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JPS6232551B2 - - Google Patents
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JPS6232551B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6232551B2
JPS6232551B2 JP55160937A JP16093780A JPS6232551B2 JP S6232551 B2 JPS6232551 B2 JP S6232551B2 JP 55160937 A JP55160937 A JP 55160937A JP 16093780 A JP16093780 A JP 16093780A JP S6232551 B2 JPS6232551 B2 JP S6232551B2
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signal
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integral
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JP55160937A
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Rekuan Jan
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SEE II II HANEUERU BURU
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SEE II II HANEUERU BURU
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Publication date
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Publication of JPS5693148A publication Critical patent/JPS5693148A/ja
Publication of JPS6232551B2 publication Critical patent/JPS6232551B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/48Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
    • G11B5/58Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B5/596Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following on disks
    • G11B5/59633Servo formatting
    • G11B5/59655Sector, sample or burst servo format

Landscapes

  • Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、情報担体の基準位置に対する該担
体のためのデータ読取り/書込みヘツドの位置を
測定する方法、および該方法を実施するための装
置に関する。特に本発明は、データ処理装置にお
いて用いられているデイスク・メモリの読取り/
書込みヘツドの位置サーボ制御装置に適用可能で
あり、さらに一般的には、任意の担体からデータ
を読取るための読取り/書込みヘツドまたはデー
タ読取りヘツドの位置をサーボ制御する装置に適
用可能である。
このような装置においては、記憶容量が大きい
ことならびに情報アクセス命令を受けた時点から
磁気読取り/書込みヘツドがデイスク上の任意場
所に格納されているデータ項目にアクセスするの
に要する時間が比較的短かいと言う理由から磁気
デイスク・メモリがますます頻繁に用いられるよ
うになつている。
周知のように、磁気デイスクはその両面に設け
られて、幅が数百分の1ミリメートルを越えない
円形の同心記録トラツク上に符号化された形態で
データを格納している。
最も頻繁に用いられる符号は2進符号もしくは
コードである。
トラツクは連続番号jを該トラツクに割当てる
ことによつて識別され、ここでjは0ないしN―
1の範囲で変わる整数であり、Nは記録トラツク
の総数である。
或るトラツクの連続番号jの符号化表現は、ア
ドレスと称される。データの読取りまたは書込み
を可能にするために、磁気ヘツドがデイスクから
数拾分の1ミクロンの距離で離間してデイスクの
両側に配設されている。
磁気デイスクは一定の回転速度で電動機により
駆動される。
現在の慣行によれば、特に制限された数のデイ
スクしか有しないメモリの場合に、データは次の
ような仕方でデイスクの各面に記録される。即
ち、これらメモリが所属するデータ処理装置によ
つて処理しようとする情報またはデータの記録に
対して最大のスペースが割当てられる。このデー
タは説明の便宜上「被処理データ」と称する。そ
して、トラツクのアドレスの記録ならびにデイス
クの1つの面と関連して設けられた磁気ヘツド
(単数または複数)のトラツク上におけるヘツド
の位置をサーボ制御するのに必要なデータを記録
するために、最少限度のスペースが割当てられ
る。このようなデータは便宜上「位置データ」と
称する。なお、以下の説明においては、トラツク
識別データと言う術語でトラツクのアドレスなら
びに位置データを包摂するものとする。
説明の便宜上、デイスクDの1つの面だけにつ
いて考察してみる。さらにこの面と関連して1つ
の磁気ヘツドTELしか設けられていないものと
仮定する。このヘツドは「被処理データ」ならび
にトラツク識別データ双方を読取つたり書込んだ
りする。
現在の慣行によれば、例えば本出願人の1979年
10月11日付け出願の特開昭55―55483号公報に記
述されているように、デイスクの各面に格納され
ているデータは、等分された隣接の円形セクタ
S0,S1…,Si…,So-1にわたつて分布するのが
好ましいとされている。一般には、デイスクの一
面は、数拾のセクタ(ほとんどの場合には40ない
し50のセクタ)に分割されている。
磁気デイスクの面がそれと関連して設けられて
いる磁気ヘツドの前部を通過すると、セクタS0
セクタS1よりも前にヘツドによつて読取られ、セ
クタS1はセクタS2よりも前に読取られ、以下同様
の順序で読取りが行われる。したがつて、セクタ
S0はセクタS1に先行し、セクタS1はセクタS2に先
行し、セクタSiはセクタSi+1に先行すると言う
ことができ(また逆にセクタSi+1はセクタSi
後続し、以下同様とも言うことができる)。
より一般的に述べると、デイスクの上記面の連
続番号jの同じトラツクに相前後して記憶されて
いる2つのデータ項目Ik-1およびIkについて考
察すると、データ項目Ik-1は、ヘツドTELによ
つてデータ項目Ikより前に読取られる場合、該
データ項目Ikに先行すると言うことができ、ま
た逆にデータ項目Ikはデータ項目Ik-1に後続す
ると言うことができる。このことはいくつかのデ
ータ群GkおよびGk-1についても当嵌る。
各セクタSiは2つの不等分領域に分割されて
いる。大きい方の領域は「被処理データ」を格納
し、他方小さい方の領域はトラツク識別情報もし
くはデータを格納している。各セクタSi毎に小
さい方の領域はトラツク数と同じ数の「基準ゾー
ン」と称するいくつかのゾーン(帯域)に分割さ
れており、各トラツクにはZRPijと称する第1の
ゾーンおよびZRPi(j+1)と称する第2のゾーンが
相関されている。これら2つのゾーンは「隣り合
うゾーン」と称される。これらゾーン間の境界は
連続番号jのトラツクの円形対称軸Axjと一致し
ている。実際上、この軸の実際の位置はトラツク
幅の比較的小さい端数値に等しい公差に対応する
精度で画定されている。或るトラツクの連続番号
jが偶数番であるとすると基準ゾーンZRPijは偶
数番ゾーンと称され、そして基準ゾーン
ZRPi(j+1)は奇数番ゾーンと称される。逆に連続
番号jが奇数である場合には、ゾーンZRPijが奇
数番ゾーンと称され、他方ゾーンZRPi(j+1)は偶
数番ゾーンと称される。
周知のように、磁気読取り/書込みヘツドは、
回りに巻線が配置されておつてエア・ギヤツプを
有する磁気回路を備えている。エア・ギヤツプは
実質的に矩形の形状をしておつて、その長さはそ
の幅よりも相当に大きい。ギヤツプは、連続番号
jのトラツクから被処理データならびに該トラツ
クと関連の2つのゾーンZRPijおよびZRPi(j+1)
格納されているトラツク識別データを読取るため
にトラツクおよび基準ゾーン(基準ゾーンおよび
トラツクは同じ幅である)の半径方向の幅の寸法
と同じ程度の大きさであつて、読取り/書込みヘ
ツドのエア・ギヤツプはトラツクの磁化軸線Axj
に対して垂直に配置されている(即ちトラツクの
半径方向の幅に対して平行に配置されている)。
このトラツクの被処理データを最大の精度で読取
る(または)書込むためには、トラツクが格納し
ているデータ全べて、またはその一部を読取るの
に必要な時間中、ヘツドは当該トラツクに面して
不動の状態に留まらなければならず、エア・ギヤ
ツプは2つの基準ゾーンZRPijとZRPi(j+1)との間
の境界である磁化軸線Axj上に完全に心出しされ
た状態に留まることが必要である。また読取り/
書込みヘツドTELはこれら2つのゾーンに股が
るように配置されて、これら2つのゾーンに格納
されているトラツク識別データの読取りまたは書
込みを行なうと言うこともできる。
周知のように、電気論理信号は「論理0」また
は「論理1」と称する2つの値しか取ることがで
きず、これに対してアナログ電気信号は2つの正
および(または)負の限界値間で連続的な仕方で
変化する。
デイスクDの面上にデータを記憶するために、
可変長の一連の要素領域がトラツクの各々および
基準ゾーンの各々において該デイスクと関連の磁
気ヘツドTELにより発生され、これら領域は各
トラツクおよび各ゾーンの全長にわたつて分布さ
れておつて、交互に同じ大きさで方向が反対の磁
気誘導を有していることも周知である。
したがつて、トラツクまたはゾーンに沿つて相
前後する2つの磁気領域間の境界が「磁気遷移」
とも称する磁気方向の変化を定める。
該磁気遷移は2つの異なつた性質を有すること
ができる。即ち、 デイスクの面がヘツドTELを通つて移動し、
該ヘツドが、誘導が負である要素磁気領域および
それに続いて誘導が正である要素磁気領域の通過
を順次検知する場合には、対応の磁気遷移は正で
あると称する。
反対に、正の誘導の要素領域、そしてそれに続
いて負の誘導の領域が順次磁気ヘツドTELを通
過する時には、磁気遷移は負であると言える。
なお基準ゾーンに格納されるトラツク識別デー
タの好ましい書込み方法は特開昭55―55483号公
報に記述されている。
この方法によれば、基準ゾーンのトラツクを識
別するためのデータは第1の遷移の記号が第2の
遷移の記号と反対である2つの磁気遷移によつて
定められ、そしてデータの値はそれに対応する2
つの遷移の不在または存在の関数である。この公
報に記述されているように、各基準ゾーンの位置
データは部分PPOSに格納されている。特に
PPOSijは位置データを格納している基準ゾーン
ZRPijの部分を指定する。この部分PPOSij自体は
連続番号jのトラツクのアドレスを主として格納
している部分に後続するものである。
任意の部分PPOSは同じ長さの一連のm個のセ
ルを有しており、これら一連の相続くセルには交
互に2つの磁気遷移の存在および不在がある。こ
の位置データ書込み方法は、偶数番基準ゾーンで
あるか奇数番基準ゾーンであるかに関係なく同じ
であつて、単に位置データが1つのセルから他の
セルにシフトされるだけである。したがつて、任
意の偶数番基準ゾーンの場合には、奇数番セル
(第1,第3,第5等々のセル)と称される奇数
番のセルは2つの磁気遷移を有しておらず、他方
偶数番セルと称する偶数番のセルは2つの磁気遷
移を有している。任意の奇数番基準ゾーンにおい
て、奇数番セルは2つの遷移を有し、偶数番セル
は有していない。
部分PPOSの偶数番または奇数番セルが同じ長
さを有するものとすると、これらセルが読取りヘ
ツドTELを通過する時間は各セルについて同じ
でありTで表わされる。
ヘツドTELのエア・ギヤツプが完全に偶数番
基準ゾーンの部分PPOSに心出しされておつて、
この部分がヘツドTELを通過する時には、該ヘ
ツドによつて供給される信号SPは周期P=2Tを
有する周期性の信号である。各周期毎に信号は、
最初の半周期(寄数セルの通過に対応する)中零
ボルトであり、そして第2の半周期中は「1」に
等しい絶対振幅値で同じ値AMPを有する反対の
記号の2つのアナログ・パルスから形成される。
ヘツドTELのエア・ギヤツプが奇数番基準ゾ
ーンの部分PPOSに完全に心出しされている時に
は、ヘツドによつて供給される信号Sinpは周期
P=2Tの周期性の信号である。各周期毎にこの
信号は最初の半周期(奇数セルの通過に対応す
る)中AMPに等しい絶対振幅値を有し記号が反
対である2つのアナログ・パルスから形成され、
そして第2の半周期(偶数番セルの通過に対応す
る)中は零ボルトである。
記号Spは偶数信号と称され、他方信号Sinp
奇数信号と称される。
これら2つの信号は同じ周期Pを有し、時間的
に半周期だけシフトされている周期性の信号であ
ることが判る。
2つの隣接する基準ゾーンZRPijおよび
ZRPi(j-1)を考察すると、そのうちの一方は偶数
番のものであり、他方は奇数番のものであつて、
基準ゾーンZRPijが円板の中心に最も近く位置す
る(なお、トラツクの連続番号jが大きくなれば
なるほど当該トラツクは円板の中心に接近す
る)。
POS1は円板の中心に最近のゾーンZRPijの部分
PPOSijに(完全に心出しされて)面して位置す
るエア・ギヤツプを有するヘツドTELの位置を
表わす。
POS3は円板の中心から最も遠いゾーン
ZRPi(j-1)の部PPOSi(j+1)に完全に心出しされた
状態で面して位置するエア・ギヤツプを有するヘ
ツドTELの位置を表わす。
ヘツドが位置POS1とPOS3との間の任意の位置
を占める時には、エア・ギヤツプの表面の部分x1
が偶数番基準ゾーンに面して位置し、他方この同
じ面の部分x2は奇数番基準ゾーンに面する。ここ
でx1,x2は0よりも大きく1よりも小さく、そし
て(x1+x2)は1に等しい。
ほぼ矩形のエア・ギヤツプの場合には、その表
面積はその長さLに比例する(この長さ自体は先
に述べたように1つのトラツクの半径方行の幅に
実質的に等しい)。したがつて、エア・ギヤツプ
の長さの4分の3の部分は、偶数番基準ゾーン上
に位置し、したがつて、x1=3/4=0.75でx2=(1
−3/4)=0.25となる。
このような条件下において、ヘツドにより供給
される信号SPは、エア・ギヤツプの表面の部分
x1を通過する偶数番ゾーンの位置データを読出す
ための信号に対応する偶数部S1およびエア・ギヤ
ツプの表面の部分x2を通過する奇数番ゾーンの位
置データを読出すための信号に対応する奇数部S2
の代数和と見做すことができる。周知のように、
所与のデータ項目に対し磁気読取りヘツドに供給
される信号の電圧は、データに面するそのエア・
ギヤツプの表面の部分xの関数として直線的に変
化する。
したがつて、 S1=x1×Sp, S2=x2×Sinp その結果ST=S1+S2=x1・Sp+x2・Sinp
なる。但し、x1+x2=1。
したがつて、信号SpおよびSinpと同様に信号
S1およびS2は同じ形状および同じ周期Pを有して
おつて時間的に半周期だけシフトされている。
結論として信号STの各周期Pは、次のような
期間を含む。即ち、 信号の偶数部S1を含み、振幅の絶対値がx1×
AMPに等しい反対の記号の2つのアナログ・パ
ルスから形成される半周期、および、 信号の奇数部を含み、振幅の絶対値がx2×
AMPに等しい反対の記号の2つのアナログ・パ
ルスから形成される半周期。
この周期(ならびに複数の周期)を基にして計
算した記号STの平均値ならびに同じ期間につい
て計算したその積分は零である。
位置POS1およびPOS3を含め、これら位置間に
おけるヘツドTLの位置は、信号STの積分あるい
はまたこの信号電圧の平均値を計算することによ
つて演繹することはできない。
周知のように、デイスク・メモリは出発トラツ
クから「被処理データ」を読出すべき連続番号j
の目標トラツクまでのヘツドの可能最小時間内で
の変位を可能にする装置を備えている。このよう
な装置は、例えば本出願人の1979年9月21日付け
のフランス国特許願第7923579号明細書に記述さ
れている。この装置によつてヘツドがトラツクの
軸線Axjに関し位置決めされると、直ちにこのト
ラツクの「被処理データ」の読取りが最大の精度
で信号振幅が最大となるように行なわれるように
するために、この読取りに必要な全時間中ヘツド
を軸線Axjに「跨がつて」保持する必要がある。
このことは、この時間中エア・ギヤツプを上記軸
線Axj上に完全に心出しすべきこと、言換えるな
らばx1=x2=0.5であるべきことを意味する。こ
の位置はPOS2によつて示されている。自明なよ
うに、ヘツドのエア・ギヤツプがこの位置POS2
から位置POS1またはPOS3に向つて離れれば離れ
るほど、被処理データの書込みまたは読取りにお
けるエラーの危険は高くなる。
このような理由から、ヘツドが上記の変位装置
によつて連続番号jのトラツクに面する位置に位
置決めされた時点から該ヘツドのエア・ギヤツプ
が占める位置POS1およびPOS3を含むこれら位置
間における位置を正確に知ることが極めて重要と
なる。2つの隣接した偶数番および奇数番ゾーン
の2つの部分PPOSijおよびPPOSi(j-1)間の境界
がヘツドのエア・ギヤツプを通過する時には、該
エア・ギヤツプが位置POS1およびPOS3を含め、
これら2つの位置間におけるどの位置を占めるに
せよ、ヘツド(またはそのエア・ギヤツプ)は
「該境界の近傍」に位置すると言うことができ
る。
本発明による方法および該方法を実施するため
の装置の目的は、2つ隣接する偶数番および奇数
番ゾーン間の境界によつて画定される基準位置
POS2に対し、エア・ギヤツプ(したがつてまた
ヘツド)が占める実際の位置を定義するアナロ
グ・データ項目を供給することにある。
このアナログ・データは位置サーボ制御装置に
送られる。この位置サーボ制御装置の目的は上記
境界と一致する軸線を有するトラツク上に格納さ
れている「被処理データ」全べてもしくはその一
部を読出すのに必要とされる全時間にわたつてヘ
ツドTELを上記境界に「跨がつて」保持するこ
とである。
本発明による方法の原理は次の通りである。
偶数部および奇数部S1およびS2の全べてのパル
スは整流されて、偶数部S1の全べてパルスは奇数
部S2の全べてのパルスと反対の記号にされる。周
期Pの周期信号SASがこのようにして得られ、そ
の積分が、長くとも上記隣接する奇数番および偶
数番ゾーンの全べての位置データを読取るのに要
する時間に等しい持続期間の整数の周期に等しい
積分期間に関して計算される。基準位置に対する
積分値がその零値を定める。この零値は「積分
零」と称する。積分期間の下限に対しても積分は
零に等しいと見做される。このような条件下にお
いては積分の値がヘツドの占める位置を定める。
積分の1つの値が所与の位置に対応する。
本発明によれば、データが複数のトラツクに格
納されており、該データは基準ゾーン群に記録さ
れている位置データを含み、各トラツクには少な
くとも2つのゾーンが設けられており、基準位置
が2つの隣接する偶数番および奇数番ゾーン間の
少なくとも1の境界によつて画定され、該境界の
近傍に位置するヘツドによつて供給される位置デ
ータ読出し信号は同じ周期を有しかつ互いに時間
的に遷移されている偶数部および奇数部の代数和
に等しく、該偶数部および奇数部はそれぞれ上記
偶数番および奇数番ゾーンの位置データ読出し信
号に対応する型のデータ担体の基準位置に対する
読取り/書込みヘツドの位置を測定する方法にお
いて、偶数部の全べてのパルスに同一の第2の予
め定められた記号を割当て、奇数部の全べてのパ
ルスに上記第1の記号とは反対の第2の予め定め
られた同じ記号を割当てて周期Pの信号SASを発
生し、信号SASの積分と、長くても上記ゾーンの
位置データを読出すのに要する時間に等しい積分
期間について算出し、該積分は該積分期間の下限
に対する積分値に等しい基準位置を定め、該基準
位置は、上記積分の値によつて定められる方法が
提案される。
次に、単なる例として本発明の実施例を示す添
付図面を参照し詳細に説明する。
先ず、本発明による方法を実施するための装置
の構造および動作上の原理の明確な理解を期する
ために、第1a図ないし第1d図、第2図、第3
a図および第3b図、第4a図および第4b図な
らびに第5a図および第5b図を参照していくつ
かの事項について説明しておく。これら図は好ま
しいデータ書込み方法に従つて磁気デイスクDの
面の基準ゾーン内にどのようにして位置データを
書込むかを図解する(第1a図ないし第1d図、
第2図、第3a図、第3b図、第4a図および第
5a図)と共に、ヘツドTELが2つの隣接する
奇数番および偶数番基準ゾーン間の境界に近接し
たいろいろな位置を占める時、該ヘツドTELか
ら供給される信号の性質を図解する(第4b図、
第5b図)ものである。
第1a図には、矢印Fの方向に回転する磁気デ
イスクDの面が示されており、記録に用いられる
表面は円D1およびD2によつて画定されている。
この面上にはn個の円形で等分の隣接したセクタ
S0,S1,…,Si,Si+1,…,So-1が画定されて
いる。第1b図から明らかなように、セクタSi
は部分SADiおよびSDOiに分割されており、これ
ら部分には、それぞれトラツク識別データおよび
デイスクDを有するデイスク・メモリが所属する
データ処理装置によつて処理される「被処理デー
タ」が記録される。部分SADiの表面積は部分
SDOiの表面積よりも非常に小さい。
第1c図および第1d図はセクタSiの部分
SADiが形成される仕方を詳細に示す。これら図
は円c内に含まれるセクタSiの部分SADiの拡大
図である。セクタSiの各部分SADiはN+1個の
基準ゾーンZRPi0,…,ZRPij,…,ZRPiNに分割
される。ここでNはデイスクDの1つ面の記録ト
ラツクの数である。
第1c図および第1d図には矩形で記号的に最
初から5つのゾーンZRPi0ないしZRPi4だけが示さ
れているが、これは図面を簡略にする意図からで
ある。これら図から明らかなように、記録トラツ
クの円形軸線AxjはいろいろなゾーンZRPij間に
おける境界と一致する。既に述べたように、ゾー
ンZRPijおよびゾーンZRPi(j+1)には、それぞれ軸
線Axjの連続番号jの各磁気トラツクが相関して
いる。即ち、ゾーンZRPi0およびZRPi1には連続番
号0のトラツクが相関しており、ゾーンZRPi1
よびZRPi2には連続番号1のトラツクと相関して
おり、以下同様である。
各ゾーンZRPijは、連続番号jのトラツクの識
別データ(アドレスおよび位置データ)を有して
いる。即ち、ゾーンZRPi0は連続番号0のトラツ
クの識別データを格納しており、ゾーンZRPi1
連続番号1のトラツクの識別データを格納してお
り、ゾーンZRPi2は連続番号2のトラツクの識別
データを格納しており、以下同様である。
第2図には基準ゾーンZRPijが示されている。
デイスクDの運動方向は矢印Fで表わされてい
る。位置データは既に述べたように部分PPOSij
に格納されており、そして部分PPOSijに先行す
るゾーンの残余部分は主に連続番号jのアドレス
のトラツクを格納している。
基準ゾーンZRPijにはブランク(空)・ゾーンと
称するゾーンZBijが先行しており、そしてこのブ
ランク・ゾーンは「被処理データ」を格納してい
るセクタSiの部分SDOiを終末するゾーンであ
る。このブランク・ゾーンZBijにおいては、磁気
誘導は一様であり、例えば負である。
ゾーンZRPijの始端は参照記号ZDijによつて表
わされている。この始端は、誘導が例えば負であ
るゾーンZRPijと誘導が正であるゾーンZRPijの第
1の磁気領域DM1との間における磁気誘導の変化
によつて識別される。
第3a図および第3b図に示すように、全べて
のトラツク識別データIkおよび特に全べての位
置データは、セルCKに格納されておつて、2つ
の磁気遷移の存在または不在によつて定義され
る。この場合、第1番目の遷移T1Kは第2番目の
遷移T2Kとは反対の記号である。
例えば、第1の遷移T1Kが正である(第3a
図)とすると、第2の遷移T2Kは負である。ゾー
ンZRPijの部分PPOSijの位置データの符号化は、
例えばセルCKのデータIKが、2つの遷移の存在
する場合(第3a図)に「1」に等しくなり、他
方2つの遷移が存在しない場合には「0」に等し
くなるように選ばれており、そして磁気遷移の不
在は、この「0」値のデータを格納するセル内の
例えば負の一様な磁気誘導によつて表わされる
(第3b図参照)。
次に、2つのゾーンZRPijおよびZRPi(j-1)の部
分PPOSijおよびPPOSi(j-1)ならびにゾーンZRPij
およびZRPi(j+1)の部分PPOSijおよびPPOSi(j+1)
をそれぞれ示す第4a図および第5a図を参照す
る。説明の便宜上ゾーンZRPijは偶数番ゾーンで
あり、2つのゾーンZRPi(j-1)およびZRPi(j+1)
奇数番ゾーンであるとする。第4a図および第5
a図に示す具体例の場合には、部分PPOSij
PPOSi(j-1),PPOSi(j+1)はそれぞれ位置データ
を格納するための12のセルC1ないしC12を有して
いる。
部分PPOSijは位置データIji,Ij2,…IjK
…,Ij12を格納している。
部分PPOSi(j-1)は位置データI(j-1)1,…,I
(j-1)K,…,I(j-1)12を格納している。
部分PPOSi(j+1)はI(j+1)1,…,I(j+1)K
…,I(j+1)12に位置データを格納している。
部分PPOSijの奇数番セルC1,C3ないしC11は零
に等しい位置データIj1,Ij3ないしIj11を格納
しており、他方偶数番セルC2ないしC12は「1」
に等しい位置データIj2ないしIj12を格納してい
ることが判る。
部分PPOSi(j-1)およびPPOSi(j+1)の奇数番セ
ルC1ないしC11は「1」に等しい位置データI(j-
1)1ないしI(j-1)11およびI(j+1)1ないしI(j+1)11
を格納しており、他方同じ部分の偶数番の連続し
たセルC2ないしC12は零に等しい位置データI(j-
1)2ないしI(j-1)12およびI(j+1)2ないしI(j+1)12
を格納している。
したがつて、部分PPOSijに格納されている位
置データの書込みモードならびにPPOSi(j-1)
よびPPOSi(j+1)に格納されている位置データの
書込みモードは、奇数番ゾーンであるかあるいは
偶数番ゾーンであるかに関係なく同じであること
が判る。
次に第4b図および第5b図について説明す
る。
ヘツドTELが、偶数番であるとするゾーン
ZRPijの部分PPOSij(第4a図の位置POS1および
第5a図の位置POS3)にそのエア・ギヤツプが完
全に心出しされて位置する時には、このヘツド
TELは第4b図の信号Sp=SPOS1および第5b
図の信号Sp=SPOS3を供給する。奇数番セルC1
ないしC11がヘツドを通過する際に信号Spの電圧
は零となる。即ち、時点も0ないしt1,t2ないし
t3,t10ないしt11間においては信号Spの電圧は零
になる。これらセルC2ないしC12がヘツドを通過
する時、言換えるならば、時点t1ないしt2,t3
いしt4,…,t11ないしt12の間においては、信号S
pは同じ振幅絶対値AMPを有し、記号が反対であ
る2つのアナログ・パルスの形態にある。したが
つて既に述べたように、信号Spは周期的な信号
であり、その周期Pはt2−t0=t4−t2=,…,t12
−t10に等しい。全周期数に等しい期間を基に計
算した信号Spの電圧の平均値は零である。
ヘツドTELのエア・ギヤツプが奇数番ゾーン
ZRPi(j-1)の部分PPOSi(j-1)(または
PPOSi(j+1))(第4a図の位置POS3および第5a
図の位置POS1に対応する)に完全に心出しされ
ている時には、該ヘツドは第4b図のSPOS3およ
び第5b図のSPOS1に等しい信号Sinpを供給す
る。時点t0ないしt1,…,t10ないしt11間のいずれ
かの期間中に奇数番セルがヘツドを通過する時に
は、信号Sinpは同じ振幅絶対値AMPを有し、記
号が反対である2つのアナログパルスの形態とな
る。偶数番セルが時点t1ないしt2,…,t11ないし
t12間のいずれかの期間中に通過すると、信号Sin
の電圧は零となる。したがつて信号Sinpは周期
Pを有する周期信号であり、この周期はt2−t0
…,t12−t10に等しい。上の説明から明らかなよ
うに、全周期数に等しい期間を基に計算したこの
信号Sinpの電圧の平均値は零である。
ヘツドTELのエア・ギヤツプが部分PPOSij
PPOSi(j-1)との間の境界、即ち(第4a図およ
び第5a図の位置POS2に対応する)2つの部分
PPOSijおよびPPOSi(j+1)間の境界に完全に心出
しされた時には、供給される信号はほぼ正弦波形
状のSPOS2である。この信号は、振幅絶対値が
0.5AMPの正および負のアナログ・パルスの集合
によつて形成されている。この特定の事例におい
ては、この場合にのみ信号の周期はP/2に等し
くなる。全周期数を基に計算した場合には、この
信号SPOS1の電圧の平均値は零であることが判
る。
ヘツドTELが、そのエア・ギヤツプの表面の
大きな部分が第4a図の位置POS4かまたは第5
a図の位置POS5のいずれかに対応する奇数番ゾ
ーンの部分PPOSij上に位置している場合には
(ここに示した例においてはエア・ギヤツプの表
面の3/4の部分が偶数番ゾーンの部分PPOSijに面
して位置しており、そして該表面の残りの1/4の
部分が奇数番ゾーンの部分PPOSi(j-1)かまたは
部分PPOSi(j+1)のいずれかに面している)、ヘツ
ドが供給する信号、即ち第4b図のSPOS4かまた
は第5b図のSPOS5は、時点t0ないしt1,…t10
いしt11間(奇数番セルが通過する時)では振幅
0.25AMPの絶対値を有する反対の記号の2つの
アナログ・パルスからなり、そして時点t1ないし
t2,…t11ないしt12間(偶数番セルが通過する時)
では0.75AMPの振幅絶対値を有する反対の記号
の2つのアナログ・パルスからなつている。
ヘツドTELが、その表面の最も大きな部分が
第4a図の位置POS5に対応し、かつ第5a図の
POS4に対応する奇数ゾーンの部分PPOSi(j-1)
たはPPOSi(j+1)に面して位置するような位置を
占める場合(図示の例ではエア・ギヤツプの表面
の3/4の部分が奇数番ゾーンの部分PPOSi(j-1)
たはPPOSi(j+1)に面して位置している)には、
ヘツドが供給する信号、即ち第4b図のSPOS5
よび第5b図のSPOS4は時点t0ないしt1,…t10
いしt11間では0.75AMPの振幅絶対値を有する反
対の記号の2つのアナログ・パルスからなり、そ
して時点t1ないしt2,…,t11ないしt12間では
0.25AMPに等しい絶対振幅値を有する反対の記
号の2つのアナログ・パルスからなる。信号
SPOS4およびSPOS5は周期P=t2−t0=t4−t2=t6
−t4=,…,t12−t10=2Tを有する周期信号であ
ることが判る。全周期P数を基にして算出したこ
れらの信号の電圧の平均値は零である。
一般に述べて、SPOSnが位置POS1とPOS3を含
めたこれら位置間で任意の位置POSnを占める時
にヘツドTELによつて発生される信号を表わす
ものとした場合に、先に掲げた式(1)からSPOSn
=S1+S2=x1・Si+x2・Sinpで、(x1+x2)=1
であつて、x1およびx2はそれぞれ偶数番ゾーンお
よび奇数番ゾーンこの部分PPOSijに面して位置
するエア・ギヤツプの表面の割合を表わす。
したがつて、第4b図の位置POS4の場合、ま
たは第5b図の位置PPOS5の場合には、x1=0.75
でx2=0.25である。したがつて、時点t0ないし
t1,t2ないしt3等々間においては、SPOSn=0.75
×Si+0.25×Sinpとなる。但しSi=0である。
したがつてSPOSn=0.25Sinpとなる。特にパルス
例えばSinpの正のパルスが最大値+AMPに達す
ると、その結果としてSPOS1=0.25×AMPとな
る。また時点t1ないしt2,t3ないしt4等々間では、
SPOSn=0.75Siとなることが判る(なぜならばSi
npはこの場合には零に等しいからである)。
同じことが第4b図の位置POS5および第5b
図の位置POS4に対応する位置POSnに対しても当
嵌まり、時点t0ないしt1,t2ないしt3等々間では
SPOSn=0.75Sinpであり、時点t1ないしt2,t3
いしt4等々間においてはSPOSn=0.75×Siである
ことが判る。
第4b図および第5b図に示されている信号
SPOSnの周期Pの全数について計算した積分値
は零であることは明らかである。
第6a図、第6b図および第7図は、奇数番の
場合にトラツクの軸線Ax(j-1)かまたは偶数番と
した場合のトラツクの軸線Axjのいずれらかによ
つて定められる基準位置のうちの1つの位置に対
するヘツドTELの位置を本発明に従がつて測定
する方法の原理を図解するものである。
この方法によれば、次のような手順が採られ
る。
(1) 基準位置は奇数連続番号のトラツクの軸
線Ax(j-1)またはAx(j+1)によつて確定され
る(第6a図および第4a図、第4b図参
照)。
A (1) 信号SPOSnの偶数番部分S1のアナロ
グ・パルスの各々には例えば正である同じ
記号が割当てられる。換言するならば、時
点t1およびt2,…,t11およびt12間の信号
SPOSnの全べてのアナログ・パルスは正
であるとする。
(2) 奇数番部分S2のアナログ・パルスの各々
には、信号SPOSnの偶数番部S1のパルス
とは反対の例えば負の記号である第2の同
じ記号が割当てられる。換言するならば、
時点t0およびt1,…t10およびt11間の信号
SPOSnの全べてのアナログ・パルスは負
であるとみなされる。
第4b図の信号SPOSは第6a図の記号
SASnに変換される。即ち信号SPOS1ない
しSPOS5は信号SAS1ないしSAS5に変換さ
れる。
B 基準位置が偶数連続番号のトラツクの軸線
Axjによつて確定される(第6b図および第
5a図、第5b図参照)。
(1) 信号SPOSnの奇数番部分S2のアナロ
グ・パルスの各々には、例えば正である第
1の記号が割当てられる。換言するなら
ば、時点t0およびt1,…,t10およびt11間の
信号SPOSnの全べてのアナログ・パルス
は正であるとみなす。
(2) 偶数番部分S1のアナログ・パルスの各々
には、信号SPOSnの部分S2のパルスとは
反対の例えば負の同じ第2の記号が割当て
られる。換言するならば、時点t1および
t2,…,t11およびt12間におけるこの信号の
全べてのアナログ・パルスは負であるとす
る。
前の場合と同様に、第5b図の信号
SPOSnは第6b図の信号SASnに変換され
る。即ち信号SPOS1ないしSPOS5は信号
SAS1ないしSAS5に変換される。
基準位置が偶数連続番号かまたは奇数連
続番号かいずれのトラツクに対応する軸線
によつて定められるにしろ、信号SPOSn
の偶数番部分S1の全べてのパルスには第1
の記号が割当てられ、そして該信号
SPOSnの奇数番部分S2の全べてのパルス
には第1の信号とは反対の同じ第2の信号
が割当てられ、そしてこの結果偶数番部分
S1および奇数番部分S2は正しく識別される
ことが判る。
第6a図および第6b図には信号SAS1
ないしSAS5のパルスの各々に割当てられ
る記号が示されている。
信号SASMは長くとも1つの期間t12ないしt0
(ここで述べている具体例の場合には、6つの
周期に等しい全周期数に同等である積分期間に
関して積分される。この積分期間は、ヘツド
TELが近接位置せしめられる部分がPPOSij
またはPPOSi(j-1)かまたはPPOSi(j+1)かに関
係なく不変である。既に述べたように、定義上
基準位置に対する積分値は零であるとしている
ことを想起されたい。即ち、積分期間の下限値
対する積分値は零であるとする。
IPOSを、上記積分期間について算出した信
号SASMの積分であるとする。
第7図に示されているように、この積分IPOS
の値はヘツドが占める位置POSnの関数として変
化する。さらに次のことが判る(第6a図および
第6b図参照)。即ち、信号SPOSnの偶数および
奇数部S1およびS2に対する記号の割当、ならびに
奇数連続番号のトラツクに対応する軸線Ax(j-1)
(またはAx(j+1))よつて定められる基準位置お
よび偶数番号のトラツクに対応する軸線Axjによ
つて定められる基準位置における選択により位置
POSnの関数として積分IPOSの1つの変化曲線が
得られ、そしてこの積分は同一の位置POSnに対
し常に同じ絶対値と同じ記号を有する。位置
POS1(信号SAS1)の場合には、積分IPOSは正で
あり、最大IM+を有する。他方位置POS3(記号
SAS3)の場合には、積分は負であつて最小値IM-
を有する。但し、|IM+|=|IM-|である。
既に述べたように、積分IPOSは位置POS2(信
号SAS2)に対しては零であり、位置POS4および
POS5に対してはそれぞれI4およびI5(信号SAS4
およびSAS5)に等しい。但し、 |I4|=|I5|である。
第8a図には、本発明による方法を実施するた
めの装置の第1の具体例の基本的構成要素が示さ
れている。
これら要素には次のものが含まれる。
信号SPOSnの偶数および奇数部S1およびS2
パルスによつて定められる第1および第2の記号
を割当てる手段AFSIG、 基準位置を定める軸線のトラツクの関数として
上記第1および第2の記号に作用する手段
SIGPAR1、 積分IPOSを計算するための積分装置
DISINTEG、および積分器DISINTEGの積分期間
を定めるシーケンサ手段SEQである。
上記の記号を割当てる手段AFSIGは、ヘツド
TELによつて供給される信号SPOSnおよび手段
SIGPAR1によつて供給される信号SPARを受け
て、ヘツドTELが位置すべき境界の近傍に部分
PPOSijおよびPPOSi(j-1)(またはPPOSi(j+1)
があれば積分器DISINTEGに信号がSASnを供給
する。
積分器DISINTEGは周期Pの総数(ここで述べ
ている具体例では4)に等しいτ−τ(第9
図おも参照)について信号SASを積分して、積分
IPOSを表わす信号を発生する(第7図および第
9図参照)。特に基準位置が軸線Axjによつて定
められ、ヘツドTELがセクタSiの基準ゾーン
ZRPijおよびZRPi(j+1)に面して位置すべき場合に
は、この積分IPOSの値はIPOSijで表わされる。
上記積分信号はデイスクDが属するメモリの位
置のサーボ制御装置に供給される。このサーボ制
御装置は時点τからヘツドTELがセクタSi
続くセクタSi+1のゾーンZRP(j+1)iおよび
ZRP(i+1)(j+1)の部分PPOS(i+1)jおよび
PPOS(i+1)(j+1)の始端に面する位置となる時点ま
で積分器DISINTEGによつて阻止される。この時
点は、時点τであり、この時点において積分器
は零にリセツトされた後に始動し、そして始点τ
で再び零にリセツトされる(第7図および第9
図参照)。
シーケンサ手段SEQは時点τ,τおよび
τを定める。このシーケンサは部分PPOSij
よびPPOSi(j+1)がヘツドTELを通過するのに要
する時間に等しい期間(τ−τ)(この期間
は部分PPOSijおよびPPOSi(j+1)の読取り時間に
等しい)中、「論理1」に等しいパルスである信
号ZPOSにより制御されると共に他方また後述す
る手段AFSIGによつて発生される周期的な矩形
信号HPOS(第9図参照)によつて制御される。
手段AFSIGは次の要素を含む。
電流発生器GENC、 信号SPOSMの零通過検出器DETECT、 割算器DIV、 乗算器MULTである。
発生器GENCは信号SPOSMを受けて該信号の
電圧に比例する電流ICを発生し、この電流は乗
算器MULTに供給される。
本発明の好ましい具体例によれば、発生器
GENCは差動モードで動作する。即ち、第8a図
に見られるように、その一方の出力端子に電流+
C/2を発生し、他方の出力端子に電流−IC
2を発生する。
零通過検出器DETECTは信号SPOSn(第9図
ではこの信号はSPOS3である)を受けて該信号の
零通過を検出し、信号SPOSnの半周期P/2に
等しい周期の矩形波周期信号SOを発生する。
第9図に示すように、信号SPOSMの各零通過
で、信号SOは論理「0」から論理「1」かまた
は論理「1」から論理「0」に遷移する。
割算器DIVは信号SOを受けてその周波数を2
で除し、その結果得られた信号HPOSをシーケン
サSEQならびに乗算器PLUTに供給する。該乗算
器PLUTはさらに電ICならびに手段SIGPAR1
ら供給される信号SPARを受ける。該信号SPAR
はヘツドTELが占めるべき基準位置を定める軸
線が偶数番トラツクの軸線かまたは奇数番トラツ
クの軸線であるかを表示する信号である。乗算器
MULTはそこで、上記軸線が奇数番トラツクの
ものである場合には第6a図に示す信号SASn
発生し、他方上記軸線が偶数番トラツクのもので
ある場合には第6b図に示す信号SASnを発生す
る。
積分器DISINTEGは次の要素を有する。
零リセツト回路RAZ、 積分回路INTEG、 阻止回路BLOC、および増幅器AMPLIであ
る。
零リセツト回路RAZはシーケンサSEQから供
給される信号RAZによつて制御される。この信
号は時点τとτとの間では論理「1」に等し
い。回路RAZはこれら時点間で積分回路INTEG
を零にリセツトする。
積分回路INTEGはシーケンサSEQから供給さ
れる信号SINTによつて制御される。この信号は
時点τおよびτ間では論理「1」に等しく、
そして時点τとτとの間の時間以外では論理
「0」に等しい。積分回路INTEGは容量型のもの
であつて、その出力信号INTは増幅器AMPLIに
よつて増幅され、そして後者は信号IPOSを発生
する。特に基準位置が連続番号jのトラツクの軸
線Axjによつて定められ、そしてヘツドがセクタ
iの2つの基準ゾーンZRPijおよびZRPi(j+1)に面
して位置すべき場合には、積分回路INTEGの出
力信号はINTijによつて表わされ、またその場合
の増幅器AMPLIの出力信号はIPOSijによつて表
わされている。信号INTijおよびIPOSijの時間の
関数としての包絡線は同じであつて第10図に示
されている。
第8b図に示す本発明による方法を実施するた
め装置の第2の具体例においては、手段
SIGPAR1が用いられず、その代りに増幅器
AMPLIの出力端に直列に設けられた手段
SIGPAR2が用いられている。本発明によるこの
第2の具体例の他の要素、即ちAFSIG,SEQお
よびDISINTEGは第8a図に示した装置の対応の
要素と全く同じである。積分器DISINTEGによつ
て供給される信号はINTEGで表わされている。
基準位置を定める軸線が偶数連続番号のトラツ
クのものであれ、あるいは奇数連続番号のトラツ
クのものであれ信号SASnにおいては、偶数部S1
のパルスは(セルC2,C4,…,C12に対応して)
負であるとみなされ、そして奇数部S2のパルスは
(セルC1,C3,…C11に対応して)正であるとみ
なされる。このようにして選ばれた記号が第6b
図に示されている。
上の説明から次のことが言える。
a 基準位置を定める軸線が偶数連続番号のトラ
ツクに対応する(即ち、軸線Axjと一致する)
場合には、ヘツドによつて占められる位置の関
数として積分器DISINTEGから発生される信号
INTG(第8b図参照)は第7図の実線で示し
た曲線Cで与えられる(この曲線は積分器
INTEGによつて供給される信号INTの曲線で
もある)。
b 基準位置を定める軸線が奇数番トラツクに対
応する、即ち軸線Ax(j-1)かまたはAx(j+1)
一致する場合には、信号INTEG(ならびに信
号INT)は、縦軸線IPOS=0に関して上述の
曲線C1に対して対称である破線で示した曲線
C2で与えられる。
手段SIGPAR2の目的は、信号INTEGに対し次
のような乗算を行なうことにある。
a 基準位置を定める軸線が偶数番トラツクに対
応する場合には+1を乗ずる。
b 基準位置を定める軸線が奇数番トラツクに対
応する場合には−1を乗ずる。
SIGPAR2によつて供給される信号は、したが
つて第7図に実線の曲線C1で表わした信号IPOS
となる。
第10図は電流発生器GENC、乗算器MULT、
零リセツト回路RAZおよび積分器INTEGならび
に阻止回路BLOCを詳細に示す。なお、これら要
素は第8a図および第8b図に示した装置に対し
て共通である。
電流発生器GENCは次の要素を含む。
信号SPOSnが零の時にバイアス電流を定める
同じ型の電流発生器G1およびG2、 共通エミツタ接続で接続された同じ型のトラン
ジスタTG1およびTG2,これらトランジスタのバ
イアス電流は発生器G1およびG2によつて供給さ
れる。トランジスタTG1およびTG2の供通エミツ
タ抵抗は抵抗器REである。ベースは信号SPOSn
を受ける。
乗算器MULTは2対の同じ型のトランジスタ
TR1およびTR2ならびにTR3およびTR4を有す
る。各対のエミツタは接続し合わされておつて、
かつトランジスタTG1およびTG2のコレクタに接
続されている。トランジスタTR1およびTR3のコ
レクタならびにTR2およびTR4のコレクタは共に
接続されるとともにそれぞれ抵抗器RC1および
RC2を介して+12Vに等しい正電圧バイアスに接
続されている。
トランジスタTR1およびTR4のベースは、aに
等しい信号HEPOSを受ける。ここでaはほぼ1
に等しい。
トランジスタTR1およびTR3ならびにTR2およ
びTR4の共通のコレクタには信号SASnの電圧に
比例する電流x△ICが現われる。ここで△IC
K〓×v(SPOS+IO)であり、IOは一定であ
つてK〓はα×REに等しく、αは比例定数であ
つて、v(SPOS)は信号SPOSnの電圧である。
同じ型の(例えば電界効果トランジスタ・スイ
ツチとすることができる)スイツチIN1およびIN2
は阻止回路BLOCによつて制御される。これらス
イツチは時点τとτとの間の期間閉成され、
この期間中信号SASnの積分が行なわれる(この
積分が行なわれるのは、ヘツドが同一のセクタS
iの2つの基準ゾーンZRPijおよびZRPi(j+1)の2つ
の部分PPOSijおよびPPOSi(j+1)に面して位置す
る時である)。スイツチIN1およびIN2は時点τ
で開かれ時点τまで開いた状態に留まる。この
時点では、ヘツドTELがデイスクDの面上のセ
クタSiに続くセクタSi+1の基準ゾーンZRP(i+1)j
およびZRP(i+1)(j+1)の部分PPOS(i+1)および
PPOS(i+1)(j+1)に面して位置する時に、乗算器
MULTによつて供給される信号SASnの積分が開
始される。
スイツチIN3は要量型積分素子INTEGに並列に
接続されている。このスイツチは零リセツト信号
RAZにより制御され、時点τおよびτとの
間で閉され、それにより容量型積分素子INTEG
は短絡されて放電する。容量型積分素子INTEG
の端子に現われる信号INTは増幅器AMPLIに供
給される。
【図面の簡単な説明】
第1a図ないし第1d図は磁気デイスクのよう
な磁気記録担体の一面上におけるデータの好まし
い分布例を示し、第2図はデイスクDの該面の基
準ゾーン内においてデータがどのように分布され
るかを示し、第3aおよび第3b図は上記デイス
ク面のトラツクの基準データを基準ゾーンに書込
む好ましい方法を図解し、第4a図および第4b
図は偶数番基準ゾーンがデイスクの中心に最近接
しているとした場合に2つの隣接する奇数および
偶数番基準ゾーンの位置データを格納する部分を
示し、第4a図はこれら奇数および偶数番基準ゾ
ーンの位置データの分布の仕方を示し、第4b図
は上記2つのゾーン間の境界の近傍における異な
つた位置にある読取り/書込みヘツドにより発生
される信号を図解し、第5a図および第5b図は
奇数番ゾーンがデイスクの中心に最近接している
場合における2つの隣接する奇数および偶数番基
準ゾーンの位置データを格納する部分を図解し、
第5a図はこれら2つの奇数および偶数番基準ゾ
ーンの位置データの分布を図解し、第5b図はこ
れら2つのゾーン間の境界の近傍の異なつた位置
にある読取りヘツドから発生される信号を図解
し、第6a図および第6b図は2つの隣接する奇
数および偶数番基準ゾーン間の境界によつて定め
られる担体の基準位置に対する読取り/書込みヘ
ツド位置を測定する方法の原理を図解し、第6a
図は偶数番基準ゾーンがデイスクの中心に最近接
して位置している場合における上記方法の原理を
図解し、第6b図はデイスクの中心に奇数番基準
ゾーンが最近接して位置する場合における本発明
による方法の原理を図解し、第7図は基準ゾーン
の近傍においてヘツドが占める位置の関数として
該ヘツドの位置を表わす積分信号の変化を示す曲
線を示し、第8a図および第8b図は本発明によ
る方法を実施するための装置の2つの具体例を示
す簡略ダイヤグラム、第9図は第8a図および第
8b図に示した2つの装置のいろいろな点におけ
る信号のタイミング・ダイヤグラム、そして第1
0図は第8a図および第8b図に示した装置のう
ちの1部分を示す詳細な回路図である。 AFSIG…記号決定回路、SIGPAR…記号制御回
路、DISINTEG…積分装置、SEQ…シーケンサ
回路、TEL…ヘツド、GENC…電流発生器、
DETECT…零通過検出器、DIV…割算器、
MULT…乗算器、d…トラツク、S…セクタ、
ZRP…ゾーン、AMP…増幅器、RAZ…零リセツ
ト回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 データが複数のトラツクに格納されており、
    そして該データは基準ゾーン群に記録されている
    位置データを含み、各トラツクには少なくとも2
    つのゾーンが設けられており、基準位置が2つの
    隣接する偶数番および奇数番ゾーン間の少なくと
    も1つの境界によつて画定され、該境界の近傍に
    位置するヘツドによつて供給される位置データ読
    出し信号は同じ周期Pを有しかつ互いに時間的に
    遷移されている偶数部S1および奇数部S2の代数和
    に等しく、該偶数部S1および奇数部S2はそれぞれ
    前記偶数番および奇数番ゾーンの位置データ読出
    し信号に対応する型のデータ担体の基準位置に対
    する前記読取り/書込みヘツドの位置を測定する
    方法において、 a 偶数部S1の全べてのパルスに同一の第1の予
    め定められた記号を割当て、そして奇数部S2
    全べてのパルスに前記第1の記号とは反対の第
    2の予め定められた同じ記号を割当ててそれに
    より周期Pの信号SASを形成し、 b 前記信号SASの積分を、長くても前記ゾーン
    の位置データを読出すのに要する時間に等しい
    積分期間について算出し、前記積分は該積分期
    間の下限に対する積分値に等しい基準位置を定
    め、そして前記基準位置に対するヘツドが占め
    る位置は前記積分の値によつて定められること
    を特徴とするデータ担体の基準位置に対する読
    取り/書込みヘツドの位置を測定する方法。 2 データ担体が磁気デイスクであつて、データ
    は該デイスクの少なくとも1面上で複数の隣接し
    たセクタ内に分布されており、各セクタにおいて
    各トラツクには2つの隣接する偶数番および奇数
    番基準ゾーンが設けられており、前記ヘツドによ
    つて供給される信号の偶数部S1および奇数部S2
    時間的に半周期だけシフトされており、そして各
    セクタS1において、 a 信号SASの積分が基準位置に対して零とな
    り、 b 該積分は積分期間の下限に対して零とみなさ
    れ、そして c 前記積分の値は積分期間の終時に阻止される
    特許請求の範囲第1項記載のデータ担体の基準
    位置に対する読取り/書込みヘツドの位置を測
    定する方法。 3 データが複数のトラツクに格納されており、
    そして該データは基準ゾーン群に記録されている
    位置データを含み、各トラツクには少なくとも2
    つのゾーンが設けられており、基準位置は2つの
    隣接する偶数番および奇数番ゾーン間の少なくと
    も1つの境界によつて画定され、該境界の近傍に
    位置するヘツドによつて供給される位置データ読
    出し信号は同じ周期Pを有しかつ互いに時間的に
    遷移されている偶数部S1および奇数部S2の代数和
    に等しく、該偶数部および奇数部S1およびS2はそ
    れぞれ前記偶数番および奇数番ゾーンの位置デー
    タ読出し信号に対応する型のデータ担体の基準位
    置に対する前記読取り/書込みヘツドの位置を測
    定する方法を実施するための装置において、 前記ヘツドにより供給される信号を受けて偶数
    部および奇数部S1およびS2のパルスに第1および
    第2の予め定められた記号を割当てて各セクタS1
    に対し信号SASを供給する手段AFSIGと、 前記信号SASを受け、積分期間の下限τに対
    し前記積分に零値を与えて信号SASの積分IPOS
    を計算し、前記積分期間の上限τに対して得ら
    れる値に該積分を保持する積分装置DISINTEG
    と、前記手段AFSIGによつて制御されて前記積
    分装置DISINTEGに対し前記積分値を零にする時
    点τおよび時点τを定める第1の信号ならび
    に前記積分期間の下限τおよび上限τを定め
    る第2の信号を前記積分装置DISINTEGに供給す
    るシーケンサ手段SEQと、前記基準位置を定め
    る2つの隣接する偶数および奇数ゾーン間の境界
    と一致する軸線を有するトラツクの連続番号のパ
    リテイの関数として前記第1および第2の記号に
    作用する手段SIGPARとを備えていることを特徴
    とするデータ担体の基準位置に対する読取り/書
    込みヘツド位置を測定する装置。 4 データが複数のトラツクに格納されており、
    そして該データは基準ゾーン群に記録されている
    位置データを含み、各トラツクには少なくとも2
    つのゾーンが設けられており、基準位置は2つの
    隣接する偶数番および奇数番ゾーン間の少なくと
    も1つの境界によつて画定され、該境界の近傍に
    位置するヘツドによつて供給される位置データ読
    出し信号は同じ周期Pを有しかつ互いに時間的に
    遷移されている偶数部S1および奇数部S2の代数和
    に等しく、該偶数部および奇数部S1およびS2はそ
    れぞれ前記偶数番および奇数番ゾーンの位置デー
    タ読出し信号に対応する型のデータ担体の基準位
    置に対する前記読取り/書込みヘツドの位置を測
    定する方法を実施するための装置において、 前記ヘツドから供給される信号を受けて偶数お
    よび奇数部S1およびS2のパルスに第1および第2
    の予め定められた記号を割当てて各セクタS1毎に
    信号SASを発生する手段AFSIGと、 前記信号SASを受けて該信号SASの積分INTG
    を計算し積分期間の下限τに対し前記積分値を
    零にし、そして前記積分期間の上限τの値に前
    記積分INTGを保持する積分装置DISINTEGと、 前記手段AFSIGにより制御されて前記装置
    DISINTEGに対し、前記積分が零値にされる時点
    τおよび時点τを定める信号ならびに前記積
    分期間の下限および上限τおよびτを定める
    第2の信号を前記積分装置DISINTEGに供給する
    シーケンサ手段SEQと、 前記積分装置DISINTEGにより供給される信号
    INTGを受けて前記基準位置を定める2つの隣接
    する偶数番および奇数番ゾーン間の境界と一致す
    る軸線を有するトラツクの連続番号のパリテイの
    関数として前記信号INTEGの記号に作用し、期
    間信号IPOSを発生する手段SIGPAR2とを有すこ
    とを特徴とするデータ担体の基準位置に対する読
    取り/書込みヘツド位置を測定する装置。
JP16093780A 1979-11-19 1980-11-17 Method of measuring read*write position with respect to reference position of data carrier* and device for performing same method Granted JPS5693148A (en)

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FR7928421A FR2470425A1 (fr) 1979-11-19 1979-11-19 Procede pour mesurer la position d'une tete de lecture-ecriture des informations d'un support par rapport a une position de reference de celui-ci et dispositif pour le mettre en oeuvre

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Publication Number Publication Date
JPS5693148A JPS5693148A (en) 1981-07-28
JPS6232551B2 true JPS6232551B2 (ja) 1987-07-15

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ID=9231817

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JP16093780A Granted JPS5693148A (en) 1979-11-19 1980-11-17 Method of measuring read*write position with respect to reference position of data carrier* and device for performing same method

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JP (1) JPS5693148A (ja)
DE (1) DE3043650A1 (ja)
FR (1) FR2470425A1 (ja)
GB (1) GB2065335B (ja)
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SE (1) SE450606B (ja)

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JP1677395S (ja) 2020-05-22 2021-01-25
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NL8004180A (nl) 1981-06-16
DE3043650C2 (ja) 1988-08-18
IT8025876A0 (it) 1980-11-11
DE3043650A1 (de) 1981-09-17
SE8006591L (sv) 1981-05-20
JPS5693148A (en) 1981-07-28
SE450606B (sv) 1987-07-06
IT1193992B (it) 1988-08-31
FR2470425A1 (fr) 1981-05-29
GB2065335A (en) 1981-06-24
FR2470425B1 (ja) 1983-08-26
GB2065335B (en) 1983-09-01
US4400746A (en) 1983-08-23

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