JPS6151265B2 - - Google Patents
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- JPS6151265B2 JPS6151265B2 JP52077094A JP7709477A JPS6151265B2 JP S6151265 B2 JPS6151265 B2 JP S6151265B2 JP 52077094 A JP52077094 A JP 52077094A JP 7709477 A JP7709477 A JP 7709477A JP S6151265 B2 JPS6151265 B2 JP S6151265B2
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- operational amplifier
- output
- peak
- voltage
- input side
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/04—Measuring peak values or amplitude or envelope of AC or of pulses
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/153—Arrangements in which a pulse is delivered at the instant when a predetermined characteristic of an input signal is present or at a fixed time interval after this instant
- H03K5/1532—Peak detectors
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は例えば分析装置に用いられる電気出力
信号のピーク検出装置に関する。電気出力信号の
ピークを検出する装置は公知であるが、それらの
装置では電気出力信号がノイズを有する場合間違
つたピークを検出することが多い。またピーク指
示を遅延することによつてノイズの影響を回避す
る装置も公知であるが、このようにするピークの
検出の精度に悪い影響を与えることになる。或る
種のピーク検出装置においては精度を或る程度犠
牲にしてもよいが、分析装置例えばスペクトル分
析装置であつて、電気出力信号が時間的に変化す
るスペクトルパラメータに依存する分析パラメー
タである場合は、一般に精度を犠牲にすることが
できない。
信号のピーク検出装置に関する。電気出力信号の
ピークを検出する装置は公知であるが、それらの
装置では電気出力信号がノイズを有する場合間違
つたピークを検出することが多い。またピーク指
示を遅延することによつてノイズの影響を回避す
る装置も公知であるが、このようにするピークの
検出の精度に悪い影響を与えることになる。或る
種のピーク検出装置においては精度を或る程度犠
牲にしてもよいが、分析装置例えばスペクトル分
析装置であつて、電気出力信号が時間的に変化す
るスペクトルパラメータに依存する分析パラメー
タである場合は、一般に精度を犠牲にすることが
できない。
本発明の目的はノイズを有する電気出力信号の
ピーク(本明細書において信号波形の山および谷
を総称してピークと称する。)を検出する良好な
精度を有する装置を提供することである。
ピーク(本明細書において信号波形の山および谷
を総称してピークと称する。)を検出する良好な
精度を有する装置を提供することである。
本発明のもう1つの目的はピーク検出装置と分
光光度計とが共働するようにし、マイクロコンピ
ユータと出力信号のピークおよび光線の周波数の
瞬時値を記録するプリンタとを有する装置を提供
することである。
光光度計とが共働するようにし、マイクロコンピ
ユータと出力信号のピークおよび光線の周波数の
瞬時値を記録するプリンタとを有する装置を提供
することである。
本発明のもう1つの目的は連続する期間に亘つ
て電気出力信号の最有効の最大ピークおよび最小
ピークを検出する装置を提供することである。
て電気出力信号の最有効の最大ピークおよび最小
ピークを検出する装置を提供することである。
本発明によればこれらの目的は、次のようにし
て解決される。即ち電気出力信号のピーク検出装
置において、電圧がピーク振幅特性点の方向へ変
化してゆくことを示すためのピーク予想信号と該
変化電圧が前記ピーク振幅特性点を通過したこと
を示すためのピーク確認信号とを発生するように
装置構成がなされており、該ピーク検出装置は電
圧ホールド装置を備え、さらに前記の変化電圧を
電圧ホールド装置の出力と比較して両者の間の差
を検出する比較装置を備え、さらに電圧ホールド
装置の出力と比較装置の出力との間の差に応動し
てピーク予想信号を発生する装置を備え、さらに
極性付装置を備え該極性付装置は比較装置の出力
を電圧ホールド装置の入力側へ供給して電圧ホー
ルド装置の出力が、ピーク振幅の方向へ変化して
ゆく電圧の変化に応答して変化可能であるように
し、さらに制御論理装置を備え、前記変化電圧の
勾配の正、負の符号が反転してから変化電圧の振
幅がピーク振幅特性点から所定量だけ変化する点
における勾配閾値に達すると、前記制御論理装置
が応動して前記の極性付装置を制御するように
し、該勾配閾値において制御論理装置がピーク確
認信号を発生するようにしたことにより解決され
る。
て解決される。即ち電気出力信号のピーク検出装
置において、電圧がピーク振幅特性点の方向へ変
化してゆくことを示すためのピーク予想信号と該
変化電圧が前記ピーク振幅特性点を通過したこと
を示すためのピーク確認信号とを発生するように
装置構成がなされており、該ピーク検出装置は電
圧ホールド装置を備え、さらに前記の変化電圧を
電圧ホールド装置の出力と比較して両者の間の差
を検出する比較装置を備え、さらに電圧ホールド
装置の出力と比較装置の出力との間の差に応動し
てピーク予想信号を発生する装置を備え、さらに
極性付装置を備え該極性付装置は比較装置の出力
を電圧ホールド装置の入力側へ供給して電圧ホー
ルド装置の出力が、ピーク振幅の方向へ変化して
ゆく電圧の変化に応答して変化可能であるように
し、さらに制御論理装置を備え、前記変化電圧の
勾配の正、負の符号が反転してから変化電圧の振
幅がピーク振幅特性点から所定量だけ変化する点
における勾配閾値に達すると、前記制御論理装置
が応動して前記の極性付装置を制御するように
し、該勾配閾値において制御論理装置がピーク確
認信号を発生するようにしたことにより解決され
る。
連続する期間に亘つて電気出力信号の最有効の
最大ピークまたは最有効の最小ピークを所望する
場合、極性付装置を制御してそれぞれの正の入力
信号または負の入力信号だけを電圧ホールド装置
に供給し、ピーク予想信号またはピーク確認信号
を、作用しないようにするかまたは無視するよう
にする。スペクトル分析に適用した場合、ピーク
予想信号に基づいてピーク情報をマイクロコンピ
ユータに記憶し、またピーク確認信号に関連して
情報を印刷することにより、ピークをスペクトル
パラメータと相関させることができる。
最大ピークまたは最有効の最小ピークを所望する
場合、極性付装置を制御してそれぞれの正の入力
信号または負の入力信号だけを電圧ホールド装置
に供給し、ピーク予想信号またはピーク確認信号
を、作用しないようにするかまたは無視するよう
にする。スペクトル分析に適用した場合、ピーク
予想信号に基づいてピーク情報をマイクロコンピ
ユータに記憶し、またピーク確認信号に関連して
情報を印刷することにより、ピークをスペクトル
パラメータと相関させることができる。
さらに本発明によれば電気出力を発生する分析
装置用のピーク検出装置は電圧ホールド装置、第
1の比較装置、第2の比較装置、正の閾値を有す
る比較装置、負の閾値を有する比較装置、双安定
フリツプフロツプ回路、第1のダイオードおよび
第2のダイオードを備え、前記電圧ホールド装置
は第1の演算増幅器を有し、前記第1の演算増幅
器の出力側をその反転入力側に分岐して接続し、
かつ前記第1の演算増幅器の非反転入力側を、コ
ンデンサを介してアースに接続し、前記第1の比
較装置は第2の演算増幅器を有し、前記第2の演
算増幅器の非反転入力側を電気出力側に接続し、
前記第2の演算増幅器の反転入力側を前記電圧ホ
ールド装置の出力側に接続し、前記第2の比較装
置は第3の演算増幅器を有し、前記第3の演算増
幅器の非反転入力側を前記第1の比較装置の出力
側に接続し、前記第3の演算増幅器の反転入力側
を前記電圧ホールド装置の出力側に接続し、前記
正の閾値を有する比較装置は第4の演算増幅器を
有し、前記第4の演算増幅器の非反転入力側を正
の基準電圧と前記電圧ホールド装置の出力側とに
接続し、前記第4の演算増幅器の反転入力側を電
気出力側に接続し、前記負の閾値を有する比較装
置は第5の演算増幅器を有し、前記第5の演算増
幅器の非反転入力側を電気出力側に接続し、前記
第5の演算増幅器の反転入力側を負の基準電圧と
前記電圧ホールド装置の出力側とに接続し、前記
双安定フリツプフロツプ回路はプリセツト入力側
およびクリヤ入力側と相補出力側とを有し、前記
プリセツト入力側を前記正の閾値を有する比較装
置の出力側に接続しかつ前記クリヤ入力側を前記
負の閾値を有する比較装置の出力側に接続し、前
記第1のダイオードを前記第1の比較装置の出力
側と前記電圧ホールド装置の入力側との間で第1
のFETスイツチに直列に接続し、その場合前記
第1のダイオードのカソードを前記電圧ホールド
装置の入力側に接続しかつ前記第1のFETスイ
ツチのゲートを前記フリツプフロツプ回路の出力
側に接続し、前記第2のダイオードを前記第1の
比較装置の出力側と前記電圧ホールド装置の入力
側との間で第2のFETスイツチに直列に接続
し、この場合前記第2のダイオードのアノードを
前記電圧ホールド装置の入力側に接続し、前記第
2のFETスイツチのゲートを前記フリツプフロ
ツプ回路の相補出力側に接続し、その場合電気出
力と前記電圧ホールド装置の出力との間に差があ
る場合前記第2の比較装置の出力側に、該電気出
力がピーク振幅特性点の方向へ変化しつつあるこ
とを示すためのピーク予想信号を発生するように
し、また前記閾値を有する比較装置の正のレベル
または負のレベルに達すると前記フリツプフロツ
プ回路の相補出力側に、電気出力がピーク振幅特
性点を通過したことを示すためのピーク確認信号
を発生するようにしたのである。
装置用のピーク検出装置は電圧ホールド装置、第
1の比較装置、第2の比較装置、正の閾値を有す
る比較装置、負の閾値を有する比較装置、双安定
フリツプフロツプ回路、第1のダイオードおよび
第2のダイオードを備え、前記電圧ホールド装置
は第1の演算増幅器を有し、前記第1の演算増幅
器の出力側をその反転入力側に分岐して接続し、
かつ前記第1の演算増幅器の非反転入力側を、コ
ンデンサを介してアースに接続し、前記第1の比
較装置は第2の演算増幅器を有し、前記第2の演
算増幅器の非反転入力側を電気出力側に接続し、
前記第2の演算増幅器の反転入力側を前記電圧ホ
ールド装置の出力側に接続し、前記第2の比較装
置は第3の演算増幅器を有し、前記第3の演算増
幅器の非反転入力側を前記第1の比較装置の出力
側に接続し、前記第3の演算増幅器の反転入力側
を前記電圧ホールド装置の出力側に接続し、前記
正の閾値を有する比較装置は第4の演算増幅器を
有し、前記第4の演算増幅器の非反転入力側を正
の基準電圧と前記電圧ホールド装置の出力側とに
接続し、前記第4の演算増幅器の反転入力側を電
気出力側に接続し、前記負の閾値を有する比較装
置は第5の演算増幅器を有し、前記第5の演算増
幅器の非反転入力側を電気出力側に接続し、前記
第5の演算増幅器の反転入力側を負の基準電圧と
前記電圧ホールド装置の出力側とに接続し、前記
双安定フリツプフロツプ回路はプリセツト入力側
およびクリヤ入力側と相補出力側とを有し、前記
プリセツト入力側を前記正の閾値を有する比較装
置の出力側に接続しかつ前記クリヤ入力側を前記
負の閾値を有する比較装置の出力側に接続し、前
記第1のダイオードを前記第1の比較装置の出力
側と前記電圧ホールド装置の入力側との間で第1
のFETスイツチに直列に接続し、その場合前記
第1のダイオードのカソードを前記電圧ホールド
装置の入力側に接続しかつ前記第1のFETスイ
ツチのゲートを前記フリツプフロツプ回路の出力
側に接続し、前記第2のダイオードを前記第1の
比較装置の出力側と前記電圧ホールド装置の入力
側との間で第2のFETスイツチに直列に接続
し、この場合前記第2のダイオードのアノードを
前記電圧ホールド装置の入力側に接続し、前記第
2のFETスイツチのゲートを前記フリツプフロ
ツプ回路の相補出力側に接続し、その場合電気出
力と前記電圧ホールド装置の出力との間に差があ
る場合前記第2の比較装置の出力側に、該電気出
力がピーク振幅特性点の方向へ変化しつつあるこ
とを示すためのピーク予想信号を発生するように
し、また前記閾値を有する比較装置の正のレベル
または負のレベルに達すると前記フリツプフロツ
プ回路の相補出力側に、電気出力がピーク振幅特
性点を通過したことを示すためのピーク確認信号
を発生するようにしたのである。
次に本発明の実施例を図面を用いて説明する。
第1図のブロツク図は本発明のピーク検出装置
10を示す。その場合電気信号源12の出力側は
電気出力信号とある電圧レベルとの差動比較する
装置14の1つの入力側に接続されている。この
電圧レベルを記憶ないしホールドするサンプルア
ンドホールド装置16の入力側は、極性付装置1
8を介して比較装置14の出力側に接続されてい
る。その場合極性付装置18は比較装置14の出
力信号に極性を付与する。また比較装置14の出
力信号と記憶された電圧レベルとは装置20に供
給され、装置20は比較装置14の出力信号と記
憶電圧レベルとの間に差がある場合ピーク予想信
号を発生する。また制御論理装置22は出力信号
の勾配ないしスロープ極性初換値に対する閾値
(以下スロープ極性限界値と称す)に従つて極性
付装置18の制御を行い、かつその限界値でピー
ク確認信号を発生する。
10を示す。その場合電気信号源12の出力側は
電気出力信号とある電圧レベルとの差動比較する
装置14の1つの入力側に接続されている。この
電圧レベルを記憶ないしホールドするサンプルア
ンドホールド装置16の入力側は、極性付装置1
8を介して比較装置14の出力側に接続されてい
る。その場合極性付装置18は比較装置14の出
力信号に極性を付与する。また比較装置14の出
力信号と記憶された電圧レベルとは装置20に供
給され、装置20は比較装置14の出力信号と記
憶電圧レベルとの間に差がある場合ピーク予想信
号を発生する。また制御論理装置22は出力信号
の勾配ないしスロープ極性初換値に対する閾値
(以下スロープ極性限界値と称す)に従つて極性
付装置18の制御を行い、かつその限界値でピー
ク確認信号を発生する。
最大または最小のピークを検出するための信号
の組は第1図の装置10で発生される。その場合
装置10の動作を第2図の電気出力信号波形の最
大または最小のピーク振幅特性点のうち最小ピー
クの検出の場合だけにつき説明する。最大ピーク
検出のために類似の動作が行われることは明らか
である。勿論ピークを検出すべき電気出力信号は
最小ピーク以前にマイナスの勾配ないしスロープ
を有する筈であり、かつ第2図の点Aで示すよう
な所定のプリセツトされた負ないしマイナススロ
ープ極性限界値の時点で制御論理装置22が極性
付装置18を制御し、比較装置14の出力側をサ
ンプルアンドホールド装置16の入力側に接続す
る。それによつてサンプルアンドホールド装置1
6の電圧レベル出力は第2図の点Bの最小ピーク
に達するまで電気出力信号に追従し、その後にこ
の最小ピークで電気出力信号に等しい電圧レベル
が記憶される。この最小ピークに先行するマイナ
ススロープの期間で比較装置14の出力信号がサ
ンプルアンドホールド装置16の出力電圧レベル
より負の小さな値である場合には常に、ピーク予
想信号20が信号を発生する。出力信号がノイズ
を有する場合でも、前述の差信号は、点Aのマイ
ナススロープ極性限界値から点Bの最小ピークま
で、但し第2図の点C,DおよびEのようなノイ
ズスパイクが生じたときを除いて生ずる。従つて
それぞれの最小ピークが生ずるまでに複数のピー
ク予想信号が生ずることになる。典型的なピーク
検出形式において検出信号は、それぞれのピーク
予想信号の発生しているとき記録される。勿論出
力信号は最小ピークの後は正ないしプラススロー
プを有する筈であり、かつ第2図の点Fで示す所
定のプリセツトされたプラススロープ極性限界値
で制御論理装置22は、ピーク確認信号を発生
し、更に極性切換装置18を制御してサンプルア
ンドホールド装置16の入力側を最小ピークに関
連して比較装置14の出力側から遮断するように
する。典型的なピーク検出形式においてピーク確
認信号は、最小ピークで最後に生ずるピーク予想
信号によつて記録された電気出力信号をプリント
するために用いられる。(このような形式につい
ては第3図を用いて後述する。) 第1図の装置10は出力信号がノイズを有しな
い場合はもちろんのこと、ノイズがある場合で
も、制御論理装置22のマイナススロープおよび
プラススロープの極性限界値がノイズレベルより
大きなレベルにセツトされているので、ピークを
検出することができる。
の組は第1図の装置10で発生される。その場合
装置10の動作を第2図の電気出力信号波形の最
大または最小のピーク振幅特性点のうち最小ピー
クの検出の場合だけにつき説明する。最大ピーク
検出のために類似の動作が行われることは明らか
である。勿論ピークを検出すべき電気出力信号は
最小ピーク以前にマイナスの勾配ないしスロープ
を有する筈であり、かつ第2図の点Aで示すよう
な所定のプリセツトされた負ないしマイナススロ
ープ極性限界値の時点で制御論理装置22が極性
付装置18を制御し、比較装置14の出力側をサ
ンプルアンドホールド装置16の入力側に接続す
る。それによつてサンプルアンドホールド装置1
6の電圧レベル出力は第2図の点Bの最小ピーク
に達するまで電気出力信号に追従し、その後にこ
の最小ピークで電気出力信号に等しい電圧レベル
が記憶される。この最小ピークに先行するマイナ
ススロープの期間で比較装置14の出力信号がサ
ンプルアンドホールド装置16の出力電圧レベル
より負の小さな値である場合には常に、ピーク予
想信号20が信号を発生する。出力信号がノイズ
を有する場合でも、前述の差信号は、点Aのマイ
ナススロープ極性限界値から点Bの最小ピークま
で、但し第2図の点C,DおよびEのようなノイ
ズスパイクが生じたときを除いて生ずる。従つて
それぞれの最小ピークが生ずるまでに複数のピー
ク予想信号が生ずることになる。典型的なピーク
検出形式において検出信号は、それぞれのピーク
予想信号の発生しているとき記録される。勿論出
力信号は最小ピークの後は正ないしプラススロー
プを有する筈であり、かつ第2図の点Fで示す所
定のプリセツトされたプラススロープ極性限界値
で制御論理装置22は、ピーク確認信号を発生
し、更に極性切換装置18を制御してサンプルア
ンドホールド装置16の入力側を最小ピークに関
連して比較装置14の出力側から遮断するように
する。典型的なピーク検出形式においてピーク確
認信号は、最小ピークで最後に生ずるピーク予想
信号によつて記録された電気出力信号をプリント
するために用いられる。(このような形式につい
ては第3図を用いて後述する。) 第1図の装置10は出力信号がノイズを有しな
い場合はもちろんのこと、ノイズがある場合で
も、制御論理装置22のマイナススロープおよび
プラススロープの極性限界値がノイズレベルより
大きなレベルにセツトされているので、ピークを
検出することができる。
本発明のピーク検出装置を種々の用途に利用で
きるが、例えば分析装置に利用すると有利であ
る。更に第1図のブロツク図に応じて種々に回路
を構成できるが、第3図に、分光光度計に適した
回路を示す。その場合第3図において第1図の
個々のブロツクを第1図の場合と同じ番号に
(′)を付けて示す。分光光度計によつて試料物質
の種々の成分の濃度を分析する際光線スペクトル
は試料を通過しかつ成分の濃度は、光線の吸収率
Aの最大値かまたは透過率Tの最小値における周
波数帯域によつて決まる。分光光度計AまたはT
に比例して出力信号を発生するので、斯様な分析
に対して出力信号のそれぞれの最大または最小ピ
ークを正確に決めるべきである。
きるが、例えば分析装置に利用すると有利であ
る。更に第1図のブロツク図に応じて種々に回路
を構成できるが、第3図に、分光光度計に適した
回路を示す。その場合第3図において第1図の
個々のブロツクを第1図の場合と同じ番号に
(′)を付けて示す。分光光度計によつて試料物質
の種々の成分の濃度を分析する際光線スペクトル
は試料を通過しかつ成分の濃度は、光線の吸収率
Aの最大値かまたは透過率Tの最小値における周
波数帯域によつて決まる。分光光度計AまたはT
に比例して出力信号を発生するので、斯様な分析
に対して出力信号のそれぞれの最大または最小ピ
ークを正確に決めるべきである。
第3図において分光光度計12′は出力信号を
発生し、比較装置14′として用いられた演算増
幅器24の非反転入力側に接続されている。演算
増幅器24の反転入力側はアンサンブルアンドホ
ールド装置16′の電圧レベル出力側に接続され
ている。その場合サンプルアンドホールド装置1
6′は演算増幅器26を有し、演算増幅器26の
出力側はその反転入力側に分岐して接続されてお
りかつ演算増幅器26の非反転入力側はコンデン
サ28を介してアースされている。第1のFET
スイツチ32に直列接続された第1のダイオード
30と、第2のFETスイツチ36に直列接続さ
れた第2のダイオード34との並列接続は極性付
装置18′として構成されている。FETスイツチ
32と36のゲートは、それぞれ逆バイアスされ
たダイオード38と40を介して接続されている
ので、それぞれダイオード30および34のカソ
ードとアノードとが演算増幅器26の非反転入力
側でサンプルアンドホールド装置16′の入力側
に接続されている場合ゲート電流は流れない。ピ
ーク予想信号装置20′は演算増幅器42を有
し、それぞれ演算増幅器42の反転および非反転
入力側は演算増幅器26と24の出力側に接続さ
れている。プリセツトおよびクリヤ入力側と相補
出力側Qおよびとを有する2安定フリツプフロ
ツプ回路44はプラスの閾値を有する比較器46
とマイナスの閾値を有する比較器48と共に制御
論理装置22′に設けられている。フリツプフロ
ツプ回路44の相補出力側Qととはそれぞれレ
ベルブースタ演算増幅器50と52を介して
FETスイツチ32と36のゲートに接続されて
いる。プラスの閾値およびマイナスの閾値を有す
る比較器46と48の出力側はそれぞれダイオー
ド54と56を介してフリツプフロツプ回路44
のプリセツトおよびクリヤ入力側に接続されてい
る。それぞれのダイオード54と56のアノード
は、フリツプフロツプ回路の入力側とプラスの基
準電圧点とに接続され、また逆バイアスされたダ
イオード58と60を介してアースに接続されて
いる。プラスの閾値を有する比較器46は演算増
幅器62を有し、演算増幅器62の非反転入力側
はプラスの基準電圧点とサンプルアンドホールド
装置16′の出力側とに接続されている。また演
算増幅器62の反転入力側は分光光度計12′の
出力側に接続されている。マイナスの閾値を有す
る比較器48は演算増幅器64を有し、演算増幅
器64の非反転入力側は分光光度計12′の出力
側に接続されている。また演算増幅器64の反転
入力側はマイナスの基準電圧点とサンプルアンド
ホールド装置16′の出力側とに接続されてい
る。
発生し、比較装置14′として用いられた演算増
幅器24の非反転入力側に接続されている。演算
増幅器24の反転入力側はアンサンブルアンドホ
ールド装置16′の電圧レベル出力側に接続され
ている。その場合サンプルアンドホールド装置1
6′は演算増幅器26を有し、演算増幅器26の
出力側はその反転入力側に分岐して接続されてお
りかつ演算増幅器26の非反転入力側はコンデン
サ28を介してアースされている。第1のFET
スイツチ32に直列接続された第1のダイオード
30と、第2のFETスイツチ36に直列接続さ
れた第2のダイオード34との並列接続は極性付
装置18′として構成されている。FETスイツチ
32と36のゲートは、それぞれ逆バイアスされ
たダイオード38と40を介して接続されている
ので、それぞれダイオード30および34のカソ
ードとアノードとが演算増幅器26の非反転入力
側でサンプルアンドホールド装置16′の入力側
に接続されている場合ゲート電流は流れない。ピ
ーク予想信号装置20′は演算増幅器42を有
し、それぞれ演算増幅器42の反転および非反転
入力側は演算増幅器26と24の出力側に接続さ
れている。プリセツトおよびクリヤ入力側と相補
出力側Qおよびとを有する2安定フリツプフロ
ツプ回路44はプラスの閾値を有する比較器46
とマイナスの閾値を有する比較器48と共に制御
論理装置22′に設けられている。フリツプフロ
ツプ回路44の相補出力側Qととはそれぞれレ
ベルブースタ演算増幅器50と52を介して
FETスイツチ32と36のゲートに接続されて
いる。プラスの閾値およびマイナスの閾値を有す
る比較器46と48の出力側はそれぞれダイオー
ド54と56を介してフリツプフロツプ回路44
のプリセツトおよびクリヤ入力側に接続されてい
る。それぞれのダイオード54と56のアノード
は、フリツプフロツプ回路の入力側とプラスの基
準電圧点とに接続され、また逆バイアスされたダ
イオード58と60を介してアースに接続されて
いる。プラスの閾値を有する比較器46は演算増
幅器62を有し、演算増幅器62の非反転入力側
はプラスの基準電圧点とサンプルアンドホールド
装置16′の出力側とに接続されている。また演
算増幅器62の反転入力側は分光光度計12′の
出力側に接続されている。マイナスの閾値を有す
る比較器48は演算増幅器64を有し、演算増幅
器64の非反転入力側は分光光度計12′の出力
側に接続されている。また演算増幅器64の反転
入力側はマイナスの基準電圧点とサンプルアンド
ホールド装置16′の出力側とに接続されてい
る。
第3図の回路は前に第1図のブロツク図につき
説明したのと同じように作用し、分光光度計1
2′の出力信号の最大値または最小値に対して、
予想信号と確認信号との組を発生する。勿論それ
ぞれの演算増幅器24,26,42,50,5
2,62および64は通常のように作用する。後
で説明するように常に1つのFETスイツチ32
または36が導通しているので、増幅器24には
実際に平衡入力信号が加わるように作用する。そ
れはその場合増幅器24の反転入力側は帰還接続
によりサンプルアンドホールド装置16′の出力
側の電圧レベル点に接続されているからである。
サンプルアンドホールド装置16′の増幅器26
は、その出力信号を、増幅器26の非反転入力側
にどのようなレベルが加わつてもコンデンサ28
によつて保持するように作用する。それはその場
合増幅器26の反転入力側はその出力側に分岐し
て接続されているからである。更に増幅器26の
入力インピーダンスが高いので、ダイオード30
も34も順方向にバイアスされていない場合実際
にコンデンサ28を放電しないでも増幅器26の
出力側の電圧レベルを利用できる。ピーク予想信
号装置20′の増幅器42は飽和された出力レベ
ルを発生するように作用する。その場合飽和され
た出力レベルは増幅器42の入力信号間の差に相
応する極性を有する。増幅器50と52はその非
反転入力側の信号レベルに応じて極性を有する飽
和された出力信号レベルを発生するように動作す
る。それはその場合増幅器50と52の反転入力
側はアースされているからである。制御論理装置
22′のそれぞれの増幅器62と64は飽和され
た出力信号レベルを発生するように作用する。こ
の出力信号レベルはそれぞれの増幅器62と64
の入力信号間のオフセツトの差に従つて極性を有
し、オフセツト値はそれぞれ増幅器62と64の
入力側の基準電圧によつて決められる。勿論フリ
ツプフロツプ回路44は、クリヤ入力側が低レベ
ルでプリセツト入力側が高レベルである場合、低
レベルのQ−出力信号と高レベルの−出力信号
を発生するように作動される。またフリツプフロ
ツプ回路44は、クリヤ入力側が高レベルでプリ
セツト入力側が低レベルである場合、高レベルQ
−出力信号と低レベルの−出力信号とを発生す
るように作動される。
説明したのと同じように作用し、分光光度計1
2′の出力信号の最大値または最小値に対して、
予想信号と確認信号との組を発生する。勿論それ
ぞれの演算増幅器24,26,42,50,5
2,62および64は通常のように作用する。後
で説明するように常に1つのFETスイツチ32
または36が導通しているので、増幅器24には
実際に平衡入力信号が加わるように作用する。そ
れはその場合増幅器24の反転入力側は帰還接続
によりサンプルアンドホールド装置16′の出力
側の電圧レベル点に接続されているからである。
サンプルアンドホールド装置16′の増幅器26
は、その出力信号を、増幅器26の非反転入力側
にどのようなレベルが加わつてもコンデンサ28
によつて保持するように作用する。それはその場
合増幅器26の反転入力側はその出力側に分岐し
て接続されているからである。更に増幅器26の
入力インピーダンスが高いので、ダイオード30
も34も順方向にバイアスされていない場合実際
にコンデンサ28を放電しないでも増幅器26の
出力側の電圧レベルを利用できる。ピーク予想信
号装置20′の増幅器42は飽和された出力レベ
ルを発生するように作用する。その場合飽和され
た出力レベルは増幅器42の入力信号間の差に相
応する極性を有する。増幅器50と52はその非
反転入力側の信号レベルに応じて極性を有する飽
和された出力信号レベルを発生するように動作す
る。それはその場合増幅器50と52の反転入力
側はアースされているからである。制御論理装置
22′のそれぞれの増幅器62と64は飽和され
た出力信号レベルを発生するように作用する。こ
の出力信号レベルはそれぞれの増幅器62と64
の入力信号間のオフセツトの差に従つて極性を有
し、オフセツト値はそれぞれ増幅器62と64の
入力側の基準電圧によつて決められる。勿論フリ
ツプフロツプ回路44は、クリヤ入力側が低レベ
ルでプリセツト入力側が高レベルである場合、低
レベルのQ−出力信号と高レベルの−出力信号
を発生するように作動される。またフリツプフロ
ツプ回路44は、クリヤ入力側が高レベルでプリ
セツト入力側が低レベルである場合、高レベルQ
−出力信号と低レベルの−出力信号とを発生す
るように作動される。
第1図の装置10についての前述の説明と同じ
ように、第3図の回路においても第2図の出力信
号波形を用いて最小ピークを検出する場合だけに
つき説明する。その場合最大ピークをも検出でき
ることは明らかである。第2図の点Aで示すマイ
ナスロープ極性限界値において、極性切換付装置
18′のFET36は導通し、比較装置14′の出
力側をダイオード34を介してサンプルアンドホ
ールド装置16′の入力側に接続する。このマイ
ナススロープ極性限界値は増幅器64によつて検
出される。増幅器64は、分光光度計12′の出
力信号がサンプルアンドホールド装置16′の電
圧レベル出力信号より小さい場合だけ増幅器64
の反転入力側のマイナスの基準電圧より大きな差
信号によつてマイナスの出力信号を発生する。勿
論この増幅器64のマイナスの出力信号によつて
ダイオード56は導通し、フリツプフロツプ回路
44のクリヤ入力側に低いレベルの信号を加え
る。一方フリツプフロツプ回路44のプリセツト
入力側はプラスの基準電圧で逆バイアスされたダ
イオード58によつて高いレベルに保持される。
その故フリツプフロツプ回路44の出力側に高
いレベルの電圧が生じ、増幅器52の出力側がプ
ラスになることによつてFET36は導通する。
その後は第2図の点C,DおよびEで示すノイズ
スパイクを除いてFET36とダイオード34と
は第2図の点Bで示す最小ピークに達するまで導
通したままである。即ちサンプルアンドホールド
装置16′の出力側の電圧レベルは実際に最小の
ピークまで減小する出力信号に追従する。FET
36は最小のピーク位置を越えても引続いて導通
するが、ダイオード34はそれぞれのノイズスパ
イク位置と最小のピーク位置とで逆バイアスされ
るので、サンプルアンドホールド装置16′はそ
れぞれ逆バイアスされた状態に先行する出力信号
の極小値を記憶するように作動される。
ように、第3図の回路においても第2図の出力信
号波形を用いて最小ピークを検出する場合だけに
つき説明する。その場合最大ピークをも検出でき
ることは明らかである。第2図の点Aで示すマイ
ナスロープ極性限界値において、極性切換付装置
18′のFET36は導通し、比較装置14′の出
力側をダイオード34を介してサンプルアンドホ
ールド装置16′の入力側に接続する。このマイ
ナススロープ極性限界値は増幅器64によつて検
出される。増幅器64は、分光光度計12′の出
力信号がサンプルアンドホールド装置16′の電
圧レベル出力信号より小さい場合だけ増幅器64
の反転入力側のマイナスの基準電圧より大きな差
信号によつてマイナスの出力信号を発生する。勿
論この増幅器64のマイナスの出力信号によつて
ダイオード56は導通し、フリツプフロツプ回路
44のクリヤ入力側に低いレベルの信号を加え
る。一方フリツプフロツプ回路44のプリセツト
入力側はプラスの基準電圧で逆バイアスされたダ
イオード58によつて高いレベルに保持される。
その故フリツプフロツプ回路44の出力側に高
いレベルの電圧が生じ、増幅器52の出力側がプ
ラスになることによつてFET36は導通する。
その後は第2図の点C,DおよびEで示すノイズ
スパイクを除いてFET36とダイオード34と
は第2図の点Bで示す最小ピークに達するまで導
通したままである。即ちサンプルアンドホールド
装置16′の出力側の電圧レベルは実際に最小の
ピークまで減小する出力信号に追従する。FET
36は最小のピーク位置を越えても引続いて導通
するが、ダイオード34はそれぞれのノイズスパ
イク位置と最小のピーク位置とで逆バイアスされ
るので、サンプルアンドホールド装置16′はそ
れぞれ逆バイアスされた状態に先行する出力信号
の極小値を記憶するように作動される。
分光光度計12′の出力信号が、最小レベルに
先行するマイナススロープの期間に増幅器26の
出力信号より負の場合には常に、増幅器42の入
力信号間の差信号によつてピーク予想信号20′
に信号が生ずる。そこで最小ピークを通過後電気
出力信号は第2図の点Fで示すプラススロープ極
性限界値に達する。点Fで極性付装置18′の
FET35は導通し、サンプルアンドホールド装
置16′の入力側を比較装置14′の出力側に接続
する。またFET36は非導通状態になる。この
プラススロープ極性限界値は増幅器62によつて
検出される。増幅器62は分光光度計12′の出
力信号がサンプルアンドホールド装置16′の電
圧レベル出力信号より大きい場合だけ、増幅器6
2の非反転入力側のプラスの基準電圧より大きな
差信号によつてマイナスの出力信号を発生する。
勿論この増幅器62のマイナスの出力信号によつ
てダイオード54は導通し、フリツプフロツプ回
路44のプリセツト入力側に低いレベルの電圧を
供給する。またフリツプフロツプ回路44のクリ
ヤ入力側は、ダイオード60がプラスの基準電圧
によつて逆方向にバイアスされているので、高い
レベルの電圧値に保持される。それ故ピーク確認
信号を形成する低いレベルの電圧がフリツプフロ
ツプ回路44の−出力側に生じ、増幅器52の
出力側にマイナスの出力信号を発生す。それによ
つて第2図の点Gで示す次のマイナススロープ極
性限界値に達するまでFET36は非導通状態で
ある。勿論最大のピークは常に後続のマイナスス
ロープ極性限界値以前に生じ、また第3図の回路
を、斯様な最大のピークの検出のために前述のよ
うな方法で作動できることは明らかである。ダイ
オード38と40、増幅器50と52、アノード
にプラスの基準電圧が加わるダイオード54と5
6およびダイオード58と60は単なる増幅とか
オンオフ用もので当業者にとつて白明の作用をす
るだけである。
先行するマイナススロープの期間に増幅器26の
出力信号より負の場合には常に、増幅器42の入
力信号間の差信号によつてピーク予想信号20′
に信号が生ずる。そこで最小ピークを通過後電気
出力信号は第2図の点Fで示すプラススロープ極
性限界値に達する。点Fで極性付装置18′の
FET35は導通し、サンプルアンドホールド装
置16′の入力側を比較装置14′の出力側に接続
する。またFET36は非導通状態になる。この
プラススロープ極性限界値は増幅器62によつて
検出される。増幅器62は分光光度計12′の出
力信号がサンプルアンドホールド装置16′の電
圧レベル出力信号より大きい場合だけ、増幅器6
2の非反転入力側のプラスの基準電圧より大きな
差信号によつてマイナスの出力信号を発生する。
勿論この増幅器62のマイナスの出力信号によつ
てダイオード54は導通し、フリツプフロツプ回
路44のプリセツト入力側に低いレベルの電圧を
供給する。またフリツプフロツプ回路44のクリ
ヤ入力側は、ダイオード60がプラスの基準電圧
によつて逆方向にバイアスされているので、高い
レベルの電圧値に保持される。それ故ピーク確認
信号を形成する低いレベルの電圧がフリツプフロ
ツプ回路44の−出力側に生じ、増幅器52の
出力側にマイナスの出力信号を発生す。それによ
つて第2図の点Gで示す次のマイナススロープ極
性限界値に達するまでFET36は非導通状態で
ある。勿論最大のピークは常に後続のマイナスス
ロープ極性限界値以前に生じ、また第3図の回路
を、斯様な最大のピークの検出のために前述のよ
うな方法で作動できることは明らかである。ダイ
オード38と40、増幅器50と52、アノード
にプラスの基準電圧が加わるダイオード54と5
6およびダイオード58と60は単なる増幅とか
オンオフ用もので当業者にとつて白明の作用をす
るだけである。
第3図の回路は、簡単にそれぞれ最有効の最大
ピークまたは最小ピークを検出するようにするた
めに、FETスイツチ32または36を導通する
かまたはFETスイツチ36または32を非導通
することができるが、その場合ピーク予想信号お
よびピーク確認信号を作用しないようにするかま
たは無視することができる。それ故比較装置1
4′の出力信号をサンプルアンドホールド装置1
6′の入力側に供給する際、最有効の電気出力の
最大ピークが所望される場合ダイオード30を介
して、また最有効の最小ピークが所望される場合
はダイオード34を介して供給するようにする。
また第3図の回路を、マイクロコンピユータ66
によつて監視される光線周波数スペクトルと情報
を記録するプリンタ68とを有する分光光度計1
2′に利用できる。斯様な装置において、ピーク
予想信号およびピーク確認信号は、サンプルアン
ドホールド装置16′の電圧レベル出力信号と共
にアナログ/デイジタル変換器70を介してコン
ピユータに供給される。マイクロコンピユータ6
6は、ピーク予想信号を受取ることによつて光線
の周波数とサンプルアンドホールド装置16の電
圧レベル出力信号との両方を記憶しかつピーク確
認信号の受信によつて最新のピーク予想信号に関
連する光線の周波数と上述の電圧レベル出力信号
とをプリンタに転送するようにプログラムされて
いる。
ピークまたは最小ピークを検出するようにするた
めに、FETスイツチ32または36を導通する
かまたはFETスイツチ36または32を非導通
することができるが、その場合ピーク予想信号お
よびピーク確認信号を作用しないようにするかま
たは無視することができる。それ故比較装置1
4′の出力信号をサンプルアンドホールド装置1
6′の入力側に供給する際、最有効の電気出力の
最大ピークが所望される場合ダイオード30を介
して、また最有効の最小ピークが所望される場合
はダイオード34を介して供給するようにする。
また第3図の回路を、マイクロコンピユータ66
によつて監視される光線周波数スペクトルと情報
を記録するプリンタ68とを有する分光光度計1
2′に利用できる。斯様な装置において、ピーク
予想信号およびピーク確認信号は、サンプルアン
ドホールド装置16′の電圧レベル出力信号と共
にアナログ/デイジタル変換器70を介してコン
ピユータに供給される。マイクロコンピユータ6
6は、ピーク予想信号を受取ることによつて光線
の周波数とサンプルアンドホールド装置16の電
圧レベル出力信号との両方を記憶しかつピーク確
認信号の受信によつて最新のピーク予想信号に関
連する光線の周波数と上述の電圧レベル出力信号
とをプリンタに転送するようにプログラムされて
いる。
本発明は図示の実施例に限定されず本発明の精
神を逸脱することなく種々変形することができ
る。
神を逸脱することなく種々変形することができ
る。
第1図は本発明によるピーク検出装置を示すブ
ロツク図、第2図は第1図の装置でノイズを有す
る電気出力信号波形の最小のピークに対してピー
ク予想信号およびピーク確認信号の両方を取出す
場合の時間関係を示す線図、第3図は本発明によ
るピーク検出装置の1つの実施例を示す回路略図
である。 10,10′……ピーク検出装置、12……電
気信号源、12′……分光光度計、14,14′…
…比較装置、16,16′……サンプルアンドホ
ールド装置、18,18′……極性付装置、2
0,20′……ピーク予想信号装置、22,2
2′……制御論理装置。
ロツク図、第2図は第1図の装置でノイズを有す
る電気出力信号波形の最小のピークに対してピー
ク予想信号およびピーク確認信号の両方を取出す
場合の時間関係を示す線図、第3図は本発明によ
るピーク検出装置の1つの実施例を示す回路略図
である。 10,10′……ピーク検出装置、12……電
気信号源、12′……分光光度計、14,14′…
…比較装置、16,16′……サンプルアンドホ
ールド装置、18,18′……極性付装置、2
0,20′……ピーク予想信号装置、22,2
2′……制御論理装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 電気出力信号のピーク検出装置において、電
圧がピーク振幅特性点の方向へ変化してゆくこと
を示すためのピーク予想信号と、該変化電圧が前
記ピーク振幅特性点を通過したことを示すための
ピーク確認信号とを発生するように装置構成され
ており、該ピーク検出装置は電圧ホールド装置を
備え、さらに前記の変化電圧を電圧ホールド装置
の出力と比較して両者の間の差を検出する比較装
置を備え、さらに電圧ホールド装置の出力と比較
装置の出力との間の差に応動してピーク予想信号
を発生する装置を備え、さらに極性付装置を備え
該極性付装置は比較装置の出力を電圧ホールド装
置の入力側へ供給して電圧ホールド装置の出力
が、ピーク振幅の方向へ変化してゆく電圧の変化
に応答して変化可能であるようにし、さらに制御
論理装置を備え、前記変化電圧の勾配の正、負の
符号が反転してから変化電圧の振幅がピーク振幅
特性点から所定量だけ変化する点における勾配閾
値に達すると、前記制御論理装置が応動して前記
の極性付装置を制御するようにし、該勾配閾値に
おいて制御論理装置がピーク確認信号を発生する
ようにしたことを特徴とする電気出力信号のピー
ク検出装置。 2 電圧ホールド装置は演算増幅器を有し、前記
演算増幅器の出力側をその反転入力側に分岐して
接続し、かつ前記演算増幅器の非反転入力側をコ
ンデンサを介してアースした特許請求の範囲第1
項に記載の装置。 3 比較装置は演算増幅器を有し、前記演算増幅
器の非反転入力側に変化する電圧が加えられるよ
うにし、かつ前記演算増幅器の反転入力側を電圧
ホールド装置の出力側に接続した特許請求の範囲
第1項に記載の装置。 4 極性付装置は第1と第2のダイオードを有
し、前記第1と第2のダイオードをそれぞれ別個
に比較装置の出力側と電圧ホールド装置の入力側
との間で第1と第2のFETスイツチに直列に接
続し、前記第1のダイオードのカソードと前記第
2のダイオードのアノードとを前記電圧ホールド
装置の入力側に接続し、前記第1のFETスイツ
チのゲートを制御論理装置の正の勾配閾値により
制御し、前記第2のFETスイツチのゲートを前
記制御論理装置の負の勾配閾値により制御した特
許請求の範囲第1項に記載の装置。 5 ピーク予想信号装置は演算増幅器を有し、前
記演算増幅器の非反転入力側を比較装置の出力側
に接続しかつ前記演算増幅器の反転入力側を電圧
ホールド装置の出力側に接続した特許請求の範囲
第1項に記載の装置。 6 制御論理装置は第1と第2の演算増幅器と双
安定フリツプフロツプ回路とを有し、前記双安定
フリツプフロツプ回路はプリセツト入力側および
クリア入力側と相補出力側とを有し、前記第1の
演算増幅器の非反転入力側を正の基準電圧と電圧
ホールド装置の出力側とに接続し、前記第1の演
算増幅器の反転入力側に変化する電圧が加えられ
るようにし、前記第2の演算増幅器の非反転入力
側に変化する電圧が加えられるようにし、かつ前
記第2の演算増幅器の反転入力側を負の基準電圧
と電圧ホールド装置の出力側とに接続し、前記プ
リセツト入力側を前記第1の演算増幅器の出力側
に接続しかつ前記クリヤ入力側を前記第2の演算
増幅器の出力側に接続し、前記相補出力側を前記
極性付装置に接続した特許請求の範囲第1項に記
載の装置。 7 極性付装置を制御する制御装置を有し、該制
御装置が、最有効の最大ピークを検出したい場合
は正の入力だけが電圧ホールド装置に接続される
よう制御し、かつ最有効の最小のピークを所望す
る場合は負の入力だけが前記電圧ホールド装置に
接続されるよう制御し、変化する電気出力に対す
る最有効ピークを取出すようにした特許請求の範
囲第1項に記載の装置。 8 電気出力を発生する分析装置用のピーク検出
装置において該ピーク検出装置は、電圧ホールド
装置、第1の比較装置、第2の比較装置、正の閾
値を有する比較装置、負の閾値を有する比較装
置、双安定フリツプフロツプ回路、第1のダイオ
ードおよび第2のダイオードを備え、前記電圧ホ
ールド装置は第1の演算増幅器を有し、前記第1
の演算増幅器の出力側をその反転入力側に分岐し
て接続し、かつ前記第1の演算増幅器の非反転入
力側を、コンデンサを介してアースに接続し、前
記第1の比較装置は第2の演算増幅器を有し、前
記第2の演算増幅器の非反転入力側を電気出力側
に接続し、前記第2の演算増幅器の反転入力側を
前記電圧ホールド装置の出力側に接続し、前記第
2の比較装置は第3の演算増幅器を有し、前記第
3の演算増幅器の非反転入力側を前記第1の比較
装置の出力側に接続し、前記第3の演算増幅器の
反転入力側を前記電圧ホールド装置の出力側に接
続し、前記正の閾値を有する比較装置は第4の演
算増幅器を有し、前記第4の演算増幅器の非反転
入力側を正の基準電圧と前記電圧ホールド装置の
出力側とに接続し、前記第4の演算増幅器の反転
入力側を電気出力側に接続し、前記負の閾値を有
する比較装置は第5の演算増幅器を有し、前記第
5の演算増幅器の非反転入力側を電気出力側に接
続し、前記第5の演算増幅器の反転入力側を負の
基準電圧と前記電圧ホールド装置の出力側とに接
続し、前記双安定フリツプフロツプ回路はプリセ
ツト入力側およびクリヤ入力側と相補出力側とを
有し、前記プリセツト入力側を前記正の閾値を有
する比較装置の出力側に接続しかつ前記クリヤ入
力側を前記負の閾値を有する比較装置の出力側に
接続し、前記第1のダイオードを前記第1の比較
装置の出力側と前記電圧ホールド装置の入力側と
の間で第1のFETスイツチに直列に接続し、そ
の場合前記第1のダイオードのカソードを前記電
圧ホールド装置の入力側に接続しかつ前記第1の
FETスイツチのゲートを前記フリツプフロツプ
回路の出力側に接続し、前記第2のダイオードを
前記第1の比較装置の出力側と前記電圧ホールド
装置の入力側との間で第2のFETスイツチに直
列に接続し、この場合前記第2のダイオードのア
ノードを前記電圧ホールド装置の入力側に接続
し、前記第2のFETスイツチのゲートを前記フ
リツプフロツプ回路の相補出力側に接続し、その
場合第1比較装置の出力と前記電圧ホールド装置
の出力との間に差がある場合前記第2の比較装置
の出力側に、該電気出力がピーク振幅特性点の方
向へ変化しつつあることを示すためのピーク予想
信号を発生するようにし、また前記閾値を有する
比較装置の正のレベルまたは負のレベルに達する
と前記フリツプフロツプ回路の相補出力側に、電
気出力がピーク振幅特性点を通過したことを示す
ためのピーク確認信号を発生するようにしたこと
を特徴とする電気出力信号のピーク検出装置。 9 電気出力を発生する分析装置用のピーク検出
装置をマイクロコンピユータを有する分光光度計
として構成し、前記マイクロコンピユータを介し
て光線の周波数スペクトルを監視するようにし、
また前記マイクロコンピユータの情報を記録する
プリンタを有し、その場合前記ピーク予想信号お
よびピーク確認信号を、アナログ/デイジタル変
換器を介して供給される前記電圧ホールド装置の
出力信号と共にマイクロコンピユータに供給し、
前記それぞれのピーク予想信号によつて前記コン
ピユータに前記電圧ホールド装置の出力信号と光
線の周波数とを記憶するようにし、またコンピユ
ータは前記それぞれのピーク確認信号によつて電
圧ホールド装置の最新の出力と光線の周波数情報
とを前記プリンタに転送するようにした特許請求
の範囲第8項に記載の装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US05/700,915 US4086651A (en) | 1976-06-29 | 1976-06-29 | Electrical output peak detecting apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS533380A JPS533380A (en) | 1978-01-13 |
| JPS6151265B2 true JPS6151265B2 (ja) | 1986-11-07 |
Family
ID=24815353
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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