JPS6230384B2 - - Google Patents
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- JPS6230384B2 JPS6230384B2 JP54135533A JP13553379A JPS6230384B2 JP S6230384 B2 JPS6230384 B2 JP S6230384B2 JP 54135533 A JP54135533 A JP 54135533A JP 13553379 A JP13553379 A JP 13553379A JP S6230384 B2 JPS6230384 B2 JP S6230384B2
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- logic
- selection
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- gate
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は例えば論理回路試験装置に用いるた
めの各種の論理波形を生成するための論理波形生
成回路に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a logic waveform generation circuit for generating various logic waveforms for use in, for example, a logic circuit testing device.
論理回路の機能試験を行う場合、被測定論理回
路にはNRZ(Non Retrun Zero)波形、RZ
(Retrun Zero)波形又はNRZとRZとの排他的論
理和(E―OR)波形等各種の論理波形を印加し
て試験する必要がある。このため論理波形を生成
するための従来の論理波形生成回路は第1図に示
すように構成されていた。 When performing functional tests on logic circuits, the logic circuit under test should be equipped with NRZ (Non Retrun Zero) waveforms and RZ waveforms.
It is necessary to test by applying various logic waveforms such as (Retrun Zero) waveform or exclusive OR (E-OR) waveform of NRZ and RZ. For this reason, a conventional logic waveform generation circuit for generating logic waveforms has been configured as shown in FIG.
即ち、生成する論理波形を制御する論理データ
(第2図A)は入力端子11から整時用D型フリ
ツプフロツプ12のデータ端子Dに与えられ、端
子13から整時用クロツク(第2図B)により整
時され、第2図Dに示すような波形がフリツプフ
ロツプ12の出力端子Qから得られる。NRZ波形
として出力する場合は端子14にNRZ選択信号を
与え、この信号によりゲート15が開らかれフリ
ツプフロツプ12の出力端子Qに得られた第2図
Dの波形がゲート15を通過し、更にOR回路1
6、極性制御回路17を順次通じて出力端子18
に出力される。極性制御回路17は出力される波
形の極性を反転させるか否かを決定するためのも
ので、例えば排他的論理和回路で構成され、端子
19からの極性制御信号とOR回路16の出力と
の排他的論理和がとられる。出力波形の極性を反
転する場合は端子19に与える極性制御信号を論
理“1”にする。 That is, the logic data (FIG. 2A) that controls the generated logic waveform is applied from the input terminal 11 to the data terminal D of the timing D-type flip-flop 12, and from the terminal 13 to the timing clock (FIG. 2B). A waveform as shown in FIG. 2D is obtained from the output terminal Q of the flip-flop 12. When outputting as an NRZ waveform, an NRZ selection signal is applied to the terminal 14. This signal opens the gate 15, and the waveform shown in FIG. 2D obtained at the output terminal Q of the flip-flop 12 passes through the gate 15. circuit 1
6. Sequentially through the polarity control circuit 17 to the output terminal 18
is output to. The polarity control circuit 17 is for determining whether or not to invert the polarity of the output waveform, and is composed of, for example, an exclusive OR circuit, and is configured to combine the polarity control signal from the terminal 19 with the output of the OR circuit 16. An exclusive OR is taken. When inverting the polarity of the output waveform, the polarity control signal applied to the terminal 19 is set to logic "1".
端子21に第2クロツク(第2図C)が入力さ
れ、この第2クロツクとフリツプフロツプ12の
出力との論理積がAND回路22でとられ、第2
図Eに示すRZ波形が作られる。このRZ波形は端
子23にRZ選択信号を与えてゲート24を開く
と、そのゲート24を通じてOR回路16へ供給
され、これが端子18に得られる。更にフリツプ
フロツプ12の出力と端子21の第2クロツクと
の排他的論理和が回路25でとられ、その出力は
第2図Fに示すようになる。このEOR波形は端
子26に与えられたEOR選択信号によりゲート
27が開かれてOR回路16へ供給される。 A second clock (C in FIG. 2) is input to the terminal 21, and the AND circuit 22 calculates the AND of this second clock and the output of the flip-flop 12.
The RZ waveform shown in Figure E is created. When the RZ selection signal is applied to the terminal 23 and the gate 24 is opened, this RZ waveform is supplied to the OR circuit 16 through the gate 24, and is obtained at the terminal 18. Further, the output of flip-flop 12 and the second clock at terminal 21 are exclusive-ORed in circuit 25, and the output is as shown in FIG. 2F. This EOR waveform is supplied to the OR circuit 16 with the gate 27 opened by the EOR selection signal applied to the terminal 26.
このような論理波形生成回路は例えば第3図に
示すように複数11〜1oが設けられ、これ等より
の論理波形が例えばマイクロプロセツサのような
被試験論理回路28の対応する入力端子にそれぞ
れ同時に供給され、その時の被試験論理回路28
の動作が正しく行われるか否かが試験される。こ
の場合、被試験論理回路28に入力される複数の
入力波形のタイミングが所定の状態でなければな
らない。例えば1つの入力波形のタイミングを1
動作サイクル内で変化させた時の被試験回路28
の出力がどのようになるかが試験されることがあ
り、試験波形のタイミングは正確でなければなら
ない。 For example, as shown in FIG. 3, a plurality of such logic waveform generation circuits 11 to 1o are provided, and the logic waveforms from these circuits are connected to the corresponding input terminals of the logic circuit under test 28 such as a microprocessor. are simultaneously supplied to the logic circuit under test 28 at that time.
It is tested whether the operation is performed correctly. In this case, the timings of the plurality of input waveforms input to the logic circuit under test 28 must be in a predetermined state. For example, set the timing of one input waveform to 1
Circuit under test 28 when changed within the operating cycle
The timing of the test waveform must be accurate.
しかし第1図に示した論理波形生成回路では生
成される各波形の立上りと立下りや複数の時間の
変化点が同一経路を通過するため、各波形の変化
点の時刻を正確に合わせる回路を挿入することが
できなかつた。つまり例えば各波形の立上り、立
下りはゲートなどの各論理回路のしきい値の変動
により変動するが、その場合立上りと立下りとで
互に逆方向に変動する。このため論理波形生成回
路内に遅延回路を挿入して立上り、立下りの一方
を調整すると、他方は反つてずれが大きくなつて
しまう。 However, in the logic waveform generation circuit shown in Figure 1, the rise and fall of each generated waveform and multiple time change points pass through the same path, so a circuit that accurately adjusts the time of each waveform change point is required. I couldn't insert it. That is, for example, the rising and falling edges of each waveform vary due to variations in the threshold values of each logic circuit such as a gate, but in this case, the rising and falling edges vary in opposite directions. For this reason, if a delay circuit is inserted into the logic waveform generation circuit to adjust one of the rising and falling edges, the deviation of the other will become larger.
この発明の目的はこれ等の欠点を除去するため
各波形の立上り、立ち下りや波形の変化点をそれ
ぞれ独立に時間の調整をすることを可能にした論
理波形生成回路を提供することにある。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a logical waveform generation circuit that can independently adjust the times of the rise and fall of each waveform and the changing points of the waveform, in order to eliminate these drawbacks.
第4図はこの発明による論理波形生成回路の一
例を示し、この発明によれば互に逆極性の論理デ
ータが複数の一致選択回路31〜36へ供給され
る。例えば入力端子11からの論理データは入力
ゲート37に供給されて、正極性の論理データと
負極性の論理データとが出力される。これ等正極
性論理データ及び負極性論理データは一致選択回
路31〜36へ供給される。 FIG. 4 shows an example of a logic waveform generation circuit according to the present invention. According to the present invention, logic data of opposite polarity is supplied to a plurality of coincidence selection circuits 31-36. For example, logic data from the input terminal 11 is supplied to the input gate 37, and positive logic data and negative logic data are output. These positive polarity logic data and negative polarity logic data are supplied to match selection circuits 31-36.
一致選択回路31〜36に対し、論理データの
1サイクル内で異なる点で発生するクロツクが供
給され、これ等クロツクと入力される論理データ
との一致が検出され、かつ選択信号により選択さ
れた時に、その一致検出出力が出力される。一致
選択回路31〜36は同一構成とされ、例えば一
致選択回路31において選択ゲート38,39が
設けられ、選択ゲート38及び39には入力ゲー
ト37より正極性の論理データ及び負極性の論理
データがそれぞれ入力される。選択ゲート38,
39の出力はワイヤドオアされて一致検出ゲート
41へ供給され、ゲート41の出力が一致選択回
路の出力となる。 Coincidence selection circuits 31 to 36 are supplied with clocks generated at different points within one cycle of logic data, and when a coincidence between these clocks and the input logic data is detected and selected by a selection signal. , the match detection output is output. The coincidence selection circuits 31 to 36 have the same configuration. For example, the coincidence selection circuit 31 is provided with selection gates 38 and 39, and the selection gates 38 and 39 receive positive polarity logic data and negative polarity logic data from the input gate 37. Each is input. selection gate 38,
The output of 39 is wired-ORed and supplied to a coincidence detection gate 41, and the output of the gate 41 becomes the output of the coincidence selection circuit.
一致選択回路31〜36の各選択ゲート38及
び39にそれぞれ端子42及び43,44及び4
5,46及び47,48及び49,50及び5
1,52及び53から選択信号が印加されると対
応したゲートが開らかれるようにされる。一致選
択回路31及び34,32及び35,33及び3
6の各一致検出ゲート41にそれぞれ端子54,
55,56のクロツクがそれぞれ入力される。従
つて一致選択回路31〜36は端子42〜53に
与えられる選択信号により選択され、また正極性
及び負極性論理データの一方が選択され、その選
択された一致選択回路において、その選択された
論理データとその一致選択回路に与えられている
クロツクとの一致が一致検出ゲート41で検出さ
れて、その検出結果が出力される。各クロツクは
生成される論理波形の1サイクルTc内において
必要とされる変化点に対応して選定される。 The selection gates 38 and 39 of the coincidence selection circuits 31 to 36 are connected to terminals 42 and 43, 44 and 4, respectively.
5, 46 and 47, 48 and 49, 50 and 5
When selection signals are applied from 1, 52 and 53, the corresponding gates are opened. Match selection circuits 31 and 34, 32 and 35, 33 and 3
A terminal 54 is connected to each coincidence detection gate 41 of 6, respectively.
55 and 56 clocks are input, respectively. Therefore, the coincidence selection circuits 31 to 36 are selected by the selection signals applied to the terminals 42 to 53, and one of the positive polarity and negative polarity logic data is selected, and the selected coincidence selection circuit selects the selected logic data. Coincidence between the data and the clock applied to the coincidence selection circuit is detected by a coincidence detection gate 41, and the detection result is output. Each clock is selected corresponding to the required change point within one cycle Tc of the generated logic waveform.
一致選択回路31〜33の出力はOR回路57
を通じてフリツプフロツプ58のセツト端子Sへ
供給され、一致選択回路34〜36の出力はOR
回路59を通じてフリツプフロツプ61のリセツ
ト端子Rへ供給される。フリツプフロツプ58の
出力は出力端子61へ生成論理波形として出力さ
れる。 The outputs of the match selection circuits 31 to 33 are sent to the OR circuit 57.
is supplied to the set terminal S of flip-flop 58 through
It is supplied through circuit 59 to reset terminal R of flip-flop 61. The output of flip-flop 58 is outputted to output terminal 61 as a generated logic waveform.
一致選択回路31〜36とフリツプフロツプ5
8との間の通路の少くとも一つに遅延回路が挿入
される。図示例では一致選択回路31〜33と
OR回路57との間にそれぞれ遅延回路62〜6
4が直列に挿入され、一致選択回路34〜36と
OR回路59との間に遅延回路65〜67が直列
に挿入される。 Coincidence selection circuits 31 to 36 and flip-flop 5
A delay circuit is inserted in at least one of the paths between the 8 and 8. In the illustrated example, the match selection circuits 31 to 33 and
Delay circuits 62 to 6 are connected to the OR circuit 57, respectively.
4 are inserted in series, and match selection circuits 34 to 36
Delay circuits 65 to 67 are inserted in series with OR circuit 59.
この第4図に示した構成において、入力端子1
1の論理データが第5図A、端子54,55,5
6の各クロツクが第5図B,C,Dに示すような
場合、正極性NRZ波形を生成するには、端子42
に選択信号を与えて一致選択回路31の出力でフ
リツプフロツプ58をセツトし、端子49に選択
信号を与えて一致選択回路34の出力でフリツプ
フロツプ58をリセツトし、第5図Eに示すよう
に端子54のクロツクで立上り、立下る入力論理
データのNRZ波形が出力端子61に得られる。同
様にして端子43及び48に選択信号を与える
と、第5図Fに示すように負極性NRZ波形が得ら
れる。 In the configuration shown in FIG. 4, input terminal 1
The logic data of 1 is shown in Figure 5A, terminals 54, 55, 5.
6 clocks as shown in FIG. 5B, C, and D, to generate a positive NRZ waveform, the terminal 42
A selection signal is applied to the terminal 49 to set the flip-flop 58 with the output of the coincidence selection circuit 31, a selection signal is applied to the terminal 49 and the flip-flop 58 is reset with the output of the coincidence selection circuit 34, and the terminal 54 is set as shown in FIG. An NRZ waveform of input logic data that rises and falls at the clock is obtained at the output terminal 61. Similarly, when selection signals are applied to terminals 43 and 48, a negative NRZ waveform is obtained as shown in FIG. 5F.
端子44及び52に選択信号を与えて第5図G
に示す正極性RZ波形が、端子46及び50に選
択信号を与えて第5図Hに示す負極性RZ波形が
それぞれ得られる。端子42,45,46,4
9,50及び51にそれぞれ選択信号を与えて第
5図Iに示すEOR波形が得られ、端子43,4
4,47,48,51,52に選択信号を与えて
第5図Jに示す負極性EORが得られる。 By applying selection signals to terminals 44 and 52,
By applying selection signals to terminals 46 and 50, negative RZ waveforms shown in FIG. 5H are obtained. Terminals 42, 45, 46, 4
By applying selection signals to terminals 9, 50 and 51, the EOR waveform shown in FIG. 5I is obtained.
By applying selection signals to 4, 47, 48, 51, and 52, the negative EOR shown in FIG. 5J is obtained.
このように端子42〜53に選択信号を選択的
に与えることにより各種の論理波形が得られ、し
かもその各波形の立上り、立下りを決定する通路
に遅延回路62〜67が挿入されているため、こ
れ等を調整することにより各波形の立上り、立下
りのタイミングを独立に調整することができる。 Various logic waveforms can be obtained by selectively applying selection signals to the terminals 42 to 53 in this way, and delay circuits 62 to 67 are inserted in the paths that determine the rise and fall of each waveform. , by adjusting these, the rise and fall timings of each waveform can be adjusted independently.
以上説明したようにこの発明による論理波形生
成回路においては生成される論理波形の各変化点
の時刻を独立に調整できるから、論理回路試験装
置において複数の波形生成回路を設け、その各変
化点の相互間の時刻を正確に調整する必要がある
場合著るしく有効である。更に遅延時間を調整す
る回路を外部から制御可能とすることによつてコ
ンピユータ等によつて自動的に調整可能となる。 As explained above, in the logic waveform generation circuit according to the present invention, the time of each change point of the generated logic waveform can be adjusted independently. This is extremely effective when it is necessary to accurately adjust the time between each other. Furthermore, by making the circuit for adjusting the delay time externally controllable, the delay time can be automatically adjusted by a computer or the like.
一致選択回路は各クロツクについて少くとも一
つは設けられるが、その数及びクロツクの数は要
求される波形により決定される。また要求される
波形によつては一致選択回路内の選択ゲート3
8,39の一方は省略される。 At least one match selection circuit is provided for each clock, the number and number of clocks being determined by the required waveform. Also, depending on the required waveform, the selection gate 3 in the coincidence selection circuit may be
One of 8 and 39 is omitted.
第1図は従来の論理波形生成回路を示す論理回
路図、第2図は第1図に示した回路の動作を説明
するための波形図、第3図は論理波形生成回路と
被試験論理回路との関係を示すブロツク図、第4
図はこの発明による論理波形生成回路の一例を示
す論理回路図、第5図は第4図における入力論理
データ、クロツク及び出力論理波形の例を示す波
形図である。
11…論理データ入力端子、31〜36…一致
選択回路、38,39…選択ゲート、41…一致
検出用ゲート、42〜53…選択信号入力端子、
54〜56…クロツク入力端子、61…出力端
子、62〜67…遅延回路。
Figure 1 is a logic circuit diagram showing a conventional logic waveform generation circuit, Figure 2 is a waveform diagram for explaining the operation of the circuit shown in Figure 1, and Figure 3 is a logic waveform generation circuit and logic circuit under test. Block diagram showing the relationship between
5 is a logic circuit diagram showing an example of a logic waveform generation circuit according to the present invention, and FIG. 5 is a waveform diagram showing an example of input logic data, clock, and output logic waveforms in FIG. 4. 11...Logic data input terminal, 31-36...Coincidence selection circuit, 38, 39...Selection gate, 41...Coincidence detection gate, 42-53...Selection signal input terminal,
54-56...Clock input terminal, 61...Output terminal, 62-67...Delay circuit.
Claims (1)
と負極性のデータとを出力する入力ゲートと、 その正極性データ及び負極性データがそれぞれ
供給され、その一方を選択信号により選択するこ
とができ、出力側が互に接続された選択ゲート対
が複数組設けられた第1選択ゲート対群と、 上記正極性データ及び負極性データがそれぞれ
供給され、その一方を選択信号により選択するこ
とができ、出力側が互に接続された選択ゲート対
が複数組設けられた第2選択ゲート対群と、 上記論理データの1サイクル内の異なる点で発
生する複数のクロツクと上記第1選択ゲート対群
の各出力、また上記第2選択ゲート対群の各出力
とのそれぞれ一致を検出する第1、第2一致検出
ゲート群と、 これら第1、第2一致検出ゲート群の各ゲート
の出力側に挿入された第1、第2遅延回路群と、
その第1遅延回路群の出力によりセツトされ、第
2遅延回路群の出力によりリセツトされ、目的と
する論理波形を出力するフリツプフロツプとより
なる論理波形生成回路。[Claims] 1. An input gate to which logical data is supplied and outputs positive polarity data and negative polarity data; a first selection gate pair group provided with a plurality of selection gate pairs whose output sides are connected to each other; and a first selection gate pair group provided with a plurality of selection gate pairs whose output sides are connected to each other; and the positive polarity data and negative polarity data are respectively supplied, one of which is selected by a selection signal. a second selection gate pair group including a plurality of selection gate pairs whose output sides are connected to each other; a plurality of clocks generated at different points within one cycle of the logic data; and the first selection gate pair group. first and second coincidence detection gate groups that detect coincidence with each output of the gate pair group and each output of the second selected gate pair group; and each gate of the first and second coincidence detection gate groups. a first and second delay circuit group inserted on the output side;
A logic waveform generation circuit comprising a flip-flop which is set by the output of the first delay circuit group, reset by the output of the second delay circuit group, and outputs a target logic waveform.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13553379A JPS5658670A (en) | 1979-10-19 | 1979-10-19 | Logical waveform generating circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13553379A JPS5658670A (en) | 1979-10-19 | 1979-10-19 | Logical waveform generating circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5658670A JPS5658670A (en) | 1981-05-21 |
| JPS6230384B2 true JPS6230384B2 (en) | 1987-07-02 |
Family
ID=15153991
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13553379A Granted JPS5658670A (en) | 1979-10-19 | 1979-10-19 | Logical waveform generating circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5658670A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59225369A (en) * | 1983-06-06 | 1984-12-18 | Fujitsu Ltd | Logic circuit tester |
| US4652814A (en) * | 1983-06-13 | 1987-03-24 | Hewlett-Packard Company | Circuit testing utilizing data compression and derivative mode vectors |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5641017B2 (en) * | 1974-12-28 | 1981-09-25 |
-
1979
- 1979-10-19 JP JP13553379A patent/JPS5658670A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5658670A (en) | 1981-05-21 |
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