JPS6149978B2 - - Google Patents
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- JPS6149978B2 JPS6149978B2 JP56069929A JP6992981A JPS6149978B2 JP S6149978 B2 JPS6149978 B2 JP S6149978B2 JP 56069929 A JP56069929 A JP 56069929A JP 6992981 A JP6992981 A JP 6992981A JP S6149978 B2 JPS6149978 B2 JP S6149978B2
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- Japan
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- switch
- height
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- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
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- Accommodation For Nursing Or Treatment Tables (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は検診台を予め記憶されている高さに自
動的に設定するようにした装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an apparatus that automatically sets an examination table to a pre-stored height.
一般に産婦人科の検診台は下降位置で患者を乗
せてから上昇させ、医師の検診の行い易い高さに
調整するようにしている。そして検診終了後、検
診台を下降させて患者を降し、次の検診のときに
再び上昇させる。従つて医師は検診のたびに検診
台を検診の行い易い高さに調整する手間を必要と
する。 Generally, an examination table for obstetrics and gynecology is set at a lowered position on which a patient is placed, and then raised to adjust the height to a height that is convenient for the doctor to perform the examination. After the examination is completed, the examination table is lowered to lower the patient, and then raised again for the next examination. Therefore, a doctor must take the trouble of adjusting the examination table to a height that is convenient for each examination.
本発明は上記の問題に鑑み成されたもので、検
診台の高さを予め設定してこれを記憶させ、検診
を行う毎に自動的に高さの設定を行うようにした
ものである。以下本発明の実施例を図面と共に説
明する。 The present invention has been developed in view of the above-mentioned problems.The height of the examination table is set in advance and stored, and the height is automatically set each time a medical examination is performed. Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
図において、検診台1は例えば単動型油圧シリ
ンダにより矢印方向に上下動するように成されて
いる。この上下動は、端子2,3間に供給される
AC100V電源電圧により油圧ポンプモータ4及び
電磁弁5,6が動作されることにより行われる。
検診台1は、モータ4が駆動され且つ電磁弁5が
通電されて上昇用の油圧回路が形成されることに
より上昇し、電磁弁6が通電されて下降用の油圧
回路が形成されることにより下降する。尚、下降
の場合はモータ4は動作されず、検診台1は自重
又は荷重を含む自重により下降する。モータ4及
び電磁弁5への通電はフオトカプラ7を構成する
トライアツク9が導通することにより行われ、電
磁弁6への通電はフオトカプラ8を構成するトラ
イアツク10が導通することにより行われる。検
診台1の高さを調整及び設定するために手動設定
用スイツチS1,S2と自動設定用スイツチS3,S4と
が設けられている。尚、スイツチS1、S3は上昇
用、S2、S4は下降用のものである。またスイツチ
S1〜S4はペダルを踏むことにより閉ざされるよう
にしてよい。 In the figure, a medical examination table 1 is configured to move up and down in the direction of the arrow by, for example, a single-acting hydraulic cylinder. This vertical movement is supplied between terminals 2 and 3.
This is done by operating the hydraulic pump motor 4 and the solenoid valves 5 and 6 with the AC100V power supply voltage.
The examination table 1 is raised by driving the motor 4 and energizing the solenoid valve 5 to form a hydraulic circuit for lifting, and by energizing the solenoid valve 6 to form a hydraulic circuit for lowering. descend. In the case of descent, the motor 4 is not operated, and the examination table 1 is lowered by its own weight or its own weight including the load. The motor 4 and the electromagnetic valve 5 are energized by the triac 9 constituting the photocoupler 7 being conductive, and the electromagnetic valve 6 is energized by the triac 10 constituting the photocoupler 8 being conductive. In order to adjust and set the height of the examination table 1, manual setting switches S 1 and S 2 and automatic setting switches S 3 and S 4 are provided. The switches S 1 and S 3 are for raising, and the switches S 2 and S 4 are for lowering. Also switch
S 1 to S 4 may be closed by stepping on a pedal.
本実施例では、先ずスイツチS1、S2を閉だし検
診台1を上下動させて所望の高さに調整し、その
高さを設定値としてアナログメモリー11に記憶
させ、この後はスイツチS3又はS4により検診台1
の上下動を行うようにしている。即ち高さ設定後
は、検診台1の下降位置からスイツチS3を閉ざす
と、検診台1は自動的に設定高さまで上昇して停
止し、この状態からスイツチS4を閉ざせば下降す
る。このとき記憶された設定値は保持される。ま
た任意の時点でスイツチS1又はS2を閉ざせば、検
診台1は上昇又は下降し、停止させたときの高さ
が新たな設定値としてメモリー11に記憶され
る。またスイツチS5は上限スイツチ、スイツチS6
は下限スイツチで、夫々リミツトスイツチが用い
られ、検診台1の最高位置及び最低位置を規定す
る。 In this embodiment, first, the switches S 1 and S 2 are closed, the examination table 1 is moved up and down to adjust it to the desired height, and the height is stored in the analog memory 11 as a set value. Examination table 1 with 3 or S 4
It is designed to move up and down. That is, after setting the height, when the switch S3 is closed from the lowered position of the examination table 1, the examination table 1 automatically rises to the set height and stops, and from this state, when the switch S4 is closed, it is lowered. The set values stored at this time are retained. Furthermore, if the switch S1 or S2 is closed at any time, the examination table 1 is raised or lowered, and the height at the time of stopping is stored in the memory 11 as a new set value. Also, Switch S 5 is an upper limit switch, Switch S 6
are lower limit switches, each of which is used as a limit switch, and defines the highest and lowest positions of the examination table 1.
次に操作手順及び回路動作について説明する。 Next, the operating procedure and circuit operation will be explained.
今、検診台1が最低位置にあるものとし、この
状態でスイツチS1を閉ざすと、アンドゲート12
の入力a及びノアゲート13のa入力が「L」
(低レベル)となり、各ゲート12,13の出力
が反転する。ノアゲート13の反転出力はインバ
ータ14を介してナンドゲート15のb入力に伝
えられ、その出力を「L」に反転させる。これに
よつて、フオトカプラ7を構成する発光ダイオー
ド16が導通して発光し、従つてトライアツク7
が導通する。この結果、モータ4及び電磁弁5に
電源が加えられて検診台1が上昇を開始する。こ
の上昇に連動して摺動抵抗器18の摺動子19が
摺動し、これにより基準電圧Vrefを分圧した電
圧Vcが変化する。検診台1が所望の高さまで上
昇したときスイツチS1を開く。これによりナンド
ゲート15の出力が「H」(高レベル)となつて
発光ダイオード16が不導通となり、従つてモー
タ4及び電磁弁5への通電が遮断され、検診台1
が停止する。これと共にノアゲート12の出力が
「L」に立下り、この立下りでモノマルチ等で構
成されるメモリーホールド信号形成回路20がト
リガされる。この回路20の出力パルスPによ
り、上記停止時の検診台1の高さに応じた電圧V
c1がサンプリングされてメモリー11に記憶され
る。この状態で再びスイツチS1を閉ざせば、同様
の動作が行われて検診台1が上昇し、停止させた
ときにメモリー11の記憶値は更新される。また
スイツチS2を閉ざした場合は、アンドゲート12
及びノアゲート21のb入力が「L」となつて各
ゲート12,21の出力が反転する。ノアゲート
21の反転出力はインバータ22を介してナンド
ドゲート23に伝えられ、その出力を「L」と成
す。これによつてフオトカプラ8を構成する発光
ダイオード17が導通して発光し、従つてトライ
アツク10が導通する。これにより電磁弁6が通
電されて検診台1が下降する。 Now, suppose that the examination table 1 is at the lowest position, and when switch S 1 is closed in this state, AND gate 12
input a and the a input of Noah gate 13 are "L"
(low level), and the outputs of each gate 12 and 13 are inverted. The inverted output of the NOR gate 13 is transmitted to the b input of the NAND gate 15 via the inverter 14, and the output is inverted to "L". As a result, the light emitting diode 16 constituting the photocoupler 7 becomes conductive and emits light.
conducts. As a result, power is applied to the motor 4 and the solenoid valve 5, and the examination table 1 starts to rise. In conjunction with this rise, the slider 19 of the sliding resistor 18 slides, thereby changing the voltage V c obtained by dividing the reference voltage Vref. When the examination table 1 rises to a desired height, switch S1 is opened. As a result, the output of the NAND gate 15 becomes "H" (high level), the light emitting diode 16 becomes non-conductive, and therefore the power to the motor 4 and the solenoid valve 5 is cut off, and the examination table 1
stops. At the same time, the output of the NOR gate 12 falls to "L", and this fall triggers the memory hold signal forming circuit 20, which is composed of a monomulti or the like. The output pulse P of this circuit 20 generates a voltage V corresponding to the height of the examination table 1 at the time of stop.
c1 is sampled and stored in memory 11. If the switch S1 is closed again in this state, a similar operation is performed to raise the examination table 1, and when it is stopped, the stored value in the memory 11 is updated. Also, if switch S 2 is closed, AND gate 12
Then, the b input of the NOR gate 21 becomes "L", and the outputs of the respective gates 12 and 21 are inverted. The inverted output of the NOR gate 21 is transmitted to the NAND gate 23 via the inverter 22, and its output becomes "L". As a result, the light emitting diode 17 constituting the photocoupler 8 becomes conductive and emits light, so that the triac 10 becomes conductive. As a result, the electromagnetic valve 6 is energized and the examination table 1 is lowered.
そして所望の位置まで下降したときスイツチS2
を開けば、ナンドゲート23の出力が「H」とな
つて検診台1が停止する。これと共にアンドゲー
ト12の出力が立下つて信号形成回路20がトリ
ガされ、その出力パルスPでメモリー11の内容
がその停止時における検診台1の高さに応じた電
圧値に更新される。 Then, when it has descended to the desired position, switch S 2
When opened, the output of the NAND gate 23 becomes "H" and the examination table 1 stops. At the same time, the output of the AND gate 12 falls, triggering the signal forming circuit 20, and the output pulse P updates the contents of the memory 11 to a voltage value corresponding to the height of the examination table 1 at the time of the stop.
以上のようにして、スイツチS1、S2を閉ざすこ
とにより、検診台1を所望の高さに調整すること
ができる。そしてメモリー11に設定高さに応じ
た電圧値Vc1が記憶される。尚、検診台1が上限
又は下限位置に達したときはスイツチS5又はS6が
閉ざされ、これによつてナンドゲート15又は2
3の出力が「H」となるので、検診台1は直ちに
停止する。 By closing the switches S 1 and S 2 as described above, the examination table 1 can be adjusted to a desired height. Then, a voltage value V c1 corresponding to the set height is stored in the memory 11. Furthermore, when the examination table 1 reaches the upper limit or lower limit position, the switch S5 or S6 is closed, and the NAND gate 15 or 2 is thereby closed.
3 becomes "H", the examination table 1 immediately stops.
次に自動的に高さ設定を行なう場合について説
明する。 Next, a case in which the height is automatically set will be explained.
前述したようにスイツチS1、S2により検診台1
を所望の高さに調整すると共に、その高さに応じ
た電圧値Vc1をメモリー11に記憶した後、スイ
ツチS4を閉ざす。これにより実動設定制御回路2
4のa入力が「L」となつてそのd出力が「L」
に反転し、この反転出力がノアゲート21及びイ
ンバータ22を介してナンドゲート23の出力を
「L」と成す。従つて電磁弁6が通電されて検診
台1が自重により下降する。そして下限位置まで
下降したときスイツチS6が閉ざされてナンドゲー
ト23の出力が「H」となつて停止する。 As mentioned above, the switches S 1 and S 2 switch the examination table 1.
After adjusting the voltage to a desired height and storing the voltage value V c1 corresponding to the height in the memory 11, the switch S4 is closed. As a result, the actual operation setting control circuit 2
4's a input becomes "L" and its d output becomes "L"
This inverted output passes through the NOR gate 21 and the inverter 22 and makes the output of the NAND gate 23 "L". Therefore, the electromagnetic valve 6 is energized and the examination table 1 is lowered by its own weight. When it descends to the lower limit position, the switch S6 is closed and the output of the NAND gate 23 becomes "H" and stops.
次に検診台1に例えば患者を載せた後、スイツ
チS3を閉じると、制御回路24のb入力が「L」
となつてc出力が「H」となる。この出力がナン
ドゲート25、ノアゲート13、インバータ14
を介してナンドゲート15に伝えられる結果、こ
のナンドゲート15の出力が「L」となつて、検
診台1が上昇する。この上昇に伴つて高さを表わ
す電圧Vcが上昇してコンパレータ26に加えら
れる。メモリー11は設定値電圧Vc1が記憶され
た後、直ちにこの電圧Vc1コンパレータ26に加
えている。コンパレータ26はVcとVc1とを比
較し、VcがVc1を越える高さまで検診台1が上
昇したときに、その比較出力が「L」となる。こ
の比較出力がナンドゲート15に伝えられてその
出力を「H」と成すことにより、検診台1が設定
された高さで停止する。そして検診終了後に再び
スイツチS4を閉ざせば、ナンドゲート23の出力
が「L」となつて検診台1が下降し、下限位置で
スイツチS6が閉じて停止する。尚、比較器26の
出力の反転はアンドゲート27を通じて制御回路
24のe入力として加えられる。これによつて、
制御回路24は初期状態にリセツトされる。ま
た、スイツチS5が閉ざされたときは上記アンドゲ
ート27のe入力が「L」となつて制御回路24
がリセツトされ、スイツチS6が閉ざされたとき
は、制御回路24がf入力でリセツトされる。 Next, after placing, for example, a patient on the examination table 1, when the switch S3 is closed, the b input of the control circuit 24 becomes "L".
As a result, the c output becomes "H". This output is NAND gate 25, NOR gate 13, inverter 14
As a result, the output of this NAND gate 15 becomes "L" and the examination table 1 rises. Along with this rise, the voltage V c representing the height rises and is applied to the comparator 26 . The memory 11 applies this voltage V c1 to the comparator 26 immediately after the set value voltage V c1 is stored. The comparator 26 compares Vc and Vc1 , and when the examination table 1 rises to a height where Vc exceeds Vc1 , the comparison output becomes "L". This comparison output is transmitted to the NAND gate 15 and the output becomes "H", whereby the examination table 1 is stopped at the set height. When the switch S4 is closed again after the end of the examination, the output of the NAND gate 23 becomes "L", the examination table 1 is lowered, and the switch S6 is closed and stopped at the lower limit position. Note that the inverted output of the comparator 26 is applied through an AND gate 27 as an e input of the control circuit 24. By this,
Control circuit 24 is reset to its initial state. Furthermore, when the switch S5 is closed, the e input of the AND gate 27 becomes "L" and the control circuit 24
is reset and switch S6 is closed, control circuit 24 is reset at the f input.
以上によれば、スイツチS1又はS2によりノアゲ
ート13又は21を通じてナンドゲート15又は
23を反転させることにより、検診台1を任意の
高さに調整することができる。これと共に任意の
高さを設定することができる。また高さ設定後
は、スイツチS3を閉ざすことにより、制御回路2
4のc出力と比較器26の出力とに基いて、ナン
ドゲート25、ノアゲート13を通じてナンドゲ
ート15を反転させることにより自動的に設定位
置まで上昇させて停止させることができる。尚、
スイツチS4は設定位置から下降させる場合に用い
られ、下降は自重で行われるのでその停止位置は
下限スイツチS6により定められる。 According to the above, the examination table 1 can be adjusted to an arbitrary height by inverting the NAND gate 15 or 23 through the NAND gate 13 or 21 using the switch S 1 or S 2 . Along with this, any height can be set. In addition, after setting the height, by closing switch S3 , control circuit 2
By inverting the NAND gate 15 through the NAND gate 25 and NOR gate 13 based on the c output of No. 4 and the output of the comparator 26, the NAND gate 15 can be automatically raised to a set position and stopped. still,
The switch S4 is used to lower the robot from the set position, and since the lowering is performed by its own weight, the stopping position is determined by the lower limit switch S6 .
本実施例によれば、上述の動作が全て電気的に
行なわれるので、誤動作が少く安定な動作を得る
ことができる。またフオトカプラ7,8で検診台
1の駆動回路を動作させているので、リレー等に
よる機械的スイツチを用いる場合に比し、信頼性
が高い。尚、スイツチS1、S2による高さ設定を行
う際に、信号音等により高さ設定が行なわれたこ
とを表示するようにしてよい。その場合は例えば
信号形成回路20の出力パルスPにより発振器を
駆動して、その発振音を所定時間スピーカから発
したり、あるいはランプ、発光ダイオード等で表
示するようにしてよい。 According to this embodiment, all of the above-mentioned operations are performed electrically, so that stable operations can be achieved with fewer malfunctions. Furthermore, since the drive circuit of the examination table 1 is operated by the photocouplers 7 and 8, reliability is higher than when a mechanical switch such as a relay is used. Incidentally, when setting the height using the switches S 1 and S 2 , the fact that the height has been set may be indicated by a signal sound or the like. In that case, for example, an oscillator may be driven by the output pulse P of the signal forming circuit 20, and the oscillated sound may be emitted from a speaker for a predetermined period of time, or may be displayed using a lamp, a light emitting diode, or the like.
以上述べたように本発明は、検診台を上昇させ
る第1及び第2のスイツチ(例えばスイツチS1、
S3)と、上記検診台の高さを検出する手段(例え
ば摺動抵抗器18)と、上記第1のスイツチによ
り上記検診台を上昇させたときの高さを検出した
値を記憶する手段(例えばメモリー11)と、上
記第2のスイツチ(例えばスイツチS3)により上
記検診台を上昇させたときの高さを検出した値と
上記記憶された値(例えばVc1)とを比較する手
段とを設け、上記第2のスイツチにより上記検診
台を上昇させたときに上記比較手段の反転出力で
上記検診台を停止させるようにしたことを特徴と
する検診台の自動高さ設定装置に係るものであ
る。 As described above, the present invention provides first and second switches (for example, switch S 1 ,
S 3 ), means for detecting the height of the examination table (for example, sliding resistor 18), and means for storing the detected value of the height when the examination table is raised by the first switch. (e.g., memory 11) and a means for comparing the value detected by the second switch (e.g., switch S 3 ) when the examination table is raised with the stored value (e.g., V c1 ). and an automatic height setting device for an examination table, characterized in that when the examination table is raised by the second switch, the examination table is stopped by the inverted output of the comparison means. It is something.
従つて本発明によれば、検診台の高さを一旦設
定すれば、それ以後は第2のスイツチを操作する
だけで自動的に高さ設定が行われるので、使用す
るたびに調整を行う必要がなくなり、検診を能率
的に行うことができる。 Therefore, according to the present invention, once the height of the examination table is set, the height is automatically set by simply operating the second switch, so there is no need to adjust it every time it is used. This eliminates the need for medical examinations, making it possible to perform medical examinations more efficiently.
図面は本発明の実施例を示す回路系統図であ
る。
なお図面に用いた符号において、1……検診
台、11……アナログメモリー、18……摺動抵
抗器、20……メモリーホールド信号形成回路、
24……自動設定制御回路、26……コンパレー
タ、S1,S2……手動設定用スイツチ、S3,S4……
自動設定用スイツチである。
The drawing is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention. In addition, in the symbols used in the drawings, 1...examination table, 11...analog memory, 18...sliding resistor, 20...memory hold signal forming circuit,
24...Automatic setting control circuit, 26...Comparator, S1 , S2 ...Manual setting switch, S3 , S4 ...
This is an automatic setting switch.
Claims (1)
と、上記検診台の高さを検出する手段と、上記第
1のスイツチにより上記検診台を上昇させたとき
の高さを検出した値を記憶する手段と、上記第2
のスイツチにより上記検診台を上昇させたときの
高さを検出した値と上記記憶された値とを比較す
る手段とを設け、上記第2のスイツチにより上記
検診台を上昇させたときに上記比較手段の反転出
力で上記検診台を停止させるようにしたことを特
徴とする検診台の自動高さ設定装置。1. First and second switches for raising the examination table, means for detecting the height of the examination table, and storing the detected value of the height when the examination table is raised by the first switch. and the second method mentioned above.
means for comparing the detected height when the examination table is raised by the second switch with the stored value, and the comparison is made when the examination table is raised by the second switch. An automatic height setting device for an examination table, characterized in that the examination table is stopped by a reverse output of the means.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56069929A JPS57185857A (en) | 1981-05-09 | 1981-05-09 | Automatic height adjusting apparatus of inspecting table |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56069929A JPS57185857A (en) | 1981-05-09 | 1981-05-09 | Automatic height adjusting apparatus of inspecting table |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57185857A JPS57185857A (en) | 1982-11-16 |
| JPS6149978B2 true JPS6149978B2 (en) | 1986-10-31 |
Family
ID=13416856
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56069929A Granted JPS57185857A (en) | 1981-05-09 | 1981-05-09 | Automatic height adjusting apparatus of inspecting table |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57185857A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09271493A (en) * | 1996-04-05 | 1997-10-21 | Morita Tokyo Seisakusho:Kk | Medical examination bed for obstetrics and gynecology |
-
1981
- 1981-05-09 JP JP56069929A patent/JPS57185857A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57185857A (en) | 1982-11-16 |
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