JPS6156539B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6156539B2 JPS6156539B2 JP55026320A JP2632080A JPS6156539B2 JP S6156539 B2 JPS6156539 B2 JP S6156539B2 JP 55026320 A JP55026320 A JP 55026320A JP 2632080 A JP2632080 A JP 2632080A JP S6156539 B2 JPS6156539 B2 JP S6156539B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- signal processing
- test signal
- test
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は自己障害探索機能を有するデジタル信
号処理装置に関する。
号処理装置に関する。
近年の大規模集積回路技術の発達とデジタル処
理技術の進歩とにより従来不可能とされていた高
度な信号処理を実現するデジタル信号処理装置が
実用化されるようになつている。しかし、このよ
うな高度の信号処理のためデジタル信号処理装置
においては、一般に、複雑な信号処理機能を複数
個含み、信号を相互にやりとりしながら複雑な制
御を実行しているため、この種の装置に障害が発
生すると、装置が複雑であればあるほど装置に精
通した技術者でないと、その障害が発生している
場所を発見できず、装置の保守運用が非常に困難
なものとなつている。
理技術の進歩とにより従来不可能とされていた高
度な信号処理を実現するデジタル信号処理装置が
実用化されるようになつている。しかし、このよ
うな高度の信号処理のためデジタル信号処理装置
においては、一般に、複雑な信号処理機能を複数
個含み、信号を相互にやりとりしながら複雑な制
御を実行しているため、この種の装置に障害が発
生すると、装置が複雑であればあるほど装置に精
通した技術者でないと、その障害が発生している
場所を発見できず、装置の保守運用が非常に困難
なものとなつている。
本発明の目的は、上述の欠点を除去したデジタ
ル信号処理装置を提供することにある。
ル信号処理装置を提供することにある。
本発明の処理装置は、デジタル信号処理装置に
含まれるそれぞれの信号処理ブロツクに信号処理
ブロツクの障害探索用試験信号を供給する試験信
号発生回路と、前記信号処理ブロツクの処理結果
を検証する試験信号検証回路とを備え、前記信号
発生回路と前記検証回路とを用いて、各信号処理
ブロツクの異常の有無を検証することを可能とし
ている。
含まれるそれぞれの信号処理ブロツクに信号処理
ブロツクの障害探索用試験信号を供給する試験信
号発生回路と、前記信号処理ブロツクの処理結果
を検証する試験信号検証回路とを備え、前記信号
発生回路と前記検証回路とを用いて、各信号処理
ブロツクの異常の有無を検証することを可能とし
ている。
本発明によれば、デジタル信号処理装置の各信
号処理ブロツクごとに異常の有無の検証が行なえ
るため、複雑なデジタル信号処理装置においても
障害発生場所を容易に発見でき、装置の保守運用
が容易となる。
号処理ブロツクごとに異常の有無の検証が行なえ
るため、複雑なデジタル信号処理装置においても
障害発生場所を容易に発見でき、装置の保守運用
が容易となる。
次に本発明を図面を参照して詳細に説明する。
以下においては、デジタル信号処理装置として
テレビ信号を高能率符号化するフレーム間符号化
復号化装置を例示して本発明を詳細に説明する。
公知のフレーム間符号化復号化装置は、アナログ
カラーテレビ信号をPCM信号に変換するアナロ
グ・デジタル変換部（Ａ／Ｄ）１と、デジタル化
されたカラーテレビ信号を輝度信号と色信号とに
分離し時分割多重化カラーテレビ信号に変換する
送信カラー信号処理部２と、時分割多重化カラー
テレビ信号をフレーム間符号化するフレーム間符
号化処理部３と、フレーム間符号化処理部３で処
理されたフレーム間予測誤差信号を可変長符号化
する可変長符号化処理部４から構成される送信部
とＤ／Ａ変換部５と、受信カラー信号処理部６
と、フレーム間復号化処理部７と、可変長復号化
処理部８を有する受信部とから構成されている。
なお、フレーム間符号化復号化装置の詳細につい
ては、1979年７月29日社団法人電子通信学会主催
の通信方式研究会において、同日発行された
CS79―73「テレビ会議用フレーム間符号化装置
NETEC―6/3」に記載されているので詳細は省
く。
テレビ信号を高能率符号化するフレーム間符号化
復号化装置を例示して本発明を詳細に説明する。
公知のフレーム間符号化復号化装置は、アナログ
カラーテレビ信号をPCM信号に変換するアナロ
グ・デジタル変換部（Ａ／Ｄ）１と、デジタル化
されたカラーテレビ信号を輝度信号と色信号とに
分離し時分割多重化カラーテレビ信号に変換する
送信カラー信号処理部２と、時分割多重化カラー
テレビ信号をフレーム間符号化するフレーム間符
号化処理部３と、フレーム間符号化処理部３で処
理されたフレーム間予測誤差信号を可変長符号化
する可変長符号化処理部４から構成される送信部
とＤ／Ａ変換部５と、受信カラー信号処理部６
と、フレーム間復号化処理部７と、可変長復号化
処理部８を有する受信部とから構成されている。
なお、フレーム間符号化復号化装置の詳細につい
ては、1979年７月29日社団法人電子通信学会主催
の通信方式研究会において、同日発行された
CS79―73「テレビ会議用フレーム間符号化装置
NETEC―6/3」に記載されているので詳細は省
く。
前述のフレーム間符号化復号化装置の如く複雑
な信号処理を行う装置の障害探索方式としては、
各信号処理ブロツクごとにその信号処理ブロツク
の異常の有無を検証するのに最も適している試験
信号を与え、そのときの信号処理結果を検証する
方式が知られている。
な信号処理を行う装置の障害探索方式としては、
各信号処理ブロツクごとにその信号処理ブロツク
の異常の有無を検証するのに最も適している試験
信号を与え、そのときの信号処理結果を検証する
方式が知られている。
このような障害探索方式の実現手段として、第
２図に示す構成が考えられる。第２図において、
参照数字９は試験信号発生回路、参照数字１０は
試験信号検証回路、参照数字１１〜２４はスイツ
チ回路である。第２図に示す構成により障害探索
は、試験信号発生回路９から供給されデジタル試
験信号をスイツチ回路１１〜１３及び１８〜２１
のスイツチ操作によりどの信号処理ブロツクに供
給するかを選択し、どの信号処理ブロツクの出力
信号を試験信号検証回路１０に供給するかをスイ
ツチ回路１４〜１７および２２〜２４のスイツチ
操作により選択し、試験信号検証回路１０で検証
しようとする信号処理ブロツクの信号処理結果を
検証することにより、その信号処理ブロツクの障
害の有無を判定することにより行なえる。例え
ば、送信カラー信号処理部２に障害があるか否か
を判定する場合には、送信カラー信号処理部２の
入力端子側にあるスイツチ回路１１を試験信号発
生回路９の出力が選択されるようにスイツチ操作
し、送信カラー信号処理部２の出力を試験信号検
証回路１０に供給するためにスイツチ回路１５を
送信カラー信号処理部２の出力が選択されるよう
にスイツチ操作し、残りのスイツチ回路１６，１
７，２２，２３および２４をそれぞれスイツチ回
路１５，１６，１７，２２および２３の出力が選
択されるようにスイツチ操作する。
２図に示す構成が考えられる。第２図において、
参照数字９は試験信号発生回路、参照数字１０は
試験信号検証回路、参照数字１１〜２４はスイツ
チ回路である。第２図に示す構成により障害探索
は、試験信号発生回路９から供給されデジタル試
験信号をスイツチ回路１１〜１３及び１８〜２１
のスイツチ操作によりどの信号処理ブロツクに供
給するかを選択し、どの信号処理ブロツクの出力
信号を試験信号検証回路１０に供給するかをスイ
ツチ回路１４〜１７および２２〜２４のスイツチ
操作により選択し、試験信号検証回路１０で検証
しようとする信号処理ブロツクの信号処理結果を
検証することにより、その信号処理ブロツクの障
害の有無を判定することにより行なえる。例え
ば、送信カラー信号処理部２に障害があるか否か
を判定する場合には、送信カラー信号処理部２の
入力端子側にあるスイツチ回路１１を試験信号発
生回路９の出力が選択されるようにスイツチ操作
し、送信カラー信号処理部２の出力を試験信号検
証回路１０に供給するためにスイツチ回路１５を
送信カラー信号処理部２の出力が選択されるよう
にスイツチ操作し、残りのスイツチ回路１６，１
７，２２，２３および２４をそれぞれスイツチ回
路１５，１６，１７，２２および２３の出力が選
択されるようにスイツチ操作する。
以上の説明から明らかなように、第２図に示す
構成により各信号処理ブロツクの障害の有無が検
証可能であるが、各信号処理ブロツク入出力にス
イツチ回路をそれぞれ必要とするとともに試験信
号発生回路９の出力を各信号処理ブロツクに供給
するための信号線および各信号処理ブロツク出力
を試験信号検証回路に供給するための信号線が必
要となり、装置全体の構成が非常に複雑になると
いう欠点がある。特に、テレビ信号符号化復号化
装置のような高速動作し、しかもパラレルデータ
処理しかできないような装置においては、信号線
の配線数およびスイツチ回路の増加は装置規模を
はなはだしく増大させる。
構成により各信号処理ブロツクの障害の有無が検
証可能であるが、各信号処理ブロツク入出力にス
イツチ回路をそれぞれ必要とするとともに試験信
号発生回路９の出力を各信号処理ブロツクに供給
するための信号線および各信号処理ブロツク出力
を試験信号検証回路に供給するための信号線が必
要となり、装置全体の構成が非常に複雑になると
いう欠点がある。特に、テレビ信号符号化復号化
装置のような高速動作し、しかもパラレルデータ
処理しかできないような装置においては、信号線
の配線数およびスイツチ回路の増加は装置規模を
はなはだしく増大させる。
第３図に示す本発明の一実施例は、複数個の信
号処理ブロツク１〜８に分割された処理装置と、
前記信号処理ブロツク１〜８の障害の有無を調べ
るための診断用試験信号を発生する試験信号発生
回路９と、前記試験信号を受けた前記信号処理ブ
ロツクの試験信号出力を検証する試験信号診断回
路１０と、前記信号処理ブロツクのそれぞれの出
力端にスイツチ回路１１〜１８を設け、前記信号
処理ブロツクのうちの試験したい信号処理ブロツ
クに対する前記試験信号の供給および前記試験し
たい信号処理ブロツクからの試験信号出力の前記
診断回路への供給を前記スイツチ回路の選択的切
換により行つている。
号処理ブロツク１〜８に分割された処理装置と、
前記信号処理ブロツク１〜８の障害の有無を調べ
るための診断用試験信号を発生する試験信号発生
回路９と、前記試験信号を受けた前記信号処理ブ
ロツクの試験信号出力を検証する試験信号診断回
路１０と、前記信号処理ブロツクのそれぞれの出
力端にスイツチ回路１１〜１８を設け、前記信号
処理ブロツクのうちの試験したい信号処理ブロツ
クに対する前記試験信号の供給および前記試験し
たい信号処理ブロツクからの試験信号出力の前記
診断回路への供給を前記スイツチ回路の選択的切
換により行つている。
復号化装置の障害探索を行う場合は、スイツチ
回路１１では試験信号発生回路９の出力が選択さ
れ、スイツチ回路１２〜１８はどの信号処理機能
に試験信号を供給するかで定まるスイツチ操作が
行なわれる。例えば、フレーム間復号化処理部７
が正常か否かを調べる場合には、スイツチ回路１
２は送信カラー信号処理部２の入力信号、つま
り、試験信号発生回路９の出力が選択されるよう
にスイツチ操作され、スイツチ回路１３はフレー
ム間符号化処理部３の入力信号が、スイツチ回路
１４は可変長符号化処理部４の入力信号が、スイ
ツチ回路１５はスイツチ回路１６は可変長復号化
処理部８の入力信号がそれぞれ選択されるように
スイツチ操作することにより、フレーム間復号化
処理部７へ試験信号発生回路９の出力信号が供給
される。フレーム間復号化処理復号化処理部７で
信号処理された処理結果はスイツチ回路１７でフ
レーム間復号化処理部７の出力信号を選択するこ
とにより試験信号検証回路１０に供給し、フレー
ム間復号化処理部が正常に動作しているか否かが
判定される。以下、同様にスイツチ回路１１〜１
８のスイツチ操作により各信号処理ブロツクが正
常に動作しているか否かがすべて判定できる。
回路１１では試験信号発生回路９の出力が選択さ
れ、スイツチ回路１２〜１８はどの信号処理機能
に試験信号を供給するかで定まるスイツチ操作が
行なわれる。例えば、フレーム間復号化処理部７
が正常か否かを調べる場合には、スイツチ回路１
２は送信カラー信号処理部２の入力信号、つま
り、試験信号発生回路９の出力が選択されるよう
にスイツチ操作され、スイツチ回路１３はフレー
ム間符号化処理部３の入力信号が、スイツチ回路
１４は可変長符号化処理部４の入力信号が、スイ
ツチ回路１５はスイツチ回路１６は可変長復号化
処理部８の入力信号がそれぞれ選択されるように
スイツチ操作することにより、フレーム間復号化
処理部７へ試験信号発生回路９の出力信号が供給
される。フレーム間復号化処理復号化処理部７で
信号処理された処理結果はスイツチ回路１７でフ
レーム間復号化処理部７の出力信号を選択するこ
とにより試験信号検証回路１０に供給し、フレー
ム間復号化処理部が正常に動作しているか否かが
判定される。以下、同様にスイツチ回路１１〜１
８のスイツチ操作により各信号処理ブロツクが正
常に動作しているか否かがすべて判定できる。
以上のように、本発明によれば、デジタル信号
処理装置の障害探索は障害探索しようとする信号
処理機能ごとに付加された１つのスイツチ回路と
小量の信号線の追加により実現できるため、回路
が簡単化できる。
処理装置の障害探索は障害探索しようとする信号
処理機能ごとに付加された１つのスイツチ回路と
小量の信号線の追加により実現できるため、回路
が簡単化できる。
なお、本実施例においてデジタル信号処理装置
としてフレーム間符号化復号化装置を例にとり説
明したが、フレーム間符号化復号化装置に限定さ
れることなく、他のデジタル信号処理装置に本発
明を適用することも可能である。
としてフレーム間符号化復号化装置を例にとり説
明したが、フレーム間符号化復号化装置に限定さ
れることなく、他のデジタル信号処理装置に本発
明を適用することも可能である。
第１図および第２図は本発明を説明するための
ブロツク図、第３図は本発明の一実施例を示すブ
ロツク図である。 第３図において、１……Ａ／Ｄ変換部、２……
送信カラー信号処理部、３……フレーム間符号化
処理部、４……可変長符号化処理部、５……Ｄ／
Ａ変換部、６……受信カラー信号処理部、７……
フレーム間復号化処理部、８……可変長復号化処
理部、１１〜１８……スイツチ回路。
ブロツク図、第３図は本発明の一実施例を示すブ
ロツク図である。 第３図において、１……Ａ／Ｄ変換部、２……
送信カラー信号処理部、３……フレーム間符号化
処理部、４……可変長符号化処理部、５……Ｄ／
Ａ変換部、６……受信カラー信号処理部、７……
フレーム間復号化処理部、８……可変長復号化処
理部、１１〜１８……スイツチ回路。
Claims (1)
- １ 複数個の信号処理ブロツクに分割された処理
装置と、前記信号処理ブロツクの障害の有無を調
べるための診断用試験信号を発生する試験信号発
生回路と、前記試験信号を受けた前記処理ブロツ
クの試験信号出力を検証する試験信号診断回路と
から構成された自己診断機能を有するデジタル信
号処理装置において、前記信号処理ブロツクのそ
れぞれの出力端にスイツチ回路を設け、前記信号
処理ブロツクのうちの試験したい信号処理ブロツ
クに対する前記試験信号の供給および前記試験し
たい信号処理ブロツクからの試験信号出力の前記
診断回路への供給を前記スイツチ回路の選択的切
換により行うことを特徴とする自己診断機能を有
するデジタル信号処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2632080A JPS56123044A (en) | 1980-03-03 | 1980-03-03 | Digital signal processing device having selfdiagnostic function |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2632080A JPS56123044A (en) | 1980-03-03 | 1980-03-03 | Digital signal processing device having selfdiagnostic function |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56123044A JPS56123044A (en) | 1981-09-26 |
| JPS6156539B2 true JPS6156539B2 (ja) | 1986-12-03 |
Family
ID=12190095
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2632080A Granted JPS56123044A (en) | 1980-03-03 | 1980-03-03 | Digital signal processing device having selfdiagnostic function |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56123044A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4752729A (en) * | 1986-07-01 | 1988-06-21 | Texas Instruments Incorporated | Test circuit for VSLI integrated circuits |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50158245A (ja) * | 1974-06-11 | 1975-12-22 | ||
| JPS526436A (en) * | 1975-07-04 | 1977-01-18 | Nec Corp | Electronic circuit test system |
| JPS5222840A (en) * | 1975-08-15 | 1977-02-21 | Hitachi Ltd | Logical circuit |
-
1980
- 1980-03-03 JP JP2632080A patent/JPS56123044A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56123044A (en) | 1981-09-26 |
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