスク、3:
作業台、4,5:光走査手段、6a〜6d,7a
〜7d:光検知器、8:フイルム位置検知手段、
9:欠陥位置投映機ドライバ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被修正パターンが描かれた被検査体を修正作
業台に載置して前記被検査体に描かれたパターン
を所望の形状に修正するためのパターン修正装置
において、前記作業台上部より、該被検査体上
に、修正すべきパターン部位に修正部位を明示す
る光学マークを投映する手段を具えたことを特徴
とするパターン修正装置。 2 前記被検査体を前記作業台上で回転運動を含
む自在な移動が可能ならしめる前記被検査体載物
台を具えたことを特徴とする特許請求の範囲第1
項に記載のパターン修正装置。 3 前記光学マーク投映手段と、前記被検査体載
物台とが、その相対的配置が不変となるごとく一
体的に設けられたことを特徴とする特許請求の範
囲第2項に記載のパターン修正装置。 4 前記作業台上の被検査体の位置検出手段と、
該位置検出手段の出力を受けて、前記光学マーク
投映手段が、前記被検査体の位置に対応して該被
検査体の修正すべきパターン部位に光学マークを
投映するべく、前記光学マーク投映手段を駆動す
る手段とを具えたことを特徴とする特許請求の範
囲第2項に記載のパターン修正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9453779A JPS5619052A (en) | 1979-07-25 | 1979-07-25 | Pattern correcting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9453779A JPS5619052A (en) | 1979-07-25 | 1979-07-25 | Pattern correcting device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5619052A JPS5619052A (en) | 1981-02-23 |
| JPS6140101B2 true JPS6140101B2 (ja) | 1986-09-08 |
Family
ID=14113064
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9453779A Granted JPS5619052A (en) | 1979-07-25 | 1979-07-25 | Pattern correcting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5619052A (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58112338A (ja) * | 1981-12-25 | 1983-07-04 | Matsushita Electronics Corp | 半導体荘置用金属導体 |
| JPS58181231A (ja) * | 1982-04-15 | 1983-10-22 | 三菱電機株式会社 | 開閉器 |
| JPS58181236A (ja) * | 1982-04-15 | 1983-10-22 | 三菱電機株式会社 | 開閉器 |
| JPS5975517A (ja) * | 1982-10-22 | 1984-04-28 | 三菱電機株式会社 | 開閉器 |
| JPS58181250A (ja) * | 1982-04-15 | 1983-10-22 | 三菱電機株式会社 | 開閉器 |
| JPS58192440U (ja) * | 1982-06-15 | 1983-12-21 | 三菱電機株式会社 | 開閉器 |
| JPS5935336A (ja) * | 1982-08-21 | 1984-02-27 | 三菱電機株式会社 | 開閉器 |
| JPS5935338A (ja) * | 1982-08-21 | 1984-02-27 | 三菱電機株式会社 | 開閉器 |
| JPS5937627A (ja) * | 1982-08-26 | 1984-03-01 | 三菱電機株式会社 | 開閉器 |
| JPS5937626A (ja) * | 1982-08-26 | 1984-03-01 | 三菱電機株式会社 | 開閉器 |
| JPS5979933A (ja) * | 1982-10-28 | 1984-05-09 | 三菱電機株式会社 | 開閉器 |
| JPS5987735A (ja) * | 1982-11-10 | 1984-05-21 | 三菱電機株式会社 | 開閉器 |
-
1979
- 1979-07-25 JP JP9453779A patent/JPS5619052A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5619052A (en) | 1981-02-23 |
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