JPS6148948B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6148948B2 JPS6148948B2 JP51110233A JP11023376A JPS6148948B2 JP S6148948 B2 JPS6148948 B2 JP S6148948B2 JP 51110233 A JP51110233 A JP 51110233A JP 11023376 A JP11023376 A JP 11023376A JP S6148948 B2 JPS6148948 B2 JP S6148948B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- piezo
- circuit
- delay amount
- probe
- probes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は医療用超音波診断装置等に使用する超
音波イメージング装置に関するもので、一群の送
受波器を固定したまま送波超音波パルスの放射時
間を制御し、超音波ビームを被検体内のある一点
に集束するようにしたものである。
音波イメージング装置に関するもので、一群の送
受波器を固定したまま送波超音波パルスの放射時
間を制御し、超音波ビームを被検体内のある一点
に集束するようにしたものである。
従来の電子走査による超音波イメージング装置
には、リニア走査、セクター走査フオーカス型走
査などの方式がある。リニア走査は送受波器のア
レイを一列にならべ、それらの組合わせを順次、
ずらせながらパルス駆動して走査するものであ
る。一方セクター走査は、一列に並らべられた送
受波器アレイよりの出力パルスの位相を制御する
ことにより送波器よりの超音波出力の進行方向を
扇形(セクター)状に変化させるものである。一
方フオーカス型の電子走査は、ある一点に音波が
同時に位相が合つて到着するように送波器のピエ
ゾアレイからのパルス状超音波の放射時間を制御
し、次にその一点よりの反射パルスを受波器のピ
エゾアレイにより受信し電気信号に変換の後、各
ピエゾよりの信号が同一時刻にて重なる様にアナ
ログ遅延をかけた後、加算をおこない、目的の信
号とするものである。
には、リニア走査、セクター走査フオーカス型走
査などの方式がある。リニア走査は送受波器のア
レイを一列にならべ、それらの組合わせを順次、
ずらせながらパルス駆動して走査するものであ
る。一方セクター走査は、一列に並らべられた送
受波器アレイよりの出力パルスの位相を制御する
ことにより送波器よりの超音波出力の進行方向を
扇形(セクター)状に変化させるものである。一
方フオーカス型の電子走査は、ある一点に音波が
同時に位相が合つて到着するように送波器のピエ
ゾアレイからのパルス状超音波の放射時間を制御
し、次にその一点よりの反射パルスを受波器のピ
エゾアレイにより受信し電気信号に変換の後、各
ピエゾよりの信号が同一時刻にて重なる様にアナ
ログ遅延をかけた後、加算をおこない、目的の信
号とするものである。
本発明はこのフオーカス型電子走査による超音
波イメージング装置の超音波パルスの放射時間を
制御する装置に関するものである。
波イメージング装置の超音波パルスの放射時間を
制御する装置に関するものである。
第1図は本発明の一実施例における超音波イメ
ージング装置のブロツク図である。図において、
1は被検体内位置信号発生回路、2はピエゾプロ
ーブ位置信号発生回路、3は被検体内位置及び各
ピエゾプローブ位置間距離演算回路、4は各ピエ
ゾプローブに対する電圧値遅延量決定回路、5は
ゲート回路、6はタイミングパルス発生回路、7
は時間値遅延量決定回路、8は遅延されたパルス
発生およびピエゾプローブ駆動回路、9は1個の
ピエゾプローブ、10はピエゾプローブ9より被
検体内に放射されるパルス状超音波、7,8,9
の組合わせの回路11は、ピエゾプローブの個数
だけ必要となる。12はゲート回路5よりの出力
で時間値遅延量決定回路7と同じ遅延量決定回路
の入力となる。13は被検体内での反射による反
射超音波、14はピエゾプローブでピエゾプロー
ブ9と同一物でもよい。15は増幅器、16は反
射波の強さに応じて増幅度の変化する増巾回路で
通常STC(sensitivity time control)増巾回路
と呼ばれている。17はアナログ遅延回路で遅延
量は電圧値遅延量決定回路4の信号で与えられ
る。14,15,16,17の組合わせ18はピ
エゾプローブの個数と同数が設置される。19は
他のチヤンネルよりの出力で他の組合せ回路18
よりの出力である。20は加算回路、21は検波
回路、22はモニターTV、23はZ軸(輝度)
入力、24はX,Y入力である。33はピエゾ位
置検出装置である。
ージング装置のブロツク図である。図において、
1は被検体内位置信号発生回路、2はピエゾプロ
ーブ位置信号発生回路、3は被検体内位置及び各
ピエゾプローブ位置間距離演算回路、4は各ピエ
ゾプローブに対する電圧値遅延量決定回路、5は
ゲート回路、6はタイミングパルス発生回路、7
は時間値遅延量決定回路、8は遅延されたパルス
発生およびピエゾプローブ駆動回路、9は1個の
ピエゾプローブ、10はピエゾプローブ9より被
検体内に放射されるパルス状超音波、7,8,9
の組合わせの回路11は、ピエゾプローブの個数
だけ必要となる。12はゲート回路5よりの出力
で時間値遅延量決定回路7と同じ遅延量決定回路
の入力となる。13は被検体内での反射による反
射超音波、14はピエゾプローブでピエゾプロー
ブ9と同一物でもよい。15は増幅器、16は反
射波の強さに応じて増幅度の変化する増巾回路で
通常STC(sensitivity time control)増巾回路
と呼ばれている。17はアナログ遅延回路で遅延
量は電圧値遅延量決定回路4の信号で与えられ
る。14,15,16,17の組合わせ18はピ
エゾプローブの個数と同数が設置される。19は
他のチヤンネルよりの出力で他の組合せ回路18
よりの出力である。20は加算回路、21は検波
回路、22はモニターTV、23はZ軸(輝度)
入力、24はX,Y入力である。33はピエゾ位
置検出装置である。
第2図は本発明の動作説明図である。25,2
6はそれぞれ任意に選んだ直交座標系でそれぞれ
x軸及びy軸とする。27は見ようとする領域
で、この場合y軸26に接している。28はその
領域27内の任意の一点でその座標を(x,y)
とする。29は被検体例えば人体である。30は
被検体29の表面に接触している微少ピエゾプロ
ーブで、それぞれ座標位置(xi,yi)とする。
ここでiは第2図において左よりi番目の微少ピ
エゾプローブを示す。
6はそれぞれ任意に選んだ直交座標系でそれぞれ
x軸及びy軸とする。27は見ようとする領域
で、この場合y軸26に接している。28はその
領域27内の任意の一点でその座標を(x,y)
とする。29は被検体例えば人体である。30は
被検体29の表面に接触している微少ピエゾプロ
ーブで、それぞれ座標位置(xi,yi)とする。
ここでiは第2図において左よりi番目の微少ピ
エゾプローブを示す。
第1図のピエゾプローブ9又は14は第2図の
ピエゾプローブ30と同じものである。また説明
を容易にするためピエゾプローブの個数はnケと
する。本発明は被検体内の一点に音波を集束す
る、形式の電子走査であり、第2図の一点28を
その代表とする。一点28の座標は(x,y)で
あり、ピエゾプローブ群30と同一平面にある。
ピエゾプローブ群の代表として座標(xi,yi)
に位置する左よりi番目をとる。(x,y)と
(xi,yi)との距離liは で求まる。この様にl1,l2,…loの距離が求ま
り、今L≧l1,l2,…loの値をもつLを基準にし
て L−l1=Δl1 L−l2=Δl2 L−l3=Δl3 : L−li=Δli : L−lo=Δlo の値を次に求める。ここでΔliは必ずOまたは
正の値をとる。
ピエゾプローブ30と同じものである。また説明
を容易にするためピエゾプローブの個数はnケと
する。本発明は被検体内の一点に音波を集束す
る、形式の電子走査であり、第2図の一点28を
その代表とする。一点28の座標は(x,y)で
あり、ピエゾプローブ群30と同一平面にある。
ピエゾプローブ群の代表として座標(xi,yi)
に位置する左よりi番目をとる。(x,y)と
(xi,yi)との距離liは で求まる。この様にl1,l2,…loの距離が求ま
り、今L≧l1,l2,…loの値をもつLを基準にし
て L−l1=Δl1 L−l2=Δl2 L−l3=Δl3 : L−li=Δli : L−lo=Δlo の値を次に求める。ここでΔliは必ずOまたは
正の値をとる。
今被検体内の平均音速がvで一定であると仮定
すれば、一点28にピエゾプローブ群30からの
音波を同時に到達させるには Δti=Δli/v ……1 の遅延量を持つたパルスを基準パルスより作成
し、各ピエゾプローブに加える。
すれば、一点28にピエゾプローブ群30からの
音波を同時に到達させるには Δti=Δli/v ……1 の遅延量を持つたパルスを基準パルスより作成
し、各ピエゾプローブに加える。
以上の背景をブロツク図に示したものが第1図
である。本ブロツク図において座標の位置及び距
離は電圧Vで表わす。まず被検体内位置信号発生
装置1は第2図における領域27内の点の位置
(x,y)に相当する電圧Vx,Vyを発生するも
のである。いま第2図のみようとする領域27を
l×m個に分割する。被検体内位置信号発生装置
1よりの出力はみようとする領域27の全領域を
順次走査した信号となる。それは例えば(x0,
y0)(x0,y1)(x0,y2)……(x0,yn)(x1,y0)
(x1,y1)……(x1,yn)……(xp,yq)……
(xl,y0)(xl,y1)……(xl,yn)を走査する
とすれば被検体内位置信号発生装置1よりの出力
はx軸,y軸の2チヤンネルより出て、それぞれ
時系列が(Vx0,Vy0)(Vx0,Vy1)(Vx0,Vy
2)……(Vx0,Vyn)(Vx1,Vy0)(Vx1,Vy
0)(Vx1,Vy1)……(Vx1,Vyn)……(Vx
p,Vyq)……(Vxl,Vy0)(Vxl,Vy1)……
(Vxl,Vyn)となる電圧信号を出す。このよう
にxチヤンネルよりVx0……Vxl,yチヤンネル
よりVy0……Vynの出力を出してみようとする領
域27の全領域を走査する。そして(Vxp,Vy
q)から(Vxp,Vy(q+1))に移るタイミングは
タイミングパルス発生器6により決定される。以
上の説明よりわかる様に信号発生回路1はタイミ
ングパルス発生器6からのパルスをトリガーとし
た階段波発生回路である。x軸出力VxpはVynが
次のVy0に変化するとと同時にVx(p+1)へと変化
する階段波であり、それぞれパルスカウンタと
D/Aコンバータにて達成される。次にピエゾプ
ローブ位置信号発生回路2では第2図で示すピエ
ゾプローブ群30の位置(xi,yi)を電圧Vx
i,Vyiに変換する回路である。ピエゾプローブ
の位置の検出には軸25上のピエゾ位置検出装置
33が使われる。このピエゾ位置検出装置33は
ピエゾプローブの個数と同じくn個あり、1個の
ピエゾプローブに対し1つの装置が対応づけられ
ている。ピエゾ位置検出装置33を第3図に示
す。29,30は第2図と同じで、31はピエゾ
プローブに接続されたガイド棒、32はリニアポ
テンシヨメータ(直線型可変抵抗器)でガイド棒
31の位置により抵抗値が変化する。第3図より
被検体29の表面の形状はリニアポテンシヨメー
タ32の抵抗値によりあらわされる。この抵抗値
を電圧に変換しy軸の信号yiとする。一方x軸の
信号はピエゾプローブ30が等間隔にならべられ
ているので(xi−xi-1)=一定となるようにす
る。
である。本ブロツク図において座標の位置及び距
離は電圧Vで表わす。まず被検体内位置信号発生
装置1は第2図における領域27内の点の位置
(x,y)に相当する電圧Vx,Vyを発生するも
のである。いま第2図のみようとする領域27を
l×m個に分割する。被検体内位置信号発生装置
1よりの出力はみようとする領域27の全領域を
順次走査した信号となる。それは例えば(x0,
y0)(x0,y1)(x0,y2)……(x0,yn)(x1,y0)
(x1,y1)……(x1,yn)……(xp,yq)……
(xl,y0)(xl,y1)……(xl,yn)を走査する
とすれば被検体内位置信号発生装置1よりの出力
はx軸,y軸の2チヤンネルより出て、それぞれ
時系列が(Vx0,Vy0)(Vx0,Vy1)(Vx0,Vy
2)……(Vx0,Vyn)(Vx1,Vy0)(Vx1,Vy
0)(Vx1,Vy1)……(Vx1,Vyn)……(Vx
p,Vyq)……(Vxl,Vy0)(Vxl,Vy1)……
(Vxl,Vyn)となる電圧信号を出す。このよう
にxチヤンネルよりVx0……Vxl,yチヤンネル
よりVy0……Vynの出力を出してみようとする領
域27の全領域を走査する。そして(Vxp,Vy
q)から(Vxp,Vy(q+1))に移るタイミングは
タイミングパルス発生器6により決定される。以
上の説明よりわかる様に信号発生回路1はタイミ
ングパルス発生器6からのパルスをトリガーとし
た階段波発生回路である。x軸出力VxpはVynが
次のVy0に変化するとと同時にVx(p+1)へと変化
する階段波であり、それぞれパルスカウンタと
D/Aコンバータにて達成される。次にピエゾプ
ローブ位置信号発生回路2では第2図で示すピエ
ゾプローブ群30の位置(xi,yi)を電圧Vx
i,Vyiに変換する回路である。ピエゾプローブ
の位置の検出には軸25上のピエゾ位置検出装置
33が使われる。このピエゾ位置検出装置33は
ピエゾプローブの個数と同じくn個あり、1個の
ピエゾプローブに対し1つの装置が対応づけられ
ている。ピエゾ位置検出装置33を第3図に示
す。29,30は第2図と同じで、31はピエゾ
プローブに接続されたガイド棒、32はリニアポ
テンシヨメータ(直線型可変抵抗器)でガイド棒
31の位置により抵抗値が変化する。第3図より
被検体29の表面の形状はリニアポテンシヨメー
タ32の抵抗値によりあらわされる。この抵抗値
を電圧に変換しy軸の信号yiとする。一方x軸の
信号はピエゾプローブ30が等間隔にならべられ
ているので(xi−xi-1)=一定となるようにす
る。
以上の様に領域27を走査して各ピエゾプロー
ブ30との距離を順次演算する。この演算回路が
第1図の3に相当し、ある点28より各ピエゾプ
ローブ30までの距離liと一定値Lとの差Δli
に対応する電圧値ΔViが順次求まる。従つて遅
延量はΔti=ΔVi/vにより求まる。この操作
を行なうのが電圧値遅延量決定回路4であり、そ
の出力はクロツクに応じてステツプ状に変化する
ものである。
ブ30との距離を順次演算する。この演算回路が
第1図の3に相当し、ある点28より各ピエゾプ
ローブ30までの距離liと一定値Lとの差Δli
に対応する電圧値ΔViが順次求まる。従つて遅
延量はΔti=ΔVi/vにより求まる。この操作
を行なうのが電圧値遅延量決定回路4であり、そ
の出力はクロツクに応じてステツプ状に変化する
ものである。
この遅延量(電圧値)を各ピエゾプローブ9に
分配するためにゲート回路5を使用する。このゲ
ート回路5は各ピエゾ9に分配すべく開かれるも
のである。このゲート出力を時間的な遅延量に変
化させるのが時間値遅延量決定回路である。この
時間値遅延量決定回路7は例えばホールド回路
(ゲート出力をホールド)と電圧比較器より成り
立ち、タイミングパルス発生回路6よりのクロツ
ク信号とホールド電圧を比較することにより遅延
量を決める。遅延量に応じた信号はパルス発生な
らびに駆動回路8を通過し、ピエゾ9を励振させ
る。組合せ回路11つまり7,8,9,33の組
合わせはピエゾ9の個数と同数だけ必要となる。
そして各ピエゾからの出力超音波は“ある一点”
に収束する。“ある一点”よりの反射波13はピ
エゾ14により受音され増巾器15で増巾後、
STC増巾回路16で他のピエゾ14が受音した
信号と同一レベルになるように増巾されてアナロ
グ遅延回路17に加えられる。
分配するためにゲート回路5を使用する。このゲ
ート回路5は各ピエゾ9に分配すべく開かれるも
のである。このゲート出力を時間的な遅延量に変
化させるのが時間値遅延量決定回路である。この
時間値遅延量決定回路7は例えばホールド回路
(ゲート出力をホールド)と電圧比較器より成り
立ち、タイミングパルス発生回路6よりのクロツ
ク信号とホールド電圧を比較することにより遅延
量を決める。遅延量に応じた信号はパルス発生な
らびに駆動回路8を通過し、ピエゾ9を励振させ
る。組合せ回路11つまり7,8,9,33の組
合わせはピエゾ9の個数と同数だけ必要となる。
そして各ピエゾからの出力超音波は“ある一点”
に収束する。“ある一点”よりの反射波13はピ
エゾ14により受音され増巾器15で増巾後、
STC増巾回路16で他のピエゾ14が受音した
信号と同一レベルになるように増巾されてアナロ
グ遅延回路17に加えられる。
アナログ遅延回路17では電圧値遅延量決定回
路4からの信号に対応した遅延を行い、各ピエゾ
14からの信号がすべて同一時刻で重なるように
する。アナログ遅延回路17からの出力に他のア
ナログ遅延回路からの出力19とともにたし算回
路20で加算され、検波回路21で検波された後
モニターTV22で表示される。
路4からの信号に対応した遅延を行い、各ピエゾ
14からの信号がすべて同一時刻で重なるように
する。アナログ遅延回路17からの出力に他のア
ナログ遅延回路からの出力19とともにたし算回
路20で加算され、検波回路21で検波された後
モニターTV22で表示される。
以上のように、本発明は複数個のピエゾプロー
ブを使用する電子走査型超音波イメージング装置
において、被検体内の一定点と各ピエゾプローブ
間の距離を順次演算し、ピエゾプローブをこの距
離に対応した時間遅延をもたせて駆動するように
したもので、簡単な構成により集束型電子走査を
行うことができる。
ブを使用する電子走査型超音波イメージング装置
において、被検体内の一定点と各ピエゾプローブ
間の距離を順次演算し、ピエゾプローブをこの距
離に対応した時間遅延をもたせて駆動するように
したもので、簡単な構成により集束型電子走査を
行うことができる。
第1図は本発明による電子走査型超音波イメー
ジング装置の実施例を示すブロツク図、第2図は
本発明の動作説明図、第3図は第1図の一部分の
詳細図である。 1……被検体内位置信号発生回路、2……ピエ
ゾプローブ位置信号発生回路、3……距離演算回
路、4……電圧値遅延量決定回路、5……ゲート
回路、6……タイミングパルス発生回路、7……
時間値遅延量決定回路、8……パルス発生および
ピエゾプローブ駆動回路、9,14,30……ピ
エゾプローブ、15……増巾器、16……STC
増巾回路、17……アナログ遅延回路、20……
たし算回路、21……検波回路、22……モニタ
TV、29……被検体、31……ガイド棒、32
……リニアポテンシヨメータ。
ジング装置の実施例を示すブロツク図、第2図は
本発明の動作説明図、第3図は第1図の一部分の
詳細図である。 1……被検体内位置信号発生回路、2……ピエ
ゾプローブ位置信号発生回路、3……距離演算回
路、4……電圧値遅延量決定回路、5……ゲート
回路、6……タイミングパルス発生回路、7……
時間値遅延量決定回路、8……パルス発生および
ピエゾプローブ駆動回路、9,14,30……ピ
エゾプローブ、15……増巾器、16……STC
増巾回路、17……アナログ遅延回路、20……
たし算回路、21……検波回路、22……モニタ
TV、29……被検体、31……ガイド棒、32
……リニアポテンシヨメータ。
Claims (1)
- 1 複数個のピエゾプローブと、被検体内の複数
の位置にそれぞれ相当する電圧を発生する被検体
内位置信号発生回路と、前記複数個のピエゾプロ
ーブの位置に対応する電圧を発生するプローブ位
置信号発生回路と、被検体内の任意の一点と前記
複数個のピエゾプローブ間の距離を順次演算する
位置間距離演算回路と、この演算結果をもとにし
て電圧値による複数個の遅延量を得る電圧値遅延
量決定回路と、この電圧値による遅延量を各ピエ
ゾプローブに分配するゲート回路と、このゲート
出力を時間的な遅延量に変換する時間値遅延量決
定回路と、この時間的な遅延量に対応した遅延時
間だけ遅延した複数個のパルスをそれぞれ前記複
数個のピエゾプローブに供給する駆動回路とを具
備することを特徴とする電子走査超音波イメージ
ング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11023376A JPS5335284A (en) | 1976-09-13 | 1976-09-13 | Electronic scanning ultrasonic imaging device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11023376A JPS5335284A (en) | 1976-09-13 | 1976-09-13 | Electronic scanning ultrasonic imaging device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5335284A JPS5335284A (en) | 1978-04-01 |
| JPS6148948B2 true JPS6148948B2 (ja) | 1986-10-27 |
Family
ID=14530460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11023376A Granted JPS5335284A (en) | 1976-09-13 | 1976-09-13 | Electronic scanning ultrasonic imaging device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5335284A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0185445U (ja) * | 1987-11-30 | 1989-06-06 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5499379A (en) * | 1978-01-23 | 1979-08-06 | Tokyo Shibaura Electric Co | Ultrasonic video device |
| JPS54161772A (en) * | 1978-06-10 | 1979-12-21 | Tokyo Shibaura Electric Co | Ultrasoniccwave diagnosis device |
| JP2702983B2 (ja) * | 1988-09-13 | 1998-01-26 | 富士通株式会社 | 超音波診断装置 |
| US9096017B2 (en) * | 2012-04-18 | 2015-08-04 | Nike,Inc. | Fabric welding and cutting wheel assembly |
-
1976
- 1976-09-13 JP JP11023376A patent/JPS5335284A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0185445U (ja) * | 1987-11-30 | 1989-06-06 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5335284A (en) | 1978-04-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3700990B2 (ja) | ビーム形成器及び超音波イメージング・システム | |
| US5230340A (en) | Ultrasound imaging system with improved dynamic focusing | |
| EP0545714A1 (en) | Aberration correction using beam data from a phased array ultrasonic scanner | |
| US4354388A (en) | Method for nondestructive material testing with ultrasound pulses | |
| US5415173A (en) | Ultrasound diagnosis system | |
| US6318179B1 (en) | Ultrasound based quantitative motion measurement using speckle size estimation | |
| WO1994011757A1 (en) | High resolution phased array echo imager | |
| JPH05228147A (ja) | 流動する反射体の大きさ及び方向の表示を求める方法及びコヒーレント作像システム | |
| JPH0221258B2 (ja) | ||
| US4700571A (en) | Ultrasonic imaging apparatus | |
| US4716765A (en) | Ultrasonic measuring apparatus | |
| JP5148194B2 (ja) | 超音波診断装置 | |
| JP2002336246A (ja) | 超音波撮像方法及び超音波撮像装置 | |
| US4237902A (en) | Ultrasonic diagnosing apparatus | |
| JPS6148948B2 (ja) | ||
| JPH01156661A (ja) | 接合部探査装置 | |
| JP3180958B2 (ja) | 超音波診断装置 | |
| JPH04200539A (ja) | 超音波探触子及び血流測定装置 | |
| JPH0619341B2 (ja) | 電子走査型超音波探傷装置 | |
| US20120296211A1 (en) | Ultrasound diagnostic apparatus | |
| JP2000171232A (ja) | 超音波計測装置 | |
| JP2535050B2 (ja) | 超音波治療装置 | |
| JPS597260A (ja) | 超音波探傷方法および装置 | |
| JP2526623B2 (ja) | 超音波診断装置 | |
| JPS6124012B2 (ja) |