JPS6146974B2 - - Google Patents
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- JPS6146974B2 JPS6146974B2 JP52102624A JP10262477A JPS6146974B2 JP S6146974 B2 JPS6146974 B2 JP S6146974B2 JP 52102624 A JP52102624 A JP 52102624A JP 10262477 A JP10262477 A JP 10262477A JP S6146974 B2 JPS6146974 B2 JP S6146974B2
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- wafer
- contact hole
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Landscapes
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ICやLSI等の半導体素子の絶縁層お
よび導電層の形成方法に関するものである。
よび導電層の形成方法に関するものである。
ICやLSI等の半導体素子を製造する場合、絶縁
層と配線のための導電層を形成することが必要で
ある。この場合、絶縁層は、それよりも上の層と
下の層との電気的接続を可能とするための窓を有
する。第1図はこれを示し説明する。
層と配線のための導電層を形成することが必要で
ある。この場合、絶縁層は、それよりも上の層と
下の層との電気的接続を可能とするための窓を有
する。第1図はこれを示し説明する。
図において、下部導電層Aは半導体領域または
下部配線領域であり、この上に絶縁層Bが形成し
てある。絶縁層Bに対してはフオトエツチング等
の方法によつてa−a′の区域が除かれ、窓(コン
タクトホール)があけられている。さらにこの上
に金属の配線層Cが蒸着により形成されている。
絶縁層Bの窓a−a′の区域においては、配線層C
は直接に下部導電層Aと接触している。この場
合、絶縁層Bの窓の側面に接する導電層Cの部分
は蒸着が図中dの矢印で示した方向からのみ行な
われる場合には、窓の側面はこれとほぼ平行であ
るため、蒸着金属層厚が他の部分に比べて薄くな
つている。したがつて、この部分b,b′において
配線層の断線いわゆる「段切れ」が生じやすい。
これを防ぐため矢印cおよびe方向からの蒸着を
併用することによりb,b′部分の蒸着膜厚を厚く
する方法があるが、この方法では工数が増えるだ
けでなく半導体のウエハー面が蒸着方向に対して
傾きをもつためウエハー面全体にわたり均一なる
蒸着を行なうことが困難となる。
下部配線領域であり、この上に絶縁層Bが形成し
てある。絶縁層Bに対してはフオトエツチング等
の方法によつてa−a′の区域が除かれ、窓(コン
タクトホール)があけられている。さらにこの上
に金属の配線層Cが蒸着により形成されている。
絶縁層Bの窓a−a′の区域においては、配線層C
は直接に下部導電層Aと接触している。この場
合、絶縁層Bの窓の側面に接する導電層Cの部分
は蒸着が図中dの矢印で示した方向からのみ行な
われる場合には、窓の側面はこれとほぼ平行であ
るため、蒸着金属層厚が他の部分に比べて薄くな
つている。したがつて、この部分b,b′において
配線層の断線いわゆる「段切れ」が生じやすい。
これを防ぐため矢印cおよびe方向からの蒸着を
併用することによりb,b′部分の蒸着膜厚を厚く
する方法があるが、この方法では工数が増えるだ
けでなく半導体のウエハー面が蒸着方向に対して
傾きをもつためウエハー面全体にわたり均一なる
蒸着を行なうことが困難となる。
本発明の目的は上記した従来技術の欠点をなく
し、絶縁膜の窓の側面における配線層の段切れが
生じにくく、かつ生産性の高い半導体素子の絶
縁、配線層の形成方法を提供するにある。
し、絶縁膜の窓の側面における配線層の段切れが
生じにくく、かつ生産性の高い半導体素子の絶
縁、配線層の形成方法を提供するにある。
本発明は、半導体素子の絶縁層を形成するにあ
たり、絶縁層の材料として感光基をその中に含む
ポリイミド樹脂(感光性ポリイミド)を用いるこ
とを1つの特徴とする。
たり、絶縁層の材料として感光基をその中に含む
ポリイミド樹脂(感光性ポリイミド)を用いるこ
とを1つの特徴とする。
感光ポリイミド樹脂は感光基をその中に含んで
おり、フオトレジストと同様に露光箇所が現像処
理により硬化するかまたは離脱除去するものであ
り、マスク等を用いて必要なパターンの露光を行
なえば現像処理によりそのパターンに形成された
ポリイミド樹脂の絶縁膜を得ることができる。
おり、フオトレジストと同様に露光箇所が現像処
理により硬化するかまたは離脱除去するものであ
り、マスク等を用いて必要なパターンの露光を行
なえば現像処理によりそのパターンに形成された
ポリイミド樹脂の絶縁膜を得ることができる。
また、本発明においては、上記感光性ポリイミ
ドを露光する場合の光源として、レンズ等で微細
なスポツト径に集光されたレーザ光を用い、この
レーザビームを露光されるウエハーの全面に走査
し、露光すべきパターンに応じてレーザ光のオ
ン、オフ制御を行なう方式を用いることを別の特
微とする。
ドを露光する場合の光源として、レンズ等で微細
なスポツト径に集光されたレーザ光を用い、この
レーザビームを露光されるウエハーの全面に走査
し、露光すべきパターンに応じてレーザ光のオ
ン、オフ制御を行なう方式を用いることを別の特
微とする。
さらに本発明は、上記レーザスポツトの走査照
射による露光に際し、スポツト断面の強度分布を
矩形でなく、ガウス型分布のように中心において
高く周辺へ移るに従がい連続的に低下するような
強度分布とする方法、または、レーザ照射パワー
のオン、オフ制御の際の立上り、立下りをゆるや
かにする方法によつて露光パターンの端部におけ
る露光量が連続的に低下し、これに従つて現像後
のポリイミド膜が上記により形成される窓の側面
においてゆるやかな傾斜をもつように形成される
ことを特徴とする。
射による露光に際し、スポツト断面の強度分布を
矩形でなく、ガウス型分布のように中心において
高く周辺へ移るに従がい連続的に低下するような
強度分布とする方法、または、レーザ照射パワー
のオン、オフ制御の際の立上り、立下りをゆるや
かにする方法によつて露光パターンの端部におけ
る露光量が連続的に低下し、これに従つて現像後
のポリイミド膜が上記により形成される窓の側面
においてゆるやかな傾斜をもつように形成される
ことを特徴とする。
上記の方法によつてパターンの端部がゆるやか
な傾斜となつたポリイミド絶縁膜を得ることによ
りこの上に金属材料を蒸着した配線材料が窓の側
面においても他の部分と同程度の厚みをもち、従
つてこの部分で段切れがおこらないという効果を
奏する。
な傾斜となつたポリイミド絶縁膜を得ることによ
りこの上に金属材料を蒸着した配線材料が窓の側
面においても他の部分と同程度の厚みをもち、従
つてこの部分で段切れがおこらないという効果を
奏する。
以下、本発明を具体的実施例に基づいて詳しく
説明する。第2図はレーザスポツトの走査によつ
て半導体ウエーハ上の感光性ポリイミドの露光を
行なう装置のブロツク構成図であり、図中、1は
レーザ発振器、2はそのレーザ発振器1から出力
されるレーザビーム、3は光変調素子、4はその
光変調素子3の駆動回路、5は光変調素子3を介
して出力されてきたレーザビーム6を反射させる
多面回転ミラー、8はその反射レーザビーム6を
透過および反射させるハーフミラーで、7はその
ハーフミラー8で反射された検出用レーザビー
ム、9はハーフミラー8を透過したレーザビーム
6を集光レンズ、10はそのレンズ9により得ら
れた集光スポツト、11は試料台12に載置され
たウエーハ、16は試料台12に取付けられたリ
ニアエンコーダである。また、13は検出用レー
ザビーム7を集光する集光レンズ、14はその集
光レンズ13の集光スポツト部に配設したダイオ
ードアレー、18はそのダイオードアレー14の
反対側に配設したレンズで、その出力レーザビー
ムはフオトデイテクター19に入力されている。
そしてこのフオトデイテクター19の出力と、前
記リニアエンコーダ16の出力は制御装置15に
入力され、その出力は光変調素子駆動回路4に入
力されて前述光変調素子3を駆動制御するもので
ある。なお、20はレーザ照射を行なうか否かの
情報(ウエーハ上に露光させたいパターン)を記
憶していて、制御装置15を介して光変調素子駆
動回路4にその旨の信号を送るためのものであ
る。
説明する。第2図はレーザスポツトの走査によつ
て半導体ウエーハ上の感光性ポリイミドの露光を
行なう装置のブロツク構成図であり、図中、1は
レーザ発振器、2はそのレーザ発振器1から出力
されるレーザビーム、3は光変調素子、4はその
光変調素子3の駆動回路、5は光変調素子3を介
して出力されてきたレーザビーム6を反射させる
多面回転ミラー、8はその反射レーザビーム6を
透過および反射させるハーフミラーで、7はその
ハーフミラー8で反射された検出用レーザビー
ム、9はハーフミラー8を透過したレーザビーム
6を集光レンズ、10はそのレンズ9により得ら
れた集光スポツト、11は試料台12に載置され
たウエーハ、16は試料台12に取付けられたリ
ニアエンコーダである。また、13は検出用レー
ザビーム7を集光する集光レンズ、14はその集
光レンズ13の集光スポツト部に配設したダイオ
ードアレー、18はそのダイオードアレー14の
反対側に配設したレンズで、その出力レーザビー
ムはフオトデイテクター19に入力されている。
そしてこのフオトデイテクター19の出力と、前
記リニアエンコーダ16の出力は制御装置15に
入力され、その出力は光変調素子駆動回路4に入
力されて前述光変調素子3を駆動制御するもので
ある。なお、20はレーザ照射を行なうか否かの
情報(ウエーハ上に露光させたいパターン)を記
憶していて、制御装置15を介して光変調素子駆
動回路4にその旨の信号を送るためのものであ
る。
そして、第2図に示すレーザ発振器1より出る
レーザ光2は感光性ポリイミドの感光波長域内に
ある波長を有するものとする。レーザ発振器1よ
り出たそのレーザビーム2は駆動回路4により駆
動される光変調器3によつてオン、オフ変調され
た後、多面回転ミラー5によつて反射され、ハー
フミラー8を通過した後、集光レンズ9によつて
感光性ポリイミドを塗布したウエーハ11上に集
光スポツト10を結ぶ。多面回転ミラー5が矢印
aの方向に回転すると、集光スポツト10はウエ
ーハ11上を矢印bの方向に移動する。一方、ウ
エーハ11を載せた試料台12は図示しないモー
タによりウエーハ11上を移動する集光スポツト
と垂直な方向に移動する。試料台12にはリニア
エンコーダ16が設置されており、試料台12の
位置を電気信号に変換して制御装置15へ送る。
したがつて、集光スポツト10は、第3図に示し
たごとくウエーハ面を走査することとなる。
レーザ光2は感光性ポリイミドの感光波長域内に
ある波長を有するものとする。レーザ発振器1よ
り出たそのレーザビーム2は駆動回路4により駆
動される光変調器3によつてオン、オフ変調され
た後、多面回転ミラー5によつて反射され、ハー
フミラー8を通過した後、集光レンズ9によつて
感光性ポリイミドを塗布したウエーハ11上に集
光スポツト10を結ぶ。多面回転ミラー5が矢印
aの方向に回転すると、集光スポツト10はウエ
ーハ11上を矢印bの方向に移動する。一方、ウ
エーハ11を載せた試料台12は図示しないモー
タによりウエーハ11上を移動する集光スポツト
と垂直な方向に移動する。試料台12にはリニア
エンコーダ16が設置されており、試料台12の
位置を電気信号に変換して制御装置15へ送る。
したがつて、集光スポツト10は、第3図に示し
たごとくウエーハ面を走査することとなる。
すなわち、第3図においてはウエーハ面を集光
スポツトと垂直な方向としているが矢印aは多面
回転ミラー5による集光スポツトの移動方向であ
り、矢印bは、テーブル移動による集光スポツト
の移動方向である。両者を同時に行わせることに
より、集光スポツトはウエーハ上を走査線イ,
ロ,ハと順に移動し、ウエーハ面を面状に走査す
る。この場合多面回転ミラー5の回転による6方
向の移動速度と、テーブル送りによる集光スポツ
トの移動方向と垂直な方向の移動速度の比を変え
れば、隣接する走査線の重なり方を変えることが
できる。
スポツトと垂直な方向としているが矢印aは多面
回転ミラー5による集光スポツトの移動方向であ
り、矢印bは、テーブル移動による集光スポツト
の移動方向である。両者を同時に行わせることに
より、集光スポツトはウエーハ上を走査線イ,
ロ,ハと順に移動し、ウエーハ面を面状に走査す
る。この場合多面回転ミラー5の回転による6方
向の移動速度と、テーブル送りによる集光スポツ
トの移動方向と垂直な方向の移動速度の比を変え
れば、隣接する走査線の重なり方を変えることが
できる。
第2図に戻つて、多面回転ミラー5により反射
されたレーザビームの一部分は、ハーフミラー8
によつて反射せられて検出用レーザビーム7とな
り、集光レンズ13によりダイオードアレー14
上に集光スポツト17を結ぶ。多面回転ミラー5
が矢印aの方向に回転するにしたがい、集光スポ
ツト17は矢印c方向に移動する。ダイオードア
レー14は透明材質の平板に多数の溝をきざんだ
ものであり、これを通過した光はレンズ18で曲
げられてフオトデイテクター19に入る。多面回
転ミラー5の回転にともない集光スポツト14が
矢印cの方向に移動する際、フオトデイテクター
19はダイオードアレー14の溝による入射光量
の変化を検出し、これを電気信号に変換して制御
装置15へと送る。
されたレーザビームの一部分は、ハーフミラー8
によつて反射せられて検出用レーザビーム7とな
り、集光レンズ13によりダイオードアレー14
上に集光スポツト17を結ぶ。多面回転ミラー5
が矢印aの方向に回転するにしたがい、集光スポ
ツト17は矢印c方向に移動する。ダイオードア
レー14は透明材質の平板に多数の溝をきざんだ
ものであり、これを通過した光はレンズ18で曲
げられてフオトデイテクター19に入る。多面回
転ミラー5の回転にともない集光スポツト14が
矢印cの方向に移動する際、フオトデイテクター
19はダイオードアレー14の溝による入射光量
の変化を検出し、これを電気信号に変換して制御
装置15へと送る。
制御装置15はフオトデイテクター19からの
電気信号およびリニアエンコーダ16からの信号
にもとずき、集光スポツト10がウエーハ11の
表面をあらかじめ定められた速度をもつて走査す
るように、多面回転ミラー5の回転速度および試
料台の移動速度を制御する(従つて、制御装置1
5から多面回転ミラー5の駆動装置および試料台
の駆動装置へ信号が入力されるが繁雑となるので
図にはこれを示していない)。また、記憶装置2
0にはあらかじめウエーハ11上に露光させたい
パターンを入力しておく。即ち、ウエーハ11上
の座標と、その箇所においてレーザ照射を行うか
否かの指示が記憶装置20に入力されている。制
御装置15はフオトデイテクター19と、リニア
エンコーダ16からの信号にもとづいてウエーハ
11上の集光スポツト10の位置を知り、この位
置の座標においてレーザ照射を行うか否かを記憶
装置20に入力されている情報を参照して判定
し、光変調素子駆動回路4にレーザ照射を行うか
否かの信号を送る。
電気信号およびリニアエンコーダ16からの信号
にもとずき、集光スポツト10がウエーハ11の
表面をあらかじめ定められた速度をもつて走査す
るように、多面回転ミラー5の回転速度および試
料台の移動速度を制御する(従つて、制御装置1
5から多面回転ミラー5の駆動装置および試料台
の駆動装置へ信号が入力されるが繁雑となるので
図にはこれを示していない)。また、記憶装置2
0にはあらかじめウエーハ11上に露光させたい
パターンを入力しておく。即ち、ウエーハ11上
の座標と、その箇所においてレーザ照射を行うか
否かの指示が記憶装置20に入力されている。制
御装置15はフオトデイテクター19と、リニア
エンコーダ16からの信号にもとづいてウエーハ
11上の集光スポツト10の位置を知り、この位
置の座標においてレーザ照射を行うか否かを記憶
装置20に入力されている情報を参照して判定
し、光変調素子駆動回路4にレーザ照射を行うか
否かの信号を送る。
光変調素子駆動回路4はこの信号にもとづき、
光変調素子3を駆動する電力を変化させる。光変
調素子3は、音響光学効果または電気光学効果を
用いた光変調素子であり、駆動電力にもとづきレ
ーザビーム2をオン、オフ変調するものである。
光変調素子3を駆動する電力を変化させる。光変
調素子3は、音響光学効果または電気光学効果を
用いた光変調素子であり、駆動電力にもとづきレ
ーザビーム2をオン、オフ変調するものである。
以上のような構成および機能をもつから、ウエ
ーハ11上に塗布された感光性ポリイシドは、記
憶装置20にあらかじめ入力されたパターンに従
つてレーザスポツト10により露光される。
ーハ11上に塗布された感光性ポリイシドは、記
憶装置20にあらかじめ入力されたパターンに従
つてレーザスポツト10により露光される。
レーザ発振器1は感光性ポリイミドの感光波長
域内に発振波長を有するものであり、その、出力
の態様は高い繰返しのパルス出力または連続出力
であるとする。パルス出力の場合、本発明におい
ては以下のようにして達成される。
域内に発振波長を有するものであり、その、出力
の態様は高い繰返しのパルス出力または連続出力
であるとする。パルス出力の場合、本発明におい
ては以下のようにして達成される。
第4図は横軸にレーザスポツトの中心からの距
離、縦軸にレーザパワー密度をとつて、レーザス
ポツトにおけるレーザのパワー密度分布を示した
ものである。そして、第4図1は、多モード発振
の場合の一例であつて、全パワーが大きいと同時
に矩形に近いパワー密度分布形状をなしている。
したがつて、分布の端部におけるパワー密度の低
下が急激であるという特徴を有する。第4図2は
単一モード発振の場合であり、第4図1の場合に
比べて全パワーが低く、スポツトの中心を頂点と
するガウス分布をなす。したがつてパワー密度は
スポツトの中心より遠ざかるにしたがつてゆるや
かに減少している。単一モード発振はレーザ発振
器内の光軸上に細い径のピンホールを挿入するこ
とにより得られる。
離、縦軸にレーザパワー密度をとつて、レーザス
ポツトにおけるレーザのパワー密度分布を示した
ものである。そして、第4図1は、多モード発振
の場合の一例であつて、全パワーが大きいと同時
に矩形に近いパワー密度分布形状をなしている。
したがつて、分布の端部におけるパワー密度の低
下が急激であるという特徴を有する。第4図2は
単一モード発振の場合であり、第4図1の場合に
比べて全パワーが低く、スポツトの中心を頂点と
するガウス分布をなす。したがつてパワー密度は
スポツトの中心より遠ざかるにしたがつてゆるや
かに減少している。単一モード発振はレーザ発振
器内の光軸上に細い径のピンホールを挿入するこ
とにより得られる。
また、第4図3は第4図2の類似のビーム断面
を有しているが、よりスポツト径が大きくなるに
従つてスポツトの中心から遠ざかるにつれ、パワ
ー密度がよりゆるやかに低下しているのが特徴で
ある。この分布はレーザ発振器中の挿入するピン
ホールの径を変更したり、レーザビームを集光す
るレンズの焦点距離を変えるなどの方法により得
ることが出来る。
を有しているが、よりスポツト径が大きくなるに
従つてスポツトの中心から遠ざかるにつれ、パワ
ー密度がよりゆるやかに低下しているのが特徴で
ある。この分布はレーザ発振器中の挿入するピン
ホールの径を変更したり、レーザビームを集光す
るレンズの焦点距離を変えるなどの方法により得
ることが出来る。
第5図は、感光性ポリイミドの露光量と、現像
後の残存率との関係を示している。ここで感光性
ポリイミドはネガ型であるとしている。すなわ
ち、露光された部分は現像後残存し、露光されな
い部分は現像後除去されるものとする。
後の残存率との関係を示している。ここで感光性
ポリイミドはネガ型であるとしている。すなわ
ち、露光された部分は現像後残存し、露光されな
い部分は現像後除去されるものとする。
また、第6図1は、パルス発振レーザの場合に
ウエーハ面において照射されるレーザスポツトの
位置を示したものであり、図はウエーハを上方か
ら見たものである。すなわち、レーザビームが矢
印の方向に走査され、かつ一定のくり返し数でレ
ーザパルスが照射されるのでレーザスポツトは
イ,ロ,ハ,ニの箇所に照射される。パルスの繰
返し周波数と走査速度との関係によりスポツトと
スポツトの間隔が決まるが、これは図のように隣
接する照射スポツトが適度の重なりを保つように
設定されているものとする。
ウエーハ面において照射されるレーザスポツトの
位置を示したものであり、図はウエーハを上方か
ら見たものである。すなわち、レーザビームが矢
印の方向に走査され、かつ一定のくり返し数でレ
ーザパルスが照射されるのでレーザスポツトは
イ,ロ,ハ,ニの箇所に照射される。パルスの繰
返し周波数と走査速度との関係によりスポツトと
スポツトの間隔が決まるが、これは図のように隣
接する照射スポツトが適度の重なりを保つように
設定されているものとする。
第6図2は、第6図1におけるレーザ走査の中
心線a,a′上の照射パワー密度分布を示したもの
である。この場合、一つのレーザスポツトのパワ
ー密度分布は第4図2又は3の形状としている。
心線a,a′上の照射パワー密度分布を示したもの
である。この場合、一つのレーザスポツトのパワ
ー密度分布は第4図2又は3の形状としている。
第6図3は、このようにして照射されるレーザ
エネルギーの累計を縦軸として示したものであ
る。すなわち、繰返して照射される各々のスポツ
トによる照射エネルギーの密度の合計を示してい
る。第6図4は、第6図3,9の照射エネルギー
密度すなわち露光量と第5図のグラフとからきま
る感光性ポリイミドの残存量を示す。照射スポツ
トの周辺において強度がゆるやかに減少している
ため、第6図4において感光性ポリイミドの残存
部の厚みは周辺においてゆるやかに減少すること
となる。第6図5はこれに対して上方より金属蒸
着を行つて配線層を形成したものである。このよ
うに、感光性ポリイミドの周辺において厚みがゆ
るやかに変化してその側面が傾斜をもつているた
め側面においても上方よりの蒸着に対しても十分
な厚さの配線層が形成される。このため第6図5
においてはいわゆる段切れは生じにくい。
エネルギーの累計を縦軸として示したものであ
る。すなわち、繰返して照射される各々のスポツ
トによる照射エネルギーの密度の合計を示してい
る。第6図4は、第6図3,9の照射エネルギー
密度すなわち露光量と第5図のグラフとからきま
る感光性ポリイミドの残存量を示す。照射スポツ
トの周辺において強度がゆるやかに減少している
ため、第6図4において感光性ポリイミドの残存
部の厚みは周辺においてゆるやかに減少すること
となる。第6図5はこれに対して上方より金属蒸
着を行つて配線層を形成したものである。このよ
うに、感光性ポリイミドの周辺において厚みがゆ
るやかに変化してその側面が傾斜をもつているた
め側面においても上方よりの蒸着に対しても十分
な厚さの配線層が形成される。このため第6図5
においてはいわゆる段切れは生じにくい。
以上のようにしてパワー密度分布がゆるやかな
形状のレーザスポツトの繰返し照射によるパター
ン形成により段切れの生じにくいパターンの形成
が可能となる。この場合、目的は段切れが生じな
いことであり、そのために必要なポリイミド膜の
側面の傾斜を決定し、第5図のポリイミドの感光
特性その他より必要なレーザパワー密度分布を決
定し、レーザ発振内へのピンホールの挿入対物レ
ンズ焦点距離の変更などによりこのパワー密度分
布のレーザスポツトを実現するものとする。
形状のレーザスポツトの繰返し照射によるパター
ン形成により段切れの生じにくいパターンの形成
が可能となる。この場合、目的は段切れが生じな
いことであり、そのために必要なポリイミド膜の
側面の傾斜を決定し、第5図のポリイミドの感光
特性その他より必要なレーザパワー密度分布を決
定し、レーザ発振内へのピンホールの挿入対物レ
ンズ焦点距離の変更などによりこのパワー密度分
布のレーザスポツトを実現するものとする。
次にレーザの発振出力が連続出力である場合に
は、本発明の目的とするところは以下のようにし
て実現される。
は、本発明の目的とするところは以下のようにし
て実現される。
第7図1はパターンを形成するためにレーザを
オン、オフするための信号を示す図である。すな
わち、第2図における制御装置15から光変調素
子駆動回路4へ送られる信号である。横方向は時
間軸であり、縦方向は電圧の大きさを示す。電圧
の高いところではレーザが照射され、電圧の低い
ところではレーザが照射されないように光変調素
子による光変調が行なわれるものとする。
オン、オフするための信号を示す図である。すな
わち、第2図における制御装置15から光変調素
子駆動回路4へ送られる信号である。横方向は時
間軸であり、縦方向は電圧の大きさを示す。電圧
の高いところではレーザが照射され、電圧の低い
ところではレーザが照射されないように光変調素
子による光変調が行なわれるものとする。
そして、この場合においても、レーザスポツト
のパワー密度分布は第4図2,3のような形状の
ものを用いるものとする。
のパワー密度分布は第4図2,3のような形状の
ものを用いるものとする。
第7図2は第7図1の波形により、オン、オフ
されたレーザのスポツトの照射範囲を示してい
る。第7図3〜5においては第6図と同様に横軸
はレーザスポツトの移動方向における距離を示し
ている。すなわち、第7図3は第7図2のa,
a′線上における照射エネルギー密度を示す。そし
て、第7図4はこれにより露光された感光性ポリ
イミドの現像後の残存膜厚を示す断面図であり、
第7図5は、これに金属膜配線層を蒸着した結果
の断面図である。これらの図に示すように、連続
出力の場合においても、レーザスポツトの周辺に
おいてパワー密度がゆるやかに低下しているため
ポリイミド残存膜厚は周辺においてゆるやかに減
少し、その側面の傾斜が緩やかとなるため、配線
層の膜厚が側面においても小さくならずしたがつ
て段切れが生じにくい。
されたレーザのスポツトの照射範囲を示してい
る。第7図3〜5においては第6図と同様に横軸
はレーザスポツトの移動方向における距離を示し
ている。すなわち、第7図3は第7図2のa,
a′線上における照射エネルギー密度を示す。そし
て、第7図4はこれにより露光された感光性ポリ
イミドの現像後の残存膜厚を示す断面図であり、
第7図5は、これに金属膜配線層を蒸着した結果
の断面図である。これらの図に示すように、連続
出力の場合においても、レーザスポツトの周辺に
おいてパワー密度がゆるやかに低下しているため
ポリイミド残存膜厚は周辺においてゆるやかに減
少し、その側面の傾斜が緩やかとなるため、配線
層の膜厚が側面においても小さくならずしたがつ
て段切れが生じにくい。
この場合において目的を達成するために適当な
パワー密度分布のスポツト形状を形成する必要が
あることは、前記したパルス出力の場合と同様で
ある。
パワー密度分布のスポツト形状を形成する必要が
あることは、前記したパルス出力の場合と同様で
ある。
次に、第8図において、連続出力のレーザを用
いる場合の別なる実施方法を示す。第8図1は、
パターンを形成するためにレーザをオン、オフす
る信号の原形であり、第7図1と同じものであ
る。第8図の方法が第7図の方法と異なる点とし
て制御装置内部に構成された回路によつて、第8
図1の信号を2の信号のごとく変形する。これに
より信号の立ちあがり、立ち下がりはゆるやかな
ものとなつている。
いる場合の別なる実施方法を示す。第8図1は、
パターンを形成するためにレーザをオン、オフす
る信号の原形であり、第7図1と同じものであ
る。第8図の方法が第7図の方法と異なる点とし
て制御装置内部に構成された回路によつて、第8
図1の信号を2の信号のごとく変形する。これに
より信号の立ちあがり、立ち下がりはゆるやかな
ものとなつている。
第8図3は第7図2と同じくレーザスポツトに
より照射される範囲を示している。この場合には
レーザのスポツトの強度分布は必ずしも周辺にお
いてゆるやかな傾斜をもつものでなくてもよい。
より照射される範囲を示している。この場合には
レーザのスポツトの強度分布は必ずしも周辺にお
いてゆるやかな傾斜をもつものでなくてもよい。
光変調素子駆動回路への入力信号が第8図2の
形状であるため、照射されるレーザのパワー密度
は第8図4のようになる。これにより第8図5,
6の結果が得られる点は第7図の場合と同様であ
る。
形状であるため、照射されるレーザのパワー密度
は第8図4のようになる。これにより第8図5,
6の結果が得られる点は第7図の場合と同様であ
る。
上述実施例からも明らかなように本発明によれ
ば、絶縁膜の窓側面における配線管の断切れが生
じにくく、かつ生産性の高い半導体素子の絶縁
層、配線層を形成することができる。また、レー
ザスポツトを走査して描画露光を行なうために
CAD(Computer aided design)と直結するこ
とができ、マスクの製作が不要であつて、パター
ンの変更の容易なシステムが実現できる。さらに
また、レーザのパワーが高く、かつ単波長である
ため、水銀灯などの広い波長領域の光を用いてマ
スクによる露光を行なう場合に比して光エネルギ
ーの損失が少なく、同一面積に対する露光時間が
短かくできるという利点も有する。
ば、絶縁膜の窓側面における配線管の断切れが生
じにくく、かつ生産性の高い半導体素子の絶縁
層、配線層を形成することができる。また、レー
ザスポツトを走査して描画露光を行なうために
CAD(Computer aided design)と直結するこ
とができ、マスクの製作が不要であつて、パター
ンの変更の容易なシステムが実現できる。さらに
また、レーザのパワーが高く、かつ単波長である
ため、水銀灯などの広い波長領域の光を用いてマ
スクによる露光を行なう場合に比して光エネルギ
ーの損失が少なく、同一面積に対する露光時間が
短かくできるという利点も有する。
第1図は従来技術による半導体の製造方法を説
明するための半導体断面図、第2図は本発明の一
実施例を示すものであつて、レーザスポツトの走
査によつて半導体ウエーハ上の感光性ポリイミド
の露光を行なう装置の概略構成図、第3図は第2
図の装置でレーザスポツトの走査を行なう際のウ
エハ面上の走査線を示す図、第4図1,2,3は
各種のレーザスポツトの断面のパワー密度分布を
示す図、第5図は感光性ポリイミドの露光量と現
像後の残存率との関係を示す図、第6図1〜5お
よび第7図1〜5は各々レーザ出力がパルス出
力、連続出力である場合に第4図2,3の形状の
パワー密度分布をもつレーザスポツトを用いて感
光性ポリイミドの露光を行ない、絶縁膜側面にお
ける配線層の厚みを大きくして断線を生じにくく
する方法を説明した図、第8図1〜6はレーザ出
力が連続出力である場合に電気信号の変換により
立上り時間、立下り時間を大きくしてレーザ出力
のオン、オフ変調を行ない、これによりポリイミ
ドの露光を行なつて絶縁膜面における配線層の厚
みを大きく断線を生じにくくする方法を説明した
図である。 1……レーザ発振器、2,6,7……レーザビ
ーム、8……光変調素子、4……光変調素子駆動
回路、5……多面回転ミラー、8……ハーフミラ
ー、9,13……集光レンズ、10,17……集
光スポツト、11……ウエーハ、12……試料
台、14……ダイオードアレー、15……制御装
置、16……リニアエンコーダ、18……レン
ズ、19……フオトデイテクター、20……記憶
装置。
明するための半導体断面図、第2図は本発明の一
実施例を示すものであつて、レーザスポツトの走
査によつて半導体ウエーハ上の感光性ポリイミド
の露光を行なう装置の概略構成図、第3図は第2
図の装置でレーザスポツトの走査を行なう際のウ
エハ面上の走査線を示す図、第4図1,2,3は
各種のレーザスポツトの断面のパワー密度分布を
示す図、第5図は感光性ポリイミドの露光量と現
像後の残存率との関係を示す図、第6図1〜5お
よび第7図1〜5は各々レーザ出力がパルス出
力、連続出力である場合に第4図2,3の形状の
パワー密度分布をもつレーザスポツトを用いて感
光性ポリイミドの露光を行ない、絶縁膜側面にお
ける配線層の厚みを大きくして断線を生じにくく
する方法を説明した図、第8図1〜6はレーザ出
力が連続出力である場合に電気信号の変換により
立上り時間、立下り時間を大きくしてレーザ出力
のオン、オフ変調を行ない、これによりポリイミ
ドの露光を行なつて絶縁膜面における配線層の厚
みを大きく断線を生じにくくする方法を説明した
図である。 1……レーザ発振器、2,6,7……レーザビ
ーム、8……光変調素子、4……光変調素子駆動
回路、5……多面回転ミラー、8……ハーフミラ
ー、9,13……集光レンズ、10,17……集
光スポツト、11……ウエーハ、12……試料
台、14……ダイオードアレー、15……制御装
置、16……リニアエンコーダ、18……レン
ズ、19……フオトデイテクター、20……記憶
装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ウエーハに蒸着した第1の導電層の上に絶縁
層を形成し、その一部分を除去した後その上に第
2の導電層を形成する半導体装置の製造方法にお
いて、前記絶縁層をポリイミド樹脂によつて形成
し、その表面を、レンズ等で集光したレーザスポ
ツトをオン、オフ制御しつつ所定のパターンに従
つて走査して除去してコンタクトホールを形成
し、かつ、上記レーザスポツト断面の強度分布
を、ガウス型分布のように中心において高く周辺
へ移るに従い連続的に低下するような強度分布と
して、前記コンタクトホールの側面を傾斜面とす
ることを特徴とする半導体装置の製造方法。 2 ウエーハに蒸着した第1の導電層の上に絶縁
層を形成し、その一部分を除去した後その上に第
2の導電層を形成する半導体装置の製造方法にお
いて、前記絶縁層をポリイミド樹脂によつて形成
し、その表面を、レンズ等で集光したレーザスポ
ツトをオン、オフ制御しつつ所定のパターンに従
つて走査して除去してコンタクトホールを形成
し、かつ、上記レーザ照射スポツトのオン、オフ
制御の際の立上り、立下りをゆるやかにし、露光
パターンの端部における露光量を連続的に低下さ
せて、前記コンタクトホールの側面を傾斜面とす
ることを特徴とする半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10262477A JPS5437472A (en) | 1977-08-29 | 1977-08-29 | Manufacture of semiconductor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10262477A JPS5437472A (en) | 1977-08-29 | 1977-08-29 | Manufacture of semiconductor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5437472A JPS5437472A (en) | 1979-03-19 |
| JPS6146974B2 true JPS6146974B2 (ja) | 1986-10-16 |
Family
ID=14332386
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10262477A Granted JPS5437472A (en) | 1977-08-29 | 1977-08-29 | Manufacture of semiconductor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5437472A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS567438A (en) * | 1979-06-28 | 1981-01-26 | Mitsubishi Electric Corp | Annealing device for semiconductor which use laser |
| JPS5930797A (ja) * | 1982-08-16 | 1984-02-18 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 液相エピタキシヤル成長方法 |
| US5221422A (en) * | 1988-06-06 | 1993-06-22 | Digital Equipment Corporation | Lithographic technique using laser scanning for fabrication of electronic components and the like |
| JP4514317B2 (ja) * | 2000-11-27 | 2010-07-28 | 株式会社ミツトヨ | 露光装置 |
| JP5007192B2 (ja) * | 2006-10-06 | 2012-08-22 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
| JP2018045254A (ja) * | 2017-12-11 | 2018-03-22 | 株式会社ニコン | パターン描画装置 |
-
1977
- 1977-08-29 JP JP10262477A patent/JPS5437472A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5437472A (en) | 1979-03-19 |
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