JPS6141435B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はフイルム上のマークを検出する装置に
関するものである。

一般に、文書、図面等の被写体を縮小して撮影
したマイクロフイルムは、たとえば第１図に示す
ように長巻のマイクロフイルム１の撮影画面２の
上または下にフイルムベースと光の透過率の異な
る長方形のマーク３が記載されている。

このフイルムから必要な画面を自動的に検索す
る場合は、フイルム１をランプで照明し、フイル
ム１を移動することによりフイルム上のマーク３
からの光学的信号をフオトトランジスタのような
光電変換素子で受けて電気的信号に変換し、この
電気的信号を計数することにより検索を行なつて
いる。

従来、マーク３を検出する場合、マークと１個
の光電変換素子を対置するようにしているが、フ
イルム上のしみや汚れなどを検出するとこれらの
雑音信号とマークからの信号とを区別することが
できず、誤つた検索が行なわれる問題があつた。
たとえば、フイルムがポジフイルムの場合は、フ
イルムのベース部が不透明、マーク部が透明とな
るが、ベース部にしみ、傷等があると、しみ、傷
が透明になるので光電変換素子がこれらを透明な
マークと間違つて検出してしまうことがある。一
方、フイルムがネガフイルムの場合は、フイルム
のベース部が透明、マーク部が不透明となるが、
ベース部にゴミ、汚れ等があると、ゴミ、汚れが
不透明になるので光電変換素子がこれらを不透明
なマークと間違つて検出してしまうことがある。
このため第２図に示したように２個の光電変換素
子５，６をフイルムの移動方向に並べて配置し、
マイクロフイルム１をランプ７で照明し、マーク
３からの光学的信号を２つの光電変換素子５，６
で受けるようにしている。そして第３図に示すよ
うに各光電変換素子５，６の出力信号をそれぞれ
増幅器８，９、レベル変換器１０，１１を経て論
理回路１２に送るようにしているが、装置が複雑
となり、かつ高価となる欠点がある。

本発明の目的は上記欠点を解消せんとするもの
で、フイルム上のしみ、傷、ゴミ等による誤動作
を防止して正確な検索動作を行うことができる構
造の簡単なマーク検出装置を提供することにあ
る。

以下本発明を図面に示した実施例により説明す
る。

第４図はマーク検出部を示すもので、マイクロ
フイルム１の移動通路を挾んで一方の側にフイル
ムを照明するランプ９を配置し、他方の側に２個
のライトガイド１０，１１及び唯一の光電変換素
子１２を配置する。ライトガイド１０，１１は一
方の端部に入射した光線を他方の端部に導く光学
繊維束からなり、一方の端部はフイルム上のマー
ク３が通過する位置に対置されかつフイルムの移
動方向（矢印方向）に所定の間隔を置いて並べて
配置され、他方の端部は光電変換素子１２の受光
面に対置されている。

またマイクロフイルム１とライトガイド１０，
１１の間には、各ライトガイドの端部に対応する
大きさの開口をもつスリツト板１３を配置する。

光電変換素子はフオトトランジスタ、フオトダ
イオード等からなる。

フイルム１を送給すると、ランプ９からの光線
はマーク３により遮断又は透過し、マークからの
光学的信号はライトガイド１０，１１を通つて光
電変換素子１２によつて検出され、電気的信号に
変換される。

たとえばマークが不透明なものであれば、ラン
プからの光線がマークで遮断されたときに光電変
換素子からマークに対応する電気的信号を発生
し、マークが透明なものであればランプからの光
線がマークを透過したときに光電変換素子からマ
ークに対応する電気的信号を発生する。

今、マーク３を透明なマークとすると、フイル
ム１が左から右に移動したときマーク３によりラ
イトガイド１０，１１の順に光線が入射し、光電
変換素子１２は各ライトガイド１０，１１を通つ
た光線を受けたときに所定の出力を生じる。

第５図は検出回路の１実施例を示すもので、１
５は光電変換部、１６は増幅部、１７はレベル変
換部である。光電変換部１５は前述の光電変換素
子１２を有しており、光電変換素子１２としてフ
オトダイオードを使用する。第５図において、２
０は固定抵抗器、２１は可変抵抗器、２２は演算
増幅器、２３，２４，２５は固定抵抗器、２６は
ツエナーダイオードで、ツエナー電圧は5Vに設
定されている。

上記構成において、フオトダイオード１２はマ
ークの有無によつてライトガイド１０，１１から
送られる光の強弱に応じて電流を生じ、その電流
変化は負荷抵抗２０，２１によつて電圧変化に変
換される。フイルム１を送給したときライトガイ
ド１０，１１の前面にマーク３が存在しない場合
は両ライトガイド１０，１１にランプ９からの光
が入らず、フオトダイオード１２に電圧変化を生
じない。次にいずれか一方のライトガイド１０又
は１１にマーク３の存在によつて光が入るとフオ
トダイオード１２に300ｍＶの電圧を生じるよう
にしておく。その後両ライトガイド１０，１１に
光が入るとフオトダイオード１２に600ｍＶの電
圧を生じる。一般にフオトダイオードの出力電流
は受光面積に比例しライトガイドの太さに応じて
変化する。たとえばライトガイド１０，１１の太
さを２倍にすると、１個のライトガイド１０又は
１１に光が入つた場合はフオトダイオードの受光
面積は２倍になり、600ｍＶの電圧を生じること
になる。マークを確実に検出するためには、１個
のライトガイドからの光をフオトダイオードで受
光したときこのフオトダイオードから発生する電
圧がフオトダイオードの飽和電圧（フオトダイオ
ードの受光面全面で受光したとき発生する電圧に
相当する）の半分以下になるように設定する。上
記実施例では、フオトダイオードの飽和電圧は
1V以上であり、１個のライトガイドから光を受
けたときのフオトダイオードの出力電圧は300ｍ
Ｖになるように設定してある。なおライトガイド
は２個に限らず３個以上設けてもよい。

第５図において、可変抵抗２１を調節してａ点
の電圧を−450ｍＶに設定すると、まず両ライト
ガイド１０，１１に光が入らない場合にはｂ点の
電位は−450ｍＶであり、次に１個のライトガイ
ド１０又は１１に光が入つた場合にはフオトダイ
オード１２に300ｍＶの電圧を生じるのでｂ点の
電位は、−150ｍＶとなり、その後両ライトガイド
１０，１１に光が入つた場合にはフオトダイオー
ド１２に600ｍＶの電位が生じるのでｂ点の電位
は＋150ｍＶになる。ｂ点の電位が−450ｍＶ或い
は−150ｍＶのときはｂ点の電位はｄ点の電位よ
り低く、このため増幅器２２の出力電圧は正とな
つてｃ点の電位が＋5Vになる。ｂ点の電位が＋
150ｍＶになるとｂ点の電位はｄ点の電位より高
くなつて増幅器２２の出力電圧は負となり、ｃ点
の電位が−0.6Vになる。従つて両ライトガイド
１０，１１に光が入るとレベル変換部１７から−
0.6Vの電位のマーク検出装置を得ることがで
き、ライトガイド１０，１１の両方或いは一方に
光が入らないときは検出信号を発生しない。従つ
てこの検出信号を計数することにより正確に情報
検索を行うことができる。またフイルム上に透明
なしみ、傷等があつても、これらのしみ、傷はマ
ークより小さいので、このしみ、傷が両ライトガ
イド１０，１１の下を通過する際、両ライトガイ
ド１０，１１に同時に光が入ることがなく、した
がつてしみ、傷をマークと間違つて検出すること
がなくなり、誤検索が防止される。

本発明はフイルムとしてポジフイルムの他に不
透明なマークをもつネガフイルムを用いることが
でき、本発明を適用することによりネガフイルム
上の不透明なゴミ、汚れ等をマークと間違つて検
出してしまう事故を防ぐことができる。

上記実施例では２つのライトガイドの一端をフ
イルム移動方向に並置したが、これらライトガイ
ドをフイルム移動方向と直交する方向に並置して
もよく、いずれにしてもマークを検出する位置で
離間して配置すればよい。

以上のように本発明のマーク検出装置による
と、光線を一方の端部から他方の端部に導く複数
個のライトガイドの一方の端部をフイルムの移動
通路に沿つて間隔を置いて並置し、その他方の端
部を同一光電変換素子の受光面に対置し、前記フ
イルム上のマークからの光線を前記ライトガイド
を通して光電変換素子に設け、前記各ライトガイ
ドがマークからの光線を受けたとき前記光電変換
素子から検出信号を発生することにより、１個の
光電変換素子でも、マークの計数に誤動作がな
く、正確に検索を行なうことができる。また従来
のように光電変換素子、増幅器等を多数設ける必
要がなく、装置が簡単かつ安価となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に使用するマイクロフイルムの
１実施例を示す正面図、第２図は従来の検出装置
の要部構成図、第３図は第２図装置の検出回路
図、第４図は本発明検出装置の１実施例を示す要
部構成図、第５図は第４図の検出回路図である。 １……マイクロフイルム、３……マーク、１
０，１１……光電変換素子、１２……光電変換素
子。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 一方の端部から入射した光線を他方の端部に
   伝導するライトガイドを複数個設け、各ライトガ
   イドの一方の端部を離間させてマーク移動通路に
   対面させ、他方の端部を１つの光電変換素子の受
   光面に対面させたことを特徴とするマーク検出装
   置。 ２ 該ライトガイドは光学繊維からなることを特
   徴とする特許請求の範囲第１項記載のマーク検出
   装置。