JPS6161221B2 - - Google Patents
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- JPS6161221B2 JPS6161221B2 JP54028905A JP2890579A JPS6161221B2 JP S6161221 B2 JPS6161221 B2 JP S6161221B2 JP 54028905 A JP54028905 A JP 54028905A JP 2890579 A JP2890579 A JP 2890579A JP S6161221 B2 JPS6161221 B2 JP S6161221B2
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- circuit
- electron microscope
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/24—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the tube and not otherwise provided for
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は新規な電子顕微鏡におけるドリフト補
正装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a novel drift correction device for an electron microscope.
電子顕微鏡において、試料のドリフトが高分解
能観察に大きな障害を与えていることは周知であ
る。このドリフトは試料近辺の構造物の温度及び
機械的平行の崩れに基因するもので、試料交換時
の温度変化等によつて生じ、平衡状態に達するの
に数時間も要することがあり、高分解能観察に多
大の支障となる。 It is well known that sample drift poses a major obstacle to high-resolution observation in electron microscopes. This drift is caused by the temperature and mechanical imbalance of structures near the sample, and is caused by changes in temperature during sample exchange, etc., and it may take several hours to reach an equilibrium state. This poses a major hindrance to observation.
従来より、試料のドリフトを少なくする研究は
為されて来たが、簡単な構造の装置により高精度
にドリフトを補正できる装置は無かつた。 Research has been carried out to reduce sample drift, but there has been no device with a simple structure that can correct drift with high precision.
本発明は、このような従来の欠点を解決し、簡
単な構成の装置により、高精度にドリフトを補正
することのできる電子顕微鏡におけるドリフト補
正装置を提供することを目的としている。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a drift correction device for an electron microscope that can correct the drift with high precision using a device with a simple configuration and solves the above conventional drawbacks.
そのため、本発明は電子顕微鏡像を表示スクリ
ーン上に結像するための手段を備え、該表示スク
リーンに沿つた直行するX、Y二方向の夫々につ
いて、
電子顕微鏡像の特定した像領域を前記方向につ
いて時間的に変化する電気信号に変換するための
変換手段と、該電気信号を2値化するための手段
と、前記変換手段による前記各電気信号への変換
に同期した信号に基づいて前記表示スクリーン上
の前記方向における特定位置を境界として立ち上
がるパルス信号と立ち下がるパルス信号を作成す
るための回路と、前記電気信号と該立ち上がりパ
ルス信号とのアンド回路出力と、前記電気信号と
前記立ち下がりパルス信号とのアンド回路出力と
のパルス幅の差又は比を表わす計数信号を作成す
る回路と、該回路よりの計数信号出力が一定とな
るように前記電子顕微鏡像を偏向移動させるため
の手段
を備えることを特徴としている。 Therefore, the present invention includes means for forming an electron microscope image on a display screen, and in each of the two orthogonal X and Y directions along the display screen, the specified image area of the electron microscope image is focused in the said direction. a converting means for converting into an electric signal that changes over time, a means for binarizing the electric signal, and the display based on a signal synchronized with the conversion into each of the electric signals by the converting means. A circuit for creating a rising pulse signal and a falling pulse signal with a specific position in the direction on the screen as a boundary, an AND circuit output of the electrical signal and the rising pulse signal, and an output of the electrical signal and the falling pulse. A circuit for creating a counting signal representing the difference or ratio of the pulse width between the signal and the AND circuit output, and means for deflecting and moving the electron microscope image so that the counting signal output from the circuit is constant. It is characterized by
以下、図面に基づき本発明の実施例を詳述す
る。 Embodiments of the present invention will be described in detail below based on the drawings.
第1図は本発明の一実施例を示すブロツク図
で、1は対物レンズ、2は中間レンズ、3は投影
レンズである。試料4を透過した電子線は対物レ
ンズ1により結像拡大され、更に中間レンズ2、
投影レンズ3により拡大されて終像5を結ぶ。こ
の終像の位置には普通螢光スクリーン6(第2
図)が置かれ、電子像は可視像として観察でき
る。この螢光スクリーン上面の適当な個所には例
えば固体撮像板7が取り付けてあり、直交する二
方向(X、Y方向)について、電子顕微鏡像を時
間的に変化する電気信号に変換可能である。8は
水平(X方向)同期信号発生回路で、第3図aの
ような一定間隔のパルス信号を発生し、前記固体
撮像板7に起動信号として供給され、それにより
該撮像板からはX方向に走査した時間的変化を有
する映像信号(第3図b)が得られ、増幅器9を
介して二値化回路10に送られる。この二値化回
路においては一定レベルE1(b図参照)以上の
信号が“1”、それ以下の信号が“0”の信号
(第3図c)に変換され、二つのアンドゲート1
1a及び11bに送られる。一方前記同期信号発
生回路8からの信号は鋸歯状波信号発生回路12
に送られ、d図に示す如き鋸歯状波を発生する。
この信号は比較回路13に送られ、略中心部にレ
ベルをもつスライス信号E2と比較され、このレ
ベルを越えたとき信号を生じ(第3図e)前記ア
ンドゲート11aに送り込む。前記比較回路13
からの信号の一部は反転回路14を通して第3図
fの信号となり、アンドゲート11bに送られ
る。両アンドゲート11a,11bにはクロツク
パルス発振器15から、一定周期のクロツクパル
スが送り込まれており、従つて両ゲートの出力は
夫々第3図g及びhの如くなる。このクロツクパ
ルスの出る時間t1は第4図に示す如く“1”の値
を示す像部分5aのスライス位置より右側の長さl1
に対応し、又t2は同図左側部分の長さl2に対応す
る。而してスライス位置は第3図dのレベルE2
で設定され、固定位置であるから、もし像部分5
aが左右に移動(ドリフト)すれば、l1とl2の差
又は比は変化し、それに応じてt1とt2の値は変化
する。この時間巾はクロツクパルスの数に変換さ
れ、夫々のパルスはカウンター16a,16bで
カウントされる。両カウンターの計数値は演算回
路17に送られ、その差又は比が求められる。 FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, in which 1 is an objective lens, 2 is an intermediate lens, and 3 is a projection lens. The electron beam transmitted through the sample 4 is imaged and magnified by the objective lens 1, and is further expanded by the intermediate lens 2,
It is magnified by a projection lens 3 to form a final image 5. A fluorescent screen 6 (second
) is placed, and the electronic image can be observed as a visible image. For example, a solid-state imaging plate 7 is attached to an appropriate location on the upper surface of the fluorescent screen, and is capable of converting an electron microscope image into an electrical signal that changes over time in two orthogonal directions (X and Y directions). Reference numeral 8 denotes a horizontal (X direction) synchronizing signal generation circuit, which generates pulse signals at regular intervals as shown in FIG. A video signal (FIG. 3b) having a temporal change that is scanned is obtained and sent to a binarization circuit 10 via an amplifier 9. In this binarization circuit, signals above a certain level E 1 (see figure b) are converted to "1", and signals below that are converted to "0" signals (see figure 3 c), and the two AND gates 1
1a and 11b. On the other hand, the signal from the synchronization signal generation circuit 8 is transmitted to the sawtooth wave signal generation circuit 12.
and generates a sawtooth wave as shown in Figure d.
This signal is sent to a comparison circuit 13, where it is compared with a slice signal E2 having a level approximately at the center, and when this level is exceeded, a signal is generated (FIG. 3e) which is sent to the AND gate 11a. The comparison circuit 13
A part of the signal from the inverting circuit 14 becomes the signal shown in FIG. 3f, and is sent to the AND gate 11b. A clock pulse of a constant period is sent to both AND gates 11a and 11b from a clock pulse oscillator 15, so the outputs of both gates are as shown in FIG. 3g and h, respectively. The time t 1 at which this clock pulse appears is the length l 1 to the right of the slice position of the image portion 5a showing the value "1" as shown in FIG.
, and t 2 corresponds to the length l 2 on the left side of the figure. Therefore, the slice position is at level E 2 in Figure 3 d.
is set at a fixed position, so if image part 5
If a moves (drifts) to the left or right, the difference or ratio between l 1 and l 2 changes, and the values of t 1 and t 2 change accordingly. This time duration is converted into a number of clock pulses, each pulse being counted by a counter 16a, 16b. The counted values of both counters are sent to an arithmetic circuit 17, and the difference or ratio between them is determined.
而して、その演算回路からの出力はD−A変換
器18によりアナログ信号にされ、直流増巾器1
9を介して結像レンズ系中に置かれた偏向系20
に供給され、前記演算回路により求めた差が零又
は一定値になるように或いは比が一定値になるよ
うなフイードバツク系が構成される。偏向系20
としては投影レンズの下方に置かれる必要はな
く、21で示す様に対物レンズの中に置かれた偏
向コイルを使用しても良い。 The output from the arithmetic circuit is converted into an analog signal by the DA converter 18, and the output is converted into an analog signal by the DC amplifier 1.
Deflection system 20 placed in the imaging lens system via 9
A feedback system is constructed so that the difference determined by the arithmetic circuit is zero or a constant value, or the ratio is a constant value. Deflection system 20
The deflection coil need not be placed below the projection lens, but a deflection coil placed inside the objective lens as shown at 21 may also be used.
上記回路系はX方向に関してのものであるが、
これと直角な方向、つまりY方向についても図示
しないが同様な回路系が構成される。この場合、
第4図のスライス位置と走査位置は反対になる。 The above circuit system is related to the X direction, but
Although not shown, a similar circuit system is constructed in a direction perpendicular to this, that is, in the Y direction. in this case,
The slice position and scan position in FIG. 4 are opposite.
以上の構成において、比較回路13のスライス
レベルE2を適当(中央部)に定め、固定撮像板
7上の中心部に特定の像部分5aを位置せしめ、
該像部分のみが“1”の信号をもつように二値化
回路10を調整する。アンドゲート11aには第
3図c,eの信号とクロツクパルスが導入される
ので、第4図l1に対応するクロツク数のパルス
(第3図g)がカウンター16aでカウントされ
る。一方、アンドゲート11bには第4図c及び
fの信号とクロツクパルスが送り込まれるので、
第3図hに示す如き、第4図l2に対応する数のク
ロツクパルスが取り出され、カウンター16bで
計数される。両計数値は演算回路17に送られ、
例えばその差が求められる。今、例えばスライス
位置が像部分5aの丁度中央にある場合、l1=l2
で演算回路17からは出力信号が生じない。この
状態から試料のドリフトにより像部分5aが右方
に移動したならば、l1>l2となり、第3図gのt1
の方がt2より大きくなり、その差分が演算回路1
7より出力され、該差が零になるような偏向電圧
が偏向系20に与えられる。その結果5aは左方
に移動し、試料のドリフト分は補正される。 In the above configuration, the slice level E 2 of the comparator circuit 13 is set appropriately (in the center), the specific image portion 5a is positioned in the center on the fixed image pickup plate 7,
The binarization circuit 10 is adjusted so that only the image portion has a "1" signal. Since the signals and clock pulses shown in FIG. 3c and e are introduced into the AND gate 11a, the counter 16a counts the number of clock pulses corresponding to l1 in FIG. 4 (FIG. 3g). On the other hand, the signals c and f in FIG. 4 and the clock pulse are sent to the AND gate 11b.
As shown in FIG. 3h, a number of clock pulses corresponding to FIG. 4 l2 are taken out and counted by counter 16b. Both counts are sent to the arithmetic circuit 17,
For example, the difference is required. Now, for example, if the slice position is exactly in the center of the image portion 5a, l 1 = l 2
In this case, no output signal is generated from the arithmetic circuit 17. If the image portion 5a moves to the right due to sample drift from this state, l 1 > l 2 and t 1 in Fig. 3g
is larger than t 2 , and the difference is calculated by the calculation circuit 1.
7, and a deflection voltage such that the difference becomes zero is applied to the deflection system 20. As a result, 5a moves to the left, and the drift of the sample is corrected.
尚上記固体撮像板7に代えて、通常の撮像管を
用いても良く、又、第5図に示す如く螢光板6の
適所(例えば中央部)に微小な電子線通過孔6a
を穿ち、その下にフアラデーケージの如き電子線
検出器22を置き、偏向系20又は別の偏向系を
用いて電子線をX方向及びY方向に線走査するこ
とにより、第2図bの時間的に変化する映像信号
を得るようにしても良い。又、前記カウンター1
6a,16b及び演算回路に代えてアツプダウン
カウンターを用いれば、アンドゲート11aと1
1bからの出力パルスの差を直接求めることがで
きる。 Note that a normal image pickup tube may be used in place of the solid-state image pickup plate 7, and a minute electron beam passage hole 6a may be provided at a suitable location (for example, in the center) of the fluorescent plate 6 as shown in FIG.
2b, place an electron beam detector 22 such as a Faraday cage under it, and scan the electron beam in the X and Y directions using the deflection system 20 or another deflection system. It is also possible to obtain a video signal that changes as follows. Also, the counter 1
If an up-down counter is used in place of 6a, 16b and the arithmetic circuit, the AND gates 11a and 1
The difference in output pulses from 1b can be determined directly.
上述した説明から明らかなように、本発明によ
れば、像の特定部分を電気信号に変換する際の変
換に同期した信号に基づいて、前記表示スクリー
ン上の前記各方向における特定位置を境界として
立ち上がるパルス信号と立ち下がるパルス信号を
作成するための回路により、前記特定の像領域の
位置を検出するための基準となる信号を作成し前
記電気信号と該立ち上がりパルス信号とのアンド
回路出力と、前記電気信号と前記立ち下がりパル
ス信号とのアンド回路出力とのパルス幅の差又は
比を表わす計数信号を作成する回路により高精度
に前記特定の像領域の位置を検出するようにして
いるため、比較的簡単な構造の装置により、高精
度に像のドリフトを補正することができる。 As is clear from the above description, according to the present invention, a specific position on the display screen in each direction is set as a boundary based on a signal synchronized with the conversion of a specific portion of an image into an electrical signal. A circuit for creating a rising pulse signal and a falling pulse signal creates a reference signal for detecting the position of the specific image area, and outputs an AND circuit of the electrical signal and the rising pulse signal; Since the position of the specific image area is detected with high precision by a circuit that creates a count signal representing the difference or ratio of the pulse width between the electric signal and the AND circuit output of the falling pulse signal, Image drift can be corrected with high precision using a device with a relatively simple structure.
第1図は本発明の一実施例を示すブロツク図、
第2図はその一部の拡大図、第3図及び第4図は
動作説明図、第5図は第2図の部分に代る他の例
を示す図である。
1:対物レンズ、2:中間レンズ、3:投影レ
ンズ、4:試料、5:終像、6:螢光スクリー
ン、7:固体撮像板、8:同期信号発生回路、
9:増巾器、10:二値化回路、11a及び11
b:アンドゲート、12:鋸歯状波発生回路、1
3:比較回路、14:反転回路、15:クロツク
パルス発生回路、16a及び16b:カウンタ
ー、17:演算回路、18:D−A変換器、1
9:直流増巾器、20:偏向系。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention;
FIG. 2 is an enlarged view of a part thereof, FIGS. 3 and 4 are explanatory diagrams of the operation, and FIG. 5 is a diagram showing another example in place of the part shown in FIG. 1: Objective lens, 2: Intermediate lens, 3: Projection lens, 4: Sample, 5: Final image, 6: Fluorescent screen, 7: Solid-state image pickup plate, 8: Synchronization signal generation circuit,
9: Amplifier, 10: Binarization circuit, 11a and 11
b: AND gate, 12: Sawtooth wave generation circuit, 1
3: Comparison circuit, 14: Inversion circuit, 15: Clock pulse generation circuit, 16a and 16b: Counter, 17: Arithmetic circuit, 18: D-A converter, 1
9: DC amplifier, 20: Deflection system.
Claims (1)
ための手段を備え、該表示スクリーンに沿つた直
行するX、Y二方向の夫々について、 電子顕微鏡像の特定した像領域を前記方向につ
いて時間的に変化する電気信号に変換するための
変換手段と、該電気信号を2値化するための手段
と、前記変換手段による前記各電気信号への変換
に同期した信号に基づいて前記表示スクリーン上
の前記方向における特定位置を境界として立ち上
がるパルス信号と立ち下がるパルス信号を作成す
るための回路と、前記電気信号と該立ち上がりパ
ルス信号とのアンド回路出力と、前記電気信号と
前記立ち下がりパルス信号とのアンド回路出力と
のパルス幅の差又は比を表わす計数信号を作成す
る回路と、該回路よりの計数信号出力が一定とな
るように前記前記電子顕微鏡像を偏向移動させる
ための手段 を備えることを特徴とする電子顕微鏡におけるド
リフト補正装置。[Scope of Claims] 1. A means for forming an electron microscope image on a display screen, and forming a specified image area of the electron microscope image in each of two orthogonal X and Y directions along the display screen. a converting means for converting into an electrical signal that changes over time in the direction, a means for binarizing the electrical signal, and a signal synchronized with the conversion into each of the electrical signals by the converting means. a circuit for creating a rising pulse signal and a falling pulse signal with a specific position in the direction on the display screen as a boundary; an AND circuit output of the electrical signal and the rising pulse signal; and an AND circuit output of the electrical signal and the rising pulse signal; a circuit for creating a counting signal representing the difference or ratio of the pulse width between the falling pulse signal and the AND circuit output; and a circuit for deflecting and moving the electron microscope image so that the counting signal output from the circuit is constant. A drift correction device for an electron microscope, comprising means.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2890579A JPS55121256A (en) | 1979-03-13 | 1979-03-13 | Correcting method of drift in electron microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2890579A JPS55121256A (en) | 1979-03-13 | 1979-03-13 | Correcting method of drift in electron microscope |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55121256A JPS55121256A (en) | 1980-09-18 |
| JPS6161221B2 true JPS6161221B2 (en) | 1986-12-24 |
Family
ID=12261415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2890579A Granted JPS55121256A (en) | 1979-03-13 | 1979-03-13 | Correcting method of drift in electron microscope |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55121256A (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60232656A (en) * | 1984-04-28 | 1985-11-19 | Nissin Electric Co Ltd | ion implanter |
| JPS63202834A (en) * | 1987-02-17 | 1988-08-22 | Jeol Ltd | Drift correcting device for electron microscope |
| US4948971A (en) * | 1988-11-14 | 1990-08-14 | Amray Inc. | Vibration cancellation system for scanning electron microscopes |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51117569A (en) * | 1975-04-07 | 1976-10-15 | Hitachi Ltd | Sample drift correction device |
| JPS51134555A (en) * | 1975-05-16 | 1976-11-22 | Jeol Ltd | Sample drift corrector |
-
1979
- 1979-03-13 JP JP2890579A patent/JPS55121256A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55121256A (en) | 1980-09-18 |
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