JPS6231385B2 - - Google Patents
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- JPS6231385B2 JPS6231385B2 JP54090207A JP9020779A JPS6231385B2 JP S6231385 B2 JPS6231385 B2 JP S6231385B2 JP 54090207 A JP54090207 A JP 54090207A JP 9020779 A JP9020779 A JP 9020779A JP S6231385 B2 JPS6231385 B2 JP S6231385B2
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- JP
- Japan
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- bit
- circuit
- memory device
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- error
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は故障検出回路に関し、特にテレビ信号
のデイジタル伝送に供せらるメモリ装置における
故障検出装置に関する。
のデイジタル伝送に供せらるメモリ装置における
故障検出装置に関する。
放送あるいはテレビ会議などにおいてテレビ信
号をデイジタル伝送するものとして、フレーム符
号化装置、静止画伝送装置などがある。しかしこ
れらの装置はいずれも画面1枚分のデイジタル信
号を記憶するフレームメモリ装置が必要である。
このようなテレビ信号伝送における各種の故障
は、直接サービスの劣化につながるため、極力障
害の起きにくい構成及び故障を迅速に発見し、修
理できる構成にする必要がある。
号をデイジタル伝送するものとして、フレーム符
号化装置、静止画伝送装置などがある。しかしこ
れらの装置はいずれも画面1枚分のデイジタル信
号を記憶するフレームメモリ装置が必要である。
このようなテレビ信号伝送における各種の故障
は、直接サービスの劣化につながるため、極力障
害の起きにくい構成及び故障を迅速に発見し、修
理できる構成にする必要がある。
この観点から上記メモリ装置においても、これ
らを満すことが重要である。このための一つの方
法は、メモリ装置への入出力データにパリテイ符
号を1ビツト付加し、パリテイ検査によつて装置
故障を検出する。この方法は極めて簡単な回路の
追加によつて実現でき、また装置故障を判別する
ことができるが、故障部位を決定することができ
ず修理時間が長くなること、および故障装置を予
備装置に切替える場合に人手を介するため、サー
ビス断の時間が長くなる等の欠点があつた。
らを満すことが重要である。このための一つの方
法は、メモリ装置への入出力データにパリテイ符
号を1ビツト付加し、パリテイ検査によつて装置
故障を検出する。この方法は極めて簡単な回路の
追加によつて実現でき、また装置故障を判別する
ことができるが、故障部位を決定することができ
ず修理時間が長くなること、および故障装置を予
備装置に切替える場合に人手を介するため、サー
ビス断の時間が長くなる等の欠点があつた。
さらに別の方法としては、メモリ装置入出力デ
ータを誤り訂正符号にすることが考えられる。こ
の場合には、故障による出力データの誤りを訂正
するため、外部からみると全く故障がないように
することが可能であるが、誤り訂正符号器及び復
号器は回路的に複雑であり、装置規模、価格的に
フレーム間符号化装置、静止画伝送装置等に適用
するのは得策でなかつた。
ータを誤り訂正符号にすることが考えられる。こ
の場合には、故障による出力データの誤りを訂正
するため、外部からみると全く故障がないように
することが可能であるが、誤り訂正符号器及び復
号器は回路的に複雑であり、装置規模、価格的に
フレーム間符号化装置、静止画伝送装置等に適用
するのは得策でなかつた。
本発明の目的は、上記従来の欠点を除去するた
めに簡単な回路の追加によつてメモリ装置の故障
を検出し故障部位を決定して自動的にシステムか
ら故障を取除けるようにしたメモリ装置の故障検
出装置を提供することにある。
めに簡単な回路の追加によつてメモリ装置の故障
を検出し故障部位を決定して自動的にシステムか
ら故障を取除けるようにしたメモリ装置の故障検
出装置を提供することにある。
本発明によれば、nビツト並列入力データの中
の第i番目ビツト(iは1…n)を選択してパリ
テイ符号として出力する第1の選択回路と、前記
nビツト並列入力データと1ビツトの第1のパリ
テイ符号とを記憶する(n+1)ビツトメモリ装
置と、このメモリ装置から読み出された前記nビ
ツト並列入力データ対応のnビツト並列出力デー
タの中の第i番目ビツトを選択して第2のパリテ
イ符号として出力する第2の選択回路と前記メモ
リ装置から読出された第1のパリテイ符号と前記
第2の選択回路で選択された第2のパリテイ符号
とを比較照合してこれらの2つ符号が不一致のと
き不一致信号を出力する排他的論理和回路と、前
記不一致信号が前記第i番目ビツトのみに生じる
とき前記第i番目ビツトの故障と判定し前記第i
番目と第(i+1)番目ビツトに不一致信号が連
続して生じるとき前記メモリ装置の各ビツトに共
通な故障又は誤りと判定する誤り判定回路と、前
記第1および第2の選択回路で選択するビツトを
予め定めた周期で切換えるとともに前記判定回路
が前記第i番目のビツトの故障と判定したときこ
の第i番目のビツトを固定的に選択出力するよう
制御する計数回路と、前記判定回路が前記第i番
目のビツトの故障と判定したとき、この第i番目
のビツトを前記不一致信号に従つて訂正する誤り
訂正回路とから構成されたことを特徴とする故障
検出装置が得られる。
の第i番目ビツト(iは1…n)を選択してパリ
テイ符号として出力する第1の選択回路と、前記
nビツト並列入力データと1ビツトの第1のパリ
テイ符号とを記憶する(n+1)ビツトメモリ装
置と、このメモリ装置から読み出された前記nビ
ツト並列入力データ対応のnビツト並列出力デー
タの中の第i番目ビツトを選択して第2のパリテ
イ符号として出力する第2の選択回路と前記メモ
リ装置から読出された第1のパリテイ符号と前記
第2の選択回路で選択された第2のパリテイ符号
とを比較照合してこれらの2つ符号が不一致のと
き不一致信号を出力する排他的論理和回路と、前
記不一致信号が前記第i番目ビツトのみに生じる
とき前記第i番目ビツトの故障と判定し前記第i
番目と第(i+1)番目ビツトに不一致信号が連
続して生じるとき前記メモリ装置の各ビツトに共
通な故障又は誤りと判定する誤り判定回路と、前
記第1および第2の選択回路で選択するビツトを
予め定めた周期で切換えるとともに前記判定回路
が前記第i番目のビツトの故障と判定したときこ
の第i番目のビツトを固定的に選択出力するよう
制御する計数回路と、前記判定回路が前記第i番
目のビツトの故障と判定したとき、この第i番目
のビツトを前記不一致信号に従つて訂正する誤り
訂正回路とから構成されたことを特徴とする故障
検出装置が得られる。
次に本発明に係る故障検出回路について図面を
参照して説明する。図面において、1は(n+
1)ビツトを記憶するメモリ装置(nは整数)で
ある。2はnビツト並列データの中の第i番目の
ビツト(i=1,2,3,…,n)を選択し、第
1のパリテイ符号として出力する第1の選択回
路、3は同様にnビツト並列出力データの中の第
i番目のビツトを選択し、第2のパリテイ符号と
して出力する第2の選択回路である。4は誤り訂
正回路、5はメモリ装置から信号線1aを介して
読出された第1のパリテイ符号と信号線3aを介
して第2の選択回路3から出力された第2のパリ
テイ符号の不一致を検出する排他的論理和回路で
ある。6は信号線5aを介して排他的論理和回路
の出力端子に接続された誤り判定回路である。7
は信号線6aを介して誤り判定回路6に接続され
信号線7aを介して第1の選択回路2、第2の選
択回路3及び誤り訂正回路4に接続されたカウン
タである。8a,8bおよび8cはそれぞれデー
タバスである。
参照して説明する。図面において、1は(n+
1)ビツトを記憶するメモリ装置(nは整数)で
ある。2はnビツト並列データの中の第i番目の
ビツト(i=1,2,3,…,n)を選択し、第
1のパリテイ符号として出力する第1の選択回
路、3は同様にnビツト並列出力データの中の第
i番目のビツトを選択し、第2のパリテイ符号と
して出力する第2の選択回路である。4は誤り訂
正回路、5はメモリ装置から信号線1aを介して
読出された第1のパリテイ符号と信号線3aを介
して第2の選択回路3から出力された第2のパリ
テイ符号の不一致を検出する排他的論理和回路で
ある。6は信号線5aを介して排他的論理和回路
の出力端子に接続された誤り判定回路である。7
は信号線6aを介して誤り判定回路6に接続され
信号線7aを介して第1の選択回路2、第2の選
択回路3及び誤り訂正回路4に接続されたカウン
タである。8a,8bおよび8cはそれぞれデー
タバスである。
次に、上記構成の故障検出装置の動作をnを4
として第2図を参照して説明する。入力された4
ビツト並列データはデータバス8aを通してメモ
リ装置1及び第1の選択回路2に加えられる。第
1の選択回路2はカウンタ7の指定する信号(第
2図a)に応答して第i番目のビツトを選択する
ものであり、選択された第i番目のビツトを信号
線2aを通してメモリ装置1に出する(第2図
b)。ここでは、nビツトの中の各ビツトは複数
連続して選択される。従つて、後述する第2図e
に示すように、比較出力は複数出力される。
として第2図を参照して説明する。入力された4
ビツト並列データはデータバス8aを通してメモ
リ装置1及び第1の選択回路2に加えられる。第
1の選択回路2はカウンタ7の指定する信号(第
2図a)に応答して第i番目のビツトを選択する
ものであり、選択された第i番目のビツトを信号
線2aを通してメモリ装置1に出する(第2図
b)。ここでは、nビツトの中の各ビツトは複数
連続して選択される。従つて、後述する第2図e
に示すように、比較出力は複数出力される。
メモリ装置1は上記4ビツト入力データと第1
の選択回路2から入力されるパリテイ符号を記憶
するものであり、読出された4ビツトのデータは
誤り訂正回路4及び第2の選択回路3に出力され
る。第2の選択回路3は第i番目のビツトをカウ
ンタ7の指定信号に応答して選択し、排他的論理
和回路5の一方の入力端子に出力する。一方、メ
モリ装置1から読出されたパリテイ符号(第2図
c)は排他的論理和回路の他方の入力端子に加え
られる。
の選択回路2から入力されるパリテイ符号を記憶
するものであり、読出された4ビツトのデータは
誤り訂正回路4及び第2の選択回路3に出力され
る。第2の選択回路3は第i番目のビツトをカウ
ンタ7の指定信号に応答して選択し、排他的論理
和回路5の一方の入力端子に出力する。一方、メ
モリ装置1から読出されたパリテイ符号(第2図
c)は排他的論理和回路の他方の入力端子に加え
られる。
排他的論理和回路5は、2つの入力端子に同一
の信号が加わつたとき「0」を出力し、異なる信
号が加えられたとき「1」を出力する(第2図
e)。排他的論理和回路5の出力は信号線5aを
通して誤り訂正回路4および誤り判定回路6に加
えられる。誤り判定回路5は故障部位の決定を行
なうものであり、排他的論理和回路5から送られ
てくる誤り信号を第2図dに示す判定区間におい
て判定し、不一致信号が第i番目に生じ、第(1
+i)番目に生じないとき第i番目のビツトが故
障であると判定し(第2図f)計数回路7を停止
させる信号(INH)(第2図g)を出力する。ま
た同時にこの信号(INH)は誤り訂正回路4にも
送られる。一方、上記誤り信号が第i番目ビツ
ト、第(i+1)番目ビツトの如く連続して発生
しているときは、メモリ装置1の各ビツトに共通
する部位あるいはパリテイ符号が故障であると判
定し、このとき信号(INH)は出力されない。な
お、2ビツト連続誤りを共通部の誤りとしている
のは、2ビツトが連続して誤る確立は、1ビツト
が誤る確立より極めて低いためである。
の信号が加わつたとき「0」を出力し、異なる信
号が加えられたとき「1」を出力する(第2図
e)。排他的論理和回路5の出力は信号線5aを
通して誤り訂正回路4および誤り判定回路6に加
えられる。誤り判定回路5は故障部位の決定を行
なうものであり、排他的論理和回路5から送られ
てくる誤り信号を第2図dに示す判定区間におい
て判定し、不一致信号が第i番目に生じ、第(1
+i)番目に生じないとき第i番目のビツトが故
障であると判定し(第2図f)計数回路7を停止
させる信号(INH)(第2図g)を出力する。ま
た同時にこの信号(INH)は誤り訂正回路4にも
送られる。一方、上記誤り信号が第i番目ビツ
ト、第(i+1)番目ビツトの如く連続して発生
しているときは、メモリ装置1の各ビツトに共通
する部位あるいはパリテイ符号が故障であると判
定し、このとき信号(INH)は出力されない。な
お、2ビツト連続誤りを共通部の誤りとしている
のは、2ビツトが連続して誤る確立は、1ビツト
が誤る確立より極めて低いためである。
計数回路7は、検査するビツトを選択するため
の回路であり、各ビツトを検査する周期を有する
パルス信号入力に従つて第1番目から第n番目ま
で順次計数する。この計数回路7の出力信号は、
信号線7aを通して第1および第2の選択回路2
および3と誤り訂正回路4に送られ、前記検査ビ
ツトを選択する。また上記誤り判定回路6でnビ
ツトの中の第i番目のビツトの故障であると判定
され、計数回路7に信号(INH)が出力される
と、計数回路7は計数を停止し、第i番目のデー
タを選択する状態を保持する。
の回路であり、各ビツトを検査する周期を有する
パルス信号入力に従つて第1番目から第n番目ま
で順次計数する。この計数回路7の出力信号は、
信号線7aを通して第1および第2の選択回路2
および3と誤り訂正回路4に送られ、前記検査ビ
ツトを選択する。また上記誤り判定回路6でnビ
ツトの中の第i番目のビツトの故障であると判定
され、計数回路7に信号(INH)が出力される
と、計数回路7は計数を停止し、第i番目のデー
タを選択する状態を保持する。
一方、誤り訂正回路4は、誤り判定回路5から
信号(INH)が入力されている間、計数回路7か
ら送られている信号で選択された第i番目のビツ
トについて、排他的論理和回路5の出力にしたが
つてそのビツトを反転することにより訂正する。
信号(INH)が入力されている間、計数回路7か
ら送られている信号で選択された第i番目のビツ
トについて、排他的論理和回路5の出力にしたが
つてそのビツトを反転することにより訂正する。
したがつて、上記のような故障検出回路によれ
ば、極めて簡単な構成によつてメモリ装置1にお
ける1ビツトの誤りを検出し、故障部位を決定す
るとともに、しかも自動的に誤りを訂正すること
ができる。
ば、極めて簡単な構成によつてメモリ装置1にお
ける1ビツトの誤りを検出し、故障部位を決定す
るとともに、しかも自動的に誤りを訂正すること
ができる。
本発明は以上説明したように、並列入出力デー
タの各ビツト毎に検査を行なうことによつてメモ
リ装置の故障を検出し、かつ故障部位を決定する
ようにして、1ビツトの故障について自動的に訂
正することが可能になる。
タの各ビツト毎に検査を行なうことによつてメモ
リ装置の故障を検出し、かつ故障部位を決定する
ようにして、1ビツトの故障について自動的に訂
正することが可能になる。
第1図は本発明に係る故障検出装置のブロツク
結線図、第2図a〜gはその動作を説明するタイ
ムチヤートである。 1…(n+1)ビツト並列データを記憶するメ
モリ装置、2…第1の選択回路、3…第2の選択
回路、4…誤り訂正回路、5…排他的論理和回
路、6…誤り判定回路、7…計数回路、8a,8
b,8c…データバス。
結線図、第2図a〜gはその動作を説明するタイ
ムチヤートである。 1…(n+1)ビツト並列データを記憶するメ
モリ装置、2…第1の選択回路、3…第2の選択
回路、4…誤り訂正回路、5…排他的論理和回
路、6…誤り判定回路、7…計数回路、8a,8
b,8c…データバス。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 nビツト並列入力データの中の第i番目ビツ
ト(iは1…n)を選択してパリテイ符号として
出力する第1の選択回路と、 前記nビツト並列入力データと1ビツトの第1
のパリテイ符号とを記憶する(n+1)ビツトメ
モリ装置と、 このメモリ装置から読み出された前記nビツト
並列入力データ対応のnビツト並列出力データの
中の第i番目ビツトを選択して第2のパリテイ符
号として出力する第2の選択回路と、 前記メモリ装置から読出された第1のパリテイ
符号と前記第2の選択回路で選択された第2のパ
リテイ符号とを比較照合してこれら2つの符号が
不一致のとき不一致信号を出力する排他的論理和
回路と、 前記不一致信号が前記第i番目ビツトのみに生
じるとき前記第i番目ビツトの故障と判定し前記
第i番目と第(i+1)番目ビツトに不一致信号
が連続して生じるとき前記メモリ装置の各ビツト
に共通な故障又は誤りと判定する誤り判定回路
と、 前記第1および第2の選択回路での選択するビ
ツトを予め定めた周期で切換えるとともに前記判
定回路が前記第i番目のビツトの故障と判定した
ときこの第i番目のビツトを固定的に選択出力す
るよう制御する計数回路と、 前記判定回路が前記第i番目のビツトの故障と
判定したとき、この第i番目のビツトを前記不一
致信号に従つて訂正する誤り訂正回路とから構成
されたことを特徴とする故障検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9020779A JPS5617000A (en) | 1979-07-16 | 1979-07-16 | Failure detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9020779A JPS5617000A (en) | 1979-07-16 | 1979-07-16 | Failure detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5617000A JPS5617000A (en) | 1981-02-18 |
| JPS6231385B2 true JPS6231385B2 (ja) | 1987-07-08 |
Family
ID=13992033
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9020779A Granted JPS5617000A (en) | 1979-07-16 | 1979-07-16 | Failure detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5617000A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2796726B2 (ja) * | 1989-03-17 | 1998-09-10 | 株式会社日立製作所 | データ処理装置 |
| JP5492329B2 (ja) * | 2013-05-27 | 2014-05-14 | 株式会社東芝 | メモリアクセス装置 |
-
1979
- 1979-07-16 JP JP9020779A patent/JPS5617000A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5617000A (en) | 1981-02-18 |
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