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JPS6156524B2 - - Google Patents
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JPS6156524B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6156524B2
JPS6156524B2 JP53050934A JP5093478A JPS6156524B2 JP S6156524 B2 JPS6156524 B2 JP S6156524B2 JP 53050934 A JP53050934 A JP 53050934A JP 5093478 A JP5093478 A JP 5093478A JP S6156524 B2 JPS6156524 B2 JP S6156524B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
timer
time
clock
routine
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP53050934A
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English (en)
Other versions
JPS54142476A (en
Inventor
Hiroshi Ootsuka
Yoshuki Pponda
Osamu Takahashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS54142476A publication Critical patent/JPS54142476A/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明はストアド・プログラム方式による空
調制御装置等のタイマーおよび、又は時計進行タ
イミングを変更して、装置試験工程における動作
チエツクを簡単化することを目的とするものであ
る。
従来、ストアド・プログラム方式の制御装置を
チエツクする場合、等にその内部にタイマー機
能、時刻タイマー機能が付加されている場合、そ
のタイマーの終了、時刻の一致等を得て他の動作
を行なうものが多い。この結果タイマーが長時間
で有つたり、時計と設定時刻の一致を取り、その
動作等を観るには、その実時間だけの時間が装置
の判定および調整に必要となり、装置試験に非常
な時間を費やしてしまうという欠点があつた。
この発明は上記、欠点を除去するためになされ
たもので、中央処理装置(CPU)の外部にテス
トスイツチを設け、このテストスイツチ入力を読
込み、CPU内部では、通常のルーチンとテスト
ルーチンを設け、テスト入力有時にはテストルー
チンを通して各種タイマー時間の変更、および、
又は時計進行速度の変更を行ない制御装置の試験
時間の短縮化を目的としたものである。
以下、この発明の一実施例を図をもとに説明す
る。
第1図において、1はストアド・プログラム方
式の1チツプCPUで、内、外部の入出力I/O
端子として、図では入力端子I1〜I4、出力端子O1
〜O6および入力スキヤン出力端子S1〜S3を有し
ている。2は上記CPU1の出力端子O1〜O4から
のデイジタル情報をアナログ電圧Vsに変換する
D/A変換器、THは温度検知用のサーミスタ、
VRは可変抵抗器で、このサーミスタTH、可変抵
抗器VRを直列に接続して電源+B、アース間に
挿入し温度変化を電圧変化VTに変換している。
3はD/A変換器2の出力VsとサーミスタTHに
よる電圧変化VTを比較するコンパレータ、4は
オン/オフ動作するテストスイツチで、コモンと
+Bが接続された場合にテスト状態に、またコモ
ンとアースが接続された場合に通常状態を示して
いる。5は時計を構成する場合の50Hz/60Hz切換
えスイツチで、図示する接続において、50Hz状態
を示す。6は商用電源50Hz/60Hzをもとにする時
計のクロツクとなるACパルスである。7はアナ
ログ・スイツチで、CPU1のスキヤン出力端子
S3の信号により上記符号4,5,6で示した信号
をオン/オフする。K1〜K8は時計セツト等の機
能キーであり、8は機能キーおよびアナログスイ
ツチ7の出力で構成したキーマトリクスで、これ
らキーおよびスイツチ情報はCPU1のスキヤン
出力端子S1〜S3の信号によりCPU入力端子I1〜I4
を介して取込まれる。
9はルーム・エアコンの要部を示し、10はコ
ンプレツサー、11は室内フアンである。
次に本発明の動作について、図をもとに詳しく
説明する。
まずこのストアド・プログラム方式によるルー
ム・エアコンの制御装置について説明すると、こ
の制御装置は温度サーモ、時計、タイマー入、タ
イマー切の機能を有しており、このため、先に述
べた機能キーK1〜K8の操作により、温度の設
定、時計の設定、タイマー入、タイマー切時刻の
設定を行なう必要がある。この設定方法は、例え
ば温度の場合、温度キーK4をオンし、これによ
り今までの設定温度が表示部(図示せず)に表示
され、これを観ながら希望の値になるようにUP
キーK6、DOWNキーK7を操作する。その後、セ
ツトキーK8のオンにより温度が設定されるもの
である。
以下、同様に時計キーK5、タイマー入キー
K2、タイマー切キーK3を操作することにより各
時刻も設定出来るものである。
以上のような設定が終了して運/停キーK1
オンによりエアコン9は運転を開始する。但し室
内の検出温度が先の設定温度以下で有ると当然な
がらCPU1の出力端子O6はオフ信号を発生しコ
ンプレツサー10を停止させることになる。
一方上述した温度測定は、通常のルーチンでは
第3図のごときソフトウエアタイマーの設定ルー
チンで構成されており、例えば10秒ごとのタイミ
ングで行なわれるものである。
この10秒ごとのタイミングで第1図に示す
CPU1の出力端子より発生される第2進デジタ
ル情報をD/A変換器2にてアナログ電圧VSに
変換してサーミスタTH側よりの電圧VTと比較
する。この比較出力はスキヤン出力信号S2でオ
ン/オフされるアナログスイツチ7に入力し、ス
キヤンのタイミングでCPU1に取込まれる。
上記比較出力の“H”になるタイミングは、
D/A変換器2の出力VSがVTに比べて大になつ
た時点で生じ、CPU1に取込まれた入力が
“L”で有るとCPU1の出力端子は以前の値に+
1した2進ビツト構成にて信号出力する。この信
号はD/A変換器2でアナログ電圧に変換され、
再度コンパレータ3にてVTと電圧比較が行なわ
れ、比較出力が“L”で有ると上記と同様の動作
がくり返され、“H”になるまで行なわれる。
“H”になるとCPU1は上記+1動作を停止し、
2進情報を10進の温度に変換して、先に設定した
設定温度と比較するものである。
この比較結果をもとにコンプレツサー10の運
転/停止、すなわちサーモ運転を行なうものであ
る。
コンプレツサー10が上記サーモ運転動作によ
り停止されると、この停止動作と同時にコンプレ
ツサー保護のための再起動防止タイマが第2図の
設定ルーチンにより3分設定され、タイマー動作
が開始される。このタイマー動作中は、温度がい
かなる状態でもコンプレツサー10は停止される
ことになる。
ここで、本発明の一実施例に用いられる時計に
ついて検討するに、その時計は第1図のACパル
ス6を取込み、それを基本クロツクとしたもので
ある。このため50Hzと60Hzではカウント値の差が
生じ、このような差が生じないように第1図に示
した50Hz/60Hz切換えスイツチ5によりHz指定を
行ない、カウント値の補正を行なつている。次に
タイマー運転動作について検討するに、タイマー
入時刻、切時刻は利用者により予めCPU1内部
のメモリーにストアされているので、時計とタイ
マー時刻は例えば1分UP時をタイミングとして
一致判定が行なわれ、時計と入時刻が一致すれば
ルームエアコン9は運転を開始する。また、その
後時計と切時刻が一致すればルームエアコン9は
運転を停止する。
上述したものがストアドプログラム方式を採用
したルームエアコンの制御動作の主要だが、次に
これら制御装置の試験時の動作チエツクおよび調
整法について説明する。上記した温度測定のタイ
ミング(周期)は、室内温度変化はなだらかに変
化することから10秒ごとに行なわれるため、第1
図の可変抵抗器VRを可変してのサーミスタTHの
バラツキ補正の温度調整(試験)は10秒後でなけ
れば測定値が発生されないため、時間がかかりま
た、正確な調整がしがたい。また、サーモ運転に
よりコンプレツサー10がオンからオフになると
再起動防止タイマーが動作し3分間は強制オフ固
定されるためサーモ運動におけるチエツク(試
験)も3分ごとになりチエツクに時間を費やして
しまう。
さらにまたタイマー入、切動作のチエツクは時
計の時刻との一致を取るため、通常ではタイマー
入、切の時刻セツトのその実時間だけの時間を費
やすことになる。
本発明の一実施例では、第1図のテストスイツ
チ4を設けて、上記試験時の動作チエツクを簡単
化している。即ち、テストスイツチ4を電源+B
側にオンすることにより、CPU1はスキヤン信
号S3によりテスト状態であることを取込む。
このテスト状態信号は、CPU1の内部ルーチ
ンにおいて、第2図や第3図に示されているタイ
マー設定のさいの定数セツトの変更判定部(菱形
で示された処理フロー要素部)および第4図に示
されている時計進行きざみの変更判定部にルーチ
ン分岐用フラグとして用いられるものであり、こ
れらの図中で、「テスト」と示されている変更判
定部において、フラグがある時はテスト動作であ
ることから「Y」に分岐し、また、フラグがない
時は通常動作であることから「N」に分岐するよ
うにされる。
ここで、本発明の実施例による試験の態様につ
いて説明する。温度測定のためのストアド・プロ
グラムが正常に動作するか否かの試験を行なう場
合、そのための温度測定タイミング信号の作成は
次のようにしてなされる。即ち、第3図のフロー
チヤート図において、前記フラグがある時には、
「テスト」と示されている変更判定部で「Y」へ
の分岐がなされ、通常動作時の10秒設定に代えて
テスト動作時の1秒設定がセツトされる。
これにより1秒ごとに温度測定を行なうための
タイミング信号が作成され、実際の正しい温度と
サーミスタTHで測定された温度とが一致するよ
う可変抵抗器VRを調整し、さらに正しく動作す
るか否かのチエツク等の試験が簡単に行なえるも
のである。
また、サーモ運転が正しく動作するか否かのチ
エツク試験は次のようにして行なわれる。いま、
第2図のフローチヤート図においてフラグがある
時には、「テスト」と示されている変更判定部で
「Y」への分岐がなされ、通常動作時の3分設定
に代えてテスト動作時の10秒設定がセツトされ
る。このため、前記サーモ運転の再起動防止期間
は10秒間に固定され、この結果、サーモ運転が正
しく動作するか否かのチエツク試験が10秒ごとに
行なわれることになる。
さらに、タイマー入運転およびタイマー切運転
が正しく動作するか否かのチエツク試験は次のよ
うにして行なわれる。いま、第4図のフローチヤ
ート図においてフラグがある時には、「テスト」
と示されている変更判定部で「Y」への分岐がな
され、実時間の1分UPと等価の動作が1秒UPで
行なわれることとなり、このために例えば1時間
UPの動作は60秒ですみ、またタイマー入切時刻
との一致動作は通常動作のさいの1/60の時間で行
なわれ、タイマー動作のチエツク試験に要する時
間が大幅に短縮される。
以上のように本発明によれば、ストアド・プロ
グラム方式によるタイマー制御装置において、通
常動作ルーチンおよびテスト動作ルーチンを選択
的に実行することのできる中央処理装置とこの中
央処理装置に対する所定の外部入力を与えるため
のテストスイツチとが設けられており、前記外部
入力としてテスト動作を指示する入力が前記テス
トスイツチから前記中央処理装置に取込まれたと
きに前記テスト動作ルーチンが選択され、前記テ
スト動作ルーチンによつてソフトウエアの通常動
作ルーチンにおけるタイマーの設定時間や時間の
進行のきざみの変更を行なうようにしたので、制
御装置の試験・調整の簡単化・迅速化を計ること
が出来るし、さらに、本発明によれば、テスト動
作時の動作を速めるために複数種類のクロツク信
号を用意する必要はなく、また、タイマーの時間
間隔の設定等は、所要のテスト動作ルーチンを作
成するさいとに、所望に応じて任意に設定するこ
とができる等の効果を奏することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明一実施例の構成を示す主要ブロ
ツク図、第2図は温度測定タイマーの設定ルーチ
ン・フローチヤート図、第3図は再起動防止タイ
マーの設定ルーチン・フローチヤート図、第4図
は時計UPのフローチヤート図である。 1はCPU、2はD/A変換器、3はコンパレ
ータ、4はテストスイツチ、7はアナログスイツ
チ、8はキーマトリツクス、9はルームエアコ
ン、10はコンプレツサーを示している。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 ストアド・プログラム方式によるタイマー制
    御装置において、通常動作ルーチンおよびテスト
    動作ルーチンを選択的に実行することのできる中
    央処理装置とこの中央処理装置に対する所定の外
    部入力を与えるためのテストスイツチとが設けら
    れており、前記外部入力としてテスト動作を指示
    する入力が前記テストスイツチから前記中央処理
    装置に取込まれたときに前記テスト動作ルーチン
    が選択され、前記テスト動作ルーチンによつて、
    ソフトウエアの通常動作ルーチンにおけるタイマ
    ーの設定時間や時間の進行のきざみの変更を行な
    うことを特徴とするタイマー制御装置。
JP5093478A 1978-04-28 1978-04-28 Timer controller Granted JPS54142476A (en)

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JP5093478A JPS54142476A (en) 1978-04-28 1978-04-28 Timer controller

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JP5093478A JPS54142476A (en) 1978-04-28 1978-04-28 Timer controller

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JPS54142476A JPS54142476A (en) 1979-11-06
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